JPH01178932A - 光スイッチ - Google Patents

光スイッチ

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JPH01178932A
JPH01178932A JP33601787A JP33601787A JPH01178932A JP H01178932 A JPH01178932 A JP H01178932A JP 33601787 A JP33601787 A JP 33601787A JP 33601787 A JP33601787 A JP 33601787A JP H01178932 A JPH01178932 A JP H01178932A
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JP
Japan
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refractive index
electric field
quantum well
layer
variation
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Pending
Application number
JP33601787A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Shimizu
淳一 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、牛導体材料を用いた元スイッチに関する。
〔従来の技術〕
2つの入出力ボート間の光信号の接続を切り換える元ス
イッチは光伝送、光変換に於ける最も重要な構成要素で
ある。このような光スイッチは光導波路により方向性結
合器、交叉1分岐等を形成し、その部分の屈折率を物理
光学効果を利用して変化させることにより実現できる。
現在屈折率変化を得るだめの手段として一次電気元学効
果(ボ、ケルス効果)が最も広く用いられているが、比
較的電気光学係数の大きなLiNbo3等の強誘電体材
料を用いても実用的に得られる比屈折率変化は10−s
台と小さく、素子の小型化が難しい。
これに対して近年半導体多重量子井戸(MQW)構造の
積層面に垂直な方向に一4界を印加した際ζ吸収端近傍
の波長で大きな屈折率変化が生じることが報告され、こ
れを利用した元スイッチが提案されている(IJE子通
信学会論文誌E、オg68巻737〜739頁、198
5年)。
ここでこのMQW構造の電界による屈折率変化の原理に
ついて説明する。
MQW構造とは、電子波動の波長(ド・ブロイ波長)程
度の厚みの半導体層をそれよシパンドギャ、プの広い半
導体ではさんだ量子井戸(QW)を層厚方向に多重に形
成したもので電子、正孔波動の二次元化によりバルク材
料とは犬きく異なる物性を示すことから注目されている
第3図(a)、#)はMQW構造に層に垂直な方向に光
を伝搬させた際の吸収端近傍の光の吸収係数及び屈折率
スペクトラムの電界による変化の様子を示すものである
0層に垂直の電界Eがない場合には吸収係数スペクトラ
ムには重い正孔(hh)。
軽い正孔(!h)と電子の準位間の遷移に対応したエキ
シトン吸収ピークが見られ、これに対応して屈折率スペ
クトラムには大きな段差が見られム電界Eを印加してい
くと、電子、正孔準位のシフトが生じ吸収端の長波長側
への移動がおこる。この際エキシトン吸収ピークは多少
のブロードニングを生ずるものの10”V/cmg度の
強電界に於いても安定に存在する。
・電界Eの印加による吸収端シフトに対応して。
屈折率スペクトラム上の段差も長波長側に移動する。こ
のため屈折率変化が生じる訳でその絶対1直FiIXI
 O’V/!ifo[J”?’IO”(D:1r−1”
に及ぶことが報告されておシ、この現象を利用した交叉
導波路全反射型光スイッチの設計結果ではスイッチ部長
数100μm以下の小型光スイッチが可能であることが
報告されている。この光スイッチは半導体材料を用いて
いるため光源、受光器とのモノリシ、り集積化も可能で
ある。
〔発明が解決しよりとする問題点〕
ここで説明したMQWの層に垂直な方向の電界印加によ
る屈折率変化は本質的に吸収係数の変化を伴なう。従っ
てこの現象を利用した元スイッチでは光の切換と共に大
きな光損失が生じてしまう。
また屈折率変化の符号は第3図(b)よシわかるように
短波長側から順に■、e、oとなる領域が生じ。
電界強度と共にその領域の幅が変化するため、デバイス
設計の際にこの点を考慮に入れなければならない。
本発明の目的はこのような問題を除き、小型で光源、受
光器等のモノリシック集積化が可能でかつ光の切換に伴
う損失変化が小さい元スイッチを提供することにある。
〔問題を解決するための手段〕
基板上に2本の光導波路が交差した交差部あるいは互い
に近接して方向性結合器を形成した方向性結合器部また
は1本の光導波路が分岐したY分岐を有し、交差部ある
いは方向性結合器部またはY分岐部に屈折率変化を生じ
させる手段を有する光スイッチに於いて、少なくとも屈
折率変化を生じさせるべき部分の光導波路が、ド・ブロ
イ波長程度の専みの第1の半導体層と前記第1の半導体
層よりバンドギャップの広い第2の半導体層によ多構成
される量子井戸を積層方向に少なくとも1つ含む構造で
あシ、前記構造の前記量子井戸に量子井戸の各層に平行
な方向に電界を印加する手段と、前記電界が印加される
童子井戸に近接する量子井戸に垂直な方向に電界全印加
する手段とから成っていることを特徴とする。
〔作用〕
本発明は多重量子井戸(MQW)構造に特有な室温エキ
シトンによる共鳴吸収の消失にともなう屈折率変化を前
記共鳴吸収のシフトによる屈折率変化を併用したもので
ある。まず、@記共鳴吸収の消失にともな5屈折率変化
の原理について説明する。
第4図1a) 、 tb)はMQW構造の各層に水平な
電界E、rによる層に垂直に伝搬する光に対する吸収係
数、屈折率の変化の傾向を示す図である。層に水平な電
界B/lが印加されていない際には吸収端近くの吸収係
数スペクトラムには基低準位のlい正孔(hh)、軽い
正孔(Ilh)と電子との間の遷移に関係した2つのエ
キシトン吸収ピークが明瞭に見られる。屈折率スペクト
ラムにはエキシトン吸収ピークに対応して大きな段差が
生じる。これに対しE u、を印加した際には量子井戸
(QW)層内でエキシトンのイオン化が生じ吸収係数ス
ペクトラム上ではエキシトン共鳴による吸収ピークが消
失し、バンドギヤyプのrenornalizat i
onが生じる。この際′X要なことは吸収端の位置の変
化は電界が層に垂直な場合(E工)に比べ大幅に小さい
ことである。一方屈折率スペクトラム上に生じていた段
差はエキシトン吸収の存在によるものであった訳である
から、Eηの印加によりエキシトン吸収ピークが消滅す
れば、屈折率スペクトラム上の段差も消える。従って吸
収端近傍の波長に於て大きな屈折率変化が得られる。し
かも第4図(b)から明らかなように、この屈折率変化
の符号は吸収端の長波長側では負、短波長側では正とい
う単純な変化をする。吸収端の長波長側でit電界が層
に垂直な場合のように吸収端の移動をともなわないため
大きな損失変化は生じない。
一方、室温エキシトンの共鳴吸収のシフトにともなう屈
折率変化は層に垂直な電界E上が印加されることにより
屈折率スペクトラム上に生じてい是大きな段差もシフト
する。この際のシフトは層に逆バイアスが印加される際
には第3図tb+のように長波長側へのシフトである。
従って吸収端近傍の波長では屈折率変化の量はこれらの
層に平行な電界による変化n77、と垂直な電界による
変化nユの和になる。
エキシトン吸収ピークの消失がここで述べたように1−
に水平な方向の電界によるエキシトンのイオン化により
生じることFi雑誌「フィジカル・レビz −B (P
hysical Review 8月、第32巻104
3〜1060頁(1985年)に述べられているがこの
他に2バンドギヤ、プより高エネルギーな光の照射、及
びフリーキャリア注入によってもおこすことができる(
h誌「ジャーナル・オプ・オプティカル・ンテエティ・
オプ・アメリカA (Journal of 0pti
cal 5ociety of AnericaA月第
2巻、1135〜1142頁(1985年)。
また、エキシトン吸収ピークの移動によりエキシトン吸
収ピークの長波長側で屈折率が正に変化することは雑誌
[エレクトロニクス・レターズ(Electronic
s Ieffers月第22巻888〜889頁(19
86年)に述べられている。
本発明はこのようなエキシトン吸収ピークの消失にとも
なう屈折率変化をエキシトン吸収ピークの移動にともな
う屈折率変化を併用して光スイッチに応用したものであ
る。以下本発明につき実施例により詳細に説明する。
〔実施例〕 第1図は本発明による元スイッチの第1の実施例を示す
図でこの実施例は本発明を交叉導波路全反射型スイッチ
に適用したものである。材料系としてはGaAs/Aj
GaAs系材料を用いた場合につき説明するがInGa
AsP/InP、InGaAsPI n A lj A
 s系等室温で安定なエキシトン吸収ピークが観測でき
るMQW構造が製作できる材料系であれば2本発明が適
用可能なことはどう迄もない。
実施例の上面図第1図(a)、斜視図第1図(blを参
照し本実施例の製作方法について説明する。
n型GaAs基板4上にすべてノンドープでGaAsバ
、ファ層5(hみ0.1 fi m ) e AA!o
、siG a 64B A Sクラッド層6 (1μm
)、GaAs/A16.3g oallJI AsMQ
Wガイド層7(1μm)。
をM2R法により連続成長する。G a A S / 
A j 64soallJI As MQWガイド層7
は厚み100AのGa As 、 A16.Haall
*@II As層を50周期交互に積層したものである
(以下では簡単のためAIのモル比を略して記述する)
。次にフォトリングラフィ法により1111!10μm
、交叉角lO〜206の交叉パターンのマスクをエビ層
側に形成し1反応性イオン・ビームエツチング法により
マスク以外のMQWガイド層7を工、チングする。この
際工、チングd M Q Wガイド層7の途中で止める
ように制御した。このエツチングにより2本の装荷型チ
ャンネルガイド7a、7bによる交叉導波路が形成され
る。次に広い方の交差角の2等分線A−A’に対称に狭
い方の交差角の2等分線B−B’に沿って工、チングさ
れたMQWガイド1−面にシ璽ットキー電極1a、1b
を形成する。この電極は層に平行な方向に電界を印加す
るための電極である。
次に、この平行電界印加領域に交わらないようにA−A
’およびB−13’に対称にエツチングされていないM
QWガイド層面にシ璽、トキー電極2a* 2bを形成
する。さらに、オーミック性電極3をn−GaAs基板
4面上に形成し、最後にA −A′に平行に入出射端面
をへき開によ多形成した。
第1図(alはデバイスの上面図を示すものである。
シ冒ット中−電極1a、lbは交差チャネルガイド3a
 、3bの小さい方の交差角の2等分線B−B′に沿っ
て、大きい方の交差角A−A’に対称な位置にチャネル
の交差部の外側に形成しである。尚、実際にはボンディ
ングのためのパッド及び引き出し線も形成しているが図
では省略した。
第2図は大きい方の交差角の2等分ml、  A/を含
みデバイスの各I−に垂直な面での断面図を示すもので
ある。この図を用いて本実施例の動作機構について説明
する。第1図(a)における2つのショットキー電極1
a、lb間に′−圧を印加した場合を考える。ここで例
えばシヨ、トキー′成極1a側をプラス、Ib側をマイ
ナスにバイアスしたとするとシッットキー電極1aは順
バイアス、lbは逆バイアスとなp、1bから2aに向
かって空乏層が延びていく、従ってla 、Ib間には
MQWガイド層7に平行な電界が印加される。
この場合には先に説明したようにエキシトンのイオン化
によるエキシトン吸収ピークの消滅が生じて屈折率変化
が誘起される。この屈折率変化はエキシトン吸収ピーク
の長波長側では負の変化を示し、ntr領域10でこの
変化が生ずる。以上の電圧を印加する際同時にオーミッ
ク電極3を1aと同・1位にシ曹ットキー電極2a 、
 2bを1bと同電位となるように電圧を印加すると、
2a、2bは逆バイアスとなるから2a、2bからオー
ミック′−極3に向かって空乏層が延びていく。従って
2a、2bと3の間にはMQWガイド層7に垂直な電界
が印加される。この場合には先に説明したようにエキシ
トン吸収ピークのシフトにより屈折率変化が誘起され、
エキシトン吸収ピークの長波長側では正の屈折率変化を
示す。この変化領域がn上領域9a、9bである。従っ
て、シ曹、トキー′成極1a、1bおよび2a 、2b
の間の部分lOでは、−!わシのJm9a、9bよシも
相対的に屈折率の低下部分を作ることができ、全反射を
起こすことができる。この際の屈折率の変化1=1第5
図のように層に水平な電界および垂直な電界をそれぞれ
単独で用いる際よシも両方の和で決まるため。
相対的に大きな屈折率の変化vi−得ることができる。
従って、チャネルガイド・交差角も大きくとれるため、
スイッチサイズを小型にすることが可能である。
第1図(alを用いて実際のスイッチ動作について説明
する。ここでは切換える光の波長としてMQWガイド層
7の吸収端(バンドギヤ、プ波長λg=0.85μm)
よシ長波長側を考え、0.875μmを選んだ。チャン
ネルガイド7aに入射した光8aはショットキー電極1
a 、Ib間および2a。
3間に′1圧を印加しない時にはそのまま直進し出射光
8bとして出射される。この際チャネルガイド7a、7
bの交叉角が10〜20’と大きいためチャンネルガイ
ド7bへのクロストークは一30dB以下である。シ胃
、トキー電極1a、Ib間に電圧を印加した際にはン1
.トキー1極lのIb間の交差部のMQWガイド11!
7にマイナスの屈折率変化が誘起きれ、シ凹ットキー電
極2aとオーミ、り1極3間に′1圧を印加した際には
シ璽ットキー隠極2aの直下のMQWカイト層7にプラ
スの屈折率変化が誘起される。このため入射光8aはチ
ャンネルガイド7b14Ilに全反射され、出射光8c
となる。この際の屈折率変化の大きさは積層面に水平な
電界による変化が相対変化Δn / nとして〜−10
″″!であり、積ノー面に垂直な電界による変化もΔn
 / nとして〜+10″″虞程度であるので相的的な
屈折率差Fi〜2 X l O−”となるため交差角が
lθ〜32°の光導波路で全反射型スイッチを得ること
ができる。
ここで述べたように屈折率変化は先にも述べたようにM
QWの績)−面に平行な方向の電界の他。
光照射、゛−流注入に−↓っても起こすことができるが
光照射、電流注入では自由キャリアの緩和過程が含まれ
るため応答スピードが数m secに制限される。これ
に対し積層面に平行な電界の効果はエキシトンのポテン
シャル変形を生じさせることであるため応答速度は素子
容量Cと抵抗分Rで決まるC8時定数で決まり数p s
ec程度も可能である。
本実施例では交叉4波路全反射型光スイッチに本発明を
適用した例を示したが、本発明のポイントはMQWの績
ノー面に平行な電界印加により得られる屈折率変化と積
ノー面に垂直な′電界印加により得られる屈折率変化を
伴用することにちゃ、スイ、チの構造として方向性結合
器型、Y分岐型等既に知られている種々の構造に適用可
能なことは明らかである。
4波路構造は、実施例ではMQWガイド層を一部エッチ
ングしてチャンネルガイドを形成したり1型4彼路構造
としたが、他の構造1例えば1MQWガイド層上に更に
クラ、ド層を設け、このクラ、ド層を一部工、チングし
てリプ構造とし1MQWMQWガイドノー中的な屈折率
差が生じるようにした構造、あるいはMQWガイド層上
にストライプ状の誘電体膜を形成した装荷型導波路構造
、さらにはflilQWガイド層中に不純物を尋人して
不純物導入領域と非導入領域とで屈折率を異ならしめて
導波路を形成する構造や、MQWガイド層をストライプ
状に設けてこの両側を半導体ノー等で埋め込んだ埋め込
み構造等どのような4(&4構造としてもよい。
また、実施例ではMQWガイド層上に設けた′電極はシ
肩ツ)=?−型としたが、他のタイプ、例えは絶縁膜上
に金属電極を設けたMOS型、あるいは、不純物を拡散
しこの接合部を利用して′越谷を印加する接合型等どの
ような構造としてもよい。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように本発明によれば小型でモノリ
シ、り集積がロエ能でかつ元の切換にともなう損失変化
が小さい元スイッチが得ら1Lる。
【図面の簡単な説明】
第1図、l142図は本開明の実施例乞示す図、第3図
、第4図は従来の光スイッチの動作原理となるMQWの
屈折率変化を説明するための図、第5図は本発明によっ
て相対的な屈折率差が大きくとれることを説明するため
の図である。 la 、lb 、2a 、2b・−・−シ箇、トキー電
極。 3・・・・・・オーミ、り電極、4・・・・・・Ga人
3基板、5・・・・・・ノンドープGaAs層、6・・
・・・・ノンドープAIG a A s層、7・・・・
・・ノンドープMQWガイド層、7a、7b・・・・・
・チャンネルガイド。 代理人 弁理士  内 原   晋 ギ 1  図 茅 21!I 芽4 面 蘇−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に2本の光導波路が交差した交差部あるいは互い
    に近接して方向性結合器を形成した方向性結合器部また
    は1本の光導波路が分岐したY分岐部を有し、前記交差
    部あるいは方向性結合器部またはY分岐部に屈折率変化
    を生じさせる手段を備えている光スイッチに於いて、少
    なくとも屈折率変化を生じさせるべき部分の光導波路が
    、ド・ブロイ波長程度の厚みの第1の半導体層と前記第
    1の半導体層よりバンド・ギャップの広い第2の半導体
    層により構成される量子井戸を積層方向に少なくとも1
    つ含む構造であり、前記構造の前記量子井戸に量子井戸
    の各層に平行な方向に電界を印加する手段と、前記電界
    が印加される量子井戸に近接する量子井戸に垂直な方向
    に電界を印加する手段とから成っていることを特徴とす
    る光スイッチ。
JP33601787A 1987-12-29 1987-12-29 光スイッチ Pending JPH01178932A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08148701A (ja) * 1994-11-23 1996-06-07 Korea Electron Telecommun 歪曲成長層を利用した金属/半導体接合ショットキーダイオード光素子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08148701A (ja) * 1994-11-23 1996-06-07 Korea Electron Telecommun 歪曲成長層を利用した金属/半導体接合ショットキーダイオード光素子

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