JPH02198341A - Ｕｖ法による全窒素測定方法 - Google Patents
Ｕｖ法による全窒素測定方法Info
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- JPH02198341A JPH02198341A JP1787289A JP1787289A JPH02198341A JP H02198341 A JPH02198341 A JP H02198341A JP 1787289 A JP1787289 A JP 1787289A JP 1787289 A JP1787289 A JP 1787289A JP H02198341 A JPH02198341 A JP H02198341A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば自然環境調査などのために、河川水、
湖水あるいは各種排水等の試料中に含まれる全窒素量を
定量する場合に利用される全窒素測定方法、詳しくは、
加熱分解処理後の試料に対して紫外線を照射し、その試
料による所定の基本測定波長における吸光度を測定し、
その測定結果に基いて前記試料中の全窒素量を定量する
という基本的手法が用いられるＵＶ法（紫外線吸光光度
法）による全窒素測定方法に関する。
湖水あるいは各種排水等の試料中に含まれる全窒素量を
定量する場合に利用される全窒素測定方法、詳しくは、
加熱分解処理後の試料に対して紫外線を照射し、その試
料による所定の基本測定波長における吸光度を測定し、
その測定結果に基いて前記試料中の全窒素量を定量する
という基本的手法が用いられるＵＶ法（紫外線吸光光度
法）による全窒素測定方法に関する。
かかるＵＶ法による全窒素測定方法としては、手分析で
行う場合にしろ、あるいは、自動測定装置を用いて行う
場合にしろ、従来から、ＪＩＳ：に−０１０２の紫外線
吸光光度法、つまり、試料にアルカリ性ベルオキソニ硫
酸カリウムを加えて約３０分間加熱して、試料中に含ま
れる窒素化合物を硝酸イオンに変換させると共に有機物
を分解し、しかる後、その加熱分解処理後の試料をｐＨ
２〜３に調整してから、その試料による所定の基本測定
波長（一般に２２０ｎｍに設定される）における吸光度
を測定し、その測定結果に基いて前記試料中の全窒素量
を定量する、という基本的手法に準拠した方法が採用さ
れている。
行う場合にしろ、あるいは、自動測定装置を用いて行う
場合にしろ、従来から、ＪＩＳ：に−０１０２の紫外線
吸光光度法、つまり、試料にアルカリ性ベルオキソニ硫
酸カリウムを加えて約３０分間加熱して、試料中に含ま
れる窒素化合物を硝酸イオンに変換させると共に有機物
を分解し、しかる後、その加熱分解処理後の試料をｐＨ
２〜３に調整してから、その試料による所定の基本測定
波長（一般に２２０ｎｍに設定される）における吸光度
を測定し、その測定結果に基いて前記試料中の全窒素量
を定量する、という基本的手法に準拠した方法が採用さ
れている。
〔発明が解決しようとする！ｌ１ｆｉ）しかしながら、
上記従来方法による場合には、次のような問題があった
。
上記従来方法による場合には、次のような問題があった
。
即ち、手分析による場合には、加熱分解処理後の試料を
十分に長時間静置しておいて、濁度が殆どなくなったこ
とが確認された上澄み液のみを採取して吸光度測定を行
っているので、良好な測定精度を確保できる反面、非常
に操作が面倒でかつ能率の悪い測定とならざるを得す、
一方、測定効率の向上を図るために自動測定装置により
行う場合には、測定時間の都合上、加熱分解処理後の試
料の静置時間が短くなりがちで、ある程度の濁度物質（
加熱時の生成物である水酸化物質や非溶解性の物質など
）を含んだままで吸光度測定が行われることが多く、そ
のために、測定結果にはかかる濁度物質による影響成分
が含まれてしまうことになって、測定精度の悪化を招い
ている。
十分に長時間静置しておいて、濁度が殆どなくなったこ
とが確認された上澄み液のみを採取して吸光度測定を行
っているので、良好な測定精度を確保できる反面、非常
に操作が面倒でかつ能率の悪い測定とならざるを得す、
一方、測定効率の向上を図るために自動測定装置により
行う場合には、測定時間の都合上、加熱分解処理後の試
料の静置時間が短くなりがちで、ある程度の濁度物質（
加熱時の生成物である水酸化物質や非溶解性の物質など
）を含んだままで吸光度測定が行われることが多く、そ
のために、測定結果にはかかる濁度物質による影響成分
が含まれてしまうことになって、測定精度の悪化を招い
ている。
そこで、最近では、上記のような濁度影響成分を除去補
正して測定精度の向上を図るために、下記に説明するよ
うな２波長測定による濁度補正手段が考えられている。
正して測定精度の向上を図るために、下記に説明するよ
うな２波長測定による濁度補正手段が考えられている。
第６図は、各種の試料（Ｔ ｉ Ｏ，懸濁水、カオリン
懸濁水、河川水、湖水■、■、■）について、夫々、加
熱分解処理前の濁度と加熱分解処理後の濁度との変化を
調べた結果を示している。なお、この濁度測定には、積
分球式濁度計を用いた。
懸濁水、河川水、湖水■、■、■）について、夫々、加
熱分解処理前の濁度と加熱分解処理後の濁度との変化を
調べた結果を示している。なお、この濁度測定には、積
分球式濁度計を用いた。
このグラフから明らかなように、各試料において、加熱
分解処理前と加熱分解処理後とでは明らかに濁度に違い
があり、また、その濁度変化の程度は試料の種類によっ
て様々に異なっていることが明らかである。従って、濁
度影響成分の除去補正を行う際には、加熱分解処理後の
濁度を基準にする必要があることが判る。
分解処理前と加熱分解処理後とでは明らかに濁度に違い
があり、また、その濁度変化の程度は試料の種類によっ
て様々に異なっていることが明らかである。従って、濁
度影響成分の除去補正を行う際には、加熱分解処理後の
濁度を基準にする必要があることが判る。
また、第７図は、ある試料（この例では湖水）について
、濁度物質を殆ど含まないもの（加熱分解処理後に十分
に長時間静置したものの上澄み液）に対する波長−吸光
度特性の測定結果（真の値Ｘ：実線で示す）と、ある程
度の濁度物質を含むものに対する波長−吸光度特性の測
定結果（見かけの値１２点線で示す）とを比較した一例
をグラフに示したものである。
、濁度物質を殆ど含まないもの（加熱分解処理後に十分
に長時間静置したものの上澄み液）に対する波長−吸光
度特性の測定結果（真の値Ｘ：実線で示す）と、ある程
度の濁度物質を含むものに対する波長−吸光度特性の測
定結果（見かけの値１２点線で示す）とを比較した一例
をグラフに示したものである。
このグラフから、見かけの値ｙ（濁度有りの場合）は常
に真の値Ｘ（濁度無しの場合）よも大きめに測定され、
また、硝酸イオンによる吸光度を測定する所定の基本測
定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙと真の
吸光度Ｘとの差Δ、。
に真の値Ｘ（濁度無しの場合）よも大きめに測定され、
また、硝酸イオンによる吸光度を測定する所定の基本測
定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙと真の
吸光度Ｘとの差Δ、。
が、真の値Ｘがほぼ０となり且つ前記所定の基本測定波
長（２２０ｎｍ）に可及的に近い波長（この例では２６
０ｎｍが選定されている）における見かけの吸光度Ｙ゛
とが大体等しい値となっていることが読み取れる。
長（２２０ｎｍ）に可及的に近い波長（この例では２６
０ｎｍが選定されている）における見かけの吸光度Ｙ゛
とが大体等しい値となっていることが読み取れる。
そこで、上記のような両見地に基いて、加熱分解処理後
のひとつの試料（濁度有り）について、所定の基本測定
波長（２２０ｎｍ）における吸光度Ｙとは別に、それよ
りも比較的近い長波長側の異なる第２測定波長（例えば
、２５０ｎｍないし３００ｎｍの間の適宜値）における
吸光度Ｙ°をも測定し、 Ｘ−Ｙ−Ｙ’ なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分Δ
。、（ζＹ’ ）を除去補正することにより、前記試料
中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求めるようにする
、という方法である。
のひとつの試料（濁度有り）について、所定の基本測定
波長（２２０ｎｍ）における吸光度Ｙとは別に、それよ
りも比較的近い長波長側の異なる第２測定波長（例えば
、２５０ｎｍないし３００ｎｍの間の適宜値）における
吸光度Ｙ°をも測定し、 Ｘ−Ｙ−Ｙ’ なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分Δ
。、（ζＹ’ ）を除去補正することにより、前記試料
中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求めるようにする
、という方法である。
ところが、かかる従来の濁度影響成分の除去補正手段に
おいては、 （ア）選定された第２測定波長（上記の例では２６０
ｎｍ）における真の値Ｘが０になっていること、および
、 （イ）基本測定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸
光度Ｙと真の吸光度Ｘとの差Δ！ｇ・と、前記第２測定
波長（２６０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙ゛とが実
質的に等しくなっている、 という条件が前提として必要であるが、試料の種類によ
っては必ずしもそのようになる保証は無く、従って、か
かる従来手段により濁度影響成分の除去補正を行うため
には、測定すべき各試料について、−々、例えば予備測
定を行うなどして前記第７図に示したようなデータを予
め得ておいて、上記した（ア）、（イ）のような傾向が
実際に現れているか否かを確認すると共に、量も適当な
第２測定波長を選定する、という面倒な操作を行わなけ
れば、確実で精度の良い濁度影響成分の除去補正は期待
できない。
おいては、 （ア）選定された第２測定波長（上記の例では２６０
ｎｍ）における真の値Ｘが０になっていること、および
、 （イ）基本測定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸
光度Ｙと真の吸光度Ｘとの差Δ！ｇ・と、前記第２測定
波長（２６０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙ゛とが実
質的に等しくなっている、 という条件が前提として必要であるが、試料の種類によ
っては必ずしもそのようになる保証は無く、従って、か
かる従来手段により濁度影響成分の除去補正を行うため
には、測定すべき各試料について、−々、例えば予備測
定を行うなどして前記第７図に示したようなデータを予
め得ておいて、上記した（ア）、（イ）のような傾向が
実際に現れているか否かを確認すると共に、量も適当な
第２測定波長を選定する、という面倒な操作を行わなけ
れば、確実で精度の良い濁度影響成分の除去補正は期待
できない。
本発明は、上記実情に鑑みて、幾多の実験的研究および
考察を重ねた結果なされたものであって、その目的は、
試料の種類の如何を問わず、常に一定の手法によって、
確実かつ精度の良い濁度影響成分の除去補正を行うこと
ができ、特に測定効率に優れた自動全窒素測定装置を構
成する場合に非常に有効な、ＵＶ法による全窒素測定方
法を提供せんとすることにある。
考察を重ねた結果なされたものであって、その目的は、
試料の種類の如何を問わず、常に一定の手法によって、
確実かつ精度の良い濁度影響成分の除去補正を行うこと
ができ、特に測定効率に優れた自動全窒素測定装置を構
成する場合に非常に有効な、ＵＶ法による全窒素測定方
法を提供せんとすることにある。
上記目的を達成するために、本発明は、冒頭に記載した
ような基本的手法に基＜ＵＶ法による全窒素測定方法に
おいて、前記加熱分解処理後の試料について、基本測定
波長（例えば２２０ｎｍ）における吸光度Ｙとは別に、
それよりも比較的離れた長波長側の異なる第２測定波長
（好ましくは、４００ｎｍないし６００ ｎｍの間の適
宜値）における吸光度２をも測定し、 ｘ−ｙ−αＺ （αは定数） なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α
Ｚを除去補正することにより、前記基本測定波長におけ
る前記試料中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求める
、 という手段を採用した点に特徴がある。
ような基本的手法に基＜ＵＶ法による全窒素測定方法に
おいて、前記加熱分解処理後の試料について、基本測定
波長（例えば２２０ｎｍ）における吸光度Ｙとは別に、
それよりも比較的離れた長波長側の異なる第２測定波長
（好ましくは、４００ｎｍないし６００ ｎｍの間の適
宜値）における吸光度２をも測定し、 ｘ−ｙ−αＺ （αは定数） なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α
Ｚを除去補正することにより、前記基本測定波長におけ
る前記試料中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求める
、 という手段を採用した点に特徴がある。
上記のような特徴ある手段を採用したことにより発揮さ
れる作用について以下に説明するが、先ず、かかる本発
明を完成するに至った実験的研究の経過およびそれに対
する考察結果について詳述する。
れる作用について以下に説明するが、先ず、かかる本発
明を完成するに至った実験的研究の経過およびそれに対
する考察結果について詳述する。
即ち、第１図は、窒素含有量の異なる種々の試料（河川
水および湖水■、■、■）について、夫々、加熱分解処
理後の濁度Ｄ（積分球式濁度計を用いて測定）と、所定
の基本測定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸光度
Ｙとの関係を調べ、それらの結果をひとつのグラフにま
とめて示したものである。
水および湖水■、■、■）について、夫々、加熱分解処
理後の濁度Ｄ（積分球式濁度計を用いて測定）と、所定
の基本測定波長（２２０ｎｍ）における見かけの吸光度
Ｙとの関係を調べ、それらの結果をひとつのグラフにま
とめて示したものである。
このグラフから判るように、各試料の基本測定波長（２
２０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙは、濁度りによる
影響を受けていることが明らかであるが、全ての試料に
ついて、両者（ＹとＤ）の関係は直線的であり、しかも
、各直線を最小二乗法によりＹ＝ａＤ＋ｂの形に同定し
た結果を同図中に示しているように、各直線の勾配ａが
全ての試料において実質的に等しくなっている、という
興味深い事実が認められた。なお、各直線における切片
ｂ （Ｄ＝０におけるＹ）は、各試料の所定の基本測定
波長（２２０ｎｍ）における真の吸光度Ｘに相当してい
る。
２０ｎｍ）における見かけの吸光度Ｙは、濁度りによる
影響を受けていることが明らかであるが、全ての試料に
ついて、両者（ＹとＤ）の関係は直線的であり、しかも
、各直線を最小二乗法によりＹ＝ａＤ＋ｂの形に同定し
た結果を同図中に示しているように、各直線の勾配ａが
全ての試料において実質的に等しくなっている、という
興味深い事実が認められた。なお、各直線における切片
ｂ （Ｄ＝０におけるＹ）は、各試料の所定の基本測定
波長（２２０ｎｍ）における真の吸光度Ｘに相当してい
る。
このように、濁度りと見かけの吸光度Ｙとの直線的関係
の勾配ａが試料の種類に拘わらず一定となる、という発
見的事実から、本発明者らは、もしも前記所定の基本測
定波長（例えば２２０ ｎｍ）とは異なる第２の測定波
長における吸光度Ｚと濁度りとの間に十分に高度な相関
がありさえすれば、理論的には、その吸光度Ｚから濁度
りが測定でき、次に、その測定濁度りと前記一定の勾配
ａとから濁度りによる影響成分を除去補正することがで
きて、真の吸光度Ｘを精度良く求め得る可能性があるの
ではないかと考察し、試みに幾つかの第２測定波長（２
６０ｎｍ、３３０ｎｍ、４００ｎｍ。
の勾配ａが試料の種類に拘わらず一定となる、という発
見的事実から、本発明者らは、もしも前記所定の基本測
定波長（例えば２２０ ｎｍ）とは異なる第２の測定波
長における吸光度Ｚと濁度りとの間に十分に高度な相関
がありさえすれば、理論的には、その吸光度Ｚから濁度
りが測定でき、次に、その測定濁度りと前記一定の勾配
ａとから濁度りによる影響成分を除去補正することがで
きて、真の吸光度Ｘを精度良く求め得る可能性があるの
ではないかと考察し、試みに幾つかの第２測定波長（２
６０ｎｍ、３３０ｎｍ、４００ｎｍ。
５００ｎｍ、６００ｎｍ）を設定して、夫々、加熱分解
処理後の濁度Ｄ（積分球式濁度計を用いて測定）と吸光
度Ｚとの関係を調べてみた。
処理後の濁度Ｄ（積分球式濁度計を用いて測定）と吸光
度Ｚとの関係を調べてみた。
その結果は、第２図くイ）、〈口〉、〈ハ〉〈二〉、＜
ホ〉の各グラフに示しているようになリ、これらのグラ
フから明らかなように、各第２測定波長における吸光度
Ｚと濁度りとの関係は、全体として高度な相関の直線的
関係を示しており、しかも、各直線を最小二乗法により
Ｚ＝ｃＤ＋ｄの形に同定した結果を同図中に示している
ように、また、第３図〈イ〉のグラフに示す勾配Ｃと第
２測定波長との関係、および、第３図く口〉のグラフに
示す相関係数σと第２測定波長との関係から明らかなよ
うに、第２測定波長を長波長側に設定するほどその勾配
Ｃ（つまり、感度）は小さくなるが、相関係数σ（つま
り、直線性）は良好になっていることが判る。そして、
前記第２測定波長を少な（とも３００ｎｍ以上の適宜値
に設定すれば、相関係数σは０．９８以上という高い数
値となり（特に好ましくは、４００ｎｍないし６００ｎ
ｍの範囲内の適宜値に設定すれば、相関係数σは０．９
９以上という非常に高い数値となり）、一方、感度につ
いては電気的に信号を増幅させることである程度向上さ
せることが可能である力へら問題はない。
ホ〉の各グラフに示しているようになリ、これらのグラ
フから明らかなように、各第２測定波長における吸光度
Ｚと濁度りとの関係は、全体として高度な相関の直線的
関係を示しており、しかも、各直線を最小二乗法により
Ｚ＝ｃＤ＋ｄの形に同定した結果を同図中に示している
ように、また、第３図〈イ〉のグラフに示す勾配Ｃと第
２測定波長との関係、および、第３図く口〉のグラフに
示す相関係数σと第２測定波長との関係から明らかなよ
うに、第２測定波長を長波長側に設定するほどその勾配
Ｃ（つまり、感度）は小さくなるが、相関係数σ（つま
り、直線性）は良好になっていることが判る。そして、
前記第２測定波長を少な（とも３００ｎｍ以上の適宜値
に設定すれば、相関係数σは０．９８以上という高い数
値となり（特に好ましくは、４００ｎｍないし６００ｎ
ｍの範囲内の適宜値に設定すれば、相関係数σは０．９
９以上という非常に高い数値となり）、一方、感度につ
いては電気的に信号を増幅させることである程度向上さ
せることが可能である力へら問題はない。
このことから、加熱分解処理後の試料について、基本測
定波長における吸光度Ｙとは別に、それよりも比較的離
れた長波長側の異なる第２測定波長（少なくとも３００
ｎｍ以上、より好ましくは、４００ｎｍないし６００
ｎｍの間の適宜値）における吸光度２（これは、前述し
た説明から明らかなように、間接的に濁度を表すもので
ある）をも測定するようにすれば、後述する実施例の記
載からも一層明らかとなるように、試料の種類の如何に
よらない一定の係数αを用いたＸ−Ｙ−αＺなる演算式
に基いて、常に、試料の濁度による影響成分αＺを非常
に精度良（かつ確実に除去補正することができ、特に測
定効率に優れた自動全窒素測定装置を構成する場合に極
めて有効であると共に、手分析値とのより高い相関を得
ることができる。
定波長における吸光度Ｙとは別に、それよりも比較的離
れた長波長側の異なる第２測定波長（少なくとも３００
ｎｍ以上、より好ましくは、４００ｎｍないし６００
ｎｍの間の適宜値）における吸光度２（これは、前述し
た説明から明らかなように、間接的に濁度を表すもので
ある）をも測定するようにすれば、後述する実施例の記
載からも一層明らかとなるように、試料の種類の如何に
よらない一定の係数αを用いたＸ−Ｙ−αＺなる演算式
に基いて、常に、試料の濁度による影響成分αＺを非常
に精度良（かつ確実に除去補正することができ、特に測
定効率に優れた自動全窒素測定装置を構成する場合に極
めて有効であると共に、手分析値とのより高い相関を得
ることができる。
以下、本発明の具体的な一実施例を図面（第４図および
第５図）に基いて説明する。
第５図）に基いて説明する。
第４図は、本発明に係るＵＶ法による全窒素測定方法を
適用して構成された濁度影響補正可能な自動全窒素測定
装置の概略ブロック図を示し、また、第５図はその自動
測定シーケンスのタイミングチャートを示している。
適用して構成された濁度影響補正可能な自動全窒素測定
装置の概略ブロック図を示し、また、第５図はその自動
測定シーケンスのタイミングチャートを示している。
第４図の概略ブロック図において、１，２は紫外線照射
用の光源および集光レンズであり、３は、それら光源ｌ
および集光レンズ２からの照射紫外線ビームＵを、比較
信号検出系Ｒと測定信号検出系Ｍとに分離するビームス
プリッタ−であり、前記集光レンズ２とビームスプリン
ター３との間には、基本測定波長（この例では２２０
ｎｍ）の紫外線のみを透過させる第１干渉フイルター４
Ａと、その基本測定波長（２２０ｎｍ）よりも比較的離
れた長波長側の異なる第２測定波長（４００ｎｍないし
６００ｎｍの間の適宜値：この例では５００ｎｍ）の紫
外線のみを透過させる第２干渉フイルター４Ｂとが、第
５図のタイミングチャートに示すように、交互に介装導
入されるようになっている。
用の光源および集光レンズであり、３は、それら光源ｌ
および集光レンズ２からの照射紫外線ビームＵを、比較
信号検出系Ｒと測定信号検出系Ｍとに分離するビームス
プリッタ−であり、前記集光レンズ２とビームスプリン
ター３との間には、基本測定波長（この例では２２０
ｎｍ）の紫外線のみを透過させる第１干渉フイルター４
Ａと、その基本測定波長（２２０ｎｍ）よりも比較的離
れた長波長側の異なる第２測定波長（４００ｎｍないし
６００ｎｍの間の適宜値：この例では５００ｎｍ）の紫
外線のみを透過させる第２干渉フイルター４Ｂとが、第
５図のタイミングチャートに示すように、交互に介装導
入されるようになっている。
そして、前記比較信号検出系Ｒには、前記ビームスプリ
ンター３から直接入射される紫外線の強度（基準信号）
を検出するための比較側検出器５とそれに対する比較側
プリアンプ６とが設けられ、また、前記測定信号検出系
Ｍには、加熱分解処理およびある程度の静置処理を施さ
れた後の試料とゼロ試料（窒素を含まない試料）とが第
５図のタイミングチャートに示すように一定間隔をおい
て交互に切換導入される測定セルフと、その測定セルフ
を通過した紫外線の強度（測定信号）を検出するための
測定側検出器８とそれに対する測定側プリアンプ９とが
設けられており、前記比較側プリアンプ６からの基準信
号と測定側プリアンプ９からの測定信号は、後で詳述す
るような演算処理を行うように構成された演算処理回路
ｌＯに入力されるようになっている。
ンター３から直接入射される紫外線の強度（基準信号）
を検出するための比較側検出器５とそれに対する比較側
プリアンプ６とが設けられ、また、前記測定信号検出系
Ｍには、加熱分解処理およびある程度の静置処理を施さ
れた後の試料とゼロ試料（窒素を含まない試料）とが第
５図のタイミングチャートに示すように一定間隔をおい
て交互に切換導入される測定セルフと、その測定セルフ
を通過した紫外線の強度（測定信号）を検出するための
測定側検出器８とそれに対する測定側プリアンプ９とが
設けられており、前記比較側プリアンプ６からの基準信
号と測定側プリアンプ９からの測定信号は、後で詳述す
るような演算処理を行うように構成された演算処理回路
ｌＯに入力されるようになっている。
上記のように構成された自動全窒素測定装置によれば、
第５図のタイミングチャートに示すように、先ず、前記
測定セルフ内にゼロ試料が導入されると共に、その間に
おいて、前記集光レンズ２とビームスプリッタ−３との
間に、第１干渉フィルター４Ａ（２２０ｎｍ）が介装さ
れた状態と、第２干渉フイルター４Ｂ（５００ｎｍ）が
介装された状態とに切り換えられ、夫々の状態において
、ゼロ信号（ＡＺｚｚｏ 、 ＡＺｓ。。）が読み取ら
れる。
第５図のタイミングチャートに示すように、先ず、前記
測定セルフ内にゼロ試料が導入されると共に、その間に
おいて、前記集光レンズ２とビームスプリッタ−３との
間に、第１干渉フィルター４Ａ（２２０ｎｍ）が介装さ
れた状態と、第２干渉フイルター４Ｂ（５００ｎｍ）が
介装された状態とに切り換えられ、夫々の状態において
、ゼロ信号（ＡＺｚｚｏ 、 ＡＺｓ。。）が読み取ら
れる。
次に、上記のゼロ信号測定終了後一定時間経過してから
、前記測定セルフ内に加熱分解処理および静置処理を施
された後の試料が導入されると共に、その間において、
前記集光レンズ２とビームスプリッタ−３との間に、第
１干渉フイルター４Ａ（２２０ｎｍ）が介装された状態
と、第２干渉フイルター４Ｂ（５００ｎｍ）が介装され
た状態とに切り換えられ、夫々の状態において、測定信
号（ＭＳｇｚ。、ＭＳ、。、）が読み取られる。
、前記測定セルフ内に加熱分解処理および静置処理を施
された後の試料が導入されると共に、その間において、
前記集光レンズ２とビームスプリッタ−３との間に、第
１干渉フイルター４Ａ（２２０ｎｍ）が介装された状態
と、第２干渉フイルター４Ｂ（５００ｎｍ）が介装され
た状態とに切り換えられ、夫々の状態において、測定信
号（ＭＳｇｚ。、ＭＳ、。、）が読み取られる。
そこで、前記演算処理回路１０においては、基本測定波
長（２２０ｎｍ）におけるゼロ補正された見かけの吸光
度Ｙ Ｃ”’Ｙ＊ｚｏ ）と、第２測定波長（５００ｎ
ｍ）におけるゼロ補正された吸光度Ｚ （−Ｙ、。。）
（濁度値）を、 Ｙ ｚｚ＊ −Ｍ Ｓ ｔｘ。−ＡＺｔｔｓＺ、。。−
ＭＳｉｏ。−ＡＺ、。。
長（２２０ｎｍ）におけるゼロ補正された見かけの吸光
度Ｙ Ｃ”’Ｙ＊ｚｏ ）と、第２測定波長（５００ｎ
ｍ）におけるゼロ補正された吸光度Ｚ （−Ｙ、。。）
（濁度値）を、 Ｙ ｚｚ＊ −Ｍ Ｓ ｔｘ。−ＡＺｔｔｓＺ、。。−
ＭＳｉｏ。−ＡＺ、。。
として求めた後、
Ｘｔｔｏ ””Ｙｔｔｏ−α、。。ＺＳＯ０＝（ＭＳｚ
ｚ。−ＡＺ！！。） ａｓｏｏ （ＭＳｓｏｏ ＡＺｓｏｏ ）なる演算
式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α２＜＝α
、。。Ｚ、。。）を除去補正することによって、前記基
本測定波長（２２０ｎｍ）における前記試料中の硝酸イ
オンによる真の吸光度Ｘ（＝Ｘｚｚｅ）を求め、そして
、その算出された真の吸光度Ｘ。。から内部検量により
試料中の全窒素濃度に変換するのである。
ｚ。−ＡＺ！！。） ａｓｏｏ （ＭＳｓｏｏ ＡＺｓｏｏ ）なる演算
式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α２＜＝α
、。。Ｚ、。。）を除去補正することによって、前記基
本測定波長（２２０ｎｍ）における前記試料中の硝酸イ
オンによる真の吸光度Ｘ（＝Ｘｚｚｅ）を求め、そして
、その算出された真の吸光度Ｘ。。から内部検量により
試料中の全窒素濃度に変換するのである。
なお、前記α（＝α５゜。）は、試料の種類如何によら
ず、設定した第２測定波長に対して常に一定に定まる係
数であって、例えば次のようにして容易に求めておくこ
とができる。
ず、設定した第２測定波長に対して常に一定に定まる係
数であって、例えば次のようにして容易に求めておくこ
とができる。
即ち、上記の例（基本測定波長が２２０ｎｍ。
第２測定波長が５００ｎｍ）において、前記測定セルフ
に導入する試料として窒素を含まない濁度標準試料（例
えば純水中カオリンまたはＴｉＣｈ）を用いて測定すれ
ば、 ＸｔＸ。＝Ｙ０゜−α、。。ＺＳＳ・ ”” （Ｍ Ｓ ｘｚ＊ Ａ Ｚ ｉｔ。）−α、
。＊ （ＭＳｓ。。−ＡＺｓｏｏ）なる上記演算式に
おいて、ＸｔＸ。−〇であるから、Ｙｏ。 ＭＳｏ
。−ＡＺｏ。
に導入する試料として窒素を含まない濁度標準試料（例
えば純水中カオリンまたはＴｉＣｈ）を用いて測定すれ
ば、 ＸｔＸ。＝Ｙ０゜−α、。。ＺＳＳ・ ”” （Ｍ Ｓ ｘｚ＊ Ａ Ｚ ｉｔ。）−α、
。＊ （ＭＳｓ。。−ＡＺｓｏｏ）なる上記演算式に
おいて、ＸｔＸ。−〇であるから、Ｙｏ。 ＭＳｏ
。−ＡＺｏ。
αＳｏ＠ ＝
Ｚｓｓｏ ＭＳｓｏｏ ＡＺｓａ。
として得ることができる。
ところで、上記の実施例においては、干渉フィルタを用
いて紫外線の波長設定を行っているが、色ガラスフィル
タなどのように可視域でブロードな透過帯をもつものを
用いることも可能である。
いて紫外線の波長設定を行っているが、色ガラスフィル
タなどのように可視域でブロードな透過帯をもつものを
用いることも可能である。
以上詳述したところから明らかなように、本発明に係る
ＵＶ法による全窒素測定方法によれば、加熱分解処理後
の試料について、前記基本測定波長における吸光度Ｙと
は別に、それよりも比較的離れた長波長側の異なる第２
測定波長（好ましくは、４００ ｎｍないし６００ ｎ
ｍの間の適宜値）における吸光度Ｚをも測定し、 Ｘ＝Ｙ−αＺ （αは定数） なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α
Ｚを除去補正することにより、前記基本測定波長におけ
る前記試料中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求める
、という手段を採用したことにより、試料の種類の如何
を問わず、常に一定の手法によって、非常に精度良く濁
度影響成分の除去補正を確実かつ容易に行うことができ
、特に測定効率に優れた自動全窒素測定装置を構成する
場合に極めて有効であると共に、手分析値とのより高い
相関を得ることができる、という顕著に優れた効果が発
渾され、従って、本発明の産業上の利用価値は掻めて大
きい。
ＵＶ法による全窒素測定方法によれば、加熱分解処理後
の試料について、前記基本測定波長における吸光度Ｙと
は別に、それよりも比較的離れた長波長側の異なる第２
測定波長（好ましくは、４００ ｎｍないし６００ ｎ
ｍの間の適宜値）における吸光度Ｚをも測定し、 Ｘ＝Ｙ−αＺ （αは定数） なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α
Ｚを除去補正することにより、前記基本測定波長におけ
る前記試料中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求める
、という手段を採用したことにより、試料の種類の如何
を問わず、常に一定の手法によって、非常に精度良く濁
度影響成分の除去補正を確実かつ容易に行うことができ
、特に測定効率に優れた自動全窒素測定装置を構成する
場合に極めて有効であると共に、手分析値とのより高い
相関を得ることができる、という顕著に優れた効果が発
渾され、従って、本発明の産業上の利用価値は掻めて大
きい。
第１図ないし第３図は、夫々、本発明に係るＵＶ法によ
る全窒素測定方法を確立する基礎となった各種実験結果
を表すグラフを示し、第１図は種々の試料について夫々
加熱分解処理後の濁度と所定の基本測定波長（２２０ｎ
ｍ）における見かけの吸光度との関係を調べそれらの結
果をまとめたグラフであり、第２図くイ〉、＜口〉、〈
ハ〉。 く二）、＜ホ〉は、夫々、各設定された第２測定波長に
おける加熱分解処理後の濁度と吸光度との関係を調べた
結果表すグラフであり、第３図は前記第２図の結果の要
部をまとめたもので、第３図くイ〉は第２測定波長と勾
配（感度）との関係を表すグラフであり、第３図く口）
は第２測定波長と相関係数（直線性）との関係を表すグ
ラフである。 そして、第４図および第５図は本発明に係るＵｖ法によ
る全窒素測定方法の具体的実施例を示し、第４図は本発
明方法を適用して構成された濁度影響補正可能な自動全
窒素測定装置の概略ブロック図であり、第５図はその自
動測定シーケンスを説明するためのタイミングチャート
である。 また、第６図および第７図は、本発明の技術的背景なら
びに従来技術の問題点を説明するためのものであって、
第６図は各種の試料について夫々加熱処理前と加熱処理
後との濁度変化を調べた結果を示すグラフであり、第７
図はある試料について濁度物質を含まないものと含むも
のとに対する波長−吸光度特性の測定結果の一比較例を
示すグラフである。 Ｘ・・・・・・基本測定波長における 硝酸イオンによる真の吸光度、 Ｙ・・・・・・基本測定波長における （見かけの）吸光度、 Ｚ・・・・・・第２測定波長における吸光度（濁度）α
・・・・・・定数 αＺ・・・濁度による影響成分。 出願人 株式会社 堀 場 製 作 所代理人 弁理士
藤 本 英 夫 Ｓ゛ Ｗシギ搗 第６図 卯δ４Ｆ解２理狛の渇崖 Ｃｐｐｍ） ■ ｌＬ 屋 （ＡＦ３Ｓ） 。１
る全窒素測定方法を確立する基礎となった各種実験結果
を表すグラフを示し、第１図は種々の試料について夫々
加熱分解処理後の濁度と所定の基本測定波長（２２０ｎ
ｍ）における見かけの吸光度との関係を調べそれらの結
果をまとめたグラフであり、第２図くイ〉、＜口〉、〈
ハ〉。 く二）、＜ホ〉は、夫々、各設定された第２測定波長に
おける加熱分解処理後の濁度と吸光度との関係を調べた
結果表すグラフであり、第３図は前記第２図の結果の要
部をまとめたもので、第３図くイ〉は第２測定波長と勾
配（感度）との関係を表すグラフであり、第３図く口）
は第２測定波長と相関係数（直線性）との関係を表すグ
ラフである。 そして、第４図および第５図は本発明に係るＵｖ法によ
る全窒素測定方法の具体的実施例を示し、第４図は本発
明方法を適用して構成された濁度影響補正可能な自動全
窒素測定装置の概略ブロック図であり、第５図はその自
動測定シーケンスを説明するためのタイミングチャート
である。 また、第６図および第７図は、本発明の技術的背景なら
びに従来技術の問題点を説明するためのものであって、
第６図は各種の試料について夫々加熱処理前と加熱処理
後との濁度変化を調べた結果を示すグラフであり、第７
図はある試料について濁度物質を含まないものと含むも
のとに対する波長−吸光度特性の測定結果の一比較例を
示すグラフである。 Ｘ・・・・・・基本測定波長における 硝酸イオンによる真の吸光度、 Ｙ・・・・・・基本測定波長における （見かけの）吸光度、 Ｚ・・・・・・第２測定波長における吸光度（濁度）α
・・・・・・定数 αＺ・・・濁度による影響成分。 出願人 株式会社 堀 場 製 作 所代理人 弁理士
藤 本 英 夫 Ｓ゛ Ｗシギ搗 第６図 卯δ４Ｆ解２理狛の渇崖 Ｃｐｐｍ） ■ ｌＬ 屋 （ＡＦ３Ｓ） 。１
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〔１〕加熱分解処理後の試料に対して紫外線を照射し、
その試料による所定の基本測定波長における吸光度Ｙを
測定し、その測定結果に基いて前記試料中の全窒素量を
定量するという基本的手法が用いられるＵＶ法（紫外線
吸光光度法）による全窒素測定方法において、 前記加熱分解処理後の試料について、前記 基本測定波長における吸光度Ｙとは別に、それよりも比
較的離れた長波長側の異なる第２測定波長における吸光
度Ｚをも測定し、 Ｘ＝Ｙ−αＺ（αは定数） なる演算式に基いて、前記試料の濁度による影響成分α
Ｚを除去補正することにより、前記基本測定波長におけ
る前記試料中の硝酸イオンによる真の吸光度Ｘを求める
ことを特徴とするＵＶ法による全窒素測定方法。 〔２〕前記紫外線の基本測定波長を２２０ｎｍに、そし
て、それとは異なる前記第２測定波長を４００ｎｍない
し６００ｎｍの間の適宜値に設定することを特徴とする
特許請求の範囲第〔１〕項に記載のＵＶ法による全窒素
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1017872A JPH0797079B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | Ｕｖ法による全窒素測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1017872A JPH0797079B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | Ｕｖ法による全窒素測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02198341A true JPH02198341A (ja) | 1990-08-06 |
| JPH0797079B2 JPH0797079B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=11955770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1017872A Expired - Lifetime JPH0797079B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | Ｕｖ法による全窒素測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797079B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0447654U (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-22 | ||
| CN109342345A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-02-15 | 北京连华永兴科技发展有限公司 | 一种总氮测定仪 |
| CN112179858A (zh) * | 2020-09-22 | 2021-01-05 | 杭州启绿科技有限公司 | 基于浊度补偿技术的水质检测方法 |
| CN112461774A (zh) * | 2020-11-20 | 2021-03-09 | 杭州绿洁环境科技股份有限公司 | 一种用于总氮分析仪的浊度补偿方法 |
| WO2021250944A1 (ja) * | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 株式会社島津製作所 | 水質分析計及び水質分析方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5311089A (en) * | 1976-07-16 | 1978-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | Gas densitometer |
| JPS5565139A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-16 | Horiba Ltd | Measuring method of nitric and nitrous acid ion concentration and its unit |
-
1989
- 1989-01-28 JP JP1017872A patent/JPH0797079B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5311089A (en) * | 1976-07-16 | 1978-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | Gas densitometer |
| JPS5565139A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-16 | Horiba Ltd | Measuring method of nitric and nitrous acid ion concentration and its unit |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0447654U (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-22 | ||
| CN109342345A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-02-15 | 北京连华永兴科技发展有限公司 | 一种总氮测定仪 |
| WO2021250944A1 (ja) * | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 株式会社島津製作所 | 水質分析計及び水質分析方法 |
| CN112179858A (zh) * | 2020-09-22 | 2021-01-05 | 杭州启绿科技有限公司 | 基于浊度补偿技术的水质检测方法 |
| CN112461774A (zh) * | 2020-11-20 | 2021-03-09 | 杭州绿洁环境科技股份有限公司 | 一种用于总氮分析仪的浊度补偿方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0797079B2 (ja) | 1995-10-18 |
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