JP2001317938A - 光波距離計を有する測量機 - Google Patents
光波距離計を有する測量機Info
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光波距離計を有する測量機において、受光素
子に入射する測距光の波長域を狭帯域にできる測量機を
得ること。 【構成】 光波距離計の受光系の受光素子の前方に、第
一の特定波長より長い波長だけを透過させる第一のフィ
ルタと、第一の特定波長よりも長い第二の特定波長より
短い波長だけを透過させる第二のフィルタとを有する波
長選択フィルタを設けるとともに、この波長選択フィル
タを有するフィルタ基板の光路に対する傾斜角度を調節
する傾斜角度調節機構を設けた光波距離計を有する測量
機。
子に入射する測距光の波長域を狭帯域にできる測量機を
得ること。 【構成】 光波距離計の受光系の受光素子の前方に、第
一の特定波長より長い波長だけを透過させる第一のフィ
ルタと、第一の特定波長よりも長い第二の特定波長より
短い波長だけを透過させる第二のフィルタとを有する波
長選択フィルタを設けるとともに、この波長選択フィル
タを有するフィルタ基板の光路に対する傾斜角度を調節
する傾斜角度調節機構を設けた光波距離計を有する測量
機。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、光波距離計（ＥＤＭ）を有する
測量機に関する。
測量機に関する。
【０００２】
【従来技術及びその問題点】トータルステーション等の
測量機は、距離と角度の測定機能を有し、距離計は一般
に光波距離計（ＥＤＭ）が採用されている。
測量機は、距離と角度の測定機能を有し、距離計は一般
に光波距離計（ＥＤＭ）が採用されている。
【０００３】光波距離計は、この視準望遠鏡を介して測
距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光を受
光する受光系とを有し、この受光系によって受光される
送光と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又
は送光と反射光の時間差から距離を演算する。より具体
的には、受光系は、測定対象物で反射し視準望遠鏡の対
物レンズを透過した測距光を該視準望遠鏡の光軸方向前
方に向けて反射する波長選択フィルタ（メインフィル
タ）と、この波長選択フィルタで反射した測距光を光軸
外に反射させて受光素子に入射させる反射ミラーとを有
し、この受光素子には、測距光と内部参照光とが交互に
入射する。
距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光を受
光する受光系とを有し、この受光系によって受光される
送光と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又
は送光と反射光の時間差から距離を演算する。より具体
的には、受光系は、測定対象物で反射し視準望遠鏡の対
物レンズを透過した測距光を該視準望遠鏡の光軸方向前
方に向けて反射する波長選択フィルタ（メインフィル
タ）と、この波長選択フィルタで反射した測距光を光軸
外に反射させて受光素子に入射させる反射ミラーとを有
し、この受光素子には、測距光と内部参照光とが交互に
入射する。
【０００４】この光波距離計では、受光信号のＳＮ比を
高め測距精度を向上させるために、受光素子には、ノイ
ズのない測距光と内部参照光だけが入射することが好ま
しい。このため一般に、波長選択フィルタの波長選択特
性を狭くする試みがなされているが、測距光の波長のみ
を反射する狭帯域のフィルタは技術的に難しく、狭帯域
位置も量産時の加工誤差でバラツキが生じ、量産した場
合コスト高となる、のみならず、測距光の光源として利
用されるＬＤ（レーザーダイオード）は、個体差がある
うえ温度変化により発振波長が変化するため、あまり狭
帯域にすると、温度変化に対応できないという問題が生
じる。
高め測距精度を向上させるために、受光素子には、ノイ
ズのない測距光と内部参照光だけが入射することが好ま
しい。このため一般に、波長選択フィルタの波長選択特
性を狭くする試みがなされているが、測距光の波長のみ
を反射する狭帯域のフィルタは技術的に難しく、狭帯域
位置も量産時の加工誤差でバラツキが生じ、量産した場
合コスト高となる、のみならず、測距光の光源として利
用されるＬＤ（レーザーダイオード）は、個体差がある
うえ温度変化により発振波長が変化するため、あまり狭
帯域にすると、温度変化に対応できないという問題が生
じる。
【０００５】
【発明の目的】本発明は、光波距離計を有する測量機に
ついての以上の問題意識に基づき、光波距離計の受光素
子に入射する測距光の波長域を狭帯域にできる測量機を
得ることを目的とする。本発明はまた、測距光を発する
ＬＤの温度変化の影響を受けない測量機を得ることを目
的とする。
ついての以上の問題意識に基づき、光波距離計の受光素
子に入射する測距光の波長域を狭帯域にできる測量機を
得ることを目的とする。本発明はまた、測距光を発する
ＬＤの温度変化の影響を受けない測量機を得ることを目
的とする。
【０００６】
【発明の概要】本発明による測量機は、測距光を送光す
る送光系と、測定対象物からの反射光を受光する受光系
とを有する光波距離計；受光系は、受光素子の前方に、
測定対象物で反射した測距光から特定波長領域の光を選
択して該受光素子に入射させる波長選択フィルタを有す
ること；この波長選択フィルタは、入射光の波長領域内
の第一の特定波長より長い波長だけを透過させる第一の
フィルタと、第一の特定波長より長い第二の特定波長よ
り短い波長だけを透過させる第二のフィルタとを備える
こと；およびこの波長選択フィルタを有するフィルタ基
板の光路に対する傾斜角度を調節する傾斜角度調節機構
を有すること；を特徴としている。
る送光系と、測定対象物からの反射光を受光する受光系
とを有する光波距離計；受光系は、受光素子の前方に、
測定対象物で反射した測距光から特定波長領域の光を選
択して該受光素子に入射させる波長選択フィルタを有す
ること；この波長選択フィルタは、入射光の波長領域内
の第一の特定波長より長い波長だけを透過させる第一の
フィルタと、第一の特定波長より長い第二の特定波長よ
り短い波長だけを透過させる第二のフィルタとを備える
こと；およびこの波長選択フィルタを有するフィルタ基
板の光路に対する傾斜角度を調節する傾斜角度調節機構
を有すること；を特徴としている。
【０００７】送光系と受光系による測距光の送光及び受
光は、測定対象物を視準する視準望遠鏡の対物レンズを
介して行う場合、受光系に、視準望遠鏡の対物レンズを
透過した測距光の波長領域のうち一部を反射し、それ以
外を透過するメインフィルタと、このメインフィルタで
反射した光を反射させて受光素子に導く反射部材とを配
置し、波長選択フィルタにより選択される特定波長領域
をメインフィルタにより反射される光の波長領域より狭
領域とすることが好ましい。
光は、測定対象物を視準する視準望遠鏡の対物レンズを
介して行う場合、受光系に、視準望遠鏡の対物レンズを
透過した測距光の波長領域のうち一部を反射し、それ以
外を透過するメインフィルタと、このメインフィルタで
反射した光を反射させて受光素子に導く反射部材とを配
置し、波長選択フィルタにより選択される特定波長領域
をメインフィルタにより反射される光の波長領域より狭
領域とすることが好ましい。
【０００８】第一のフィルタと第二のフィルタは、別々
のフィルタ基板に設け、この一対のフィルタ基板それぞ
れに傾斜角度調節機構を設けても、単一のフィルタ基板
の表裏に設け、この単一のフィルタ基板に傾斜角度調節
機構を設けてもよい。
のフィルタ基板に設け、この一対のフィルタ基板それぞ
れに傾斜角度調節機構を設けても、単一のフィルタ基板
の表裏に設け、この単一のフィルタ基板に傾斜角度調節
機構を設けてもよい。
【０００９】本発明の測量機は、より好ましい実施態様
としては、測距光を発するＬＤと、このＬＤの温度を検
知する温度センサと、この温度センサ出力に応じて傾斜
角度調節機構を制御して一対のフィルタ基板または単一
のフィルタ基板の傾斜角度を調節する制御手段とを設け
ることが好ましい。この構成によると、発光素子の温度
によって変化する発振波長に応じて、波長選択フィルタ
基板を所定の傾斜角度に自動的に設定することができ
る。なお、測距光は、可視光領域外の光でも可視光領域
内の特定波長の光でも用いることができる。
としては、測距光を発するＬＤと、このＬＤの温度を検
知する温度センサと、この温度センサ出力に応じて傾斜
角度調節機構を制御して一対のフィルタ基板または単一
のフィルタ基板の傾斜角度を調節する制御手段とを設け
ることが好ましい。この構成によると、発光素子の温度
によって変化する発振波長に応じて、波長選択フィルタ
基板を所定の傾斜角度に自動的に設定することができ
る。なお、測距光は、可視光領域外の光でも可視光領域
内の特定波長の光でも用いることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１〜図９は、本発明によるＥＤ
Ｍを有する測量機の第一の実施形態を示している。この
実施形態の測量機はＡＦ機能を有するもので、最初に全
体構造を説明する。視準望遠鏡１０は、図１に示すよう
に、物体側（前方）から順に、対物レンズ１１、焦点調
節レンズ１８、正立光学系（ポロプリズム）１２、焦点
板１３、及び接眼レンズ１４を備えている。焦点板１３
上には、その中心に、視準の際の目印となる十字線ヘア
ライン（視準線）１５が描かれている。焦点調節レンズ
１８は光軸方向に可動であり、測定対象物１６の距離に
応じて位置調節することにより、その像を正しく焦点板
１３の対物レンズ１１側の表面に結像させる。観察者
は、この焦点板１３上の像を接眼レンズ１４を介して拡
大観察する。
Ｍを有する測量機の第一の実施形態を示している。この
実施形態の測量機はＡＦ機能を有するもので、最初に全
体構造を説明する。視準望遠鏡１０は、図１に示すよう
に、物体側（前方）から順に、対物レンズ１１、焦点調
節レンズ１８、正立光学系（ポロプリズム）１２、焦点
板１３、及び接眼レンズ１４を備えている。焦点板１３
上には、その中心に、視準の際の目印となる十字線ヘア
ライン（視準線）１５が描かれている。焦点調節レンズ
１８は光軸方向に可動であり、測定対象物１６の距離に
応じて位置調節することにより、その像を正しく焦点板
１３の対物レンズ１１側の表面に結像させる。観察者
は、この焦点板１３上の像を接眼レンズ１４を介して拡
大観察する。
【００１１】視準望遠鏡１０の対物レンズ１１の後方に
は、光波距離計２０の構成要素である送受光ミラー２１
と、測距光を反射し可視光を透過する波長選択メインフ
ィルタ（メインフィルタ）２２とが順に配置されてい
る。送受光ミラー２１は、対物レンズ１１の光軸上に位
置する平行平面ミラーからなり、その対物レンズ１１側
の面が送光ミラー２１ａ、波長選択メインフィルタ２２
側の面が受光ミラー２１ｂを構成している。
は、光波距離計２０の構成要素である送受光ミラー２１
と、測距光を反射し可視光を透過する波長選択メインフ
ィルタ（メインフィルタ）２２とが順に配置されてい
る。送受光ミラー２１は、対物レンズ１１の光軸上に位
置する平行平面ミラーからなり、その対物レンズ１１側
の面が送光ミラー２１ａ、波長選択メインフィルタ２２
側の面が受光ミラー２１ｂを構成している。
【００１２】光波距離計２０の発光素子２３は、特定波
長の測距光を発し、この測距光は、コリメータレンズ２
４及び固定ミラー２５を介して、送光ミラー２１ａに入
射する。送光ミラー２１ａに入射した測距光は、対物レ
ンズ１１の光軸上を進む。
長の測距光を発し、この測距光は、コリメータレンズ２
４及び固定ミラー２５を介して、送光ミラー２１ａに入
射する。送光ミラー２１ａに入射した測距光は、対物レ
ンズ１１の光軸上を進む。
【００１３】波長選択メインフィルタ２２は、可視光を
透過させる一方、測定対象物１６で反射し対物レンズ１
１を透過した測距光をさらに反射させて受光ミラー２１
ｂに戻す作用をし、受光ミラー２１ｂは、その反射光を
受光ファイバ２６の入射端面２６ａに入射させる。２７
は、受光ファイバ２６を保持するホルダであり、送受光
ミラー２１とともに、図示しない固定手段によって、対
物レンズ１１の後方の空間に固定されている。図９は、
波長選択メインフィルタ２２の反射曲線の例を示してお
り、波長λ0を中心としてその前後の実線で示す波長の
光線を反射する。すなわち、この実施形態では、発光素
子２３は、設計上、可視光領域中の波長λ0の光を測距
光として発する。
透過させる一方、測定対象物１６で反射し対物レンズ１
１を透過した測距光をさらに反射させて受光ミラー２１
ｂに戻す作用をし、受光ミラー２１ｂは、その反射光を
受光ファイバ２６の入射端面２６ａに入射させる。２７
は、受光ファイバ２６を保持するホルダであり、送受光
ミラー２１とともに、図示しない固定手段によって、対
物レンズ１１の後方の空間に固定されている。図９は、
波長選択メインフィルタ２２の反射曲線の例を示してお
り、波長λ0を中心としてその前後の実線で示す波長の
光線を反射する。すなわち、この実施形態では、発光素
子２３は、設計上、可視光領域中の波長λ0の光を測距
光として発する。
【００１４】発光素子２３と固定ミラー２５の間の測距
光路上には、切換ミラー２８と送光用ＮＤフィルタ２９
が配置されている。切換ミラー２８は、発光素子２３か
らの測距光を固定ミラー２５に与えるか、直接受光ファ
イバ２６の入射端面２６ａに与えるかの切換を行うもの
である。送光用ＮＤフィルタ２９は、測定対象物１６に
投光する測距光の光量調節用である。
光路上には、切換ミラー２８と送光用ＮＤフィルタ２９
が配置されている。切換ミラー２８は、発光素子２３か
らの測距光を固定ミラー２５に与えるか、直接受光ファ
イバ２６の入射端面２６ａに与えるかの切換を行うもの
である。送光用ＮＤフィルタ２９は、測定対象物１６に
投光する測距光の光量調節用である。
【００１５】受光ファイバ２６の出射端面２６ｂと受光
素子３１との間には、受光用ＮＤフィルタ３２、コリメ
ートレンズ３３、波長選択フィルタであるハイパスフィ
ルタ（基板）（第一のフィルタ）３４とローパスフィル
タ（基板）（第二のフィルタ）３５、及び集光レンズ３
６が順に配置されている。コリメートレンズ３３と集光
レンズ３６の間は測距光が平行光束となる。コリメータ
レンズ３３から受光素子３１までの各部材は支持部材３
８（図２、図３）に支持されている。受光素子３１は、
演算制御回路４０に接続され、演算制御回路４０は、切
換ミラー２８のアクチュエータ４１と測距結果表示器４
２に接続されている。
素子３１との間には、受光用ＮＤフィルタ３２、コリメ
ートレンズ３３、波長選択フィルタであるハイパスフィ
ルタ（基板）（第一のフィルタ）３４とローパスフィル
タ（基板）（第二のフィルタ）３５、及び集光レンズ３
６が順に配置されている。コリメートレンズ３３と集光
レンズ３６の間は測距光が平行光束となる。コリメータ
レンズ３３から受光素子３１までの各部材は支持部材３
８（図２、図３）に支持されている。受光素子３１は、
演算制御回路４０に接続され、演算制御回路４０は、切
換ミラー２８のアクチュエータ４１と測距結果表示器４
２に接続されている。
【００１６】ハイパスフィルタ（基板）３４とローパス
フィルタ（基板）３５はそれぞれ、図２〜図４に示すよ
うに、コリメートレンズ３３から集光レンズ３６に至る
光軸３３ｘに直交する軸３４ａ、軸３５ａが一体に形成
されていて、この軸３４ａ、軸３５ａを介して支持部材
３８に回動（傾斜）可能に軸着されている。支持部材３
８には、軸３４ａ、軸３５ａのぞれぞれと直交する位置
に、固定ねじ６１、６２が螺合していて、固定ねじ６
１、６２を締めると、軸３４ａ、軸３５ａの回転が拘束
される。ハイパスフィルタ３４とローパスフィルタ３５
は標準状態では光軸３３ｘに対して４５゜の位置をなす
ように固定されているが、固定ねじ６１、６２を緩める
とその角度を調節することができる。図５は、ハイパス
フィルタ３４を図１とは逆方向に傾斜させた状態を示し
ている。
フィルタ（基板）３５はそれぞれ、図２〜図４に示すよ
うに、コリメートレンズ３３から集光レンズ３６に至る
光軸３３ｘに直交する軸３４ａ、軸３５ａが一体に形成
されていて、この軸３４ａ、軸３５ａを介して支持部材
３８に回動（傾斜）可能に軸着されている。支持部材３
８には、軸３４ａ、軸３５ａのぞれぞれと直交する位置
に、固定ねじ６１、６２が螺合していて、固定ねじ６
１、６２を締めると、軸３４ａ、軸３５ａの回転が拘束
される。ハイパスフィルタ３４とローパスフィルタ３５
は標準状態では光軸３３ｘに対して４５゜の位置をなす
ように固定されているが、固定ねじ６１、６２を緩める
とその角度を調節することができる。図５は、ハイパス
フィルタ３４を図１とは逆方向に傾斜させた状態を示し
ている。
【００１７】ハイパスフィルタ３４とローパスフィルタ
３５は、波長選択メインフィルタ２２で反射した測距光
の波長域をさらにλ0に近い波長域だけに狭める作用を
する。すなわち、図８はハイパスフィルタ３４とローパ
スフィルタ３５の透過波長領域の例を示すもので、ハイ
パスフィルタ３４は、破線で示すように、波長選択メイ
ンフィルタ２２による反射波長領域の中心波長（λ0）
よりａだけ短い特定波長（第一の特定波長）以上の長波
長の光を透過する性質を有し、ローパスフィルタ３５
は、実線で示すように、波長選択メインフィルタ２２に
よる反射波長領域の中心波長（λ0）よりｂだけ長い特
定波長（第二の特定波長）以下の短波長の光を透過する
性質を有する。このａ＋ｂの波長領域は、波長選択メイ
ンフィルタ２２で反射する波長領域より狭い。図９にこ
のａ＋ｂの波長領域を破線で合わせて描いた。
３５は、波長選択メインフィルタ２２で反射した測距光
の波長域をさらにλ0に近い波長域だけに狭める作用を
する。すなわち、図８はハイパスフィルタ３４とローパ
スフィルタ３５の透過波長領域の例を示すもので、ハイ
パスフィルタ３４は、破線で示すように、波長選択メイ
ンフィルタ２２による反射波長領域の中心波長（λ0）
よりａだけ短い特定波長（第一の特定波長）以上の長波
長の光を透過する性質を有し、ローパスフィルタ３５
は、実線で示すように、波長選択メインフィルタ２２に
よる反射波長領域の中心波長（λ0）よりｂだけ長い特
定波長（第二の特定波長）以下の短波長の光を透過する
性質を有する。このａ＋ｂの波長領域は、波長選択メイ
ンフィルタ２２で反射する波長領域より狭い。図９にこ
のａ＋ｂの波長領域を破線で合わせて描いた。
【００１８】このハイパスフィルタ３４とローパスフィ
ルタ３５による透過波長領域は、該フィルタに対する光
線の入射角が変化すると光路長が変化するため変化し、
しかもその入射角の単位変化量に対する透過波長のシフ
ト量は、入射角が大きくなる程、大きいという性質があ
る。図７はその波長領域のシフトを示すグラフであり、
入射角が０゜の場合（フィルタが光軸と直交する場合に
相当）では入射角が±１５°変化しても透過波長領域は
５ｎｍしかシフトしないのに対し、入射角が４５゜の場
合（フィルタが光軸に対して４５゜をなす場合に相当）
では入射角が±１５°変化すると、透過波長領域は３０
ｎｍシフトする。
ルタ３５による透過波長領域は、該フィルタに対する光
線の入射角が変化すると光路長が変化するため変化し、
しかもその入射角の単位変化量に対する透過波長のシフ
ト量は、入射角が大きくなる程、大きいという性質があ
る。図７はその波長領域のシフトを示すグラフであり、
入射角が０゜の場合（フィルタが光軸と直交する場合に
相当）では入射角が±１５°変化しても透過波長領域は
５ｎｍしかシフトしないのに対し、入射角が４５゜の場
合（フィルタが光軸に対して４５゜をなす場合に相当）
では入射角が±１５°変化すると、透過波長領域は３０
ｎｍシフトする。
【００１９】本実施形態は、波長選択フィルタのこの性
質を利用して、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィル
タ３５を標準状態では光軸に対して４５゜をなすように
設置し、さらに発光素子２３の発振波長の変化に対応す
るため、その角度を調整可能としている。図８に矢印で
示すように、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ
３５の角度を変化させると、透過波長の限界波長（第
一、第二の特定波長）が変化する。
質を利用して、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィル
タ３５を標準状態では光軸に対して４５゜をなすように
設置し、さらに発光素子２３の発振波長の変化に対応す
るため、その角度を調整可能としている。図８に矢印で
示すように、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ
３５の角度を変化させると、透過波長の限界波長（第
一、第二の特定波長）が変化する。
【００２０】以上の光波距離計２０は、周知のように、
演算制御回路４０がアクチュエータ４１を介して切換ミ
ラー２８を駆動し、発光素子２３からの測距光を固定ミ
ラー２５に与える状態と、受光ファイバ２６の入射端面
２６ａに直接与える状態とを作り出す。固定ミラー２５
に与えられた測距光は、上述のように、送光ミラー２１
ａと対物レンズ１１を介して測定対象物１６に投光さ
れ、その反射光が対物レンズ１１、波長選択メインフィ
ルタ２２及び受光ミラー２１ｂを介して入射端面２６ａ
に入射する。そして、この測定対象物１６で反射して入
射端面２６ａに入射する測距光と、切換ミラー２８を介
して入射端面２６ａに直接与えられた内部参照光とが受
光素子３１によって受光され、演算制御回路４０が送光
と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又は送
光と反射光の時間差を検出し、測定対象物１６迄の距離
を演算して、測距結果表示器４２に表示する。測距光と
内部参照光の位相差または時間差による測距演算は周知
である。
演算制御回路４０がアクチュエータ４１を介して切換ミ
ラー２８を駆動し、発光素子２３からの測距光を固定ミ
ラー２５に与える状態と、受光ファイバ２６の入射端面
２６ａに直接与える状態とを作り出す。固定ミラー２５
に与えられた測距光は、上述のように、送光ミラー２１
ａと対物レンズ１１を介して測定対象物１６に投光さ
れ、その反射光が対物レンズ１１、波長選択メインフィ
ルタ２２及び受光ミラー２１ｂを介して入射端面２６ａ
に入射する。そして、この測定対象物１６で反射して入
射端面２６ａに入射する測距光と、切換ミラー２８を介
して入射端面２６ａに直接与えられた内部参照光とが受
光素子３１によって受光され、演算制御回路４０が送光
と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又は送
光と反射光の時間差を検出し、測定対象物１６迄の距離
を演算して、測距結果表示器４２に表示する。測距光と
内部参照光の位相差または時間差による測距演算は周知
である。
【００２１】ポロプリズム１２には、光路分割面が形成
されていて、その分割光路上に、位相差方式のＡＦ検出
ユニット（焦点検出手段）５０が配置されている。この
ＡＦ検出ユニット５０は、焦点板１３と光学的に等価な
焦点検出面５１の焦点状態、すなわち、前ピン、後ピン
などのデフォーカス量を検出するもので、図６にその概
念図を示す。焦点検出面５１上に結像する対物レンズ１
１による物体像は、集光レンズ５２及び基線長だけ離し
て配置した一対のセパレータレンズ（結像レンズ）５３
によって分割され、この分割された一対の像は一対のＣ
ＣＤラインセンサ５４上に再結像する。ラインセンサ５
４は多数の光電変換素子を有し、各光電変換素子が、受
光した物体像を光電変換して光電変換した電荷を積分
（蓄積）し、積分した電荷をＡＦセンサデータとして出
力し、演算制御回路４０に入力する。演算制御回路４０
は、一対のＡＦセンサデータに基づいて、所定のデフォ
ーカス演算によってデフォーカス量を算出し、レンズ駆
動手段４３を介して、焦点調節レンズ１８を合焦位置に
移動させる。このようなデフォーカス演算は当業者周知
である。演算制御回路４０には、ＡＦ開始スイッチ４４
と測距開始スイッチ４５が接続されている。
されていて、その分割光路上に、位相差方式のＡＦ検出
ユニット（焦点検出手段）５０が配置されている。この
ＡＦ検出ユニット５０は、焦点板１３と光学的に等価な
焦点検出面５１の焦点状態、すなわち、前ピン、後ピン
などのデフォーカス量を検出するもので、図６にその概
念図を示す。焦点検出面５１上に結像する対物レンズ１
１による物体像は、集光レンズ５２及び基線長だけ離し
て配置した一対のセパレータレンズ（結像レンズ）５３
によって分割され、この分割された一対の像は一対のＣ
ＣＤラインセンサ５４上に再結像する。ラインセンサ５
４は多数の光電変換素子を有し、各光電変換素子が、受
光した物体像を光電変換して光電変換した電荷を積分
（蓄積）し、積分した電荷をＡＦセンサデータとして出
力し、演算制御回路４０に入力する。演算制御回路４０
は、一対のＡＦセンサデータに基づいて、所定のデフォ
ーカス演算によってデフォーカス量を算出し、レンズ駆
動手段４３を介して、焦点調節レンズ１８を合焦位置に
移動させる。このようなデフォーカス演算は当業者周知
である。演算制御回路４０には、ＡＦ開始スイッチ４４
と測距開始スイッチ４５が接続されている。
【００２２】上記構成の測量機は、例えば次のような測
距動作を実行する。 第１ステップ 視準望遠鏡１０に付属した不図示の視準器から測定対象
物１６を覗き、視準望遠鏡１０の光軸を概ね測定対象物
１６に合致させる。 第２ステップ ＡＦ開始スイッチ４４を押して上述のＡＦ動作を実行
し、焦点調節レンズ１８を合焦位置に移動させる。 第３ステップ 合焦状態で、接眼レンズ１４を覗き、焦点板１３の十字
線ヘアライン１５を正確に測定対象物１６に一致させ
る。このように十字線ヘアライン１５を正確に測定対象
物１６に一致させることにより、光波距離計２０の測距
光を正しく測定対象物１６に投光することができる。 第４ステップ 測距開始スイッチ４５を押して光波距離計２０による上
述の測距動作を実行し、測距結果表示器４２に測距結果
を表示する。
距動作を実行する。 第１ステップ 視準望遠鏡１０に付属した不図示の視準器から測定対象
物１６を覗き、視準望遠鏡１０の光軸を概ね測定対象物
１６に合致させる。 第２ステップ ＡＦ開始スイッチ４４を押して上述のＡＦ動作を実行
し、焦点調節レンズ１８を合焦位置に移動させる。 第３ステップ 合焦状態で、接眼レンズ１４を覗き、焦点板１３の十字
線ヘアライン１５を正確に測定対象物１６に一致させ
る。このように十字線ヘアライン１５を正確に測定対象
物１６に一致させることにより、光波距離計２０の測距
光を正しく測定対象物１６に投光することができる。 第４ステップ 測距開始スイッチ４５を押して光波距離計２０による上
述の測距動作を実行し、測距結果表示器４２に測距結果
を表示する。
【００２３】以上の測距動作において、測定対象物１６
で反射し、対物レンズ１１を透過し、波長選択メインフ
ィルタ２２で反射した測距光は、さらにハイパスフィル
タ３４とローパスフィルタ３５を透過するため、受光素
子３１に入射する波長領域は、波長λ0に近い狭い領域
の光だけとなる。すなわち、受光素子３１には太陽光等
のノイズ光が入射することがなく、正確な測距が可能と
なる。
で反射し、対物レンズ１１を透過し、波長選択メインフ
ィルタ２２で反射した測距光は、さらにハイパスフィル
タ３４とローパスフィルタ３５を透過するため、受光素
子３１に入射する波長領域は、波長λ0に近い狭い領域
の光だけとなる。すなわち、受光素子３１には太陽光等
のノイズ光が入射することがなく、正確な測距が可能と
なる。
【００２４】さらに、温度変化その他の要因で発光素子
２３の発振波長が変化した場合にはハイパスフィルタ
（基板）３４、ローパスフィルタ（基板）３５の角度を
変化させることによって、受光素子２３に入射する光線
の波長を変化後の波長に対応させることができる。すな
わち、軸３４ａまたは（および）軸３５ａを回転させて
ハイパスフィルタ３４または（および）ローパスフィル
タ３５の傾斜角度を調節することにより、図８のａ＋ｂ
の波長幅を変化させることができるから、発光素子２３
の発振波長の変化に応じて、その発振波長だけを受光素
子２３に入射させる調節を行うことができる。
２３の発振波長が変化した場合にはハイパスフィルタ
（基板）３４、ローパスフィルタ（基板）３５の角度を
変化させることによって、受光素子２３に入射する光線
の波長を変化後の波長に対応させることができる。すな
わち、軸３４ａまたは（および）軸３５ａを回転させて
ハイパスフィルタ３４または（および）ローパスフィル
タ３５の傾斜角度を調節することにより、図８のａ＋ｂ
の波長幅を変化させることができるから、発光素子２３
の発振波長の変化に応じて、その発振波長だけを受光素
子２３に入射させる調節を行うことができる。
【００２５】図１０、図１１は、本発明による測量機の
第二の実施形態を示している。本実施形態では、第一の
実施形態におけるハイパスフィルタ３４とローパスフィ
ルタ３５の２枚の波長選択フィルタを、表裏にそれぞれ
ハイパスフィルタ３７ａ及びローパスフィルタ３７ｂを
形成した１枚のフィルタ基板（波長選択フィルタ）３７
に置き換えた形態であり、第一の実施形態と同様に、フ
ィルタ基板３７の傾斜角度を可変としている。本実施形
態では、図１１に示すグラフのように、フィルタ基板３
７の角度を変化させることによって、透過する光束の波
長領域（第一、第二の特定波長）がシフトし、波長領域
の幅は一定である。その他の構成は第一の実施形態と同
様である。
第二の実施形態を示している。本実施形態では、第一の
実施形態におけるハイパスフィルタ３４とローパスフィ
ルタ３５の２枚の波長選択フィルタを、表裏にそれぞれ
ハイパスフィルタ３７ａ及びローパスフィルタ３７ｂを
形成した１枚のフィルタ基板（波長選択フィルタ）３７
に置き換えた形態であり、第一の実施形態と同様に、フ
ィルタ基板３７の傾斜角度を可変としている。本実施形
態では、図１１に示すグラフのように、フィルタ基板３
７の角度を変化させることによって、透過する光束の波
長領域（第一、第二の特定波長）がシフトし、波長領域
の幅は一定である。その他の構成は第一の実施形態と同
様である。
【００２６】図１２〜図１４は第三の実施形態を示して
いる。本実施形態の測量機は、第二の実施形態と同様
に、表裏にハイパスフィルタ３７ａ、ローパスフィルタ
３７ｂが形成された１枚のフィルタ基板３７を受光素子
３１の前方に備えている。本実施形態は、発光素子２３
の温度を測定し、その温度において発光素子が射出する
測距光の波長に応じてフィルタ基板３７の傾斜角度を自
動的に変化させるようにした形態である。
いる。本実施形態の測量機は、第二の実施形態と同様
に、表裏にハイパスフィルタ３７ａ、ローパスフィルタ
３７ｂが形成された１枚のフィルタ基板３７を受光素子
３１の前方に備えている。本実施形態は、発光素子２３
の温度を測定し、その温度において発光素子が射出する
測距光の波長に応じてフィルタ基板３７の傾斜角度を自
動的に変化させるようにした形態である。
【００２７】フィルタ基板３７と一体に形成された軸３
７ｃは、角度センサ（エンコーダ）を有するモータ７０
の回転軸に結合していて、モータ７０の回転によってフ
ィルタ基板３７が回転する。このモータ７０は制御回路
（制御手段）７１に接続されている。また、発光素子２
３内には温度センサが内蔵されていて、温度センサ７２
は制御回路７１に接続されている。
７ｃは、角度センサ（エンコーダ）を有するモータ７０
の回転軸に結合していて、モータ７０の回転によってフ
ィルタ基板３７が回転する。このモータ７０は制御回路
（制御手段）７１に接続されている。また、発光素子２
３内には温度センサが内蔵されていて、温度センサ７２
は制御回路７１に接続されている。
【００２８】図１３は、制御回路７１が司る制御系のブ
ロック図であり、制御回路７１は、モータ７０と温度セ
ンサとを制御する。また、制御回路７１は記憶手段を有
し、発光素子２３の温度と、その温度において発光素子
２３が射出する測距光の波長に対するフィルタ基板３７
の傾斜角度との対応関係が予め設定され、この対応関係
をテーブルとして記憶している。
ロック図であり、制御回路７１は、モータ７０と温度セ
ンサとを制御する。また、制御回路７１は記憶手段を有
し、発光素子２３の温度と、その温度において発光素子
２３が射出する測距光の波長に対するフィルタ基板３７
の傾斜角度との対応関係が予め設定され、この対応関係
をテーブルとして記憶している。
【００２９】以上のように構成された本実施形態の測量
機は、図１４に示すフローに従って、次のように動作す
る。以下の処理は制御回路７１によって実行される。ま
ず、温度センサを介して発光素子２３の温度を検出する
（S101）。次に、モータ７０に内蔵された角度センサを
介してフィルタ基板３７の傾斜角度を測定する（S10
2）。続いて、発光素子２３の温度とフィルタ基板３７
の傾斜角度の対応関係が記憶されたテーブルを参照し
て、検出した発光素子２３の温度に対応するフィルタ基
板３７の設定傾斜角度と、検出したフィルタ基板３７の
傾斜角度とにずれがあるかをチェックする（S103）。ず
れがあるなら（S103:有り）、モータ７０を回転させて
設定傾斜角度に設定する（S104）。ずれがないなら（S1
03:無し）、Ｓ１０１に戻る。以降処理を繰り返す。
機は、図１４に示すフローに従って、次のように動作す
る。以下の処理は制御回路７１によって実行される。ま
ず、温度センサを介して発光素子２３の温度を検出する
（S101）。次に、モータ７０に内蔵された角度センサを
介してフィルタ基板３７の傾斜角度を測定する（S10
2）。続いて、発光素子２３の温度とフィルタ基板３７
の傾斜角度の対応関係が記憶されたテーブルを参照し
て、検出した発光素子２３の温度に対応するフィルタ基
板３７の設定傾斜角度と、検出したフィルタ基板３７の
傾斜角度とにずれがあるかをチェックする（S103）。ず
れがあるなら（S103:有り）、モータ７０を回転させて
設定傾斜角度に設定する（S104）。ずれがないなら（S1
03:無し）、Ｓ１０１に戻る。以降処理を繰り返す。
【００３０】以上のように、本実施形態の測量機は、発
光素子２３の温度が変化し射出する測距光の波長が変化
しても、波長変化後の測距光を受光素子３１が受光する
べくフィルタ基板３７がその波長に対応する傾斜角度に
自動的に設定される。
光素子２３の温度が変化し射出する測距光の波長が変化
しても、波長変化後の測距光を受光素子３１が受光する
べくフィルタ基板３７がその波長に対応する傾斜角度に
自動的に設定される。
【００３１】本実施形態では、１枚構成の波長選択フィ
ルタを回転制御したが、第一の実施形態のような２枚構
成のフィルタをそれぞれ個別に制御してもよい。
ルタを回転制御したが、第一の実施形態のような２枚構
成のフィルタをそれぞれ個別に制御してもよい。
【００３２】以上の第一ないし第三の実施形態は、光波
距離計２０の光路と視準望遠鏡１０の光路とを一部共有
した実施形態であるが、光波距離計２０を視準望遠鏡１
０とは独立させる態様も知られており、本発明はこの態
様にも適用可能である。つまり、波長選択メインフィル
タ２２は必須でない。また上記実施形態では、受光素子
３１の直前にハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ
３５を設けたが、受光ファイバ２６の直前に設けてもよ
い。また、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ３
５の角度を変更して狭帯域のフィルタとしたが他の光学
素子、例えば受光ミラー、波長選択メインフィルタ等の
角度を変化させてもよい。
距離計２０の光路と視準望遠鏡１０の光路とを一部共有
した実施形態であるが、光波距離計２０を視準望遠鏡１
０とは独立させる態様も知られており、本発明はこの態
様にも適用可能である。つまり、波長選択メインフィル
タ２２は必須でない。また上記実施形態では、受光素子
３１の直前にハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ
３５を設けたが、受光ファイバ２６の直前に設けてもよ
い。また、ハイパスフィルタ３４、ローパスフィルタ３
５の角度を変更して狭帯域のフィルタとしたが他の光学
素子、例えば受光ミラー、波長選択メインフィルタ等の
角度を変化させてもよい。
【００３３】
【発明の効果】以上のように本発明によると、光波距離
計の受光素子に入射する測距光の波長域を狭帯域にでき
る測量機が得られる。また、測距光を発する発光素子の
温度変化の影響を補償できる測量機が得られる。
計の受光素子に入射する測距光の波長域を狭帯域にでき
る測量機が得られる。また、測距光を発する発光素子の
温度変化の影響を補償できる測量機が得られる。
【図１】本発明による測量機の第一の実施形態を示す系
統接続図である。
統接続図である。
【図２】ハイパスフィルタとローパスフィルタの回転機
構を示す図である。
構を示す図である。
【図３】図２のII矢視図である。
【図４】図２、図３のハイパス（ローパス）フィルタを
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図５】図１のハイパスフィルタの角度を変化させた状
態を示す図である。
態を示す図である。
【図６】図１のVI矢視図であって、焦点検出手段（ＡＦ
ユニット、位相差方式焦点検出手段）の概念図である。
ユニット、位相差方式焦点検出手段）の概念図である。
【図７】フィルタへの入射角による波長の変化をグラフ
で示す図である。
で示す図である。
【図８】ハイパスフィルタとローパスフィルタ各々の透
過する光束の波長と透過率の関係をグラフで示す図であ
る。
過する光束の波長と透過率の関係をグラフで示す図であ
る。
【図９】波長選択メインフィルタに設定する選択波長領
域を示したグラフ図である。
域を示したグラフ図である。
【図１０】本発明による第二の実施形態の波長選択フィ
ルタの近傍を示す図である。
ルタの近傍を示す図である。
【図１１】第二の実施形態の波長選択フィルタを透過す
る光束の波長と透過率の関係を示す、図８に対応する図
である。
る光束の波長と透過率の関係を示す、図８に対応する図
である。
【図１２】本発明による測量機の第三の実施形態の系統
接続図である。
接続図である。
【図１３】第三の実施形態の測量機の制御系の要部を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図１４】波長選択フィルターの角度制御のフローを示
す図である。
す図である。
１０ 視準望遠鏡 １２ ポロプリズム（正立光学系） １３ 焦点板 １４ 接眼レンズ １５ 十字線ヘアライン（視準線） １６ 測定対象物 １８ 負のパワーの焦点調節レンズ ２０ 光波距離計 ２１ 送受光ミラー ２１ａ 送光ミラー ２１ｂ 受光ミラー ２２ 波長選択メインフィルタ ２３ 発光素子 ２５ 固定ミラー ２６ 受光ファイバ ２６ａ 入射端面 ２６ｂ 出射端面 ２７ ファイバフォルダ ３１ 受光素子 ３２ 受光用ＮＤフィルタ ３３ コリメートレンズ ３４ ハイパスフィルタ（基板、波長選択フィルタ） ３５ ローパスフィルタ（基板、波長選択フィルタ） ３７ フィルタ基板 ４０ 演算制御回路 ４１ アクチュエータ ４２ 測距結果表示器 ４３ レンズ駆動手段 ４４ ＡＦ開始スイッチ ４５ 測距開始スイッチ ５０ ＡＦ検出ユニット（位相差方式焦点検出手段） ５１ 焦点検出面 ６１ ６２ 固定ねじ ７０ モータ ７１ 制御回路（制御手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA06 EE00 EE01 FF01 FF11 FF13 FF31 FF65 FF70 GG06 GG12 JJ01 JJ25 LL00 LL02 LL04 LL05 LL10 LL12 LL20 LL22 LL24 LL26 LL46 SS03 SS11
Claims (6)
- 【請求項１】 測距光を送光する送光系と、測定対象物
からの反射光を受光する受光系とを有する光波距離計；
上記受光系は、受光素子の前方に、測定対象物で反射し
た測距光から特定波長領域の光を選択して該受光素子に
入射させる波長選択フィルタを有すること；この波長選
択フィルタは、入射光の波長領域内の第一の特定波長よ
り長い波長だけを透過させる第一のフィルタと、第一の
特定波長より長い第二の特定波長より短い波長だけを透
過させる第二のフィルタとを備えること；およびこの波
長選択フィルタを有するフィルタ基板の光路に対する傾
斜角度を調節する傾斜角度調節機構を有すること；を特
徴とする光波距離計を有する測量機。 - 【請求項２】 請求項１記載の測量機において、上記送
光系と上記受光系による測距光の送光及び受光は、測定
対象物を視準する視準望遠鏡の対物レンズを介して行わ
れ、 上記受光系は、視準望遠鏡の対物レンズを透過した測距
光の波長領域のうち一部を反射し、それ以外を透過する
メインフィルタと、このメインフィルタで反射した光を
反射させて受光素子に導く反射部材とを有し、 上記波長選択フィルタにより選択される特定波長領域
は、上記メインフィルタにより反射される光の波長領域
より狭領域である光波距離計を有する測量機。 - 【請求項３】 請求項１または２記載の測量機におい
て、第一のフィルタと第二のフィルタは別々のフィルタ
基板に備えられていて、この一対のフィルタ基板にそれ
ぞれ、傾斜角度調節機構が備えられている光波距離計を
有する測量機。 - 【請求項４】 請求項１または２記載の測量機におい
て、第一のフィルタと第二のフィルタは単一のフィルタ
基板の表裏に備えられていて、この単一のフィルタ基板
に、傾斜角度調節機構が備えられている光波距離計を有
する測量機。 - 【請求項５】 請求項１ないし４のいずれか１項記載の
測量機において、測距光を発するＬＤと、このＬＤの温
度を検知する温度センサと、この温度センサ出力に応じ
て傾斜角度調節機構を制御して一対のフィルタ基板また
は単一のフィルタ基板の傾斜角度を調節する制御手段と
が備えられている光波距離計を有する測量機。 - 【請求項６】 請求項１ないし５のいずれか１項記載の
測量機において、測距光は、可視光領域内の特定波長の
光である光波距離計を有する測量機。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000132204A JP2001317938A (ja) | 2000-05-01 | 2000-05-01 | 光波距離計を有する測量機 |
| US09/842,780 US6532059B2 (en) | 2000-05-01 | 2001-04-27 | Surveying instrument having an optical distance meter |
| DE10121288A DE10121288A1 (de) | 2000-05-01 | 2001-05-02 | Vermessungsinstrument mit optischem Entfernungsmesser |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000132204A JP2001317938A (ja) | 2000-05-01 | 2000-05-01 | 光波距離計を有する測量機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001317938A true JP2001317938A (ja) | 2001-11-16 |
Family
ID=18640952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000132204A Withdrawn JP2001317938A (ja) | 2000-05-01 | 2000-05-01 | 光波距離計を有する測量機 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6532059B2 (ja) |
| JP (1) | JP2001317938A (ja) |
| DE (1) | DE10121288A1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133020A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Topcon Corp | レーザ光線射出装置 |
| WO2010058667A1 (ja) * | 2008-11-21 | 2010-05-27 | 三洋電機株式会社 | 物体検出装置および情報取得装置 |
| JP2012002735A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
| WO2012132087A1 (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-04 | 三洋電機株式会社 | 受光装置、情報取得装置及び情報取得装置を有する物体検出装置 |
| KR20140010986A (ko) * | 2011-07-26 | 2014-01-27 | 헥사곤 테크놀로지 센터 게엠베하 | 전자기 방사선을 추출하기 위해 필터 유닛을 갖는 광학 측정 시스템 |
| JP2019197044A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-11-14 | 株式会社村田製作所 | Ｌｉｄａｒデバイスのファブリペロー要素 |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6077214A (en) * | 1998-07-29 | 2000-06-20 | Myocor, Inc. | Stress reduction apparatus and method |
| JP3993409B2 (ja) * | 2001-10-17 | 2007-10-17 | 日本オプネクスト株式会社 | 光モジュール及びその製造方法 |
| JP3947455B2 (ja) * | 2002-11-11 | 2007-07-18 | ペンタックス株式会社 | 自動視準機能と測距機能を有する測量機 |
| EP1460377A3 (de) * | 2003-03-21 | 2004-09-29 | Leica Geosystems AG | Verfahren und Vorrichtung zur Bildverarbeitung in einem geodätischen Messgerät |
| EP1491855A1 (de) * | 2003-06-23 | 2004-12-29 | Leica Geosystems AG | Optischer Neigungsmesser |
| EP1882166A1 (en) * | 2005-05-19 | 2008-01-30 | FOSS Analytical AB | Optical analyser |
| US7841094B2 (en) * | 2009-01-27 | 2010-11-30 | Trimble Kaiserslautern Gmbh | Optical instrument with angle indicator and method for operating the same |
| US9746560B2 (en) | 2013-02-12 | 2017-08-29 | Faro Technologies, Inc. | Combination scanner and tracker device having a focusing mechanism |
| DE102016107312A1 (de) * | 2015-04-28 | 2016-11-03 | Faro Technologies Inc. | Kombiniertes Scanner- und Trackergerät mit einem Fokussiermechanismus |
| CN105093208A (zh) * | 2015-09-14 | 2015-11-25 | 北方民族大学 | 一种激光雷达光路设计系统 |
| WO2020002975A1 (en) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | Bosch Car Multimedia Portugal, S.A. | Adaptive filtering module |
| JP7151519B2 (ja) * | 2019-02-01 | 2022-10-12 | 株式会社デンソーウェーブ | 距離画像測定装置 |
| CN110398748B (zh) * | 2019-07-19 | 2022-05-31 | Oppo广东移动通信有限公司 | 距离测量装置及设备、方法 |
| CN112859047B (zh) * | 2021-01-13 | 2023-10-03 | 北京理工大学 | 一种离轴激光雷达及其回波接收方法 |
Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1210360B (de) * | 1964-11-07 | 1966-02-03 | Leitz Ernst Gmbh | Mit einem Laser-Entfernungsmesser gekoppelte Visiervorrichtung |
| US3759614A (en) * | 1971-02-10 | 1973-09-18 | Eastman Kodak Co | Dual photocell range finder apparatus |
| SE414347B (sv) * | 1974-11-20 | 1980-07-21 | Aga Ab | Anordning for att meta avstandet till en punkt pa den egenstralande innerveggen i en ugn |
| US4126392A (en) * | 1976-10-20 | 1978-11-21 | United Technologies Corporation | Optical system for laser doppler velocimeter and the like |
| JPS54147833A (en) * | 1978-05-12 | 1979-11-19 | Canon Inc | Distance measuring finder |
| US4518255A (en) * | 1982-08-20 | 1985-05-21 | Mcdonnell Douglas Corporation | Temperature tracking range finder |
| US4733961A (en) * | 1983-03-07 | 1988-03-29 | Texas Instruments Incorporated | Amplifier for integrated laser/FLIR rangefinder |
| US4559445A (en) * | 1983-10-04 | 1985-12-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Wide angle optical transmitter/receiver |
| US5144498A (en) * | 1990-02-14 | 1992-09-01 | Hewlett-Packard Company | Variable wavelength light filter and sensor system |
| US5206697A (en) * | 1990-10-19 | 1993-04-27 | Schwartz Electro Optics, Inc. | Tunable laser rangefinder and method |
| US5241315A (en) * | 1992-08-13 | 1993-08-31 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Micro pulse laser radar |
| US5337056A (en) * | 1993-06-11 | 1994-08-09 | Rockwell International Corporation | Dynamically tunable notch filter |
| US5517297A (en) * | 1994-10-13 | 1996-05-14 | Hughes Aircraft Company | Rangefinder with transmitter, receiver, and viewfinder on a single common optical axis |
| JP3523368B2 (ja) | 1995-05-12 | 2004-04-26 | ペンタックス株式会社 | 光波距離計 |
| US6275283B1 (en) * | 1995-07-25 | 2001-08-14 | Textron Systems Corporation | Passive ranging to source of known spectral emission to cue active radar system |
| JPH09236662A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
| DE19710722C2 (de) | 1996-03-15 | 2003-06-05 | Pentax Corp | Automatische Fokussiereinrichtung für ein Fernrohr |
| US5852492A (en) * | 1996-06-07 | 1998-12-22 | Lockheed Martin Vought Systems Corp. | Fused lasar range/intensity image display for a human interpretation of lasar data |
| US5923468A (en) | 1996-07-01 | 1999-07-13 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Surveying instrument having an automatic focusing device |
| US5949548A (en) | 1997-01-22 | 1999-09-07 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Height sensing measurement device |
| JP3445491B2 (ja) | 1998-04-10 | 2003-09-08 | ペンタックス株式会社 | 測量機 |
| JP3174551B2 (ja) | 1998-06-11 | 2001-06-11 | 旭光学工業株式会社 | 焦点調節レンズ位置検出装置 |
-
2000
- 2000-05-01 JP JP2000132204A patent/JP2001317938A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-04-27 US US09/842,780 patent/US6532059B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-05-02 DE DE10121288A patent/DE10121288A1/de not_active Withdrawn
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133020A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Topcon Corp | レーザ光線射出装置 |
| JP4614737B2 (ja) * | 2004-11-04 | 2011-01-19 | 株式会社トプコン | レーザ光線射出装置 |
| WO2010058667A1 (ja) * | 2008-11-21 | 2010-05-27 | 三洋電機株式会社 | 物体検出装置および情報取得装置 |
| US8218149B2 (en) | 2008-11-21 | 2012-07-10 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Object detecting device and information acquiring device |
| JP2012002735A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
| WO2012132087A1 (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-04 | 三洋電機株式会社 | 受光装置、情報取得装置及び情報取得装置を有する物体検出装置 |
| KR20140010986A (ko) * | 2011-07-26 | 2014-01-27 | 헥사곤 테크놀로지 센터 게엠베하 | 전자기 방사선을 추출하기 위해 필터 유닛을 갖는 광학 측정 시스템 |
| KR101616341B1 (ko) | 2011-07-26 | 2016-04-28 | 헥사곤 테크놀로지 센터 게엠베하 | 전자기 방사선을 추출하기 위해 필터 유닛을 갖는 광학 측정 시스템 |
| JP2019197044A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-11-14 | 株式会社村田製作所 | Ｌｉｄａｒデバイスのファブリペロー要素 |
| JP7036077B2 (ja) | 2018-03-28 | 2022-03-15 | 株式会社村田製作所 | Ｌｉｄａｒデバイスのファブリペロー要素 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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