JPH02165042A - X線分析装置 - Google Patents

X線分析装置

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Publication number
JPH02165042A
JPH02165042A JP63322914A JP32291488A JPH02165042A JP H02165042 A JPH02165042 A JP H02165042A JP 63322914 A JP63322914 A JP 63322914A JP 32291488 A JP32291488 A JP 32291488A JP H02165042 A JPH02165042 A JP H02165042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spectroscopic
chamber
crystal
analysis
rowland circle
Prior art date
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Pending
Application number
JP63322914A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Nakanishi
中西 典顯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPH02165042A publication Critical patent/JPH02165042A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、X線分析装置に関する。
(従来の技術) 試料をX線で照射し、励起された試料から放出される蛍
光X線を分光・検出し、その検出信号により試料面を分
析する場合、従来は1分解能を上げる方法として、第2
図に示すように、第1.第2の2枚の平面分光結晶11
.12を用いて分光することにより分解能を向上させて
いた。しかし、2回の分光を行うと分光されたX線の強
度が奸しく低下し測定感度が低下すると云う問題があっ
た。また、2枚の分光結晶を用いるために、第2分光結
晶12を第1分光結晶11の周りに回転させながら、X
線検出器7を第2分光結晶12に対して衛星運動させる
必要がある。そのために分光装置が複雑な構造となり、
コストが大幅にががると云う問題かあった。分光素子と
して湾曲結晶を用いると、検出されるX線強度は2桁程
度向上するが、分解能を上げるため分光結晶を2枚使う
ようにすると、波長走査のための装置の掃過面積が大変
大きくなって実用1−甚だ不便となる。
〈発明が解決しようとする課題〉 本発明は、簡単な構造でX線分析装置の感度および分解
能を向」ニさせることを目的とする。
(課組を解決するための手段) X線分析装置において、試料とX線管と入口スリットで
構成された試料室と、湾曲分光結晶を回動可能に保持し
た分光室と、出口スリットと検出器で構成された検出室
と、上記分光結晶を回動させる回動手段と、上記分光室
を入口スリット方向に移動させる移動手段と、上記検出
室を2次元的に移動させる移動手段と、上記各回動及び
移動1段を上記入口スリットと分光結晶と出口スリット
を同一ローランド円周上に位置させながら分光室と検出
室を移動させる制御手段とを設け、同制御手段に設定す
るローランド円の半径を大小選択可能とし、上記試料室
と上記分光室及び上記分光室と上記検出室をベローズに
よって外界と密封的に接続した。
(作用) 本発明は、分光結晶に湾曲結晶を用い、その湾曲結晶に
よる集光能力によって、分光されるX線の強度を上げる
と共に、湾曲結晶型X線分光器の分解能はローランド円
の半径を大きくすることにより向上できる点に着目し、
ローランド円を大小伸縮可能とすることにより、感度を
主とする時は小径ローランド円を用い、分解能を主とす
る時は、大ローランド円を用い得るようにするものであ
る。即ち、X線管及び試料及び入口スリットで構成され
る試料室と分光結晶を回動可能に保持する分光室をベロ
ーズで接続し、分光結晶を単独のパルスモータで回動可
能に、分光室を単独のパルスモータで光軸方向に移動可
能な構造にして、分光結晶を独自に回動及び移動ができ
るように設け、また、上記分光室と出口スリット及び検
出器で構成された検出室とをベローズで接続し、検出室
を上下左右に2個のパルスモータで移動可能に設けるこ
とで、入口スリットと分光結晶と出口スリットをローラ
ンド円上に位置させながら、ローランド円の半径Rを大
小選択可能とすることで、高感度分析と高分解能分析を
選択して用い得るようにすることで、X線分析装置の分
解能を向上させようとするものである。
(実施例) 第1図に本発明の一実施例を示す、第1図において、S
は試料、1は試料にX線を照射するX線管、2はX線分
光器の入口スリットで、X線管1と試料Sと入口スリッ
ト2で試料室Aを構成している。3は分光結晶で湾曲結
晶が用いられており、分光室CにパルスモータPMIで
回動可能に保持され、分光室Cはスライドプレート5に
X軸方向に摺動可能に保持され、パルスモータPM2で
X軸方向に駆動される。6は分光器の出口スリット、7
は検出器で、出口スリット6と検出器7で検出室りを構
成し、不図示のX軸方向ガイド上を摺動するy軸方向ガ
イドに摺動および回動可能に載置され、パルスモータP
M3でX軸方向に、パルスモータPM4でy軸方向に駆
動されると共に、分光結晶回転軸と出口スリット回転軸
を結ぶ不図示のリンクにより、検出室りが常に分光結晶
3の中心に向かうようにしである。試料室Aと分光室C
はベローズB1で接続されており、分光室Cと検出室り
はベローズB2.B3で接続され、X線分析装置全体を
密閉状態に構成している0分光室Cと検出室りを接続す
るベローズが大径のB2と小径の83に分けであるのは
、分光結晶3と出口スリット6を結ぶ線のX軸に対する
傾きが大幅に変化するので、分光結晶3に近い部分でベ
ローズの径が小さいと、X線がベローズでカットされる
恐れがあるから、分光結晶3に近い部分は大径のベロー
ズを用いている。また、大径のベローズだけであると、
外圧に抗して伸縮させるのに必要な力が大きくなるから
、検出室りに近い側のベローズを小径にして、伸縮を容
易にしである。ロータリーポンプ8はX線分析装置内を
排気して所定の真空度を保持している。
波長走査は分光室CをX軸方向に動かして、入口スリッ
ト2と分光結晶中心との距離を変えながら、入口スリッ
ト2と分光結晶3の中心と出口スリット6の3者が一つ
の半径Rのローランド円の円周上にあるように検出室り
をX+3’平面内で2次元的に駆動して行う、入口スリ
ット2の位置座標を(0,0)とすると、分光結晶の位
置座標は(2Rs i nθ、0)、出口スリット6の
位1fl!標は(2R8i nθ[1+cos2θ]、
2Rsinθ・sinθ)で表示される。ここでθはブ
ラッグ角である。上記の座標位置に分光結晶3及び出口
スリット6が配置されるようにPMI、PM2.PM3
.PM4をマイクロコンピュータCPU(不図示)で制
御するようにしている。
分解能を高めて分析を行う場合は、分光結晶3を高分解
能用の曲率の小さな分光結晶と交換し、PMlで分光室
Cを右側に移動すると共に、検出室りをPM2.PM3
で上方に移動させて、入りロスリット2と分光結晶3と
出口スリット6で構成するローランド円の半径Rを大き
く設定させると共に、PMIで分光結晶3を回動させて
、分光結晶3の湾曲表面がローランド円に沿うように設
定する。
分析するX線強度を高めて分析を行う場合は、上記とは
逆に高感度用の曲率の大きな湾曲結晶に代え、ローラン
ド円の半径Rが小さくなるように、PMI、PM2.P
M3.PM4を駆動させる(発明の効果) 本発明によれば、単一の湾曲結晶型X線分光器の機構で
、ローランド円の半径を変化させることで、必要に応じ
て、高分解能で分析する場合と、高感度で分析する場合
とを選択することが可能となり、実際上、高感度高分解
能のX線分光器が単−X線分光器の構成によって得られ
、測定濃度範囲が拡大されると共に、分解能を向上させ
、コストダウンが計ることができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は従来例の
構成図である。 S・・・試料、A・・・試料室、B1〜B3・・・ベロ
ーズ、C・・・分光室、D・・・検出室、PM1〜PM
3・・・パルスモータ、1・・・X線管、2・・・入口
スリット、3・・・分光結晶、5・・・スライドプレー
ト、6・・・出口スリット、7・・・検出器、8・・・
ロータリーポンプ。 都 一口 煽÷

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  試料とX線管と入口スリットで構成された試料室と、
    湾曲分光結晶を回動可能に保持した分光室と、出口スリ
    ットと検出器で構成された検出室と、上記分光結晶を回
    動させる回動手段と、上記分光室を入口スリット方向に
    移動させる移動手段と、上記検出室を2次元的に移動さ
    せる移動手段と、上記各回動及び移動手段を上記入口ス
    リットと分光結晶と出口スリットを同一ローランド円周
    上に位置させながら分光室と検出室を移動させる制御手
    段とを設け、同制御手段に設定するローランド円の半径
    を大小選択可能とし、上記試料室と上記分光室及び上記
    分光室と上記検出室をベローズによって外界と密封的に
    接続したことを特徴とするX線分析装置。
JP63322914A 1988-12-20 1988-12-20 X線分析装置 Pending JPH02165042A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63322914A JPH02165042A (ja) 1988-12-20 1988-12-20 X線分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63322914A JPH02165042A (ja) 1988-12-20 1988-12-20 X線分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02165042A true JPH02165042A (ja) 1990-06-26

Family

ID=18149035

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63322914A Pending JPH02165042A (ja) 1988-12-20 1988-12-20 X線分析装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH02165042A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006502399A (ja) * 2002-10-08 2006-01-19 コミツサリア タ レネルジー アトミーク 色収差無発生型且つ吸収低減型の光収集システムで、特に光学的分光分析に適応させたシステム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006502399A (ja) * 2002-10-08 2006-01-19 コミツサリア タ レネルジー アトミーク 色収差無発生型且つ吸収低減型の光収集システムで、特に光学的分光分析に適応させたシステム

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