KR0137021B1 - 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 시스템 - Google Patents

광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 시스템

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KR0137021B1
KR0137021B1 KR1019890017978A KR890017978A KR0137021B1 KR 0137021 B1 KR0137021 B1 KR 0137021B1 KR 1019890017978 A KR1019890017978 A KR 1019890017978A KR 890017978 A KR890017978 A KR 890017978A KR 0137021 B1 KR0137021 B1 KR 0137021B1
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르로이 기
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미첼 달사세
알까뗄 엔. 브이.
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Abstract

내용없음.

Description

광 라인을 광대역 원거리통신 교환기에 접속하기 위한 시스템
제1B도는 광 라인의 각각이 단일 광 파이버에 의해 구성되는 경우에 적용될 수 있는 교환기에 광 분배 및 접합 라인을 접속하기 위한 본 발명에 다른 전체적인 블럭도.
제2A도 및 제2B도는 시스템에서 사용되는 것과 같은 광 스위치의 이론도와 실제적인 수행을 각각 나타낸 도면.
3도는 접속 시스템에서 사용된 접속 모듈의 이론도.
제4A도 및 제4B도는 제3도의 접속 모듈이 어떻게 수행되는지를 도시한 도면.
제5도는 제3도의 접속 모듈이 어떻게 수행되는지를 도시한 도면.
제6도는 다수의 접속 모듈을 포함하고 있고, 상당히 많은 수의 라인을 갖는 접속 시스템에서 사용하기에 적합한 큰 용량 접속 어셈블리가 어떻게 수행되는지를 도시한 이론도.
제7도는 매우 넣은 통과대역 광 스위치를 사용하는 단일 접속 어셈블리를 포함하는 스위칭 시스템의 별형의 이론도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1.2, 5.2, 6.2 : 송신 회로1.3, 5.3, 6.3 : 수신 회로
3, 8.01, 8.03 : 단일 광 파이버3.1, 3.2, 8.11, 8.21 : 광 파이버
4, 8.06, 8.07 : 듀플렉서5 : 정크터
6 : 스페어 정크터7.1 : 송신 검사 회로
7.2 : 수신 검사 회로7.11, 8.04 : 검사 라인 광 파이버
7.12, 8.05 : 정크터 검사 광 파이버8, 8.0, 8.1, 8.2 : 접속 어셈블리
8.12, 8.13 : 송신 파이버8.22, 8.23 : 수신 파이버
9 : 제어 회로9.1, 9.2 : 제어 라인
9.3, 9.4 : 링크C : 광 스위치
G11-Gvk : 접속 모듈OS : 광 매트릭스
본 발명은 광 분배 라인 및 광 접합 라인을 교환기에 접속하기 위한 시스템으로, 상기 라인들은 각각 가입자들을 교환기에 접속하고 BISDN 회로망 또는 스위치식 리모트 분배 회로망과 같은 광대역 다중서비스 원거리 통신 회로망에 교환기를 상호접속하고, 본 발명의 시스템은 라인들을 자동적으로 검사되게 하고 기능 정크터(junctor)를 스페어 정크터로 교체되게 한다.
분배 또는 이송을 위하고 2개의 상이한 광 파장에 의해 호출의 2가지 방향에 관련한 신호를 이동시키는 광라인은
호출의 방향중의 한 방향으로 신호를 각각 이동시키는 2개의 광 파이버, 또는
호출의 2가지 방향으로 신호를 이동시키고 이의 단부의 각각에서 2개의 다른 출구가 송신 회로에 접속되고 그중 다른 하나가 교환기내의 정크터 또는 가입자 구내의 터미널 장비 또는 접합 정크터의 수신회로에 접속된 광 듀플렉싱(duplexing) 수단에 접속된 단일 광 파이버로 구성되는데,
각각의 파이버는 한 단부에서 레이저와 같은 광전자 소자를 포함하는 송신 회로에 접속되고, 이의 다른 다른 단부에서는 PIN 다이오드와 같은 광전자 소자를 포함하는 수신 회로에 접속되고, 상기 송신 및 수신 회로는 광전자 인터페이스로 구성된 라인의 동일한 단부에 배치되어 있고,
광 전자 인터페이스는 교환기내의 라인 정크터,
가입자 구내상의 터미널 장비, 또는
리모트 교환기내의 접합 정크터로 구성될 수 있다.
링크내의 소자중의 어떤 소자가 고장인 경우에, 그 링크는 쓸모없게 되고 서비스는 고장을 검츨하는데 필요한 시간 및 이것을 수리하는데 필요한 시간에 의존하는 주기중에 인터럽트된다.
다른 원거리 통신 회로망과 마찬가지로, 광대역 다중서비스는 전술한 것과 같은 상당히 많은 수의 림크를 사용하고 있다. 링크의 유니트 고장율이 낮을지라도, 이의 많은 수들은 검출되고 분석될 뿐만 아니라 양호한 품질 서비스를 보증하기 위해서 수리되어야 하는 비교적 많은 수의 브레이크 다운을 자연적으로 발생시킨다.
즉각적인 보수 행위를 최소화시키고 링크 내의 브레이크 다운을 검출하고 고장을 수리하기 위한 설비는 링크 안전기 로 구성된다.
각각의 정크터에 접속된 한쌍의 구리와이어로 구성된 가입자 전화기 라인의 안정화는 공지된 문제이다. 다수의 회로는 라인 상에 삽입되고 검사 장치에 라인 및 정크터를 접속하고 또한 스페어 정크터에 라인을 접속하기 위해서 제어 회로의 감독하에 동작하는 전기기계식 릴레이를 사용하는 것으로 기술되어 있다.
가입자 터미널 안전회로라고 하는 프랑스 특허 제FR-A-2 503500(=US-A-451 708)에서, 기술되어 있는 회로는 최소한 하나의 스페어 터미널 또는 가입자 라인들 및 검사 장비를 분리 회로를 통하여 상호 접속한 트렁크(trunk)(S)에 접속된 다수의 스페어 터미널로 구성된 유니트의 교환기에 사용되고, 소정의 주어진 고장 터미널의 검사 트렁크 접속 릴레이에 걸쳐서 스위치하고 또는 고장 터미널을 포함하는 유니트내의 터미널의 검사 트렁크 접속 릴레이에 걸쳐서 스위치함으로서 검사 트렁크에 접속된 가입자 라인에 대응하는 터미널중의 소정의 것을 대체시킬 수 있다.
디지탈 집신기(conecntrator)내의 가입자 터미널 안전회로라고 하는 프랑스 특허 제FR-A-4 594 704)에서, 집신기내의 회로는 각각 가입자 라인의 각각을 서비스하는 다수의 검사 트렁크에 접속될 수 있는 라인 검사 버스 및 터미널 검사버스 뿐만 아니라 가입자 라인 검사 트렁크에 접속할 수 있고 고장 터미널을 갖는 라인의 그룹내의 가입자 라인중의 어떤 라인이 라인의 소정의 다른 그룹을 서비스하는 터미널의 그룹내의 소정의 터미널에 접속되게 할 수 있는 스페어 버스를 사용하고 있고, 해당 터미널은 가입자 라인에 접속되지 않고 스페어 터미널로서 서비스한다.
전술한 특허에서, 안전 회로는 또한 스페어 및 검사 장치에의 접속 수단을 제어하기 위한 수단을 또한 포함한다.
기술되었던 구성 및 수단은 구리 라인 기술로 본래 특정지워졌고 그들이 특정한 제한을 받기 때문에 직접 사용될 수 없거나 광 라인과 사용하기 위해서는 외삽되어야만 하고, 특히 회로의 접속 및 삽입에 관련하여, 구리 라인을 사용할 대 제한을 받지 않는다.
전술한 회로들은 호출 기간이 비교적 짧고 장기간의 적은 통화량이 있는 전화 서비스를 위해 경제적으로 최적화되고, 라인이 높은 동작율을 갖고 소정의 서비스 상의 호출이 비교적 오랜기간 동안 지속되는 다중 서비스 시스템에 적용될 때에 주요 결점이 되는 구조적 특징을 면하지 못하였고, 이 구조적 특징은 안전 수단으로부터 그 라인을 동시에 비접속하지 않고 즉, 그 라인상의 서비스를 인터럽트하지 않고 스페어 정크터에 접속된 라인을 포함하는 라인의그룹 또는 라인 터미널내에서 검사를 수행할 수 없는 구조이고, 이것은 검사 장비에의 접속 및 안전 수단에의 접속이 공통의 항목을 공유하기 때문이라고 또한 조사되었다.
시스템은 또한 광 링크의 안전화, 특히 장거리 송신을 위해 공지되어 있고, 각각의 라인에 조합된 인터페이스내에 부수적인 광전자 소자를 제공하고, 상기 소자는 기계적 변위를 사용하는 스위칭 수단에 의해 라인에 접속된다.
특히, 본 출원인은 광 스위칭 장치라고 하는 프랑스 특허 제FR-A-2 528 586 (=GB-A-2-122 371)에서, 4개중의 한 개의 레이저 다이오드를 광 파이버의 단부에서 선택되게 하고, 2개의 광전환(changeover) 스위치로 구성된 제1 스위칭 단 및 수동 Y-결합기로 이루어진 결합단으로 구성된 장치를 기술하였고, 광 파이버용 기계적 스위치라고 하는 특허 출원 제FR-A-2 6-2-061 (=US-A-4 759 597)호에서, 선행 특허의 스위칭 단내에 사용하기에 적합한 스위치에 대해 기술하였다.
이러한 시스템은 기술적 및 경제적 이유로 인해서 많은 수의 링크에 안전을 제공하는데 사용될 수가 없다. 즉 그 이유는 장비의 크기, 및 광전자 인터페이스 소자내의 고장에 대한 보호가 제한되므로, 소정의 링크내의 전자회로에서의 고장을 완화시키게 하는 다른 설비를 필요로 한다.
본 발명의 목적은 광 라인을 교환기에 접속하기 위한 시스템을 제공하는 것이고,
시스템은
자동 수단에 의해, 특히 라인 및 정크터내에 포함된 광 및 광전자 수단에 의해 검사되는 라인 및 정크터,
스페어 정크터에 접속된 라인의 검사, 및 어떤 라인에 접속되는지에는 관계없고, 다른 라인상의 서비스를 인터럽트하지 않고 스페어 정트터의 검사,
고장난 것으로 조사된 라인들에만 스페어 정크터를 접속하는 것, 및
검사 장치의 자기-검사를 가능하게 하고,
시스템은 또한 그들의 구성에 관계없이 광 링크의 송신 능률을 저하시키지 않고, 명목상으로는, 검사시에, 또는 스페어 정크터에 접속되는 구성도 가능하여, 라인에 정상적으로 조합된 정크터와 유사한 스페어 정크터를 수행가능하게 하고 정크터내에 수행된 것들과 유사한 광전자 소자를 사용하여 검사 회로를 수행가능하게 한다.
시스템의 크기 및 모듈성은 시스템이 여러가지 상이한 크기로 바꾸어 사용되게 하고 크기를 때에 따라 변화하게 할 수 있도록 되어 있고,
시스템 가격이 최적화될 것이다.
본 발명은 교환기를 BISND 회로망 및 스위치식 리모트 분배 회로망과 같은 광 대역 다중서비스내의 원거리 통신 회로망내의 광 가입자 라인들 및 광 접합에 접속하기 위한 시스템을 제공하는 것이고, 가입자에 접속된 각각의 광 라인은 첫째 가입자 구내 상에 배치된 가입자 터미널내의 송신 회로 및 수신 회로에 접속되고, 둘째는 교환기의 정크터 내의 송신 회로 및 수신 회로에 접속된다. 접합에 접속된 각각의 광 라인은 원거리 교환기의 정크터내의 송신 회로 및 수신 회로에 접속되고 교환기내의 회로의 송신 회로 및 수신 회로에 접속된다. 상기 교환기는 또한 스페어 정크너를 포함하고, 시스템은 광 라인이 교환기의 정크너에 접속되고 N개의 광 라인의 접속 용량을 갖는 최소한 하나의 접속 모듈을 포함하는 최소한 하나의 접속 어셈블리를 통하여 이의 스페어 정크터에 접속되고, 접속 모듈은 제1, 제2 및 제3 광 스위치 어셈블리로 구성되고, 접속 모듈에서, 제1 광 스위치 어셈블리는 광 라인에 접속되고, 제2 광 스위치 어셈블리는 제1 광 스위치 어셈블리와 정크터 및 N개의 광 라인에 조합된 스페어 정크터에 접속되고, 제3 광 스위치 어셈블리는 제1 광 스위치 어셈블리에 접속되고 검사 라인 강 파이버 및 정크터 검사 광 파이버를 통하여 최소한 하나의 검사회로에 접속되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 광 라인은 교환기의 정크터에 접속되고 2개의 호출 방향으로 광 신호를 이동시키는 단일 접속 어셈블리를 통하여 스페어 정크터에 접속되고, 각각의 광 라인은 2개의 호출 방향으로 광 신호를 이동시키는 단일 접속 어셈블리를 통하여 스페어 정크터에 접속되고, 각각의 광 라인은 2개의 호출 방향으로 광 신호를 이동시키는 단일 광 파이버로 이루어지고, 각각의 정크터 및 각각의 스페어 정크터는 듀플렉서 및 단일 광 파이버를 통하여 제2 광 스위치에 접속되고, 접속 어셈블리는 라인 검사 광 파이버 및 듀플렉서를 통하여 송신 검사 회로 및 수신검사 회로에 접속되고 정크터 검사 광 파이버 및 또 하나의 듀플렉서를 통하여 상기 송신 검사 회로 및 상기 수신 검사 회로에 접속된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 접속 시스템은 각각 한 호출 방향에 특정된 제1 및 제2 접속 어셈블리를 포함하고, 정크터 및 스페어 정크터의 각각의 송신 회로는 파이버를 통하여 제1 접속 어셈블리에 접속되고, 정크터 및 스페어 정크터의 각각의 수신 회로는 수신 파이버를 통하여 제2 접속 어셈블리에 접속되고, 각각의 광 라인은 듀플렉서에 의해 2개의 접속 어셈블리에 접속된 단일 광 파이버로 이루어지고, 각각의 어셈블리는 광 파이버를 통하여 상기 듀플렉서에 접속되고, 제1 접속 어셈블리는 송신 검사 회로에 접속되고, 제2 접속 어셈블리는 수신 검사 회로에 접속된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 접속 시스템은 각각 한 호출 방향으로 특정된 제1 및 제2 접속 어셈블리를 포함하고, 정크터 및 스페어 정크터의 각각의 송신 회로는 송신 광 파이버를 통하여 제1 접속 어셈블리에 접속되고, 정크터 및 스페어 정크터의 각각의 수신 회로는 수신 광 파이버를 통하여 제2 접속 어셈블리에 접속되고, 각각의 광 라인은 제1 및 제2 광 파이버로 이루어지고, 가입자 터미널 및 리모트 정크터의 각각의 수신 회로는 광라인의 제1 과 파이버를 통하여 제1 접속 어셈블리에 접속되고, 가입자 터미널 및 리모트 정크터의 각각의 송신 회로는 광 라인의 제2 광 파이버를 통하여 제2 접속 어셈블리에 접속되고, 제1 접속 어셈블리는 송신 검사 회로에 접속되며, 제2 접속 어셈블리는 수신 검사 회로에 접속된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 접속 시스템은 다수의 접속 모듈 및 제4 광 스위치 어셈블리를 포함하고, 각각의 접속 모듈의 제3 광 스위치 어셈블리는 제4 광 스위치 어셈블리에 접속되고, 상기 제4 광 스위치 어셈블리는 상기 라인 검사 광 파이버 및 상기 정크터 검사 광 파이버를 통하여 최소한 하나의 검사 회로에 접속된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 각각의 광 스위치 어셈블리는 억세스의 2개의 그룹을 각각 갖고 있는 광 스위치로 이루어지고, 억세스의 제1 그룹은 광 스위치 내에 있는 수단을 통하여 서로 정상적으로 접속된 제3 억세스 및 제2 억세스로 구성된 p쌍의 억세스로 각각 구성되고, 억세스의 제2 그룹은 쌍내의 억세스 사이의 내부 접속을 차단한 후에 광 스위치 내에 있는 수단에 의해 제1 그룹내의 억세스의 p쌍중의 어느것의 제1 억세스 및 제2 억세스에 각각 접속된 제1 억세스 및 제2 억세스로 구성된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 제2 광 스위치 어셈블리는 2개의 그룹의 각각내의 동일한 열의 억세스가 광 스위치 내부에 있는 수단을 통해 서로 조합되고 접속되도록 p억세스의 2개 그룹을 각각 갖고 있는 광 스위치로 이루어지고, 제1 그룹의 억세스 중의 어느한 억세스를 통하여 최소한 하나의 내부 접속은 상기 억세스의 각각과 이에 조합된 억세스들 사이의 각각의 내부 접속을 파괴한 후에 제2 그룹의 억세스중의 어느 하나에 접속될 수 있다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 서로 상호 접속된 제1 및 제2 광 스위치 어셈블리의 광 스위치는 광 매트릭스를 형성하도록 조합된다.
본 발명의 다른 특성에 따르면, 접속 어셈블리의 광 스위치는 교환기의 제어 수단에 자체로 접속된 제어 회로에 제어 라인을 통하여 접속된다.
본 발명은 첨부 도면에 관련하여, 제한되지 않는 예로서 주어진 본 발명의 양호한 실시예를 설명함으로써 더욱 상세히 기술된다.
제1A도에서, 광 라인을 교환기에 접속하기 위한 본 발명에 따른 시스템의 이론도가 도시되어 있고, 이것은 각각의 광 라인이 송신의 한 방향에 관한 신호를 각각 이동시키는 2개의 광 파이버로 이루어진 경우에 적용되어 있다. 이해에 별 도움이 되지 않는 모든 항목은 도면에서 생략되었고, 특히 광대역 광 라인이 접속된 교환기를 이루는 여러가지 소자 및 이의 터미널을 이루는 여러가지 품목은 생략되었다.
도면에서, (1)은 가입자 구내 또는 리모트 교환기에서의 접합 정크터상에 배치된 가입자 터미널이다.
이것은 중간 광 파이버(1.21)에 접속된 레이저 다이오드와 같은 광전자 송신기(1.21) 및 중간 광 파이버(1.31)에 접속된 PIN 다이오드와 같은 광 전자 수신기(1.3)에 둘다 전기적으로 접속된 일련의 회로(1.1)로 구성된다. 중간 파이버(1.21 및 1.31)의 자유 단부들은 각각의 광 접속기(1.210 및 1.310)에 접속되므로, 교환기를 터미널 또는 리모트 교한기내의 접합 정크터에 접속하는 광 라인으로 이루어진 각각의 광 파이버(3.2 및 3.1)에 접속된다.
교환기에서, 파이버(3.1 및 3.2)는 2개의 중간 파이버(8.11 및 8.21)의 단부에서 광 접속기(8.110 및 8.210)에 각각 접속되는데, 이의 다른 단부는 제3도 또는 제4A도, 제4B도 및 제5도 중의 하나에 도시된 바와 같이 접속된 광 스위치로 이루어진 최소한 하나의 접속 모듈로 각각 구성된 2개의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)에 접속된다.
상기 접속 어셈블리(8.1 및 8.2) 는 또한 각각의 중간 파이버(8.12 및 8.22) 및 그들의 접속기(8.120 및 8.220)을 통하여 파이버(3.1 및 3.2)로 이루어진 광 라인과 함께 교환기내에 조합된 정크터(5)에 접속되고, 상기 중간 파이버(8.12 및 8.22)는 정크터의 광전자 송신기(5.2) 및 광전자 수신기(5.3)에 각각 접속되고, 상기 광전자 소자는 다른 교환기 장비(도시 안됨)에 접속하기 위해 정크터내의 전자 회로(5.1)에 전기적으로 접속된다.
상기 2개의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)는 또한 광 파이버(8.13 및 8.23) 및 그들의 광 접속기(8.130 및 8.230)을 통하여 스페어 정크터(6)의 각각의 광전자 송신기 및 수신기(6.2 및 6.3)에 접속되고, 상기 광전자 송신기 및 수신기는 다른 교환기 장비(도시 안됨)와의 접속을위해 정크터 내의 전자 회로(6.1)에 전기적으로 접속된다.
도면에 도시되어 있지 않지만, 상기 2개의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)는 다수의 다른 접함 또는 가입자 접속 광 라인 및 이에 조합된 정크터와 또한 다수의 스페어 정크터에도 정확하게 동일한 방법으로 접속된다.
상기 접속 어셈블리(8.1)은 또한 2개의 광 파이버(8.14 및 8.15) 및 그들의 광 접속기(8.140 및 8.150)을 통하여 송신 검사 회로(7.1)에 억세스하는 광 파이버(7.11 및 7.12)에 접속된다. 이와 마찬가지로, 상기 접속 어셈블리(8.2)는 광 파이버(8.24 및 8.25) 및 그들의 광 접속기(8.240 및 8.250)을 통하여 수신 검사 회로(7.2)에 억세스하는 광 파이버(7.21 및 7.22)에 접속된다. 상기 송신 및 수신 검사 회로는 각각 제어 수단(상세히 도시안됨)에 의해 제어된 라인 검사 수단 및 정크터 검사 수단을 포함하고 상기 검사 수단은 광 파이버(7.11, 7.21, 7.12 및 7.22)에 접속된 각각의 광 억세스를 갖고 있다.
상기 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)는 또한 전기적 링크(9.1 및 9.2)를 통하여 접속 시스템을 제어하기 위한 제어 회로(9)에 접속되고, 검사 회로(7.1 및 7.2)의 제어 수단도 마찬가지로 전기적 링크(9.3 및 9.4)를 통하여 교환기 제어 수단 (도시 안됨)에 자체로 접속된 상기 제어 회로(9)에 각각 접속된다.
전기적 링크(9.1)는 검사중에 광 정크터 및 라인을 대는 스위치에 대한 스위칭 명령을 이동시키고, 전기적 링크(9.2)는 광 라인을 스페어 정크터에 접속하기 위한 스위칭 명령을 이동시키고, 전기적 링크(9.3 및 9.4)는 제어 명령 및 검사 회로에 관한 신호를 이동시킨다.
가입자 터미널 또는 접합 링크의 정크터와 교환기내의 조합된 정크터사이의 2-방향 송신은 2개의 분리 광 신호를 사용하는데 송신 방향에 따라, 교환기로부터 가입자를 향한 송신에 대응하는 신호는 교환기 정크터의 송신기(5.2)에 의해 송신되고, 가입자 터미널의 광전자 수신기(3.1)에 도달하기 전에, 중간 파이버(8.12), 제1접속 어셈블리(8.1), 중간 파이버(8.11), 광 파이버(3.1), 및 중간 파이버(1.31)를 통하여 전이된다.
가입자로부터 교환기를 향한 송신에 대응하는 신호는 가입자 터미널내의 송신기(1.2)에 의해 송신되고, 정크터내의 광전자 수신기(5.3)에 도달하기 전에, 중간 파이버(1.21), 광 파이버(3.2), 중간 파이버(8.22)를 통하여 전이된다.
본 발명의 양호한 실시예에서, 교환기-가입자 방향의 송신은 1300nm의 파장을 갖는 광 신호를 사용하고, 가입자-교환기 방향의 경우에는 1550nm의 파장을 갖는 광 신호를 사용하며, (5.2 및 6.2)와 같은 송신기 및 (1.3)과 같은 수신기는 처음에 언급된 파장으로 동조되고, (1.2)와 같은 송신기 및 (5.3 및 6.3)과 같은 수신기는 두 번째 언급된 파장으로 동조된다.
파이버(8.14 및 8.15)에 각각 접속된 검사 회로(7.1) 내의 광전자 송신 및 수신 소자는 1300nm로 동조되고, 파이버(8.24 및 8.25)에 각각 접속된 검사회로(7.2)의 광전자 송신 및 수신 회로는 1550nm로 동조된다. 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)는 각각 1285nm내지 1330nm 및 1520nm 내지 1570nm의 광 통과 대역을 갖는다.
제1B도는 광 라인이 2개의 송신 방향에 관련한 신호를 이동시키는 각각의 단일 광 파이버로 각각 이루어질 때의 교환 접속의이론도이다.
기술된 시스템은 터미널(1) 및 교환기를 접속한 하인에 관한 것은 제외하고 제1도에 도시된 것과 유사하고, 제1B도에 도시된 예에서는, 제1A도의 2개의 광 파이버(3.1 및 3.2)를 대신해서 단일 광 파이버(3)으로 구성되고, 상기 광 파이버(3)는 2개의 방향으로 광신호를 이동시키고, 광 파이버의 각각의 단부에서 송신 방향을 분리시키기 위한 각각의 광 듀플렉서(2 및 4)에 각각의 광 접속기(2.1 및 4.1)을 통하여 접속된 이의 단부를 각각 갖고 있고, 듀플렉서는 전술한 접속기(1.210, 1.310 및 8.110, 8.210)에 각각 접속된 그들의 다른 억세스를 갖고 있다.
제2A도는 접속 어셈블리내에 사용된 광 스위치(C)가 어떻게 동작하는지를 도시한 것으로, 스위치는 단부 B1 및 B2를 갖고 있는 광 덕트(duct)에 관련하여 직렬로 접속된 p 접속점 S1, Si, Sp로 구성되고, 각각의 접속 점은 2개의 다른 억세스 A11-A21, A1i-A2i, A1p-A2p를 갖고, 접속 점의 휴지 상태에 대응하는 접속의 제1 쌍(A1i-A2i, B1-B2) 사이나 또는 접속점의 동작 상태에 대응하는 접속의 제2 쌍(A1i-B2, B1-A2i)사이의 개별적인 접속을 설정하기 위해서 제어 라인(CS)에 의해 유도된 전기적 제어 신호에 응답하기에 적합하다.
상기 스위치 C는 2개의 상이한 모드로 제어될 수 있는데, 첫째, 단일 선택모드는 스위치 내의 접속의 단일 쌍(A1i-B2 및 B1-A2)를 설정하기 위해서 단일 접속 점 Si를 작동시키고, 둘째로, 2중 선택 모드에서는, 2개의 접속점 Si 및 Sj가 동시에 작동되어서, 3개의 광 경로(A1i-A2j; B1-A2i; 및 A1j-B2)의 조합을 발생하는 2개의 제2접속을 동시에 설정한다.
본 발명의 양호한 실시예에서, 전술하고 제2A도에 도시한 스위치 C와 같은 2개의 스위치(Ca 및 Cb)는 제1 스위치의 억세스 A2i와 제2 스위치의 억세스 A1i를 상호접속함으로써 함께 접속되어서, 제2B도에 도시된 광 매트릭스 OS를 이루고, 그 매트릭스는 p쌍의 조합된 광 억세스 Ei, Di의 제1 집합, 2쌍의 광 억세스 B11-B21, B12-B22의 제2 집합, 및 매트릭스를 이루는 제1 및 제2 스위치 Ca 및 Cb를 각각 제어하는 전기적 제어라인(CS1및 CS2)의 2개의 집합을 갖고 있다.
광 스위치 C또는 광 매트릭스 OS는 여러 가지 형태가 상용화되어 있는 2 x 2 전기-광 결합기와 같은 공지된 광 접속 점을 어셈블함으로써 이루어질 수 있고, 또는 접속 시스템의 양호한 실시예에서는, 리튬 니오베이트 기판상에 스위치 도는 매트릭스를 이루는 광 덕트 및 전기- 광 결합기를 집적함으로써 이루어질 수 있으며, 덕트에의 억세스는 집적된 광 도파관에 어셈블된 인입 광 파이버에 의해 이루어질 수 있다.
제3도는 제2A도를 참조하여 전술한 형태의 스위치(C)로 이루어진 고아 스위치로 구성된 접속 모듈의 이론도이고, 제1A도 및 제1B도의 상기 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)는 최소한 하나의 접속 모드로 각각 구성되어 있다.
광 스위치는 아래에 설명하는 바와 같이 다수의 광 스위칭 어셈블리로서 분배된다.
제1 광 스위칭 어셈블리는 광 접속기 Lij에 접속되고, 제1A도내의 파이버(8.11) 또는 파이버(8.21)과 같은 중간 라인 파이버에 자체로 접속된 이의 억세스 A1i를 각각 갖고 있고, 이의 억세스 A1i를 통하여 억세스 A2i의 각각이 광 접속기 Jij에 접속되고 제1A도의 중간 파이버(8.12 또는 8.22) 와 같은 정크터 접속 중간 파이버에 자체로 접속된 제2 광 스위치 어셈블리에 접속된 n 광 파이버 스위치(C11, ..... C1n)로 이루어진다.
제2 스위치 어셈블리의 n 광 스위치는 또한 그들의 B2 억세스를 통하여 제1A도의 중간 파이버(8.13 또는 8.23)과 같은 중간 스페어 정크터 억세스 파이버에 자체로 접속된 광 접속기 Jij에 각각 접속된다.
제3 광 스위치 어셈블리로 이루어진 광 스위치(C31 및 C32)는 그들의 n 억세스 A1j의 각각에 의해 제1 광 스위치 어셈블리내의 스위치 C1j의 각각의 B1 억세스 및 B2 억세스에 접속되고, 그들의 B2 억세스를 통하여 전술한 정크터 검사 라인 및 검사 라인에 각각 접속가능한 각각의 광 접속기 TJ 및 TL에 접속된다.
접속 모듈로 이루어진 여러 가지 광 스위치는 그들의 인입 파이버를 접속함으로써 상호접속되거나, 그들의 인입 파이버상에 장착된 광 접속기에 의해 상호 접속되며, 이들 접속은 제3도에서 (R12, R13.1, 및 R13.2)로 표시되어 있다.
여러 가지 스위치를 위한 제어 라인은 검사 선택을 제어하고 스페어 정크터 라인에의 접속을 제어하는 것에 각각 대응하는 2개의 그룹 CT 및 CS로 그룹지워진다. 제3도에서, p는 스위치(C)내의 접속 점의 수이고, n은 제1 및 제2 스위치 어셈블리내의 스위치의 수인데, n은 p보다 크지 않으며, 접속 모듈에 의해 안전하게 될 수 잇는 광 라인의 수 N1은 곱(n.p)와 같다.
스페어 정크터의 수는 n이다.
각각의 스페어 정크터는 p 광 라인의 그룹과 조합된다.
제1 및 제2 스위치 어셈블리내에 장비될 수 있는 스위치의 최대수가 p와 같기 때문에,
접속 모듈에 의해 안전하게 될 수 있는 라인의 최소 수 Nm1은 P2와 같다. 스페어 정크터의 최대 수는 p와 같고, 각각의 스페어 정크터는 p 광 라인의 그룹과 조합된다.
제3도는 단지 본 발명의 시스템의 접속 모듈을 간단히 설명하기 위한 이론도이다.
결합 라인 a-b를 갖고 있는 동 도면의 절반인 제4A 및 제4B도에 도시한 바와 같은 실제 시스템에서는 제2B도를 참조하여 기술된 2개의 스위치(Ca 및 Cb)로 각각 구성되고, 각각 k 접속점을 갖고있는 광 매트릭스 OS로 사용된다. 제4A도 및 제4B도에서, (M11.1, ....., Mny.z)는 제1 및 제2 스위치(Ca 및 Cb)가 상기 제1 및 제2스위치 어셈블리를 이루는데 각각 사용되는 광 매트릭스이고, CC31.1에서 C31.x 및 C32.1에서 C32.x 는 제1스위치 Ca만이 상기 제3스위치 어셈블리를 이루는데 사용된 광 매트릭스이고, 상기 제3스위치 어셈블리는 광 매트릭스의 2개의 콜렉션(C31 및 C32)으로 이루어진다.
상기 제1, 제2, 및 제3 스위치 어셈블리의 각각은 다수의 매트릭스를 직렬로 상호접속함으로써 이루어질 수 있고, x 매트릭스는 제3 스위치 어셈블리의 콜렉션(C31 및 C32)의 각각을 위한 것이고, n=(x.k) 콜렉션 이상이 되지 않는 각각을 위한 (y,z) 매트릭스는 상기 제1 및 제2 스위치 어셈블리를 이룬다.
상기 제1 및 제3 스위치 어셈블리를 위해서, 한 콜렉션내의 열r의 매트릭스의 억세스 (B12)는 열 r+1의 매트릭스의 억세스 (B11)에 접속되고, 상기 제1 스위치 어셈블리내의 콜렉션의 제1 매트릭스의 억세스 B11 및 최종 매트릭스의 억세스 B12는 각각 콜렉션 (C31 및 C32)내의 대응하는 열의 억세스(A1i)(매트릭스의 억세스 Ei)에 각각 접속되고, 상기 제1 및 제2 스위치 어셈블리를 형성하는 매트릭스의 각각의 억세스 Ei 및 Di 는 광 접속기(L) 및 광 접속기 (J)에 각각 접속되고, 상기 제3 스위치 어셈블리의 콜렉션(C3 및 C32)내의 최종 매트릭스의 각각의 B12 억세스는 전술한 바와 같이 광 접속기(TJ 및 TL)에 각각 접속된다.
상기 제2 스위치 어셈블리를 위해서, 열 r의 광 매트릭스의 억세스 B22가 열 r+1의 광 매트릭스의 억세스 B21에 각각 접속되는 y매트릭스를 각각 포함하는 기본의 콜렉션이 있고, 각각의 기본 콜렉션내의 최종 광 매트릭스의 억세스 B22는 전술한 광 접속기 JS에 접속된다.
기본 콜렉션의 수 z는 곱(n,z)가 라인 안전성을 제공하는데 필요한 스페어 정크터의 수보다 적도록되고, 수 s는 서비스의 바람직한 질, 장비의 신회성, 및 보수 동작의 허용가능한 빈도의 함수로서 결정된다. 접속 모듈에 의해 안전하게 될 수 있는 라인의 최대수 Nm2는 Nm2=(n.y.a.k)=(x.y.z.k2)이고, 접속될 수 있는 스페어 정크터의 최대수 S=(n.a)=(x.y.z)이고, 스페어 정크터의 각각은 (y.k)광 라인의 그룹과 조합된다.
이 설비는 매우 신축성 있는 안전 시스템으로 차원화될 수 있다.
삽입된 접속점의 수를 감소시킴으로써 스페어 및 검사 라인의 광 경로내에 삽입된 접속점에 의해 발생된 손실을 최적화시킬 수 있는데, 예를 들어, 시스템내의 광 경로상에 삽입된 접속 점의 수는 k.(x+(y.z))이고, 이것은 시스템이 모든 라인에 접속된 검사 장치에 단지 하나의 억세스 선택기를 사용하는 경우에는 (x.y.z.k2)과 같다.
여러 가지 스위치를 위한 제어 라인은 검사 선택을 제어하고 스페어 정크터 라인 접속을 제어하는 것에 각각 대응하는 제어 라인 CT 및 CS의 2그룹으로 그룹지워지고, 2개의 그룹은 제1A도 및 제1B도의 전기적인 제어 라인(9.1 및 9.2)에 각각 접속된다.
제5도는 동일한 소자에 기초한 스위치의 상이한 설비로 구성된 접속 모듈의 이론도이다.
상기 제1 및 제3 스위치 어셈블리에 관한 모든 구조적 세부사항은 전술한 것과 동일하다. 변화된 구조적 설비는 단지 상기 제2스위치 어셈블리에 스페어 정크터를 접속하는 것에 관한 것인데, 상기 제2스위치 어셈블리를 구성하는 z 기본 콜렉션내의 치종매트릭스의 BB2 억세스에 접속되는 것 대신에, 스페어 정크터는 광접속기 TS를통하여 동일한 최종 억세스 Dp(제2B도)에 접속된다.
이 설비는 스페어 정크너로서 정크터의 다수의 그룹의 어셈블리를 구성하는 정크터의 그룹의 각각의 최종 정크터, 또는 정크터의 다수의 그룹의 상기 어셈블리내의 최종 그룹의 정크터를 사용하는 것을 가능하게 하고, 스페어 정크터로서 사용된 정크터의 각각은 이 경우에서, 특정한 광 라인에 조합되지 않는다.
제4A도 및 제4B도에 대해 상기 정의된 표시를 다시 참조하면, 접속 모듈에 의해 안전하게 될 수 있는 광 라인의 수는 (x.y.z.(k-1).k)이고, 접속될 수 있는 스페어 정크터의 최대 수는 s=(x.y.z)이고, 스페어 정크터의 각각은 y.(k-1) 광 라인의 그룹과 조합된다.
필요한 라인에의 스페어 정크터의 접속은 전술한 바와 같이, 대응하는 스위치내의 2중 선택을 통하여 발생한다.
본 발명의 대부분의 빈도 높은 응용에서, 제1A도 및 제B도의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2), 및 제7도의 (8.0)은 검사 회로 억세스 파이버에 직접 접속된 접속기(TJ 및 TL)에 접속된 단일 접속 모듈로 각각 구성된다.
제6도는 상당한 수의 라인의 접속할 수 있는 큰 용량의 접속 어셈블리의 이론도이다.
제3도, 제4A도, 제4B도 또는 제5도에서 기술된 것과 같은 다수의 접속 모듈(G11, ....., Gvk)는 v 광 매트릭스 M41.1, ....., M41.V 및 M42.1, ....., M42.V 각각의 2개의 콜렉션 C41 및 C42로 구성된 제4 광 스위치 어셈블리에 접속된 그들의 억세스 TJ 및 TL (TJ11, ...., TJvk 및 TL11, ..... TLvk)를 갖고 있고, 상기 콜렉션은 제4A도 및 제4B도의 제3 스위치 어셈블리를 구성하는 콜렉션(C31, C32)와 유사하다.
억세스(TJ)의 각각은 제4 광 스위치 어셈블리의 제1 콜렉션(C41)을 구성하는 매트릭스(M41.1 내지 M41.V) 중의 한 매트릭스의 억세스 Ei에 접속된다.
억세스 TL의 각각은 제4 광 스위치 어셈블리의 제2 콜랙션(C42)를 구성하는 매트릭스(M42.1 내지 M42.V) 중의 한 매트릭스의 억세스 Ei에 접속된다.
콜렉션(C41 및 C42)는 광 매트릭스(M42.1내지 M42.V)의 억세스(B12)로부터 검사 라인 억세스 접속기 TJ4 및 TL4에 각각 접속된다.
여러 가지 스위치의 제어 라인은 전술한 것과 같은 제어 회로에 접속된 번들(buddle)(CS 및 CT)내에 함께 그룹지워진다.
v가 제4 스위치 어셈블리를 구성하는 광 매트릭스의 수인 경우에, 시스템에 의해 안전하게 될 수 있는 라인의 최대 수는 접속 모듈이 제4A도 및 제4B도에 도시한 형태로 되어 있을때 Nm4=(x.y.z.v.k.k2) 이고, 접속될 수 있는 스페어 정크터의 최대 수는 Sm4=(x.k2.z.v)이고, 스페어 정크터의 각각은 (y.k)광 라인의 그룹과 조합되고, 또는 제5도에 도시한 형태로 되어 있을 때 Nm5=(x.y.z.v.(k-1).k2)이고, 이 경우에 접속될 수 있는 스페어 정크터의 최대 수는 Sm5=(x.k2.z.v)이고, 스페어 정크터의 각각은 y.(k-1) 광 라인의 그룹과 조합된다.
제7도는 넣ㅂ은 통과대역 (예를 들어 1285 nm로부터 1570nm까지 연장한 대역폭)을 사용하고 광 라인상의 2개의 송신 방향에 관련한 광 신호를 송신하기에 적합하고 단일 광 파이버로 각각 구성된 광 라인에 접속하는데 사용가능한 본 발명의 상이한 설비를 도시한 것이다.
라인을 구성하는 단일 파이버(3)은 그들의 교환기 단부에서 접속기(8.010) 및 중간 파이버(8.01)을 통하여 제3도, 제4A도, 제4B도, 제5도 또는 제6도에 관련하여 전술한 바와 같이 구성된 최소한 하나의 접속 모듈을 포함하는 단일 접속 어셈블리(8.0)에 접속되고, 접속 어셈블리는 또한 중간 파이버(8.02) 및 광 듀플렉서(4.5)를 통하여 광 라인(3)에 조합된 정크터(5)에 접속되고, 광 파이버(8.03) 및 광 듀플렉서 (4.6)을 통하여 스페어 정크터에 접속되고, 파이버(8.04) 및 듀플렉서(8.06)을 통하여 다른 억세스는 파이버(7.11 및 7.21)에 각각 접속되고, 파이버(8.05)를 통하여 다른 억세스가 각각 파이버(7.12 및 7.22)에 접속된 듀플렉서(8.07)에 접속된다. 파이버 (7.11 및 7.12)는 전술한 송신 검사 회로(7.1)에 억세스하고, 파이버(7.21 및 7.22)는 전술한 수신 검사 회로(7.2)에 억세스 한다.
본 발명은 각각의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)가 제4A도 및 제4B도에 도시한 형태의 단일 접속 모듈로 구성된 것으로 가정한 제1A도에 도시한 시스템의 동작의 예에 의해 주어진 다음 설명으로부터 양호하게 이해가 될 것이다.
루틴 상태하에서, 광 링크의 각각의 적당한 동작은 (교환기 제어 수단에 의해 결정되는) 낮은 통화율의 기간 동안에 주기적으로 검사되고, 교환기의 일반적인 감독 및 보수 수단의 감독하에서, 주기적으로 검사되는데, 이 수단은 교환기 자체에 있을 수 있고 교환기로부터 떨어진 보수 센터에 배치될 수 있다.
검사는 다음 동작을 포함한다.
검사될 광 라인이 교환기의 제어 부재에 문의함으로써 부동되는지를 확인하고,
상기 라인의 어드레스를 포함하는 라인 검사 명령을 일반적인 교환기 감독 및 보수 수단으로부터 제어 회로(9, 제1A도)에 보내고,
(제어 회로(9)에 의해) 접속 어셈블리(8.1 및 8.2) 내에 관련된 스위칭 점의 어드레스를 계산하고,
전기적 링크(9.1) 위에 있는 제어 회로로부터 상기 스위칭 점 어드레스를 송신하고,
2개의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)의 각각에서, 다음의 과정을 사용하여 제1 및 제3 스위치 어셈블리에 관련된 접속점을 배치하는 것으로, 검사될 광 링크는 제4A도 및 제4B의 링크(L11.11)에 전술한 바와 같이 접속되고, 2개의 어드레스는 링크(9.1)에 접속된 링크(CT)상의 전기적 신호의 형태로 동시에 제공되고, 제1 어드레스는 동시에 제3 스위치 어셈블리의 광 매트릭스(C31.1 및 C32.1)내의 접속 점(P1)을 동작하게 하여, TJ와 V11 및 TL과 V12 사이의 광 연속성을 각각 설정하고, 제2 어드레스는 L11.11과 J11.11사이의 광 연속성을 인터럽트하는 광 매트릭스 M11.1내의 접속 점 P1을 제어하고 L11.11과 V12 및 J11.11과 V11사이의 2개의 새로운 광 연속성을 설정하여, L11.11은 TL에 광학적으로 접속되고 J11.11은 새롭게 설정된 광 경로를 통하여 TJ에 광학적으로 접속된다.
상기 과정이 접속 어셈블리(8.1 및 8.2 (제1A도)에서 수행되었을 때, 검사 및 조합된 정크터상의 광 라인은 송신 및 수신 검사 회로(7.1 및 7.2)에 접속되고 제어 회로(9)는 링크(9.3 및 9.4)상에 각각 검사 작동 명령을 그들에게 보내고, 이것이 이로부터 결과 신호를 수신하는 검사를 하고,
회로(7.1)은 검사시에 정크터(5)의 송신 장치(5.2)로 부터의 수신을 독립적으로 모니터하고 광 라인(3) 및 가입자 터미널(1)내의 수신 장치(1.3)을 통하는 송신에 의해 독립적으로 모니터한다.
회로(7.2)는 검사시에 정크터(5)내의 수신 장치(5.3)로의 2가지 송신을 독립적으로 모니터하고, 광 라인(3) 및 가입자 터미널(1)의 송신 장치(1.2)를 통하여 수신을 모니터한다.
검사 시퀀스가 끝났을 때, 검사된 라인을 비접속하고, 제어 회로(9)는 상기 점이 그들의 초기 상태로 복귀되도록 이전에 작동된 접속 점에 관련한 2개의 접속 어셈블리(8.1 및 8.2)에 새로운 어드레스 신호를 인가하여, L11.11과 TL 및 J11.11과 TJ 사이의 광 연속성을 차단하고, 동시에 L11.11과 J11.11 사이의 광 연속성을 재설정하여, 검사된 후에, 광 라인은 그 자신의 정크터에 재접속되고 작동 가능하게 될 것이며,
라인 검사 종료 메시지는 전술한 과정을 반복함으로써 다른 라인의 검사를 개시할 수 있는 교환기의 일반적인 감독 및 보수 수단에 제어 회로(9)에 의해 송출된다고 신호한다.
그들이 작동되는 동안에 라인을 감독하는 다른 장치에 의해 링크상에서 고장이 조사되는 경우에, 교환기의 일반적인 감독 및 보수 수단은 고장을 찾아내기 위해서 전술한 것과 동일한 방식으로 해당 라인을 취한다.
라인 정크터가 검사 루틴중 또는 고장을 찾아내기 위한 절차중에 고장으로 판명된 경우에, 관련된 광 라인은 스페어 정크터가 고장 정크터가 속하는 링크의 그룹을 위해 유용하게 되는 한에 있어서 스페어 정크터에 스위치 오버(over)된다.
다음 절차를 사용하여 스위치오버가 발생한다.
제4도의 (J11.11)에 접속된 정크터가 고장으로 검출된다고 가정하면, 제어회로(9)(제1A도)는 교환기의 일반적인 감독 및 보수 수단으로부터 스위치오버 명령을 수신하고, 제어회로(9)는 접속 어셈블리의 각각 (8.1 및 8.2)내에 관련된 접속 점의 어드레스를 보내기 위해서 전기적 링크(9.2)를 사용하는데, 본 발명의 예에서는, 접속 어셈블리의 각각내의 접속 모듈의 광 매트릭스(M11.1)내의 접속점(P2)의 어드레스이다. 제4A도 및 제4B도의 각각의 접속 모듈의 링크(CS)에 수신된 이 어드레스는 (M11.1)의 접속 점(P2)가 L11.11과 J11.11 사이의 광 연속성을 차단하고 L11.11과 JS1.1, 즉 해당 광 라인과 라인이 속하는 그룹을 위한 스페어 정크터사이의 광 연속성을 설정하기 위한 방식으로 동작하게 한다.
J11.11에 접속된 광 라인을 위한 지정 정크터가 수리되었을 때, 지정 접속은 전술한 경로에서 명령을 접속 점 P2에 보내고 L11.11에서 JZ1.1 까지의 광 경로를 차단하고 L11.11에서 J11.11까지의 광 경로를 재설정하라고 명령함으로써 재설정된다.
라인 및 스페어 정크터를 포함하는 광 링크가 광 매트릭스 C31.1, C32.1 및 M11.1내의 접속 점(P1)을 스위칭함으로써, 전술한 정상적인 절차를 사용하여 검사될 수 있으므로, 광 라인은 TL에 접속되고 스페어 정크터는 TJ에 접속되는 것을 알 수 있다.
검사 회로(7.1 및 7.2)가 제1 광 스위치 어셈블리를 통하여 어느 라인 또는 정크터에도 접속되지 않을 때, 그들은 그들의 송신 회로를 제1 및 제3(제공되는 경우에) 제4 광 스위치 어셈블리를 통하여 그들의 수신 회로에 접속함으로써 자체로 검사될 수 있으므로, 상기 스위치를 또한 검사할 수 있다는 것을 알 수 있다.
이것이 사용하는 스위치의 콜렉션내의 높은 모듈성으로 인해서, 및 이로부터 유도되는 용이한 구성으로 인해서, 본 발명의 시스템은 다음을 최적하게 할 수 있다.
필요한 검사 수단의 수,
알맞게 필요한 스페어 정크터의 수, 및
검사 광 경로 및 안전 광 경로 내에 삽입된 접속점 및 접속 스플라이스(splice)의 수, 결과적으로 상기 경로상의 손실인데, 라인 정크터에 제공된 것들과 상이한 광 송신 및 수신 수단을 검사 장비 및 스페어 정크터에 제공할 필요를 없애준다.
본 발명은 또한 지정 검사 절차가 수정될 필요없이 스페어 정크터에 접속된 광 링크를 검사하는 것을 가능하게 한다.
본 발명은 검사 장치가 각각의 검사 회로의 수신 회로에 송신회로를 접속함으로써 자체를 검사하는 것을 가능하게 한다.
광범위한 크기의 광 라인 접속 시스템에 안정성을 제공하는 것을 가능하게 하는 이의 모듈라 특성과, 스페어 정크터에 접속된 라인을 모니터할 수 있는 가능성에 의해 본 발명은 광대역 통신 시스템용 장비에 관련한 종래 기술에 비해 상당한 개량점을 가지므로, 제공되는 서비스를 개량시키고 보수 관리를 용이하게 한다.
본래, 본 발명은 단지 예로써 제공된 기술되고 도시한 실시예에 제한되지는 않는다. 특히, 본 발명의 범위를 벗어나지 않고서, 여러 가지 설비로 수정될 수 있거나 또는 여러 가지 수단을 유사한 수단으로 대체할 수 있다.

Claims (9)

  1. BISDN 회로망 및 스위치식 리모트 분매 회로망과 같은 광대역 다중서비스 원거리 통신 회로망내의 광 가입자 라인과, 광 접합 라인에 교환기를 접속하는 시스템에서, 각각의 광 라인은 첫째로 가입자 구내에 배치된 가입자 터미널내의 송신 회로 및 수신 회로에 접속되고, 둘째로 교환기의 정크터내의 송신 회로 및 수신 회로에 접속되며, 각각의 광 라인은 원거리 교환기의 정크터내의 송신 회로 및 수신회로에 접속되고, 교환기내의 정크터의 송신 회로 및 수신 회로에 접속되며, 상기 교환기가 또한 스페어 정크터를 포함하는 상기 시스템에 있어서, 상기 광 라인이 N 광 라인의 접속 용량을 갖는 최소한 하나의 접속 묘듈을 포함하는 최소한 하나의 어셈블리를 통하여 교환기의 정크터(5) 및 이의 스페어 정크터(6)에 접속되며, 접속 모듈이 제1, 제2, 및 제3 광 스위치 어셈블리(C11 내지 Cln, C21내지 C2n, 및 C31, C32)를 포함하고 ; 상기 접속 모듈내에서, 상기 제1광 스위치 어셈블리가 광 라인에 접속되고, 상기 제2 광 스위치 어셈블리가 제1 광 스위치 어셈블리 및 N광 라인에 조합된 정크터(5)와 스페어 정크터(6)에 접속되고, 상기 제3 광 스위치 어셈블리가 검사 라인 광 파이버(7.11) 및 정크터 검사 광 파이버(7.12)를 통하여 제1 광 스위치 어셈블리에 접속되고 최소한 하나의 검사 회로(7.1)에 접속되는 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 광 라인이 2가지 호출 방향으로 광 신호를 이동시키는 단일 접속 어셈블리(8.0)을 통하여 교환기의 정크터(5) 및 스페어 정크저(6)에 접속되고, 각각의 광 라인 2가지 호출 방향으로 광을 이동시키는 단일 광 파이버로 구성되고, 각각의 정크터(5) 및 각각의 스페어 정크터(6)이 듀플렉서(4, 5; 4, 6) 및 단일 광 파이버(8.01, 8.03)을 통하여 제2 광 스위치 어셈블리(C21 내지 C2n)에 접속되고, 접속 어셈블리가 라인 검사 광 파이버(8.04) 및 듀플렉서(8.06)를 통하여 상기 송신 검사 회로 및 상기 수신 검사 회로에 접속되는 것을 특징으로 하는 광 라인 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템
  3. 제1항에 있어서, 한 호출 방향으로 특정된 각각의 제1 및 제2 접속 어셈블리(8.1, 8.2)를 포함하고, 정크터(5) 및 스페어 정크터의 각각의 송신 회로(5.2; 6.2)가 송신 파이버(8.12; 8.13)을 통하여 제1 접속 어셈블리(8.1)에 접속되고, 정크터(5) 및 스페어 정크터(6)의 각각의 수신 회로(5.3; 6.3)이 수신 파이버(8.22; 8.23)를 통하여 제2 접속 어셈블리 (8.2)에 접속되고, 각각의 광 라인 듀플렉서(4)에 의해 2개의 접속 어셈블리에 접속된 단일 광 파이버(3)로 구성되고, 각각의 접속 어셈블리가 광 파이버(8.11; 8.21)을 통하여 상기 듀플렉서(4)에 접속되고, 제1 접속 어셈블리(8.1)이 송신 검사 회로(7.1)에 접속되고, 제2 접속 어셈블리(8.2)가 수신 검사 회로(7.2)에 접속되는 것을 특징으로 하는 광라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 한 호출 방향으로 특정된 각각의 제1 및 제2 접속 어셈블리(8.1, 8.2)를 포함하고, 정크터(5) 및 스페어 정크터(6)의 각각의 송신 회로(5.2; 6.2)가 송신 광 파이버 를 통하여 제1 접속 어셈블리(8.1)에 접속되고, 정크터(5) 및 스페어 정크터(6)의 각각의 수신 회로(5.3; 6.3)이 수신 광 파이버를 통하여 제2 접속 어셈블리(8.2)에 접속되고, 각각의 광 라인이 제1 및 제2 광 파이버(3.1, 3.2)로 구성되고, 가입자 터미널 및 리모트 정크터의 각각의 수신 회로(1.3)이 광 라인의 제1광 파이버(3.1)를 통하여 제1접속 어셈블리(8.1)에 접속되고, 가입자 터미널 및 리모트 정크터의 각각의 송신 회로(1.2)가 광 라인의 제2 광 파이버(3.2)를 통하여 제2 접속 어셈블리(8.2)에 접속되고, 제1 접속 어셈블리(8.1)이 송신 검사 회로(7.1)에 접속되고, 제2 접속 어셈블리(8.2)가 수신 검사 회로(7.2) 에 접속되는 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리에 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 접속 어셈블리가 다수의 접속 모듈(G11내지 Gvk) 및 제4 광 스위치 어셈블리(C41, C42)로 구성되고 접속 모듈의 각각의 제3 광 스위치 어셈블리가 제4 광 스위치 어셈블리에 접속되고, 상기 제4 광 스위치 어셈블리(C41, C42)가 상기 라인 검사 광 파이버 및 상기 정크터 검사 광 파이버를 통하여 최소한 하나의 검사 회로에 접속되는 것을 특징으로 하는 광 라인 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  6. 제1항 또는 제5항중의 어느 한 항에 있어서, 각각의 광 스위치 어셈블리가 억세스의 2개의 그룹을 각각 갖고 있는 광 스위치(C)로 구성되고, 억세스의 제1 그룹이 강 스위치내에 있는 수단을 통해 서로 정상적으로 접속된 제1 억세스 및 제2 억세스로 각각 구성된 p 쌍의 억세스로 구성되고, 억세스의 제2 그룹은 쌍내의 억세스 사이의 내부 접속을 차단한 후에 광 스위치 내에 있는 수단에 의해 제1그룹 내의 p쌍의 억세스 중의 어느 한 억세스의 제1 억세스 및 제2 억세스에 각각 접속된 제1 억세스 및 제2 억세스로 구성된 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 제2 광 스위치 어셈블리는, 2개의 그룹의 각각에서 동일한 열의 억세스가 광 스위치 내에 있는 수단, 및 적어도 하나의 내부 접속을 통해서 서로 조합되고 연결되며, 상기 적어도 하나의 내부 접속을 통해서 상기 억세스의 각각과 이에 조합된 억세스 사이의 각각의 내부 접속이 차단된 후에 제1 그룹의 억세스 중의 어느 한 억세스가 제2 그룹의 억세스중의 어느 한 억세스에 접속될 수 있도록 p 억세스의 2개의 그룹을 각각 갖고있는 광 스위치로 구성된 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  8. 제1항에 있어서, 서로 상호 접속된 제1 및 제2 광 스위치 어셈불리의 광 스위치가 강 매트릭스(OS)를 형성하기 위해 조합된 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
  9. 제6항에 있어서, 접속 어셈블리의 광 스위치가 교환기의 제어 수단에 자체로 접속된 제어 회로(9)에 제어 라인(9.1; 9.2)를 통하여 접속되고, 송신 검사 회로(7.1) 및 수신 검사 회로(7.2)가 각각의 링크(9.3 및 9.4)를 통하여 상기 제어 회로(9)에 접속되는 것을 특징으로 하는 광 라인을 광대역 원거리 통신 교환기에 접속하기 위한 접속 시스템.
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