JP2003139534A - 光波測距儀 - Google Patents
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Abstract
度の距離測定が可能な光波測距儀を提供する。また、測
距光を視準用ポインタとして使用する場合にポインタの
中心位置がわかりやすい光波測距儀を提供する。 【構成】 視準望遠鏡10、送光系と受光系を有する光
波距離計20、測距モードとポインタモードを切替える
操作部44、及び制御回路40を備えた光波測距儀にお
いて、送光系に、送光ビーム形状を定める透光部61a
を有する測距光用マスク61を配置し、該透光部61a
にそのエッジ部の光透過率が中央部の光透過率に比して
低い濃度不均一フィルターを設ける。さらに、送光系
に、測距光軸30aと平行な回転軸を有する送光用ND
フィルター29上の測距光軸30aが通る半径位置g
に、測距光30に回折縞を発生させる微小開口62a〜
62fを有する回折マスク62を設ける。そして制御回
路40は、測距モード時は回折マスク62を測距光路上
から退避させ、ポインタモード時は回折マスク62を測
距光路上に進出させる。
Description
準用のポインタとして使用するポインタモード機能を備
えた光波測距儀に関する。
の測定は、一般に測定対象物に投光される測距光と反射
光の位相差及び内部参照光での初期位相、又は測距光と
反射光の時間差から距離を演算する光波測距儀(ED
M)によって行われている。
ンズの後方であって光軸中心に位置する送受光ミラー
と、この送受光ミラーを介して測距光を測定対象物に送
光する発光素子と、測定対象物からの反射光のうち送受
光ミラーでけられない反射光を受光する受光素子とを有
している。このような従来の光波測距儀では、送光ミラ
ーによるケラレにより測定対象物からの反射光を受光素
子で受光することができないという問題があり、この解
決策としては種々の提案がある。例えば、送光ミラー
(測距光のビーム形状)を非点対称形状とする第一の提
案、測距光を視準望遠鏡の光軸からずらして送光する第
二の提案等がある。
光のビーム形状を発光素子と送光ミラーの間の光路上に
設けたマスクによって成形すると、該マスクを通過した
測距光が干渉し合い、測定点において回折縞が発生して
しまう。このとき、測定距離や測定点の諸条件によって
は回折縞の反射光がノイズとして作用し、測距精度が低
下する問題がある。また、測距光を視準用のポインタと
しても使用する光波測距儀においては、測距光のビーム
形状が非点対称形であると、中心位置がわかりづらいと
いう問題がある。一方、上記第二の提案では、測距光の
光軸が視準望遠鏡の光軸からずれているため、測距光を
視準用のポインタとして使用することができなかった。
の状態に影響を受けることなく、高精度の距離測定が可
能な光波測距儀を提供することを目的とする。また本発
明は、距離測定用の測距光を視準用ポインタとして使用
する場合に、ポインタの中心位置がわかりやすい光波測
距儀を提供することを目的とする。
遠鏡と;この視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する
反射部材を介して測距光を送光する送光系と、測定対象
物からの反射光のうち前記反射部材でけられない反射光
を受光する受光系とを有する光波距離計と;を備えた光
波測距儀であって、送光系に、送光ビーム形状を定める
透光部を有する測距光用マスクを配置し、この測距光用
マスクの透光部に、該透光部のエッジ部の光透過率が中
央部の光透過率に比して低い濃度不均一フィルターを設
けたことを特徴としている。
ィルターから構成することができる。この濃度不均一フ
ィルターの光透過率は、中心部からエッジ部にかけてガ
ウス分布をなしていることが好ましい。測距光用マスク
の透光部形状は、矩形、三角形、円形または楕円形とす
るのが実際的である。
距光に回折縞を生じさせる微小開口を有する回折マスク
と、この回折マスクを測距光路上に進出させるポインタ
モードと、この回折マスクを測距光路から退避させる測
距モードとを切替えるモード切替手段とを備えることが
できる。この回折マスクの微小開口の形状は、該微小開
口によって発生する回折縞の中心位置がわかりやすいよ
うに、矩形、三角形、円形または楕円形とすることが好
ましい。
する送光用NDフィルターを備えることができる。この
送光用NDフィルターと上記回折マスクとを一体に設け
る場合は、測距光軸と平行な回転軸を有する単一の回転
円板と、この回転円板上の前記測距光軸が通る半径位置
に設けた、光透過率が周方向に徐々に変化する円弧状N
Dフィルターとから送光用NDフィルターを構成し、上
記回転円板上の円弧状NDフィルターと同一の半径位置
に、周方向位置を異ならせて、回折マスクの微小開口を
設けることが好ましい。この場合には、測距モード時は
円弧状NDフィルターを測距光路上に進出させ、ポイン
タモード時は回折マスクの微小開口を測距光路上に進出
させるように、送光用NDフィルターの回転円板を回転
させるマスク移動手段を備えることができる。
などに応じて選択できるように、異なる形状で複数設け
られていると好ましい。この場合には、複数の微小開口
のいずれかを選択して測距光路上に進出させるようにマ
スク移動手段を制御する制御手段を備える。この制御手
段は、測定対象物までの距離に応じてマスク移動手段を
動作させることができ、また、測距光学系を介してその
焦点状態を検出する焦点検出手段が備えられている場合
には、この焦点検出手段による検出情報に基づいてマス
ク移動手段を動作させてもよい。
用いずに測距光の送光ビーム形状の中心位置を判別しや
すくするためには、測距光マスクの透光部形状を星型形
状または十字形状とすることが好ましい。
を視準する視準望遠鏡と;この視準望遠鏡の対物レンズ
の光軸上に測距光を送光する送光系と;を備えた光波測
距儀であって、前記送光系に、測距光に回折縞を生じさ
せる微小開口を有する回折マスク備えたことを特徴とし
ている。
口によって発生する回折縞の中心位置がわかりやすいよ
うに、矩形、三角形、円形または楕円形とすることが好
ましい。この回折マスクの微小開口は異なる形状で複数
設けることが好ましく、この場合には、該複数の微小開
口のいずれかを選択して測距光路上に進出させるマスク
移動手段を備える。さらにこの場合には、測定対象物ま
での距離に応じてマスク移動手段を動作させる制御手段
を備えることができる。この制御手段は、測距光学系を
介してその焦点状態を検出する焦点検出手段が備えられ
ている場合は、この焦点検出手段による検出情報に基づ
いてマスク移動手段を動作させてもよい。
は測距光の光束中心を視準光軸からずらすことで送光ミ
ラーによるケラレを防止しつつ、ポインタモード時は測
距光の光束中心を視準光軸に一致させることで測距光を
視準用のポインタとして使用できること着目してなされ
たもので、測定対象物を視準する視準望遠鏡と;この視
準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材を介し
て測距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光
のうち上記反射部材でけられない反射光を受光する受光
系とを有する光波距離計と;測距モードとポインタモー
ドとを切替えるモード切替手段と;を備えた光波測距儀
であって、前記送光系に、測距光軸と平行な回転軸を有
する単一の回転円板を設け、前記回転円板には、測距光
軸が通る第一の偏心位置に、測距光に回折縞を生じさせ
る微小開口を有する回折マスク部を設け、該回折マスク
部が設けられた径方向位置とは異なる第二の偏心位置
に、送光ビーム形状を定める透光部を有する測距光用マ
スク部を設け、前記測距光用マスク部の透光部に、該透
光部のエッジ部の光透過率が中央部の光透過率に比して
低い濃度不均一フィルターを設け、前記モード切替手段
による測距モードとポインタモードとの切替に応じて、
前記回転円板を回転させて、測距光用マスク部と回折マ
スク部とを選択して測距光路上に進出させることを特徴
としている。
量も調整できるように、同一形状で複数設けられ、該複
数の透光部は光透過率がそれぞれ異なっていることが好
ましい。この場合には、測距モード時に、複数の透光部
のいずれかを選択して測距光路上に進出させるマスク移
動手段を備える。回折マスク部の微小開口は、測定距離
や目的に応じて選択できるように、異なる形状で複数設
けられることが好ましい。この場合には、ポインタモー
ド時に、複数の微小開口のいずれかを選択して測距光路
上に進出させるマスク移動手段を備える。マスク移動手
段を備えた場合には、測定対象物までの距離に応じてマ
スク移動手段を動作させる制御手段を備えることができ
る。この制御手段は、測距光学系を介してその焦点状態
を検出する焦点検出手段が備えられている場合は、この
焦点検出手段による検出情報に基づいてマスク移動手段
を動作させることもできる。
に送光ミラーによるケラレが生じている場合のみ測距光
の光束中心を視準光軸からずらすことで、ポインタモー
ド時は測距光を視準用のポインタとして使用できること
に着目してなされたもので、測定対象物を視準する視準
望遠鏡と;この視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置す
る反射部材を介して測距光を送光する送光系と、測定対
象物からの反射光のうち前記反射部材でけられない反射
光を受光する受光系とを有する光波距離計と;測距モー
ドとポインタモードとを切替えるモード切替手段と;を
備えた光波測距儀であって、前記送光系に、測距光軸と
平行な回転軸を有する単一の回転円板を設け、測距光軸
が通る前記回転円板の同心円上に位置を異ならせて、送
光ビーム形状を定める透光部を有する測距光用マスク部
と、前記測距光に回折縞を生じさせる微小開口を有する
回折マスク部とを配置し、前記測距光用マスク部の透光
部に、該透光部のエッジ部の光透過率が中央部の光透過
率に比して低い濃度不均一フィルターを設け、さらに、
前記モード切替手段による測距モードとポインタモード
との切替に応じて、回転円板を回転させて、測距光用マ
スク部と回折マスク部とを選択して測距光路上に進出さ
せるマスク移動手段と、測距モード時に、前記受光系が
測定対象物からの反射光を受光していない場合は、前記
マスク移動手段を介して回転円板を回転させて、前記測
距用マスク部の透光部の中心位置を測距光軸からずらす
制御手段とを備えたことを特徴としている。
の測距光の長軸方向の両端部を遮光することで送光ミラ
ーによるケラレが少なくなることに着目してなされたも
ので、測定対象物を視準する視準望遠鏡と;この視準望
遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材を介して断
面楕円形状の測距光を送光する送光系と、測定対象物か
らの反射光のうち上記反射部材でけられない反射光を受
光する受光系とを有する光波距離計と;測距モードとポ
インタモードとを切替えるモード切替手段と;を備えた
光波測距儀であって、前記送光系に、測距光軸と平行な
回転軸を有する単一の回転円板を設け、前記測距光が通
る前記回転円板の偏心位置に、断面楕円形状の測距光の
長軸方向の両端部を遮光して中央部を透光させる円弧状
の測距光用マスク部と、この測距光用マスク部とは周方
向位置を異ならせた、前記測距光に回折縞を生じさせる
微小開口を有する回折マスク部とを設け、前記円弧状の
測距光用マスク部の透光部に、該透光部の回転円板の径
方向の両端エッジ部の光透過率が中央部の光透過率に比
して低く、かつ円周方向に全体の光透過率が変化する濃
度不均一フィルターを設け、前記モード切替手段による
測距モードとポインタモードとの切替に応じて、前記回
転円板を回転させて、測距光用マスク部と回折マスク部
とを選択して測距光路上に進出させることを特徴として
いる。
光の光束中心を視準光軸に一致させるため、測距光軸が
通る第一の偏心位置に設けられることが好ましい。一
方、測距光用マスク部は、測距光の光束中心を視準光軸
からずらすため、回折マスク部とは径方向位置が異なる
第二の偏心位置に設けられていることが好ましい。
測距儀を測量機に適用した第一の実施形態を示してい
る。本実施形態の測量機は、発光素子23から発せられ
る測距光30を、距離測定用として使用する測距モード
と、視準用ポインタとして使用するポインタモードとを
切替えることができる。
図1に示すように、物体側(前方)から順に、対物レン
ズ11、焦点調節レンズ17、ポロプリズム(正立光学
系)12、焦点板13、及び接眼レンズ14を備えてい
る。焦点板13上には、その中心に、視準の際の目印と
なる十字線ヘアライン(視準線)15が描かれている。
焦点調節レンズ17は光軸方向に可動であり、測定対象
物16の距離に応じて位置調節することにより、その像
を正しく焦点板13の対物レンズ11側の表面に結像さ
せる。使用者は、この焦点板13上の像を接眼レンズ1
4を介して拡大観察することができる。
は、光波距離計20の構成要素である送受光ミラー21
と、測距光30を反射して可視光を透過する波長選択フ
ィルター22とが順に配置されている。送受光ミラー2
1は、対物レンズ11の光軸(視準光軸10a)上に位
置する平行平面ミラーからなり、その対物レンズ11側
の面が送光ミラー21a、波長選択フィルター22側の
面が受光ミラー21bを構成している。これら送光ミラ
ー21aと受光ミラー21bは、三角形状をなしてい
る。
オード;LD)23は、特定波長の測距光30を発す
る。この測距光30は、コリメータレンズ24及び固定
ミラー25を介して送光ミラー21aに入射する。本第
一の実施形態では、測距光30の測距光軸30aと視準
光軸10aは一致しており、送光ミラー21aに入射し
た測距光30は視準光軸10a上を進む。
6で反射し対物レンズ11を透過した、送光ミラー21
aでけられない測距光をさらに反射させて受光ミラー2
1bに戻す作用をする。受光ミラー21bは、その反射
光を受光ファイバ26の入射端面26aに入射させる。
27は、受光ファイバ26を保持するホルダであり、送
受光ミラー21とともに、図示しない固定手段によっ
て、対物レンズ11の後方の空間に固定されている。
光路上には、発光素子23側から順に、コリメータレン
ズ24、測距光用マスク61、切換ミラー28、及び送
光用NDフィルター29が配置されている。切換ミラー
28は、アクチュエータ37により回動され、測距光3
0を固定ミラー25に与えるか、受光ファイバ26の入
射端面26aに直接与えるかの切換を行なうものであ
る。測距光用マスク61は、測距光30の送光ビーム形
状を定める透光部61aを有するマスクであり、図示し
ない固定部材により固定されている。送光用NDフィル
ター29は、測定対象物16に投光する測距光30の光
量調整用の減光フィルターであり、アクチュエータ36
により測距光軸30aに対して直交する状態で軸支され
ている。送光用NDフィルター29の近傍に設けられた
センサ35は、送光用NDフィルター29の位置検知用
である。上記センサ35及びアクチュエータ36、37
は制御回路40に接続されている。
素子31との間には、集光レンズ32、受光用NDフィ
ルター33、及びバンドパスフィルター34が順に配置
されている。受光用NDフィルター33は、受光素子3
1に入射させる反射光量を調整する減光フィルターであ
り、アクチュエータ41により回動される。この受光用
NDフィルター33の近傍に設けられたセンサ38は、
受光用NDフィルター33の位置検知用である。受光素
子31は、受光光量に対応する光電流を出力するもので
ある。この受光素子31、アクチュエータ41及びセン
サ38は、制御回路40に接続されている。また、制御
回路40には、測距結果のほか、AF状態やモード情報
など測量に関する情報を表示する表示部42が接続され
ている。
制御回路40がアクチュエータ37を介して切換ミラー
28を駆動し、測距光30を固定ミラー25に与える状
態と、受光ファイバ26の入射端面26aに直接与える
状態とを作り出す。固定ミラー25に与えられた測距光
30は、上述のように、送光ミラー21aと対物レンズ
11を介して測定対象物16に投光され、その反射光が
対物レンズ11、波長選択フィルター22及び受光ミラ
ー21bを介して入射端面26aに入射する。そして、
この測定対象物16で反射して入射端面26aに入射す
る反射光と、切換ミラー28を介して入射端面26aに
直接与えられた内部参照光とが受光素子31によって受
光され、制御回路40が反射光と内部参照光の位相差ま
たは時間差を検出し、測定対象物16までの距離を演算
して、表示部42に表示する。反射光と内部参照光の位
相差または時間差による測距演算は周知である。
ズ17の位置を検出するレンズ位置検出センサ18、焦
点調節レンズ17を移動させるレンズ駆動機構43、操
作部44、及びAF検出ユニット50が接続されてい
る。操作部44には、図示しないが、AF動作を開始さ
せるAF開始スイッチ、測距動作を開始させる測距開始
スイッチ、測距モードとポインタモードを切替えるモー
ド切替スイッチ等の操作スイッチが備えられている。
れており、この分割光路上に上記AF検出ユニット50
が配置されている。AF検出ユニット50は、焦点板1
3と光学的に等価な焦点検出面51の焦点状態、すなわ
ち、前ピン、後ピンなどのデフォーカス量を検出する。
図2はAF検出ユニット50の概念図を示している。焦
点検出面51上に結像する対物レンズ11による物体像
は、集光レンズ52及び基線長だけ離して配置した一対
のセパレータレンズ(結像レンズ)53によって分割さ
れ、この分割された一対の像は一対のCCDラインセン
サ54上に再結像する。ラインセンサ54は多数の光電
変換素子を有し、各光電変換素子が、受光した物体像を
光電変換して光電変換した電荷を積分(蓄積)し、積分
した電荷をAFセンサデータとして制御回路40へ出力
する。制御回路40は、一対のAFセンサデータに基づ
いて所定のデフォーカス演算を行ない、算出したデフォ
ーカス量に基づきレンズ駆動手段43を動作させる。そ
して制御回路40は、レンズ位置検出センサ18の出力
に基づいて焦点調節レンズ17の位置を検知しながら、
焦点調節レンズ17を合焦位置まで移動させる。このよ
うなデフォーカス演算は当業者周知である。
距光30の送光ビーム形状を定める測距光用マスク61
と、測距光30に回折縞を発生させる微小開口を有する
回折マスク62とを別個に設け、測距モードとポインタ
モードの切替に応じて、回折マスク62を測距光路上か
ら退避または進出させている。以下では、図3及び図4
を参照し、測距光用マスク61及び回折マスク62(回
折マスク62を設けた送光用NDフィルター29)につ
いて説明する。
て示す図である。測距光用マスク61は、測距光30の
送光ビーム形状を定める三角形の透光部61aを有し、
この透光部61aには、該中央部からエッジ部かけて徐
々に光透過率を低くしたNDフィルター(濃度不均一フ
ィルター)が設けられている。透光部61aの光透過率
は、図3(b)に示すように、透光部61aの中心部を
中心として左右対称の分布、すなわち、ガウス分布をな
している。なお、図3(a)においてハッチングを付し
た領域は、光透過率0%の遮光部61bである。
に変化し、透光部61aのエッジ部の光透過率が低くな
っていると、測距光30は回折を起こしにくく、測距光
用マスク61を通過した測距光30に回折縞を生じさせ
にくい。そのため、測定点周辺が凸凹している場合や傾
斜している場合においても測定点のみを測距することが
でき、精度のよい測定が可能となる。また本実施形態で
は、透光部61aの形状が三角形であるため、測定対象
物16がコーナーキューブプリズムである場合の反射光
の、送光ミラー21aによるケラレをなくすことができ
る。
て示す図であり、図中のハッチングを付した部分は透過
率0%であることを示している。送光用NDフィルター
29は、測距光軸30aと平行な回転軸を有する単一の
回転円板29aと、この回転円板29a上の測距光軸3
0aが通る半径位置gに設けた円弧状NDフィルター2
9b、円弧状NDフィルター29bの外周に沿って設け
た複数のスリット29cからなる。円弧状NDフィルタ
ー29bは、図4(b)に示すように光透過率が周方向
に徐々に変化していて、測距光路上に進出させた円弧状
NDフィルター29bの位置(回転角度)を調整するこ
とにより、測距光30の光量を調整することができる。
本実施形態では、制御回路40が、AF検出ユニット5
0が検出したAF検出情報(例えば焦点距離情報)に基
づき、円弧状NDフィルター29bの位置を調整する。
スリット29cは、送光用NDフィルター29(回転円
板29a)の位置検知用である。すなわち、回転円板2
9aが回転してスリット29cが上述のセンサ35を通
過すると、センサ35からパルス信号が出力され、この
出力に基づいて制御回路40が送光用NDフィルター2
9の位置を検知する。なお、詳細には記さないが、スリ
ット29cは原点位置を設けるインクリメンタル式でも
よいし、アブソリュート式でもよい。
じさせる微小開口62a〜62fを有する回折マスク6
2を、送光用NDフィルター29と一体に設けてある。
この回折マスク62の微小開口62a〜62fは、送光
用NDフィルター29の回転円板29aの円弧状NDフ
ィルター29bを設けた半径位置gに、周方向位置を異
ならせて設けられている。
は、三角開口62a、62b、円形開口62c、62
d、及び矩形開口62e、62fからなる。これら微小
開口62a〜62fはいずれも、測距光用マスク61の
透光部61aよりも十分小さい開口(光透過率は一定)
であり、該透光部61aの光透過率が高い部分を通過し
た光に作用する。すなわち、測距光用マスク61の透光
部61aを通過した光は、回折マスク62の微小開口6
2a〜62fのいずれかを通過する際に回折を起こして
干渉し合い、測定点にて回折縞を生じさせる。図5は矩
形開口62eまたは62fを通過した測距光30に生じ
る回折縞を示しており、図6は三角形開口62aまたは
62bを通過した測距光30に生じる回折縞を示してい
る。これら回折縞は、図5では四方向(十字方向)に、
図6では六方向に向かって放射状に広がっていて、全方
向が交わる交点Xが存在する。この交点Xが測距光30
の中心位置を示している。そのため、使用者は、視準望
遠鏡10に付属した不図示の視準器を覗いて上記回折縞
の交点Xを視認することにより、測距光30の中心位置
を容易に把握でき、視準調整が容易となる。
62の微小開口62a〜62fが異なる形状で複数設け
られており、微小開口62a〜62fのいずれを使用す
るかは、測定対象物16までの距離や測定目的などに応
じて、使用者が操作部44にて任意に選択できる。例え
ば測定対象物16までの距離が極めて短い場合には、回
折縞が目立たないことがあるため、円形開口62c、6
2dを用いるとよい。また、本実施形態のように使用者
が選択するのではなく、制御回路40がAF検出ユニッ
ト50によるAF検出情報(距離情報)に応じて微小開
口62a〜62fを自動的に選択する構成としてもよ
い。
マスク62とを設けた送光用NDフィルター29の回転
円板29aは、測距モードとポインタモードの切替に応
じて制御回路40によりアクチュエータ36を介して回
転され、測距モード時に円弧状NDフィルター29bを
測距光路上に進出させ、ポインタモード時は回折マスク
62(回折マスク62の微小開口62a〜62fのいず
れか)を測距光路上に進出させる。
略を示すフローチャートである。使用者は、先ず、操作
部44にて測距モードまたはポインタモードのいずれか
を選択する(S1)。視準光軸10aを測定対象物16
に合致させづらいときは、ポインタモードを選択して視
準調整した後、測距モードを選択して測距動作するとよ
い。
使用する回折マスク62の微小開口62a〜62fを操
作部44にて一つ選択する(S1;Y、S3)。使用す
る回折マスク62の微小開口が選択されると、制御回路
40がアクチュエータ36を作動させて送光用NDフィ
ルター29の回転円板29aを回転させ、選択された回
折マスク62の微小開口を測距光路上に進出させる(S
5)。なお、選択された回折マスク62の微小開口は、
表示部42で確認することができる。そして、選択され
た回折マスク62の微小開口が測距光路上に移動される
と、制御回路40によって発光素子23が点灯される
(S7)。発光素子23から発せられた測距光30は、
測距光用マスク61の透過部61aによって三角形状に
ビーム成形された後、S5で測距光路上に進出させた回
折マスク62の微小開口を通過して、測定対象物16に
投光される。
した不図示の視準器から測定対象物16を覗き、視準光
軸10aを概ね測定対象物16に合致させる(S9)。
視準望遠鏡10の視準器から測定対象物16を覗くと、
測定対象物16と測距光30により生じた放射状に広が
る回折縞とを同時に視認することができる。この放射状
に広がる回折縞は、上述したように、その中心位置(図
5及び図6に示す交点X)が測距光軸30a及び視準光
軸10aに一致している。そのため、回折縞の中心位置
を測定対象物16に合致させるだけで、容易に、視準光
軸10aを測定対象物16に合致させることができる。
以上の動作により視準調整を行ったら、使用者は、操作
部44にて測距モードを選択し、測距動作を行なう。
路40によって発光素子23が消灯される(S1;N、
S11)。次に使用者は、操作部44のAF開始スイッ
チをオンする(S13;Y)。AF開始スイッチがオン
されると、制御回路40は、AF検出ユニット50を起
動させてAF動作を実行する(S15)。そして制御回
路40は、AF動作で求めた焦点距離情報に基づいて測
距光30の光量が最適となるように、アクチュエータ3
6を動作させて送光用NDフィルター29の回転円板2
9aを回転させて、円弧状NDフィルター29bを測距
光路上に進出させると共に位置調整を行ない(S1
7)、合焦状態である旨を表示部42に表示させる(S
19)。表示部42に合焦表示が表示されたら、使用者
は、接眼レンズ14を覗いて焦点板13の十字線ヘアラ
イン15を正確に測定対象物16に一致させ(S2
1)、操作部44の測距開始スイッチをオンする(S2
3;Y)。
路40は、発光素子23を発光させて光波距離計20に
よる測距動作を実行する(S25)。この測距動作で
は、先ず、アクチュエータ37を介して切換ミラー28
を測距光路から退避させ、発光素子23から発せられた
後マスク61及び送光用NDフィルター29を通過した
測距光30を固定ミラー25に与えて測定対象物16に
投光し、測定対象物16からの反射光を受光素子31に
て受光する。次に、アクチュエータ37を介して切換ミ
ラー28を測距光路に進入させ、発光素子23から発せ
られた後マスク61を通過した内部参照光を入射端面2
6aに直接与え、受光素子31にて受光する。そして、
受光素子31の出力に基づき、測定対象物16からの反
射光と内部参照光の位相差または時間差を検出し、測定
対象物16までの距離を演算する。そして制御回路40
は、求めた測距結果を表示部42に表示させる(S2
7)。以上により、測量作業は完了する。
マスク61の透光部61aの形状は、図示例に限定され
ず、種々の変形が可能である。例えば、矩形、円形また
は楕円形であると、測距光用マスク61の作製が容易で
あり、実際的である。また、周知のように測定対象物1
6に投光する測距光のビーム形状を非点対称形とすれ
ば、測定対象物16がコーナーキューブプリズムの場合
において、送光ミラー21aによるケラレをなくすこと
ができる。また、この場合は送光ミラー21aも測距光
用マスク61と略同形状とする必要がある。
は、図8に示す十字形状、図9に示す星型形状のよう
に、測距光30の送光ビーム形状の中心位置がわかり易
い形状であると、ポインタモード時に回折マスク62を
用いて測距光30に回折縞を発生させなくても、測距光
30の中心位置を判別することができる。但し、測距光
用マスク61の透光部61aを十字形状または星形形状
とした場合には、透光部61aよりも遮光部61bの面
積が大きく測距光30の光量が大幅にダウンするので、
短距離測定用の装置(測距光の光量が少なくても精度よ
く測定できるタイプ)に適用すると好ましい。なお、短
距離から長距離まで測定する装置に適用する場合には、
送光NDフィルター29に全体の透過率が異なる星型形
状(または十字形状)の透光部を複数設け、測定距離に
応じて使用する透光部を切替える構成とすればよい。ま
た、本実施例ではポインタは測距を行なう前の測定点の
概略位置出しに使用する方法で記したが、当然、測定対
象物16へのマーキング用にも効果がある。
している。この実施形態では、図1に示す測距光用マス
ク61と円弧状NDフィルター29bの代わりに、測距
光30の送光ビーム形状を定める透光部を複数有する測
距光用マスク161を送光用NDフィルター129の回
転円板129aに設け、測距モードとポインタモードの
切替に応じて、測距光用マスク161と回折マスク62
を選択して測距光路上に進出させている。以下では、第
一の実施形態と異なる点のみ説明する。なお、同一要素
には同一符号を付してある。
29aには、図11(a)に示すように、測距光軸13
0aと一致する半径位置g(第一の偏心位置)と、測距
光軸130aから所定量ずらした半径位置h(半径位置
gとは回転円板129aの中心からの距離が異なる第二
の偏心位置)が設定されている。この半径位置gに回折
マスク62の微小開口62a〜62fが設けられ、半径
位置hに測距光用マスク161の円形透光部161a〜
161eが設けられている。円形透光部161a〜16
1eにはいずれも、その中心からエッジ部にかけて光透
過率が徐々に低くなるNDフィルター(濃度不均一フィ
ルター)が設けられており、エッジ部において測距光の
回折を起こりにくくしてある。図11(b)は、一例と
して、円形透光部161eの透過率分布を示している。
また、測距光用マスク161の各円形透光部161a〜
161eは、透光部全体の光透過率がそれぞれ異なり、
測距光路上に進出させる円形透光部161a〜161e
を切替えることによって測距光30の光量を調整するこ
とができる。なお、発光素子23から発せられる光束
は、円形透光部161a〜161eに入射したときに少
なくとも一部が測距光軸130を通れる(測距光軸13
0とのずれ量をカバーできる)ように、且つ、円形透光
部161a〜161eの隣り合う領域には影響しないよ
うに設定されている。
た測距光130は、測距光用マスク161の円形透光部
161a〜161eのいずれかを通過し、視準光軸10
aとは一致せず視準光軸10aと平行な光路130a’
上を進む。このように測距光130の光束中心を視準光
軸10aからずらすと、測定対象物16がコーナーキュ
ーブプリズムである場合に反射光が送光ミラー21aに
よってケラレなくなり、回折も発生しないため、精度の
よい測定が可能になる。一方、ポインタモード時に発光
素子23から発せられた測距光130は、回折マスク6
2の微小開口62a〜62fのいずれかを通過し、視準
光軸10a上を進む。このように測距光130の光束中
心を視準光軸10aに一致させれば、測距光を視準用の
ポインタとして使用することができ、精度のよい視準調
整やマーキング作業が可能となる。
手順を示すフローチャートである。S101〜S11
5、S119〜S127の動作は、図7に示す第一の実
施形態のS1〜S15、S19〜S27と同様であるか
ら説明を省略し、第一の実施形態と異なるS117の動
作を説明する。S117では、制御回路40が、AF検
出ユニット50が検出したAF検出情報に基づき、測定
対象物16へ投光する測距光130の光量を最適とする
測距光用マスク161の円形透光部161a〜161e
を一つ選択し、アクチュエータ36を動作させて送光用
NDフィルター129の回転円板129aを回転させ、
選択した円形透光部を測距光路上へ進出させる。
施形態と同様の効果に加え、測距モード時は測距光13
0の光束中心を視準光軸10aからずらすことで送光ミ
ラー21aによるケラレを防止しつつ、ポインタモード
時は測距光130の光束中心を視準光軸10aに一致さ
せることで測距光130を視準用のポインタとして使用
することができる。
ている。この実施形態では、送光用NDフィルター22
9の回転円板229a上の測距光軸230aが通る半径
位置gに、周方向を異ならせて測距光用マスク161と
回折マスク62を設け、測距モードとポインタモードの
切替に応じて、測距光用マスク161と回折マスク62
を選択して測距光路上に進出させている。さらに測距モ
ード時は、受光素子31の受光状態に応じて、測距光軸
230aに対する測距光用マスク161の位置を調整
し、送光ミラー21aによるケラレを防止している。以
下では、第二の実施形態と異なる点を説明する。なお、
同一要素には同一符号を付してある。
a〜161eと回折マスク62の微小開口62a〜62
fは、上述したように、送光用NDフィルター229の
回転円板229aの半径位置g(測距光軸230aと一
致する径方向位置)に設けられ、測距光路上に進出され
たとき、その中心位置に測距光軸230aを通過させ
る。そのため、測距光230は、測距光用マスク161
の円形透光部161a〜161eまたは回折マスク62
の微小開口62a〜62fを通過した後、視準光軸10
a上を進む。つまり、測距光230の測距光軸230a
は視準光軸10aに合致している。
0aに合致していると、測定対象物16がコーナーキュ
ーブプリズムである場合には、測距動作時に反射光が送
光ミラー21aによるケラレが生じ、測距光230を投
光しても測定対象物16からの反射光を受光素子31で
受光できなくなってしまう。そこで本実施形態では、測
距動作時の受光素子31の受光状態に応じて、制御回路
40が送光ミラー21aによるケラレが生じているか否
かを判断する。そして、ケラレが生じている場合には、
回転円板229aを回転させて測距光用マスク161の
円形透光部の中心位置を測距光軸230aからずらし、
これにより測距光230の光束中心を視準光軸10aか
らずらして送光ミラー21aによるケラレを少なくす
る。この場合に測距光230のビーム形状は、送光ミラ
ー21aの面積の重心位置調整方向にずれた形状となっ
ている。
手順を示すフローチャートである。S201〜S223
の動作は、図12に示す第二の実施形態のS101〜S
1123と同様であるから、S225以降の動作を説明
する。操作部44の測距開始スイッチがオンされると、
制御回路40は、発光素子23を点灯させて光波距離計
20による測距動作を開始させ(S225)、測定対象
物16からの反射光を受光素子31が受光しているか否
かをチェックする(S227)。
光を受光していない場合は(S227;N)、送光ミラ
ー21aによるケラレを少なくするため、送光用NDフ
ィルター229の回転円板229aを回転させて、測距
光軸230aに対する測距光用マスク161の円形透光
部の位置を調整する(S229)。一方、受光素子31
が測距反射光を受光している場合は、S229をスキッ
プする(S227;Y)。この場合には、送光ミラー2
1aによるケラレが生じていないので、測距光230の
光束中心を視準光軸10aからずらす必要はない。そし
て、制御回路40(光波距離計20)は、受光素子31
の受光量(出力)に基づいて測定対象物16までの距離
を算出し(S231)、この測距結果を表示部42に表
示する(S237)。
施形態と同様、測距モード時は測距光230の光束中心
を視準光軸10aからずらすことで送光ミラー21aに
よるケラレを防止しつつ、ポインタモード時は測距光2
30の光束中心を視準光軸10aに一致させることで測
距光230を視準用のポインタとして使用することがで
きる。また測距モード時には、さらに、測距光用マスク
161により回折の発生を防止しているので、測距精度
が向上する。
この実施形態は、図11に示す測距光用マスク161に
代えて、断面楕円形状の測距光330の長軸方向の両端
部を遮光する測距光用マスク361を送光用NDフィル
ター329の回転円板329aに設けている。測距光用
マスク361は円弧状透光部361aを有し、この円弧
状透光部361aには、その中央部から回転円板329
aの径方向の両端エッジ部にかけて光透過率が徐々に低
く、且つ回転円板329aの周方向に全体の光透過率が
変化するNDフィルター(濃度均一フィルター)が設け
られている。
ム形状が断面楕円形状をなすレーザーダイオードを用い
ており、この断面楕円形の長軸方向が送光ミラー21a
によるケラレで問題になる。そこで本実施形態では、測
距モード時に、測距光用マスク361の円弧状透光部3
61aを測距光路上に進出させて、測距光330の長軸
方向の両端部をカットしたビーム形状362に測距光3
30を成形する。これにより、送光ミラー21aによる
ケラレが少なくなり、また測距光330に回折縞が発生
しづらくなるので、精度のよい測定が可能となる。なお
本実施形態では、第一の実施形態と同様、測距光用マス
ク361の周方向位置を調整することにより、測距光3
30の光量調整が可能である。
ム形状を定める測距光用マスクの透光部に、該透光部の
中央部からエッジ部にかけて徐々に光透過率を低くした
NDフィルター(濃度不均一フィルター)を設けたの
で、透光部のエッジ部において測距光の回折が生じにく
く、測定点において回折縞を生じさせることもなくな
る。これにより、測定点の状態に影響を受けることな
く、精度のよい測定が可能となる。また、測距光に回折
縞を生じさせる微小開口を備えた回折マスクを設け、ポ
インタモード時はこの回折マスクの微小開口を測距光路
上に進出させるので、測定点において放射上に広がる回
折縞が発生し、この回折縞により、測距光の送光ビーム
形状に拘わらず、測距光の中心位置を容易に判別するこ
とができる。
NDフィルターの回転円板に設けているが、回折マスク
は別ユニットとして設けることも可能である。回折マス
クの微小開口の形状は、図示した三角形、矩形、円形の
ほか、例えば楕円形としてもよい。また回折マスクに設
ける微小開口の数は、任意であり、一つだけ設ける構成
でもよい。
ド時に、回折マスクの四角開口(図示例では62e、6
2f)を選択して測距光路上へ進出させると、図5のよ
うな十字方向に広がった回折縞が測定点において発生さ
れるので、レーザープレーナーのように水平線を表示す
ることができる。
スクの透光部をNDフィルターにより形成しているが、
これに限定されず、例えば、ミラー等に光吸収率の違う
塗料を徐々に塗って形成してもよいし、コーティングに
よって形成してもよい。また測定距離によっては、マス
クサイズにより回折縞間隔が狭くなり目立たなくい場合
がある。このような場合には、測距光用マスクを単なる
丸いマスクとしても使用可能である。
形状を定める測距光用マスクと測距光に回折縞を発生さ
せる回折マスクとを両方備えた実施形態であるが、いず
れか一方のみ備える構成としてもよい。
AF検出ユニットを用いているが、コントラスト方式な
ど他のAF方式でもよいのは勿論である。
機に適用した場合であるが、レベル(水準儀)など他の
測量機に適用してもよい。
受けることなく、高精度の距離測定が可能な光波測距儀
を提供することができる。また本発明によれば、距離測
定用の測距光を視準用ポインタとして使用する場合に、
ポインタの中心位置がわかりやすい光波測距儀を提供す
ることができる。
一の実施形態を示す系統接続図である。
検出ユニット、位相差方式焦点検出手段)の概念図であ
る。
る。 (b)(a)のA−A線で切断した切断面の光透過率分
布を示す図である。
である。 (b)円弧状NDフィルターの光透過率分布を示す図で
ある。
折縞を示す図である。
折縞を示す図である。
である。
る。
る。
第二の実施形態を示す系統接続図である。
して示す図である。 (b)円形透光部の光透過率分布を示す図である。
ートである。
第三の実施形態を示す系統接続図である。
す図である。
ートである。
第三の実施形態で備えられる、別態様の送光用NDフィ
ルターを示す図である。
1)
Claims (40)
- 【請求項1】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と;こ
の視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材を
介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの反
射光のうち前記反射部材でけられない反射光を受光する
受光系とを有する光波距離計と;を備えた光波測距儀で
あって、 前記送光系に、送光ビーム形状を定める透光部を有する
測距光用マスクを配置し、 この測距光用マスクの透光部に、該透光部のエッジ部の
光透過率が中央部の光透過率に比して低い濃度不均一フ
ィルターを設けたことを特徴とする光波測距儀。 - 【請求項2】 請求項1記載の光波測距儀において、濃
度不均一フィルターはNDフィルターからなる光波測距
儀。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の光波測距儀にお
いて、濃度不均一フィルターの光透過率は中心部からエ
ッジ部にかけてガウス分布をなしている光波測距儀。 - 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれか一項記載の
光波測距儀において、測距光用マスクの透光部形状は、
矩形、三角形、円形または楕円形である光波測距儀。 - 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれか一項記載の
光波測距儀において、さらに、前記測距光に回折縞を生
じさせる微小開口を有する回折マスクと、この回折マス
クを測距光路上に進出させるポインタモードとこの回折
マスクを測距光路から退避させる測距モードとを切替え
るモード切替手段とを備えた光波測距儀。 - 【請求項6】 請求項5記載の光波測距儀において、前
記回折マスクの微小開口の形状は、矩形、三角形、円形
または楕円形である光波測距儀。 - 【請求項7】 請求項5または6記載の光波測距儀にお
いて、前記送光系は、さらに、測距光の光量を調整する
送光用NDフィルターを備えている光波測距儀。 - 【請求項8】 請求項7記載の光波測距儀において、送
光用NDフィルターは、測距光軸と平行な回転軸を有す
る単一の回転円板と、この回転円板上の前記測距光軸が
通る半径位置に設けた、光透過率が周方向に徐々に変化
する円弧状NDフィルターとを有し、前記回転円板には
さらに、この円弧状NDフィルターと同一の半径位置
に、周方向位置を異ならせて前記回折マスクの微小開口
が備えられている光波測距儀。 - 【請求項9】 請求項8記載の光波測距儀において、測
距モード時は円弧状NDフィルターを測距光路上に進出
させ、ポインタモード時は回折マスクの微小開口を測距
光路上に進出させるように、前記回転円板を回転させる
マスク移動手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項10】 請求項9記載の光波測距儀において、
回折マスクの微小開口は異なる形状で複数設けられてお
り、前記マスク移動手段は、ポインタモード時に、該複
数の微小開口のいずれかを選択して測距光路上に進出さ
せる光波測距儀。 - 【請求項11】 請求項10記載の光波測距儀におい
て、測定対象物までの距離に応じて、前記マスク移動手
段を動作させる制御手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項12】 請求項10または11記載の光波測距
儀において、測距光学系を介してその焦点状態を検出す
る焦点検出手段と、この焦点検出手段による検出情報に
基づいて前記マスク移動手段を動作させる制御手段とを
備えた光波測距儀。 - 【請求項13】 請求項1ないし3のいずれか一項記載
の光波測距儀において、測距光用マスクの透光部形状
は、星型形状または十字形状である光波測距儀。 - 【請求項14】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と;
この視準望遠鏡の対物レンズの光軸上に測距光を送光す
る送光系と;を備えた光波測距儀であって、 前記送光系に、測距光に回折縞を生じさせる微小開口を
有する回折マスクを備えたことを特徴とする光波測距
儀。 - 【請求項15】 請求項14記載の光波測距儀におい
て、前記回折マスクの微小開口の形状は、矩形、三角
形、円形または楕円形である光波測距儀。 - 【請求項16】 請求項14または15記載の光波測距
儀において、回折マスクの微小開口は異なる形状で複数
設けられており、該複数の微小開口のいずれかを選択し
て測距光路上に進出させるマスク移動手段を備えた光波
測距儀。 - 【請求項17】 請求項16記載の光波測距儀におい
て、測定対象物までの距離に応じて、前記マスク移動手
段を動作させる制御手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項18】 請求項16記載の光波測距儀におい
て、測距光学系を介してその焦点状態を検出する焦点検
出手段と、この焦点検出手段による検出情報に基づいて
前記マスク移動手段を動作させる制御手段を備えた光波
測距儀。 - 【請求項19】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と;
この視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材
を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの
反射光のうち上記反射部材でけられない反射光を受光す
る受光系とを有する光波距離計と;測距モードとポイン
タモードとを切替えるモード切替手段と;を備えた光波
測距儀であって、 前記送光系に、測距光軸と平行な回転軸を有する単一の
回転円板を設け、 前記回転円板には、測距光軸が通る第一の偏心位置に、
測距光に回折縞を生じさせる微小開口を有する回折マス
ク部を設け、該回折マスク部が設けられた径方向位置と
は異なる第二の偏心位置に、送光ビーム形状を定める透
光部を有する測距光用マスク部を設け、 前記測距光用マスク部の透光部に、該透光部のエッジ部
の光透過率が中央部の光透過率に比して低い濃度不均一
フィルターを設け、 前記モード切替手段による測距モードとポインタモード
との切替に応じて、前記回転円板を回転させて、測距光
用マスク部と回折マスク部とを選択して測距光路上に進
出させることを特徴とする光波測距儀。 - 【請求項20】 請求項19記載の光波測距儀におい
て、濃度不均一フィルターはNDフィルターからなる光
波測距儀。 - 【請求項21】 請求項19または20記載の光波測距
儀において、濃度不均一フィルターの光透過率は中心部
からエッジ部にかけてガウス分布をなしている光波測距
儀。 - 【請求項22】 請求項19ないし21のいずれか一項
記載の光波測距儀において、測距光用マスクの透光部形
状は、矩形、三角形、円形または楕円形である光波測距
儀。 - 【請求項23】 請求項19ないし22のいずれか一項
記載の光波測距儀において、前記回折マスクの微小開口
の形状は、矩形、三角形、円形または楕円形である光波
測距儀。 - 【請求項24】 請求項19ないし23のいずれか一項
記載の光波測距儀において、測距光用マスク部の透光部
は同一形状で複数設けられ、該複数の透光部は光透過率
がそれぞれ異なっていて、前記モード切替手段によって
測距モードに切替られた場合は、前記複数の透光部のい
ずれかを選択して測距光路上に進出させるマスク移動手
段を備えた光波測距儀。 - 【請求項25】 請求項19ないし24のいずれか一項
記載の光波測距儀において、回折マスク部の微小開口は
異なる形状で複数設けられ、前記モード切替手段によっ
てポインタモードに切替られた場合は、該複数の微小開
口のいずれかを選択して測距光路上に進出させるマスク
移動手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項26】 請求項24または25記載の光波測距
儀において、測定対象物までの距離に応じて、前記マス
ク移動手段を動作させる制御手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項27】 請求項24または25記載の光波測距
儀において、測距光学系を介してその焦点状態を検出す
る焦点検出手段と、この焦点検出手段による検出情報に
基づいて前記マスク移動手段を動作させる制御手段とを
備えた光波測距儀。 - 【請求項28】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と;
この視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材
を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの
反射光のうち前記反射部材でけられない反射光を受光す
る受光系とを有する光波距離計と;測距モードとポイン
タモードとを切替えるモード切替手段と;を備えた光波
測距儀であって、 前記送光系に、測距光軸と平行な回転軸を有する単一の
回転円板を設け、 この回転円板には、測距光軸が通る同心円上に位置を異
ならせて、送光ビーム形状を定める透光部を有する測距
光用マスク部と、前記測距光に回折縞を生じさせる微小
開口を有する回折マスク部とを配置し、 前記測距光用マスク部の透光部に、該透光部のエッジ部
の光透過率が中央部の光透過率に比して低い濃度不均一
フィルターを設け、 さらに、 前記モード切替手段による測距モードとポインタモード
との切替に応じて、回転円板を回転させて、測距光用マ
スク部と回折マスク部とを選択して測距光路上に進出さ
せるマスク移動手段と、 測距モード時に、前記受光系が測定対象物からの反射光
を受光していない場合は、前記マスク移動手段を介して
回転円板を回転させて、前記測距用マスク部の透光部の
中心位置を測距光軸からずらす制御手段とを備えたこと
を特徴とする光波測距儀。 - 【請求項29】 請求項28記載の光波測距儀におい
て、濃度不均一フィルターはNDフィルターからなる光
波測距儀。 - 【請求項30】 請求項28または29記載の光波測距
儀において、濃度不均一フィルターの光透過率は中心部
からエッジ部にかけてガウス分布をなしている光波測距
儀。 - 【請求項31】 請求項28ないし30のいずれか一項
記載の光波測距儀において、測距光用マスクの透光部形
状は、矩形、三角形、円形または楕円形である光波測距
儀。 - 【請求項32】 請求項28ないし31のいずれか一項
記載の光波測距儀において、前記回折マスクの微小開口
の形状は、矩形、三角形、円形または楕円形である光波
測距儀。 - 【請求項33】 請求項28ないし32のいずれか一項
記載の光波測距儀において、測距光用マスク部の透光部
は同一形状で複数設けられ、該複数の透光部は光透過率
がそれぞれ異なっていて、前記モード切替手段によって
測距モードに切替られた場合は、前記複数の透光部のい
ずれかを選択して測距光路上に進出させるマスク移動手
段を備えた光波測距儀。 - 【請求項34】 請求項28ないし33のいずれか一項
記載の光波測距儀において、回折マスク部の微小開口は
異なる形状で複数設けられ、前記モード切替手段によっ
てポインタモードに切替られた場合は、前記複数の微小
開口のいずれかを選択して測距光路上に進出させるマス
ク移動手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項35】 請求項33または34記載の光波測距
儀において、測定対象物までの距離に応じて前記マスク
移動手段を動作させる制御手段を備えた光波測距儀。 - 【請求項36】 請求項33または34記載の光波測距
儀において、さらに、測距光学系を介してその焦点状態
を検出する焦点検出手段と、この焦点検出手段による検
出情報に基づいて前記マスク移動手段を動作させる制御
手段とを備えた光波測距儀。 - 【請求項37】 測定対象物を視準する視準望遠鏡と;
この視準望遠鏡の対物レンズの後方に位置する反射部材
を介して断面楕円形状の測距光を送光する送光系と、測
定対象物からの反射光のうち上記反射部材でけられない
反射光を受光する受光系とを有する光波距離計と;測距
モードとポインタモードとを切替えるモード切替手段
と;を備えた光波測距儀であって、 前記送光系に、測距光軸と平行な回転軸を有する単一の
回転円板を設け、 前記測距光が通る前記回転円板の偏心位置に、断面楕円
形状の測距光の長軸方向の両端部を遮光して中央部を透
光させる円弧状の測距光用マスク部と、この測距光用マ
スク部とは周方向位置を異ならせた、前記測距光に回折
縞を生じさせる微小開口を有する回折マスク部とを設
け、 前記円弧状の測距光用マスク部の透光部に、該透光部の
回転円板の径方向の両端エッジ部の光透過率が中央部の
光透過率に比して低く、かつ円周方向に全体の光透過率
が変化する濃度不均一フィルターを設け、 前記モード切替手段による測距モードとポインタモード
との切替に応じて、前記回転円板を回転させて、測距光
用マスク部と回折マスク部とを選択して測距光路上に進
出させることを特徴とする光波測距儀。 - 【請求項38】 請求項37記載の光波測距儀におい
て、測距光用マスク部は、測距光軸が通る第一の偏心位
置に設けられ、回折マスク部は、測距光用マスク部とは
径方向位置が異なる第二の偏心位置に設けられている光
波測距儀。 - 【請求項39】 請求項38記載の光波測距儀におい
て、濃度不均一フィルターはNDフィルターからなる光
波測距儀。 - 【請求項40】 請求項37ないし39のいずれか一項
記載の光波測距儀において、前記回折マスクの微小開口
の形状は、矩形、三角形、円形または楕円形である光波
測距儀。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010266212A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Nikon-Trimble Co Ltd | 測距装置 |
JP2013545976A (ja) * | 2010-10-25 | 2013-12-26 | 株式会社ニコン | 装置、光学アセンブリ、物体を検査又は測定する方法、及び構造体を製造する方法 |
CN104713581A (zh) * | 2013-12-13 | 2015-06-17 | 欧姆龙株式会社 | 反射型光电传感器 |
WO2015166711A1 (ja) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置、測距方法、及び測距プログラム |
WO2015166712A1 (ja) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置、測距方法、及び測距プログラム |
JP2017173173A (ja) * | 2016-03-24 | 2017-09-28 | 株式会社トプコン | 距離測定装置およびその校正方法 |
CN109974673A (zh) * | 2019-03-11 | 2019-07-05 | 中国人民解放军63883部队 | 多功能快速精瞄对点器 |
JP2021089266A (ja) * | 2019-11-25 | 2021-06-10 | 大日本印刷株式会社 | 検出装置 |
WO2023007694A1 (ja) * | 2021-07-30 | 2023-02-02 | 三菱電機株式会社 | 測距装置 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8407327B1 (en) * | 2004-03-25 | 2013-03-26 | Verizon Corporate Services Group Inc. | Network management using visual identifiers |
US20060028351A1 (en) * | 2004-08-09 | 2006-02-09 | Lewis James M | Docking monitor |
US20060038966A1 (en) * | 2004-08-20 | 2006-02-23 | Long Michael D | Apodizing filter |
US7791797B2 (en) * | 2006-09-29 | 2010-09-07 | The Aerospace Corporation | Peripheral filtering lens |
US20080287809A1 (en) * | 2007-04-24 | 2008-11-20 | Seiko Epson Corporation | Biological information measuring apparatus and biological information measuring method |
DE102007055771A1 (de) * | 2007-12-12 | 2009-06-18 | Hilti Aktiengesellschaft | Laserdistanzmesser |
EP3096157A1 (de) * | 2015-05-18 | 2016-11-23 | HILTI Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur optischen distanzmessung zu einem reflektierenden zielobjekt |
EP3096158A1 (de) | 2015-05-18 | 2016-11-23 | HILTI Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur optischen distanzmessung zu einem reflektierenden zielobjekt |
EP3096156A1 (de) | 2015-05-18 | 2016-11-23 | HILTI Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur optischen distanzmessung zu einem reflektierenden zielobjekt |
JP6788396B2 (ja) * | 2016-07-05 | 2020-11-25 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
EP3502617B1 (de) * | 2017-12-21 | 2021-10-20 | Leica Geosystems AG | Vermessungsgerät mit messstrahlhomogenisierung |
JP7113669B2 (ja) * | 2018-06-08 | 2022-08-05 | 株式会社クボタ | 作業車に搭載されるレーザレーダ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5921781U (ja) * | 1982-07-31 | 1984-02-09 | 旭光学工業株式会社 | 光波距離計 |
JPH07239448A (ja) * | 1994-03-01 | 1995-09-12 | Topcon Corp | レーザ測量器械 |
JPH08262138A (ja) * | 1995-03-24 | 1996-10-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光波測距装置および光波測距装置における光量制御方法 |
JP2001208845A (ja) * | 1999-11-17 | 2001-08-03 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
JP2001255459A (ja) * | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Asahi Optical Co Ltd | Af測距光学系 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4042822A (en) * | 1975-07-24 | 1977-08-16 | Rockwell International Corporation | Laser radar device utilizing heterodyne detection |
US5061062A (en) * | 1990-07-02 | 1991-10-29 | General Electric Company | Focus spot size controller for a variable depth range camera |
JPH04319687A (ja) | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計用光学系 |
US5200606A (en) * | 1991-07-02 | 1993-04-06 | Ltv Missiles And Electronics Group | Laser radar scanning system |
JPH05272967A (ja) | 1992-03-26 | 1993-10-22 | Topcon Corp | レーザー測量機 |
JP3531014B2 (ja) | 1994-06-22 | 2004-05-24 | 株式会社トプコン | レーザ照準装置 |
JP3708991B2 (ja) | 1994-12-28 | 2005-10-19 | ペンタックス株式会社 | インナーフォーカスの望遠鏡 |
JP3151595B2 (ja) | 1995-06-19 | 2001-04-03 | 株式会社ソキア | 同軸型光波測距計 |
US5831719A (en) * | 1996-04-12 | 1998-11-03 | Holometrics, Inc. | Laser scanning system |
JPH09318871A (ja) | 1996-05-28 | 1997-12-12 | Asahi Optical Co Ltd | 補助投光装置および焦点検出装置 |
US5923468A (en) | 1996-07-01 | 1999-07-13 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Surveying instrument having an automatic focusing device |
JP3569426B2 (ja) | 1997-12-05 | 2004-09-22 | ペンタックス株式会社 | 測量用反射部材 |
US6354010B1 (en) | 1998-04-23 | 2002-03-12 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Surveying instrument |
JPH11325887A (ja) | 1998-05-08 | 1999-11-26 | Asahi Optical Co Ltd | 自動焦点検出装置の分岐光学系 |
US6350975B1 (en) | 1998-05-08 | 2002-02-26 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Beam splitter for automatic focusing device |
JP3174551B2 (ja) | 1998-06-11 | 2001-06-11 | 旭光学工業株式会社 | 焦点調節レンズ位置検出装置 |
-
2001
- 2001-10-30 JP JP2001332060A patent/JP3892704B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-10-29 US US10/282,126 patent/US6747733B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-10-30 DE DE10250583A patent/DE10250583A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5921781U (ja) * | 1982-07-31 | 1984-02-09 | 旭光学工業株式会社 | 光波距離計 |
JPH07239448A (ja) * | 1994-03-01 | 1995-09-12 | Topcon Corp | レーザ測量器械 |
JPH08262138A (ja) * | 1995-03-24 | 1996-10-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光波測距装置および光波測距装置における光量制御方法 |
JP2001208845A (ja) * | 1999-11-17 | 2001-08-03 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
JP2001255459A (ja) * | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Asahi Optical Co Ltd | Af測距光学系 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010266212A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Nikon-Trimble Co Ltd | 測距装置 |
JP2013545976A (ja) * | 2010-10-25 | 2013-12-26 | 株式会社ニコン | 装置、光学アセンブリ、物体を検査又は測定する方法、及び構造体を製造する方法 |
US9625368B2 (en) | 2010-10-25 | 2017-04-18 | Nikon Corporation | Apparatus, optical assembly, method for inspection or measurement of an object and method for manufacturing a structure |
CN104713581A (zh) * | 2013-12-13 | 2015-06-17 | 欧姆龙株式会社 | 反射型光电传感器 |
CN104713581B (zh) * | 2013-12-13 | 2017-08-04 | 欧姆龙株式会社 | 反射型光电传感器 |
US9995825B2 (en) | 2014-05-02 | 2018-06-12 | Fujifilm Corporation | Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program |
WO2015166711A1 (ja) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置、測距方法、及び測距プログラム |
WO2015166712A1 (ja) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置、測距方法、及び測距プログラム |
JPWO2015166712A1 (ja) * | 2014-05-02 | 2017-04-20 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置、測距方法、及び測距プログラム |
JP2017173173A (ja) * | 2016-03-24 | 2017-09-28 | 株式会社トプコン | 距離測定装置およびその校正方法 |
CN109974673A (zh) * | 2019-03-11 | 2019-07-05 | 中国人民解放军63883部队 | 多功能快速精瞄对点器 |
CN109974673B (zh) * | 2019-03-11 | 2024-03-15 | 中国人民解放军63883部队 | 多功能快速精瞄对点器 |
JP2021089266A (ja) * | 2019-11-25 | 2021-06-10 | 大日本印刷株式会社 | 検出装置 |
JP7484380B2 (ja) | 2019-11-25 | 2024-05-16 | 大日本印刷株式会社 | 検出装置 |
WO2023007694A1 (ja) * | 2021-07-30 | 2023-02-02 | 三菱電機株式会社 | 測距装置 |
JPWO2023007694A1 (ja) * | 2021-07-30 | 2023-02-02 | ||
JP7311718B2 (ja) | 2021-07-30 | 2023-07-19 | 三菱電機株式会社 | 測距装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US20030107721A1 (en) | 2003-06-12 |
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