JPH02223815A - 光学式変位センサ - Google Patents

光学式変位センサ

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Publication number
JPH02223815A
JPH02223815A JP4444689A JP4444689A JPH02223815A JP H02223815 A JPH02223815 A JP H02223815A JP 4444689 A JP4444689 A JP 4444689A JP 4444689 A JP4444689 A JP 4444689A JP H02223815 A JPH02223815 A JP H02223815A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
angle
interference filter
light receiving
displacement sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP4444689A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshimitsu Isoi
磯井 利光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP4444689A priority Critical patent/JPH02223815A/ja
Publication of JPH02223815A publication Critical patent/JPH02223815A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、三角測量方式の光学式変位センサに関するも
のである。
し従来の技術] 従来、三角測量方式のこの種の光学式変位センサは、第
1図に示すように、検知エリアに光ビームPを投光する
投光素子(発光ダイオード、半導体レーザ・・・・・・
)laおよび投光レンズ1bよりなる投光系1と、検知
エリア内の被検知物体Xによる反射光Rを受光する受光
レンズ2aおよび受光素子(PSD)2bよりなる受光
系2と、反射光Rの変位(入射角変位)を受光素子出力
(PSDから構成される装置信号)に基づいて演算処理
して被検知物体Xの変位(距離変化)を検出する変位検
出手段3とで構成されていた。また、受光系2の受光レ
ンズ2aの前には、光ビームPの被検知物体Xによる反
射光Rの波長のみを透過して外乱光の入射を阻止する干
渉フィルタ4が設けられていた。第2図は干渉フィルタ
4の透過波長領域を示すもので、透過波長領域が狭くな
っているので、投光素子1aの発光波長を透過波長領域
の中央に正確に一致させる必要がある。なお、投光素子
1aの発光波長と、干渉フィルタ4の透過波長とが一致
しない場合には、反射光Rが受光素子に届かなくなって
しまい、正常な検知動作が行えなくなる。
[発明が解決しようとする課題] ところで、上述の従来例にあっては、投光素子1aの発
光波長と透過波長を正確に一致させるために、最適な透
過波長領域を有する干渉フィルタ4を選別する選別作業
が必要になり、組み立て作業が面倒になるという問題が
あった0例えば、発光波長が780nmである場合にお
いて、干渉フィルタ4として780nmのものを選択し
ても、実際の透過波長は779.9nm〜780.4n
mの間でばらつきがあるので、従来例にあっては、多数
の干渉フィルタ4の中から現物合わせによってR適な透
過波長を有する干渉フィルタ4を選択しており、選択作
業に要する時間が長くなるとともに、相当数の干渉フィ
ルタ4の在庫が一必要となるという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、投光素子の発光波長と干渉フィルタ
の透過波長とを一致させる波長合わせ作業を容易に行う
ことができ、しかも干渉フィルタの在庫を少なくするこ
とができる光学式変位センサを提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明の光学式変位センサは、検知エリアに光ビームを
投光するとともに、検知エリア内の被検知物体による反
射光を受光し、反射光の変位に基づいて被検知物体の変
位を検出する三角測量方式の光学式変位センサであって
、反射光のみを透過して外乱光の入射を阻止する干渉フ
ィルタを受光系に設けた光学式変位センナにおいて、受
光系の光路に対する干渉フィルタの角度を調整する角度
調整手段を設けたものである。
[作 用] 本発明は上述のように構成されており、従来例と同様に
、受光系に外乱光の入射を阻止する干渉フィルタを設け
た三角測量方式の光学式変位センサにおいて、受光系の
光路に対する干渉フィルタの角度を調整する角度調整手
段を設けたものであり、角度調整によって干渉フィルタ
の透過波長を微調整することができるので、投光素子の
発光波長と干渉フィルタの透過波長とを一致させる波長
合わせ作業が容易に行なうことができ、しかも干渉フィ
ルタの在庫を少なくすることができるようになっている
[実施例] 第1図乃至第3図は本発明一実施例を示すもので、検知
エリアに光ビームを投光する投光系1と、検知エリア内
の被検知物体Xによる反射光Rを受光する受光系2と、
反射光Rの変位に基づいて被検知物体Xの変位を検出す
る変位検出手段3とで構成され、反射光Rのみを透過し
て外乱光の入射を阻止する干渉フィルタ4を受光系2に
設けて成る従来例と同様の光学式変位センサにおいて、
受光系1の光路に対する干渉フィルタ4の角度を調整す
る角度調整手段5を設けたものである。実施例にあって
は、角度調整手段5は、干渉フィルタ4を保持するフィ
ルタホルダ4aの一端を枢支し、回動自在にして干渉フ
ィルタ4の角度を適当に設定できるようにしている。フ
ィルタホルダ4aの一端の両側には、受光系ホルダ20
に枢支される枢支軸10が突設され、ホルダ4aの他端
には偏心銀12の偏心ビン12aに係合する溝11が穿
設されており、偏心銀12を回動することにより、フィ
ルタホルダ4aが枢支軸10を中心に回動して干渉フィ
ルタ4の受光系の光路に対する角度がmuされるように
なっている。
以下、実施例の動作について説明する。いま、干渉フィ
ルタ4の透過波長特性は、入射する光の角度θによって
変化し、第6図に示すような角度θA(=90℃)、θ
6、θ。で反射光Rが入射した場合の透過波長特性は、
第7図に示すように変化する。ここに、投光素子1aの
発光波長をλとすれば、各角度θ1.θ6.θ0の透過
率はa。
b、cとなり、最も大きな透過率が得られる角度θ、ど
なるように角度調整手段5により干渉フィルタ4の角度
調整を行えば良いことが分かる。
なお、光学式変位センサにおいて、被検知物体Xの検知
エリアを遠くに設定したり、近くに設定した場合に、受
光素子2bに入射する光量が変化することになるが、角
度調整手段5によって干渉フィルタ4の角度を変更して
透過率を適当に設定して検知エリアの遠近に拘らず受光
素子2bに一定の光を入射させるようにして安定な検出
動作を行わせるようにしても良い。
第8図は他の実施例を示すもので、フィルタホルダ4a
の一端をヒンジ10aにて回動自在とし、フィルタホル
ダ4aの他端に回動自在に取着された支持片15をねじ
16およびばね17を介して受光系ホルダ20に取着す
ることにより角度調整手段5を形成し、ねじ16の締め
付けによって干渉フィルタ4の角度を調整できるように
したものである。
[発明の効果コ 本発明は上述のように構成されており、従来例と同様に
、受光系に外乱光の入射を阻止する干渉フィルタを設け
た三角測量方式の光学式変位センサにおいて、受光系の
光路に対する干渉フィルタの角度を調整する角度調整手
段を設けたものであり、角度調整によって干渉フィルタ
の透過波長を微調整することができるので、投光素子の
発光波長と干渉フィルタの透過波長とを一致させる波長
合わせ作業が容易に行なうことができ、しがも干渉フィ
ルタの在庫を少なくすることができるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光学式変位センサの概略構成図、
第2図は同上の動作説明図、第3図は本発明一実施例の
概略構成図、第4図は同上の要部斜視図、第5図は同上
の要部断面図、第6図および第7図は同上の動作説明図
、第8図は他の実施例の要部側面図である。 1は投光系、1aは投光素子、1bは投光レンズ、2は
受光系、2aは受光レンズ、2bは受光素子、3は変位
検出手段、4は干渉フィルタ、5は角度調整手段である
。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第4図 第6図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検知エリアに光ビームを投光する投光系と、検知
    エリア内の被検知物体による反射光を受光する受光系と
    、反射光の変位に基づいて被検知物体の変位を検出する
    変位検出手段とで構成され、反射光のみを透過して外乱
    光の入射を阻止する干渉フィルタを受光系に設けて成る
    光学式変位センサにおいて、受光系の光路に対する干渉
    フィルタの角度を調整する角度調整手段を設けたことを
    特徴とする光学式変位センサ。
JP4444689A 1989-02-23 1989-02-23 光学式変位センサ Pending JPH02223815A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020515863A (ja) * 2017-04-04 2020-05-28 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh 動的フィルタを備えたlidar装置および方法

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020515863A (ja) * 2017-04-04 2020-05-28 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh 動的フィルタを備えたlidar装置および方法
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