JPH02235568A - リフロー方法 - Google Patents

リフロー方法

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JPH02235568A
JPH02235568A JP5546489A JP5546489A JPH02235568A JP H02235568 A JPH02235568 A JP H02235568A JP 5546489 A JP5546489 A JP 5546489A JP 5546489 A JP5546489 A JP 5546489A JP H02235568 A JPH02235568 A JP H02235568A
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JP
Japan
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substrate
heating chamber
conveyor
board
conveyors
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JP5546489A
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JPH0787986B2 (ja
Inventor
Masao Hidaka
日高 雅夫
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はリフロー装置に関し、殊に搬送コンベヤにより
加熱室内を搬送される基板が、コンベヤから落下しなか
ったかどうかを正確に判断できる手段を備えたリフロー
装置に関する。
(従来の技術) ICチップ,LSIチップ,コンデンサチップ.抵抗チ
ップ等の電子部品がペースト状半田により実装された基
板は、続いてリフロー装置へ送られ、ペースト状半田の
加熱処理が行われる。第4図(a)はこの種従来のリフ
ロー装置の加熱室100の内部平面図、同図(b)は同
正面図であって、加熱室100の内部には左右一対のチ
ェンコンベヤ101a,10lbが配設されており、基
板102はその両側端部をコンベヤ101a,10lb
に支持されて、加熱室100内を搬送される。106は
基仮102上にペースト状半田により実装された電子部
品である.一方のコンベヤ10lbは、基板102の横
巾寸法の変更に対応して、コンベヤ10la,10lb
の間隔を調整できるように、横方向Nに移動自在に設け
られている。103はコンベヤ101a,10lbの下
方に設けられたヒータである。
ところが加熱室100内の温度は、一般に200℃以上
まで加熱されることがら、コンベヤ101a,lo1b
や基板102が熱変形するなどして、基板102はコン
ベヤ101a,10lbから落下しゃすいものである。
このため、コンベヤ101a.10lbの下方に、これ
から落下した基仮102を加熱室100外へ搬出する搬
出コンベヤ104を設けるとともに、方のコンベヤl0
1aの近傍に落下検出用ワイヤI05を張設し、基板1
02がコンベヤ1ola,10lbから落下すると、基
板102がこのワイヤ105に当ってマイクロスイッチ
のような検出素子(図外)が作動し、基板102が落下
したことを検出するようにしたものが知られている。
また第5図に示すように、コンベヤ1 0 1 a,1
0lbの前端部と後端部に発光素子107と受光素子1
08を設け、基板102がコンベヤ101a,10lb
から落下するのを、これらの素子107.108により
検出するようにしたものも知られている。
(発明が解決しようとする課題) 前者の場合、落下基板がワイヤ105に引っかかって搬
出コンベヤ4上に完全に落下しないと、後続の基板の搬
送の障害となるとともに、落下基板はヒータ103に加
熱されて燃焼する虞れがあることから、基板102の落
下の障害とならないように、ワイヤ105はコンベヤ1
01aにきわめて近接させて張設されている。
このため、落下基板がこのワイヤ105に当らず、基板
が落下したことを検出できない場合があった。
また後者の場合、加熱室100の内部はきわめて高温で
あるので陽炎が立ちやすく、しかも落下基板は瞬間的に
検出せねばならないことから検出ミスを犯しやすく、殊
に基板が落下することなく正常に搬送されているにもか
かわらず、基板が落下したと誤検出しやすい問題があっ
た。
したがって本発明は、基板が落下したがどうかを正確に
判断できる手段を備えたリフロー装置を提供することを
目的とする。゛ (課題を解決するための手段) このために本発明は、加熱室と、ペースト状半田により
電子部品が実装された基板の両側端部を支持して、この
基板をこの加熱室の入口から出口へ向って搬送する搬送
コンベヤと、この搬送コンベヤから落下した基板を搬出
する搬出コンベヤと、ヒータとを備えたリフロー装置に
おいて、上記加熱室の入口側と出口側に基板搬入検出セ
ンサと基板搬出検出センサをそれぞれ設けるとともに、
基板搬入検出センサにより検出された基板を登録し、ま
た基板搬出検出センサによりこの基板が検出されると上
記登録を消去するCPUを設けたものである. (作用) 上記構成によれば、基板搬入検出センサにより基板が検
出されると、この基板はCPUに登録される。また基板
搬出検出センサによりこの基板が検出されると、上記登
録は消去される。
したがって消去がなされなければ、この基板は加熱室内
において搬送コンベヤから落下したものと判断される。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。
第1図はリフロー装置の側面図であって、1は加熱室で
あり、その内部に搬出コンベヤとしての左右一対のチェ
ンコンベヤ2a,2bが配設されている(第2図も参照
)。一方のコンベヤ2aは固設されているが、他方のコ
ンベヤ2bは、基仮3の横巾寸法の変更に対応して、コ
ンベヤ2a,2b間の間隔を調整できるように、横方向
Nに移動自在に配設されている。3はペースト状半田に
より電子部品Pが実装された基板であり、基板3はその
両側端部をコンベヤ2a,2bに支持されて、加熱室1
の入口4から出口5へ向って搬送される。6.7は基板
3をコンベヤ2a,2bへ搬送し、またこれがら搬出す
るコンベヤである。コンベヤ2a,2bの下方には、コ
ンベヤ2a,  2bから落下した基板3を加熱室l外
へ搬出する搬出コンベヤとしてのメッシュ状のベルトコ
ンベヤ8が配設されている。9は落下基板搬出用シュー
トである。
12はコンベヤ2a,2bの上方と下方に配設されたヒ
ートブロックのようなヒータ、13はファンである。加
熱室1内はヒータ12により200゜C以上にまで加熱
され、加熱された空気は、ファン13により基板3に吹
き付けられる。14は冷却用ファンである。15は加熱
室1の人口4側に設けられた基板搬入検出センサ、16
は出口5側に設けられた基板搬出検出センサであり、そ
れぞれインターフェース17.CPU18.警報灯やブ
ザーのような報知器19に接続されている。第3図はフ
ローチャートであって、次にこの図を参照しながら、動
作の説明を行う。
電子部品実装装W(図外)により、ペースト状半田によ
り電子部品Pが実装された基板3は、コンベヤ6に搬送
されてコンベヤ2a,2bに転送され、加熱室1におい
て半田は加熱処理された後、加熱室1外へ搬出され、コ
ンベヤ7により次の工程へ送られる。加熱室1の内部は
200℃以上まで加熱されており、このためコンベヤ2
a,  2bや基板3は熱変形し、一部の基板3はコン
ベヤ2a,2bからベルトコンベヤ8上に落下し、ライ
ン外へ搬出される。
加熱室1の入口4に設けられたセンサ15により、加熱
室l内へ搬入される基板3が検出されると、この基板3
はCPU18に登録されるとともに、コンベヤ2a,2
bの速度や力■熱室1の長さ等は既知であることから、
この基板3が基板搬出センサ16により検出される時間
すなわち搬出時間が計算される。そしてこの基板3がセ
ンサ16により検出されると、上記登録は消去される。
したがってこの消去がなされると、基板3は落下するこ
となく加熱室1外へ搬出されたと判断され、また消去が
なされないと、この基板3はコンヘヤ2a,2bから落
下したものと判断され、報知器19によりその旨報知さ
れる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、加熱室と、ペースト状半
田により電子部品が実装された基板の両側端部を支持し
て、この基板をこの加熱室の入口から出口へ向って搬送
する搬送コンベヤと、この搬送コンベヤから落下した基
板を搬出する搬出コンベヤと、ヒータとを備えたリフロ
ー装置において、上記加熱室の入口側と出口側に基板搬
入検出センサと基板搬出検出センサをそれぞれ設けると
ともに、基板搬入検出センサにより検出された基板を登
録し、また基板搬出検出センサによりこの基板が検出さ
れると上記登録を消去するCPUを設けて成るので、加
熱室内において、基板が搬送コンベヤから落下しなかっ
たかどうかを正確に判断することができる。
【図面の簡単な説明】 図は本発明の実施例を示すものであって、第1図はリフ
ロー装置の側面図、第2図は搬送コンベヤの正面図、第
3図はフローチャート図、第4図(a),  (b)及
び第5図は、従来装置の平面図及び正面図である。 1・・・加熱室 2a,2b・・・搬送コンベヤ 3・・・基板 4・・・入口 5・・・出口 8・・・搬出コンベヤ 12・・・ヒータ 15・・・基板搬入検出センサ 16・・・基板搬出検出センサ 18・・・CPtJ P・・・電子部品

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  加熱室と、ペースト状半田により電子部品が実装され
    た基板の両側端部を支持して、この基板をこの加熱室の
    入口から出口へ向って搬送する搬送コンベヤと、この搬
    送コンベヤから落下した基板を搬出する搬出コンベヤと
    、ヒータとを備えたリフロー装置において、上記加熱室
    の入口側と出口側に基板搬入検出センサと基板搬出検出
    センサをそれぞれ設けるとともに、基板搬入検出センサ
    により検出された基板を登録し、また基板搬出検出セン
    サによりこの基板が検出されると上記登録を消去するC
    PUを設けたことを特徴とするリフロー装置。
JP1055464A 1989-03-08 1989-03-08 リフロー方法 Expired - Lifetime JPH0787986B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009004439A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Tamura Seisakusho Co Ltd はんだ付け装置および被加熱体落下検出方法
JP2011222784A (ja) * 2010-04-09 2011-11-04 Senju Metal Ind Co Ltd はんだ付け装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0189865U (ja) * 1987-12-07 1989-06-13

Patent Citations (1)

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JP2011222784A (ja) * 2010-04-09 2011-11-04 Senju Metal Ind Co Ltd はんだ付け装置

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