JPH02232754A - 記憶装置のアドレス交替方式 - Google Patents

記憶装置のアドレス交替方式

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Publication number
JPH02232754A
JPH02232754A JP1054651A JP5465189A JPH02232754A JP H02232754 A JPH02232754 A JP H02232754A JP 1054651 A JP1054651 A JP 1054651A JP 5465189 A JP5465189 A JP 5465189A JP H02232754 A JPH02232754 A JP H02232754A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
signal
memory element
inversion
lines
Prior art date
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Pending
Application number
JP1054651A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumihiko Sakamoto
坂本 文彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02232754A publication Critical patent/JPH02232754A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は記憶装置のアドレス交替方式に関し、特に(デ
ータ幅)×(アドレス深さ)のメモリ素子アレイを備え
た記憶装置Kおけるデータ行ととK制御可能なアドレス
交替方弐KIJAする。
(従来の技術) 従来、(データ幅)×(アドレス深さ)のメモリ素子ア
レイを備えた記憶装置では、第4図のブロック図K示す
一例のように、(データ幅N行)×(アドレス深さM列
)のメモリ素子アレイ41のすべてのメモリ素子に信号
線401を介して共通K同じアドレス信号ADDが入力
され、N行の各メモリ素子行に対してNビットの入力デ
ータ信号DI,,DI冨〜Dll,および出力データ信
号D O s  y D O H〜D O &が得られ
るように接続されて構成されている。
(発明が解決しようとする課題) 上述した従来の記憶装置では、メモリ素子アレイK対す
る入出力信号接続が固定されているので、メモリ素子に
固定的障害が発生した際Kは、その障害を起したメモリ
素子を交換修埋しなければならないという欠点がある。
また、一般的なSEC一DED(1エラー訂正−2エラ
ー検出)のエラー訂正方式を採用している場合でも、次
に発生する他のメモリ障害に備えて固定的障害が発生し
たメモリ素子は交換修理する必要があるという欠点があ
る。
しかしながら、記憶装置の障害K対しては修理しないで
も容易K救済処置できることが要求されている。
本発明の目的は、データ幅N行×アドレス深さM列のメ
モリ素子アレイを有する記憶装置Kおいて、N行のメモ
リ素子行ごとくアドレス選択信号の内の少なくとも1ビ
ットを反転入力するか否かの制御を行うことによって上
記欠点を除去し、記憶装置の障害K対しても修理せずK
救済することができるようK構成した記憶装置のアドレ
ス交替方式を提供することKある。
(課題を解決するための手段) 本発明Kよる記憶装置のアドレス交替方式はメモリ素子
アレイと、第1の複数個の排他的論理和ゲートとを具備
して構成したものである。
メモリ素子アレイは、(データ幅が第1の複数行)×(
アドレス深さ力t第2のvI数列)よシ成るものである
第1の複数個の排他的論理和ゲートは、メモリ素子のア
レイの各行K対応し、反転対象アドレス信号およびアド
レス反転指示信号を排他的論理和演算Kより入力するた
めのものである。
(実施例) 次K,本発明Kついて図面を参照して説明する。
第1図は、本発明による記憶装置のアドレス交替方式の
一実施列を示すブロック図である。
第1図Kおいて、11はメモリ素子アレイ、12〜14
はそれぞれ排他的論理和ゲートである。
第1図において、信号線101上の反転対象外アドVス
信1号A3DD.は(データ@N行)X(7ドレス深さ
M列)のメモリ素子アレイ11のすべてのメモリ素子K
共通K入力されている。信号線102上の反転対象アド
レス信号ADD,1は、N行の各メモリ素子行に対応し
たNビットのアドレス反転指示信号X.,X.〜XNの
内の1ビットとともに、アドレス反転を行う排他的論理
和ゲート12〜14K入力されている。Nビットのアド
レス反転を行う排他的論理和ゲート12〜14の出力信
号および信号線106〜108上のNビットの入力デー
タ信号DI.,DI.〜DIMがともKN行の対応する
各メモリ素子行に入力され、信号線109〜111上の
出力データ信号DO,DO1〜DONがN行の対応する
各メモリ素子行から出力されて、記憶装置のアドレス交
替方式が構成されている。
第2図は、fiIc1図K示した本発明Kよる記憶装置
のアドレス交替方式の一実施列の第1行の1データ行分
の詳細例を示すプ日ツク図である。第2図Kおいて、2
0はメモリ素子群、21は排他的論理和ゲード、22〜
!4はそれぞれメモリセルである。第l図KおけるN行
の各メモリ素子行は、第2図に示すようk構成される。
すなわち、アドレス深さM列分のM個のメモリ素子群2
0K対して、信号41101上の反転対徽外アドレス信
号ADDKを入力し、さらに信号線102上の反転対象
アドレス信号ADDオ1、および信号線202上のアド
レス反転指示信号Xs を入力とするアドレス反転用の
排他的論理和ゲート21の出力信号を入力している。こ
れをもとK1メモリ素子群10ては信号線203からデ
ータ信号DI,を入力して、信号線204上へデータ信
号DOlを出力している。
第1図および第2図に示すようK%N行の各メモリ素子
行K対応した信号線103,104,202,106上
のNビットのアドレス反転指示信号xt  e Xs 
 e X l t X Hは信号線102上の反転アド
レス信号ADDxが1として入力されたビットK対応し
たメとモ゛リ゜素子行に対しては反転され、0として入
力され九ビットに対応したメモリ素子行に対しては反転
されずK入力される。
第8図は、第1図に示した本発明忙よる記憶装置のアド
レス交替方式の一実施列において、反転対象外アドレス
信号ADDIおよび反転対象アドレス信号ADDズと記
憶データDI  y D!〜D}..1,Di=Di+
1〜DHとの関係を示す真理値を表わす説明図である。
第8図(JL)は、アドレス反転指示信号X1〜xHが
すべて0のときの説明図である。すなわち、第8図(&
)はN行の各メモリ素子行のすべてに対して、反転対像
アドレス消号ADD  を反転しないで入力するときの
反転対X 象外アドレス信号ADDt および反転対象アドレス信
号ADDxと、記憶データDI+D1〜D}−it t
D l , D I+i〜DNとの関係を示すものであ
る。
第3図(b)は、アドレス反転指示信号X1〜xNの内
の第l行の1メモリ素子行に対応したアドレス反転指示
信号Xiのみが1で、他のアドレス反転指示信号X1〜
X 1..− 1 ,X 1−1〜xNがすべて0のと
きの説明図である。すなわち、第8図(b)はN行の各
メモリ素子行の内の第I行の1記憶データDlを記憶す
るメモリ素子行K対してのみ、反転対象アドレス信号A
DDxを反転して入力し、他の記憶データD1 .D.
〜D i −1 t I)t+t〜DHを記憶するメモ
リ素子行に対しては反転対象アドレス信号ADDエを反
転しないで入力するときの反転対象外アドレス信号AD
D.および反転対象アドレス信号AE)DXと、記憶デ
ータD!D8〜Dドx  ,Dl−Di+t〜DNの関
係を示すものである。
第3図に示すように、反転対像アドレス信号ADDXを
反転して入力したメモリ素子行の記憶データDiは、反
転対象アドレス信号ADDxを反転せずK入力したメモ
リ素子行の記憶データD.,D.〜D1−レDl+1〜
DNK対してアドレス屓序が異なるようて変更され、反
転対象外アドレス信号ADD.bよび反転対象アドレス
信号ADDxと、記憶データD1の対応関係が交替され
る。
上述のアドレス交替は、Nビットのアドレ7,反転指示
信号X1 ,X,〜Xi−XNを任意に設定することK
より、対応するNビットの記憶データD1+D1〜Dl
−DNを記憧するN行の任意の各メモリ素子行に対して
実施できる。
(発明の効果) 以上説明したようK本発明は、(データ@N行)×(ア
ドレス深さM列)のメモリ素子アレイを備えた記憶装置
において、任意のデータ行のメモリ素子のアドレス順序
を他のデータ行のメモリ素子のアドレス順序とは異なる
ようK変更するととKより固定的障害が発生したメモリ
素子のアドレス順序を他のメモリ素子のアドレス順序と
は異なるようK簡単に変更でき、一般的なSEC−DE
D(1エラー訂正−2エラー検出)のエラー訂正方式七
併用することにょ夛、メモリ障害に対する救済処置を容
易にできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
:篤1図は、本発明Kよる記憶装電のアドレス変換方式
の一′1!施シjを示すブロック図である。 第2図は、第1図に示した本発明Kよる記憶装byの”
アドレス交替方式の1データ行分の詳細を示すブロック
図である。 第a7は、等l図に示した本発明による記憶装置のアド
レス交替方式におけるアドレスと記憶データとの関係を
示す説明図である。 第4図は、従来技術による記憶装置の一列を示すブロッ
ク図である。 11.41−●−メモリ素子アレイ 12.13,14,21−−−−−排池的論理和ゲート 20φ−−メモリ素子群 22〜241l・・メモリ素子 101〜111,202〜204,401●健会串−−
・信号線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (データ幅が第1の複数行)×(アドレス深さが第2の
    複数列)より成るメモリ素子アレイと、前記メモリ素子
    のアレイの各行に対応し、反転対象アドレス信号および
    アドレス反転指示信号を排他的論理和演算により入力す
    るための第1の複数個の排他的論理和ゲートとを具備し
    て構成したことを特徴とする記憶装置のアドレス交替方
    式。
JP1054651A 1989-03-07 1989-03-07 記憶装置のアドレス交替方式 Pending JPH02232754A (ja)

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JPH02232754A true JPH02232754A (ja) 1990-09-14

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JP1054651A Pending JPH02232754A (ja) 1989-03-07 1989-03-07 記憶装置のアドレス交替方式

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58177600A (ja) * 1982-03-29 1983-10-18 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン メモリ・システム

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58177600A (ja) * 1982-03-29 1983-10-18 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン メモリ・システム

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