JPH022435A - 半導体不揮発性記憶装置 - Google Patents
半導体不揮発性記憶装置Info
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- JPH022435A JPH022435A JP63147771A JP14777188A JPH022435A JP H022435 A JPH022435 A JP H022435A JP 63147771 A JP63147771 A JP 63147771A JP 14777188 A JP14777188 A JP 14777188A JP H022435 A JPH022435 A JP H022435A
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- Japan
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- memory device
- circuit
- area
- input terminal
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 27
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/22—Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/14—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
- G11C16/16—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Storage Device Security (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
この発明は、半導体記憶装置に関し、特に書き換え可能
な半導体不揮発性記憶装置に関する。
な半導体不揮発性記憶装置に関する。
[発明の概要]
この発明は、半導体不揮発性記憶装置において、記憶セ
ルの一部への書き換えを禁止するような機能を有する外
部入力端子を設けたことによって、書き換λる必要のな
い記憶データを保護するようにしたものである。
ルの一部への書き換えを禁止するような機能を有する外
部入力端子を設けたことによって、書き換λる必要のな
い記憶データを保護するようにしたものである。
[従来の技術]
近年、単一動作電源だけで書き換え可能な半導体不揮発
性記憶装置が製造可能になっており、このような半導体
不揮発性記憶装置を用いたシステムにおいては、特別な
外部の高電圧源を必要としないで動作電源レベルの信号
入力で書き換えが可能になっている。また、−Mに、電
気的に書き換え可能な半導体不揮発性記憶装置において
は、単数または複数の制御入力の信号またはその信号の
組合せ、さらには順序を持った信号の組合せにより、書
き換えや読み出しを制御することが行なわれている。従
来、この制御は第2図に示すように、1つの半導体不揮
発性記憶装置において、記憶セルのどの領域に対しても
、同じ制御が行なわれるものが知られていた。なお、1
は動作制御回路であり、2はアドレスデコーダー回路、
3は書き換え読み出し回路、4は高電圧発生回路、9は
メモリーセル群である。
性記憶装置が製造可能になっており、このような半導体
不揮発性記憶装置を用いたシステムにおいては、特別な
外部の高電圧源を必要としないで動作電源レベルの信号
入力で書き換えが可能になっている。また、−Mに、電
気的に書き換え可能な半導体不揮発性記憶装置において
は、単数または複数の制御入力の信号またはその信号の
組合せ、さらには順序を持った信号の組合せにより、書
き換えや読み出しを制御することが行なわれている。従
来、この制御は第2図に示すように、1つの半導体不揮
発性記憶装置において、記憶セルのどの領域に対しても
、同じ制御が行なわれるものが知られていた。なお、1
は動作制御回路であり、2はアドレスデコーダー回路、
3は書き換え読み出し回路、4は高電圧発生回路、9は
メモリーセル群である。
〔発明が解決しようとする課題)
しかし、同一システム上で、動作時にたびたび書き換え
を行うデータと、システムの製造時または出荷時等に一
度記憶させたら動作時には書き換えを行なわないデータ
との少なくとも2種類のデータを扱う場合があり、これ
らのデータを同一の半導体不揮発性記憶装置に記憶させ
て用いる場合がある。このような場合、従来の半導体不
揮発性記憶装置では、制御入力に加わる雑音信号や、前
記半導体不揮発性記憶装置を制御するCPUの暴走のよ
うな予期しない入力信号によって生じる誤った書き換え
動作によって、書き換えられてはならない重大なデータ
さえも書き換えられてしまうという欠点があった。
を行うデータと、システムの製造時または出荷時等に一
度記憶させたら動作時には書き換えを行なわないデータ
との少なくとも2種類のデータを扱う場合があり、これ
らのデータを同一の半導体不揮発性記憶装置に記憶させ
て用いる場合がある。このような場合、従来の半導体不
揮発性記憶装置では、制御入力に加わる雑音信号や、前
記半導体不揮発性記憶装置を制御するCPUの暴走のよ
うな予期しない入力信号によって生じる誤った書き換え
動作によって、書き換えられてはならない重大なデータ
さえも書き換えられてしまうという欠点があった。
この発明は、従来のこの、ような欠点を解決する為に、
書き換えを必要としないデータについては、予期しない
ような入力信号に対しても書き換えられないようにする
ことを目的としている。
書き換えを必要としないデータについては、予期しない
ような入力信号に対しても書き換えられないようにする
ことを目的としている。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するために、この発明は、1つの半導体
不揮発性記憶装置において、外部入力端子を設け、書き
込み終了後に、前記外部入力端子の電位を固定すること
により、前記半導体不揮発性記憶装置の記憶セル群の内
の特定領域の記憶セルの書き換えが行なわれないように
し−た。
不揮発性記憶装置において、外部入力端子を設け、書き
込み終了後に、前記外部入力端子の電位を固定すること
により、前記半導体不揮発性記憶装置の記憶セル群の内
の特定領域の記憶セルの書き換えが行なわれないように
し−た。
〔作用1
上記のような外部入力端子が設けられた半導体不揮発性
記憶装置を用いたシステムにおいて、前記外部入力端子
より書き込みが禁止されるような前記記憶セルの特定領
域へ書き込みを行う場合、前記外部入力端子を入力信号
レベルの一方のレベルに保ちながら動作制御回路ケ動か
すことにより書き込みを行う、前記書き込み終了後、前
記外部入力端子を、前記半導体不揮発性記憶装置の内部
接続または、外部である前記システム上の接続により前
記入力信号レベルの他方のレベルに固定するようにして
、前記半導体不揮発性記憶装置の記憶セルの前記特定領
域への書き込みを禁止するようにする。
記憶装置を用いたシステムにおいて、前記外部入力端子
より書き込みが禁止されるような前記記憶セルの特定領
域へ書き込みを行う場合、前記外部入力端子を入力信号
レベルの一方のレベルに保ちながら動作制御回路ケ動か
すことにより書き込みを行う、前記書き込み終了後、前
記外部入力端子を、前記半導体不揮発性記憶装置の内部
接続または、外部である前記システム上の接続により前
記入力信号レベルの他方のレベルに固定するようにして
、前記半導体不揮発性記憶装置の記憶セルの前記特定領
域への書き込みを禁止するようにする。
〔実施例1
以下にこの発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図において電気的に書き換えが可能なPROMの場
合について説明すると、動作制御回路1は、高電圧スイ
ッチを含むアドレスデコーダ回路2と、高電圧スイッチ
を含む書き換え読み出し回路3と、高電圧発生回路4と
、書き換え禁止回路5とにそれぞれ接続されている。前
記高電圧発生回路4は、前記アドレスデコーダ回路2と
、前記書き換え読み出し回路3とにそれぞれ接続されて
いる。そして、前記アドレスデコーダ回路2と、前記書
き換え読み出し回路3とはそれぞれ記憶セル群9に接続
されている。また、前記書き換え禁止回路5は、外部入
力端子6に接続されているとともに、前記アドレスデコ
ーダ回路2に接続されている。まず、消去されたくない
初期のデータを書き込む場合は、前記外部入力端子6よ
り書き換えを禁止する領域10への前記書き換え禁止回
路5の機能を解除しておき、前記書き換えを禁止する領
域lOを前記アドレスデコーダ回路2によって選択して
書き込みを行う0次に前記半導体不揮発性記憶装置を使
用する場合には、前記外部入力端子6を書き換^禁止の
機能をするように固定しておくと、誤まって前記書き換
えを禁止する領域10への書き換え動作を起こすような
入力状態を生じたときでも、前記書き換えを禁止する領
域lOに対しては書き換えを可能にするような高電圧が
前記書き換え禁止回路5により加わらなくなるので、書
き換えられず、前記初期のデータが保護される。
合について説明すると、動作制御回路1は、高電圧スイ
ッチを含むアドレスデコーダ回路2と、高電圧スイッチ
を含む書き換え読み出し回路3と、高電圧発生回路4と
、書き換え禁止回路5とにそれぞれ接続されている。前
記高電圧発生回路4は、前記アドレスデコーダ回路2と
、前記書き換え読み出し回路3とにそれぞれ接続されて
いる。そして、前記アドレスデコーダ回路2と、前記書
き換え読み出し回路3とはそれぞれ記憶セル群9に接続
されている。また、前記書き換え禁止回路5は、外部入
力端子6に接続されているとともに、前記アドレスデコ
ーダ回路2に接続されている。まず、消去されたくない
初期のデータを書き込む場合は、前記外部入力端子6よ
り書き換えを禁止する領域10への前記書き換え禁止回
路5の機能を解除しておき、前記書き換えを禁止する領
域lOを前記アドレスデコーダ回路2によって選択して
書き込みを行う0次に前記半導体不揮発性記憶装置を使
用する場合には、前記外部入力端子6を書き換^禁止の
機能をするように固定しておくと、誤まって前記書き換
えを禁止する領域10への書き換え動作を起こすような
入力状態を生じたときでも、前記書き換えを禁止する領
域lOに対しては書き換えを可能にするような高電圧が
前記書き換え禁止回路5により加わらなくなるので、書
き換えられず、前記初期のデータが保護される。
次に第3図において、電気的に書き換え可能な不揮発性
RAMについて説明すると、動作制御回路lは、アドレ
スデコーダ回路2と、書き換え読み出し回路3と、高電
圧発生回路4とにそれぞれ接続されている。PROMR
2M17ビットが対応するようにRAM部8と接続され
ているとともに、前記高電圧発生回路4と、ストア・リ
コール制御回路7とにそれぞれ接続されている。そして
、前記アドレスデコーダ回路2と、前記書き換λ読み出
し回路3はそれぞれ、前記RAM部8に接続されている
。また書き換え禁止回路5は、外部入力端子36に接続
されるとともに前記高電圧発生回路4に接続される。
RAMについて説明すると、動作制御回路lは、アドレ
スデコーダ回路2と、書き換え読み出し回路3と、高電
圧発生回路4とにそれぞれ接続されている。PROMR
2M17ビットが対応するようにRAM部8と接続され
ているとともに、前記高電圧発生回路4と、ストア・リ
コール制御回路7とにそれぞれ接続されている。そして
、前記アドレスデコーダ回路2と、前記書き換λ読み出
し回路3はそれぞれ、前記RAM部8に接続されている
。また書き換え禁止回路5は、外部入力端子36に接続
されるとともに前記高電圧発生回路4に接続される。
まず、前記PROM部に消去されたくない初期のデータ
を書き込む場合は、前記外部入力端子6より前記PRO
M部9の中の書き換えを禁止する領域IOへの書き換え
保護の機能を解除しておき、前記書き換えを禁止する領
域lOに対応する前記RAM部8ヘデータの書き込みを
行う、そして、前記RAM部8に記憶しているデータを
、前記ストアリコール制御回路7により制御することに
よって前記PROM部9へ不揮発性の書き込みC以下、
ストア動作という)を行う。このとき前記RAM部8の
データは全て前記PROM部9へ書き込まれる。前記P
ROM部9に書き込まれているデータを読み出す場合
には、前記ストアリコール制御回路7により制御して、
前記PROM部9に記憶しているデータの全てを前記R
AM部8に読み出しく以下、リコール動作という)、前
記動作制御回路1の制御により前記RAM部8のデータ
を読み出せばよいことになる0次に前記外部入力端子6
を書き換え禁止の機能を満たすように固定しておき、前
記RAM部8に記憶されているデータを前記PROM部
9に書き込むようにストア動作させた場合、前記書き換
えを禁止する領域10に対しては前記RAM部8から前
記PROM部9へのストア動作が行なわれずに前記初期
のデータが残っていることになる。
を書き込む場合は、前記外部入力端子6より前記PRO
M部9の中の書き換えを禁止する領域IOへの書き換え
保護の機能を解除しておき、前記書き換えを禁止する領
域lOに対応する前記RAM部8ヘデータの書き込みを
行う、そして、前記RAM部8に記憶しているデータを
、前記ストアリコール制御回路7により制御することに
よって前記PROM部9へ不揮発性の書き込みC以下、
ストア動作という)を行う。このとき前記RAM部8の
データは全て前記PROM部9へ書き込まれる。前記P
ROM部9に書き込まれているデータを読み出す場合
には、前記ストアリコール制御回路7により制御して、
前記PROM部9に記憶しているデータの全てを前記R
AM部8に読み出しく以下、リコール動作という)、前
記動作制御回路1の制御により前記RAM部8のデータ
を読み出せばよいことになる0次に前記外部入力端子6
を書き換え禁止の機能を満たすように固定しておき、前
記RAM部8に記憶されているデータを前記PROM部
9に書き込むようにストア動作させた場合、前記書き換
えを禁止する領域10に対しては前記RAM部8から前
記PROM部9へのストア動作が行なわれずに前記初期
のデータが残っていることになる。
[発明の効果]
以上説明したようにこの発明は、電気的に書き可能な半
導体不揮発性記憶装置において、書き換えを行いたくな
いデータを保護することができるとともに、本来持つ便
利さを生かすような、システム上で不揮発性の書き換え
を行うことができる。いいかえると、読み出し専用メモ
リーとしての用途と、書き換えを行うメモリーの2つの
領域を、1つの半導体不揮発性記憶装置で満たすことが
でき、コスト的に非常に有利であるとともに、システム
のソフトを開発する上でも非常に簡単になる効果がある
。さらにシステム上のノイズやCPUの暴走等による誤
書き込みを防止することができより安全性の高いシステ
ムが得られるという効果がある。
導体不揮発性記憶装置において、書き換えを行いたくな
いデータを保護することができるとともに、本来持つ便
利さを生かすような、システム上で不揮発性の書き換え
を行うことができる。いいかえると、読み出し専用メモ
リーとしての用途と、書き換えを行うメモリーの2つの
領域を、1つの半導体不揮発性記憶装置で満たすことが
でき、コスト的に非常に有利であるとともに、システム
のソフトを開発する上でも非常に簡単になる効果がある
。さらにシステム上のノイズやCPUの暴走等による誤
書き込みを防止することができより安全性の高いシステ
ムが得られるという効果がある。
第1図はこの発明にかかる半導体不揮発性記憶装置の第
1の実施例のブロック図、第2図は従来の半導体不揮発
性記憶装置のブロック図、第3図はこの発明にかかる半
導体不揮発性記憶装置の第2の実施例のブロック図であ
る。 9記遣tル2洋 ・動作制御回路 ・アドレスデコーダ回路 ・書き換え読み出し回路 ・高電圧発生回路 ・書き換え禁止回路 ・外部入力端子 ・書き換えを禁止する領域 以 上 半導体−′T揮定性1d見装置のプロ77図第 1 図
1の実施例のブロック図、第2図は従来の半導体不揮発
性記憶装置のブロック図、第3図はこの発明にかかる半
導体不揮発性記憶装置の第2の実施例のブロック図であ
る。 9記遣tル2洋 ・動作制御回路 ・アドレスデコーダ回路 ・書き換え読み出し回路 ・高電圧発生回路 ・書き換え禁止回路 ・外部入力端子 ・書き換えを禁止する領域 以 上 半導体−′T揮定性1d見装置のプロ77図第 1 図
Claims (1)
- 書き換え可能な半導体不揮発性記憶装置において、少
なくとも、前記半導体不揮発性記憶装置の記憶セルの一
部への書き換えを禁止する機能を有する外部入力端子を
設けた事を特徴とする半導体不揮発性記憶装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63147771A JPH022435A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 半導体不揮発性記憶装置 |
EP19890306001 EP0347194A3 (en) | 1988-06-15 | 1989-06-14 | Non-volatile semi-conductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63147771A JPH022435A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 半導体不揮発性記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH022435A true JPH022435A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15437811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63147771A Pending JPH022435A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 半導体不揮発性記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0347194A3 (ja) |
JP (1) | JPH022435A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03241593A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Fujitsu Ltd | 不揮発性メモリの書込み制御回路 |
JPH03283095A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-13 | Nec Corp | 記憶装置 |
US5406516A (en) * | 1992-01-17 | 1995-04-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0655742B1 (en) * | 1993-11-30 | 1999-02-10 | STMicroelectronics S.r.l. | Integrated device with electrically programmable and erasable memory cells |
KR101451745B1 (ko) * | 2011-10-13 | 2014-10-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치 및 이의 구동회로 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4402065A (en) * | 1981-03-11 | 1983-08-30 | Harris Corporation | Integrated RAM/EAROM memory system |
JPS58130490A (ja) * | 1982-01-29 | 1983-08-03 | Nec Corp | 不揮発性ランダム・アクセス・メモリのストア制御回路 |
DE3514430A1 (de) * | 1985-04-20 | 1986-10-23 | Sartorius GmbH, 3400 Göttingen | Verfahren zum abspeichern von daten in einem elektrisch loeschbaren speicher und elektrisch loeschbarer speicher zur durchfuehrung des verfahrens |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP63147771A patent/JPH022435A/ja active Pending
-
1989
- 1989-06-14 EP EP19890306001 patent/EP0347194A3/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03241593A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Fujitsu Ltd | 不揮発性メモリの書込み制御回路 |
JPH03283095A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-13 | Nec Corp | 記憶装置 |
US5406516A (en) * | 1992-01-17 | 1995-04-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
US5576987A (en) * | 1992-01-17 | 1996-11-19 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0347194A3 (en) | 1991-07-03 |
EP0347194A2 (en) | 1989-12-20 |
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