JPS60211382A - 校正光路を備える光波距離計 - Google Patents
校正光路を備える光波距離計Info
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- JPS60211382A JPS60211382A JP6806684A JP6806684A JPS60211382A JP S60211382 A JPS60211382 A JP S60211382A JP 6806684 A JP6806684 A JP 6806684A JP 6806684 A JP6806684 A JP 6806684A JP S60211382 A JPS60211382 A JP S60211382A
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- optical path
- optical system
- lens
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は送出光と反射光とを用いて光学的に距離を測定
する光波距離計に関する。
する光波距離計に関する。
背景技術とその問題点
一般にこの種の光波距離計は、小型化のために送光光学
系と受光光学系とを同軸配置したものが多い。送光量よ
りも反射光量が大巾に少ないので、大口径受光レンズ（
対物レンズ）を必要とし、従って、送光光学系は対物レ
ンズ鏡筒内に同軸配置されるのが常である。
系と受光光学系とを同軸配置したものが多い。送光量よ
りも反射光量が大巾に少ないので、大口径受光レンズ（
対物レンズ）を必要とし、従って、送光光学系は対物レ
ンズ鏡筒内に同軸配置されるのが常である。
ところが光波距離計として、より長い測距性能や測点に
反射器を置かない直接測距性能力が要求される場合、送
光系の光源出力を大きくし、また受光素子の感度を大に
する必要が生ずる。
反射器を置かない直接測距性能力が要求される場合、送
光系の光源出力を大きくし、また受光素子の感度を大に
する必要が生ずる。
このような場合、送光光源の出力を強化すると、対物レ
ンズ内側面や鏡筒内面などを経てわずがな機械内反射光
が受光素子に迷光として受光され、測定値に大きな誤差
が生ずる。また受光素子の惑度を上げると、受光素子が
発光源からの電気的誘導を受け易くなり、測定誤差の原
因となる。
ンズ内側面や鏡筒内面などを経てわずがな機械内反射光
が受光素子に迷光として受光され、測定値に大きな誤差
が生ずる。また受光素子の惑度を上げると、受光素子が
発光源からの電気的誘導を受け易くなり、測定誤差の原
因となる。
更に、光波距離計の測距性能を増強するには、上述の誤
差要因に対処する外に校正光学系による校正（キャリブ
レーション）をより正確にしなければならない。校正光
学系は、測定点からの反射を介在させずに発光源の光を
鏡筒内において受光素子に直接導入する光学系であって
、この校正光により、装置内の光路長及び電気回路の位
相変化に基く測距誤差を除去する修正演算をけうことが
できる。
差要因に対処する外に校正光学系による校正（キャリブ
レーション）をより正確にしなければならない。校正光
学系は、測定点からの反射を介在させずに発光源の光を
鏡筒内において受光素子に直接導入する光学系であって
、この校正光により、装置内の光路長及び電気回路の位
相変化に基く測距誤差を除去する修正演算をけうことが
できる。
校正光学系は、測定用光学系と物理条件が返信している
のが望ましいが、現実には、鏡筒内において発光源の送
出光の一部をプリズムやミラー等の反射器又はオプティ
カルファイバー等を使って受光素子に導入するようにし
ているので、正確な校正が期待出来ない。
のが望ましいが、現実には、鏡筒内において発光源の送
出光の一部をプリズムやミラー等の反射器又はオプティ
カルファイバー等を使って受光素子に導入するようにし
ているので、正確な校正が期待出来ない。
発明の目的
本発明は上述の問題にかんがみ、送光光学系と受光光学
系との光学的及び電気的分離を確実にし、あわせて校正
光学系の物理条件を測定光学系に近づけることにより、
より高性能で測距誤差が少ない光波距離計を得ることを
目的とする。
系との光学的及び電気的分離を確実にし、あわせて校正
光学系の物理条件を測定光学系に近づけることにより、
より高性能で測距誤差が少ない光波距離計を得ることを
目的とする。
実施例
以下本発明の構成を実施例に基いて説明する。
第１図は本発明を適用した光波距離計の縦断面図である
。
。
第１図において、外筒ｌ （本体鏡筒）内には大口径の
受光レンズ２が取付けられ、その後方光軸上の焦点には
受光素子３及び検出回路４が設けられている。受光レン
ズ２の前方における外筒ｌの開口端には平行ガラス板５
が嵌め込まれている。
受光レンズ２が取付けられ、その後方光軸上の焦点には
受光素子３及び検出回路４が設けられている。受光レン
ズ２の前方における外筒ｌの開口端には平行ガラス板５
が嵌め込まれている。
この平行ガラス板５の内側面における光軸中心には、光
軸に対して４５度を成す斜面８を有する直角プリズム６
が貼付けられている。そして外筒１の外側に設けられた
送光部７からの送出光９が平行ガラス板５と平行に直角
プリズム６の斜面８に入射され、全反射又は鏡面反射に
よって直角に折り曲げられて、平行ガラス板５を通して
測定点に向かって導出される。
軸に対して４５度を成す斜面８を有する直角プリズム６
が貼付けられている。そして外筒１の外側に設けられた
送光部７からの送出光９が平行ガラス板５と平行に直角
プリズム６の斜面８に入射され、全反射又は鏡面反射に
よって直角に折り曲げられて、平行ガラス板５を通して
測定点に向かって導出される。
送光部７は外筒１の側部に取付けられたハウジング１０
内に収容されていて、送出光９の発光源である発光素子
１１、その駆動回路１２及びコリメータレンズ１３を備
えている。発光素子１１がらの光はコリメータレンズ１
３で平行光束に直され、外筒ｌに形成された孔１４を介
して前記の直角プリズム６の斜面８に入射される。
内に収容されていて、送出光９の発光源である発光素子
１１、その駆動回路１２及びコリメータレンズ１３を備
えている。発光素子１１がらの光はコリメータレンズ１
３で平行光束に直され、外筒ｌに形成された孔１４を介
して前記の直角プリズム６の斜面８に入射される。
平行ガラス板５を通して測定点に向がって導出された送
出光８は、測定点上の反射物に当たって反射される。反
射光１５は、平行ガラス板５を通って受光レンズ２に入
射され、受光素子３に集光される。受光素子３の光電変
換出力は検出回路４に入力され、位相検出によって測定
点までの距離が算出される。
出光８は、測定点上の反射物に当たって反射される。反
射光１５は、平行ガラス板５を通って受光レンズ２に入
射され、受光素子３に集光される。受光素子３の光電変
換出力は検出回路４に入力され、位相検出によって測定
点までの距離が算出される。
なお送光光路には絞り１７が介在され、絞り調整モータ
１８によって駆動ギヤ１９を介して絞り１７が回動され
ることにより、送出光の光量調整が行われる。
１８によって駆動ギヤ１９を介して絞り１７が回動され
ることにより、送出光の光量調整が行われる。
以上の構成によれば、送光光学系と受光光学系とが直交
し、また受光レンズの前方に送光光学系が位置するので
、相互の光学的干渉を著しく減小させることができる。
し、また受光レンズの前方に送光光学系が位置するので
、相互の光学的干渉を著しく減小させることができる。
つまり従来の受光レンス２の後方に送光光学系を配置し
た構成のように受光レンズ２の内側面や外筒１の内側面
からの反射光が迷光（漏れ光）として受光素子３に入射
することが無くなり、発光素子１１の出力を増強するが
、或いは受光素子３の感度を上げることにより、測距限
界を延長し、又分解能を高めることができる。
た構成のように受光レンズ２の内側面や外筒１の内側面
からの反射光が迷光（漏れ光）として受光素子３に入射
することが無くなり、発光素子１１の出力を増強するが
、或いは受光素子３の感度を上げることにより、測距限
界を延長し、又分解能を高めることができる。
また受光部と送光部７とは夫々外筒ｌ及びハウジング１
０によって電気的にも分離し得る。このため駆動回路１
２内のキャリア発振器などからの放射電界を遮へいする
ことができ、従って受光素子３及び検出回路４への電気
的誘導を排除して、より高出力の受光又はより高感度の
受光が可能となる。
０によって電気的にも分離し得る。このため駆動回路１
２内のキャリア発振器などからの放射電界を遮へいする
ことができ、従って受光素子３及び検出回路４への電気
的誘導を排除して、より高出力の受光又はより高感度の
受光が可能となる。
また送光部７を受光系外筒１外に配置しているので、受
光レンズ２の有効面積が送光部７の駆動回路１２等によ
って妨害されて減少することが無く、従って従来と同じ
光量の送出光を用いて受光感度をより高めることが可能
である。
光レンズ２の有効面積が送光部７の駆動回路１２等によ
って妨害されて減少することが無く、従って従来と同じ
光量の送出光を用いて受光感度をより高めることが可能
である。
しかも第１図のように送出光８の光束径を受光レンズ径
に対して十分に小さく絞り込むことが可能である。これ
は測定点に反射プリズムを置かないような所謂ダイレク
ト測距の場合に有効である。
に対して十分に小さく絞り込むことが可能である。これ
は測定点に反射プリズムを置かないような所謂ダイレク
ト測距の場合に有効である。
即ち、測定点に反射プリズムを置く場合には、反射光は
送出光とほぼ同じ径の平行光束であるが、ダイレクト測
距の場合には、第２図に示すように、被測定物２０に当
たった平行送出光９は、反射後に発散（乱反射）して反
射光１５として受光レンズ２に入射する。従って送出光
８の光束径を小さくして、被測定物２０に当てる光エネ
ルギーの分散をより少なくすると共に、有効面積の大き
い受光レンズ２によって発散した反射光１５を効率良く
集めることにより、高分解能のダイレクト測距が可能と
なる。
送出光とほぼ同じ径の平行光束であるが、ダイレクト測
距の場合には、第２図に示すように、被測定物２０に当
たった平行送出光９は、反射後に発散（乱反射）して反
射光１５として受光レンズ２に入射する。従って送出光
８の光束径を小さくして、被測定物２０に当てる光エネ
ルギーの分散をより少なくすると共に、有効面積の大き
い受光レンズ２によって発散した反射光１５を効率良く
集めることにより、高分解能のダイレクト測距が可能と
なる。
反射光１５が平行光束でないようなダイレクト測距を行
う場合、受光レンズ２と受光素子３との間に介在させた
補正レンズ２１を調整することにより、受光素子３の入
射光量を最大にすることができ、よりＳ／Ｎの高い測距
情報を得ることができる。これは特に数ｍ〜十数ｍの至
近距離を測定する場合に有効であって、反射光１５を受
光レンズ２で収束させ、更に補正レンズ２１の光軸方向
位置を調整することにより、受光素子３の光電変換面に
おいて合焦させることができる。補正レンズ２１は外筒
１の外から位ＩＦ４ｍ整可能になっていて、例えば受光
レベルの表示器を見ながら調整操作することにより、或
いは予め機械的に距離目盛を刻んだ位置に合わせること
により、合焦状態を得ることができる。
う場合、受光レンズ２と受光素子３との間に介在させた
補正レンズ２１を調整することにより、受光素子３の入
射光量を最大にすることができ、よりＳ／Ｎの高い測距
情報を得ることができる。これは特に数ｍ〜十数ｍの至
近距離を測定する場合に有効であって、反射光１５を受
光レンズ２で収束させ、更に補正レンズ２１の光軸方向
位置を調整することにより、受光素子３の光電変換面に
おいて合焦させることができる。補正レンズ２１は外筒
１の外から位ＩＦ４ｍ整可能になっていて、例えば受光
レベルの表示器を見ながら調整操作することにより、或
いは予め機械的に距離目盛を刻んだ位置に合わせること
により、合焦状態を得ることができる。
補正レンズ２１は、規準望遠鏡の合焦調整部に機械的に
連動関係になっているのが望ましい。規準望遠鏡は外筒
ｌに沿って外側に取付けられた鏡筒２３内に収容されて
いる。この望遠鏡に外光を導入するために、送受光系の
平行ガラス板５の内側面中心に貼付けられた直角プリズ
ム６の斜面８には、更にもう一つの直角プリズム２４が
貼付けられている。この直角プリズム２４を貼付けた場
合には、直角プリズム６の斜面８における全反射性能が
失われるので、この場合には、プリズム６及び２４の接
合面である一方側の斜面８にコーティングを施して斜面
８を半透鏡として使用してし）る。コーテイング材とし
ては、外部からの可視光は通過するが、発光素子１１
（発光ダイオードや半導体レーザなど）から放出される
特定の波長の光に対しては斜面８において９５％以上の
鏡面反射が生ずるような材料が選ばれている。
連動関係になっているのが望ましい。規準望遠鏡は外筒
ｌに沿って外側に取付けられた鏡筒２３内に収容されて
いる。この望遠鏡に外光を導入するために、送受光系の
平行ガラス板５の内側面中心に貼付けられた直角プリズ
ム６の斜面８には、更にもう一つの直角プリズム２４が
貼付けられている。この直角プリズム２４を貼付けた場
合には、直角プリズム６の斜面８における全反射性能が
失われるので、この場合には、プリズム６及び２４の接
合面である一方側の斜面８にコーティングを施して斜面
８を半透鏡として使用してし）る。コーテイング材とし
ては、外部からの可視光は通過するが、発光素子１１
（発光ダイオードや半導体レーザなど）から放出される
特定の波長の光に対しては斜面８において９５％以上の
鏡面反射が生ずるような材料が選ばれている。
従って測定点からの外光２５は、平行ガラス板５、プリ
ズム６を通り、その斜面８のコーテイング膜を透過し、
更に直角プリズム２４の反対側の斜面２６にて全反射さ
れ、外筒ｌに形成された孔２７を通して望遠鏡筒２３の
前端部に配設された直角プリズム２８に入射される。こ
の直角プリズム２８で更に９０度折り曲げられた外光は
、望遠鏡の対物レンズ２９、正立レンズ３０．３１を通
り、接眼レンズ系３２に導びかれる。
ズム６を通り、その斜面８のコーテイング膜を透過し、
更に直角プリズム２４の反対側の斜面２６にて全反射さ
れ、外筒ｌに形成された孔２７を通して望遠鏡筒２３の
前端部に配設された直角プリズム２８に入射される。こ
の直角プリズム２８で更に９０度折り曲げられた外光は
、望遠鏡の対物レンズ２９、正立レンズ３０．３１を通
り、接眼レンズ系３２に導びかれる。
接眼レンズ系３２の一部のレンズ３３は通常の望遠鏡の
ように光軸方向に位置調整可能であり、その調整により
合焦状態を得て、′光波距離計の光軸を被測定物の測定
中心点に正しく合わせることができる。
ように光軸方向に位置調整可能であり、その調整により
合焦状態を得て、′光波距離計の光軸を被測定物の測定
中心点に正しく合わせることができる。
既述の如くにこの接眼レンズ系３２のレンズ３３の調整
操作機構と受光系の補正レンズ２１の調整機構とを第１
図の点線３４で示すように機械的に連動させることによ
り、非常に使い謄手のよい距離計を得ることができる。
操作機構と受光系の補正レンズ２１の調整機構とを第１
図の点線３４で示すように機械的に連動させることによ
り、非常に使い謄手のよい距離計を得ることができる。
即ち、規準望遠鏡の接眼レンズ調整により被測定物に正
しく規準させれば、受光光学系補正レンズ２１も自′動
的にほぼ合焦位置に移動され、受光素子３において最大
感度の受光を行うことができる。
しく規準させれば、受光光学系補正レンズ２１も自′動
的にほぼ合焦位置に移動され、受光素子３において最大
感度の受光を行うことができる。
第１図の実施例に示す規準光学系によれば、規準光学系
の光軸と測定光学系の光軸とを一敗させることができる
ので、正確な規準が可能である。
の光軸と測定光学系の光軸とを一敗させることができる
ので、正確な規準が可能である。
また受光レンズ２の前方に規準光学系のためのプリズム
２４が置かれているから、受光光学系を妨害することが
少ない。つまり受光レンズ２の後方に規準光学系のため
のプリズムを置けば、入射外光が受光レンズ２で収束さ
れた分だけ受光素子３への妨害度は増えることになる。
２４が置かれているから、受光光学系を妨害することが
少ない。つまり受光レンズ２の後方に規準光学系のため
のプリズムを置けば、入射外光が受光レンズ２で収束さ
れた分だけ受光素子３への妨害度は増えることになる。
また規準光学系に受光レンズ２ （対物レンズ）が介在
されないから、規準像が歪むことが少ない。
されないから、規準像が歪むことが少ない。
更に、第１図の実施例では、上述の規準光学系の直角プ
リズム２４を利用して校正光路を構成している。校正光
学系は、測定点からの反射を介在させずに発光源の光を
鏡筒内において受光素子に直接導入する光学系であって
、この校正光により、装置内の光路長及び電気回路の位
相変化に基く測距誤差を除去する修正演算を行うことが
できる。
リズム２４を利用して校正光路を構成している。校正光
学系は、測定点からの反射を介在させずに発光源の光を
鏡筒内において受光素子に直接導入する光学系であって
、この校正光により、装置内の光路長及び電気回路の位
相変化に基く測距誤差を除去する修正演算を行うことが
できる。
校正光路はハウジング１０内において送光光路に２回反
射形の菱形プリズム３６が介在されることによって構成
される。この菱形プリズム３６は回転シャッター板３７
上に取付けられていて、測距時には送出光９が回転シャ
ッター板３７の孔を透過し、また校正時にはシャッター
モータ３８によって回転シャッター板３７が回転されて
、菱形プリズム３６が送光光路中に介在されるようにな
っている。
射形の菱形プリズム３６が介在されることによって構成
される。この菱形プリズム３６は回転シャッター板３７
上に取付けられていて、測距時には送出光９が回転シャ
ッター板３７の孔を透過し、また校正時にはシャッター
モータ３８によって回転シャッター板３７が回転されて
、菱形プリズム３６が送光光路中に介在されるようにな
っている。
校正時には、送光素子１１からの光がコリメータレンズ
１８を経て菱形プリズム３６に入射され、２回反射によ
って送光光軸に対して光路が平行移動される。菱形プリ
ズム３６の出射光は、外筒１に送光系の孔１４に隣接し
て形成された孔３９を通して規準系の直角プリズム２４
の斜面２６に入射され、ここで９０度折り曲げられてか
ら受光レンズ２の光軸中心部を通して受光素子３に導び
かれる。これにより装置内において発光素子１１がら受
光素子３に至る直接の校正光路４０ （点線）が形成さ
れ、必要な校正演算を行うことができる。
１８を経て菱形プリズム３６に入射され、２回反射によ
って送光光軸に対して光路が平行移動される。菱形プリ
ズム３６の出射光は、外筒１に送光系の孔１４に隣接し
て形成された孔３９を通して規準系の直角プリズム２４
の斜面２６に入射され、ここで９０度折り曲げられてか
ら受光レンズ２の光軸中心部を通して受光素子３に導び
かれる。これにより装置内において発光素子１１がら受
光素子３に至る直接の校正光路４０ （点線）が形成さ
れ、必要な校正演算を行うことができる。
なお規準系の直角プリズム２４の斜面２６を反射面とし
て利用するために、斜面２６にはコーティングが施され
ている。規準光路では直角プリズム２４の斜面２６を全
反射面として利用しているから、斜面２６のコーティン
グが規準系に影響を与えることはない。直角プリズム２
４の側斜面８．２６のコーテイング材は同種のものであ
ってよい。
て利用するために、斜面２６にはコーティングが施され
ている。規準光路では直角プリズム２４の斜面２６を全
反射面として利用しているから、斜面２６のコーティン
グが規準系に影響を与えることはない。直角プリズム２
４の側斜面８．２６のコーテイング材は同種のものであ
ってよい。
この校正光路では、直角プリズム２４を規準光路と兼用
しているから、構成が簡単であり、また製造組立時の光
路調整作業も容易である。また送光系のコリメータレン
ズ１３及び受光系の受光し □ンズ２が共に校正光路に
含まれるような構成であるから、校正光路が測定光学系
の物理条件により近くなり、従って校正を正確にして測
距精度を向上させることができる。この結果、第１図の
構成において高出力発光素子１１及び高感度受光素子３
を用いて測長限界を延ばしても、高い測距精度を得るこ
とができる。
しているから、構成が簡単であり、また製造組立時の光
路調整作業も容易である。また送光系のコリメータレン
ズ１３及び受光系の受光し □ンズ２が共に校正光路に
含まれるような構成であるから、校正光路が測定光学系
の物理条件により近くなり、従って校正を正確にして測
距精度を向上させることができる。この結果、第１図の
構成において高出力発光素子１１及び高感度受光素子３
を用いて測長限界を延ばしても、高い測距精度を得るこ
とができる。
発明の効果
本発明は上述の如く、受光レンズの前方に平行ガラス板
を配置し、その内側面に光軸に対して４５度を成す外向
き反射面及び内向き反射面を設けて、この外向き反射面
に向かって測定光を導出して測定光を外に送出すると共
に、光源の光が上記内向き反射面に入射するように光路
を変更して測定光が受光レンズを介して直接に受光素子
に導入されるようにした校正光学系を設けたものである
。
を配置し、その内側面に光軸に対して４５度を成す外向
き反射面及び内向き反射面を設けて、この外向き反射面
に向かって測定光を導出して測定光を外に送出すると共
に、光源の光が上記内向き反射面に入射するように光路
を変更して測定光が受光レンズを介して直接に受光素子
に導入されるようにした校正光学系を設けたものである
。
この構成により、送光光学系と受光光学系とを光学的及
び電気的にほぼ完全に分離できるから、迷光や電気的誘
導によって測長誤差が増えることがなく、従って高出力
発光素子や高感度受光素子を用いて、測長距離がより長
くしかも測長精度がより高い光波距離計が得られる。ま
た受光光学系の像空間が送光光学系によって妨害される
度合いも少ないから、受光レンズの径を有効に使ってよ
り高感度の測距を行うことができる。
び電気的にほぼ完全に分離できるから、迷光や電気的誘
導によって測長誤差が増えることがなく、従って高出力
発光素子や高感度受光素子を用いて、測長距離がより長
くしかも測長精度がより高い光波距離計が得られる。ま
た受光光学系の像空間が送光光学系によって妨害される
度合いも少ないから、受光レンズの径を有効に使ってよ
り高感度の測距を行うことができる。
また校正光路中に受光レンズが介在されるので、校正光
学系の物理条件が測定光学系に近づき、より精度を上げ
ることができる。
学系の物理条件が測定光学系に近づき、より精度を上げ
ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す光波距離計の縦断面図
、第２図は測定点における光路図である。 なお図面に用いられた符号において、 １−−−−−−−−−−−−−−−−一外筒２−−−−
−−−−−−〜受光レンズ ３−−−−−−−−−−−−−−−−一受光素子４−・
−−−−一−−−−−−−検出回路５−＝−一−−〜−
−−−−〜−−平行ガラス板６−−−−＝−−−−〜−
＝−・ 直角プリズム７−−−−−−−−−−−−−送
光部 ８−一−−＝〜−−−−−−・−−−−−斜面９−−−
−−−−−・・・−−−−−・・−送出光１０−−−−
−・−−−−−−・・ハウジング１１−・・−・−・−
−−−−−−一発光素子１３−−−−−・−・・・−コ
リメータレンズ１４−・−・・・・−・・・孔 １５−・・−−−−−・・−・−−−−一反射光２０・
・−−−−−−・・・−−−−−・・−被測定物２１−
−−−−−−・−・−−−−−−−一補正レンズ２４−
・−一−−−−−・−−−−−・・直角プリズム２５−
−−−・・−・−・・−−−−一外光２６−−−−−−
−−・−−−−一一一斜面２９−・・−−−−−・−・
・−−−−一対物レンズ３６・−−−一−−・−・・−
−−−一・−菱形プリズム３７・・−−−一一一−−−
−−−−−−−−回転シャソター板４０・−−−−一−
・・−・−・−・−校正光路である。 代理人 上屋 勝 〃 常包芳男
、第２図は測定点における光路図である。 なお図面に用いられた符号において、 １−−−−−−−−−−−−−−−−一外筒２−−−−
−−−−−−〜受光レンズ ３−−−−−−−−−−−−−−−−一受光素子４−・
−−−−一−−−−−−−検出回路５−＝−一−−〜−
−−−−〜−−平行ガラス板６−−−−＝−−−−〜−
＝−・ 直角プリズム７−−−−−−−−−−−−−送
光部 ８−一−−＝〜−−−−−−・−−−−−斜面９−−−
−−−−−・・・−−−−−・・−送出光１０−−−−
−・−−−−−−・・ハウジング１１−・・−・−・−
−−−−−−一発光素子１３−−−−−・−・・・−コ
リメータレンズ１４−・−・・・・−・・・孔 １５−・・−−−−−・・−・−−−−一反射光２０・
・−−−−−−・・・−−−−−・・−被測定物２１−
−−−−−−・−・−−−−−−−一補正レンズ２４−
・−一−−−−−・−−−−−・・直角プリズム２５−
−−−・・−・−・・−−−−一外光２６−−−−−−
−−・−−−−一一一斜面２９−・・−−−−−・−・
・−−−−一対物レンズ３６・−−−一−−・−・・−
−−−一・−菱形プリズム３７・・−−−一一一−−−
−−−−−−−−回転シャソター板４０・−−−−一−
・・−・−・−・−校正光路である。 代理人 上屋 勝 〃 常包芳男
Claims (1)
- 受光レンズ及びその光軸焦“点位置に置かれた受光部を
鏡筒内に収容して成る受光光学系と、上記受光レンズの
光軸前方において上記鏡筒の開口端部に嵌め込まれた平
行ガラス板と、この平行ガラス板の内側の光軸中心にお
いて光軸に対して略４５度を成すように光軸前方に向け
て付設された外向き反射面と、上記外向き反射面の背後
で光軸に対して略４５度を成すように光軸後方に向けて
付設された内向き反射面と、上記鏡筒外から上記外向き
反射面に向けて送出光を導出して上記平行ガラス板を介
して上記送出光を対象物に送出するようにした送光光学
系と、挿脱自在の光路変更手段を上記送光光学系に介在
させることによって送出光を上記内向き反射面に向けて
導出させて上記受光レンズを介して上記受光素”子に収
束させるようにした校正光学系とを具備することを特徴
とする校正光路を備える光波距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6806684A JPS60211382A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 校正光路を備える光波距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6806684A JPS60211382A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 校正光路を備える光波距離計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60211382A true JPS60211382A (ja) | 1985-10-23 |
| JPH027035B2 JPH027035B2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=13363027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6806684A Granted JPS60211382A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 校正光路を備える光波距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60211382A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5208642A (en) * | 1992-04-29 | 1993-05-04 | Optec Co. Ltd. | Electro-optical distance meter |
| JP2014149171A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JP2017090128A (ja) * | 2015-11-05 | 2017-05-25 | 船井電機株式会社 | 測定装置 |
-
1984
- 1984-04-05 JP JP6806684A patent/JPS60211382A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5208642A (en) * | 1992-04-29 | 1993-05-04 | Optec Co. Ltd. | Electro-optical distance meter |
| JP2014149171A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JP2017090128A (ja) * | 2015-11-05 | 2017-05-25 | 船井電機株式会社 | 測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH027035B2 (ja) | 1990-02-15 |
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