JPH02181160A - 電子写真感光体 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、硬度の改善された表面層を有し、反復使用に
よる画像ぼけを生じない電子写真感光体に関する。
よる画像ぼけを生じない電子写真感光体に関する。
従来の技術
近年、電子写真感光体として、導電性基体上に非晶質ケ
イ素を主成分とする光導電層を設けた構成のものが提案
されている。このような非晶質ケイ素を主成分とする光
導電層を設けた感光体は、従来光導電層として使用され
てきた3e、 trSe、7nO,CdSなどの無機
系光導電性材料や種々の有機系光導電性材料を用いた感
光体に比して、機械的強度、汎色性、長波長感度に優れ
た特性を有するものであるが、大気中、特に高温高湿下
で放置すると、画像ぼけが生じたり、電子写真プロセス
における残留トナー除去ブレードおるいは用紙剥離爪等
との摩擦によって、表面が変化し、得られた画像に白筋
上の欠陥が発生するという欠点があった。そこで、この
ような欠点を改善する目的で、ケイ素を主成分とする感
光層の有する硬さを損なわないような、SIN 、3
10x、5iCxなとの組成を有する各種表面層を設り
る提案がなされており、このような表面層を設けること
により、前記の欠点は改善される。また、高温高湿下で
の繰り返し使用特性を改善する目的で無定形炭素よりな
る表面層を設けたものも提案されている。(特開昭61
−250655号公報)発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のようなSiNx、SiOx、5i
Cx、等の組成を有する表面層を設けてなる電子写真感
光体では、高温高湿下で長期間にわたり繰返し使用する
と、画像ぼ(ブを生じてしまい、実用に供することがで
きなかった。また、無定形炭素よりなる表面層を設けた
電子写真感光体においては、表面電位低下を生じるとい
う問題がめった。
イ素を主成分とする光導電層を設けた構成のものが提案
されている。このような非晶質ケイ素を主成分とする光
導電層を設けた感光体は、従来光導電層として使用され
てきた3e、 trSe、7nO,CdSなどの無機
系光導電性材料や種々の有機系光導電性材料を用いた感
光体に比して、機械的強度、汎色性、長波長感度に優れ
た特性を有するものであるが、大気中、特に高温高湿下
で放置すると、画像ぼけが生じたり、電子写真プロセス
における残留トナー除去ブレードおるいは用紙剥離爪等
との摩擦によって、表面が変化し、得られた画像に白筋
上の欠陥が発生するという欠点があった。そこで、この
ような欠点を改善する目的で、ケイ素を主成分とする感
光層の有する硬さを損なわないような、SIN 、3
10x、5iCxなとの組成を有する各種表面層を設り
る提案がなされており、このような表面層を設けること
により、前記の欠点は改善される。また、高温高湿下で
の繰り返し使用特性を改善する目的で無定形炭素よりな
る表面層を設けたものも提案されている。(特開昭61
−250655号公報)発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のようなSiNx、SiOx、5i
Cx、等の組成を有する表面層を設けてなる電子写真感
光体では、高温高湿下で長期間にわたり繰返し使用する
と、画像ぼ(ブを生じてしまい、実用に供することがで
きなかった。また、無定形炭素よりなる表面層を設けた
電子写真感光体においては、表面電位低下を生じるとい
う問題がめった。
本発明は、前記感光体の有する欠点にかんがみてなされ
たものである。本発明の目的は、どのような操作条件下
でも画像ぼけの生じない電子写真感光体を提供すること
、とりわけ高温高湿下において長期間にわたり繰返し使
用しても画像ぼけの生じない電子写真感光体を提供する
ことにおる。
たものである。本発明の目的は、どのような操作条件下
でも画像ぼけの生じない電子写真感光体を提供すること
、とりわけ高温高湿下において長期間にわたり繰返し使
用しても画像ぼけの生じない電子写真感光体を提供する
ことにおる。
本発明の更に他の目的は、十分な表面硬度を有し、かつ
高い電荷受容能を有する電子写真感光体を提供すること
におる。
高い電荷受容能を有する電子写真感光体を提供すること
におる。
課題を解決するための手段
本発明は、導電性基体上に、非晶質ケイ素系光導電層を
設け、表面保護層を有してなる電子写真感光体において
、該表面保護層が、窒素含有非晶質ケイ素よりなる下部
層と、非晶質炭素よりなる上部層との積層構造を有する
ことを特徴とするものであり、そして窒素含有非晶質ケ
イ素よりなる下部層と非晶質炭素よりなる上部層とが優
れた接着性を示し、耐久性のある電子写真感光体が実現
できる。
設け、表面保護層を有してなる電子写真感光体において
、該表面保護層が、窒素含有非晶質ケイ素よりなる下部
層と、非晶質炭素よりなる上部層との積層構造を有する
ことを特徴とするものであり、そして窒素含有非晶質ケ
イ素よりなる下部層と非晶質炭素よりなる上部層とが優
れた接着性を示し、耐久性のある電子写真感光体が実現
できる。
以下、図面にしたがって、本発明の電子写真感光体につ
いて説明する。
いて説明する。
第1図は、本発明の電子写真感光体の模式的断面図でお
る。1は導電性基体、2は電荷注入阻止層、3は感光層
、4は表面保護層であって、41は下部層、42は上部
層である。
る。1は導電性基体、2は電荷注入阻止層、3は感光層
、4は表面保護層であって、41は下部層、42は上部
層である。
導電性基体としては、アルミニウム、ニッケル、クロム
、ステンレス鋼等の金属類、または導電膜を有するプラ
スチックシー1〜、ガラス、紙、など目的に応じて適宜
選択することができる。
、ステンレス鋼等の金属類、または導電膜を有するプラ
スチックシー1〜、ガラス、紙、など目的に応じて適宜
選択することができる。
感光層は、非晶質ケイ素を主成分として構成されるもの
で、グロー放電法、スパッタリング法、イオンブレーテ
ィング法等により導電性基体上に形成することができる
。これらの膜形成方法は、目的に応じて適宜選択される
が、プラズマCVD法により原料ガスをグロー放電分解
する方法が好ましい。
で、グロー放電法、スパッタリング法、イオンブレーテ
ィング法等により導電性基体上に形成することができる
。これらの膜形成方法は、目的に応じて適宜選択される
が、プラズマCVD法により原料ガスをグロー放電分解
する方法が好ましい。
使用することができる原料としては、シラン、ジシラン
をはじめとするシラン類、おるいは、シリコン結晶がめ
げられる。又、感光層を形成する際、必要に応じて各種
混合ガス、例えば、水素、ヘリウム、アルゴン、ネオン
等のキャリヤガスを用いることも可能でおる。又、感光
層の暗抵抗の制御、おるいは帯電極性の制御を目的とし
て、更に上記のガス中にジボラン(82町)ガスおるい
はボスフィン(P目3)ガス等のドーパントガスを混入
させ、光導電層膜中へのホウ素あるいはリン等の不純物
元素の添h■(ドーピング)を行なうこともできる。又
、さらには、暗抵抗の増加、光感度の増加、必るいは帯
電能(単位膜厚光たりの帯電能力めるいは帯電電位)の
増加を目的として、感光層中にハロゲン原子、炭素原子
、酸素原子、窒素原子などを含有してもよい。さらに又
、長波長域感度の増加を目的として、感光層中にゲルマ
ニウム(Ge)等の元素を添加することも可能でおる。
をはじめとするシラン類、おるいは、シリコン結晶がめ
げられる。又、感光層を形成する際、必要に応じて各種
混合ガス、例えば、水素、ヘリウム、アルゴン、ネオン
等のキャリヤガスを用いることも可能でおる。又、感光
層の暗抵抗の制御、おるいは帯電極性の制御を目的とし
て、更に上記のガス中にジボラン(82町)ガスおるい
はボスフィン(P目3)ガス等のドーパントガスを混入
させ、光導電層膜中へのホウ素あるいはリン等の不純物
元素の添h■(ドーピング)を行なうこともできる。又
、さらには、暗抵抗の増加、光感度の増加、必るいは帯
電能(単位膜厚光たりの帯電能力めるいは帯電電位)の
増加を目的として、感光層中にハロゲン原子、炭素原子
、酸素原子、窒素原子などを含有してもよい。さらに又
、長波長域感度の増加を目的として、感光層中にゲルマ
ニウム(Ge)等の元素を添加することも可能でおる。
特に、感光層は、ケイ素を主成分とし、少量の元素周期
律表第11IB族元素(好ましくはホウ素)を添加して
なるi形半導体層でおるのか好ましい。上記様々の元素
を感光層中に添加含有させるためには、プラズマCVD
装置内に、主原料て市るシランガスと共に、それらの元
素を含む物質のガス化物を導入してグロー放電分解を行
えばよい。
律表第11IB族元素(好ましくはホウ素)を添加して
なるi形半導体層でおるのか好ましい。上記様々の元素
を感光層中に添加含有させるためには、プラズマCVD
装置内に、主原料て市るシランガスと共に、それらの元
素を含む物質のガス化物を導入してグロー放電分解を行
えばよい。
グロー放電分解の条件は、交流放電の場合を例にとると
、次の通りで必る。すなわち、周波数は、通常o、i〜
30M1lZ 、好適には5〜2ONト1z 、放電時
の真空度は0.1〜5Torr (13,3〜667
Pa ) 、M板加熱温度は100〜400 ’Cでお
る。
、次の通りで必る。すなわち、周波数は、通常o、i〜
30M1lZ 、好適には5〜2ONト1z 、放電時
の真空度は0.1〜5Torr (13,3〜667
Pa ) 、M板加熱温度は100〜400 ’Cでお
る。
感光層の膜厚は、任意に設定できるか、1μm〜200
μm、特に5μm〜100μmの範囲に設定するのが望
ましい。
μm、特に5μm〜100μmの範囲に設定するのが望
ましい。
又、本発明の電子写真感光体は、必要に応じて感光層と
導電性基板との間には、他の層を形成してもよい。これ
らの層としては、例えば次のものがあげられる。
導電性基板との間には、他の層を形成してもよい。これ
らの層としては、例えば次のものがあげられる。
電荷注入阻止層として、例えばアモルファスシリコンに
元素周期律表第■族元素必るいはV族元素を添加してな
るn形半導体層おるいはn形半導体層、ざらに絶縁層が
、また増感層として、例えばアモルファシリコンに微結
晶ゲルマニウム、錫を添加してなる層が、更に又、基板
との接着層としてアモルファスシリコンに窒素、炭素、
酸素などを添加してなる層、その他、元素周期律表第■
族元素、V族元素を同時に含む層など、感光体の電気的
及び画像的特性を制御できる層があげられる。
元素周期律表第■族元素必るいはV族元素を添加してな
るn形半導体層おるいはn形半導体層、ざらに絶縁層が
、また増感層として、例えばアモルファシリコンに微結
晶ゲルマニウム、錫を添加してなる層が、更に又、基板
との接着層としてアモルファスシリコンに窒素、炭素、
酸素などを添加してなる層、その他、元素周期律表第■
族元素、V族元素を同時に含む層など、感光体の電気的
及び画像的特性を制御できる層があげられる。
これら各層の膜厚は任意に決定できるが、通常o、 o
iμm〜10μmの範囲に設定して用いられる。
iμm〜10μmの範囲に設定して用いられる。
上記感光層の上には表面保護層が設りられるか、表面保
護層は窒素含有非晶質ケイ素よりなる下部層と、無定形
炭素よりなる上部層とより構成される。
護層は窒素含有非晶質ケイ素よりなる下部層と、無定形
炭素よりなる上部層とより構成される。
下部層は、例えば、シランガスと共に窒素原子を含む原
料ガスをプラズマCVD装置内に導入してグロー放電分
解を行って形成することができる。
料ガスをプラズマCVD装置内に導入してグロー放電分
解を行って形成することができる。
窒素原子を含む原料カスとしては、窒素原子を構成要素
とし気相で使用し得る単体おるいは化合物で必ればすべ
て用いることができるが、例としては、N2単体ガス、
或いはNH3、N2H4,1」N3等の水素化窒素化合
物のガスを挙げることができる。
とし気相で使用し得る単体おるいは化合物で必ればすべ
て用いることができるが、例としては、N2単体ガス、
或いはNH3、N2H4,1」N3等の水素化窒素化合
物のガスを挙げることができる。
下部層における窒素原子濃度はケイ素原子に対する原子
数比として、0.1〜1.0の範囲にあるのが好ましい
。その場合、成膜に際して窒素濃度を変更して、2つの
異なる濃度を有する積層構造の下部層を構成するように
してもよい。下部層の膜厚は0.01〜5μmの範囲で
あることが望ましい。
数比として、0.1〜1.0の範囲にあるのが好ましい
。その場合、成膜に際して窒素濃度を変更して、2つの
異なる濃度を有する積層構造の下部層を構成するように
してもよい。下部層の膜厚は0.01〜5μmの範囲で
あることが望ましい。
グロー放電分解の条件(は、交流放電の場合を例にとる
と、次の通りである。すなわち、周波数は、通常0.1
〜3011H7、好適には5〜2014Hz 、放電時
の真空度は0.1〜5Torr (13,3〜667
Pa ) 、基板加熱温度は100〜400°Cでおる
。
と、次の通りである。すなわち、周波数は、通常0.1
〜3011H7、好適には5〜2014Hz 、放電時
の真空度は0.1〜5Torr (13,3〜667
Pa ) 、基板加熱温度は100〜400°Cでおる
。
上部層は、炭素及び水素を主成分として構成されでいる
非晶質炭素からなることを特徴とするもので、多量の水
素は、膜中に鎖状の一〇H2−結合や−CH3結合を増
7J[lさせ、結果として、膜の硬度が損なわれるため
、膜中の水素の量は50原子%以下でおることが必要で
おる。上部層は、水素が共存している雰囲気でのグロー
放電法、スパッタリング法、イオンブレーティング法等
の方法によって形成することができる。中でも、プラズ
マCVD法が好ましい。
非晶質炭素からなることを特徴とするもので、多量の水
素は、膜中に鎖状の一〇H2−結合や−CH3結合を増
7J[lさせ、結果として、膜の硬度が損なわれるため
、膜中の水素の量は50原子%以下でおることが必要で
おる。上部層は、水素が共存している雰囲気でのグロー
放電法、スパッタリング法、イオンブレーティング法等
の方法によって形成することができる。中でも、プラズ
マCVD法が好ましい。
使用することができる原料としては、次のものが必げら
れる。主体となる炭素の原料としてはメタン、エタン、
プロパン、ブタン、ペンタン等の一般式Cn H2n+
2で示されるパラフィン系炭化水素、エチレン、プロピ
レン、ブチレン、ペンテン等の一般式CnH2nで示さ
れるオレフィン系炭化水素、アセチレン、アリレン、ブ
チン等の一般式CnH2n−2で示されるアセチレン系
炭化水素などの脂肪族炭化水素、シクロプロパン、シク
ロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロヘ
プタン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキセ
ン等の脂環式炭化水素、ベンゼン、トルエン、キシレン
、ナフタリン、アントラセン等の芳香族化合物部るいは
それらの有機置換物がめげられる。これらの原料化合物
は、枝分れ構造があってもよく、ハロゲン置換物でおっ
てもよい。例えば、四塩化炭素、クロロホルム、四フッ
化炭素、トリフルオルメタン、クロロトリフルオルメタ
ン、ジクロロジフルオルメタン、ブロモ1〜リフルオル
メタン、パーフロロエタン、パーフロロプロパン等のハ
ロゲン化炭化水素を用いることができる。
れる。主体となる炭素の原料としてはメタン、エタン、
プロパン、ブタン、ペンタン等の一般式Cn H2n+
2で示されるパラフィン系炭化水素、エチレン、プロピ
レン、ブチレン、ペンテン等の一般式CnH2nで示さ
れるオレフィン系炭化水素、アセチレン、アリレン、ブ
チン等の一般式CnH2n−2で示されるアセチレン系
炭化水素などの脂肪族炭化水素、シクロプロパン、シク
ロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロヘ
プタン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキセ
ン等の脂環式炭化水素、ベンゼン、トルエン、キシレン
、ナフタリン、アントラセン等の芳香族化合物部るいは
それらの有機置換物がめげられる。これらの原料化合物
は、枝分れ構造があってもよく、ハロゲン置換物でおっ
てもよい。例えば、四塩化炭素、クロロホルム、四フッ
化炭素、トリフルオルメタン、クロロトリフルオルメタ
ン、ジクロロジフルオルメタン、ブロモ1〜リフルオル
メタン、パーフロロエタン、パーフロロプロパン等のハ
ロゲン化炭化水素を用いることができる。
以上、列記した炭素の原料は、常温でガス状であっても
、固体状必るいは液状で必ってもよく、固体状あるいは
液状でおる場合には、気化して用いる。上部層形成に際
しては、上記原料群から選択された一以上のガス状原料
を減圧容器内に導入し、グロー放電を生起させ、感光層
上に炭素及び水素を主成分として構成される非晶質炭素
からなる上部層を形成する。上部層形成に際しては、必
要に応じ、これらガス状原料と異なる第3のガス状物質
をガス状原料と共に用いてもよい。これら第3のガス状
物質としては、水素、ヘリウム、アルゴン、ネオン等の
キャリヤガスがあげられる。
、固体状必るいは液状で必ってもよく、固体状あるいは
液状でおる場合には、気化して用いる。上部層形成に際
しては、上記原料群から選択された一以上のガス状原料
を減圧容器内に導入し、グロー放電を生起させ、感光層
上に炭素及び水素を主成分として構成される非晶質炭素
からなる上部層を形成する。上部層形成に際しては、必
要に応じ、これらガス状原料と異なる第3のガス状物質
をガス状原料と共に用いてもよい。これら第3のガス状
物質としては、水素、ヘリウム、アルゴン、ネオン等の
キャリヤガスがあげられる。
プラズマCVD法による上記各種原料のグロー放電分解
は、直流及び交流放電のいずれを採用する場合でも可能
でおり、そして膜形成の生成条件として、周波数は、通
常0.1〜30)IH2、好適には5〜20旧Z1旧型
1放電空度は0.1〜5Torr(13,3〜667P
a ) 、基板加熱温度は100〜400°Cである。
は、直流及び交流放電のいずれを採用する場合でも可能
でおり、そして膜形成の生成条件として、周波数は、通
常0.1〜30)IH2、好適には5〜20旧Z1旧型
1放電空度は0.1〜5Torr(13,3〜667P
a ) 、基板加熱温度は100〜400°Cである。
上部層の膜厚は任意に設定されるが、0.01〜10μ
m1好ましくは0,2〜5μmである。
m1好ましくは0,2〜5μmである。
本発明の電子写真用感光体は、どのような使用環境の下
でも安定かつ高品位な初期画像を与え、かつ繰り返し使
用しても画質の劣化を生じることがない。
でも安定かつ高品位な初期画像を与え、かつ繰り返し使
用しても画質の劣化を生じることがない。
実施例
以下、実施例と比較例とにより本発明を具体的に説明す
る。
る。
実施例1
容量結合型プラズマCVD装置の所定の位置に、円筒状
アルミニウム基板を載置し、反応室内にシラン(Sit
−14>ガス、ジボラン(B2 H6)ガス及び水素ガ
スの混合カスを導入して、グロー放電分解することによ
り、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2 pmの非晶
質ケイ素系叶型光導電層を電荷注入阻止層として形成し
た。
アルミニウム基板を載置し、反応室内にシラン(Sit
−14>ガス、ジボラン(B2 H6)ガス及び水素ガ
スの混合カスを導入して、グロー放電分解することによ
り、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2 pmの非晶
質ケイ素系叶型光導電層を電荷注入阻止層として形成し
た。
このときの光導電層の成膜条件は、次の通りでめった。
100%シランカス流量: 100 c屑/m1n1
ooppm水素希釈ジボランカス流Mj : 100
Cff1/m+n反応器内圧:1,0王orr 放電型カニ200臀 放電周波数: 13.56M1lz 基板温度:250°C 引き続いて、1100pp水素希釈ジ小ランガスを、2
ppm水素希釈ジボランカスに変更した以外は、上記
と同一の条件で成膜を行ない、膜厚20μmの非晶質ケ
イ素質i−型光導電層を形成した。この層の光学キャッ
プは1.7eVであった。
ooppm水素希釈ジボランカス流Mj : 100
Cff1/m+n反応器内圧:1,0王orr 放電型カニ200臀 放電周波数: 13.56M1lz 基板温度:250°C 引き続いて、1100pp水素希釈ジ小ランガスを、2
ppm水素希釈ジボランカスに変更した以外は、上記
と同一の条件で成膜を行ない、膜厚20μmの非晶質ケ
イ素質i−型光導電層を形成した。この層の光学キャッ
プは1.7eVであった。
続いて、反応ガスとして、シランカス、アンモニアガス
、及び水素ガスの混合体カスをグロー放電分解すること
により、上記光導電層上に、膜厚0.2μmの窒素含有
非晶質ケイ素よりなる層を、表面保護層の下部層として
形成した。このときの成膜条件は次の通りでめった。
、及び水素ガスの混合体カスをグロー放電分解すること
により、上記光導電層上に、膜厚0.2μmの窒素含有
非晶質ケイ素よりなる層を、表面保護層の下部層として
形成した。このときの成膜条件は次の通りでめった。
100%シランガス流量: 50Cffl/n++n
。
。
アンモニアカス流量: 50Cffl/ min、水素
ガス流量: 100 cm/Flin反応器内圧:
0.5 Torr 。
ガス流量: 100 cm/Flin反応器内圧:
0.5 Torr 。
放電型カニ100Δ、
放電周波数: 13.56 Mtlz。
基板温度:250°C0
続いて、反応ガスとして、エチレンガス及び水素ガスの
混合ガスを導入して、グロー放電分解することにより、
膜厚0.5μmの非晶質炭素よりなる層を、表面保護層
の上部層として形成した。このときの成膜条件は次の通
りでめった。
混合ガスを導入して、グロー放電分解することにより、
膜厚0.5μmの非晶質炭素よりなる層を、表面保護層
の上部層として形成した。このときの成膜条件は次の通
りでめった。
エチレンガス流量: 100 Cff1/min 。
水素ガス流1fx : 50Cffl/vn反応器内圧
:0.5王orr 。
:0.5王orr 。
放電型カニ500獣
放電周波数: 13.56 N11z。
基板温度:250℃。
以上のようにして得られたアルミニウム支持体上に電荷
注入阻止層、光導電層、第一の表面保護層(下部層)、
及び第二の表面保護層(上部層)を有する電子写真用感
光体を用いて、複写機の中で画質評価を行った。画質評
価は、10°C15%RH120°C50%RH及び3
0°C85%RHで行なった。
注入阻止層、光導電層、第一の表面保護層(下部層)、
及び第二の表面保護層(上部層)を有する電子写真用感
光体を用いて、複写機の中で画質評価を行った。画質評
価は、10°C15%RH120°C50%RH及び3
0°C85%RHで行なった。
この結果、得られた複写物は初期時及び20000枚複
写後、いずれの環境においても画像のぼけは発生せず、
また、かぶりのない高い像濃度を示し、さらに、感光体
表面の傷などに基づく画質欠陥は認められなかった。
写後、いずれの環境においても画像のぼけは発生せず、
また、かぶりのない高い像濃度を示し、さらに、感光体
表面の傷などに基づく画質欠陥は認められなかった。
比較例1
実施例1と同一の装置を用い、同一の条件及び方法によ
って、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非晶
質ケイ素p−型光導電層及び膜厚20μmの非晶質ケイ
素質i−型光導電層形成し、ざらに膜厚0.5μmの窒
素含有非晶質ケイ素よりなる層を表面保護層として形成
した。
って、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非晶
質ケイ素p−型光導電層及び膜厚20μmの非晶質ケイ
素質i−型光導電層形成し、ざらに膜厚0.5μmの窒
素含有非晶質ケイ素よりなる層を表面保護層として形成
した。
以上のようにして得られた電子写真感光体を用いて、複
写機の中で画像評価を行なった。その結果、30°C8
5%RHの環境において1000枚複写後、画像のぼけ
が生じた。
写機の中で画像評価を行なった。その結果、30°C8
5%RHの環境において1000枚複写後、画像のぼけ
が生じた。
比較例2
実施例1と同一の装置を用い、同一の条件及び方法によ
って、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非晶
質ケイ素上型光導電層及び膜厚20μmの非晶質ケイ素
質;−型光導電層形成し、ざらに膜厚0,5μmの非晶
質炭素よりなる層を表面保護層として形成した。
って、円筒状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非晶
質ケイ素上型光導電層及び膜厚20μmの非晶質ケイ素
質;−型光導電層形成し、ざらに膜厚0,5μmの非晶
質炭素よりなる層を表面保護層として形成した。
以上のようにして得られた電子写真感光体を用いて、複
写機の中で画像評価を行なった。その結果、初期より低
い像濃度の複写物しか得られなかった。
写機の中で画像評価を行なった。その結果、初期より低
い像濃度の複写物しか得られなかった。
実施例2
実施例と同一の装置、同一の条件・方法によって、円筒
状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非品質ケイ素系
p−型光導電層及び膜厚20pxの非晶質ケイ素質i−
型光導電層を形成した。
状アルミニウム基板上に、膜厚2μmの非品質ケイ素系
p−型光導電層及び膜厚20pxの非晶質ケイ素質i−
型光導電層を形成した。
次いて、反応ガスとして、シランガス、アンモニアガス
及び水素ガスの混合ガスを使用し、成膜条件を変化させ
て膜厚0.1μm及び0.3μmの2@構成の窒素含有
非晶質ケイ素よりなる層を、表面保護層の下部層として
形成した。このときの成膜条件は次の通りで必った。
及び水素ガスの混合ガスを使用し、成膜条件を変化させ
て膜厚0.1μm及び0.3μmの2@構成の窒素含有
非晶質ケイ素よりなる層を、表面保護層の下部層として
形成した。このときの成膜条件は次の通りで必った。
(最初の成膜条件)
100%シランカス流量: 50cffl/min 。
アンモニアガス流量:50C屑/min 。
水素カス流# : 100 c%/min反応器内圧:
0.5 Torr 。
0.5 Torr 。
放電型カニ200W、
放電周波数: 13.56 MHz、基板温度:
250’C0 (続いての成膜条件) ioo%シランカス流量: 40cffl/ mi n
。
250’C0 (続いての成膜条件) ioo%シランカス流量: 40cffl/ mi n
。
7)−C:二7ガス流ft : 60cffl/min
、水素ガス流量: 100 cffl/min尚、反応
器内圧、放電電力、放電周波数及び基板温度は、上記と
同一でおる。
、水素ガス流量: 100 cffl/min尚、反応
器内圧、放電電力、放電周波数及び基板温度は、上記と
同一でおる。
続いて、反応ガスとして、エチレンガス及び水素ガスの
混合ガスを導入して、グロー放電分解することにより、
膜厚0.5μmの非晶質炭素よりなる層を、表面保護層
の上部層として形成した。このときの成膜条件は次の通
りでめった。
混合ガスを導入して、グロー放電分解することにより、
膜厚0.5μmの非晶質炭素よりなる層を、表面保護層
の上部層として形成した。このときの成膜条件は次の通
りでめった。
エチレンガス流量: 100 cffl/min 。
水素ガス流m : 50cffl/min反応器内圧:
0.5 Torr 。
0.5 Torr 。
放電型カニ500W、
放電周波数: 13.56 MHz。
基板温度: 200’C8
以上のようにして得られたアルミニウム支持体上に電荷
注入阻止層、光導電層、第一の表面保護層(下部層)、
及び第二の表面保護層(上部層)を有する電子写真用感
光体を用いて、複写機の中で画質評価を行った。
注入阻止層、光導電層、第一の表面保護層(下部層)、
及び第二の表面保護層(上部層)を有する電子写真用感
光体を用いて、複写機の中で画質評価を行った。
この結果、得られた複写物は初期時及び20000枚複
写後、いずれの環境においても画像のぼ(プは発生せず
、また、かぶりのない高い像濃度を示し、ざらに、感光
体表面の傷などに基づく画質欠陥は認められなかった。
写後、いずれの環境においても画像のぼ(プは発生せず
、また、かぶりのない高い像濃度を示し、ざらに、感光
体表面の傷などに基づく画質欠陥は認められなかった。
発明の効果
本発明の電子写真感光体は、その表面保護層が窒素含有
非晶質ケイ素よりなる下部層と、水素及び炭素を主成分
として構成されている非晶質炭素からなる上部層との積
層構造を有することを特徴とするものであって、この様
な構成よりなる表面保護層は非常に高い表面硬度を有し
、また下部層の窒素含有非晶質ケイ素は、上部層との接
着性に優れているため、本発明の電子写真感光体は、使
用に際して、クリーニングブレード、紙判離爪その他に
よる傷の発生も起り難くなり、又どのような操作条件下
でも、画像ぼけを生じることがないという利点を有する
。特に、高温高湿下において、長期間繰返し使用しても
画像ぼけヤ画像濃度の低下がないから、実用的価値が高
い。
非晶質ケイ素よりなる下部層と、水素及び炭素を主成分
として構成されている非晶質炭素からなる上部層との積
層構造を有することを特徴とするものであって、この様
な構成よりなる表面保護層は非常に高い表面硬度を有し
、また下部層の窒素含有非晶質ケイ素は、上部層との接
着性に優れているため、本発明の電子写真感光体は、使
用に際して、クリーニングブレード、紙判離爪その他に
よる傷の発生も起り難くなり、又どのような操作条件下
でも、画像ぼけを生じることがないという利点を有する
。特に、高温高湿下において、長期間繰返し使用しても
画像ぼけヤ画像濃度の低下がないから、実用的価値が高
い。
第1図は、本発明の電子写真用感光体の模式的断面図で
ある。 1・・・導電性基体、2・・・電荷注入阻止層、3・・
・感光層、4・・・表面保護層、41・・・下部層、4
2・・・上部層。
ある。 1・・・導電性基体、2・・・電荷注入阻止層、3・・
・感光層、4・・・表面保護層、41・・・下部層、4
2・・・上部層。
Claims (1)
- (1)導電性基体上に、非晶質ケイ素系光導電層を設け
、表面保護層を有してなる電子写真感光体において、該
表面保護層が、窒素含有非晶質ケイ素よりなる下部層と
、非晶質炭素よりなる上部層との積層構造を有すること
を特徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP64000027A JPH02181160A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | 電子写真感光体 |
US07/456,669 US5139911A (en) | 1989-01-04 | 1989-12-28 | Electrophotographic photoreceptor with two part surface layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP64000027A JPH02181160A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02181160A true JPH02181160A (ja) | 1990-07-13 |
Family
ID=11462895
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP64000027A Pending JPH02181160A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | 電子写真感光体 |
Country Status (2)
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---|---|
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JP (1) | JPH02181160A (ja) |
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