JPH02156653A - 温度センサicウエハのトリミング方法 - Google Patents

温度センサicウエハのトリミング方法

Info

Publication number
JPH02156653A
JPH02156653A JP31128988A JP31128988A JPH02156653A JP H02156653 A JPH02156653 A JP H02156653A JP 31128988 A JP31128988 A JP 31128988A JP 31128988 A JP31128988 A JP 31128988A JP H02156653 A JPH02156653 A JP H02156653A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
chip
temperature sensor
base
wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31128988A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Taguchi
一夫 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP31128988A priority Critical patent/JPH02156653A/ja
Publication of JPH02156653A publication Critical patent/JPH02156653A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、温度センサIC(温度センサ集積回路)ウェ
ハのトリミング方法に関するものである。
更に詳述すれば、本発明は、温度モニター用の2個のト
ランジシスタを、それぞれの温度センサICチップに設
けてその出力を温度リファレンスとして使用した、精度
の良い温度センサICウェハのトリミング方法に関する
ものである。
〈従来の技術〉 第4図は従来より一般に使用されている従来例の説明図
である。
図において、1はトリミング対象となるウェハ2が載せ
られたトリマステージである。ウェハ2の構成は、第5
図に示すように、多数の温度センサICチップ3からな
る。
第4図に戻り、4はトリマステージ1上に配置されたリ
ファレンス用ICチップである。リファレンス用ICチ
ップ4としては、温度センサICチップの中で電気的特
性が正常なものを選んで用いる。
5はプローブカードであり、ウェハ2に形成された温度
センサICチップ3やリファレンス用■Cチップ4に電
源を供給するとともに、これらのチップと測定系6との
間で信号の授受を行うものである。
7は測定系6の測定動作を制御するCPUである。CP
U7は、測定系6で得られた測定結果に応じて所定のア
ルゴリズムに従い、レーザ8および可動ミラー9を駆動
してレーザビームのオン・オフ制御やスキャンを行い、
レーザビームによるトリミングを実行する。また、CP
U7は、トリマステージ1をプローブカード5およびX
Y可動ミラー9に対して移動させて、ウェハ2に形成さ
れている任意の温度センサICチップ3を10−ブカー
ド5およびXY可動ミラー9に対向させるようにする。
このような装置で、ウェハ2内の各温度センサICチッ
プ3の電気的特性を測定系6で測定し、測定値をリファ
レンス用ICチヅプ4により与えられる電気的特性の目
標値と比較し、これらが−致しないときはレーザ8で温
度センサICチップ3をトリミングし、測定値を目標値
に近付けていく。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、この様な装置においては、ウェハ2内に
は温度分布があり、第4図のウェハのXX方向に沿った
温度分布は第5図のグラフg。
のようになる、一方、リファレンス用チヅブ4の温度は
、定常状態ではグラフg2のように一定になる。
トリミングの最適な目標値は温度差に応じて異なったも
のになる。
ところが前述した従来装置では、目標値を与える手段と
して1個のリファレンス用ICチップ4を用いているた
め、各チップの目標値はウェハの位置にかかわらず一定
値しか与えられない。
このため、従来装置では、最適な目標値が与えられなく
なり、トリミングした温度センサICチック゛にオフセ
ットが生じ、歩留りが低下するという問題点があった。
本発明は、この問題点を解決するものである。
本発明の目的は、ウェハ内の温度分布に応じて最適なト
リミングの目標値が与えられ、歩留りを向上でき、高精
度で、安価な温度センサICチップが得られる温度セン
サICウェハのトリミング方法を提供するにある。
く課題を解決するための手段〉 この目的を達成するために、本発明は、複数の温度セン
サICチップが形成された温度センサICウェハのトリ
ミング方法において、 2個の同じ性能でコレクターベース間がそれぞれショー
トされたモニタトランシジスタを温度センサICチップ
にそれぞれ設け、該2個のモニタトランシジスタを並列
接続し一定電流を流して求めたベース−エミッタ間電圧
と一方の前記モニタトランシジスタのみに前記と同様の
一定電流を流して求めたベース−エミッタ間電圧との差
より温度を演算し、この温度を温度リファレンスとして
当該温度センサICチップのトリミングを行うようにし
たことを特徴とする温度センサICウェハのトリミング
方法を採用したものである。
く作用〉 以上の方法において、2@の同じ性能でコレクターベー
ス間がそれぞれショートされたモニタトランシジスタを
温度センサICチップにそれぞれ設け、該2個のモニタ
トランシジスタを並列接続し一定電流を流して求めたベ
ース−エミッタ間電圧と一方の前記モニタトランシジス
タのみに前記と同様の一定電流を流して求めたベース−
エミッタ間電圧との差より温度を演算し、この温度を温
度リファレンスとして当該温度センサICチップのトリ
ミングを行うようにしな。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
〈実施例〉 第1図は、本発明の一実施例の工程説明図である。
第1図(A)はモニタトランシジスタ31,32作り込
み工程である。
2111Jの同じ性能で、コレクターベース間がそれぞ
れショートされたモニタトランシジスタ31゜32を、
温度センサICチップ3にそれぞれ設ける。第2図に要
部拡大図パターン図を示す。
第1図(B)は温度リファレンス決定工程である。
2個のモニタトランシジスタ31,32を並列接続し一
定電流ioを流して求めたベース−エミッタ間電圧VB
Et と、モニタトランシジスタ31のみに同様の一定
電流Ioを流して求めたベース−エミッタ間電圧VlI
E2との差より温度を演算し、この温度を温度リファレ
ンスとして当該温度センサICチップのトリミングを行
う。
第3図にモニタトランシジスタ31,32の回路図を示
す。
ここにおいて、l0=一定とすると、 VBE+  vaε2 = (、fi’l’/q) I n (Jl /J2 
)k;ボルツマン定数 ′1゛;絶対温度 q;電子の電荷量定数 JI+J2;電流密度A / m ’ !/q=86.2xlO’V J、/J2=2 (一定) ’l’= (Va E +  −Va t 2  )/
 ((AT/q)I  n  (Jl  /J2  )
  1=A (VBE  T−VBE2  )A;定数 したがって、温度Tはベース−エミッタ間電圧VBE+
とVBE2の差に比例するから、演算によって、温度T
を求める事ができる。
この結果、温度ICチップ3上に、、温度モニタ用とし
てモニタトランシジスタ31.32を形成し、その出力
を温度リファレンスとしたので、トリミングICチップ
3とリファレンスを同一チップ上に近接して配置出来き
、温度分布の影響を可能なかぎり小さくして、高精度な
リファレンスによるトリミングが実現出来る。
したがって、歩留りを向上でき、高精度で、安価な温度
センサICチップ3が得られる温度センサICウェハの
トリミング方法が得られる。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明は、複数の温度センサIC
チップが形成された温度センサICウニへのトリミング
方法において、 2個の同じ性能でコレクターベース間がそれぞれショー
トされたモニタトランシジスタを温度センサICチップ
にそれぞれ設け、該2個のモニタトランシジスタを並列
接続し一定電流を流して求めたベース−エミッタ間電圧
と一方の前記モニタトランシジスタのみに前記と同様の
一定電流を流して求めなベース−エミッタ間電圧との差
より温度を演算し、この温度を温度リファレンスとして
当該温度センサICチップのトリ、ミンクを行うように
したことを特徴とする温度センサICウェハのトリミン
グ方法を採用した。
この結果、温度ICチップ上に、温度モニタ用。
とじてモニタトランシジスタを形成し、その出力を温度
リファレンスとしなので、トリミングICチップとリフ
ァレンスを同一チップ上に近接して配置出来き、温度分
布の影響を可能なかぎり小さくして、高精度なリファレ
ンスによるトリミングが実現出来る。
従って、本発明によれば、歩留りを向上でき、高積度で
、安価な温度センサICチップが得られる温度センサI
Cウェハのトリミング方法が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の工程説明図、第2図、第
3図は第1図の説明図、第4図は従来より一般に使用さ
れているトリミング装置の構成説明図、第5図はウェハ
の構成説明図、第6図はウェハとリファレンス用ICチ
ップの温度分布図である。 1・・・トリマステージ、2・・・ウェハ、3・・・温
度センサICチップ、31.32・・・モニタートラン
ジシスタ、5・・・10−ブカード、6・・・測定系、
7・・・CPU、8・・・レーザー、9・・・可動ミラ
ー第 図 第 図 第 図 第 図 ウェハの位置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の温度センサICチップが形成された温度センサI
    Cウェハのトリミング方法において、2個の同じ性能で
    コレクターベース間がそれぞれショートされたモニタト
    ランシジスタを温度センサICチップにそれぞれ設け、
    該2個のモニタトランシジスタを並列接続し一定電流を
    流して求めたベース−エミッタ間電圧と一方の前記モニ
    タトランシジスタのみに前記と同様の一定電流を流して
    求めたベース−エミッタ間電圧との差より温度を演算し
    、この温度を温度リファレンスとして当該温度センサI
    Cチップのトリミングを行うようにしたことを特徴とす
    る温度センサICウェハのトリミング方法。
JP31128988A 1988-12-09 1988-12-09 温度センサicウエハのトリミング方法 Pending JPH02156653A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31128988A JPH02156653A (ja) 1988-12-09 1988-12-09 温度センサicウエハのトリミング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31128988A JPH02156653A (ja) 1988-12-09 1988-12-09 温度センサicウエハのトリミング方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02156653A true JPH02156653A (ja) 1990-06-15

Family

ID=18015342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31128988A Pending JPH02156653A (ja) 1988-12-09 1988-12-09 温度センサicウエハのトリミング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02156653A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100370237C (zh) * 2001-11-08 2008-02-20 株式会社东芝 具有调整功能的温度传感器电路及其调整方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100370237C (zh) * 2001-11-08 2008-02-20 株式会社东芝 具有调整功能的温度传感器电路及其调整方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7461974B1 (en) Beta variation cancellation in temperature sensors
JPH07198777A (ja) 半導体試験装置
US7052179B2 (en) Temperature detector
JPH02156653A (ja) 温度センサicウエハのトリミング方法
US20070075398A1 (en) Integrated thermal characterization and trim of polysilicon resistive elements
JPH06258384A (ja) 集積回路試験用電流測定装置および集積回路
JPH0843176A (ja) 風量センサの校正方法
EP0504979A2 (en) Reference voltage generator
JP3475822B2 (ja) パワーmosfetのオン抵抗測定方法及びパワーmosfetのオン抵抗測定装置並びにパワーmosfet
Brokaw A temperature sensor with single resistor set-point programming
CN104375015A (zh) 一种交流磁电输运测量系统
JP3606994B2 (ja) 出力電流制限回路及び出力電流制限回路における出力電流調整方法
JPH02291714A (ja) 集積回路
JPS5832177A (ja) Mosfetチヤネル部温度測定方法
JP2001242214A (ja) 半導体の特性測定回路
JP2517873B2 (ja) 熱電型交直流変換器の出力電圧測定装置
JPS61110064A (ja) 回路定数測定器
PL234140B1 (pl) Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy
US6380506B1 (en) Use of hot carrier effects to trim analog transistor pair
JPH07151818A (ja) 半導体集積回路装置
RU1819352C (ru) Способ отбраковки ненадежных КМОП ИС
JPH05306958A (ja) 温度検出回路
JPH0620117Y2 (ja) 温度検出回路
JPH0579481U (ja) Lsiテスタ
JPH0435812Y2 (ja)