JPH02198145A - 樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造方法

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JPH02198145A
JPH02198145A JP1016129A JP1612989A JPH02198145A JP H02198145 A JPH02198145 A JP H02198145A JP 1016129 A JP1016129 A JP 1016129A JP 1612989 A JP1612989 A JP 1612989A JP H02198145 A JPH02198145 A JP H02198145A
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JP
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gate
lead
mold
resin
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JP1016129A
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Takahiro Naito
孝洋 内藤
Hajime Murakami
元 村上
Hiromichi Suzuki
博通 鈴木
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Publication date
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    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は樹脂封止型半導体装置の製造方法に関し、tF
#’tc’−当該装置のトランスファーモールド成形技
術に関する。
〔従来の技術〕
樹脂封止型半導体装置は、リードフレームのタブ部に半
導体チップを固着させ、当該チップとリードフレームの
リードとをワイヤにより接続(ワイヤボンディング)後
、モールド金型に当該組立品を入れ、封止用樹脂を用い
たトランスファーモールドを行ない、次いで、個別に切
断分離するという主要工程を経て製造される。
第5図に従来のモールド金型を用いたトランスファーモ
ールド成形方法の一例を示す。
p45図にて、1はリードフレーム、2はリードフレー
ムのタブ部、3は半導体チップ、4はリードフレームの
リード、5はワイヤ、6はモールド金型である。
モールド金型lt上型7と下型8とからなり、これら上
型7と下型8との間に、前記【7たワイヤポンディング
後の組立品のり一ド4を挾持させる。
トランスファーモールドに際しては、ランナー9を経て
、コーナーゲートlOから、溶融させた封止用樹脂を同
図に示すように、これら上型7と下型8との間で形成さ
れるキャビティ11に注入する。
その後に1冷却し、上型7と下型8とを開き、ランナー
9やゲート10(なお、以下これら部位の樹脂をも含め
てランナー9やゲー)10という)を除去し、リードフ
レーム1の前記リード4間を連結しかつ封止用樹脂の流
れ止めの目的で設けているタイバ一部(図示せず)を切
断し、多連のリードフレーム間を分離して、個々に1キ
ヤビテイ11に注入された封止用樹脂よりなる樹脂封止
部をもつ樹脂封止型半導体装置を得る。
なお、当該樹脂封止型半導体装置のモールド成形技術に
ついて述べた特許の例としては、特開昭61−2049
55号公報が挙げられる。
しかるに、第5図に示すような従来例の方法では、同図
に示すように、リードフレーム1のり−ド40表面とゲ
ート10とが接触しているために1第6図に示すように
、樹脂封止部12から外部に露出したリード(外部リー
ド)4にゲート10が付着し、前記の如く当該ゲートl
Oを破壊し、除去する(以下ゲートブレイクという)際
に、当該ゲートブレイクが容易でなかったり、轟核リー
ド4にパリが付着したり、あるいは、ゲートブレイクに
際し外部リード(ビン)4が曲ってしまったりする。
そこで、第6図に示すような樹脂封止部12のコーナー
に位置しているコーナービン4を設けないよう圧して、
かかる事態を回避することも行われているが、これでは
、リード4の数が減少してしまい、ただでさえ、実装密
度の向上から多ビン化が叫ばれているのにこれに逆行す
ることになる。
本発明はかかる従来技術の有する欠点を解消することの
できる技術を提供することを目的とする。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
本発明では、ゲートを、リード面とは接触し7ないよう
に分離させる。
〔作用〕
これにより、従来の如く、リードとケートが付着しない
ので、ゲートブレイク時にリードが曲がることが防止さ
れる。また、ゲートがリードに付着していないので、ゲ
ートブレイクに際し、ダートを突き上げすればゲートは
容易に除去することができ、ゲートブレイクが容易にな
る。さらに、ゲートとリードとは離れているので、コー
ナ一部のリードを減らす必要がなく、多ビン化が可能で
ある。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例を図面に基づいて股間する。
第2図に本発明に使用されるモールド金型の上型と下型
とを分離して示す。
同図にて、13はモールド金型、14はその上型、15
はその下型を示す。
当該下型15には、キャビティ11とランナー9間を貫
通するトンネル状のゲー)16’ii−当該キャビティ
11からランナー9にかけて上方向に傾斜させて設ける
従来例と同様に、リードフレームlのタブ部2に半導体
テップ3を固着【7、当該チップ3とり一ド4とをワイ
ヤ5によりワイヤボンディングした組立品を、モールド
金型13に入れ、第1図に示すように1 リードフレー
ム1のリード4を上型14と下型15との間に挾持され
る。
次いで、ランナー9からトンネル上のゲート16を経て
、キャビティ11に溶融した封止用樹脂をを注入する。
なお、第5図および第6図と共通する符号は同一の機能
を示す。
溶融した封止用樹脂を冷却し、前記[7た従来例と同様
に個別切断分離を行うと第4図で示すような樹脂封止型
半導体装置を得る。
第3図VCtd本発明の当該m脂封止型半導体装置のゲ
ートブレイク前、要部I11断面図を示す。
本発明では、第1図などに示すように11J−ド4とゲ
ート16とを分離し、下型15自体にリード4表面とは
離隔した部位にあるトンネル状のゲート16を設はトラ
ンスファーモールドを行なうので、第3図に示すように
、樹脂封止部12の外部リード4と離れたその下85に
グー)16が形成される。その為、ゲートブレイクに際
しては、当該ケート16を突き上げることによりゲート
ブレイクを容易に行うことができる。故に従来の如く、
ゲート10とリード4とが付着し、なかなかゲートブレ
イクが容易でないという事態を回避することができる。
また、従来の如く、グー)10とリード4とが付着する
ことに起因する、ゲートブレイク時のリード4曲がりが
回避される。また、コーナー邪のリードをそのために減
少させるという必要もない。
本発明に使用されるリードフレーム1は、例えば銅や4
2アロイ等の金楕材料より成る。
半導体チッ13は、例えばシリコン単結晶基板から成り
、周知の技術によってこのチップ内には多数の回路素子
が形成され、1つの回路機能が与えられている。回路素
子の具体例は、例えViMOSトランジスタから成り、
これらの回路素子によって、例えha理理路路よびメモ
リの回路機能が形成されている。
ワイヤ5は、例えdAu線より成る。
封止用樹脂としては、例えばエポキシ樹脂を主体とし7
たものを使用することができる。
以上本発明者によってなさねた発明を実施例にもとづき
具体的に説明し7たが、本発明は上記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。
例えば、前記実施例ではトンネル状のゲートを下型に設
けた例を示したが、上記の方に設けてもよいし、両型に
設けてもよい。
本発明のトンネル状のゲートは樹脂封止部のコーナーを
形成する部位に必ず設けるという制限はなく、リード面
と離した箇所であれは側面に設けてもよい。すなわち、
本発明ではケートをとる位tf、を広範囲のものとする
ことができる。
本発明は四方向にリードを有するパッケージや二方同に
リードを有するパッケージなど各種の樹脂封止型半導体
装置に適用することができる。
〔発明の効果〕 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下舅己のとおりで
ある。
本発明によれはゲートブレイクが容易で、リード面りが
防止でき、多ビン化が可能な樹脂封止型半導体装置の製
法を提供することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すトランスファーモールド
成形工程の説明断面図、 第2図は本発明の実施例を示すモールド金型の型締前分
解断面図。 第3図は本発明の実施例を示す要部側断面図、第4図は
本発明の実施例を示す樹脂封止型半導体装置の一部切欠
斜視図、 第5図は従来例を示す断面図、 第6図は従来例の説明図である。 1・・・リードフレーム、2・・・アイランド部、3・
・・半導体チップ、4・・・リード、5・・・ワイヤ、
6・・・モールド金型、7・・・上型、8・・・下型、
9・・・ランナー10・・・ゲート、11・・・キャビ
ティ、12・・・樹脂封止部、13・・・モールド金型
、14・・・上型、15・・・下型、16・・・トンネ
ル状ゲート。 第 図 第 図 5ボじ?ン〉り゛フイマ(A、) と/ ;ン グリード′フレ1瓜(キ田)・ンヤ) 第 図 /3 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、多連のリードフレームに半導体チップを固着し、ワ
    イヤボンディング後、モールド金型に入れ、当該モール
    ド金型のゲートから封止用樹脂を流出させてトランスフ
    ァーモールドを行ない、次いで個別に切断分離する主要
    工程を含む樹脂封止型半導体装置の製造方法において、
    前記モールド金型のゲートを、当該モールド金型の上型
    と下型間に挾持される前記リードフレームのリード面と
    は離隔した位置に設け、前記トランスファーモールドを
    行なうことを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方
    法。 2、ゲートを、モールド金型の上型および/または下型
    に設け、当該上型および/または下型とランナー間を貫
    通したトンネル状のゲートとなしたことを特徴とする樹
    脂封止型半導体装置の製造方法。
JP1016129A 1989-01-27 1989-01-27 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Pending JPH02198145A (ja)

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