JPH02214290A - 広帯域電気通信交換局にオプチカルラインを接続するためのシステム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ＢＩＳＤＮ通信網もしくは遠隔配線交換網の
ような広帯域マルチサービス通信網において、加入者と
交換局との間の接続を行う配線用オプチカルライン、並
びに交換局相互間の接続を行う中継用オプチカルライン
を交換局に接続するためのシステムに係わる０本発明の
システムでは、オプチカルラインの検査が自動的に行わ
れ且つ故障ジャンクタを予備ジャンクタと交換すること
ができる。

１吸へＩＬ 配線又は中継に使用されるオプチカルラインは呼の２つ
の方向に係わる信号を２つの異なる光波長によって伝搬
し、２つの光ファイバか又は単一の光ファイバで構成さ
れる。

前者の場合は、各光ファイバが夫々呼のいずれか一方向
の信号を伝搬し、その一端がレーザ等の光電子工学的構
成部分を含む送信回路に直接接続され、他端がＰＩＮダ
イオード等の光電子工学的構成部分を含む受信回路に直
接接続される。尚、前記送信回路及び受信回路は、交換
局のラインジャンクタ、加入者宅の端末装置又は中継局
のジャンクタの光電子工学的インタフェースを構成する
線の同一端部に配置されている。

後者の場合、即ちオプチカルラインが単一の光ファイバ
からなる場合には、この光ファイバが呼の両方向の信号
を伝搬し、その両端がオプチカルデュプレクサに接続さ
れる。このデュプレクサの残りの２つの出力のうち一方
は、交換局のジャンクタ、加入者宅の端末装置又は中継
ジャンクタの送信回路に接続され、他方は受信回路に接
続される。

オプチカルラインとその両端に接続されたインタフェー
ス回路は全体で１つのリンクを構成する。

リンクの構成部分のいずれかに欠陥があるとそのリンク
は使用不能になり、従ってサービスが中断される。この
中断の長さは、欠陥の検出に必要な時間及び修復に必要
な時間によって決まる。

広帯域マルチサービス通信網は、他の総ての電気通信網
と同様に、前記リンクを極めて多数使用する。リンクの
単位故障率は低いが、リンクの数が多くなれば、検出及
び分析を必要とするだけでなく高品質のサービスを提供
するために修繕も必要とする故障の数がそれだけ多くな
る。

保守操作を即時行う必要を最小限に抑えながらリンクの
故障を検出し欠陥を修復する装置は、全体でリンク安全
機構を構成する。

ジャンクタ毎に一対ずつ接続された銅線からなる加入者
電話線の安全機構は公知の問題の１つであり、これまで
にも、線に挿入された電気機械的リレーを使用して、制
御回路の制御下で線及びジャンクタをテスト装置に接続
し且つ線を予備ジャンクタに接続すべく機能する回路が
多数開示されてきた。

例えば、仏画特許ＦＲ−＾−２５０３５００（米国特許
ＵＳＡ−４４５１７０８に対応〉に記載の加入者端末装
置安全回路は、交換局で少なくとも１つの予備端末が又
は複数の予備端末からなるユニットを使用するものであ
り、これらの端末装置が加入者線とテスト装置とを相互
接続するトランクに分離回路を介して接続され、いずれ
かの故障端末装置のテストト之ンク接続リレーの切替え
が、又は故障端末装置を含むユニットの端末装置のテス
トトランク接続リレーの切替えによって、テストトラン
クに接続された加入者線に対応する端末装置のいずれか
にとって代わることができるようになっている。

また、仏国特許ＦＲ−＾−２５５５３８８（米国特許Ｕ
Ｓ−＾４５９４７０４）に記載のデジタル集信機内加入
者端末装置安全回路は、集信機内で、夫々が加入者線グ
ループに１つずつ対応する複数のテストトランクに接続
し得る線テストバス及び端末装置テストバスの他に、加
入者線テストトランクに接続されて、故障端末装置を有
する線グループの加入者線のいずれかを別の線グループ
につながった一連の端末装置のうちのいずれかの装置に
接続する機能を果たす予備バスも使用する。この端末装
置は加入者線には接続されず、予備端末装置として使用
される。

これら先行技術の安全回路は、予備装置及びテスト装置
の接続手段を制御する手段も含む。

前記した先行特許に記載の装置及び手段は明らかに銅線
使用技術゛に特異的なものであり、オプチカルラインを
使用する場合にそのまま使用したり又は簡単に応用した
りすることはできない。なぜなら、オプチカルラインは
特に回路の接続及び挿入時に応力を受けるが、銅線の場
合にはこのような応力が存在しないからである。

また、これらの先行技術の回路は、呼の時間が比較的短
く且つ回線のすいている時間が長いという特徴をもつ電
話サービスに関しては経済的観点から見て最適であるが
、線の使用率が高く且つサービスによっては呼の時間が
比較的長くなるマルチサービスシステムの場合には大き
な問題となる構造上の特徴を有する。即ち、テスト装置
への接続及び予備手段への接続に共通の部材を使用する
ため、一連の線（線グループ）又は予備ジャンクタに接
続された線を含む線端末ユニットを検査する時に、その
線を予備手段から切断しなければならない、即ちその線
の使用を中断しなければならない。

その他、特に長距離伝送用のものとして、オプチカルリ
ンク安全システムも知られている。この安全システムは
、各線に接続された多数のインタフェース用光電子工学
的構成部分からなり、これらの構成部分が機械的に移動
する切替え手段を介して線に接続される。

特に、本出願人は、仏国特許ＰＲ−＾−２５２８５８６
（英国特許ＧＢ−＾−２１２２３７１）で、「光学的切
替え装置」を提案した。この装置は、光ファイバの一端
で４つのダイオードから１つを選択できるようになって
おり、２つの光学的切替えスイッチを含む第１切替え段
と、受動的Ｙカップラからなる結合段とを含む。本出願
人はまた、仏国特許ＰＲ−＾−２６０２０６１（米国特
許ＵＳ−Ａ−４７５９５９７）で、「光ファイバ用の機
械的スイッチ」も開示した。これは、本出願人の前記仏
国特許に記載の装置の切替え段に使用するのに適したス
イッチである。

このタイプのシステムは、技術的及び経済的理由から、
多数のリンクの安全機構としては使用できない、即ち、
大きさが大きいという問題の他に、インタフェース用光
電子工学的構成部分の欠陥、しか防護できないため、リ
ンクの電子回路の欠陥を除去するためには別の装置を使
用しなければならないという問題も有する。

本発明の目的は、オプチカルラインを交換機に接続する
ためのシステムであって、 線及びジャンクタの検査、特に線及びジャンフタに含ま
れた光学的手段及び光電子工学的手段の検査が自動的手
段によって行われ、予備ジャンクタに接続された線の検
査、及び線に接続された又は接続されていない予備ジャ
ンクタの検査を、残りの線の使用を中断せずに行うこと
ができ、 故障していると思われる線だけを予備ジャンフタに接続
することができ、 テスト装置の自己検査が可能であり、 オプチカルリンクの伝送バジェットをその動作状態に係
わりなく、即ち公称動作状態でも、テスト状態でも、又
は予備ジャンクタに接続された状態でも劣化させること
がないため、通常線に接続されているジャンクタと同一
タイプの予備ジャンクタを使用することができると共に
、ジャンクタで使用されているものと同じ光電子工学的
構成部分を含むテスト回路を使用することができ、大き
さ及びモジュール化が、サイズが様々で時と共に変化す
る交換機に使用できるように選択されており、且つ コストも最適化されているシステムを提供することにあ
る。

１吐へＵ 本発明は、例えばＢＩＳＤＮ通信網及び交換遠隔配線通
信網のような広帯域マルチサービス通信網において、加
入者用オプチカルラインと中継用オプチカルラインとを
交換局に接続するためのシステムに係わる。加入者につ
ながる各オプチカルラインは加入者宅の加入者端末装置
の送信回路及び受信回路に接続される一方で交換局のジ
ャンクタの送信回路及び受信回路に接続され、中継局に
つながる各オプチカルラインはその中継局の送信回路及
び受信回路に接続される一方で、予備ジャンクタも備え
た前記交換局のジャンクタの送信回路及び受信回路に接
続される。

本発明のシステムの特徴は、 オプチカルラインが、Ｎ個のオプチカルラインを接続で
きる接続モジュールを少なくとも１つ含む少なくとも１
つの接続アセンブリを介して、交換局のジャンクタ及び
予備ジャンクタに接続され、 接続モジュールが第１、第２及び第３オプチカルスイッ
チアセンブリと有し、 接続モジュールの第１オプチカルスイツチアセンブリが
オプチカルラインに接続され、第２オプチカルスイッチ
アセンブリが第１オプチカルスイッチアセンブリとＮ個
のオプチカルラインに接続されたジャンクタ及び予備ジ
ャンクタとに接続され、第３オプチカルスイッチアセン
ブリが第１オプチカルスイッチアセンブリに接続される
一方で、線テスト光ファイバ及びジャンクタテスト光フ
ァイバを介して少なくとも１つのテスト回路に接続され
ることにある。

オプチカルラインは、２つの呼方向に光信号を伝搬する
単一の接続アセンブリを介して交換局のジャンクタ及び
予備ジャンクタに接続してもよい。

その場合は、各オプチカルラインを２つの呼方向に信号
を伝搬する単一の光ファイバで構成し得、各ジャンクタ
及び各予備ジャンクタをデュプレクサ及び単一光ファイ
バによって第２オプチカルスイッチアセンブリに接続し
得、接続アセンブリを線テスト光ファイバ及びデュプレ
クサによって送信テスト回路及び受信テスト回路に接続
し得、且つジャンクタテスト光ファイバ及び別のデュプ
レクサによって前記送信テスト回路及び前記受信テスト
回路に接続し得る。

この接続システムはまた、夫々いずれか一方の呼方向に
係わる第１及び第２接続アセンブリを含み、ジャンクタ
及び予備ジャンクタの各送信回路が送信ファイバを介し
て第１接続アセンブリに接続され、ジャンクタ及び予備
ジャンクタの受信回路が受信ファイバを介して第２接続
アセンブリに接続され、各オプチカルラインがデュプレ
クサを介して前記２つの接続アセンブリに接続される単
一の光ファイバからなり、各接続アセンブリが光ファイ
バを介して前記デュプレクサに接続され、第１接続アセ
ンブリが送信テスト回路に接続され、第２接続アセンブ
リが受信テスト回路に接続されるように構成し得る。

本発明の接続システムはまた、夫々いずれが−方の呼方
向に係わる第１及び第２接続アセンブリを含み、ジャン
クタ及び予備ジャンクタの各送信回路が送信光ファイバ
を介して第１接続アセンブリに接続され、ジャンクタ及
び予備ジャンクタの各受信回路が受信光ファイバを介し
て第２接続アセンブリに接続され、各オプチカルライン
が第１及び第２光ファイバからなり、加入者端末装置及
び遠隔ジャンクタの各受信回路がオプチカルラインの第
１光ファイバを介して第１接続アセンブリに接続され、
加入者端末装置及び遠隔ジャンクタの各送信回路がオプ
チカルラインの第２光ファイバを介して第２接続アセン
ブリに接続され、第１接続アセンブリが送信テスト回路
に接続され、第２接続アセンブリが受信テスト回路に接
続されるように構成することもできる。

本発明の接続システムは更に、複数の接続モジュール及
び第４オプチカルスイッチアセンブリを含み、各接続モ
ジュールの第３オプチカルスイッチアセンブリが第４オ
プチカルスイッチアセンブリに接続され、この第４オプ
チカルスイツチスアセンブリが前記線テスト光ファイバ
及び前記ジャンクタテスト光ファイバを介して少なくと
も１つのテスト回路に接続されるように構成することも
できる。

各オプチカルスイッチアセンブリは、アクセスグループ
を２つずつ有する複数のオプチカルスイッチで構成して
もよく、その場合は第１アクセスグループが、通常は当
該オプチカルスイッチの内部手段を介して互いに接続さ
れている第１アクセス及び第２アクセスからなるアクセ
ス対をｐ組含み、第２アクセスグループが第１及び第２
アクセスを含み、これら第１及び第２アクセスが第１グ
ループのｐ組のアクセス対のうちいずれか１つのアクセ
ス対の第１アクセス及び第２アクセスに、その対のア久
セスの内部接続が切断された後で当該オプチカルスイッ
チの内部手段を介して接続されるようにし得る。

第２オプチカルスイッチアセンブリは、９個のアクセス
を含むアクセスグループを２つずつ有する複数のオプチ
カルスイッチと、少なくとも１つの内部接続とで構成す
ることもでき、その場合は２つのアクセスグループの同
一順位のアクセスがオプチカルスイッチの内部手段を介
して相互に接続され、第１グループのアクセスのいずれ
か１つが第２グループのアクセスのいずれか１つに、こ
れら任意のアクセスとこれに対応するアクセスとの間の
接続が切断された後で前記内部接続を介して接続される
ようにし得る。

互いに接続される第１及び第２オプチカルスイッチアセ
ンブリのオプチカルスイッチは、オプチカルマトリック
スを構成するように接続することもできる。

また、接続アセンブリのオプチカルスイッチは、交換局
の制御手段に接続された制御回路に制御線を介して接続
し得る。

以下、添付図面に基づき非限定的実施例を挙げて本発明
をより詳細に説明する。

え１１ 第１Ａ図は、オプチカルラインを交換局に接続するため
の本発明のシステムを簡単な理論図で示している。この
図のシステムは、各オプチカルラインが２つの光ファイ
バからなり、各光ファイバがいずれか一方向の伝送に係
わる信号を伝搬する場合に使用し得る。この図では説明
に不要な部材、特に広帯域オプチカルラインと接続され
る交換局を構成する種々の構成部分、並びに端末装置を
構成する種々の部材を総て省略した。

この図の符号１は、加入者宅の加入者端末装置又は遠隔
交奥局の中継ジャンクタを表す。この装置又はジャンク
タは、中間光ファイバ１．２１に接続されたレーザダイ
オードのような光電子工学的送信機１．２と、中間光フ
ァイバ１．３１に接続されたＰＩＮダイオードのような
光電子工学的受信機１．３とに電気接続された一組の電
子回路１．１を含む。中間光ファイバ１．２１及び１．
３１の自由端は夫々のオプチカルコネクタ１．２１０及
び１．３１０に接続され、それによって、交換局と端末
装置又は遠隔交換局中継ジャンクタとの接続を行うオプ
チカルラインを構成する夫々の光ファイバ３．１及び３
．２に接続される。

交換局では、光ファイバ３．１及び３．２が２つの中間
光ファイバ８．１１及び８．２１の一端にあるオプチカ
ルコネクタ８．１１０及び８．２１０に夫々接続され、
前記中間光ファイバの他端が２つの接続アセンブリ８．
１及び８．２に接続されている。各接続アセンブリは、
第３図又は第４八図、第４Ｂ図及び第５図のいずれかに
示すように接続されたオプチカルスイッチからなる接続
モジュールを少なくとも１つ含む。

接続アセンブリ８．１及び８．２はまた、夫々の中間光
ファイバ８．１２及び８．２２とコネクタ８．１２０及
び８．２２０とを介してジャンクタ５にも接続される。

このジャンクタは交換局内でファイバ３．１及び３．２
からなるオプチカルラインに接続されている。前記中間
ファイバ８．１２及び８．２２は夫々前記ジャンクタの
光電子工学的送信機５．２及び光電子工学的受傷機５．
３に接続され、これらの光電子工学的構成部分は別の交
換装置（図示せず）に接続できるように前記ジャンクタ
の電子回路５．１に電気接続されている。

２つの接続アセンブリ８．１及び８．２はまた、光ファ
イバ８．１３及び８．２３とオプチカルコネクタ８．１
３０及び８．２３０とを介して予備ジャンクタロの光電
子工学的送信機６．２及び受信Ｒ６，３に接続され、こ
れらの送信機及び受信機は更に別の交換装置（図示せず
）に接続できるように前記予備ジャンクタの電子回路６
．１に電気接続されている。

図面には示さなかったが、前記２つの接続アセンブリ８
．１及び８．２は更に、前記と全く同様の方法で、他の
複数の中継用又は加入者用オプチカルライン、これらの
ラインに接続されたジャンクタ、及び複数の予備ジャン
クタにも接続される。

接続アセンブリ８．１はまた、２つの光ファイバ８．１
４及び８，１５とオプチカルコネクタ８．１４０及び８
．１５０とを介して、送信テスト回路７．１に連結した
光ファイバ７．１１及び７．１２にも接続される。同様
にして、接続アクセス８．２は光ファイバ８．２４及び
８．２５とオプチカルコネクタ８．２４０及び８．２５
０とを介して、受信テスト回路７．２に連結した光ファ
イバ７．２１及び７．２２に接続される。前記送信テス
ト回路及び受信テスト回路はいずれも、制御手段（詳細
には図示せず）によって制御される線テスト手段及びジ
ャンクタテスト手段を備え、これらのテスト手段は夫々
光ファイバ７．１１及び７．２１．７．１２及び７．２
２に接続されたオプチカルアクセスを有する。

接続アセンブリ８．１及び８，２はまた、電気リンク９
．１及び９，２を介して当該接続システムの制御回路９
にも接続され、テスト回路７．１及び７．２の制御手段
も夫々電気リンク９．３及び９．４を介して前記制御回
路９に接続される。この制御回路は交換機制御手段（図
示せず）に接続される。

電気リンク９．１はオプチカルジャンクタ及びオプチカ
ルラインをテスト状態におくためのスイッチ切替え司令
を伝搬し、電気リンク９．２はオプチカルラインを予備
ジャンクタに接続するためのスイッチ切替え司令を伝搬
し、電気リンク９，３及び９．４はテスト回路に関する
制御司令及び信号を伝搬する。

加入者端末装置又は中継リンクジャンクタと交換局の対
応ジャンクタとの間の２方向伝送には、２つの別個の光
信号が使用される。これらの信号は各伝送方向毎に１つ
の割合で使用され、交換局から加入者方向への伝送に対
応する信号は交換局のジャンクタの送信機５．２から送
出され、中間ファイバ８．１２、第１接続アセンブリ８
，１、中間ファイバ８．１１、光ファイバ３．１及び中
間ファイバ１．３１を介して加入者端末装置の光電子工
学的受信機３．１に到達し、 加入者から交換局方向への伝送に対応する信号は、加入
者端末装置の送信機１．２から送出され、中間ファイバ
１．２１、光ファイバ３．２、中間ファイバ８．２１、
第２接続アセンブリ８．２及び中間ファイバ８゜２２を
介してジャンクタの光電子工学的受信機５．３に到達す
る。

本発明の好ましい実施態様の１つでは、交換局加入者方
向の伝送に波長１３００ｎｍの光信号を使用し、加入者
−交換局方向の伝送に波長１５５０ｔ＋ｎ＋の光信号を
使用する。送信機５，２及び６，２並びに受信機１．３
は波長１３００ｎｍに合わせて調整し、送信機１．２並
びに受信機５．３及び６．３は波長１５５０ｎｍに合わ
せて調整する。

ファイバ８．１４及び８．１５に夫々接続されたテスト
回路７．１の光電子工学的送信機及び受信機は１３００
ｒｏｎに調整し、ファイバ８．２４及び８，２５に夫々
接続されたテスト回路７．２の光電子工学的送信機及び
受信機は１５５０ｎｍに調整する。接続アセンブリ８．
１及び８，２は夫々、１２８５〜１３３０ｎｍ及び１５
２０〜１５７０ｎｍの光通過帯域を有する。

第１Ｂ図は、各オプチカルラインが２つの伝送方向に係
わる信号を伝搬する単一の光ファイバからなる場合に使
用される交換機接続システムを簡単な理論図で示してい
る。

この図のシステムは第１八図のシステムと類似している
が、端末装置１と交換局とを接続する線に相異が見られ
る。即ち、この線は第１Ｂ図のシステム゛ζは、第ｎ図
のようにＺつの光ファイバ３．１及び３．２ではなく単
一の光ファイバ３で構成されている。

この単一の光ファイバ３は光信号を両方向に伝搬し、こ
の光ファイバの各端部で伝送方向が分離されるように、
両端が夫々オプチカルコネクタ２．１及び４．１を介し
てオプチカルデュプレクサ２及び４に接続される。前記
デュプレクサは夫々前記コネクタ１．２１０．１．３１
０及び８．１１０．８．２１０にも接続されている。

第２Ａ図は、前記接続アセンブリで使用されるオプチカ
ルスイッチＣの作動方法を示している。このスイッチは
、端部Ｂ１及びＢ２を有する光ダクトに対して直列につ
ながれたｐ個の接続点Ｓ１、Ｓｉ、Ｓｐを含み、これら
の接続点が夫々２つの別のアクセス＾１１−＾２１、＾
１１−八２１、＾１９−＾２ｐを有し、制御線ＣＳから
送出される電気制御信号に反応して、接続点の休止状態
に対応する第１接続対八ｌｉ〜＾２ｉ、　８１−８２又
は接続点の作動状態に対応する第２接続対＾１ｉ−Ｂ２
、Ｂ１−＾２１を個々に樹立させるようになっている。

前記スイッチＣは２つの異なる方法で制御し得る。第１
の方法は、「単一選択モード」と称し、単一の接続点Ｓ
ｉを作動させてスイッチの単一の接続対＾１ｉ−８２及
びＢＩ−＾２１を樹立させ、る。第２の方法は「二重選
択モード」と称し、２つの接続点Ｓｉ及びｓｊを同時に
作動させて、３つの光路へｌｉ−＾２ｊ、　Ｂｌ−＾２
１及び＾１ｊ−８２の組合わせを形成する２つの第２接
続対を樹立させることからなる。

本発明の好ましい実施態様の１つでは、第２八図に示し
たスイッチＣと同様の２つのスイッチＣａ及びＣｂを、
第１スイツチのアクセス＾２１と第２スイツチのアクセ
ス＾１１との相互接続によって互いに接続し、それによ
って第２Ｂ図に示すようなオプチカルマトリックスＯ８
を構成する。このオプチカルマトリックスは、対応し合
うオプチカルアクセスＥｉ、Ｄｌからなるｐ組のアクセ
ス対を含む第１アクセスグループと、２組のオプチカル
アクセス対８１１−Ｂ２１．８１２−８２２を含む第２
アクセスグループと、このマトリックスを構成する第１
スイツチＣａ及び第２スイツチｃｂを夫々制御する２組
の電気制御線ＣＳＩ及びＣ３２とを含む。

オプチカルスイッチＣ又はオプチカルマトリック、スＣ
３は、様々なタイプのものが市販されている２・２電子
光学的カツプラのような公知の接続点を組合わせて構成
するが、又は本発明の接続システムの好ましい実施例の
１つとして、オプチカルダクトとスイッチ又はマトリッ
クスを構成する電子光学的カップラとをニオブ酸リチウ
ムからなる基板の上に集積し、且つ前記ダクトへのアク
セスを集積導光波管と組合わせたリードイン（ｌｅａｄ
−ｉｎ）光ファイバで構成することによって形成し得る
。

第３図は、第２八図に示したスイッチＣと同じタイプの
複数のオプチカルスイッチからなる接続モジュールの原
理を示している。第１＾図及び第１Ｂ図の接続アセンブ
リ８．１及び８．２はこの接続モジュールを少なくとも
１つずつ含む。

前記オプチカルスイッチは下記のような複数のオプチカ
ルスイッチアセンブリの形態に分配される。

第１オプチカルスイッチアセンブリはｎ個のオプチカル
スイッチＣ１１５，、、Ｃ１ｎからなり、夫々のアクセ
ス＾１１を介して、第１八図のファイバ８．１１又は８
．２１のような中−間ファイバに接続されたオプチカル
コネクタＬｉｊに接続されると共に、アクセス＾２１を
介して第２オプチカルスイッチアセンブリのｎ個のオプ
チカルスイッチＣ２１５，、、Ｃ２ｎのアクセス八ｌｉ
に接続される。第２オプチカルスイッチアセンブリでは
、各アクセス＾２１が第１Ａ図の中間ファイバ８．１２
又は８．２２のようなジャンクタ接続中間ファイバに接
続されたオプチカルコネクタＪｉｊに接続される。

第２スイツチアセンブリのｎ個のオプチカルスイッチは
また各々がアクセスＢ２を介して、千面ジャンクタにつ
ながる中間ファイバ、例えば第１Δ図の中間ファイバ８
．１３又は８．２３に接続されたオプチカルコネクタＪ
Ｓｉに接続される。

第３オプチカルスイッチアセンブリを構成するオプチカ
ルスイッチＣ３１及びＣ３２はｎ個のアクセス＾１ｊの
各々を介して第１オプチカルスイッチアセンブリのスイ
ッチＣ１ｊのアクセスＢ１及びＢ２に夫々接続され、且
つアクセスＢ２を介してオプチカルコネクタＴＪ及びＴ
Ｌに夫々接続される。オプチカルコネクタＴＪは前記ジ
ャンクタテストラインに接続でき、オプチカルコネクタ
ＴＬは前記線テストラインに接続できる。

接続モジュールを構成する種々のオプチカルスイッチは
、そのリードインファイバをスプライスするか、又はリ
ードインファイバに取り付けたオプチカルコネクタを用
いて互いに接続する。これらの接続は第３図では符号Ｒ
１２、Ｒ１３，１及び８１３．２で示されている。

種々のスイッチの制御線は２つの制御線グループＣＴ及
びＣ３にまとめられる。これらのグループは夫々テスト
選択の制御及び予備ジャンクタへの線の接続の制御に対
応する。

第３図では、符号ｐがスイッチＣの接続点の数を表し、
符号ｎが第１及び第２スイツチアセンブリのスイッチの
数を表す。但し、ｎはｐと同じかそれより小さく、接続
モジュールによって安全性を確保できるオプチカルライ
ンの散財はｎＸｐの積に等しい。予備ジャンクタの数は
ｎである。

各予備ジャンクタはｐ個のオプチカルラインを含むオプ
チカルライングループに接続される。

第１及び第２スイツチアセンブリが含み得るスイッチの
最大数はＰに等しく、接続モジュールによって安全性を
確保し得るラインの最大数はｐ２に等しい。予備ジャン
クタの最大数はｐに等しく、各予備ジャンクタはｐ個の
オプチカルラインを含むオプチカルライングループに対
応する。

第３図は、本発明のシステムの接続モジュールを簡単に
説明するための理論説明図に過ぎない。

実際のシステムでは、接合線ａ−ｂに従って組合わせる
ことにより１つの完全な図面を構成する第４Δ図及び第
４Ｂ図に示すように、オプチカルマトリックスＯ３が使
用される。各マトリックスは第２Ｂ図で説明したように
２つのスイッチＣａ及びＣｂを含む。各スイッチの接続
点の数はｋである。第４Ａ図及び第４Ｂ図では、オプチ
カルマトリックスＭ１１．１１１９８、Ｍｎｙ、ｚの第
１及び第２スイツチＣａ及びｃｂが夫々前記第１及び第
２スイツチアセンブリの形成に使用され、オプチカルマ
トリックスＣ３１，１〜Ｃ３１，ｘ、Ｃ３２，１〜Ｃ３
２，ｘの第１スイツチＣａが前記第３スイツチアセンブ
リの形成に使用される。この第３スイツチアセンブリは
２つのオプチカルマトリックス集合体３１及びＣ３２で
構成される。

第１、第２及び第３スイツチアセンブリはいずれも、複
数のオプチカルマトリックスを直列に相互接続すること
によって構成される。即ち、第３スイツチアセンブリで
は各集合体Ｃ３１及びＣ３２毎にｙ個のマトリックスが
使用され、第１及び第２スイツチアセンブリを構成する
ｎ・（ｘ、ｋ）個以下の集合体では夫々（ｙ、ｚ）個の
マトリックスが使用される。

第１及び第３スイツチアセンブリの場合には、１つの集
合体の順位ｒのマトリックスのアクセスＢ１２が順位ｒ
＋１のマトリックスのアクセスａｌｌに接続され、第１
スイツチアセンブリの集合体の第１マトリツクスのアク
セス８１１及び最終マトリックスのアクセス８１２が夫
々集合体Ｃ３１及びＣ３２の対応順位のアクセス八ｌｉ
（マトリ・ンクスのアクセスＥｉ）に接続され、第１及
び第２スイツチアセンブリを構成する各マトリックスの
アクセスＥｉ及びＤｉが夫々オプチカルコネクタし及び
オプチカルコネクタＪに接続される。第３スイツチアセ
ンブリの集合体Ｃ３１及びＣ３２の最終マトリックスの
アクセスＢ１２は夫々前述のごとくオプチカルコネクタ
Ｔｊ及び几に接続される。

第２スイツチアセンブリの場合は２個の基本集合体が存
在し、各集合体がｙ個のマトリックスを含む。各集合体
では順位ｒのオプチカルマ）・リックスのアクセス８２
２が順位ｒ＋１のオプチカルマトリックスのアクセス８
２１に接続され、各基本集合体の最終オプチカルマトリ
ックスのアクセスＢ２２が前述のごとくオプチカルコネ
クタＪＳに接続される。

基本集合体の数Ｚは、ｎＸｚの積がラインの安全性に必
要な予備ジャンクタの数Ｓと同じかそれより大きくなる
ように選択される。数Ｓはサービスの所望の質と、装置
の信頼性と、保守操作の許容し得る頻度とに応じて決定
される。

接続モジュールによって安全性を与えることができるラ
インの最大数Ｎｍ２はＮｍ２：（ｎ、ｙ、ｚ、ｋ）（ｘ
、ｙ、ｚ、に２）であり、接続できる予備ジャンクタの
最大数はＳ・（ｎ、ｚ）・（ｘ、に、ｚ）である。各予
備ジャンクタは（ｙ、ｋ）個のオプチカルラインからな
るオプチカルライングループ接続される。

このような構造では、安全システムの大きさに関する柔
軟性が極めて高い。

また、予備ライン及びテストラインの光路に挿入された
接続点によって生じる損失を、これらの挿入接続点の数
を減らすことによって最適化することもできる。例えば
、このシステムのテスト光路に挿入できる接続点の最大
数はに、（ｘ＋（ｙ、ｚ））に等しいが、このシステム
が総てのラインに接続されたテスト装置へのアクセスの
選択機を１つしか使用しない場合には、前記最大数が（
ｘ、ｙ、ｚ、に２）に等しくなる。

種々のスイッチの制御線は２つの制御線グループＣＴ及
びＣ８にまとめられる。これらのグループは夫々、テス
ト選択の制御及び予備ジャンクタべの線の接続の制御に
対応する。これら２つのグループは夫々第１八図及び第
１Ｂ図の電気制御線９．１及び９．２に接続される。

第５図は、同じ構成部分をベースとする複数のスイッチ
を異なる方法で配置して構成した別の接続モジュールの
理論説明図である。

第１及び第３スイツチアセンブリに関する構造上の詳細
は前述の通りである。構造上の唯一の相異点は、予備ジ
ャンクタと第２スイツチアセンブリとの接続にある。即
ち、予備ジャンクタが、第２スイッチアセンブリを構成
する２個の基本集合体の最終マトリックスのアクセスＢ
２２に接続されるのではなく、オプチカルコネクタＪＳ
を介して前記最終マトリックスの最終アクセスＤｐ（第
２Ｂ図）に接続される。

このような構造では、予備ジャンクタとして、複数のジ
ャンクタグループを含むジャンクタアセンブリを構成す
る各ジャンクタグループの最終ジャンクタか、又は複数
のジャンクタグループを含むジャンクタアセンブリの最
終ジャンクタグループのジャンクタを使用することがで
きる。この場合、予備ジャンクタとして使用される各ジ
ャンクタは特定のオプチカルラインには接続されない。

第４Ａ図及び第４Ｂ図の説明に従えば、接続モジュール
によって安全性を確保することができるオプチカルライ
ンの数Ｎ３は（ｘ、ｙ、ｚ、（ｋ−１＞、ｋ）に等しく
、接続できる予備ジャンクタの最大数はＳ・（ｘ、に、
ｚ）である。この場合は、各予備ジャンクタがｙ、（ｋ
−１）個のオプチカルラインからなるオプチカルライン
グループに接続される。

予備ジャンクタを必要とするラインへの予備ジャンクタ
の接続は、前述のごとく、第２アセンブリの対応スイッ
チでの二重選択を介して実施される。

本発明の最も一般的な用途では、第１八図及び第１８図
の接続アセンブリ８．１及び８．２並びに第７図の接続
アセンブリ８．０がいずれも、テスト回路アクセスファ
イバに直接接続されたコネクタＴＪ及び几に接続される
単一の接続モジュールからなる。

第６図は極めて多数のラインを接続することができる大
容量接続アセンブリの原理を示している。

この図では、第３図、第４Δ図、第４Ｂ図又は第５図に
示したような複数の接続モジュールＧ１１１．。

ＣｖｋがアクセスＴＪ及び几（ＴＪＩＩｌｌｏ、ＴＪｖ
ｋ及びＴＬＩＩｌｌ、１、ＴＬｖｋ）を介して第４オプ
チカルスイツチ、アセンブリに接続されている。この第
４オプチカルスイッチアセンブリはＺつのマトリックス
集合体Ｃ４１及びＣ４２からなり、これらのマトリック
ス集合体は夫々Ｖ個のオプチカルマトリックスＭ４１．
１１１２８、ｔ４４１．ｖ及びＭ４２．１１．、、、Ｍ
４２ｖを含む。

これらの集合体は第４八図及び第４Ｂ図の第３スイツチ
アセンブリを構成する集合体Ｃ３１、Ｃ３２に類似して
いる。

各アクセスＴＪは、第４オプチカルスイッチアセンブリ
の第１集合体Ｃ４１を構成するマトリックス８４１．１
〜Ｍ４１．ｖのうち１つのマトリックスのアクセスＥｉ
に接続される。

各アクセスＴＬは、第４オプチカルスイッチアセンブリ
の第２集合体Ｃ４２を構成するマトリックス８４２．１
〜Ｍ４２．ｖのうち１つのマトリックスのアクセスＥｉ
に接続される。

集合体Ｃ４１及びＣ４２は夫々、オプチカルマトリック
スＭ４１．１及びＭ４２．１からテスト線アクセスコネ
クタＴＪ４及びＴＬ４まで接続される。

種々のスイッチの制御線は前述のごとく束Ｃ８及びＣＴ
にまとめられ゛て制御回路に接続される。

第４スイツチアセンブリを構成するオプチカルマトリッ
クスの数を■とすれば、このシステムによって安全性を
与えることができるラインの最大数は、Ｎｍ４・（ｘ、
ｙ、ｚ、ｖ、に、に２）又はＮｍ５・（ｘ、ｙ、ｚ、ｖ
、（ｋ−１）、に２）となる。

前記Ｎｍ４は、接続モジュールが第晶図及び第４Ｂ図に
示したタイプの場合の数値であり、この場合は接続でき
る予備ジャンクタの最大数が５ｍ４（ｘ、に２．ｚ、ｖ
）となり、各予備ジャンクタが（ｙ、ｋ）個のオプチカ
ルラインからなるオプチカルライングループに接続され
る。

前記Ｎｍ５は、接続モジュールが第５図に示したタイプ
の場合の数値であり、この場合は接続できる予備ジャン
クタの最大数が５ｍ５＝（ｘ、に２．ｚ、ｖ）となり、
各予備ジャンクタがｙ、（ｋ−１＞個のラインからなる
オプチカルライングループに接続される。

第７図は、光通過帯域の広い（例えば１２８５ｎｍ〜１
５７０ｎｍ）オプチカルスイッチを使用する本発明のシ
ステムの別の構造を示している。この構造は、オプチカ
ルラインの２つの伝送方向に係わる光信号を伝送するの
に適しており、単一の光ファイバからなるオプチカルラ
インの接続に使用し得る。

オプチカルラインを構成する単一ファイバ３は交換局側
ではコネクタ８．０１０及び中間ファイバ８．０１を介
して単一接続アセンブリ８．０に接続されている。この
接続アセンブリは第３図、第４八図、第４Ｂ図、第５図
又は第６図で説明したような構造をもつ接続モジュール
を少なくとも１つ含む。この接続アセンブリはまた、中
間ファイバ８．０２及びオプチカルデュプレクサ４．５
を介して、オプチカルライン３に接続されたジャンクタ
５に接続され、オプチカルファイバ８．０３及びオプチ
カルデュプレクサ４．６を介して予備ジャンクタロに接
続され、ファイバ８．０４を介して、残りのアクセスが
夫々ファイバ７．１１及び７２１に接続されたデュプレ
クサ８．０６に接続され、且つファイバ８．０５を介し
て、残りのアクセスが夫々ファイバ７．１２及び７．２
２に接続されたデュプレクサ８．０７に接続される。フ
ァイバ７．１１及び７．１２は前記送信テスト回路７．
１へのアクセス大構成し、ファイバ７．２１及び７．２
２は前記受信テスト回路７．２へのアクセスを構成する
。

ここで、本発明がより良く理解されるように、非限定的
実施例として、第１八図に示したシステムの機能を説明
する。このシステムでは、各接続アセンブリ８．１及び
８．２が第４八図及び第４Ｂに示したタイプの接続モジ
ュールを１つだけ含むものとする。

通常の条件で、回線がすいている時間（交換局の制御装
置によって調べられる）に、交換局の総合的監視及び保
守手段の制御下で、各オプチカルリンクの正常機能を周
期的に検査する。前記手段は交換局に配置するか、又は
交換局から離れた保守センタに全部まとめて配置し得る
。この検査は下記の操作を含む。

検査すべきオプチカルラインが機能しているか否かを交
換局の制御装置に問い合わせて確認する。

線のアドレスを含む線テスト司令を交換局の総合的監視
及び保守手段から制御回路９（第１八図）に送る。

制御回路９により、接続アセンブリ８．１及び８２内の
問題の接続点のアドレスを計算する。

前記接続点のアドレスを制御回路９から電気リンク９．
１に伝送する。

２つの接続アセンブリ８．１及び８．２の各々で、問題
の接続点の位置を下記の方法により第１及び第３スイツ
チアセンブリ内で決定する。

ここでは、前述のごとく第４＾図及び第４Ｂ図のリンク
Ｌ１１．１１に接続されたオプチカルリンクを検査する
ものとする。２つのアドレスはリンク９．１に接続され
たリンクＣＴ上に電気信号の形態で同時に存在する。第
１アドレスは第３スイツチアセンブリのオプチカルマト
リックスＣ３１，１及びＣ３２、１の接続点１フ１を同
時に作動させ、それによって夫々ＴＪとＶｌｌとの間及
びＴＬとＶ１２との間の光学的接続を生起させる。第２
アドレスは、ＬＬｌ、１１とＪｌｌ、１１との間の光学
的接続を切断するオプチカルマトリックス８１１．１ノ
接続点Ｐ１を制ｆａ１１，４、Ｌｌｌ、１１トｖ１２ト
ノ間及びＪｌｌ、１１とＶｌｌとの間に新しい光学的接
続を生起させる。その結果、新たに形成された光路を介
して、ＬＬｌ、１１がＴＬに光学的に接続され、且つＪ
ｌｌ、１１がＴＪに光学的に接続される。

検査：２つの接続アセンブリ８．１及び８．２（第１八
図）で前記繰作が実施されると、検査すべきオプチカル
ラインとそれに接続されたジャンクタとが送信テスト回
路７．１及び受信テスト回路７．２に光字的に接続され
、制御回路９から夫々リンク９．３及び９．４を介して
前記２つのテスト回路に始動命令が送られ、結果を表す
信号が制御回路に受信される。

回路７．１が被検ジャンクタ５の送信装置５．２からの
受信と、オプチカルライン３及び加入者端末装置１の受
信装置１．２への送信とを別個に制御する。

回路７．２が被検ジャンクタ５の受信装置５．３への送
信と、オプチカルライン３及び加入者端末装置１の送信
装置１．２からの受信とを別個に制御する。

被検ラインの切断：検査のための操作が終了すると、制
御回路９が新しいアドレス信号を２つの接続アセンブリ
８．１及び８．２に同時に送出する。

これらの信号は先に作動させた接続点に係わるものであ
る。その結果、これらの接続点が初期状態に戻り、従っ
てＬＬｌ、１１とＴＬとの間及びＪｌｌ、１１とＴＪと
の間の光学的接続が遮断されると共に、Ｌｌｌ、１１と
Ｊｌｌ、１１との間に再び光学的接続が生じる。このよ
うにして、検査後に、オプチカルラインが対応ジャンク
タに再接続され、使用可能な状態になる。

信号二次いで、線テスト終了メツセージが制御回路９か
ら交換局の総合的監視及び保守手段に送られ、その結果
、この手段が前記操作の繰り返しによって別の線の検査
を開始することができるようになる。

作動中の線を監視する別の装置によってリンクの欠陥が
発見されると、交換局の総合的監視及び保守手段が問題
の線を前記方法で検査して、欠陥場所を探索する。

通常の検査又は欠陥場所探索時にラインジャンクタの故
障が発見された場合には、その故障ジャンクタを含むリ
ンクグループに使用できる予備ジャンクタがあれば、問
題のオプチカルラインを予備ジャンクタに切替える。

この切替えは下記の方法で行う。

例えば、第４図のＪｌｌ、１１に接続されたジャンクタ
の故障が検出され、従って制御回路９（第１Δ図）が交
換局の総合的監視及び保守手段から切替え命令を受容し
たと仮定する。制御回路９は電気リンク９２を使用して
各接続アセンブリ８．１及び８．２の問題ノ接続点のア
ドレス、即ちこの場合は各接続アドレスの接続モジュー
ルのオプチカルマトリックス８１１．１の接続点ｐ２の
アドレスを送出する。このアドレスは第４八図及び第４
Ｂ図の各接続モジュールのリンクＣ８に受容され、８１
１．１の接続点ｐ２を作動させて、Ｌｌｌ、１１とＪｌ
ｌ、１１との間の光学的接続を切断させると共に、Ｌｌ
ｌ、１１とＪＳｌ、１との間、即ち問題のオプチカルラ
インとこのラインを含むグループに対応する予備ジャン
クタとの間に光学的接続を生起させる。

Ｊｌｌ、１１に接続されたオプチカルラインに対応する
正規のジャンクタが修理されると、前記光路を介して接
続点ｐ２に、Ｌｌｌ、１１〜ＪＺ１．１の光路を切断し
てＬｌｌ、１１〜Ｊ１１．１１の光路を復元せよという
命令が送られる。

ここで留意すべきこととして、前記ラインと予備ジャン
クタとを含むオプチカルリンクは、前記した通常の方法
を用いて、オプチカルマトリックスＣ３１，１、Ｃ３２
、１及びＭｌｌ、１の接続点ｐ１の切替えによりオプチ
カルラインをＴＬに接続し且つ予備ジャンクタをＴＪに
接続することによって検査し得る。

また、テスト回路７．１及び７．２が第１オプチカルス
イッチアセンブリを介していずれかのライン又はジャン
クタに接続されていない場合は、第１及び第３オプチカ
ルスイッチアセンブリ（場合によっては第４オプチカル
スイッチアセンブリも）を介して、これらテスト回路の
送信回路と受信回路とを互いに接続することによりこれ
ら回路の検査を行うことができる。このようにすれば、
前記スイッチの検査も実施できる。

本発明のシステムは、使用するスイッチ集合体のモジュ
ール化度が高く、従って構成が容易であるため、必要な
テスト手段の数と、具備すべき予備ジャンクタの数と、
テスト光路及び安全光路に挿入される接続点及び接続ス
プライスの数とを最適化することができ、従って前記光
路の損失を最適化することができる。そのため、ライン
ジャンクタに具備されるものと異なる光学的送信手段及
び受信手段をテスト装置及び予備ジャンクタに具備する
必要がない。

本発明ではまた、予備ジャンクタに接続されたオプチカ
ルリンクを、通常の方法を改変せずに検査することがで
きる。

本発明では、各テスト回路の送信回路と受信回路とを相
互接続することによって、テスト装置の自己テストを行
うこともできる。

本発明のシステムは、先行技術の広帯域通信システム装
置に比べて明らかに進歩している。その理由は、様々な
大きさのオプチカルライン接続システムの安全性を確保
せしめるモジュール度を有するという点、並びに予備ジ
ャンクタに接続されたラインの制御が可能であり、従っ
て提供されるサービス及び保守管理が改善されるという
点にある。

勿論、本発明は前記した実施例には限定されず、その範
囲内で様々な変形が可能である。

【図面の簡単な説明】

第１八図は各オプチカルラインが２つの光ファイバから
なる場合に配線用オプチカルライン及び中継用オプチカ
ルラインを交換局に接続する本発明の接続システムを示
す全体的簡略説明図、第１Ｂ図は各オプチカルラインが
単一の光ファイバからなる場合に配線用オプチカルライ
ン及び中継用オプチカルラインを交換局に接続する本発
明の接続システムを示す全体的簡略説明図、第２八図及
び第２Ｂ図は夫々本発明のシステムで使用されるオプチ
カルスイッチの原理及び構造を示す簡略説明図、第３図
は本発明の接続システムで使用される接続モジュールの
簡略説明図、第４Δ図及び第４Ｂ図は第３図の接続モジ
ュールの一実施例を示す簡略説明図、第５図は前記接続
モジュールの別の実施例を示す簡略説明図、第６図は極
めて多くの線を接続するシステムで使用できるように複
数の接続モジュールを含んだ大容量接続アセンブリの原
理を示す簡略説明図、第７図は通過帯域の広いオプチカ
ルスイッチを使用する単一の接続アセンブリを含む接続
システムの一変形例を示す簡略説明図である。 １・・・・・・加入者端末装置又は中継ジャンクタ、５
・・・・・・ジャンクタ、６・・・・・・予備ジャンク
タ、８・・・・・・接続アセンブリ。 記粗アルカ７８／・ニス・ぺ−

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＢＩＳＤＮ通信網及び交換遠隔配線通信網のよう
   な広帯域マルチサービス通信網において、加入者用オプ
   チカルラインと中継用オプチカルラインとを交換局に接
   続するためのシステムであって、加入者につながる各オ
   プチカルラインが加入者宅の加入者端末装置の送信回路
   及び受信回路に接続される一方で交換局のジャンクタの
   送信回路及び受信回路に接続されており、中継局につな
   がる各オプチカルラインが該中継局の送信回路及び受信
   回路に接続される一方で、予備ジャンクタも備えた前記
   交換局のジャンクタの送信回路及び受信回路に接続され
   ており、 前記オプチカルラインが、Ｎ個のオプチカルラインを接
   続できる接続モジュールを少なくとも１つ含む少なくと
   も１つの接続アセンブリを介して、交換局のジャンクタ
   及び予備ジャンクタに接続され、 接続モジュールが第１、第２及び第３オプチカルスイッ
   チアセンブリを含み、 接続モジュールの第１オプチカルスイッチアセンブリが
   オプチカルラインに接続され、第２オプチカルスイッチ
   アセンブリが第１オプチカルスイッチアセンブリとＮ個
   のオプチカルラインに接続されたジャンクタ及び予備ジ
   ャンクタとに接続され、第３オプチカルスイッチアセン
   ブリが第１オプチカルスイッチアセンブリに接続される
   一方で、線テスト光ファイバ及びジャンクタテスト光フ
   ァイバを介して少なくとも１つのテスト回路に接続され
   ていることを特徴とする接続システム。
2. （２）オプチカルラインが呼の２つ方向の光信号を伝搬
   する単一の接続アセンブリを介して交換局のジャンクタ
   及び予備ジャンクタに接続され、各オプチカルラインが
   ２つの呼方向の信号を伝搬する単一の光ファイバで構成
   され、各ジャンクタ及び各予備ジャンクタがデュプレク
   サ及び単一光ファイバを介して第２オプチカルスイッチ
   アセンブリに接続され、接続アセンブリが線テスト光フ
   ァイバ及びデュプレクサを介して送信テスト回路及び受
   信テスト回路に接続されると共にジャンクタテスト光フ
   ァイバ及び別のデュプレクサを介して前記送信テスト回
   路及び前記受信テスト回路に接続されている請求項１に
   記載の接続システム。
3. （３）夫々いずれか一方の呼方向に係わる第１及び第２
   接続アセンブリを含み、ジャンクタ及び予備ジャンクタ
   の各送信回路が送信ファイバを介して第１接続アセンブ
   リに接続され、ジャンクタ及び予備ジャンクタの各受信
   回路が受信ファイバを介して第２接続アセンブリに接続
   され、各オプチカルラインがデュプレクサを介して前記
   ２つの接続アセンブリに接続される単一の光ファイバか
   らなり、各接続アセンブリが光ファイバを介して前記デ
   ュプレクサに接続され、第１接続アセンブリが送信テス
   ト回路に接続され、第２接続アセンブリが受信テスト回
   路に接続されている請求項１に記載の接続システム。
4. （４）夫々いずれか一方の呼方向に係わる第１及び第２
   接続アセンブリを含み、ジャンクタ及び予備ジャンクタ
   の各送信回路が送信光ファイバを介して第１接続アセン
   ブリに接続され、ジャンクタ及び予備ジャンクタの各受
   信回路が受信光ファイバを介して第２接続アセンブリに
   接続され、各オプチカルラインが第１及び第２光ファイ
   バからなり、加入者端末装置及び中継ジャンクタの各受
   信回路がオプチカルラインの第１光ファイバを介して第
   １接続アセンブリに接続され、加入者端末装置及び中継
   ジャンクタの各送信回路がオプチカルラインの第２光フ
   ァイバを介して第２接続アセンブリに接続され、第１接
   続アセンブリが送信テスト回路に接続され、第２接続ア
   センブリが受信テスト回路に接続されている請求項１に
   記載の接続システム。
5. （５）接続アセンブリが複数の接続モジュールと第４オ
   プチカルスイッチアセンブリとを含み、各接続モジュー
   ルの第３オプチカルスイッチアセンブリが第４オプチカ
   ルスイッチアセンブリに接続され、この第４オプチカル
   スイッチスアセンブリが前記線テスト光ファイバ及び前
   記ジャンクタテスト光ファイバを介して少なくとも１つ
   のテスト回路に接続されている請求項１に記載の接続シ
   ステム。
6. （６）各オプチカルスイッチアセンブリがアクセスグル
   ープを２つずつ有する複数のオプチカルスイッチからな
   り、第１アクセスグループが通常は当該オプチカルスイ
   ッチの内部手段を介して互いに接続されている第１アク
   セス及び第２アクセスからなるアクセス対をｐ組含み、
   第２アクセスグループが第１及び第２アクセスを含み、
   これら第１及び第２アクセスが第１グループのｐ組のア
   クセス対のうちいずれか１つのアクセス対の第１アクセ
   ス及び第２アクセスに、その対のアクセスの内部接続が
   切断された後で当該オプチカルスイッチの内部手段を介
   して接続されるようになっている請求項１又は５に記載
   の接続システム。
7. （７）第２オプチカルスイッチアセンブリがｐ個のアク
   セスを含むアクセスグループを２つずつ有する複数のオ
   プチカルスイッチを含み、２つのアクセスグループの同
   一順位のアクセスがオプチカルスイッチの内部手段を介
   して相互に接続され、第１グループのアクセスのいずれ
   か１つが第２グループのアクセスのいずれか１つに、こ
   れら任意のアクセスとこれに対応するアクセスとの間の
   接続が切断された後で少なくとも１つの内部接続を介し
   て接続され得るようになっている請求項１に記載の接続
   システム。
8. （８）互いに接続された第１及び第２オプチカルスイッ
   チアセンブリのオプチカルスイッチが、オプチカルマト
   リックスを構成するように接続されている請求項１に記
   載の接続システム。
9. （９）接続アセンブリのオプチカルスイッチが、交換局
   の制御手段に接続された制御回路に制御線を介して接続
   されており、送信テスト回路及び受信テスト回路が夫々
   のリンクを介して前記制御回路に接続されている請求項
   ６又は７に記載の接続システム。