JPS60235027A - 狭波長帯域投受光装置 - Google Patents
狭波長帯域投受光装置Info
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- JPS60235027A JPS60235027A JP9162684A JP9162684A JPS60235027A JP S60235027 A JPS60235027 A JP S60235027A JP 9162684 A JP9162684 A JP 9162684A JP 9162684 A JP9162684 A JP 9162684A JP S60235027 A JPS60235027 A JP S60235027A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light emitting
- bimetal
- filter
- wavelength
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の利用分野）
本発明は、比較的狭帯域の発光波長特性を有する投光光
源より光を発し、その光を受光器にて受光して何らかの
処理を行う狭波長帯域投受光装置の改良に関するもので
ある。
源より光を発し、その光を受光器にて受光して何らかの
処理を行う狭波長帯域投受光装置の改良に関するもので
ある。
（発明の背影）
従来、この種の装置の光源として１例えば発光ダイオー
ド、半導体レーザ等の比較的狭帯域の発光スペクトル分
布を有するものを用い、投受光システムを構成する場合
、受光器の前段に光源の発光スペクトル分布の帯域を含
む比較的狭帯域の光学帯域透過フィルタ（例えば干渉フ
ィルタ）を配置し、光源からの光と外光との弁別を行っ
ていた。しかしながら１発光ダイオードや半導体レーザ
等の狭帯域の発光スペクトル分布を有する光源は、温度
による発光ピーク波長の変動比率が大きく、実際には光
学帯域透過フィルタの波長帯域幅をあまり狭くできなか
った。そのため、光源からの光と外光との弁別度として
は必らずしも満足できるものではなかった。
ド、半導体レーザ等の比較的狭帯域の発光スペクトル分
布を有するものを用い、投受光システムを構成する場合
、受光器の前段に光源の発光スペクトル分布の帯域を含
む比較的狭帯域の光学帯域透過フィルタ（例えば干渉フ
ィルタ）を配置し、光源からの光と外光との弁別を行っ
ていた。しかしながら１発光ダイオードや半導体レーザ
等の狭帯域の発光スペクトル分布を有する光源は、温度
による発光ピーク波長の変動比率が大きく、実際には光
学帯域透過フィルタの波長帯域幅をあまり狭くできなか
った。そのため、光源からの光と外光との弁別度として
は必らずしも満足できるものではなかった。
（発明の目的）
本発明の目的は、上述した問題点を解決し。
受光器へ入射する投光光源からの光と外光との弁別度を
向上させることができる狭波長帯域投受光装置を提供す
ることである。
向上させることができる狭波長帯域投受光装置を提供す
ることである。
（発明の特徴）
上記目的を達成するために１本発明は、投光手段の温度
変化を検知する温度検知手段と、該温度検知手段からの
信号に応じて、干渉フィルタ手段を光軸に対して傾斜さ
せる回転制御手段とを設け、以て、干渉フィルタ手段の
透過波長帯−域を前記投光手段の発光波長に一致させる
ようにしたことを特徴とする。
変化を検知する温度検知手段と、該温度検知手段からの
信号に応じて、干渉フィルタ手段を光軸に対して傾斜さ
せる回転制御手段とを設け、以て、干渉フィルタ手段の
透過波長帯−域を前記投光手段の発光波長に一致させる
ようにしたことを特徴とする。
（発明の実施例）
以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。
。
第１〜２図ｔａ）（ｂ）は本発明をカメラの自動焦点制
御等に使５測距系に適用した実施例を示すものである。
御等に使５測距系に適用した実施例を示すものである。
第１図において、０は被写体、１は投光光源、２は投光
光束走査手段、３は受光器（詳細は第２図にて）、４は
受光器３から出力される受光信号Ｓ。を増幅する増幅器
、５は同期検波回路、６は制御信号を発生する制御回路
。
光束走査手段、３は受光器（詳細は第２図にて）、４は
受光器３から出力される受光信号Ｓ。を増幅する増幅器
、５は同期検波回路、６は制御信号を発生する制御回路
。
７は投光光源１用の駆動増幅器、８は走査制御回路、９
は増幅器、１０は投光光束走査手段を駆動する駆動手段
、ｃ、、ｃ、ｔ、ｃｓは各々第１．第２、第３の走査方
向の投光光束の主光線、 ＣＩ＋は受光器３へ入射する
入射光束の主光線、鳩は出力である。
は増幅器、１０は投光光束走査手段を駆動する駆動手段
、ｃ、、ｃ、ｔ、ｃｓは各々第１．第２、第３の走査方
向の投光光束の主光線、 ＣＩ＋は受光器３へ入射する
入射光束の主光線、鳩は出力である。
第２図（ａ）は第１図に示す受光器３の側面断面図であ
る。１１は受光器筐体で、遮光を兼ねている。１２は受
光レンズ、１３は受光部、１４は絞り、１５は周囲の温
度の変化に応じて湾曲するバイメタル、１６はバイメタ
ル取付角微調節部材、１７はバイメタル取付部材、１８
はバイメタル取付角微調節部材１６と一体的に形成され
るバイメタル回転部材で、バイメタル回転軸１９によっ
て軸支されている。バイメタル１５はバイメタル取付角
微調節部材１１Ｃ固着されており、バイメタル取付角微
調節部材１６をバイメタル回転軸１９を中心として矢印
方向に回動させることによって、該バイメタル１５の位
置調節を行うことができる。２０は光学帯域透過フィル
タで、第２図（ｂｌに示す如く色ガラスフィルタ２０ａ
と干渉フィルタ２０ｂが貼り合わされて構成されたもの
である。２１は光学帯域透過フィルタ２０の一端を保持
し、該光学帯域透過フィルタ２０を光軸Ｑに対して垂直
位置から、例えば前方向に回転可能に支持する回転支持
部材、２２はばね、θは干渉フィルタ２０ｂの法線りが
光軸Ｃｄとなす角度である。
る。１１は受光器筐体で、遮光を兼ねている。１２は受
光レンズ、１３は受光部、１４は絞り、１５は周囲の温
度の変化に応じて湾曲するバイメタル、１６はバイメタ
ル取付角微調節部材、１７はバイメタル取付部材、１８
はバイメタル取付角微調節部材１６と一体的に形成され
るバイメタル回転部材で、バイメタル回転軸１９によっ
て軸支されている。バイメタル１５はバイメタル取付角
微調節部材１１Ｃ固着されており、バイメタル取付角微
調節部材１６をバイメタル回転軸１９を中心として矢印
方向に回動させることによって、該バイメタル１５の位
置調節を行うことができる。２０は光学帯域透過フィル
タで、第２図（ｂｌに示す如く色ガラスフィルタ２０ａ
と干渉フィルタ２０ｂが貼り合わされて構成されたもの
である。２１は光学帯域透過フィルタ２０の一端を保持
し、該光学帯域透過フィルタ２０を光軸Ｑに対して垂直
位置から、例えば前方向に回転可能に支持する回転支持
部材、２２はばね、θは干渉フィルタ２０ｂの法線りが
光軸Ｃｄとなす角度である。
第３図（ａｌはある温度の時の投光光源１０発光スペク
トル分布を表しており、投光光源１０発光波長λ（尚、
λｔは温度ｔの時の発光ピーク波長）は該投光光源１の
温度変化に応じて矢印方向に変動する。例えば、投光光
源１として発光ダイオードを用いた時の発光ピーク波長
温度特性の一例を第４図に示す。この図からもわかるよ
うに、温度変化に応じて直線的に発光ピーク波長が移動
し、通常のカメラの使用温度条件下では発光ピーク波長
偏差は±ｌ Ｑ ｎｍ程度である。
トル分布を表しており、投光光源１０発光波長λ（尚、
λｔは温度ｔの時の発光ピーク波長）は該投光光源１の
温度変化に応じて矢印方向に変動する。例えば、投光光
源１として発光ダイオードを用いた時の発光ピーク波長
温度特性の一例を第４図に示す。この図からもわかるよ
うに、温度変化に応じて直線的に発光ピーク波長が移動
し、通常のカメラの使用温度条件下では発光ピーク波長
偏差は±ｌ Ｑ ｎｍ程度である。
第３図（ｂｌは色ガラスフィルタ２０ａの透過特性を表
しており、λ。は色ガラスフィルタ２０ａの遮断透過波
長である。
しており、λ。は色ガラスフィルタ２０ａの遮断透過波
長である。
第３図（Ｃ）は、干渉フィルタ２０ｂが第２図（ｂ）に
示される如く光軸Ｃｄに対して垂直位置から角度θだけ
傾けられた時の、干渉フィルタ２０ｂの透過特性を表し
ており、該干渉フィルタ２０ｂは光軸Ｃｄに対して垂直
位置から角度θ（任意）傾けられると、その透過帯域は
より短かい波長（尚、λθは角度θの時の透過ピーク波
長）の方に移動（既に公知）する。干渉フィルタ２０ｂ
への入射角に対する透過波長特性の一例を第５図に示す
。この図からもわかるように、傾斜角２０°程度迄は分
光特性が余り変化しないが、それ以上傾斜が大きくなる
と、透過の山が２つに分離し始める。しかし、カメラの
使用温度条件下での投光光源（例えば発光ダイオード）
１の発光ピーク波長偏差は高々±ｌＱｒＬｍ程度である
のでほとんど問題は生じない。尚、干渉フィルタ２０ｂ
への入射角に対する透過波長特性は。
示される如く光軸Ｃｄに対して垂直位置から角度θだけ
傾けられた時の、干渉フィルタ２０ｂの透過特性を表し
ており、該干渉フィルタ２０ｂは光軸Ｃｄに対して垂直
位置から角度θ（任意）傾けられると、その透過帯域は
より短かい波長（尚、λθは角度θの時の透過ピーク波
長）の方に移動（既に公知）する。干渉フィルタ２０ｂ
への入射角に対する透過波長特性の一例を第５図に示す
。この図からもわかるように、傾斜角２０°程度迄は分
光特性が余り変化しないが、それ以上傾斜が大きくなる
と、透過の山が２つに分離し始める。しかし、カメラの
使用温度条件下での投光光源（例えば発光ダイオード）
１の発光ピーク波長偏差は高々±ｌＱｒＬｍ程度である
のでほとんど問題は生じない。尚、干渉フィルタ２０ｂ
への入射角に対する透過波長特性は。
干渉膜の厚さや屈折率等によって決まるものであり、該
フィルタの構成に応じて該フィルタの回転量を制御する
必要がある。
フィルタの構成に応じて該フィルタの回転量を制御する
必要がある。
次に動作について説明する。制御回路６に制御信号が発
生すると、駆動増幅器７を介して制御信号は投光光源１
へ入力する。これにより。
生すると、駆動増幅器７を介して制御信号は投光光源１
へ入力する。これにより。
投光光源１は発光し、この発光光は投光光束走査手段２
を介して被写体Ｏを照射する。なお、この時投光光束走
査手段２は駆動手段１０（走査制御回路８及び増幅器９
を介して）によって−駆動されている。被写体Ｏからの
反射光は受光器３によって受光されることになるが、こ
の時バイメタル１５は周囲温度の変化に応じて湾曲し、
第１．２図に示す如く光学帯域透過フィルタ２０をある
角度θだけ傾けることになる。即ち１周囲源度の変化に
より投光光源１０発光ピーク波長λｔは変化するが、そ
の変化量と同じ方向に同じ量だけ干渉フィルタ２０ｂの
透過ピーク波長ジーを移動させる。したがって、受光部
１３へ入射する光の波長帯域は投光光源１から発光され
た光の波長帯域のみとなる。受光部１３は入射する光を
充電変換し、増幅器４を介して同期検波回路５へ受光信
号Ｓ０を出力する。すると、同期検波回路５は制御回路
６から入力する制御信号を元にして同期検波し、出力Ｖ
。とじて出力する。この出力Ｖ。が被写体０までの測距
信号として用いられる。
を介して被写体Ｏを照射する。なお、この時投光光束走
査手段２は駆動手段１０（走査制御回路８及び増幅器９
を介して）によって−駆動されている。被写体Ｏからの
反射光は受光器３によって受光されることになるが、こ
の時バイメタル１５は周囲温度の変化に応じて湾曲し、
第１．２図に示す如く光学帯域透過フィルタ２０をある
角度θだけ傾けることになる。即ち１周囲源度の変化に
より投光光源１０発光ピーク波長λｔは変化するが、そ
の変化量と同じ方向に同じ量だけ干渉フィルタ２０ｂの
透過ピーク波長ジーを移動させる。したがって、受光部
１３へ入射する光の波長帯域は投光光源１から発光され
た光の波長帯域のみとなる。受光部１３は入射する光を
充電変換し、増幅器４を介して同期検波回路５へ受光信
号Ｓ０を出力する。すると、同期検波回路５は制御回路
６から入力する制御信号を元にして同期検波し、出力Ｖ
。とじて出力する。この出力Ｖ。が被写体０までの測距
信号として用いられる。
第６図は第１．２図に示す受光器３の変形例を示すもの
で、２３は受光レンズ、２４は干渉フィルタを含む光学
帯域透過フィルタ、２５は絞り、１３′は受光部であり
、各々前述の受光レンズ１２．光学帯域フィルタ２０．
絞り１４゜受光部１３と同様の働きをする。２６は投光
光源１の温度を測定する温度検知センサ、２７は、温度
検知センサ２６からの信号に応じて、光学帯域透過フィ
ルタ２４を前述（第２図）の如く受光レンズ２３０光軸
Ｑに対しである角度θだけ傾斜させる回転駆動手段であ
る。前述（第２図）と異なる点は、温度検知センサ２６
にて投光光源１の温度を直接検知し１回転駆動手段２７
によって光学帯域透過フィルタ２４を傾斜させるところ
である。
で、２３は受光レンズ、２４は干渉フィルタを含む光学
帯域透過フィルタ、２５は絞り、１３′は受光部であり
、各々前述の受光レンズ１２．光学帯域フィルタ２０．
絞り１４゜受光部１３と同様の働きをする。２６は投光
光源１の温度を測定する温度検知センサ、２７は、温度
検知センサ２６からの信号に応じて、光学帯域透過フィ
ルタ２４を前述（第２図）の如く受光レンズ２３０光軸
Ｑに対しである角度θだけ傾斜させる回転駆動手段であ
る。前述（第２図）と異なる点は、温度検知センサ２６
にて投光光源１の温度を直接検知し１回転駆動手段２７
によって光学帯域透過フィルタ２４を傾斜させるところ
である。
第７図は本発明をカメラの測距系に適用した場合の他の
実施例を示すもので、２８は走査駆動手段、２９は投光
光源、３０は投受光光学系。
実施例を示すもので、２８は走査駆動手段、２９は投光
光源、３０は投受光光学系。
３１は前述の光学帯域透過フィルタ２０．２４と同様の
構成（色ガラスと干渉フィルタとを貼り合わせたもの）
から成る光学帯域透過フィルタ、３２は光学帯域透過フ
ィルタ３１の透過光を受光し、光電変換する受光器、３
３は増幅器。
構成（色ガラスと干渉フィルタとを貼り合わせたもの）
から成る光学帯域透過フィルタ、３２は光学帯域透過フ
ィルタ３１の透過光を受光し、光電変換する受光器、３
３は増幅器。
３４は投光光源２９の温度を測定する温度検知センサ、
３５は制御回路、３６は制御回路３５からの信号に応じ
て光学帯域透過フィルタ３１を入射する光束の主光束Ｃ
，Ｉに対して１例えば角度θだけ傾ける駆動手段、 Ｃ
ｏは投光光束、σは被写体である。
３５は制御回路、３６は制御回路３５からの信号に応じ
て光学帯域透過フィルタ３１を入射する光束の主光束Ｃ
，Ｉに対して１例えば角度θだけ傾ける駆動手段、 Ｃ
ｏは投光光束、σは被写体である。
制御回路３５は、温度検知センサ３４によって測定（検
知）された投光光源１の温度１＜応じて該投光光源１の
発光ピーク波長λｔを推定し、光学帯域透過フィルタ３
１の透過ピーク波長λ０が発光ピーク波長λｔと一致す
るように駆動手段３６を介して光学帯域透過フィルタ３
１を角度θだけ傾斜させる。 （ 第１．６．７図の実施例によれば、狭帯域透過型の光学
帯域透過フィルタ２０．３１を光軸に対して傾斜させる
ことにより、その透過光の波長帯域が移動する現象を利
用して、投光光源１．２９の温度変化による発光波長帯
域の変動に追従させるよ５な構成にしたので、光学帯域
透過フィルタ２０．３１の波長帯域幅を狭くすることが
でき、受光器での光の弁別度を向上させることが可能と
なる。また１本発明を前述の如くカメラの測距系に適用
した場合には、以下の様な利点を有する。
知）された投光光源１の温度１＜応じて該投光光源１の
発光ピーク波長λｔを推定し、光学帯域透過フィルタ３
１の透過ピーク波長λ０が発光ピーク波長λｔと一致す
るように駆動手段３６を介して光学帯域透過フィルタ３
１を角度θだけ傾斜させる。 （ 第１．６．７図の実施例によれば、狭帯域透過型の光学
帯域透過フィルタ２０．３１を光軸に対して傾斜させる
ことにより、その透過光の波長帯域が移動する現象を利
用して、投光光源１．２９の温度変化による発光波長帯
域の変動に追従させるよ５な構成にしたので、光学帯域
透過フィルタ２０．３１の波長帯域幅を狭くすることが
でき、受光器での光の弁別度を向上させることが可能と
なる。また１本発明を前述の如くカメラの測距系に適用
した場合には、以下の様な利点を有する。
１）測距可能な距離が伸びる。
２）測距性能をおとすことなく、投光光源の電力を少な
くすることができるため、安全性が増すと共に、低消費
電力化にすることができる。
くすることができるため、安全性が増すと共に、低消費
電力化にすることができる。
３）投光光源の発光波長帯域の制約が少なくなるので１
歩留りが向上し、低コスト化することができる。
歩留りが向上し、低コスト化することができる。
発明の実施例の対応）
本実施例において、投光光源１．２９が本発明の投光手
段に、受光部１３ 、１３’及び受光器３２が受光手段
に、光学帯域透過フィルタ２０゜２４．３１が干渉フィ
ルタ手段に、バイメタル１５、温度検知センナ２６．３
４が温度検知手段に、バイメタル取付角微調節部材１６
からバイメタル１９まで１回転支持部材２１．バネ２２
、回転駆動手段２７．制御回路３５．駆動手段３６が回
転制御手段に、それぞれ相当する。
段に、受光部１３ 、１３’及び受光器３２が受光手段
に、光学帯域透過フィルタ２０゜２４．３１が干渉フィ
ルタ手段に、バイメタル１５、温度検知センナ２６．３
４が温度検知手段に、バイメタル取付角微調節部材１６
からバイメタル１９まで１回転支持部材２１．バネ２２
、回転駆動手段２７．制御回路３５．駆動手段３６が回
転制御手段に、それぞれ相当する。
（発明の効果）
以上説明したように１本発明によれば、投光手段の温度
変化を検知する温度検知手段と、該温度検知手段からの
信号に応じて、干渉フィルタ手段を光軸に対して傾斜さ
せる回転制御手段とを設け、以て、干渉フィルタ手段の
透過波長の光と外光との弁別度を向上させることができ
る。
変化を検知する温度検知手段と、該温度検知手段からの
信号に応じて、干渉フィルタ手段を光軸に対して傾斜さ
せる回転制御手段とを設け、以て、干渉フィルタ手段の
透過波長の光と外光との弁別度を向上させることができ
る。
第１図は本発明をカメラの測距系に適用した場合の一実
施例を示す概略構成図、第２図（ａ） （ｂｌは第１図
に示す受光器及びそれに内蔵された光学帯域透過フィル
タの側面断面図及び側面図。 第３図（ａ）（ｂｌ （Ｃ１は投光光源１色ガラスフィ
ルタ及び干渉フィルタの光学的特性を示す図、第４図は
発光ダイオードの発光ピーク波長温度特性を表す図、第
５図は干渉フィルタの透過波長特性を表す図、第６図は
第１．２図に示す受光器の変形例を表す構成図、第７図
は本発明をカメラの測距系に適用した場合の他の実施例
を示すブロック図である。 １・・・投光光源、３・・・受光器、１２・・・受光レ
ンズ、１３．１３’・・・受光部、１５・・・バイメタ
ル。 １６・・・バイメタル取付角微調節部材、１７・・・バ
イメタル取付部材、１８−・・バイメタル回転部材、１
９・・・バイメタル回転軸、２０・・・光学帯域透過フ
ィルタ、２０ａ・・・色ガラスフィルタ、２０ｂ・・・
干渉フィルタ、２１・・・回転支持部材、２２・・・バ
ネ、２３・・・受光レンズ、２４・−・光学帯域透過フ
ィルタ、２６・−・温度検知センサ、２７・・・回転駆
動手段、２９−・−投光光源。 ３０・・・投受光光学系、３１・・・光学帯域透過フィ
ルタ、３２・・・受光器、３４・・・温度検知センサ、
３５・・・制御回路、３６・・・駆動手段、０゜０′・
・・被写体、 、Ｃ，・・・主光束。 特許出願人 キャノン株式会社 代 埋 人 中 村 稔 （ａ） １ （ｂ） 第４ ０ 渦ＩＩｔ（Ｃ）
施例を示す概略構成図、第２図（ａ） （ｂｌは第１図
に示す受光器及びそれに内蔵された光学帯域透過フィル
タの側面断面図及び側面図。 第３図（ａ）（ｂｌ （Ｃ１は投光光源１色ガラスフィ
ルタ及び干渉フィルタの光学的特性を示す図、第４図は
発光ダイオードの発光ピーク波長温度特性を表す図、第
５図は干渉フィルタの透過波長特性を表す図、第６図は
第１．２図に示す受光器の変形例を表す構成図、第７図
は本発明をカメラの測距系に適用した場合の他の実施例
を示すブロック図である。 １・・・投光光源、３・・・受光器、１２・・・受光レ
ンズ、１３．１３’・・・受光部、１５・・・バイメタ
ル。 １６・・・バイメタル取付角微調節部材、１７・・・バ
イメタル取付部材、１８−・・バイメタル回転部材、１
９・・・バイメタル回転軸、２０・・・光学帯域透過フ
ィルタ、２０ａ・・・色ガラスフィルタ、２０ｂ・・・
干渉フィルタ、２１・・・回転支持部材、２２・・・バ
ネ、２３・・・受光レンズ、２４・−・光学帯域透過フ
ィルタ、２６・−・温度検知センサ、２７・・・回転駆
動手段、２９−・−投光光源。 ３０・・・投受光光学系、３１・・・光学帯域透過フィ
ルタ、３２・・・受光器、３４・・・温度検知センサ、
３５・・・制御回路、３６・・・駆動手段、０゜０′・
・・被写体、 、Ｃ，・・・主光束。 特許出願人 キャノン株式会社 代 埋 人 中 村 稔 （ａ） １ （ｂ） 第４ ０ 渦ＩＩｔ（Ｃ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 温度によって発光波長が変動する狭帯域の発光波
長特性を持つ投光手段と、該投光手段によって発光され
た光を受光する受光手段と。 該受光手段の前段に配置され、受光手段へ人、射する光
の波長を弁別する干渉フィルタ手段とを備えた狭波長帯
域投受光装置において。 前記投光手段の温度変化を検知する温度検知手段と、該
温度検知手段からの信号に応じて。 前記干渉フィルタ手段を光軸に対して傾斜させる回転制
御手段とを設けたことを特徴とする狭波長帯域投受光装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9162684A JPS60235027A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | 狭波長帯域投受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9162684A JPS60235027A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | 狭波長帯域投受光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60235027A true JPS60235027A (ja) | 1985-11-21 |
Family
ID=14031761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9162684A Pending JPS60235027A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | 狭波長帯域投受光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60235027A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0529017U (ja) * | 1992-08-03 | 1993-04-16 | 明星電気株式会社 | 光学フイルタの通過波長帯域制御装置 |
| US6360041B1 (en) | 1999-03-30 | 2002-03-19 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Optical demultiplexer and method of assembling optical demultiplexer in optical axis alignment |
| JP2019197044A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-11-14 | 株式会社村田製作所 | Ｌｉｄａｒデバイスのファブリペロー要素 |
| JP2020101765A (ja) * | 2018-12-25 | 2020-07-02 | 日本電信電話株式会社 | 光波長選択フィルタモジュール及び光波長選択方法 |
-
1984
- 1984-05-08 JP JP9162684A patent/JPS60235027A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0529017U (ja) * | 1992-08-03 | 1993-04-16 | 明星電気株式会社 | 光学フイルタの通過波長帯域制御装置 |
| US6360041B1 (en) | 1999-03-30 | 2002-03-19 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Optical demultiplexer and method of assembling optical demultiplexer in optical axis alignment |
| JP2019197044A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-11-14 | 株式会社村田製作所 | Ｌｉｄａｒデバイスのファブリペロー要素 |
| JP2020101765A (ja) * | 2018-12-25 | 2020-07-02 | 日本電信電話株式会社 | 光波長選択フィルタモジュール及び光波長選択方法 |
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