JPH02168455A - 光磁気記録方法及び光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録方法及び光磁気記録媒体Info
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- JPH02168455A JPH02168455A JP24496589A JP24496589A JPH02168455A JP H02168455 A JPH02168455 A JP H02168455A JP 24496589 A JP24496589 A JP 24496589A JP 24496589 A JP24496589 A JP 24496589A JP H02168455 A JPH02168455 A JP H02168455A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は光磁気記録方法に関し、更に詳しくは記録の重
ね書き(オーバライド)機能を有する光磁気記録方法に
関する。
ね書き(オーバライド)機能を有する光磁気記録方法に
関する。
(従来の技術)
TbFe 、 TbCo 、 TbFeCo 、 Gd
TbFe 、 GdTbPeCo等に代表される希土類
−遷移金属非晶質合金(a−RE−TM)の薄膜は、膜
面に垂直な方向に磁化容品軸を有し、熱的に磁気特性が
変化する。光磁気記録はa−RE−TI膜のこのような
特性を利用したもので、a−RE−TMからなる記録層
へレーザーを照射し、保磁力を外部磁界以下に減少させ
て微小反転磁区を形成もしくは消滅させて情報の記録/
消去を行い、極力−回転等の磁気光学効果を利用して情
報の再生を行なう技術である。かかる光磁気記録は光記
録に共通する非接触アクセス性、媒体の可換性、高記録
密度性等の利点を有する反面、磁気記録に比べてオーバ
ーライドがしにくいという短所を有している。
TbFe 、 GdTbPeCo等に代表される希土類
−遷移金属非晶質合金(a−RE−TM)の薄膜は、膜
面に垂直な方向に磁化容品軸を有し、熱的に磁気特性が
変化する。光磁気記録はa−RE−TI膜のこのような
特性を利用したもので、a−RE−TMからなる記録層
へレーザーを照射し、保磁力を外部磁界以下に減少させ
て微小反転磁区を形成もしくは消滅させて情報の記録/
消去を行い、極力−回転等の磁気光学効果を利用して情
報の再生を行なう技術である。かかる光磁気記録は光記
録に共通する非接触アクセス性、媒体の可換性、高記録
密度性等の利点を有する反面、磁気記録に比べてオーバ
ーライドがしにくいという短所を有している。
光磁気記録におけるオーバーライド技術として種々のも
のが提案されているが、最も注目されている技術のひと
つとして光変調方式で、単一ビームで動作するもの(1
ビーム法)がある。かかる技術は、例えば、特開昭62
−175948号公報に記載されているように記録再生
層と記録補助層を有する光磁気記録媒体に予め初期補助
磁界を印加し、記録補助層の磁化を所定の向きに揃えて
おいた後、パルス状に変調されたビームを照射し、ビー
ムの強度が高いレベルの時にいずれか一方の磁化方向の
ビットを形成させ、低レベルの時に他方のピットを形成
させるものである。しかし、記録再生層と記録補助層は
交換結合2層膜となっており、制御が困難な交換結合力
を、温度とともに変化する各層の保磁力に対して特殊な
大小関係を持つように制御しかければならず、媒体の製
造が困難である。また、オーバーライドする前に記録補
助層の磁化をある一定の方向にそろえなければならず、
数KOeを印加できる大型の初期磁化用磁石が必要であ
るといった技術的難点がある。
のが提案されているが、最も注目されている技術のひと
つとして光変調方式で、単一ビームで動作するもの(1
ビーム法)がある。かかる技術は、例えば、特開昭62
−175948号公報に記載されているように記録再生
層と記録補助層を有する光磁気記録媒体に予め初期補助
磁界を印加し、記録補助層の磁化を所定の向きに揃えて
おいた後、パルス状に変調されたビームを照射し、ビー
ムの強度が高いレベルの時にいずれか一方の磁化方向の
ビットを形成させ、低レベルの時に他方のピットを形成
させるものである。しかし、記録再生層と記録補助層は
交換結合2層膜となっており、制御が困難な交換結合力
を、温度とともに変化する各層の保磁力に対して特殊な
大小関係を持つように制御しかければならず、媒体の製
造が困難である。また、オーバーライドする前に記録補
助層の磁化をある一定の方向にそろえなければならず、
数KOeを印加できる大型の初期磁化用磁石が必要であ
るといった技術的難点がある。
一方、特開昭62−154347号公報に開示される技
術においては、記録層と補償点を有するバイアス層とを
熱絶縁機能を有する非磁性層を介して積層した媒体に関
するものである。この技術においては、記録時と消去時
でバイアス層の温度が異なるように媒体構造を設計し、
かつその異なる2つの温度でバイアス層の飽和磁化Ms
の向きが異なるようにバイアス層の媒体設計を行う必要
があシ、製作が困難である。
術においては、記録層と補償点を有するバイアス層とを
熱絶縁機能を有する非磁性層を介して積層した媒体に関
するものである。この技術においては、記録時と消去時
でバイアス層の温度が異なるように媒体構造を設計し、
かつその異なる2つの温度でバイアス層の飽和磁化Ms
の向きが異なるようにバイアス層の媒体設計を行う必要
があシ、製作が困難である。
(発明が解決しようとする課題)
光磁気記録におけるオーバーライド技術として光変調1
ビーム法が有望視されているが、制御が困難で、複雑な
ため、実用に適した光磁気記録方法は得られていない。
ビーム法が有望視されているが、制御が困難で、複雑な
ため、実用に適した光磁気記録方法は得られていない。
本発明はこのような問題点に鑑みなされたものであり、
光変調方式で1ビームパワー変調オーツ(−ライトの可
能な光磁気記録方法を提供することを目的とする。
光変調方式で1ビームパワー変調オーツ(−ライトの可
能な光磁気記録方法を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、記録層とバイアス層が静磁的結合が主となる
よう積層された光磁気記録媒体に対して、第1のパワー
レベルと第2のパワーレベルに変調されたレーザー光を
照射して光磁気記録を行う方法において、前記光磁気記
録媒体は、記録層の磁化反転温度をTr、第1のパワー
レベル及び第2のパワーレベルのレーザー光照射により
記録層及びバイアス層が昇温する温度を各々Tt、T倉
としたとき、これらがTr>TsンTr・なる関係を満
たし、Tl及びTrからTryで冷却されたときバイア
ス層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界を各々HI11及
びaa、。
よう積層された光磁気記録媒体に対して、第1のパワー
レベルと第2のパワーレベルに変調されたレーザー光を
照射して光磁気記録を行う方法において、前記光磁気記
録媒体は、記録層の磁化反転温度をTr、第1のパワー
レベル及び第2のパワーレベルのレーザー光照射により
記録層及びバイアス層が昇温する温度を各々Tt、T倉
としたとき、これらがTr>TsンTr・なる関係を満
たし、Tl及びTrからTryで冷却されたときバイア
ス層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界を各々HI11及
びaa、。
TI及びT、からTrまで冷却されたときの記録層の自
己漏洩磁界をそれぞれHS1及びHS1、Trでの記録
層の保持力をHcR(Tr)とすると、T、からTrに
冷却されたときHcm(Tr)鮒8m−H@l なる
関係を満たし、T、からTrK冷却されたときMCI(
Tr)≦HS1+He−HS1なる関係を満たし、光磁
気記録媒体に第1のパワーレベルのレーザ光を照射した
後T1からTrまで冷却された時、レーザー光照射領賊
の磁化の向きは記録層の自己漏洩磁界により決定され、
第2のパワーレベルのレーザー光を照射した後TRから
Trまで冷却された時、レーザー光照射領域の磁化の向
きはバイアス層から記録層へ漏洩する漏洩磁界により決
定されることを特徴とする光磁気記録方法である。
己漏洩磁界をそれぞれHS1及びHS1、Trでの記録
層の保持力をHcR(Tr)とすると、T、からTrに
冷却されたときHcm(Tr)鮒8m−H@l なる
関係を満たし、T、からTrK冷却されたときMCI(
Tr)≦HS1+He−HS1なる関係を満たし、光磁
気記録媒体に第1のパワーレベルのレーザ光を照射した
後T1からTrまで冷却された時、レーザー光照射領賊
の磁化の向きは記録層の自己漏洩磁界により決定され、
第2のパワーレベルのレーザー光を照射した後TRから
Trまで冷却された時、レーザー光照射領域の磁化の向
きはバイアス層から記録層へ漏洩する漏洩磁界により決
定されることを特徴とする光磁気記録方法である。
また、本発明は、記録層とバイアス層が静磁的結合が主
となるよう積層された光磁気記録媒体に対して、第1の
パワーレベルと第2のパワーレベルに変調されたレーザ
ー光を照射すゐ光磁気記録を行う方法において、記録層
の磁化反転温度をTrm、バイアス層の磁化反転温度を
Tr@、第1のパワーレベル及び第2のパワーレベルの
レーザー光照射により記録層及びバイアス層が昇温する
温度を各々’I’、、’r、としたとき、これらがTr
B>T1>T2≧Trlなる関係を満たし、T、及びT
rからTrまで冷却されたときバイアス層から記録層側
へ漏洩する漏洩磁界を各々HBm及びHS2、T、及び
T、からTrまで冷却されたときの記録層の自己漏洩磁
界をそれぞれHS1及びHS1、Trでの記録層の保持
力をHcR(Tr) とすると、T1からTrに冷却
されたときHcR(Tr)≦HS1 −HS2なる関係
を満たし、T3からに、に冷却すれタトきHe t (
Tr )<HS1 −HS1なる関係を満たし、T宜か
らTrに冷却されたときHe政(Tr)<HS2 −H
S1 なる関係を満たし、Trtにおいてバイアス層
から記録層への漏洩磁界と記録層の自己漏洩磁界の向き
が異なることを特徴とする光磁気記録方法である。
となるよう積層された光磁気記録媒体に対して、第1の
パワーレベルと第2のパワーレベルに変調されたレーザ
ー光を照射すゐ光磁気記録を行う方法において、記録層
の磁化反転温度をTrm、バイアス層の磁化反転温度を
Tr@、第1のパワーレベル及び第2のパワーレベルの
レーザー光照射により記録層及びバイアス層が昇温する
温度を各々’I’、、’r、としたとき、これらがTr
B>T1>T2≧Trlなる関係を満たし、T、及びT
rからTrまで冷却されたときバイアス層から記録層側
へ漏洩する漏洩磁界を各々HBm及びHS2、T、及び
T、からTrまで冷却されたときの記録層の自己漏洩磁
界をそれぞれHS1及びHS1、Trでの記録層の保持
力をHcR(Tr) とすると、T1からTrに冷却
されたときHcR(Tr)≦HS1 −HS2なる関係
を満たし、T3からに、に冷却すれタトきHe t (
Tr )<HS1 −HS1なる関係を満たし、T宜か
らTrに冷却されたときHe政(Tr)<HS2 −H
S1 なる関係を満たし、Trtにおいてバイアス層
から記録層への漏洩磁界と記録層の自己漏洩磁界の向き
が異なることを特徴とする光磁気記録方法である。
本発明では光磁気記録媒体に対し、外部磁界Heを記録
層の自己漏洩磁界HS1及びHS1の方向に、HcR(
Tr)≦HS1 +He−HaI、 かツHc w
(T r ) <Ha。
層の自己漏洩磁界HS1及びHS1の方向に、HcR(
Tr)≦HS1 +He−HaI、 かツHc w
(T r ) <Ha。
−H3,−Heを満たすように印加してもよい。すなわ
ち、自己漏洩磁界が弱い場合、自己漏洩磁界の方向に外
部磁界を引加することで、効率的にオーバーライドを行
なうことができる。
ち、自己漏洩磁界が弱い場合、自己漏洩磁界の方向に外
部磁界を引加することで、効率的にオーバーライドを行
なうことができる。
また、光磁気記録媒体に対し、外部磁界Heをバイアス
層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界H111及び)(s
ffiの方向に、HcR(Tr)≦HS1 −HS2−
HeかつHcR (Tr)≦H@、−)−He−HS1
を満たすように印加してもよい。
層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界H111及び)(s
ffiの方向に、HcR(Tr)≦HS1 −HS2−
HeかつHcR (Tr)≦H@、−)−He−HS1
を満たすように印加してもよい。
ここで、磁化反転温度とは、記録層の保磁力Hcが漏洩
磁界などによってその部位に印加されている磁界よシも
小さく、反転磁区が形成される条件が満たされる温度の
ことである。
磁界などによってその部位に印加されている磁界よシも
小さく、反転磁区が形成される条件が満たされる温度の
ことである。
本発明ではバイアス層は磁化反転しないほうが好ましく
、バイアス層が磁化反転しないための条件としては、バ
イアス層の保磁力をHcR、バイアス層の自己漏洩磁界
と記録層からバイアス層側へ漏洩する漏洩磁界のベクト
ル和の膜面に垂直な成分をHeとすると、常にHcR)
Heなる関係を満たすことである。
、バイアス層が磁化反転しないための条件としては、バ
イアス層の保磁力をHcR、バイアス層の自己漏洩磁界
と記録層からバイアス層側へ漏洩する漏洩磁界のベクト
ル和の膜面に垂直な成分をHeとすると、常にHcR)
Heなる関係を満たすことである。
バイアス層が充分大きい漏洩磁界を供給できるようにす
るには、バイアス層が補償温度Tcompを持ち、Tr
e)Tcomp なる関係を満たしている方がよシ好
ましい。また、記録層が自己漏洩磁界で容易に反転でき
るためには、TrR近傍に記録層がキュリー温度を持ち
、かつ補償温度(’l’comp* と略す)を持た
ないか、または、Tcomp費を持っていてもTr *
(Tcomp *である方がより好ましい。
るには、バイアス層が補償温度Tcompを持ち、Tr
e)Tcomp なる関係を満たしている方がよシ好
ましい。また、記録層が自己漏洩磁界で容易に反転でき
るためには、TrR近傍に記録層がキュリー温度を持ち
、かつ補償温度(’l’comp* と略す)を持た
ないか、または、Tcomp費を持っていてもTr *
(Tcomp *である方がより好ましい。
バイアス層からの漏洩磁界Ha 、 、 Hm 2
及び記録層の自己漏洩磁界HS1 、HS1 をTl
−4TrlとTl 4Trlとで効果的に変化させるた
めには、TlからTrlK降温してきたときの温度分布
の半値@T HWlとT3からTr費に降温してきたと
きの温度分布の半値幅THW怠との間にTHW、 /T
HWI> 2なる関係が6つ九方がより好ましい。
及び記録層の自己漏洩磁界HS1 、HS1 をTl
−4TrlとTl 4Trlとで効果的に変化させるた
めには、TlからTrlK降温してきたときの温度分布
の半値@T HWlとT3からTr費に降温してきたと
きの温度分布の半値幅THW怠との間にTHW、 /T
HWI> 2なる関係が6つ九方がより好ましい。
記録層も補償温度を有していても有していなくてもよい
。記録層がTr近傍にキュリー温度を有する場合には、
常温とキュリー温度との間に補償温度Tcomp m
が存在しないことが好ましい。また、この間にTcom
p費 が存在している場合には、 Tre:)Tcom
p諺 の関係を満たすことが好ましい。
。記録層がTr近傍にキュリー温度を有する場合には、
常温とキュリー温度との間に補償温度Tcomp m
が存在しないことが好ましい。また、この間にTcom
p費 が存在している場合には、 Tre:)Tcom
p諺 の関係を満たすことが好ましい。
バイアス層からの漏洩磁界HS1、Ha!、及び記録層
の自己漏洩磁界HS1 、HS1 を、効果的に変化
させるためには、温度をTIからTrlに降下させた場
合におけるビーム照射部分の温度分布曲線の半値幅Ts
w、と、T、からTrwに降下させた場合におけるビー
ム照射部分の温度分曲線の半値幅THW、との間に、T
ow、 / TH% :) 2なる関係があることが好
ましい。
の自己漏洩磁界HS1 、HS1 を、効果的に変化
させるためには、温度をTIからTrlに降下させた場
合におけるビーム照射部分の温度分布曲線の半値幅Ts
w、と、T、からTrwに降下させた場合におけるビー
ム照射部分の温度分曲線の半値幅THW、との間に、T
ow、 / TH% :) 2なる関係があることが好
ましい。
必要に応じて、記録層から自己漏洩磁界HS1及びHS
1を補助する目的で、自己漏洩磁界HS2及びHS1の
方向に、He費(Tre)≦HS1 −1−He、 −
HS2 。
1を補助する目的で、自己漏洩磁界HS2及びHS1の
方向に、He費(Tre)≦HS1 −1−He、 −
HS2 。
Hcw(Tre)≦Hs*−(HS1 + He1)を
満たす外部磁界He、を付加することもできる。また、
バイアス層4からの漏洩磁界HS2及びH8!を補助す
る目的で、漏洩磁界H1t、及びH@、の方向に、Hc
R(Trm)≦H’1(H111+He5)、HcR(
Tre)≦HISx + He、−H81を満たす外部
磁界Hel付加することもできる。外部磁界の印加は、
媒体にレーザビームが照射されている間常に行ってもよ
いし、媒体温度が記録層の磁化反転温度Trlになった
ときに行ってもよい。
満たす外部磁界He、を付加することもできる。また、
バイアス層4からの漏洩磁界HS2及びH8!を補助す
る目的で、漏洩磁界H1t、及びH@、の方向に、Hc
R(Trm)≦H’1(H111+He5)、HcR(
Tre)≦HISx + He、−H81を満たす外部
磁界Hel付加することもできる。外部磁界の印加は、
媒体にレーザビームが照射されている間常に行ってもよ
いし、媒体温度が記録層の磁化反転温度Trlになった
ときに行ってもよい。
なお、HS1 −HS2 が充分に大きくない場合に
は、記録層は小さい磁界変化で、再生信号にC/N差を
発生させることができることが好ましい。このような材
料としては、Gd−Dy−Fe合金が知られている(第
11回日本応用磁気学会、学術講演概要集(1987,
11)P276)。通常)(al−HB2≦20000
が達成しやすいので、記録層2としては、15006以
下の磁界変化でC/Nが飽和レベルまで達する材料を用
いることが好ましい。
は、記録層は小さい磁界変化で、再生信号にC/N差を
発生させることができることが好ましい。このような材
料としては、Gd−Dy−Fe合金が知られている(第
11回日本応用磁気学会、学術講演概要集(1987,
11)P276)。通常)(al−HB2≦20000
が達成しやすいので、記録層2としては、15006以
下の磁界変化でC/Nが飽和レベルまで達する材料を用
いることが好ましい。
記録層2が一般式(G dxDY Hx )y Fel
M (ただし、x、yは原子チで表わされ、夫々0(
X(100゜13<y(35の範囲内である)で表わさ
れる合金で形成されている場合には、再生信号の立上シ
が急峻であり、上述のような条件を満たすことができる
。従って、記録層2をこのような材料で形成することに
より、との発明に示す漏洩磁界を利用した情報・消去が
極めて行い易くなる。
M (ただし、x、yは原子チで表わされ、夫々0(
X(100゜13<y(35の範囲内である)で表わさ
れる合金で形成されている場合には、再生信号の立上シ
が急峻であり、上述のような条件を満たすことができる
。従って、記録層2をこのような材料で形成することに
より、との発明に示す漏洩磁界を利用した情報・消去が
極めて行い易くなる。
本発明の光磁気記録媒体は記録層及びバイアス層が静磁
的作用が主の結合作用を及ぼすよう積層される。
的作用が主の結合作用を及ぼすよう積層される。
記録層の磁化反転は他層からの交換結合力によって行う
のではなく、両層からの漏洩磁界と必要であれば外部か
ら印加される磁界とによって行われるので記録層とバイ
アス層は交換結合力を作用し合わないように積層され、
もし交換結合力が作用している場合でも交換結合力はバ
イアス磁界に比べて充分に小さな値にするのが良い。意
図的に交換結合力の介在を防止するには記録層とバイア
ス層の間に中間層を設ければ良い。
のではなく、両層からの漏洩磁界と必要であれば外部か
ら印加される磁界とによって行われるので記録層とバイ
アス層は交換結合力を作用し合わないように積層され、
もし交換結合力が作用している場合でも交換結合力はバ
イアス磁界に比べて充分に小さな値にするのが良い。意
図的に交換結合力の介在を防止するには記録層とバイア
ス層の間に中間層を設ければ良い。
記録層とバイアス層の間に中間層を設ける場合には、中
間層の膜厚は格別に限定されるものではなく、材料毎に
再生時のカーエンハンスメント、レーザービームの吸収
効率等を考慮し適宜決定すればよいが、2000A以下
が適当である。交換結合力をなくす目的からは数人でよ
く、バイアス層が記録層に充分大きな漏洩磁界を感じさ
せる程度に薄く、また、レーザー照射時にバイアス層が
充分にT、まで加熱される程度に薄いことが好ましい。
間層の膜厚は格別に限定されるものではなく、材料毎に
再生時のカーエンハンスメント、レーザービームの吸収
効率等を考慮し適宜決定すればよいが、2000A以下
が適当である。交換結合力をなくす目的からは数人でよ
く、バイアス層が記録層に充分大きな漏洩磁界を感じさ
せる程度に薄く、また、レーザー照射時にバイアス層が
充分にT、まで加熱される程度に薄いことが好ましい。
このような点から5A〜500Aがよシ好ましい膜厚で
ある。またバイアス層を再生信号には最初から寄与せず
レーザー照射による熱だけ伝播してくればよいので、中
間層は、不透明でも構わない。
ある。またバイアス層を再生信号には最初から寄与せず
レーザー照射による熱だけ伝播してくればよいので、中
間層は、不透明でも構わない。
バイアス層の膜厚は、記録層に充分大きな漏洩磁界を印
加できる程度に厚く、またレーザー照射時に充分子1ま
で加熱され得る程度に薄いのが好ましく、250入〜5
000^、よシ好ましくは1000i〜3000^とす
るのが良い。記録層の膜厚は、記録層自身に充分大きい
漏洩磁界を印加できる程度に厚いほうが好ましく、レー
ザー照射時に充分子1まで加熱でき、かつバイアス層も
充分に加熱される程度に薄いことが好ましい。従って1
00λ〜5oooX、よりも好ましくは150A〜xs
ooAとするのが良い。記録層とバイアス層の膜厚は、
100A未満では充分な垂直磁気異方性を有する膜がス
パッタ法等では得られにくい。
加できる程度に厚く、またレーザー照射時に充分子1ま
で加熱され得る程度に薄いのが好ましく、250入〜5
000^、よシ好ましくは1000i〜3000^とす
るのが良い。記録層の膜厚は、記録層自身に充分大きい
漏洩磁界を印加できる程度に厚いほうが好ましく、レー
ザー照射時に充分子1まで加熱でき、かつバイアス層も
充分に加熱される程度に薄いことが好ましい。従って1
00λ〜5oooX、よりも好ましくは150A〜xs
ooAとするのが良い。記録層とバイアス層の膜厚は、
100A未満では充分な垂直磁気異方性を有する膜がス
パッタ法等では得られにくい。
(作用)
本発明の光磁気記録方法は静磁的に結合するように記録
層とバイアス層が積層された光磁気記録媒体にレーザー
ビームを照射し1ビームパワー変調オーバーライドを実
現するものである。
層とバイアス層が積層された光磁気記録媒体にレーザー
ビームを照射し1ビームパワー変調オーバーライドを実
現するものである。
第1〜第5図を用いて本発明の光磁気記録方式を説明す
る。第1図は本発明による光磁気記録方式の記録媒体の
好ましい実施態様の構成断面であり、1は基板、2は光
磁気記録層、3は中間層、4はバイアス層、5は保護層
である。第2図はこの光磁気記録媒体の記録層及びバイ
アス層の保磁力Hcと飽和磁化Msの温度特性を示した
ものである。
る。第1図は本発明による光磁気記録方式の記録媒体の
好ましい実施態様の構成断面であり、1は基板、2は光
磁気記録層、3は中間層、4はバイアス層、5は保護層
である。第2図はこの光磁気記録媒体の記録層及びバイ
アス層の保磁力Hcと飽和磁化Msの温度特性を示した
ものである。
第2図において、Taは保持温度、Tcompはバイア
ス層の補償温度、Tcは記録層のキュリー温度、TIは
第一のパワーレベルによって選択される記録媒体の温度
である。なお、第二のパワーレベルによって選択される
記録媒体の温度T、及び記録層の磁化反転温度TrはT
cとほぼ同じである。第3、第4、第5図は第一、第二
のパワーレベルによって行われる情報の記録、消去動作
時の記録層2とバイアス層4の磁化の向き及び分布を示
したものである。磁化の向きを示す図において縦の線は
反転磁区ができた状態を意味する。
ス層の補償温度、Tcは記録層のキュリー温度、TIは
第一のパワーレベルによって選択される記録媒体の温度
である。なお、第二のパワーレベルによって選択される
記録媒体の温度T、及び記録層の磁化反転温度TrはT
cとほぼ同じである。第3、第4、第5図は第一、第二
のパワーレベルによって行われる情報の記録、消去動作
時の記録層2とバイアス層4の磁化の向き及び分布を示
したものである。磁化の向きを示す図において縦の線は
反転磁区ができた状態を意味する。
バイアス層に作用するバイアス層自身からの漏洩磁界ベ
クトルをHS1バイアス層に作用する記録層からの漏洩
磁界ベクトルを七バイアス層の保磁力をHcRとすると
、バイアス層には、常にIHs−)−HL l (He
aが成シ立っておシ、磁化反転は起こらない。また、
外部より印加磁界Heを与える場合にバイアス層に磁化
反転は起こらない。
クトルをHS1バイアス層に作用する記録層からの漏洩
磁界ベクトルを七バイアス層の保磁力をHcRとすると
、バイアス層には、常にIHs−)−HL l (He
aが成シ立っておシ、磁化反転は起こらない。また、
外部より印加磁界Heを与える場合にバイアス層に磁化
反転は起こらない。
第1のパワーレベルによって行われる記録動作を第3図
に従って説明する。初期状態として(a)の様に記録層
2とバイアス層4の磁化をそろえる。
に従って説明する。初期状態として(a)の様に記録層
2とバイアス層4の磁化をそろえる。
これに第一のパワーレベルのレーザービームを照射する
と記録媒体の温度がT、まで上昇し、(b)のような磁
化状態になる。レーザーの照射が終シ、記録媒体が冷却
されてTrになると(C)のような磁化状態になる。こ
のときの記録層2のバイアス層4の磁化分布は媒体の熱
拡散のため(e)に示すようにブロード罠なっていて、
バイアス層からの漏洩磁界は記録層の磁化反転を妨げる
程大きくならず、記録層は記録層から記録層自身へ印加
される自己漏洩磁界によって磁化反転しくc’)のよう
に反転磁区ができる。この磁化状態が保たれたまま常温
まで冷却されていき、(d)に示すような記録状態とな
る。
と記録媒体の温度がT、まで上昇し、(b)のような磁
化状態になる。レーザーの照射が終シ、記録媒体が冷却
されてTrになると(C)のような磁化状態になる。こ
のときの記録層2のバイアス層4の磁化分布は媒体の熱
拡散のため(e)に示すようにブロード罠なっていて、
バイアス層からの漏洩磁界は記録層の磁化反転を妨げる
程大きくならず、記録層は記録層から記録層自身へ印加
される自己漏洩磁界によって磁化反転しくc’)のよう
に反転磁区ができる。この磁化状態が保たれたまま常温
まで冷却されていき、(d)に示すような記録状態とな
る。
この記録状態に第二のパワーレベルのレーザービームを
照射して行なわれる消去動作について第4図にしたがっ
て説明する。第二のパワーレベルのレーザービームの照
射によって記録媒体はTIまで温度が上昇する。TIは
Trにほとんど等しいからこの温度で磁化反転が行なわ
れるが、そのときのバイアス層の磁化Msの分布は(d
)に示すように第3図(e)のときよシも熱の拡散が少
ない分だけシャープになシ漏洩磁界は記録層を再磁化反
転させるに十分な大きさになる。その結果、反転磁区は
消滅し、常温において(C)に示すような消去状態とな
る。
照射して行なわれる消去動作について第4図にしたがっ
て説明する。第二のパワーレベルのレーザービームの照
射によって記録媒体はTIまで温度が上昇する。TIは
Trにほとんど等しいからこの温度で磁化反転が行なわ
れるが、そのときのバイアス層の磁化Msの分布は(d
)に示すように第3図(e)のときよシも熱の拡散が少
ない分だけシャープになシ漏洩磁界は記録層を再磁化反
転させるに十分な大きさになる。その結果、反転磁区は
消滅し、常温において(C)に示すような消去状態とな
る。
反転磁区ができていない部分に第二のパワーレベルのレ
ーザビームを照射したときの動作を第5図圧したがって
説明する。第4図の場合と同じようにTsまで温度が上
昇し九ときのバイアス層の磁化分布は(d)に示すよう
にシャープで漏洩磁界が大きいため記録層においては反
転磁区が形成される条件が満たされない。従って常温に
壕で冷めたときは(C)に示すように消去状態のままで
ある。
ーザビームを照射したときの動作を第5図圧したがって
説明する。第4図の場合と同じようにTsまで温度が上
昇し九ときのバイアス層の磁化分布は(d)に示すよう
にシャープで漏洩磁界が大きいため記録層においては反
転磁区が形成される条件が満たされない。従って常温に
壕で冷めたときは(C)に示すように消去状態のままで
ある。
以上の3つの動作を組み合わせることによってダイレク
トオーバーライドが実現できる。即ち、第二のパワーレ
ベルに、記録信号にしたがって変調された第一のパワー
レベルを重畳することによって、以前そこに記録されて
いた情報に関係なく1回の動作で新しい情報を記録する
ことができるのである。
トオーバーライドが実現できる。即ち、第二のパワーレ
ベルに、記録信号にしたがって変調された第一のパワー
レベルを重畳することによって、以前そこに記録されて
いた情報に関係なく1回の動作で新しい情報を記録する
ことができるのである。
いちど消去状態になると、その後何度T8まで上昇さ°
せても上記の過程がくシ返されるだけで特開昭62−8
0846号公報に開示されるflip−flop記録媒
体のような消去動作の前にいちど記録を読んで消去パワ
ーを加えるかどうかの判定を行う必要はない。
せても上記の過程がくシ返されるだけで特開昭62−8
0846号公報に開示されるflip−flop記録媒
体のような消去動作の前にいちど記録を読んで消去パワ
ーを加えるかどうかの判定を行う必要はない。
・以上の記録、消去重ね書き動作において、反転磁区の
形成、再磁化反転時のバイアス層の温度は同一であシ、
その磁化の向きは同一であるので、特開昭62−154
347号公報と記録方法、記録媒体ともに異なる。
形成、再磁化反転時のバイアス層の温度は同一であシ、
その磁化の向きは同一であるので、特開昭62−154
347号公報と記録方法、記録媒体ともに異なる。
バイアス層からの漏洩磁界も記録層の自己漏洩磁界も外
部磁界によって補助することが可能である。外部磁界を
印加する場合には、レーザービームが照射されている間
、常に外部磁界を印加しても、あるいは、媒体温度が記
録層の磁化反転温度Tr になったときに外部磁界を印
加しても良い。
部磁界によって補助することが可能である。外部磁界を
印加する場合には、レーザービームが照射されている間
、常に外部磁界を印加しても、あるいは、媒体温度が記
録層の磁化反転温度Tr になったときに外部磁界を印
加しても良い。
T、とT3は通常の半導体レーザーの照射(最大15m
W程度)パワーの範囲で選択ができる程度であればよい
。
W程度)パワーの範囲で選択ができる程度であればよい
。
以上が本実施例の原理的な説明である。このように本発
明では、既記録内容の如何にかかわらず、高レベルのレ
ーザービームにより「記録状態」が、低レベルのレーザ
ービームにより「消去状態」が形成される。すなわち、
新たに記録すべき情報信号に応じて高レベルと低レベル
間で強度変調されたレーザービームを照射することによ
って、高速オーバーライドが実現される。このため従来
のノ(イアス層を有する光磁気記録媒体で高速オー/S
−ライトを行なう場合に必要とした、既記録の磁区を
検出するためのレーザービームを必要とせず、1へラド
・1ビ一ム方式の簡易な構成で高速オーバーライドが可
能となり、消去マージンも十分に確保される。
明では、既記録内容の如何にかかわらず、高レベルのレ
ーザービームにより「記録状態」が、低レベルのレーザ
ービームにより「消去状態」が形成される。すなわち、
新たに記録すべき情報信号に応じて高レベルと低レベル
間で強度変調されたレーザービームを照射することによ
って、高速オーバーライドが実現される。このため従来
のノ(イアス層を有する光磁気記録媒体で高速オー/S
−ライトを行なう場合に必要とした、既記録の磁区を
検出するためのレーザービームを必要とせず、1へラド
・1ビ一ム方式の簡易な構成で高速オーバーライドが可
能となり、消去マージンも十分に確保される。
さらに、記録及び消去時に外部印加磁界Hexを付与す
る場合でも、その磁界の向き及び強度は記録時と消去時
とで等しくてよく、また磁界強度そのものも数百0e程
度と小さくて済むので、装置が小型となり、光学ヘッド
内のサーボ用電磁駆動系への悪影響という問題も回避さ
れる。
る場合でも、その磁界の向き及び強度は記録時と消去時
とで等しくてよく、また磁界強度そのものも数百0e程
度と小さくて済むので、装置が小型となり、光学ヘッド
内のサーボ用電磁駆動系への悪影響という問題も回避さ
れる。
また、再生レーザーノ(ワーはT2以下の温度上昇をも
たらすパワーであれば良い。
たらすパワーであれば良い。
光磁気記録媒体構造に関しては、(1)制御の難かしい
交換結合作用を用いなくともよい。(量)記録層とバイ
アス層の間の温度の特殊な大小関係を必要としないとい
う理由で媒体構造の設計の自由度が大きく、また、製作
も容易である。また、光磁気記録媒体材料に関しては、
補償温度、キュリー温度等の磁気特性の制限が少なく、
選択の自由度が大きいといった優位性を有している。
交換結合作用を用いなくともよい。(量)記録層とバイ
アス層の間の温度の特殊な大小関係を必要としないとい
う理由で媒体構造の設計の自由度が大きく、また、製作
も容易である。また、光磁気記録媒体材料に関しては、
補償温度、キュリー温度等の磁気特性の制限が少なく、
選択の自由度が大きいといった優位性を有している。
(実施例)
以下、本発明の詳細な説明する。
1)実施例−1
1,2■厚の石英基板に1106n厚の5i−Hの下地
層、25nmのTb3(1g (Fe0.911COO
,011)69.4記録層、2 Q nm (D 5i
−N中間層、200nm厚の(GdO!5TbO,75
)22.7 C0j7.3バイアス層、lQQnm厚o
8i−N保護層を几Fスパッタ法により成膜して第6図
に示す構造の光磁気記録媒体を作成した。記録層はキュ
リー温度が163℃、常温の保磁力が6KOe。
層、25nmのTb3(1g (Fe0.911COO
,011)69.4記録層、2 Q nm (D 5i
−N中間層、200nm厚の(GdO!5TbO,75
)22.7 C0j7.3バイアス層、lQQnm厚o
8i−N保護層を几Fスパッタ法により成膜して第6図
に示す構造の光磁気記録媒体を作成した。記録層はキュ
リー温度が163℃、常温の保磁力が6KOe。
常温の磁化は15 Q emu/ccであった。ノ(イ
アス層は補償温度が140℃、常温での保磁力が3.5
KOe 、常温の磁化は200 emu/ccでアラた
。この記録媒体に波長83011mの半導体レーザーを
用い、線速14m1secで記録・消去試験を行なった
ところ、5mW・l Q Q n Seeパルス照射で
記録した信号を、3.5mWの連続照射によって消去で
きた。
アス層は補償温度が140℃、常温での保磁力が3.5
KOe 、常温の磁化は200 emu/ccでアラた
。この記録媒体に波長83011mの半導体レーザーを
用い、線速14m1secで記録・消去試験を行なった
ところ、5mW・l Q Q n Seeパルス照射で
記録した信号を、3.5mWの連続照射によって消去で
きた。
I)実施例−2
5,25インチφのトラッキンググループつきガラス基
板に149℃m厚の81−N O下地層、25nm厚
Q) Tb2. (Fe、、、Co。、、 )、、
記録層、2Qnmの5l−N中間層、150℃1m厚の
(GdD、2STbr1.16 )2170077.3
バイアス層、ioonm厚の5i−N保護層をRFスパ
ッタ法により成膜して第6図に示す構造の光磁気記録媒
体を作成した。記録層はキュリー温度が180℃、補償
温度が110℃、常温の保磁力が7.3 KOe、常温
の磁化は170 emu/cc テあった。バイアス層
は補償温度が130℃、常温の保磁力が4KOe、常温
の磁化は180 emu/ccであった。以上の構成で
線速10m/secで記録パワー8田W1消去パワー4
.5 mWで、外部磁界をバイアス層からの漏洩磁界の
方向に2000e印加してI MHzと2MHzの記録
信号間のオーバーライドを実現した。
板に149℃m厚の81−N O下地層、25nm厚
Q) Tb2. (Fe、、、Co。、、 )、、
記録層、2Qnmの5l−N中間層、150℃1m厚の
(GdD、2STbr1.16 )2170077.3
バイアス層、ioonm厚の5i−N保護層をRFスパ
ッタ法により成膜して第6図に示す構造の光磁気記録媒
体を作成した。記録層はキュリー温度が180℃、補償
温度が110℃、常温の保磁力が7.3 KOe、常温
の磁化は170 emu/cc テあった。バイアス層
は補償温度が130℃、常温の保磁力が4KOe、常温
の磁化は180 emu/ccであった。以上の構成で
線速10m/secで記録パワー8田W1消去パワー4
.5 mWで、外部磁界をバイアス層からの漏洩磁界の
方向に2000e印加してI MHzと2MHzの記録
信号間のオーバーライドを実現した。
+++)実施例−3
5,25インチφのトラッキンググループつきガラス基
板に10011m厚の8l−NO下地層、25nm厚ノ
Tb28 (FeQJl!”0.111 >12記録層
、5 Q n m Q:)8!−N中間層、150℃m
厚ノ(”0.211Tb(L7S )lJL4 ”al
、6バイアス層、lQQnm厚の5l−N保護層をRF
スパッタ法により成膜して第6図に示す構造の光磁気記
録媒体を作成した。記録層はキュリー温度が180℃、
補償温度が110℃、常温の保磁力が7、3 KOe
、常温の磁化は170emu/ccであった。
板に10011m厚の8l−NO下地層、25nm厚ノ
Tb28 (FeQJl!”0.111 >12記録層
、5 Q n m Q:)8!−N中間層、150℃m
厚ノ(”0.211Tb(L7S )lJL4 ”al
、6バイアス層、lQQnm厚の5l−N保護層をRF
スパッタ法により成膜して第6図に示す構造の光磁気記
録媒体を作成した。記録層はキュリー温度が180℃、
補償温度が110℃、常温の保磁力が7、3 KOe
、常温の磁化は170emu/ccであった。
バイアス層は常温の保磁力が2−4 KOe 、常温の
磁化は18Qemu/ccで補償温度を常温から400
℃の間に持たない。以上の構成で線速10m/secで
記録パワーIQmW、消去パ’7−6.5 mWで、外
部磁界をバイアス層からの漏洩磁界の方向に40008
印加して1−と2MHzの記録信号間のオーバーライド
を実現した。
磁化は18Qemu/ccで補償温度を常温から400
℃の間に持たない。以上の構成で線速10m/secで
記録パワーIQmW、消去パ’7−6.5 mWで、外
部磁界をバイアス層からの漏洩磁界の方向に40008
印加して1−と2MHzの記録信号間のオーバーライド
を実現した。
tv) 実施例−4
1,2−厚の石英基板にi o o nm厚の5i−N
下地層、25nm厚ノTb28 (FeOJll ”0
.15 )?!記録層、2゜nm厚の5i−N中間層、
200℃m厚のTb2□C07,バイアス層、1100
n厚の5i−N保護層をこの順に成膜した光磁気記録媒
体に、スポット径1.35μm、パワーf3 mW、パ
ルスasonsecのパルスレーザを照射した際の照射
部分の温度分布を数値計算により求めた。レーザビーム
照射直後で、中心温度が216℃になり、温度がピーク
値のe 倍になる領域の半径σは5801’1mと算出
された。
下地層、25nm厚ノTb28 (FeOJll ”0
.15 )?!記録層、2゜nm厚の5i−N中間層、
200℃m厚のTb2□C07,バイアス層、1100
n厚の5i−N保護層をこの順に成膜した光磁気記録媒
体に、スポット径1.35μm、パワーf3 mW、パ
ルスasonsecのパルスレーザを照射した際の照射
部分の温度分布を数値計算により求めた。レーザビーム
照射直後で、中心温度が216℃になり、温度がピーク
値のe 倍になる領域の半径σは5801’1mと算出
された。
一方、同じスポット径で、パワー14.6mW、パルス
幅501 secのレーザビームを照射後30秒経過後
、中心温度はやはり216℃と算出されたが、σは75
0℃1mと算出され、ブロードな温度分布になることが
確認された。
幅501 secのレーザビームを照射後30秒経過後
、中心温度はやはり216℃と算出されたが、σは75
0℃1mと算出され、ブロードな温度分布になることが
確認された。
上記夫々の場合について、ビーム照射スポット中心で、
かつ記録層の厚さ中心においてのバイアス層からの漏洩
磁界へを数値計算により求めた結果、夫々5430eと
4540e となり、890eのHB差を発生できる
ことが確認された。すなわち、この発明の原理に基づい
て、情報の記録・消去を行えることができることが確認
された。
かつ記録層の厚さ中心においてのバイアス層からの漏洩
磁界へを数値計算により求めた結果、夫々5430eと
4540e となり、890eのHB差を発生できる
ことが確認された。すなわち、この発明の原理に基づい
て、情報の記録・消去を行えることができることが確認
された。
V)実施例−5
Example 4と同一の光磁気記録媒体テExam
ple4と同様にして求められた2種類のビーム照射部
分の温度分布について、ビーム照射スポット中心で、バ
イアス層から記録層に向って、夫々IZ5nm 、61
5℃m、ll15nmの距離の位置において、各々Ex
ample 4と同様にしてH,差を計算した。
ple4と同様にして求められた2種類のビーム照射部
分の温度分布について、ビーム照射スポット中心で、バ
イアス層から記録層に向って、夫々IZ5nm 、61
5℃m、ll15nmの距離の位置において、各々Ex
ample 4と同様にしてH,差を計算した。
これらの距離は、記録層の厚さを25nmとした場合に
、中間層の厚みをOnm、50nfn% 1100n
にした場合に相当する。これらの距離におけるH6差は
、夫々、1000e、690e、520eであった。
、中間層の厚みをOnm、50nfn% 1100n
にした場合に相当する。これらの距離におけるH6差は
、夫々、1000e、690e、520eであった。
vt) 実施例−6
バイアス層の厚み以外Example 4と同一の光磁
気記録媒体で、バイアス層の厚みを変化させ、Exam
ple 4と同様にして求められた2種類のビー・ム照
射部分の温度分布について、ビーム照射スポット中心で
、かう記録層の厚さ中心におけるH1差を算出した。バ
イアス層の厚さを、夫々5Qnm、lQQnm、4QQ
nm、としたところ、各厚さに対応する残差は夫/r3
20e、520e、1060e となった。
気記録媒体で、バイアス層の厚みを変化させ、Exam
ple 4と同様にして求められた2種類のビー・ム照
射部分の温度分布について、ビーム照射スポット中心で
、かう記録層の厚さ中心におけるH1差を算出した。バ
イアス層の厚さを、夫々5Qnm、lQQnm、4QQ
nm、としたところ、各厚さに対応する残差は夫/r3
20e、520e、1060e となった。
vll)実施例−7
5,25インチφのトラッキンググループ付ガラス基板
に1100r1厚の5i−N下地層、25nm厚の(G
d04Tb(15)IsFe1+5 記録層、lQn
m厚の5i−N中間層、4QQnm厚のT b22 C
oy、 ” イア ス層、100nm厚の5t−N保護
膜をこの順に、RFスパッタリングにより成膜して、F
ig、2に示す構造を有する光磁気記録媒体を作成した
。
に1100r1厚の5i−N下地層、25nm厚の(G
d04Tb(15)IsFe1+5 記録層、lQn
m厚の5i−N中間層、4QQnm厚のT b22 C
oy、 ” イア ス層、100nm厚の5t−N保護
膜をこの順に、RFスパッタリングにより成膜して、F
ig、2に示す構造を有する光磁気記録媒体を作成した
。
記録層は、±5008の磁界で、C/NがOdBから4
8dB−!で変化した。計算によると、バイアス層は、
レーザビーム照射スポット中心で1100eのH,差を
発生させることが確認された。
8dB−!で変化した。計算によると、バイアス層は、
レーザビーム照射スポット中心で1100eのH,差を
発生させることが確認された。
記録層からの漏洩磁界の方向に70008の外部磁界を
印加しつつ、線速10m/secで、記録パワー9mW
、消去パワー4.5mWとして、1ビームパワー変調に
よるオーバーライド試験を行った。この試験では、1M
Hzの記録信号で記録された媒体に、2M1hの新しい
記録信号を記録した。その結果、従前の1MHzの情報
は消去され、新しい2■(2の情報のみが記録されてい
た。すなわち、1ビームオーバーライドが可能であるこ
とが確認された。
印加しつつ、線速10m/secで、記録パワー9mW
、消去パワー4.5mWとして、1ビームパワー変調に
よるオーバーライド試験を行った。この試験では、1M
Hzの記録信号で記録された媒体に、2M1hの新しい
記録信号を記録した。その結果、従前の1MHzの情報
は消去され、新しい2■(2の情報のみが記録されてい
た。すなわち、1ビームオーバーライドが可能であるこ
とが確認された。
本発明の光磁記録方法によれば作成が容易な光磁気記録
媒体を用いて、1ビームパワー変調によって高速オーバ
ーライド機能を実現できる。
媒体を用いて、1ビームパワー変調によって高速オーバ
ーライド機能を実現できる。
第1図は本発明の光磁気記録媒体の好ましい実施態様の
構成断面、第2図は第1図を構成する光磁気記録媒体の
熱磁気特性、第3図は第一のパワーレベルの照射時の記
録層とバイアス層の磁化の向きの温度変化、第4図、第
5図は第二のパワーレベルの照射時の記録層とバイアス
層の磁化の向きの温度変化、第6図は本発明の光磁気記
録媒体の好ましい実施態様の構成断面である。 1・・・基板、2・・・記録層、3・・・中間層、4・
・・バイアス層、5・・・保護層、6・・・下地層。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 松 山 光 2 第1図 (d) (c) (C) 第3図 第4図 第5図 第2図
構成断面、第2図は第1図を構成する光磁気記録媒体の
熱磁気特性、第3図は第一のパワーレベルの照射時の記
録層とバイアス層の磁化の向きの温度変化、第4図、第
5図は第二のパワーレベルの照射時の記録層とバイアス
層の磁化の向きの温度変化、第6図は本発明の光磁気記
録媒体の好ましい実施態様の構成断面である。 1・・・基板、2・・・記録層、3・・・中間層、4・
・・バイアス層、5・・・保護層、6・・・下地層。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 松 山 光 2 第1図 (d) (c) (C) 第3図 第4図 第5図 第2図
Claims (6)
- (1)記録層とバイアス層が静磁的結合が主となるよう
積層された光磁気記録媒体に対して、第1のパワーレベ
ルと第2のパワーレベルに変調されたレーザー光を照射
して光磁気記録を行う光磁気記録方法において; 前記光磁気記録媒体は、記録層の磁化反転温度をTr、
第1のパワーレベル及び第2のパワーレベルのレーザー
光照射により記録層及びバイアス層が昇温する温度を各
々T_1、T_2としたとき、これらがT_1>T_2
≧Trなる関係を満たし、T_1及びT_2からTrま
で冷却されたときバイアス層から記録層側へ漏洩する漏
洩磁界を各々H_B__1及びH_B__2、T_1及
びT_2からTrまで冷却されたときの記録層の自己漏
洩磁界をそれぞれH_S__1及びH_S__2、Tr
での記録層の保持力をHc_R(Tr)とすると、T_
1からTrに冷却されたときHc_R(Tr)≦H_S
__1−H_B__1なる関係を満たし、T_2からT
rに冷却されたときHc_R(Tr)≦H_B__2−
H_S__2なる関係を満たし; 光磁気記録媒体に第1のパワーレベルのレーザ光を照射
した後T_1からTrまで冷却された時、レーザー光照
射領域の磁化の向きは記録層の自己漏洩磁界により決定
され、第2のパワーレベルのレーザー光を照射した後T
_2からTrまで冷却された時、レーザー光照射領域の
磁化の向きはバイアス層から記録層へ漏洩する漏洩磁界
により決定されることを特徴とする光磁気記録方法。 - (2)記録層とバイアス層が静磁的結合が主となるよう
積層された光磁気記録媒体に対して、第1のパワーレベ
ルと第2のパワーレベルに変調されたレーザー光を照射
する光磁気記録を行う方法において; 記録層の磁化反転温度をTr_R、バイアス層の磁化反
転温度をTr_B、第1のパワーレベル及び第2のパワ
ーレベルのレーザー光照射により記録層及びバイアス層
が昇温する温度を各々T_1、T_2としたとき、これ
らがTr_B>T_1>T_2≧Tr_Rなる関係を満
たし、T_1及びT_2からTrまで冷却されたときバ
イアス層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界を各々H_B
__1及びH_B__2、Tr及びT_2からTrまで
冷却されたときの記録層の自己漏洩磁界をそれぞれH_
S__1及びH_S__2、Trでの記録層の保持力を
Hc_R(Tr)とすると、T_1からTrに冷却され
たときHc_R(Tr)≦H_S__1−H_B__1
なる関係を満たし、T_2からTrに冷却されたときH
c_R(Tr)≦H_B__2−H_S__2なる関係
を満たし、Tr_Rにおいてバイアス層から記録層への
漏洩磁界と記録層の自己漏洩磁界の向きが異なることを
特徴とする光磁気記録方法。 - (3)前記光磁気記録媒体に対し、外部磁界Heを記録
層の自己漏洩磁界H_S__1及びH_S__2の方向
に、Hc_R(Tr)≦H_S__1+He−H_B_
_1、かつHc_R(Tr)≦H_B__2−H_S_
_2−Heを満たすように印加することを特徴とする請
求項1又は2記載の光磁気記録方法。 - (4)前記光磁気記録媒体に対し、外部磁界Heをバイ
アス層から記録層側へ漏洩する漏洩磁界H_B_1及び
H_B__2の方向に、Hc_R(Tr)≦H_S__
1−H_B__1−HeかつHc_R(Tr)≦H_B
__2+He−H_S__2を満たすように印加するこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の光磁気記録方法。 - (5)前記光磁気記録媒体のバイアス層の補償点をTc
omp、記録層のキューリ点をTcとしたとき、Tco
mp<Tcなる関係が成り立つことを特徴とする請求項
1又は2記載の光磁気記録方法。 - (6)情報を記録するための記録層と、記録層にバイア
ス磁界を与えるためのバイアス層とを備え、これらの層
が垂直磁気異方性を有すると共に静磁的作用が主の結合
作用を及ぼすように設けられ、前記記録層は、一般式(
Gd_xDy_1_−_x)_yFe_1_−_y(た
だし、x、yは原子%で表わされ、夫々0<x<100
、13<y<35の範囲内である)で表わされる合金で
形成されていることを特徴とする光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24496589A JP2886199B2 (ja) | 1988-09-30 | 1989-09-22 | 光磁気記録方法及び光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24380988 | 1988-09-30 | ||
JP63-243809 | 1988-09-30 | ||
JP24496589A JP2886199B2 (ja) | 1988-09-30 | 1989-09-22 | 光磁気記録方法及び光磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02168455A true JPH02168455A (ja) | 1990-06-28 |
JP2886199B2 JP2886199B2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=26536442
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24496589A Expired - Lifetime JP2886199B2 (ja) | 1988-09-30 | 1989-09-22 | 光磁気記録方法及び光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2886199B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03273541A (ja) * | 1990-03-23 | 1991-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
-
1989
- 1989-09-22 JP JP24496589A patent/JP2886199B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03273541A (ja) * | 1990-03-23 | 1991-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2886199B2 (ja) | 1999-04-26 |
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