JPH02224749A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

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JPH02224749A
JPH02224749A JP1045474A JP4547489A JPH02224749A JP H02224749 A JPH02224749 A JP H02224749A JP 1045474 A JP1045474 A JP 1045474A JP 4547489 A JP4547489 A JP 4547489A JP H02224749 A JPH02224749 A JP H02224749A
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JP
Japan
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delay
circuit
delay time
order
frequency
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Pending
Application number
JP1045474A
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English (en)
Inventor
Toshiro Kondo
敏郎 近藤
Shinji Kishimoto
眞治 岸本
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、整相回路内の遅延回路として二次以上のアク
ティブオールパスフィルタを用い、信号の伝達損失を少
なくすることができる超音波診断装置に関する。
〔従来の技術〕
超音波診断装置は、探触子により被検体に超音波を送受
波し1体内からの反射エコーに基づいて被検体内部の診
断情報を得るようになっている。
そして、超音波の被検体内への送信と反射エコーの受波
とに携わる探触子として、多数の振動子素子を配列し各
振動子素子あるいは振動子素子群を順次駆動して超音波
を送受波するようにしたものを用いた電子走査形の超音
波診断装置が実用化されている。上記探触子で受波した
反射エコーの指向性及び集束性は、その振動子素子群か
らの電気信号を適宜な量だけ遅延して加算することによ
り与えられる。
ここで、上記反射エコーの指向性及び集束性を与える回
路は、整相回路と呼ばれており、探触子の振動子素子群
で受波する反射エコーの信号が低レベルのアナログ信号
であり、これを扱うためにインダクタとコンデンサとか
ら成る集中定数型電磁遅延線及びアナログスイッチを組
み合わせた回路から成る整相回路が実用化されている。
このような整相回路としては、従来から第12図及び第
13図に示す構成のものが用いられている。第12図に
示す整相回路は、探触子の各振動子素子1a、lb、・
・・、1nからの受波信号に対し必要とする可変遅延時
間を与える可変遅延線2a、2b。
・・・、2nと、これらを通過して遅延した信号を加算
する加算器3とから成り、任意の遅延時間の設定と共に
信号の加算合成をするようになっている。
また、第13図に示す整相回路は、各振動子素子1a〜
1nからの受波信号に対し遅延時間を与える小さな可変
遅延線2a〜2 n−+と、これらの可変遅延線2a〜
2 n−1を縦続接続した間に交互に接続された加算器
3a〜3n−1とから成り、各々の振動子素子1a〜1
nからの信号を可変遅延線28〜2n−1を介して各加
算器3a〜3n−;で順次加算するようになっている。
上記第12図及び第13図に示すいずれの例においても
、可変遅延線2a〜2nは多数のタップを設けた遅延線
であり、それらのタップをアナログスイッチで選択切り
換えることにより反射エコーの指向性及び集束性を与え
るようにしている。
しかし、第12図に示す整相回路においては、探触子か
ら送波する超音波ビームを偏向して走査するセクタ走査
を実現する場合には、各振動子素子1 a 〜1 n毎
に可変遅延線2a、2b、−,2nを設けなければなら
ないことと、各々に要求される遅延時間が長く個々の可
変遅延線28〜2nが大きくなることから、整相回路全
体が大形化すると共に高価となるものであった。また、
第13図に示す整相回路においては、各々の可変遅延線
28〜2n−1に要求される遅延時間は第12図の場合
よりも短くてよいが、各振動子素子1a〜1nと略同数
の可変遅延線28〜2n−1を設けなければならず、や
はり整相回路全体が大形化すると共に高価となるもので
あった。
これらに対して、特公昭62−27824号公報に記載
され第14図に示すように、n個の振動子素子1a〜1
nに対してn個の加算入力端子を有する加算器38〜3
nと、これらの加算器3a〜3nを介して縦続接続され
た(n−1)個の可変遅延線2a〜2n−1と、上記各
々の加算器38〜3nへ各振動子素子1a〜1nからの
受波信号を選択的に接続するスイッチ4a、4b、・・
・、4nとからなる整相回路が提案されている。この場
合は、上記スイッチ4a〜4nを設けることにより、振
動子素子18〜1nのそれぞれに必要な遅延時間の分解
能を可変遅延線28〜2 n−+のタップの数を増加さ
せることなく向上することができ、上記各可変遅延線2
a〜2n−1に設けるタップ数を少なくすることができ
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、第12図〜第14図に示す従来の整相回路は、
可変遅延線2a〜2nとしていずれもタップ付の遅延線
を用いていた。そして、このタップ付の遅延線は、第1
5図に示すように、インダクタL、Lとコンデンサc、
c’とを組み合わせて構成されている。この第15図に
示したものはT形の区間を多数縦続接続したもので、各
区間の特性インピーダンスを同一にして各区間の境界で
の反射を小さくすると共に、タップT1.T、、・・・
Tn毎の遅延時間が規定の値になるようにコンデンサc
、c’ とインダクタLの値を選定して組み立てる必要
があった。従って、この種のタップ付の遅延線の製造コ
ストは高くなるものであった。
また、上記インダクタL、LとコンデンサC,C′とを
組み合わせて成るタップ付の遅延線は、周波数が高く遅
延時間が長い場合は、必要な区間数が多くなることと主
にインダクタLの損失を含めて、信号の損失が大きくな
り、その出力端では信号が小さくなるものであった。こ
のことから、超音波診断装置としての診断能が低下する
ことがあった・ そこで、本発明は、このような問題点を解決することが
できる超音波診断装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために1本発明による超音波診断装
置は、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する
探触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に
所定の遅延時間を与える遅延回路を有しこれらの遅延回
路で位相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相
回路と、この整相回路で整相された信号を検、波する検
波器と、この検波器からの出力信号を画像として表示す
る表示装置とを備えて成る超音波診断装置において、上
記整相回路内の遅延回路として二次以上のアクティブオ
ールパスフィルタを用い、遅延時間を変えるようにした
ものである。
また、上記二次以上のアクティブオールパスフィルタは
、遅延時間を与える抵抗をアナログスイッチで切り換え
ることにより遅延時間を可変とする。
さらに、上記二次以上のアクティブオールパスフィルタ
は、最大遅延時間を与える周波数を定めるインダクタま
たは抵抗を、用いる探触子の周波数に対応してアナログ
スイッチで切り換えるようにしてもよい。
〔作 用〕
このように構成された超音波診断装置は、整相回路内の
遅延回路として二次以上のアクティブオールパスフィル
タを用い、その回路素子であり遅延時間を与える抵抗を
アナログスイッチで切り換えることにより、遅延時間を
可変とするものである。従って、従来のようにタップ付
の大形の遅延線を用いることなく、整相回路を安価かつ
小形化することができる。また、信号の伝達損失を少な
くすることができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明による超音波診断装W1こおける整相回
路内の遅延回路を示すブロック図である。
この超音波診断装置は、被検体に超音波を送受波し体内
からの反射エコーに基づいて被検体内部の診断情報を得
るもので、例えば短冊状に形成された複数の振動子素子
が一列状に配列され超音波を送受波する探触子と、この
探触子の各振動子素子からの受波信号に所定の遅延時間
を与える遅延回路を有しこれらの遅延回路で位相が揃え
られた受波信号を加算して出力する整相回路と、この整
相回路で整相された信号を検波する検波器と、この検波
器からの出力信号を画像として表示する表示装置とを備
えて成る。
ここで、本発明においては、上記整相回路内の遅延回路
として二次以上のアクティブオールパスフィルタが用い
られている。この二次以上のアクティブオールパスフィ
ルタから成る遅延回路は、従来のタップ付の可変遅延線
を用いたものと異なす1例えば遅延時間を与える抵抗を
アナログスイッチで切り換えることにより遅延時間が変
化するもので、その構成を考えるに至った思考過程を第
2図〜第6図を参照しながら説明する。
まず、第2図に示すように、従来の整相回路に用いられ
ていたインダクタやコンデンサ等の受動素子のみからな
るいわゆるLC遅延線に代わって、インダクタLやコン
デンサC等の受動素子と増幅器とからなるオールパスフ
ィルタとも称されている等化量で構成した遅延回路につ
いて説明する。
この遅延回路は、回路の振幅特性及び遅延特性の双方を
可変とするもので、トランジスタロ工は位相分割器とし
て働き、エミッタフォロアQ2に加えられる信号の振幅
は、入力振幅のに倍になっている。
次に、第2図に示したオールバスフィルタの等価回路を
示すと第3図のようになる。第3図の回路において、ラ
プラス変換の演算子をSとすると。
出力信号と入力信号との比率を表わす伝達関数T(S)
は1重畳により次式が得られる。
この第(1)式でに=1とすれば。
となり、二次全域通過伝達関数の式となる。すなわち、
上記第(1)式において、Kが1より増加または減少す
るにつれて、振幅特性において中心周波数で盛り上がり
または落ち込む。この状況を図示すると、第4図に示す
グラフのように、信号の周波数が零に近づくか或いは無
限大になるに従って利得は1に近づく、そして、最大遅
延時間TdmaxはLC共振周波数で起こり、次式のよ
うに表わされる。
Tchm= 2RC/に+2RC−(3)この第(3)
式でに=1とすれば、Tdtaaxは次のようになる。
Tdmx = 4RC−(4) 次に、第2図に示したオールパスフィルタを演算増幅器
を用いて実現すると、第5図に示す回路構成のようにな
る。すなわち、インダクタLと、コンデンサCと、演算
増幅器6と、この演算増幅器6の一方の入力部に接続さ
れた可変抵抗Rと、他方の入力部に接続された抵抗R′
と、上記演算増幅器6の出力側から他方の入力部へ帰還
を施された可変抵抗KR’ とから成る。ここで、抵抗
R′の値は任意であり、上記第(3)式及び第(4)式
が適用できる。そして、これらの式から次のことが言え
る。
■に=1のとき、最大遅延時間Tdmaxは4RCに等
しい。従って、可変抵抗Rの抵抗値を変えることにより
、遅延時間の大きさを制御することができる。
■最大遅延時間T dmaxは、Kが1よりずれてもあ
まり影響されない。
■LC共振周波数における振幅等化量は、遅延量の設定
と独立であり、Kだけの関数である。また、振幅等化量
に影響を与えずに遅延時間を変更できる。
ここで、第5図の可変抵抗Rの抵抗値を変化させて遅延
時間を変えた場合の遅延特性の一例を示すと、第6図の
ようになる。すなわち、可変抵抗Rの抵抗値を変化させ
ることにより、遅延時間Tdを大きくするほどその遅延
時間Tdが一定な周波数幅が狭くなっていることがわか
る。
以上述べたことにより、前記第(2)式で表わされる二
次全域通過形のオールパスフィルタでに=1として抵抗
Rを可変とすることにより、最大遅延時間T dmax
を適切な値として振幅特性を変えることなく、遅延時間
のみ制御することができる。
なお、以上のことは、アーサー・ビー・ウィリアムズ著
「エレクトロニック フィルタデザインハンドブック」
マグロウヒル出版1981年(ArthurB、  V
illiams  ”Electronic  Fil
ter  Design  Handb−ook”Mc
Grav−Hill 1981)にも記載されている0
以上のことから、第2図及び第5図に示した回路におい
て、可変抵抗Rに該当する部分にて複数の抵抗をアナロ
グスイッチで切り換えることにより。
遅延時間の制御が可能な二次以上のアクティブオールパ
スフィルタから成る遅延回路がそれぞれ実現できること
がわかる。
第7図は二次のアクティブオールパスフィルタの他の例
を示す回路図である。この回路は、極のQ値によらず全
域通過であり、可変抵抗R工の抵抗値を変えて遅延時間
を直接変えられるが、共振周波数及び全域通過の特性に
影響を与えない可変遅延等化量である。ここで、可変抵
抗R1の抵抗値を可変にする手段として、アナログスイ
ッチで複数の抵抗を切り換える手法を用いると、電気信
号によって遅延時間を制御できる回路が実現できること
となる。
第8図は二次のアクティブオールパスフィルタのさらに
他の例を示す回路図である。この回路は、プリアニス(
Delyiannis)の回路と呼ばれるもので、その
伝達関数は前記第(2)式と同様になり、第5図に示す
回路と同じ特性が抵抗RとコンデンサCと一個の演算増
幅器とから成る簡単な回路で実現できる。この回路にお
いては、図示のごとくRsなる抵抗を追加してスイッチ
Sを開閉するようになっており、このスイッチSを閉じ
ると位相推移はなくなり、減衰は上記スイッチSを開い
た場合と同じであるため、該スイッチSの開閉により遅
延時間を制御できる回路が実現できることとなる。
以上説明したように、第2図、第5図、第7図または第
8図に示すような構成とされた二次以上のアクティブオ
ールパスフィルタが第1図に示す遅延回路5として用い
られている。
第1図において、遅延回路5は、従3来例の第12図、
第13図または第14図における個々の可変遅延線2a
、2b、・・・、2nに変えて用いるもので、その内部
は第5図に示す二次のアクティブオールパスフィルタを
長時間の遅延を得るために複数個(6a、6a  、・
・・、6a’)縦続接続して構成されている。上記二次
のアクティブオールパスフィルタ6a等においては、最
大遅延が得られる周波数fはインダクタLとコンデンサ
Cとにより定まるので、第1図に示す実施例では、イン
ダクタLの部分を、適宜の値の複数のインダクタL1.
 L2. L、をアナログスイッチ7で選択可能に構成
し、このアナログスイッチ7で選択されたいずれかのイ
ンダクタL1. L、またはL3とコンデンサCとによ
り周波数fが定まるようになって・いる、このとき、上
記アナログスイッチ7は、ラッチ8により特定の接点を
定常状態としておくようにされている。
そして、超音波診断装置においては、診断の目的に応じ
て種々の超音波周波数の探触子9が用いられるが、第1
図においては、探触子9のケーブルを接続するコネクタ
10とデコーダ11とにより上記探触子9の超音波周波
数を自動的に識別するようになっている。すなわち、コ
ネクタ1oにおいて、探触子9からの超音波信号の接続
用以外に別に設けた超音波周波数の識別用の特定のビン
を接地するかしないかによりコード化し、このコード化
された信号をデコーダ11で読み取ることにより、上記
探触子9の超音波周波数を識別するようになっている。
このとき、上記デコーダ11からの探触子9の周波数識
別信号はラッチ8を介してアナログスイッチ7に入力し
、このアナログスイッチ7により上記探触子9の超音波
周波数に対応した周波数で最大遅延が得られる周波数f
となるインダクタ例えばL□を選択して接続すると共に
、必要としないインダクタL、、 L3は両端が短絡さ
れるようになっている。
また、上記二次のアクティブオールパスフィルタ68等
においては、第5図に示す可変抵抗Rの抵抗値を変化さ
せることにより遅延時間を制御するが、第1図に示す実
施例では、上記可変抵抗Rに該当する部分を、適宜の値
の複数の抵抗R工。
R,、R3をアナログスイッチ12で選択可能に構成し
、このアナログスイッチ12で選択されたいずれかの抵
抗R工、R2またはR3の値に応じた遅延時間が与えら
れるようになっている。なお、符号13はラッチを示し
ており、制御部14からの制御信号は上記ラッチ13を
介してアナログスイッチ12に入力し、このアナログス
イッチ12により上記制御部14の制御に従って遅延時
間が変化するようになっている。複数個の二次のアクテ
ィブオールパスフィルタ6a〜6a’の遅延時間の制御
は、総て同じ遅延時間を設定する構成としでもよいが、
各々において異なる遅延時間と遅延時間が最大となる周
波数とを設定する構成としてもよい。後者の場合は、遅
延時間と周波数の関係に関する特性について、柔軟な設
計を行うことができる。なお、上記のように構成された
遅延回路5は、探触子9からの受波信号のチャンネル数
分たけ設けられている。
第9図は本発明の第二の実施例における遅延回路を示す
ブロック図である1図において、遅延回路5は、第7図
に示す二次のアクティブオールパスフィルタを長時間の
遅延を得るために複数個(6b、6b’  ・・・、6
b’)縦続接続して構成されている。上記二次のアクテ
ィブオールパスフィルタ6b等においては、最大遅延が
得られる周波数fは抵抗R2とR1及びコンデンサCの
値により決まり、設計式は、 で与えられる。ここで、ω、は極の共振角周波数で、ω
1=2πfである。また、最大遅延時間Td@axは、
第(4)式と同様に、 Tdxax = 4R1G       ・・・(6)
となる、従って、抵抗R2とR1とをそれぞれアナログ
スイッチ15または16によってその抵抗値を切り換え
ることにより、最大遅延が得られる周波数fを任意の値
に設定できる。このとき、第1図に示すと同様に、コネ
クタ10とデコーダ11により使用する探触子9の超音
波周波数を識別し。
このデコーダ11からの探触子9の周波数識別信号が各
アナログスイッチ15.16に入力し、このアナログス
イッチ15.16により上記探触子9の超音波周波数に
対応した周波数で最大遅延が得られる周波数fとなる各
抵抗R,,R,の抵抗値を選択して接続するようになっ
ている。
また、上記二次のアクティブオールパスフィルタ6b等
においては、第7図に示す可変抵抗R0の抵抗値を変化
させることにより遅延時間を制御するが、第9図に示す
実施例では、上記可変抵抗R1に該当する部分を、タッ
プ付の抵抗器R工の各タップをアナログスイッチ17で
選択可能に構成し、このアナログスイッチ17で選択゛
されたタップ位置に応じた抵抗値に対応する遅延時間が
与えられるようになっている。なお、上記アナログスイ
ッチ17は、制御部14がらの制御信号により切り換え
られる。
第10図は本発明の第三の実施例における遅延回路を示
すブロック図である1図において、遅延回路5は、第2
図に示す二次のアクティブオールパスフィルタを長時間
の遅延を得るために複数個(6c、6c’  ・・・、
6c’)縦続接続して構成されている。この実施例は、
第1図に示す実施例と同様に、インダクタLの部分を、
適宜の値の複数のインダクタL1. L2をアナログス
イッチ18で選択可能に構成し、このアナログスイッチ
18で選択されたいずれかのインダクタL、、L、とコ
ンデンサCとにより最大遅延を与える周波数fが定まる
ようになっている。また、第2図に示す可変抵抗Rに該
当する部分を、タップ付の抵抗器Rの各タップをアナロ
グスイッチ19で選択可能に構成し、このアナログスイ
ッチ19で選択されたタップ位置に応じた抵抗値に対応
する遅延時間が与えられるようになっている。その他の
動作は。
第1図に示す実施例とほとんど同じである。
第11図は本発明の第四の実施例における整相回路を示
すブロック図である。この実施例は、第14図に示す従
来例において、縦続接続された可変遅延線28〜2 n
−+に代えて第2図、第5図。
第7図または第8図に示すような構成とされた二次のア
クティブオールパスフィルタ6d、6d’・・・、6d
′を適用し、信号電圧の加算を加算器を用いる方法に代
えて複数の定電流信号源を一定の入力インピーダンスの
電流/電圧変換器20に印加することにより信号の加算
と電圧への変換を行うと共に、電子スイッチとしてクロ
スポイントスイッチ21を用いたものである。このクロ
スポイントスイッチ21は、複数の入力信号線と複数の
出力信号線とを図示のごとく交差させ、その交点部に電
子スイッチ22,22.・・・を配置したものである。
そして、探触子の多数の振動子素子1a〜1nからの受
波信号の電圧は、電圧/電流変換器23a、23b、・
・・、23nによりその信号電圧に対応した定電流信号
に変換される。これらの信号電流は、それぞれに任意の
遅延を与えるため、クロスポイントスイッチ21及び電
流/電圧変換器20を介して信号電圧として、各遅延時
間に対応したタップT0.T□、T2.・・・、Tnに
それぞれ印加される。このとき、上記のタップT0〜T
nで同じタップに対して異なる受波信号が印加される場
合、これらの受波信号が加算されるように、電圧/電流
変換器23a〜23nで定電流信号に変換された信号が
クロスポイントスイッチ21で配分されるようになって
いる。その後、上記タップT0〜Tnに印加された信号
電圧は、各二次のアクティブオールパスフィルタ6d、
6d’  ・・・6d’の出力信号と加算器3a、3b
、・・・、3nで加算され、それぞれ次位の二次のアク
ティブオールパスフィルタ6d〜6d’に入力される。
このとき、上記二次のアクティブオールパスフィルタロ
d〜6d’の遅延時間は、制御部14で制御される。ま
た、第1図に示すと同様に、コネクタ10とデコーダ1
1により使用する探触子9の超音波周波数を識別し、こ
の識別信号により上記探触子9の超音波周波数に対応し
て最大遅延が得られる周波数fとなるように制御してい
る。
(発明の効果〕 本発明は以上のように構成されたので、整相回路内の遅
延回路5として二次以上のアクティブオールパスフィル
タを用いることにより、その回路素子であり遅延時間を
与える抵抗をアナログスイッチで切り換えるだけで、遅
延時間を容易に制御することができる。従って、従来の
ようにタップ付の大形の遅延線を用いることなく、!1
相回路を安価かつ小形化することができる。また、上記
二次以上のアクティブオールパスフィルタは、その回路
素子として能動素子を用いているので、信号の伝達損失
を少なくすることができる。従って。
超音波診断装置としての診断能を向上することができる
。さらに、上記二次以上のアクティブオールパスフィル
タは、一部を残してモノリシックICを用いて作製する
ことができるので、高周波化ができると共に安価かつ小
形化に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による超音波診断装置における整相回路
内の遅延回路を示すブロック図、第2図〜第6図は上記
の遅延回路の構成を考えるに至った思考過程を説明する
ための回路図及びグラフ、第7図及び第8図は遅延回路
としての二次のアクティブオールパスフィルタの他の例
を示す回路図。 第9図及び第10図は本発明の第二または第三の実施例
における遅延回路を示すブロック図、第11図は本発明
の第四の実施例における整相回路を示すブロック図、第
12図〜第14図は従来の超音波診断装置における整相
回路を示すブロック図、第15図は従来例におけるタッ
プ付の遅延線を示す回路図である。 1a〜1n・・・振動子素子、 5・・・遅延回路、6
a〜6a’ 、6b〜6b’ 、6c〜6c’ 、6d
〜6d’・・・二次のアクティブオールパスフィルタ、
   7,12,15,16,17,18.19・・・
アナログスイッチ、  9・・・探触子、  10・・
・コネクタ、  11・・・デコーダ、  14・・・
制御部。 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する
    探触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に
    所定の遅延時間を与える遅延回路を有しこれらの遅延回
    路で位相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相
    回路と、この整相回路で整相された信号を検波する検波
    器と、この検波器からの出力信号を画像として表示する
    表示装置とを備えて成る超音波診断装置において、上記
    整相回路内の遅延回路として二次以上のアクティブオー
    ルパスフィルタを用い、遅延時間を変えるようにしたこ
    とを特徴とする超音波診断装置。
  2. (2)二次以上のアクティブオールパスフィルタは、遅
    延時間を与える抵抗をアナログスイッチで切り換えるこ
    とにより遅延時間を可変としたものである請求項1記載
    の超音波診断装置。
  3. (3)二次以上のアクティブオールパスフィルタは、最
    大遅延時間を与える周波数を定めるインダクタまたは抵
    抗を、用いる探触子の周波数に対応してアナログスイッ
    チで切り換えるようにしたものである請求項1または2
    記載の超音波診断装置。
JP1045474A 1989-02-28 1989-02-28 超音波診断装置 Pending JPH02224749A (ja)

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