JP2000074617A - レーザー干渉計 - Google Patents

レーザー干渉計

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JP2000074617A
JP2000074617A JP10263892A JP26389298A JP2000074617A JP 2000074617 A JP2000074617 A JP 2000074617A JP 10263892 A JP10263892 A JP 10263892A JP 26389298 A JP26389298 A JP 26389298A JP 2000074617 A JP2000074617 A JP 2000074617A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ハーフミラーに対する参照ミラーと反射ミラ
ーの角度が振動や経年変化等によっても変動せず、安定
した測定精度が得られるレーザー干渉計を提供する。 【解決手段】 参照ミラー15と反射ミラー17とをハ
ーフミラー12に固着する。そして、ハーフミラー12
と参照ミラー15との光路上にコーナーキューブ13と
ウェッジプリズム14とを設け、ハーフミラー12から
の光Boをコーナーキューブ13で方向変換し、ウェッ
ジプリズム14を介して参照ミラー15に入射する構成
にして、ウェッジプリズム14で角度調整するようにす
る。ウェッジプリズム14はそれ自体の角度が変化して
も透過光の変化は極めて小さく反射光の傾きを容易に調
整することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー干渉計の
構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5に、従来のレーザー干渉計の例を示
す。レーザー干渉計30は、レーザーを出力する光源3
1、ハーフミラー32、参照ミラー33、コーナーキュ
ーブ34、反射ミラー35、干渉縞検出部36を基本と
して構成されており、コーナーキューブ34のみが可
動、他の部品は固定されている。すなわち、コーナーキ
ューブ34は測定子等に取り付けられて測定面の形状等
に応じてZ方向(参照ミラーへの入射光Boに直交する
方向)に変位するが、コーナーキューブ34の変位量は
次のようにして検出される。
【0003】光源31から出た光Aはハーフミラー32
に入り、ハーフミラー32で透過して参照ミラー33に
向かう光Boと、ハーフミラー32の境界面32aで光
Boに直交する方向に反射してコーナーキューブ34に
向かう光Coに分けられる。参照ミラー33に向かった
光Boは、参照ミラー33の反射面33aで反射し今度
はハーフミラー32の境界面32aで反射して干渉縞検
出部36に入る(反射光Bc)。また、コーナーキュー
ブ34に向かった光Coは内部で反射して反射ミラー3
5に入り、反射ミラー35の反射面35aで反射してコ
ーナーキューブ32を介し、今度はハーフミラー32の
境界面32aを透過して干渉縞検出部36に入る(反射
光Cc)。
【0004】この結果、ハーフミラー32の境界面32
aからの参照ミラー33までの光路長と反射ミラー35
までの光路長との差によって、干渉縞検出部36で干渉
縞が観測されるが、ハーフミラー32の境界面32aか
ら参照ミラー33の反射面33aまでの光路長は固定で
あるので、干渉縞の変化によって、ハーフミラー32の
境界面32aから反射ミラー35の反射面35aまでの
光路長の変化を検出することができる。この場合、反射
ミラー35はハーフミラー32に対して固定されている
ので、結局、干渉縞の変化によってコーナーキューブ3
4のZ方向変位量を検出することができる。
【0005】ところで、干渉縞検出部36で観測される
干渉縞の形式には、次のように2種類ある。 (1)反射光Bcと反射光Ccとを、光源31からの入
射時における境界面32a上の位置32bに戻すように
するもので、干渉縞検出部36では平行な縞が観測され
る。 (2)参照ミラー33を傾けて、反射光Bcを光源31
からの入射時の位置32bからわずかにずれた位置32
cに戻す(又は、図6のように反射ミラー35を傾け
て、反射光Cdを光源31からの入射時の位置32bか
らわずかにずれた位置に戻す)ようにするもので、干渉
縞検出部36では反射光Bcと反射光Ccとが交差した
縞、いわゆるモアレ縞が観測される。
【0006】いずれの場合も、コーナーキューブ34の
変位量を正確に検出するには、反射光Bc、反射光Cc
ともに正確な位置に戻す必要があるが、図5に示すよう
に、参照ミラー33が設計値に対してθc傾くと、干渉
縞検出部36に入射する反射光Bcは2θc傾くことに
なる。つまり、反射光Bcは参照ミラー33の傾きに対
して2倍角度変化する。また、図6に示したように、設
計値に対する反射ミラー35の傾き角度(θd)に対す
る反射光Cdの傾き角度も、参照ミラー33の場合と同
様に2倍(2θd)である。なお、コーナーキュブ34
は傾いても反射光は入射光に対して平行になる。
【0007】角度変化の許容値はハーフミラー32から
干渉縞検出部36までの距離によっても異なるが、1゜
以下のオーダーであり、それを満足するように参照ミラ
ー33又は/及び反射ミラー35の角度を微妙に調整す
る必要がある。このため、参照ミラー33と反射ミラー
35は従来、ハーフミラー32に対する角度が調整でき
るように取り付けられている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、参照ミ
ラー33と反射ミラー35の角度が微調整できるように
なっているため、逆に、振動や経年変化等によってその
角度が変化する恐れがある。参照ミラー33と反射ミラ
ー35の一方又は両方の角度が変動すると、コーナーキ
ューブ34の変位量と干渉縞検出部36で検出される干
渉縞との関係が変化するため、コーナーキューブ34の
変位量を正確に検出することができなくなる。傾きが大
きすぎると、反射光Bc(Bd)又は/及び反射光Cc
(Cd)が干渉縞検出部36に入射されないことにもな
る。
【0009】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、ハーフミラーに対する参照ミラーと反射ミラー
の角度が振動や経年変化等によっても変動せず、安定し
た測定精度が得られるレーザー干渉計を提供することを
目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、参照ミラーと反射ミラーとをハーフミラー
に固着し、参照ミラー33と反射ミラー35の角度調整
ができないように構成した。この場合、参照ミラーの反
射面と反射ミラーの反射面とを、ハーフミラーの境界面
に対して正確に設定することが必要であるが、それが製
造上困難であるときには、参照ミラー側の光を直接参照
ミラーに入射するのではなく、ハーフミラーと参照ミラ
ーとの光路上にコーナーキューブとウェッジプリズムと
を設け、ハーフミラーからの光をコーナーキューブで方
向変換し、ウェッジプリズムを介して参照ミラーに入射
する構成にする。ウェッジプリズムは入射光を入射方向
からわずかに傾いた方向に透過させるものであるが、ウ
ェッジプリズム自体の角度が変化しても透過光の変化は
極めて小さいので、これによって反射光の傾きを容易に
微調整することができる。ただし、ウェッジプリズムは
1個では調整できる傾きが限定されるので2個設け、0
から所定の範囲までの傾き調整をするようにするとよ
い。
【0011】
【発明の実施の形態】実施の形態1 本発明に係るレーザー干渉計の実施の形態1(レーザー
干渉計10)を、図1に示す。図1に示すように、レー
ザー干渉計10は、レーザーを出力する光源11、ハー
フミラー12、第一のコーナーキューブ13、2個のウ
ェッジプリズム14、14、参照ミラー15、第二のコ
ーナーキューブ16、反射ミラー17、干渉縞検出部1
8を基本的として構成されている。この他に、各種のレ
ンズ等が使用されるが本発明の説明図では省略してい
る。この場合、参照ミラー15と反射ミラー17は、そ
れぞれの反射面15a、17aを外側に向けハーフミラ
ー12の境界面12aに対して45゜になるようにして
ハーフミラー12に固着されている。また、第二のコー
ナーキューブ16のみが可動、他の部品は固定されてい
る。すなわち、第二のコーナーキューブ16は測定子等
に取り付けられて測定面の形状等に応じてZ方向(参照
ミラーへの入射光Boに直交する方向)に変位し、第二
のコーナーキューブ16の変位量は次のようにして検出
される。
【0012】光源11から出た光Aはハーフミラー12
に入り、ハーフミラー12で透過して第一のコーナーキ
ューブ13に向かう光Boとハーフミラー12の境界面
12aで光Boに直交する方向に反射して第二のコーナ
ーキューブ16に向かう光Coに分けられる。ただし、
図1ではわかりやすいように、2本の線に分けて表して
いる。第一のコーナーキューブ13に向かった光Bo
は、内部で反射して反対方向に向かい、ウェッジプリズ
ム14、14を介して参照ミラー15の反射面15aで
反射し、ウェッジプリズム14、14、第一のコーナー
キューブ13を介して今度はハーフミラー12の境界面
12aで入射時と直交する方向に反射し干渉縞検出部1
8に入る(反射光Ba)。また、第二のコーナーキュー
ブ16に向かった光Coは内部で反射して反射ミラー1
7に入り、反射ミラー17の反射面17aで反射して第
二のコーナーキューブ16を通って今度はハーフミラー
12の境界面12aを通過し干渉縞検出部18に入る
(反射光Ca)。
【0013】この結果、ハーフミラー12の境界面12
aからの参照ミラー15までの光路長と境界面12aか
らの反射ミラー17までの光路長との差によって、干渉
縞検出部18で干渉縞が観測されるが、ハーフミラー1
2の境界面12aから参照ミラー15の反射面15aま
での光路長は固定であるので、干渉縞の変化によって、
ハーフミラー12の境界面12aから反射ミラー17の
反射面17aまでの光路長の変化を検出することができ
る。この場合、反射ミラー17はハーフミラー12に対
して固定されているので、結局、干渉縞の変化によって
第二のコーナーキューブ16のZ方向変位量を検出する
ことができる。
【0014】この場合、参照ミラー15の反射面15a
と反射ミラー17の反射面17aの角度を、ハーフミラ
ー12の境界面12aに対して正確に設定することが必
要であるが、実施の形態1では、第一のコーナーキュー
ブ13と参照ミラー15との光路上にウェッジプリズム
14を設けているので、多少の誤差を許容することがで
きる。すなわち、図2に示すように、ウェッジプリズム
14は両面が平行でなくある小さな角度αをもったプリ
ズムであり、これをθa傾けると透過光は入射光に対し
てθb傾く。ウェッジプリズム14の屈折率をn、入射
光のウェッジプリズム14内の屈折角をβ、出射角をγ
とおくと、これらの関係は次の関係式で表される。 nsinβ=sinθa sinγ=nsin(α+β) θb=γ−(α+θa) 今、n=1.5、α=0.1゜とすると、 θa=0゜のときθb=0.05008 θa=1゜のときθb=0.05060 となり、θaを1゜変化させても、θbはわずか0.0
0052゜しか変化しない。つまり、ウェッジプリズム
を用いると、微小の角度を容易に調整することができる
とともに、振動や経年変化でウェッジプリズムの位置が
多少変動しても透過光の角度変化にはほとんど影響しな
い。
【0015】ただし、ウェッジプリズムは1個では傾き
角の調整範囲が限定されるので2個設ける。つまり、互
いに打ち消し合うようにすると傾き0の設定ができ、互
いに同じ傾き方向に設定すると2つの傾き角を加算した
範囲まで設定することができる。なお、傾きの調整機構
は反射ミラー17側にはないが、参照ミラー15と反射
ミラー17の角度は相対的な関係になるので、反射ミラ
ー17側の角度誤差によるものもウェッジプリズムで調
整することができる。
【0016】なお、図1では、参照ミラー15からの反
射光Baと反射ミラー17からの反射光Caとがハーフ
ミラー12境界面12aの入射位置に戻り、干渉縞検出
部18で平行な縞が観測される場合について説明した
が、ウェッジプリズムを調整することによって、干渉縞
検出部18で反射光Baと反射光Caとが交差した縞、
いわゆるモアレ縞が観測されるようにすることもでき
る。
【0017】実施の形態2 本発明に係るレーザー干渉計の実施の形態2(レーザー
干渉計20)を、図3に示す。レーザー干渉計20は、
レーザー干渉計10に対して参照ミラー側にコーナーキ
ューブとウェッジプリズムがなく、入射光が直接参照ミ
ラーで反射される構成で従来の技術で説明したものと同
様の構成である。すなわち、図3に示すように、レーザ
ー干渉計20は、レーザーを出力する光源11、ハーフ
ミラー22、参照ミラー23、コーナーキューブ24、
反射ミラー25、干渉縞検出部18を基本として構成さ
れている。この場合、参照ミラー23の反射面23aは
内側を向けて、反射ミラー25の反射面25aは外側に
向けて、ハーフミラー22の境界面22aに対して45
゜になるようにしてハーフミラー22に固着されてい
る。そして、コーナーキューブ24のみが可動、他の部
品は固定されてコーナーキューブ24のZ方向変位量を
検出するが、その方法は従来の技術と同様であるので説
明は省略する。
【0018】この場合、参照ミラー23の反射面23a
と反射ミラー25の反射面25aがハーフミラー22の
境界面22aに対してなす角は正確に設定する必要があ
るが、レーザー干渉計10のように角度を調整する機構
がないので、参照ミラー23及び反射ミラー25が取り
付けられるハーフミラー22の面の境界面22aに対す
る角度精度は、部品精度によって実現する。また、実施
の形態2では参照ミラー側の光路長は調整ができず反射
ミラー側の光路長より短くなるので、光源11には波長
安定化レーザーを用いる。
【0019】なお、図3では、参照ミラー23からの反
射光Bbと反射ミラー24からの反射光Cbとがハーフ
ミラー12境界面12aの入射位置に戻り、干渉縞検出
部18で平行な縞が観測される場合について説明した
が、ハーフミラー22の境界面22aに対する参照ミラ
ー23又は反射ミラー24の角度を変更することによっ
て、干渉縞検出部18で反射光Bbと反射光Cbとが交
差した縞、いわゆるモアレ縞が観測されるようにするこ
ともできる。
【0020】また、以上説明した実施の形態1及び実施
の形態2ではコーナーキューブ16及びコーナーキュー
ブ24が、Z方向に可動するとしたが、前述したよう
に、コーナーキューブは多少傾いても入射方向と平行な
方向に光を反射するので、可動方向は直線だけでなく、
図4に示すように、コーナーキューブ16及びコーナー
キューブ24がレバー式機構に取り付けられて円弧運動
する場合に付いても、本発明は適用できる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、レ
ーザー干渉計の参照ミラーと反射ミラーとをハーフミラ
ーに固着するように構成した。したがって、ハーフミラ
ーに対する参照ミラーと反射ミラーの角度が振動や経年
変化等によっても変動しないので、安定した測定精度が
得られるレーザー干渉計を提供することができる。この
場合、参照ミラーの反射面と反射ミラーの反射面とをハ
ーフミラーの境界面に対して正確に設定することが必要
であるが、製造上難しいときは、ハーフミラーと参照ミ
ラーとの光路上にコーナーキューブとウェッジプリズム
とを設け、ウェッジプリズムで反射光の傾きを調整する
ようにする。ウェッジプリズムはそれ自体の角度が多少
変動しても透過光の角度変化にはほとんど影響しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る実施の形態1の説明図
【図2】ウェッジプリズムの説明図
【図3】本発明に係る実施の形態2の説明図
【図4】本発明に係るコーナーキューブ可動機構の説明
【図5】従来の技術の説明図
【図6】従来の技術の説明図
【符号の説明】
11……光源 12……ハーフミラー 13……第一のコーナーキューブ 14……ウェッジプリズム 15……参照ミラー 16……第二のコーナーキューブ 17……反射ミラー 18……干渉縞検出部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】固定側に設けられ、レーザーを出力する光
    源と、 固定側に設けられ、前記レーザーの一部を透過し他の一
    部を反射するハーフミラーと、 固定側に設けられ、入射光を入射方向と平行な方向に反
    射する第一のコーナーキューブと、 固定側で、参照ミラーと前記第一のコーナーキューブと
    の間に設けられ、入射光を入射方向からわずかに傾いた
    方向に透過させるウェッジプリズムと、 反射面を外側に向けて前記ハーフミラーに固着され、前
    記ハーフミラーで分光された一方の光であって前記第一
    のコーナーキューブ及び前記ウェッジプリズムを介して
    入射された光を反射し、前記ウェッジプリズム、前記第
    一のコーナーキューブ及び前記ハーフミラーを介して干
    渉縞検出部に入射させる前記参照ミラーと、 前記参照ミラーへの入射光に直交する方向の可動側に設
    けられ、入射光を入射方向と平行な方向に反射する第二
    のコーナーキューブと、 反射面を外側に向けて前記ハーフミラーに固着され、前
    記ハーフミラーで分光された他方の光であって前記第二
    のコーナーキューブを介して入射された光を反射し、前
    記第二のコーナーキューブ及び前記ハーフミラーを介し
    て前記干渉縞検出部に入射させる反射ミラーと、 固定側に設けられ、前記参照ミラー及び前記反射ミラー
    から入射された2つの光によって発生する干渉縞を検出
    し、その干渉縞の変化から、前記第二のコーナーキュー
    ブの変位量を検出する前記干渉縞検出部と、から構成さ
    れたことを特徴とするレーザー干渉計。
  2. 【請求項2】前記ウェッジプリズムが2個設けられたこ
    とを特徴とする請求項1に記載のレーザー干渉計。
  3. 【請求項3】固定側に設けられ、レーザーを出力する光
    源と、 固定側に設けられ、前記レーザーの一部を透過し他の一
    部を反射するハーフミラーと、 反射面を内側に向けて前記ハーフミラーに固着され、前
    記ハーフミラーで分光された一方の光を反射し、前記ハ
    ーフミラーを介して干渉縞検出部に入射させる参照ミラ
    ーと、 前記参照ミラーへの入射光に直交する方向の可動側に設
    けられ、入射光を入射方向と平行な方向に反射するコー
    ナーキューブと、 反射面を外側に向けて前記ハーフミラーに固着され、前
    記ハーフミラーで分光された他方の光であって前記コー
    ナーキューブを介して入射された光を反射し、前記コー
    ナーキューブ及び前記ハーフミラーを介して前記干渉縞
    検出部に入射させる反射ミラーと、 固定側に設けられ、前記参照ミラー及び前記反射ミラー
    から入射された2つの光によって発生する干渉縞を検出
    し、その干渉縞の変化から、前記コーナーキューブの変
    位量を検出する前記干渉縞検出部と、から構成されたこ
    とを特徴とするレーザー干渉計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102359818A (zh) * 2011-09-23 2012-02-22 北京华夏科创仪器技术有限公司 红外光谱干涉仪和采用该干涉仪的红外光谱仪
CN111895934A (zh) * 2020-07-31 2020-11-06 北京理工大学 一种光学元件表面局部陡度面形误差干涉测量方法及装置
CN111895934B (zh) * 2020-07-31 2021-07-16 北京理工大学 一种光学元件表面局部陡度面形误差干涉测量方法及装置

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