JPH02189641A - 情報処理装置の試験実行方法 - Google Patents
情報処理装置の試験実行方法Info
- Publication number
- JPH02189641A JPH02189641A JP1010552A JP1055289A JPH02189641A JP H02189641 A JPH02189641 A JP H02189641A JP 1010552 A JP1010552 A JP 1010552A JP 1055289 A JP1055289 A JP 1055289A JP H02189641 A JPH02189641 A JP H02189641A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 76
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 9
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、演算処理装置とサービスプロセッサを含み、
前記演算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく
、アーキテクチャ共通部とのアーキテクチャ毎のn個の
アーキテクチャ固有部を有し、前記サービスプロセッサ
に接続される外部記憶装置には前記複数のアーキテクチ
ャに対応したn組の試験モニタと試験部とが格納され、
かつ実行アーキテクチャ情報が格納される領域が前記外
部記憶装置に確保され、前記領域にはシステム初期設定
段階でオペレーティングシステムにより前記オペレーテ
ィングシステム自身の実行アーキテクチャが格納される
情報処理装置に関する。
前記演算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく
、アーキテクチャ共通部とのアーキテクチャ毎のn個の
アーキテクチャ固有部を有し、前記サービスプロセッサ
に接続される外部記憶装置には前記複数のアーキテクチ
ャに対応したn組の試験モニタと試験部とが格納され、
かつ実行アーキテクチャ情報が格納される領域が前記外
部記憶装置に確保され、前記領域にはシステム初期設定
段階でオペレーティングシステムにより前記オペレーテ
ィングシステム自身の実行アーキテクチャが格納される
情報処理装置に関する。
[従来の技術]
従来、この種の情報処理装置では、実行アーキテクチャ
を自動判別する手段が設けられていないため、試験実行
時に人間の判断により実行アーキテクチャに応じた試験
モニタと試験部を実行するか、あるいは判別せずに全て
のアーキテクチャに対応したn組の試験モニタと試験部
とを常に自動実行する方法が採られていた。
を自動判別する手段が設けられていないため、試験実行
時に人間の判断により実行アーキテクチャに応じた試験
モニタと試験部を実行するか、あるいは判別せずに全て
のアーキテクチャに対応したn組の試験モニタと試験部
とを常に自動実行する方法が採られていた。
[発明が解決しようとする課題]
上述した従来の試験実行方法のうち、前者は人間により
判断しなければならないというわずられしさと操作ミス
誘発の危険性があり、後者は試験の実行時間がアーキテ
クチャの種類に比例して長くなるという欠点がある。
判断しなければならないというわずられしさと操作ミス
誘発の危険性があり、後者は試験の実行時間がアーキテ
クチャの種類に比例して長くなるという欠点がある。
[課題を解決するための手段]
本発明の情報処理装置の試験実行方法は、演算処理装置
の試験を実行する際、外部記憶装置の領域を参照し、実
行アーキテクチャ情報が格納されていない場合にはn組
の試験モニタと試験部とを実行し、実行アーキテクチャ
情報が格納されている場合には、第1のアーキテクチャ
に関する試験モニタとアーキテクチャ共通部および第1
のアーキテクチャの固有部を同時に試験する試験部をロ
ードし実行し、さらに、前記実行アーキテクチャ情報が
第1のアーキテクチャ以外ならば、前記実行アーキテク
チャ情報に対応した試験モニタと試験部をロードし実行
するものである。
の試験を実行する際、外部記憶装置の領域を参照し、実
行アーキテクチャ情報が格納されていない場合にはn組
の試験モニタと試験部とを実行し、実行アーキテクチャ
情報が格納されている場合には、第1のアーキテクチャ
に関する試験モニタとアーキテクチャ共通部および第1
のアーキテクチャの固有部を同時に試験する試験部をロ
ードし実行し、さらに、前記実行アーキテクチャ情報が
第1のアーキテクチャ以外ならば、前記実行アーキテク
チャ情報に対応した試験モニタと試験部をロードし実行
するものである。
システムの実行アーキテクチャが判明しない時は全ての
アーキテクチャの試験を行ない、逆にシステムの実行ア
ーキテクチャが確定した後は該アーキテクチャに対応す
る試験を自動実行するので、冗長な試験実行を抑止し、
保守時間を短縮できる。
アーキテクチャの試験を行ない、逆にシステムの実行ア
ーキテクチャが確定した後は該アーキテクチャに対応す
る試験を自動実行するので、冗長な試験実行を抑止し、
保守時間を短縮できる。
[実施例]
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す情報処理装置の構成図
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。
この情報処理装置では、演算処理装置2と入出力制御装
置4と主記憶装置3とがシステム制御装置1に接続され
、さらに診断ユニット5を介してサービスプロセッサ6
がシステム制御装置1に接続され、サービスプロセッサ
6に外部記憶装置7が接続されている。入出力制御装置
4には、磁気ディスク装置42を制御する磁気ディスク
制御装置41が接続されている。演算処理装置2は複数
のアーキテクチャa、b、・・・、nを制御すべくアー
キテクチャ共通部21と、アーキテクチャa、b。
置4と主記憶装置3とがシステム制御装置1に接続され
、さらに診断ユニット5を介してサービスプロセッサ6
がシステム制御装置1に接続され、サービスプロセッサ
6に外部記憶装置7が接続されている。入出力制御装置
4には、磁気ディスク装置42を制御する磁気ディスク
制御装置41が接続されている。演算処理装置2は複数
のアーキテクチャa、b、・・・、nを制御すべくアー
キテクチャ共通部21と、アーキテクチャa、b。
・・・、nに対応したアーキテクチャ固有部2a、 2
b。
b。
・・・、 2nを含んでいる。アーキテクチャa、b。
・・・ nに対応した演算処理装置2の試験用として外
部記憶装置7にはアーキテクチャa用試験モニタ7al
と試験部7a2(アーキテクチャ共通部21とアーキテ
クチャa固有部2aとを試験)、アーキテクチャb用試
験モニタ7blと試験部7b2(アーキテクチャ固有部
2bのみ試験)、以下同様にしてアーキテクチャn用試
験モニタ7nlと試験部7n2(アーキテクチャ固有部
2nのみ試験)が格納され、試験モニタ起動制御部71
の制御のもとに実行アーキテクチャ情報格納部72の内
容に応じて選択された試験モニタ7xlと試験部7x2
(x = a、 b。
部記憶装置7にはアーキテクチャa用試験モニタ7al
と試験部7a2(アーキテクチャ共通部21とアーキテ
クチャa固有部2aとを試験)、アーキテクチャb用試
験モニタ7blと試験部7b2(アーキテクチャ固有部
2bのみ試験)、以下同様にしてアーキテクチャn用試
験モニタ7nlと試験部7n2(アーキテクチャ固有部
2nのみ試験)が格納され、試験モニタ起動制御部71
の制御のもとに実行アーキテクチャ情報格納部72の内
容に応じて選択された試験モニタ7xlと試験部7x2
(x = a、 b。
・・・、nのいずれか)がシステム制御装置1、診断ユ
ニット5を経由してサービスプロセッサ6より主記憶装
置3にロードされるようになっている。
ニット5を経由してサービスプロセッサ6より主記憶装
置3にロードされるようになっている。
そして、この情報処理装置は、入出力制御装置4および
磁気ディスク制御装置41を経由して接続された磁気デ
ィスク装置42に格納されているオペレーティングシス
テム43が主記憶装置3にロードされると演算処理装置
2の制御のもとにオペレーティングシステム43が起動
、実行されるようになっている。
磁気ディスク制御装置41を経由して接続された磁気デ
ィスク装置42に格納されているオペレーティングシス
テム43が主記憶装置3にロードされると演算処理装置
2の制御のもとにオペレーティングシステム43が起動
、実行されるようになっている。
次に、本実施例の情報処理装置における試験実行処理を
第2図により説明する。
第2図により説明する。
まず、システム初期設定(処理101 )が行なわれる
と、オペレーティングシステム43が磁気ディスク装置
42より主記憶装置3にロードされ演算処理装置2の制
御のもとに実行される(第2図には示していない)、実
行されたオペレーティングシステム43はオペレーティ
ングシステム43自身の実行アーキテクチャiをソフト
ウェア命令の一種である拡張デコール命令により実行す
ると、診断ユニット5、サービスプロセッサ6経由で実
行アーキテクチャ情報格納領域72に情報iが格納され
る(処理102)。次に、オペレーティングシステム4
3はシステム運転を開始しく処理103)、業務サービ
スを行なう、ここで、演算処理装置2に致命的な故障が
発生すると、オペレーティングシステム43は業務サー
ビスを継続できなくなりシステムは停止する(処理+0
4)、この場合、演算処理装置2の保守が行なわれ、保
守が正しく行なわれ故障が修復したかを確認する目的で
演算処理装置2の試験を実行するため、試験モニタ起動
制御部7Iを活性化する(処理201)。試験モニタ起
動制御部71は実行アーキテクチャ情報格納領域72の
内容を調査しく処理202)、この場合処理102によ
り情報iが格納されているので処理206へ進みアーキ
テクチャaに対応した試験モニタ7alと試験部7a2
を主記憶装置3ヘロードし、演算処理装置2により試験
モニタ7alと試験部7a2が実行される。これにより
、アーキテクチャ共通部21とアーキテクチャ固有部2
aが試験されたことになる1次に、処理207へ進み実
行アーキテクチャ情報72の内容iがアーキテクチャa
を示しているかチエツクし、アーキテクチャaを示して
いるならば試験実行を終了する。すなわち、実行アーキ
テクチャの情報iに対応した試験a(=i)が実行され
たことになる。また、実行アーキテクチャ情報72の内
容iがaを示していないならば、アーキテクチャiに対
応した試験モニタ7i+とアーキテクチャi固有部21
を試験する試験部7i2を主記憶装置3ヘロードし、演
算処理装置2により試験モニタ7i1と固有試験部71
2が実行される。したがって、試験部7alによりアー
キテクチャ共通部21が試験され、アーキテクチャ固有
越験部7i1によりアーキテクチャ固有部21が試験さ
れることによりアーキテクチャiに必要な共通部21と
固有部21が試験されることになる。一方、システム搬
入直後の現地調整やシステム初期設定したものの立上げ
の過程で致命的な故障が発生して処理102の実行アー
キテクチャを格納する処理が未完了の場合には、処理2
02による判断に基づき処理203によってアーキテク
チャ共通部21とアーキテクチャn固有部2aが、処理
204によってアーキテクチャb固有部2bが、同様に
処理205によってアーキテクチャn固有部2nがそれ
ぞれ試験され、結果として演算処理装置2を構成する2
1.2a、 2b、・・・、 2n全てが試験される。
と、オペレーティングシステム43が磁気ディスク装置
42より主記憶装置3にロードされ演算処理装置2の制
御のもとに実行される(第2図には示していない)、実
行されたオペレーティングシステム43はオペレーティ
ングシステム43自身の実行アーキテクチャiをソフト
ウェア命令の一種である拡張デコール命令により実行す
ると、診断ユニット5、サービスプロセッサ6経由で実
行アーキテクチャ情報格納領域72に情報iが格納され
る(処理102)。次に、オペレーティングシステム4
3はシステム運転を開始しく処理103)、業務サービ
スを行なう、ここで、演算処理装置2に致命的な故障が
発生すると、オペレーティングシステム43は業務サー
ビスを継続できなくなりシステムは停止する(処理+0
4)、この場合、演算処理装置2の保守が行なわれ、保
守が正しく行なわれ故障が修復したかを確認する目的で
演算処理装置2の試験を実行するため、試験モニタ起動
制御部7Iを活性化する(処理201)。試験モニタ起
動制御部71は実行アーキテクチャ情報格納領域72の
内容を調査しく処理202)、この場合処理102によ
り情報iが格納されているので処理206へ進みアーキ
テクチャaに対応した試験モニタ7alと試験部7a2
を主記憶装置3ヘロードし、演算処理装置2により試験
モニタ7alと試験部7a2が実行される。これにより
、アーキテクチャ共通部21とアーキテクチャ固有部2
aが試験されたことになる1次に、処理207へ進み実
行アーキテクチャ情報72の内容iがアーキテクチャa
を示しているかチエツクし、アーキテクチャaを示して
いるならば試験実行を終了する。すなわち、実行アーキ
テクチャの情報iに対応した試験a(=i)が実行され
たことになる。また、実行アーキテクチャ情報72の内
容iがaを示していないならば、アーキテクチャiに対
応した試験モニタ7i+とアーキテクチャi固有部21
を試験する試験部7i2を主記憶装置3ヘロードし、演
算処理装置2により試験モニタ7i1と固有試験部71
2が実行される。したがって、試験部7alによりアー
キテクチャ共通部21が試験され、アーキテクチャ固有
越験部7i1によりアーキテクチャ固有部21が試験さ
れることによりアーキテクチャiに必要な共通部21と
固有部21が試験されることになる。一方、システム搬
入直後の現地調整やシステム初期設定したものの立上げ
の過程で致命的な故障が発生して処理102の実行アー
キテクチャを格納する処理が未完了の場合には、処理2
02による判断に基づき処理203によってアーキテク
チャ共通部21とアーキテクチャn固有部2aが、処理
204によってアーキテクチャb固有部2bが、同様に
処理205によってアーキテクチャn固有部2nがそれ
ぞれ試験され、結果として演算処理装置2を構成する2
1.2a、 2b、・・・、 2n全てが試験される。
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、システムの実行アーキテ
クチャが判明しない時は全てのアーキテクチャの試験を
行ない、逆にシステムの実行アーキテクチャが確定した
後は該アーキテクチャに対応する試験のみを実行するこ
とにより、冗長な試験実行を抑止し、保守時間を短縮で
きるという効果がある。
クチャが判明しない時は全てのアーキテクチャの試験を
行ない、逆にシステムの実行アーキテクチャが確定した
後は該アーキテクチャに対応する試験のみを実行するこ
とにより、冗長な試験実行を抑止し、保守時間を短縮で
きるという効果がある。
第1図は本発明の情報処理装置の一実施例を示す構成図
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。 l・・・・・・システム制御装置 2・・・・・・演算処理装置 2a〜2n・・・・・・アーキテクチャ固有部21・・
・・・・アーキテクチャ共通部3・・・・・・主記憶装
置 4・・・・・・入出力制御装置 41・・・・・・磁気ディスク制御装置42・・・・・
・磁気ディスク装置 43・・・・・・オペレーティングシステム、5・・・
・・・診断ユニット 6・・・・・・サービスプロセッサ 7・・・・・・外部記憶装置
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。 l・・・・・・システム制御装置 2・・・・・・演算処理装置 2a〜2n・・・・・・アーキテクチャ固有部21・・
・・・・アーキテクチャ共通部3・・・・・・主記憶装
置 4・・・・・・入出力制御装置 41・・・・・・磁気ディスク制御装置42・・・・・
・磁気ディスク装置 43・・・・・・オペレーティングシステム、5・・・
・・・診断ユニット 6・・・・・・サービスプロセッサ 7・・・・・・外部記憶装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、演算処理装置とサービスプロセッサを含み、前記演
算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく、アー
キテクチャ共通部とアーキテクチャ毎のn個のアーキテ
クチャ固有部を有し、前記サービスプロセッサに接続さ
れる外部記憶装置には前記複数のアーキテクチャに対応
したn組の試験モニタと試験部とが格納され、かつ実行
アーキテクチャ情報が格納される領域が前記外部記憶装
置に確保され、前記領域にはシステム初期設定段階でオ
ペレーティングシステムにより前記オペレーティングシ
ステム自身の実行アーキテクチャが格納される情報処理
装置において、 前記演算処理装置の試験を実行する際、前記領域を参照
し、実行アーキテクチャ情報が格納されていない場合に
はn組の試験モニタと試験部とを実行し、実行アーキテ
クチャ情報が格納されている場合には、第1のアーキテ
クチャに関する試験モニタとアーキテクチャ共通部およ
び第1のアーキテクチャの固有部を同時に試験する試験
部をロードし実行し、さらに、前記実行アーキテクチャ
情報が第1のアーキテクチャ以外のものならば、前記実
行アーキテクチャ情報に対応した試験モニタと試験部を
ロードし実行する、情報処理装置の試験実行方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1010552A JPH02189641A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1010552A JPH02189641A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02189641A true JPH02189641A (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=11753419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1010552A Pending JPH02189641A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02189641A (ja) |
-
1989
- 1989-01-18 JP JP1010552A patent/JPH02189641A/ja active Pending
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