JPH02165690A - 基板と電気回路装置 - Google Patents

基板と電気回路装置

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JPH02165690A
JPH02165690A JP1277003A JP27700389A JPH02165690A JP H02165690 A JPH02165690 A JP H02165690A JP 1277003 A JP1277003 A JP 1277003A JP 27700389 A JP27700389 A JP 27700389A JP H02165690 A JPH02165690 A JP H02165690A
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layer
substrate
hard coating
electrically insulating
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Israil M Sukonnik
イスライル エム.スコニック
James A Forster
ジェームス エイ.フォースター
Henry F Breit
ヘンリィ エフ.ブレイト
Gary A Raphanella
ゲィリィ エィ.ラファネラ
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Texas Instruments Inc
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Texas Instruments Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明の分野は電気回路装置の分野であって、本発明は
特に、電気回路装置に半導体素子やその他の回路要素を
実装する上で使用する新規かつ改良された基板に関する
(従来の技術) 電気回路等に対して現在使用されている、あるいは提案
されている絶縁された金属基板は、剛性で伝熱性の金属
の基層と、該基層、1−の高分子材あるいはセラミック
等の誘′PI層と、希望する回路軌道パターンを形成す
べく食刻される前記誘電層上の導電性銅フィルムとから
構成されている。前記の基板は回路装置を形成するよう
回路軌道に電気的かつ熱的に接続さゼて半導体素子やそ
の他の回路要素を実装し、前記回路装置が作動している
間に発生ずる熱は半導体素子やその他の要素から吸出さ
れ、基板の基層を介して放散させられる。そのような基
板においては、高分子材の誘it層は基板の導電性の回
路層を基層に接着する上で必要とされることがよくあり
、かつその他周知の基板においては、誘電性材料のフィ
ルム等は、j#導電性回路層並びに基層に接着させるた
め両側に接着剤を塗布される。そのような基板において
は、特定の電気回路装置の要件を満足させるため必要な
程度の電気絶縁性を導電性回路層と放熱金属の基層との
間で提供するようv4重層の厚さが選定される。
しかしながら、この目的のために必要とされる誘電層の
厚さは、好ましくない程度に半導体素子等から放熱基層
への伝熱に干渉する傾向があり、そのため半導体素子は
適正な温度条件において作動できないことがよくある。
その結果、高分子材の誘電層を組み込んだ、最近提案さ
れてきた基板のあるものは、誘で層を介する伝熱を向上
させるために高分子材にアルファアルミナあるいはその
他の伝熱性であるが導電性でない材料で充てんさせてい
る。そのような訓電層は極めて薄い層の形成が困難な傾
向があり、かつ薄い層で提供された場合、アルミナを均
一に分散させていないため電気回路装置の各種の部分か
らの熱の排出が均一でないことが度々ある。また、時に
は、アルミニウムの熱だめ部材の表面を陽極酸化させて
その]−に電気絶縁性コーティングを形成することが提
案されてきたが、そのような装置もまた、電気絶縁要件
を満足するには著しい厚さの誘電層を必要とする傾向が
ある。さらに最近になって、電気回路装置に対する電気
絶縁および放熱要件は徐々により厳しくなってきており
、周知の絶縁された金l!基板では半導体素子等を実装
し、一方前記装置に要求される絶縁性および放熱性を提
供する適度に紅汎的な手段を提供しないことがよくある
ことが判明している。電気絶縁性および伝熱性が向上し
た誘電層を組み込んだ経列的な絶縁された金属基板を有
する回路装置を提供することが楡めて望まれる。
(発明が解決しようとする課題) 本発明の目的は、半導体素子等を実装するための新規で
、改良された基板を提供することであり、347Ii性
回路層と、金属基層と、基層に対して選択した絶縁関係
で、かつ基層に対して改良した伝熱関係で、導電性回路
層を前記の金属基層に実装するための電気絶縁性誘電層
とを含む基板を提供することであり、経済的でかつ信頼
性のある基板を提供することであり、かつそのような基
板を用いた新規かつ改良された電気回路装置を提供する
ことである。
(課題を解決するための手段) 要約すれば、半導体素子等を実装するための本発明によ
る新規かつ改良された基板は導電性回路層と、アルミニ
ウム材の基層と、導電性回路層をその上に取り付けるた
めに前記基層に直接接着しうるアモルファス酸化アルミ
ニウムの電気絶縁性ハードコーティングI[ilとから
なる。酸化アルミニウムの電気絶縁性ハードコーティン
グ層は、例えば耐傷、耐摩耗性あるいは耐触性等をアル
ミニウムの而に付与するために一般的に使用されている
、アルミニウム金属のための従来のハードコーティング
層を用いて基板のアルミニウム金属の基層の」−に、交
流−直流組合せコーティング法により周期的に形成され
る。前記タイプの酸アルミニウムのハードコーティング
は、大気中あるいは従来の直流陽極酸化法等により形成
された酸化アルミニウムコーティングと比較して単位厚
さ当りの誘電強度が向上するのみならず、熱伝導を向上
さけることが判明した。
従って、前記基板の誘電層は厚さを極めて薄くでき、か
つ必要な誘電強度を提供し、また顕著に改良された伝熱
性を提供しながら熱伝導を著しく向上させる。本発明の
好適実施例においては、基板の基層の金属材は、例えば
アルミニウム協会(八Iulinul As5ocia
tion  InC0rDOrated)により100
0.5000または6000シリーズのアルミ合金とし
て指定されているアルミニウム合金からなり、前記合金
シリーズは良好な強度を示すが、鉄や銅成分等が無く、
前述のように、母材金属の上に形成された酸化アルミニ
ウムのハードコーティングが、その有効誘電強度を低下
させつる可能性のある鉄や銅成分等が概ね含まれていな
いことを保証する。そのように、基板の回路層からその
基層への伝熱性を向上させる極めて薄い誘電層が達成さ
れる。
本発明の好適実施例においては、基層はその導電性回路
層を酸化アルミニウムの電気絶縁性ハードコーティング
層に極めて容易かつ安定して固定させる接着材料を含み
、該接着材料は酸化アルミニウムのハードコーティング
と協働して、導電層と基板の金属基層との間の好ましい
電気絶縁性を提供する。一実施例においては、前記の接
着材料は電気絶縁性の高分子フィルム等からなり、別の
実施例においては、誘電フィルムが回路層に接着される
長辺の各々とハードコーティング上にコーティングされ
て、ハードコーティング層の電気絶縁性を補完する。
基板の一好適実施例においては、酸アルミニウムの電気
絶縁性ハードコーティング層は、基層には接着するがハ
ードコーティング層の他のセクションからは1111間
されている多数のハードコーティング層のセクションを
含む。電気絶縁性高分子接着材料は酸化アルミニウムの
ハードコーティング層のセクションの上、並びに該セク
ションの間に配されて前記ハードコーティングのセクシ
ョンと協働して基板の導電性回路層を金属基板に希望す
る電気絶縁関係で固定する前記配置において、酸化アル
ミニウムのハードツーティ・ング層のセクションは高分
子接着材料中へ延び電気絶縁接着材と協働して、基層に
対して導電回路軌道層のために望ましい絶縁性をjjす
る極めて薄い誘電性層を提供し、 B導電性回路軌道層
の全ゆる部分から基層への極めて均一かつ効率的な伝熱
を行わしめる。
本発明の新規かつ改良された基板並びに回路装置のその
他の目的、利点および詳細は添付図面を参照した、本発
明の好適実施例についての以Fの詳細説明から明らかと
なる。
(実施例) 図面を参照すれば、第1図および第2図の1゜は本発明
による新規かつ改良された電気回路装置を示し、該vi
置は本発明による新規かつ改良された基板12と、該基
板上に実装された1個以上の半導体素子あるいはその他
の回路要素14を含むものとして示されている。前記基
板は、銅、アルミニウム、あるいはその他の導電性材料
の導電性回路層16と、アルミニウム金属材料の基m’
rsと、本発明によれば、金属基層に直接接着される酸
化アルミニウムの電気絶縁性ハードコーティングの導電
層20とを含む。典型的には、導電性回路g16はまず
シートあるいはフォイルの形態で誘電層20の上に設け
られ、次いで第2図の点線16aで示すようにいずれか
の従来の方法で食刻されて基板に回路軌道16.1およ
び半導体装軌道16.2等を形成する。次いで、従来の
要領で、伝熱性および導電性はIυだあるいは接羽剤2
2あるいは好ましくは電気絶縁性のエポキシ材料等を用
いて半導体素子14等がパッド等に実装される。半導体
素子あるいはその他の要素の端子は第2図の14.1で
概略図示するように、24゜1のような端子や軌道に接
着された接着ワイV24を用いて回路軌道16.1に1
気的に接続される。前記配置においては、導電性回路層
16は、例えば蒸着、スパッタリング、メツV等のいず
れかの従来の方法により酸化アルミニウムのハードコー
ティングM’RM20の上に形成され、第2図に示すよ
うに酸化アルミニウムのハードコーティングに直接接着
されるか、あるいは下記するように誘Ti層の接着材に
より基層に接着される。回路層16は前述のようにフォ
イル状で配置され、次いで食刻されるか、あるいは本発
明の範囲内において好ましいと思われる希望するパター
ンで:1cffi120上に形成されることが理解され
る。
本発明によれば、酸化アルミニウム (A1203)の電気絶縁性のハードコーティング[2
0は、例えばアルミニウム金属に耐傷性、耐1?耗性、
耐触性等を付与するために通常用いられる、いずれかの
従来のアモルファス酸化アルミニウムハードコーティン
グ法によりアルミニウム金属のJ!118上に設けられ
た層である。前記のハードコーティング法は周知であり
、かつ1980年ウィスつンシン州ミルウオーキで、米
国メツ;1および表面仕上げ業者協会により開催された
第67回年次技術会議におけるエム、エム、ラーナおよ
びジエーイ、エイヂ、モースによる論文1低電圧による
アルミニウムのハードJiilf1M化」(“1lar
d  Arodizing  or  Aluminu
l By  Low  Vot−aoc ” by H
,H,Lerner and J、11. Horse
、  67 th八へnual  Technical
  Conference、   The  Amer
icanSociety  of  Platers 
 and  5urface  FinishersI
nc、、 Hilwaukec、 WI、  1980
 )に記載されているので、その方法は本明m磨では詳
しく述べないが、前記ハードコーティング法においては
、金属基WJ18はまず、第3図において26で線図で
示す硫酸等のハードコーティング用電解槽に浸漬され、
交流−直流法により金J1基層の表面18゜1自体にア
モルファス酸化アルミニウムが加速形成できるようにし
、前記交流−直流法においては酸化アルミニウムのハー
ドコーティングの層が28で示すように形成され、高度
の密度と少なくとも約1000ボルト/ミル程度の高度
の誘電強度を備えたハードコーティング20を堆積する
ものと思われる。ハードコーティングされたアルミニウ
ムの基層は次いで32で示すように摺から取り出され、
34で示すように導電性の回路i@16がハードコーテ
ィング層に付与される。酸化アルミニウムのハードコー
ティングは高度の誘電強度を示すのみならず、熱伝導を
向上させることが判明した。前述の酸化アルミニウムハ
ードコーティングは、約200ボルト/ミル以下Pi!
度の誘電強度を典型的に有する、通常の大気中あるいは
従来の直流陽極酸化法でアルミニウム金属上に形成され
た酸化アルミニウムのコーティングとは峻別される。
酸化アルミニウムのハードコーティング20は、該ハー
ドコーティングの誘1強度を低下さ虻る傾向のある鉄、
銅あるいはその他の材料が含まれていないことが好まし
く、そのために、金属基FIJ18のアルミニウム金属
材料は前述したコーティングの周期的形成の間ハードコ
ーティングに鉄あるいは銅等を導入させる可能性のある
鉄あるいは銅成分等が実質的に無いように選択すること
が好ましい。また金属基層は高度の強度を提供するよう
選択することが好ましい。例えば、基層のアルミニウム
金属材料はアルミニウム協会(^IuiinumAss
ociation  Incorporated )に
より指定されている1000.5000あるいは600
0シリーズのアルミニウム合金から構成されるアルミニ
ウム合金の群から選択されることが好ましい。代替的に
、!3層は外側にアルミニウムの層を有する合成金属積
層板からなる。例えば前記合成板は、熱膨張係数の比較
的低いインバー(Invar )のような金属からなる
少なくとも一層を含み、かつ!5接あるいはロール接着
法等により中1IIl!1を用いて低膨張係数の金属に
冶金学的に接着したアルミニウム金属あるいはアルミニ
ウム合金の層を含めばよい。代H的に、アルミニウムの
層はスパッタリング、蒸着等により合成板に付着させる
前記配置においては、基板12における酸化アルミニウ
ムの電気絶縁性ハードコーティング誘電層20は、60
00から10,000ボルトの範囲内での多数の電気回
路装置の電気絶縁要件を満足させるために1から2ミル
程度の極めて薄いものでよい。従って、前記基板12と
、該基板を組み入れた回路装置10とは極めて経済的に
作られ、かつ半導体素子およびその他の要素14等がよ
り望ましい温度レベルで作動できるようにさせて作動特
性を向上させる。
対応する参照番号を用いている第4図において示す本発
明による基板の代替実施例36においては、11ffi
性回路層をハードコーティング1720により容易に、
かつ安定して固定即ち接着させるために、誘電層20は
ハードコーティングJl!20と導電性回路層16の双
方に接着剤で固定された別の層37を用いて補完されて
いる。図示する一好適実膿例においては、前記の別の層
は、キャブ1〜ン(にapton )の商標で市販され
ているポリアミドのような電気絶縁性の有機性高分子材
の薄いシート即ちフォイル37.1を含み、デュポン 
パイロラックス(DuPont Pyrolux)の商
標でデュポン社(E、 1. DuPont DeNe
mours)から市販されている従来の電気絶縁性のア
クリル接着材料の層37゜2を前記高分子材の層の各側
において有しており、lyI記の高分子材および接着材
の層を備えた別の層はハードコーティング層20と協働
して導電性回路1116と金属基WA18との間で望ま
しい程瓜の電気絶縁性を基板付与する。前記の別の層は
一方の側においては導電性回路116を形成する銅フオ
イルに接着され、他方の側においてi!t!118上に
形成されたハードコーティング20に接着されるのが判
る。希望に応じて、層37.1の高分子材が、アルファ
アルミナ充てんアクリルエポキシ接着剤のように望まし
い接着性を有しているのであれば、接着剤コーティング
37.2は省略してよく、導電性回路Ji116を金属
基層に接着するのに高分子材自体に依存してもよい。後
者の場合の配置においては、銅フオイル16を受は取る
べく高分子材をハードコーティング1120上に1il
lL、、高分子材料を加熱等により硬化させ、回路層1
6とハードコーティングW120との間にフィルム37
.1を形成することができる。酸化アルミニウムのハー
ドコーティングを用いることにより、高分子材の接着性
をIIJ 11強度において約25%程度向上させるこ
とが注目される。眞述の基板は物性を向上さ「た上に経
済的に作られる。例えば厚さが1.57ミリ(0,06
2インチ)の6061アルミニウム合金のアルミニウム
基層の上に形成したハードコーティング誘′I1層にア
ルフ?アルミナ充てんアクリルエポキシ接着剤層を設番
ノだ場合、その組合せの層の熱抵抗は約0.44ワット
/℃であることが判明した。同様に試験した材料は以下
の熱抵抗を示すことが判明した。
アルミニウム金属  −0,041ワット/℃(151
ミリ−0,062 インヂ厚) 銅金属       −0,021ワット/℃(1,0
1ミリ−0,040 インチ) 従来のガラス    −4,210ワット/℃エポキシ
(例G10) (1,57ミリ= 0.062 インチ) 第5図に示1本発明による基板の別の代替実施例38に
おいては、前記基板のハードコーティング層20は、酸
化アルミニウムのハードコーティングの多数のセクシヨ
ン20.1を含み、これらのセクションはハードコーテ
ィング層の他のセクションから離間されており、該ハー
ドコーティング層のセクションは金属基層の面18.1
に接着されている。前述した、アルファアルミナ充てん
のアクリルエポキシ高分子材のような電気絶縁性接着材
40が前記セクション20.1の上、並びに前記セクシ
ョンの]コの空間20.2に付着され、導電性回路M1
6を金属基層18に接着させる。
即ら、接着材40はハードコーティングの離間したセク
ションの間の空間を充てんして直接IFmへ接着さ拷、
かつまたハードコーティングの前記のセクションに接着
させる。前記配置において、前記絶縁性接着材料の厚さ
は、基層18に対して希望する電気絶縁関係で導電性回
路層16を固定するよう選択され、かつ酸化アルミニウ
ムのハードコーティングの各セクション20.1は接着
材と協働して前記絶縁層を提供し、一方導電性回路層か
ら金iim層への熱伝導を高めるよう作用する。
ハードコーティング材は接着高分子材等より熱伝導性は
はるかに大きい。例えば典型的には、酸化アルミニウム
のハードコーティングの個々のセクション20.1は金
属!3層18の清浄した概ね酸化物の無い面にレジスト
グリッドパターンを加え、第6図において42で線図で
示すように、約0.01から10ミルの幅のレジストス
ペーサにより分離した幅がF)0.02から100ミル
の、四角あるいはその他の形状のグリッドセクションを
画成することにより形成される。次いで、レジストパタ
ーンを付けた金属基層を44で示すハードコーティング
槽に浸漬させる。次いで、ハードコーティングの薄い積
層が46でね図で示すように、多数の四角のグリッドセ
クションにおいて基層の金属に対して接着関係で形成さ
れる。その上にセクション20.1をコーティングした
基層金属は50で示すようにハードコーティング槽から
取り出され、そしてレジストが取り出される。次いで、
52で示すように高分子接着材40がセクション20の
上並びセクションの間に付着され、銅等で作った導電性
回路層16も同様に接る材40に接着されて、第6図に
おいて54′c″線図で示すように基板38を形成する
。前記配置においては、基板38には、極めて高度かつ
均一な熱伝導性を有する極めて薄い誘電層が設けられる
ようにされる。式台的に、レジストパターンは多数の小
さい穿孔を有するハードコーティング層を提供すること
によってハードコーティングのセクションがその間に来
る前記穿孔により離隔されるように選択してもよい。次
いで、ハードコーティング上に接着材が供給され、ハー
ドコーティングの前記穿孔を埋めることが理解される。
本発明の例示として本発明の種々の実施例を説明してき
たが、本発明は特許請求の範囲に含まれる、開示した実
施例の全ての修正および均等物を含むことを理解すべき
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による新規かつ改良された電気回路装置
の好適実施例の部分平面図、 第2図は半導体集子等を実装するための本発明により提
供される新規かつ改良された基板の好適実施例を示す、
第1図の線2−2に沿って視た増尺部分断面図、 第3図は第2図に示す基板に酸化アルミニウムの電気絶
縁性ハードコーティング層を形成することを示すブロッ
ク線図、 第4図は本発明による基板の代替好適実施例を示す、第
2図に類似の部分断面図、 第5図は本発明による基板の別の代行好適実施例を示す
、第2図に類似の増尺した断面図、および 第6図は第4図に示す基板の酸化アルミニウムの電気絶
縁性ハードコーティング層の形成を示すブロック線図で
ある。 図において、 10・・・回路装置、12.36.38・・・基板。 14・・・半導体素子、16・・・回路層、2o・・・
誘?ri層、37・・・別の層、40・・・接着材。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性の回路層と、アルミニウム材料からなる基
    層と、前記基層に対する伝熱関係を向上させ、選定した
    電気絶縁関係で前記基層に導電性回路層を実装させてい
    る、前記基層のアルミニウム材に直接接着する酸化アル
    ミニウムの電気絶縁性のハードコーティングの誘電層と
    からなることを特徴とする、半導体素子を含む電気要素
    を実装する基板。
  2. (2)特許請求の範囲第1項に記載の基板において、前
    記基層が鉄および銅成分が概ね無いアルミニウム金属合
    金からなり、酸化アルミニウムの電気絶縁性ハードコー
    ティング層が概ね鉄および銅成分が無く基板に対する前
    記の伝熱関係を向上させて、前記の選定した電気絶縁関
    係で前記基層に前記導電性回路を実装することを特徴と
    する基板。
  3. (3)特許請求の範囲第1項に記載の基板において、前
    記の選定された電気絶縁関係で導電性回路層を実装する
    上で酸化アルミニウムの電気絶縁性ハードコーティング
    層と協働するよう導電性回路層を前記ハードコーティン
    グ層に接着固定する別の層を有することを特徴とする基
    板。
  4. (4)特許請求の範囲第3項に記載の基板において、前
    記の別の層が前記基層に対する前記の電気絶縁関係で導
    電性回路層を実装する上で酸化アルミニウムの電気絶縁
    性のハードコーティング層と協働するよう選定した厚さ
    を有する電気絶縁性の有機性高分子材の層からなること
    を特徴とする基板。
  5. (5)電気要素と絶縁された金属基板とを含み、前記の
    絶縁された金属の基板は前記要素に電気的および熱的に
    接続された導電性回路層と、アルミニウム材の基層と、
    前記基層のアルミニウム材に直接接着され、前記基層に
    対する伝熱関係を向上させて選定された前記基層に対す
    る電気絶縁関係で導電性回路層を実装する酸化アルミニ
    ウムの電気絶縁性ハードコーティング層とからなること
    を特徴とする電気回路装置。
  6. (6)特許請求の範囲第5項に記載の電気回路装置にお
    いて、前記基層が鉄および銅成分が概ね無いアルミニウ
    ム金属合金からなり、酸化アルミニウムの電気絶縁性ハ
    ードコーティング層が鉄および銅を概ね含有していない
    ことを特徴とする電気回路装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07105461B2 (ja) * 1990-08-03 1995-11-13 三菱電機株式会社 半導体装置用絶縁基板の製造方法およびそのための金属パターン板
NL1033519C2 (nl) * 2007-03-08 2008-09-16 Yun Tai Werkwijze voor warmteoverdracht bij halfgeleiders.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU546240A1 (ru) * 1975-03-25 1978-09-25 Предприятие П/Я Г-4515 Микросхема
CA1212073A (en) * 1981-02-02 1986-09-30 Seizo Murayama Impregnating anodic oxide film with polymerizable compound and polymerizing and resulting wiring board
US4884125A (en) * 1986-10-15 1989-11-28 Sanyo Electic Co., Ltd. Hybrid integrated circuit device capable of being inserted into socket

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