JPH02174837A - 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 - Google Patents
遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置Info
- Publication number
- JPH02174837A JPH02174837A JP63329299A JP32929988A JPH02174837A JP H02174837 A JPH02174837 A JP H02174837A JP 63329299 A JP63329299 A JP 63329299A JP 32929988 A JP32929988 A JP 32929988A JP H02174837 A JPH02174837 A JP H02174837A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- delay
- delay time
- pass filter
- variable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 17
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 206010041349 Somnolence Diseases 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、制御端子に印加する電気信号により遅延時間
を連続的に変化できる遅延回路及びこの遅延回路を整相
回路内の遅延回路として用いダイナミックフォーカスを
可能とした超音波診断装置に関する。
を連続的に変化できる遅延回路及びこの遅延回路を整相
回路内の遅延回路として用いダイナミックフォーカスを
可能とした超音波診断装置に関する。
超音波診断装置は、探触子により被検体に超音波を送受
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいずれの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため、体内からの反射波の受信
に際し、受波の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心固状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受波信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受波の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受波信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応じて
動的に変更することによって実現される。
波し、体内からの反射波信号に基づいて被検体内部の情
報を得るようになっている。ここで、被検体内部の深さ
の異なる各部のいずれの場所においても高い分解能の画
像が得られるようにするため、体内からの反射波の受信
に際し、受波の焦点を時間の経過と共に動的に変化させ
るダイナミックフォーカスが行われる。このとき、上記
受波の焦点合わせは、幅の狭い短冊状に形成された振動
子素子を複数個配列した探触子、あるいは同心固状に配
置した複数のリング状振動子素子から成る探触子の上記
それぞれの振動子素子からの受波信号を、遅延線を用い
て適宜遅延して加算することによって行われる。この回
路は一般に整相回路と呼ばれている。そして、受波の焦
点位置は上記の各々の遅延線の遅延時間により定まるの
で、ダイナミックフォーカスは、複数の受波信号に与え
るべき遅延時間を体内からの反射波の発生深度に応じて
動的に変更することによって実現される。
上記の遅延時間の変更は、遅延線に適切な間隔でタップ
を設け、これらのタップを電子スイッチを用いて選択切
り換えてして行う。この場合、」二記電子スイッチの切
り換え時にノイズが発生して、遅延線を介して受波信号
に混入することがあり、診断情報に誤った信号が出現す
ることがあった。
を設け、これらのタップを電子スイッチを用いて選択切
り換えてして行う。この場合、」二記電子スイッチの切
り換え時にノイズが発生して、遅延線を介して受波信号
に混入することがあり、診断情報に誤った信号が出現す
ることがあった。
そこで、このような現象を改善するために、上記電子ス
イッチとしてノイズの発生の少ないスイッチを用いれば
よいが、このような電子スイッチは高価であるので遅延
線のそれぞれのタップ毎に多数設けると価格が上昇して
経済的でないという欠点があった。
イッチとしてノイズの発生の少ないスイッチを用いれば
よいが、このような電子スイッチは高価であるので遅延
線のそれぞれのタップ毎に多数設けると価格が上昇して
経済的でないという欠点があった。
以上のような問題点に対処して、タップ切換スイッチを
備えた遅延線をそれぞれ有し焦点区間を互いに異ならせ
た二系統の整相回路を交互に使用すると共に、一方の整
相回路が使用されている間に他方の整相回路のタップを
切り換えるようにした装置が特開昭56−112234
号公報で提案されている。この公報に記載された従来の
超音波診断装置は、第10図に示すように、複数の振動
子素子11,1□、・・・、1nが配列され超音波を送
受波するアレー型の探触子2と、この探触子2の各振動
子素子11〜1nからの受波信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する二系統の整相回路3,
3′と、これらの整相回路3゜3′内の各遅延線の終端
抵抗の信号を増幅する増幅器4,4′と、上記二系統の
整相回路3,3′からの出力信号を交互に切り換えるた
めの電子スイッチ5と、上記各整相回路3,3′で整相
された信号を検波、圧縮する検波器6と、この検波器6
からの出力信号を画像として表示する表示装置7とを備
えて成っていた。ここで、上記二系統の整相回路3,3
′は、それぞれ上記探触子2の各振動子素子1.〜1n
からの受波信号を入力して増幅する定電流源出力型の増
幅器8..8.、・・8n;8..8□′、・・・8n
と、遅延線919′と、これらの遅延線9,9′に適
宜の間隔で設けられたタップを選択切り換えする電子ス
イッチから成るタップ切換スイッチ10□、10□、・
・・Ion;10. 、log +・・・、lQn
’ とから成る。なお、第10図において、符号11は
電子スイッチ5及びタップ切換スイッチ10□〜10n
、10□′〜100′を切り換え制御するための制御器
である。
備えた遅延線をそれぞれ有し焦点区間を互いに異ならせ
た二系統の整相回路を交互に使用すると共に、一方の整
相回路が使用されている間に他方の整相回路のタップを
切り換えるようにした装置が特開昭56−112234
号公報で提案されている。この公報に記載された従来の
超音波診断装置は、第10図に示すように、複数の振動
子素子11,1□、・・・、1nが配列され超音波を送
受波するアレー型の探触子2と、この探触子2の各振動
子素子11〜1nからの受波信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する二系統の整相回路3,
3′と、これらの整相回路3゜3′内の各遅延線の終端
抵抗の信号を増幅する増幅器4,4′と、上記二系統の
整相回路3,3′からの出力信号を交互に切り換えるた
めの電子スイッチ5と、上記各整相回路3,3′で整相
された信号を検波、圧縮する検波器6と、この検波器6
からの出力信号を画像として表示する表示装置7とを備
えて成っていた。ここで、上記二系統の整相回路3,3
′は、それぞれ上記探触子2の各振動子素子1.〜1n
からの受波信号を入力して増幅する定電流源出力型の増
幅器8..8.、・・8n;8..8□′、・・・8n
と、遅延線919′と、これらの遅延線9,9′に適
宜の間隔で設けられたタップを選択切り換えする電子ス
イッチから成るタップ切換スイッチ10□、10□、・
・・Ion;10. 、log +・・・、lQn
’ とから成る。なお、第10図において、符号11は
電子スイッチ5及びタップ切換スイッチ10□〜10n
、10□′〜100′を切り換え制御するための制御器
である。
このように構成された超音波診断装置においては、上記
それぞれのタップ切換スイッチ101〜Ion及び10
□′〜10n′の切り換えは、それらが属する整相回路
3または3′の出力端(4゜4′)が電子スイッチ5の
切り換えにより次段(6)から切り離されている間に行
われるので、上記タップ切換スイッチ101〜Ionま
たは101′〜10n′の動作により発生するノイズが
次段以降の信号に混入することはない。従って、多数必
要とされる上記タップ切換スイッチ10゜〜Ion及び
10□′〜10n′は、ノイズが発生してもよい安価な
スイッチで間に合わせることができる。このとき、各整
相回路3,3′がらの出力信号を交互に切り換える電子
スイッチ5は、常に信号が流れている部分を切り換える
ので、ノイズの発生の少ない高価なスイッチを用いなけ
ればならないが、その個数がわずかであることがら特に
価格が上昇するものではなく、全体としてはコスト上昇
を抑えることができる。これにより、ダイナミックフォ
ーカス時の各タップ切換スイッチ101〜10nまたは
101′〜1on′の切り換えにより発生するノイズの
影響を受けないようにしていた。
それぞれのタップ切換スイッチ101〜Ion及び10
□′〜10n′の切り換えは、それらが属する整相回路
3または3′の出力端(4゜4′)が電子スイッチ5の
切り換えにより次段(6)から切り離されている間に行
われるので、上記タップ切換スイッチ101〜Ionま
たは101′〜10n′の動作により発生するノイズが
次段以降の信号に混入することはない。従って、多数必
要とされる上記タップ切換スイッチ10゜〜Ion及び
10□′〜10n′は、ノイズが発生してもよい安価な
スイッチで間に合わせることができる。このとき、各整
相回路3,3′がらの出力信号を交互に切り換える電子
スイッチ5は、常に信号が流れている部分を切り換える
ので、ノイズの発生の少ない高価なスイッチを用いなけ
ればならないが、その個数がわずかであることがら特に
価格が上昇するものではなく、全体としてはコスト上昇
を抑えることができる。これにより、ダイナミックフォ
ーカス時の各タップ切換スイッチ101〜10nまたは
101′〜1on′の切り換えにより発生するノイズの
影響を受けないようにしていた。
しかし、このような従来の超音波診断装置においては、
第10図に示すように、二系統の整相回路3,3′を用
意することから、高価な遅延線9゜9′を二系統分必要
とし、回路規模が大きくなると共に、コストも上昇する
ものであった。さらに、上記二系統の整相回路3,3′
からの信号に感度差があると、出力側の電子スイッチ5
の切り換えにより、表示装置7に表示される画像に明暗
の段差が発生することとなるので、使用部品については
特性バラツキの少ないものを用いる必要があり、そのた
めに多くのtA整時間を要し、これもコスト上昇の原因
となるものであった。なお、上記二系統の整相回路3,
3′の感度差が少なくなっても。
第10図に示すように、二系統の整相回路3,3′を用
意することから、高価な遅延線9゜9′を二系統分必要
とし、回路規模が大きくなると共に、コストも上昇する
ものであった。さらに、上記二系統の整相回路3,3′
からの信号に感度差があると、出力側の電子スイッチ5
の切り換えにより、表示装置7に表示される画像に明暗
の段差が発生することとなるので、使用部品については
特性バラツキの少ないものを用いる必要があり、そのた
めに多くのtA整時間を要し、これもコスト上昇の原因
となるものであった。なお、上記二系統の整相回路3,
3′の感度差が少なくなっても。
各系統の焦点の位置が異なることから受信感度も異なる
こととなり、やはり出力側の電子スイッチ5の切り換え
により、表示装置7に表示される画像に明暗の段差が発
生することとなるものであった。
こととなり、やはり出力側の電子スイッチ5の切り換え
により、表示装置7に表示される画像に明暗の段差が発
生することとなるものであった。
そこで、本発明は、このような問題点を解決することが
できる超音波診断装置及びこの超音波診断装置に用いる
遅延回路を提供することを目的とする。
できる超音波診断装置及びこの超音波診断装置に用いる
遅延回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による遅延回路は、
インダクタとコンデンサと演算増幅器とを用いてLC共
振周波数で遅延時間を与える二次以上のアクティブオー
ルパスフィルタを楕成し、このアクティブオールパスフ
ィルタにおいて遅延時間を与える抵抗に代えて、利得が
電気信号で制御できる増幅器に一定抵抗で帰還を施して
回路の抵抗値を可変とする可変抵抗回路を設け、この可
変抵抗回路により上記のアクティブオールパスフィルタ
の遅延時間を連続的に変えるようにしたものである。
インダクタとコンデンサと演算増幅器とを用いてLC共
振周波数で遅延時間を与える二次以上のアクティブオー
ルパスフィルタを楕成し、このアクティブオールパスフ
ィルタにおいて遅延時間を与える抵抗に代えて、利得が
電気信号で制御できる増幅器に一定抵抗で帰還を施して
回路の抵抗値を可変とする可変抵抗回路を設け、この可
変抵抗回路により上記のアクティブオールパスフィルタ
の遅延時間を連続的に変えるようにしたものである。
また、上記遅延回路の関連発明としての超音波診断装置
は、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探
触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所
定の遅延時間を与える遅延回路を有しこれらの遅延時間
で位相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回
路と、との整相回路で整相された信号を検波する検波器
と、この検波器からの出力信号を画像として表示する表
示装置とを備えて成る超音波診断装置において、上記整
相回路内の遅延回路として、インダクタとコンデンサと
演算増rrJ4X器とを用いてLC共振周波数で遅延時
間を与える・二次以上のアクティブオールパスフィルタ
を構成し、このアクティブオールパスフィルタにおいて
遅延時間を与える抵抗に代えて、利得が電気信号で制御
できる増幅器に一定抵抗で帰還を施して回路の抵抗値を
可変とする可変抵抗回路を設け、この可変抵抗回路によ
り上記のアクティブオールパスフィルタの遅延時間を連
続的に変えるようにした遅延回路を用いたものである。
は、複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する探
触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に所
定の遅延時間を与える遅延回路を有しこれらの遅延時間
で位相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相回
路と、との整相回路で整相された信号を検波する検波器
と、この検波器からの出力信号を画像として表示する表
示装置とを備えて成る超音波診断装置において、上記整
相回路内の遅延回路として、インダクタとコンデンサと
演算増rrJ4X器とを用いてLC共振周波数で遅延時
間を与える・二次以上のアクティブオールパスフィルタ
を構成し、このアクティブオールパスフィルタにおいて
遅延時間を与える抵抗に代えて、利得が電気信号で制御
できる増幅器に一定抵抗で帰還を施して回路の抵抗値を
可変とする可変抵抗回路を設け、この可変抵抗回路によ
り上記のアクティブオールパスフィルタの遅延時間を連
続的に変えるようにした遅延回路を用いたものである。
そして、上記各遅延回路の制御端子に印加する電気信号
を時間と共に変えて可変抵抗回路の抵抗値を変化させる
ことにより、各遅延回路の遅延時間を連続的に変化させ
てダイナミックフォーカスを行うようにすると効果的で
ある。
を時間と共に変えて可変抵抗回路の抵抗値を変化させる
ことにより、各遅延回路の遅延時間を連続的に変化させ
てダイナミックフォーカスを行うようにすると効果的で
ある。
上記のように構成された遅延回路は、L、 C共振周波
数で遅延時間を与える二次以上のアクティブオールパス
フィルタにおいて遅延時間を与える抵抗に代えて設けら
れた可変抵抗回路の制御端子に電気信号を入力して利得
を制御する回路でその抵篤値を可変とし、上記のアクテ
ィブオールパスフィルタにおける抵抗を制御することに
よって、上記電気信号だけで遅延時11uを連続的に変
えるものである。
数で遅延時間を与える二次以上のアクティブオールパス
フィルタにおいて遅延時間を与える抵抗に代えて設けら
れた可変抵抗回路の制御端子に電気信号を入力して利得
を制御する回路でその抵篤値を可変とし、上記のアクテ
ィブオールパスフィルタにおける抵抗を制御することに
よって、上記電気信号だけで遅延時11uを連続的に変
えるものである。
また、上記のように構成された超音波診断装置は、その
整相回路内の遅延回路として、上記の電気信号だけで、
ノイズを発生することなく遅延時間を連続的に変えるよ
うにした遅延回路を用いることにより、一系統の整相回
路だけでダイナミックフォーカスを可能とするものであ
る。
整相回路内の遅延回路として、上記の電気信号だけで、
ノイズを発生することなく遅延時間を連続的に変えるよ
うにした遅延回路を用いることにより、一系統の整相回
路だけでダイナミックフォーカスを可能とするものであ
る。
以下5本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明による遅延回路の実施例を示す回路図で
ある。この遅延回路は、従来の遅延線を用いたものと異
なり、その制御端子に印加される電気信号により遅延時
間が連続的に変化するもので、その構成を考えるに至っ
た思考過程を第2図〜第7図を参照しながら説明する。
ある。この遅延回路は、従来の遅延線を用いたものと異
なり、その制御端子に印加される電気信号により遅延時
間が連続的に変化するもので、その構成を考えるに至っ
た思考過程を第2図〜第7図を参照しながら説明する。
まず、第2図に示すように、従来の整相回路に用いられ
ていたインダクタやコンデンサ等の受動素子のみからな
るいわゆるLC遅延線に代わって、インダクタしやコン
デンサC等の受動素子と増幅器とからなるオールパスフ
ィルタとも称されている等価回路で構成した遅延回路に
ついて説明する。
ていたインダクタやコンデンサ等の受動素子のみからな
るいわゆるLC遅延線に代わって、インダクタしやコン
デンサC等の受動素子と増幅器とからなるオールパスフ
ィルタとも称されている等価回路で構成した遅延回路に
ついて説明する。
この遅延回路は、回路の振幅特性及び遅延特性の双方を
可変とするもので、トランジスタQ1は位相分割器とし
て働き、エミッタフォロアQ2に加えられる信号の振幅
は、入力振幅のに倍になっている。
可変とするもので、トランジスタQ1は位相分割器とし
て働き、エミッタフォロアQ2に加えられる信号の振幅
は、入力振幅のに倍になっている。
次に、第2図に示したオールパスフィルタの等価回路を
示すと第3図のようになる。第3図の回路において、ラ
プラス変換の演算子をSとすると、出力信号と入力信号
との比率を表わす伝達関数T(S)は、重畳により次式
が得られる。
示すと第3図のようになる。第3図の回路において、ラ
プラス変換の演算子をSとすると、出力信号と入力信号
との比率を表わす伝達関数T(S)は、重畳により次式
が得られる。
この第(1)式でに=1とすれば、
となり、二次全域通過伝達関数の式となる。すなわち、
上記第(1)式において、Kが1より増加または減少す
るにつれて、振幅特性において中心周波数で盛り上がり
または落ち込む。この状況を図示すると、第4図に示す
グラフのように、信号の周波数が零に近づくか或いは無
限大になるに従って利得は1に近づく。そして、最大遅
延時間TdmaxはLC共振周波数で起こり、次式のよ
うに表わされる。
上記第(1)式において、Kが1より増加または減少す
るにつれて、振幅特性において中心周波数で盛り上がり
または落ち込む。この状況を図示すると、第4図に示す
グラフのように、信号の周波数が零に近づくか或いは無
限大になるに従って利得は1に近づく。そして、最大遅
延時間TdmaxはLC共振周波数で起こり、次式のよ
うに表わされる。
Tdrnax=2RC/に+2RC−(3)この第(3
)式でに=1とすれば、 Tdmaxは次のようになる
。
)式でに=1とすれば、 Tdmaxは次のようになる
。
Tdmax=4RC−(4)
次に、第2図に示したオールパスフィルタを演算増幅器
を用いて実現すると、第5図に示す回路構成のようにな
る。すなわち、インダクタLと、コンデンサCと、演算
増幅器12と、この演算増幅器12の一方の入力部に接
続された可変抵抗Rと、他方の人力部に接続された抵抗
R′と5上記演算増幅器12の出力側から他方の入力部
へ帰還を施された可変抵抗KR’ とから成る。ここで
、抵抗R′の値は任意であり、上記第(3)式及び第(
4)式が適用できる。そして、これらの式から次のこと
が言える。
を用いて実現すると、第5図に示す回路構成のようにな
る。すなわち、インダクタLと、コンデンサCと、演算
増幅器12と、この演算増幅器12の一方の入力部に接
続された可変抵抗Rと、他方の人力部に接続された抵抗
R′と5上記演算増幅器12の出力側から他方の入力部
へ帰還を施された可変抵抗KR’ とから成る。ここで
、抵抗R′の値は任意であり、上記第(3)式及び第(
4)式が適用できる。そして、これらの式から次のこと
が言える。
■に=1のとき、最大遅延時間T d+*axは4RC
に等しい、従って、可変抵抗Rの抵抗値を変えることに
より、遅延時間の大きさを制御することができる。
に等しい、従って、可変抵抗Rの抵抗値を変えることに
より、遅延時間の大きさを制御することができる。
■最大遅延時間Tdmaxは、Kが1よりずれてもあま
り影響されない。
り影響されない。
■LC共振周波数における振幅等価量は、遅延量の設定
と独立であり、Kだけの関数である。また、振幅等倒置
に影響を与えずに遅延時間を変更できる。
と独立であり、Kだけの関数である。また、振幅等倒置
に影響を与えずに遅延時間を変更できる。
ここで、第5図の可変抵抗Rの抵抗値を変化させて遅延
時間を変えた場合の遅延特性の一例を示すと、第6図の
ようになる。すなわち、可変抵抗Rの抵抗値を変化させ
ることにより、遅延時間Tdを大きくするほどその遅延
時間1゛dが一定な周波数幅が狭くなっていることがわ
かる。
時間を変えた場合の遅延特性の一例を示すと、第6図の
ようになる。すなわち、可変抵抗Rの抵抗値を変化させ
ることにより、遅延時間Tdを大きくするほどその遅延
時間1゛dが一定な周波数幅が狭くなっていることがわ
かる。
以上述べたことにより、前記第(2)式で表わされる二
次全域通過形のオールパスフィルタでに=1として抵抗
Rを可変とすることにより、最大遅延時間T dmax
を適切な値として可変形の遅延回路が実現できることが
わかる。なお、以上のことは、アーサー・ビー・ウィリ
アムズ著「エレクトロニック フィルタデザイン ハン
ドブック」マグロウヒル出版1981年(Arthur
口、 WilliOms ”E−1ectronic
Filter Design )Iandbook″M
cGraw−fli−111981)にも記載されてい
る。
次全域通過形のオールパスフィルタでに=1として抵抗
Rを可変とすることにより、最大遅延時間T dmax
を適切な値として可変形の遅延回路が実現できることが
わかる。なお、以上のことは、アーサー・ビー・ウィリ
アムズ著「エレクトロニック フィルタデザイン ハン
ドブック」マグロウヒル出版1981年(Arthur
口、 WilliOms ”E−1ectronic
Filter Design )Iandbook″M
cGraw−fli−111981)にも記載されてい
る。
第5図に示した回路で遅延時間を連続的に変えられるが
、これを遅延回路として超音波診断装置の整相回路に適
用すると、振幅特性(第4図参照)と遅延特性(第6図
参照)とを任意に設定でき、好都合である。ここで、超
音波診断装置においてダイナミックフォーカスを実現す
るためには、遅延時間を高速で且っ受波信号に雑音を混
入させることなく制御しうろことが要求される。このよ
うな要求を実現するため、第5図に示した遅延回路の可
変抵抗Rをその抵抗値が゛電気信号で制御可能なものと
等価な回路を示すと、第7図のようになる。第7図の回
路は、電圧利得Gが′眠気信号Evで制御できる増幅器
13に一定抵抗Iくで帰還を施してその回路の抵抗値を
可変としたものである。
、これを遅延回路として超音波診断装置の整相回路に適
用すると、振幅特性(第4図参照)と遅延特性(第6図
参照)とを任意に設定でき、好都合である。ここで、超
音波診断装置においてダイナミックフォーカスを実現す
るためには、遅延時間を高速で且っ受波信号に雑音を混
入させることなく制御しうろことが要求される。このよ
うな要求を実現するため、第5図に示した遅延回路の可
変抵抗Rをその抵抗値が゛電気信号で制御可能なものと
等価な回路を示すと、第7図のようになる。第7図の回
路は、電圧利得Gが′眠気信号Evで制御できる増幅器
13に一定抵抗Iくで帰還を施してその回路の抵抗値を
可変としたものである。
上記のような増幅器13は、よく用いられているギルバ
ードセルなどにより実現でき、制御電圧EVと電圧利得
Gは一定の関係にあり、周囲温度の変化による利得Gの
変動が小さく実用的である。
ードセルなどにより実現でき、制御電圧EVと電圧利得
Gは一定の関係にあり、周囲温度の変化による利得Gの
変動が小さく実用的である。
ここで、上記増幅器13の入力端14から見たインピー
ダンスを求める。このとき、該増幅器13の入力インピ
ーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零とし、入
力端14における入力端子をEin、電流をi、出力端
15における出力電圧をEoutとすると、次式が成り
立つ。
ダンスを求める。このとき、該増幅器13の入力インピ
ーダンスは無限大で、出力インピーダンスは零とし、入
力端14における入力端子をEin、電流をi、出力端
15における出力電圧をEoutとすると、次式が成り
立つ。
Ein−Ri −Eout=O−(5)Eout=−G
−Ein −(6)この第(5)式
と第(6)式からE outを消去すると、 Ein=−i
・・・ (7ン1+G となる、そして、この入力電圧Einの式を電流iで偏
微分すると、入力端14から見たインピーダンスZin
は次式のようになる。
−Ein −(6)この第(5)式
と第(6)式からE outを消去すると、 Ein=−i
・・・ (7ン1+G となる、そして、この入力電圧Einの式を電流iで偏
微分すると、入力端14から見たインピーダンスZin
は次式のようになる。
c)i 1+G
この第(8)式において利得Gを変えると、人力端14
から見たインピーダンスZinは変化することとなる。
から見たインピーダンスZinは変化することとなる。
すなわち、第7図に示す回路の人力端14と対地間の抵
抗は、電気信号Evにより制御可能となる。例えば、利
得Gを0がら4まで変化させると、入力端14における
インピーダンスZinは、Rから0.2Rまで変化する
こととなる。これにより、第7図は可変抵抗回路となる
。
抗は、電気信号Evにより制御可能となる。例えば、利
得Gを0がら4まで変化させると、入力端14における
インピーダンスZinは、Rから0.2Rまで変化する
こととなる。これにより、第7図は可変抵抗回路となる
。
そこで、第7図に示した電気信号Evで入力端14と対
地間の抵抗が可変となる可変抵抗回路を。
地間の抵抗が可変となる可変抵抗回路を。
第5図における可変抵抗Rに適用することにより。
第1図に示す本発明による遅延回路が構成される。
すなわち、インダクタLとコンデンサCと演算増幅器1
2とを用いてLC共振周波数で遅延時間を与える二次以
上のアクティブオールパスフィルタを構成し、上記演算
増幅器12の人力端子に接続される抵抗の部分に、利得
Gが電気信号で制御できる増幅器13に一定抵抗Rで帰
還を施した回路により抵抗値を可変とする可変抵抗回路
16を設け、この可変抵抗回路16により上記のアクテ
ィブオールパスフィルタにおける抵抗を可変としたもの
である。なお、第1図において、符号R′は演算増幅器
12の他方の入力部に接続された一定抵抗であり、符号
KR’は上記演算増幅器12の出力側から他方の入力部
へ帰還を施された可変抵抗である。そして、上記可変抵
抗回路16の増幅器13の利得Gを、制御端子17に印
加する電気信号(制御電圧Ev)により変えることによ
って遅延時間を連続的に変化させることができる。
2とを用いてLC共振周波数で遅延時間を与える二次以
上のアクティブオールパスフィルタを構成し、上記演算
増幅器12の人力端子に接続される抵抗の部分に、利得
Gが電気信号で制御できる増幅器13に一定抵抗Rで帰
還を施した回路により抵抗値を可変とする可変抵抗回路
16を設け、この可変抵抗回路16により上記のアクテ
ィブオールパスフィルタにおける抵抗を可変としたもの
である。なお、第1図において、符号R′は演算増幅器
12の他方の入力部に接続された一定抵抗であり、符号
KR’は上記演算増幅器12の出力側から他方の入力部
へ帰還を施された可変抵抗である。そして、上記可変抵
抗回路16の増幅器13の利得Gを、制御端子17に印
加する電気信号(制御電圧Ev)により変えることによ
って遅延時間を連続的に変化させることができる。
第8図は第1図に示す遅延回路の関連発明としての超音
波診断装置の実施例を示すブロック図である。この超音
波診断装置は、超音波を利用して被検体の診断部位につ
いて断層像を得るもので、電子リニア走査形とされてお
り、例えば短冊状に形成された複数の振動子素子1m+
12+・・・、1nが一列状に配列され超音波を送受波
する探触子2と、この探触子2の各振動子素子1□〜1
nのうち一群の振動子素子のみを順次選択して切り換え
るスイッチ群18と、このスイッチ群18を介して上記
探触子2の各振動子素子11〜1nのうちの一群からの
受波信号を入力し時間と共に利得を増加させ検診深度に
応じて信号強度を補正する複数の増幅器19a〜19e
と、この各増幅器198〜19eからの出力信号に所定
の遅延時間を与える複数の遅延回路20a〜20eを有
しこれらの遅延回路20a〜206で位相が揃えられた
受波信号を加算する加算器21を備えた整相回路22と
、この整相回路22で整相された信号を検波する検波器
6と、この検波器6からの出力信号を画像として表示す
る表示装置7とを備えて成る。
波診断装置の実施例を示すブロック図である。この超音
波診断装置は、超音波を利用して被検体の診断部位につ
いて断層像を得るもので、電子リニア走査形とされてお
り、例えば短冊状に形成された複数の振動子素子1m+
12+・・・、1nが一列状に配列され超音波を送受波
する探触子2と、この探触子2の各振動子素子1□〜1
nのうち一群の振動子素子のみを順次選択して切り換え
るスイッチ群18と、このスイッチ群18を介して上記
探触子2の各振動子素子11〜1nのうちの一群からの
受波信号を入力し時間と共に利得を増加させ検診深度に
応じて信号強度を補正する複数の増幅器19a〜19e
と、この各増幅器198〜19eからの出力信号に所定
の遅延時間を与える複数の遅延回路20a〜20eを有
しこれらの遅延回路20a〜206で位相が揃えられた
受波信号を加算する加算器21を備えた整相回路22と
、この整相回路22で整相された信号を検波する検波器
6と、この検波器6からの出力信号を画像として表示す
る表示装置7とを備えて成る。
なお、第8図においては、スイッチ群18は5本の振動
子素子群を一端方から順次選択してそれぞれ次段の増幅
器19a〜19eに接続するようになっており、上記5
木の振動子素子群を順次切り換えて並進させるようにな
っている。従って、増幅器は5個(198〜19e)設
けられている。
子素子群を一端方から順次選択してそれぞれ次段の増幅
器19a〜19eに接続するようになっており、上記5
木の振動子素子群を順次切り換えて並進させるようにな
っている。従って、増幅器は5個(198〜19e)設
けられている。
また、上記増幅器19a〜19eの動作は、制御部23
からの制御信号S1で制御されるようになっている。
からの制御信号S1で制御されるようになっている。
ここで1本発明においては、上記整相回路22内の遅延
回路20a〜20eとしては、第1図に示す回路構成と
されその制御端子17に人力する電気信号により遅延時
間が連続的に変えられる遅延回路が用いられている。こ
の遅延回路20a〜20eは、第8図においては、5個
設けられ、制御部23からの制御111号S、(第1図
における制御端子17に印加される電気信号)により、
時間と共に超音波ビームの収束点を深い所へ移動するよ
うにその収束位置が制御されるようになっている。なお
、上記の各遅延回路20a〜20eは、必要に応じて複
数段を縦続接続したものを用いてもよい。
回路20a〜20eとしては、第1図に示す回路構成と
されその制御端子17に人力する電気信号により遅延時
間が連続的に変えられる遅延回路が用いられている。こ
の遅延回路20a〜20eは、第8図においては、5個
設けられ、制御部23からの制御111号S、(第1図
における制御端子17に印加される電気信号)により、
時間と共に超音波ビームの収束点を深い所へ移動するよ
うにその収束位置が制御されるようになっている。なお
、上記の各遅延回路20a〜20eは、必要に応じて複
数段を縦続接続したものを用いてもよい。
このような構成により1本実施例の電子リニア走査形の
超音波診断装置においては、整相回路22内の各遅延回
路20a〜20eがその制御端子17への電気信号の入
力だけで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の
整相回路22だけで超音波ビームの収束点を連続的に移
動するダイナミックフォーカスが実現できる。
超音波診断装置においては、整相回路22内の各遅延回
路20a〜20eがその制御端子17への電気信号の入
力だけで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の
整相回路22だけで超音波ビームの収束点を連続的に移
動するダイナミックフォーカスが実現できる。
第9図は第1図に示す遅延回路の関連発明としての超音
波診断装置の他の実施例を示すブロック図である。この
超音波診断装置は、電子セクタ走査形とされており、例
えば短冊状に形成された複数の振動子素子11,1□、
・・・、1nが一列状に配列され超音波を送受波する探
触子2と、この探触子2の各振動子素子1□〜1nから
の受波信号を入力し時間と共に利得を増加させ検診深度
に応じて信号強度を補正する複数の可変利得増幅器24
112421・・・、24nと、これら各可変利得増幅
器241〜24nからの出力信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する整相回路25と、この
整相回路25で整相された信号を検波する検波器6と、
この検波器6からの出力信号を画像として表示する表示
装置7とを備えて成る。
波診断装置の他の実施例を示すブロック図である。この
超音波診断装置は、電子セクタ走査形とされており、例
えば短冊状に形成された複数の振動子素子11,1□、
・・・、1nが一列状に配列され超音波を送受波する探
触子2と、この探触子2の各振動子素子1□〜1nから
の受波信号を入力し時間と共に利得を増加させ検診深度
に応じて信号強度を補正する複数の可変利得増幅器24
112421・・・、24nと、これら各可変利得増幅
器241〜24nからの出力信号に所定の遅延時間を与
えて位相を揃え加算して出力する整相回路25と、この
整相回路25で整相された信号を検波する検波器6と、
この検波器6からの出力信号を画像として表示する表示
装置7とを備えて成る。
そして、上記整相回路25は、探触子2の各振動子素子
1□〜1nで受波するエコー信号のチャンネル数の分だ
け並列に設けられ各可変利↑(P増幅器24□〜24n
からの出力信号に所定の遅延時間を与える複数の遅延回
路26..262.・・・、26nと、これらの遅延回
路26□〜26nの出力側にそれぞれ接続され各遅延回
路261〜26nからの出力信号の電圧を定電流信号源
に変換する電圧/電流変換回路27..27□、・・・
、27nと、nチャンネルの入力信号線及びmチャンネ
ルの出力信号線が図示のように交差しその交点にそれぞ
れアナログスイッチ28,28.・・・が配設さ才した
クロスポイントスイッチ29と、このクロスポイントス
イッチ29の出力信号線に適宜の間隔でmチャンネル分
設けたタップがそれぞれ接続されたタップ付LC遅延線
30とから成る。なお、上記タップ付LC遅延線30の
両端部に接続された抵抗Rは、該タップ付LC遅延線3
0の特性インピ−ダンスとインピーダンスマツチングを
とった終端抵抗である。また、前記可変利得増幅器24
□〜24nの動作は、制御部23からの制御信号S′で
制御されるようになっている。
1□〜1nで受波するエコー信号のチャンネル数の分だ
け並列に設けられ各可変利↑(P増幅器24□〜24n
からの出力信号に所定の遅延時間を与える複数の遅延回
路26..262.・・・、26nと、これらの遅延回
路26□〜26nの出力側にそれぞれ接続され各遅延回
路261〜26nからの出力信号の電圧を定電流信号源
に変換する電圧/電流変換回路27..27□、・・・
、27nと、nチャンネルの入力信号線及びmチャンネ
ルの出力信号線が図示のように交差しその交点にそれぞ
れアナログスイッチ28,28.・・・が配設さ才した
クロスポイントスイッチ29と、このクロスポイントス
イッチ29の出力信号線に適宜の間隔でmチャンネル分
設けたタップがそれぞれ接続されたタップ付LC遅延線
30とから成る。なお、上記タップ付LC遅延線30の
両端部に接続された抵抗Rは、該タップ付LC遅延線3
0の特性インピ−ダンスとインピーダンスマツチングを
とった終端抵抗である。また、前記可変利得増幅器24
□〜24nの動作は、制御部23からの制御信号S′で
制御されるようになっている。
ここで、本実施例においては、上記整相回路25内の遅
延回路26.〜26nとしては、第1図に示す回路構成
とされその制御端子17に入力する電気信号により遅延
時間が連続的に変えられる遅延回路が用いられている。
延回路26.〜26nとしては、第1図に示す回路構成
とされその制御端子17に入力する電気信号により遅延
時間が連続的に変えられる遅延回路が用いられている。
この遅延回路261〜26nは、制御部23からの制御
信号82′(第1図における制御端子17に印加される
電気信号)により1時間と共に超音波ビームの収束点を
深い所へ移動するようにその収束位置が制御されるよう
になっている。そして、上記タップ付LC遅延線30の
終端抵抗Rに現われる信号電圧は、上記各遅延回路26
□〜26nにより適宜遅延を与えられた後、さらにクロ
スポイントスイッチ29により選択されたタップ位置に
対応した遅延時間に相当する遅延が与えられ、それぞれ
の信号が加算される。従って、上記の遅延回路261〜
26nは、タップ付LC遅延線30のタップ間隔で決ま
る遅延時1fflの分解能をさらに細分してその遅延時
間の分解能を上げるという役割も持っている。
信号82′(第1図における制御端子17に印加される
電気信号)により1時間と共に超音波ビームの収束点を
深い所へ移動するようにその収束位置が制御されるよう
になっている。そして、上記タップ付LC遅延線30の
終端抵抗Rに現われる信号電圧は、上記各遅延回路26
□〜26nにより適宜遅延を与えられた後、さらにクロ
スポイントスイッチ29により選択されたタップ位置に
対応した遅延時間に相当する遅延が与えられ、それぞれ
の信号が加算される。従って、上記の遅延回路261〜
26nは、タップ付LC遅延線30のタップ間隔で決ま
る遅延時1fflの分解能をさらに細分してその遅延時
間の分解能を上げるという役割も持っている。
このとき、上記タップ付LC遅延線30の遅延時間は、
主に超音波ビームの偏向方向を設定するための役割を行
うこととなる。なお、上記遅延回路261〜26nとタ
ップ付LC遅延線30との併用により、タップ付LC遅
延線30のタップ間隔はある程度粗にしても問題なく、
クロスポイントスイッチ29のアナログスイッチ28の
数を少なくすることができる。また、上記クロスポイン
1−スイッチ29の動作は、制御部23からの制御信号
S、で制御されるようになっている。さらに、上記の各
遅延口N526□〜26nは、必要に応じて複数段を縦
続接続したものを用いてもよい。
主に超音波ビームの偏向方向を設定するための役割を行
うこととなる。なお、上記遅延回路261〜26nとタ
ップ付LC遅延線30との併用により、タップ付LC遅
延線30のタップ間隔はある程度粗にしても問題なく、
クロスポイントスイッチ29のアナログスイッチ28の
数を少なくすることができる。また、上記クロスポイン
1−スイッチ29の動作は、制御部23からの制御信号
S、で制御されるようになっている。さらに、上記の各
遅延口N526□〜26nは、必要に応じて複数段を縦
続接続したものを用いてもよい。
このような構成により、本実施例の電子セクタ走査形の
超音波診断装置においては、整相回路25内の各遅延回
路261〜26nがその制御端子17への電気信号の入
力だけで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の
整相回路25だけで超音波ビー11の収束点を連続的に
移動するダイナミックフォーカスが実現できる。
超音波診断装置においては、整相回路25内の各遅延回
路261〜26nがその制御端子17への電気信号の入
力だけで遅延時間が連続的に変えられるので、一系統の
整相回路25だけで超音波ビー11の収束点を連続的に
移動するダイナミックフォーカスが実現できる。
本発明による遅延回路(第1図参照)は以上のように構
成されたので、その制御端子17に印加する電気信号だ
けで遅延時間を連続的に変化させることができる。従っ
て、従来のような遅延線に適宜の間隔で設けられたタッ
プを電子スイッチを用いて選択切り換えをすることなく
、その切り換え時にノイズが発生するようなことを完全
に防止することができる。このことから、他の回路部品
等にノイズが混入するのを防止して、装置としての信頼
性を向上することができる。
成されたので、その制御端子17に印加する電気信号だ
けで遅延時間を連続的に変化させることができる。従っ
て、従来のような遅延線に適宜の間隔で設けられたタッ
プを電子スイッチを用いて選択切り換えをすることなく
、その切り換え時にノイズが発生するようなことを完全
に防止することができる。このことから、他の回路部品
等にノイズが混入するのを防止して、装置としての信頼
性を向上することができる。
また、本発明による超音波診断装置(第8図または第9
図参照)は以上のように構成されたので、整相回路内の
遅延回路として第1図に示す回路構成の遅延回路を用い
ることにより、その制御端子17に印加する電気信号だ
けで遅延時間を連続的に変化させて所望の位置に超音波
ビームの収束点を移動することができる。従って、従来
の整相回路内の遅延線のようにノイズが発生することが
ないので、二系統の整相回路を設けて交互に使用する必
要はなく、一系統の整相回路(22または25)だけで
ダイナミックフォーカスを実現することができる。この
ことから、回路規模を小さくすることができ、装置を小
形化できると共にコスト低下を図ることができる。また
、従来のような二系統の整相回路からの信号を切り換え
て表示するのではなく、一系統の整相回路からの信号を
そのまま表示装置7に表示するだけであるので、画像に
明暗の段差が発生することなく、均一な画質の画像が得
られ、診断をやり易くすることができる。
図参照)は以上のように構成されたので、整相回路内の
遅延回路として第1図に示す回路構成の遅延回路を用い
ることにより、その制御端子17に印加する電気信号だ
けで遅延時間を連続的に変化させて所望の位置に超音波
ビームの収束点を移動することができる。従って、従来
の整相回路内の遅延線のようにノイズが発生することが
ないので、二系統の整相回路を設けて交互に使用する必
要はなく、一系統の整相回路(22または25)だけで
ダイナミックフォーカスを実現することができる。この
ことから、回路規模を小さくすることができ、装置を小
形化できると共にコスト低下を図ることができる。また
、従来のような二系統の整相回路からの信号を切り換え
て表示するのではなく、一系統の整相回路からの信号を
そのまま表示装置7に表示するだけであるので、画像に
明暗の段差が発生することなく、均一な画質の画像が得
られ、診断をやり易くすることができる。
第1図は本発明による遅延回路の実施例を示す回路図、
第2図〜第7図は上記の遅延回路の構成を考えるに至っ
た思考過程を説明するための回路図及びグラフ、第8図
は第1図に示す遅延回路の関連発明としての超音波診断
装置の実施例を示すブロック図、第9図は同じく関連発
明としての超音波診断装置の他の実施例を示すブロック
図、第10図は従来の超音波診断装置を示すブロック図
である。 1・・振動子素子、 2・・・探触子、 6・・・検波
器、7・・・表示装置、 12・・・演算増幅器、 1
3・・・増幅器、 16・・・可変抵抗回路、 1
7・・・制御端子、19a〜19e・・・増幅器、 2
0a〜20e、261〜26n・・・遅延回路、 21
・・・加算器、 22.25・・・整相回路、 23・
・・制御部、 241〜24n・・可変利得増幅器、
L・・・インダクタ、C・・・コンデンサ。
第2図〜第7図は上記の遅延回路の構成を考えるに至っ
た思考過程を説明するための回路図及びグラフ、第8図
は第1図に示す遅延回路の関連発明としての超音波診断
装置の実施例を示すブロック図、第9図は同じく関連発
明としての超音波診断装置の他の実施例を示すブロック
図、第10図は従来の超音波診断装置を示すブロック図
である。 1・・振動子素子、 2・・・探触子、 6・・・検波
器、7・・・表示装置、 12・・・演算増幅器、 1
3・・・増幅器、 16・・・可変抵抗回路、 1
7・・・制御端子、19a〜19e・・・増幅器、 2
0a〜20e、261〜26n・・・遅延回路、 21
・・・加算器、 22.25・・・整相回路、 23・
・・制御部、 241〜24n・・可変利得増幅器、
L・・・インダクタ、C・・・コンデンサ。
Claims (3)
- (1)インダクタとコンデンサと演算増幅器とを用いて
LC共振周波数で遅延時間を与える二次以上のアクティ
ブオールパスフィルタを構成し、このアクティブオール
パスフィルタにおいて遅延時間を与える抵抗に代えて、
利得が電気信号で制御できる増幅器に一定抵抗で帰還を
施して回路の抵抗値を可変とする可変抵抗回路を設け、
この可変抵抗回路により上記のアクティブオールパスフ
ィルタの遅延時間を連続的に変えるようにしたことを特
徴とする遅延回路。 - (2)複数の振動子素子が配列され超音波を送受波する
探触子と、この探触子の各振動子素子からの受波信号に
所定の遅延時間を与える遅延回路を有しこれらの遅延回
路で位相が揃えられた受波信号を加算して出力する整相
回路と、この整相回路で整相された信号を検波する検波
器と、この検波器からの出力信号を画像として表示する
表示装置とを備えて成る超音波診断装置において、上記
整相回路内の遅延回路として、インダクタとコンデンサ
と演算増幅器とを用いてLC共振周波数で遅延時間を与
える二次以上のアクティブオールパスフィルタを構成し
、このアクティブオールパスフィルタにおいて遅延時間
を与える抵抗に代えて、利得が電気信号で制御できる増
幅器に一定抵抗で帰還を施して回路の抵抗値を可変とす
る可変抵抗回路を設け、この可変抵抗回路により上記の
アクティブオールパスフィルタの遅延時間を連続的に変
えるようにした遅延回路を用いたことを特徴とする超音
波診断装置。 - (3)上記各遅延回路の制御端子に印加する電気信号を
時間と共に変えて可変抵抗回路の抵抗値を変化させるこ
とにより、各遅延回路の遅延時間を連続的に変化させて
ダイナミックフォーカスを行うようにした請求項2記載
の超音波診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63329299A JPH02174837A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63329299A JPH02174837A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02174837A true JPH02174837A (ja) | 1990-07-06 |
Family
ID=18219911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63329299A Pending JPH02174837A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02174837A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1600744A2 (de) * | 2004-05-27 | 2005-11-30 | Krohne AG | Sende- und Empfangsschaltung für ein Ultraschalldurchflussmessgerät und Verfahren zum Betreiben einer solchen Sende- und Empfangsschaltung. |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP63329299A patent/JPH02174837A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1600744A2 (de) * | 2004-05-27 | 2005-11-30 | Krohne AG | Sende- und Empfangsschaltung für ein Ultraschalldurchflussmessgerät und Verfahren zum Betreiben einer solchen Sende- und Empfangsschaltung. |
EP1600744A3 (de) * | 2004-05-27 | 2006-07-12 | Krohne AG | Sende- und Empfangsschaltung für ein Ultraschalldurchflussmessgerät und Verfahren zum Betreiben einer solchen Sende- und Empfangsschaltung. |
US7243555B2 (en) | 2004-05-27 | 2007-07-17 | Krohne Ag | Transmitting and receiving circuitry for an ultrasonic flowmeter, and method for operating such transmitting and receiving circuitry |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69117709T2 (de) | Ultraschallabbildungssystem | |
USRE40456E1 (en) | Acoustic wave imaging apparatus and method | |
JPH0838473A (ja) | 超音波診断装置 | |
US4197750A (en) | Ultrasonic imaging apparatus operating according to the impulse-echo method | |
US20060253034A1 (en) | Ultrasonic diagnostic system | |
US5068833A (en) | Dynamic control circuit for multichannel system | |
KR20020073400A (ko) | 신호 처리 회로 및 초음파 도플러 장치 | |
US5248943A (en) | Multi-view coil bandpass filter array system | |
JPH02174837A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
JP2000060850A (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH02232040A (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH02300685A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
JPH0352311A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
JPH02300686A (ja) | 遅延線及びこの遅延線を用いた超音波診断装置 | |
JPH02236482A (ja) | 遅延回路及びそれを用いた超音波診断装置 | |
JPH0984795A (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH0461506A (ja) | 電磁遅延素子及び電磁遅延線 | |
JPH0438940A (ja) | 超音波診断装置の整相回路 | |
JPH0683710B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH05300904A (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH04263506A (ja) | 遅延回路及びこの遅延回路を用いた超音波診断装置 | |
JP3337491B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH0330090Y2 (ja) | ||
JPH04122247A (ja) | 超音波診断装置 | |
JPH06189959A (ja) | 超音波診断装置 |