JPH02154732A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知ら
れている。

然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて回能であるという欠
点を有していた。

これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定方法か提案されている。

このフォトレフラクシ゛ヨン方式の測定に於いては、被
検眼の光軸が少しずれてら充分に測定をすることができ
、被検眼を固定することが困維である乳幼児の眼屈折力
の測定には有用であるとされているものである。

［発明が解決しようとする課題］ 然し乍ら、一般のカメラで撮影する為、撮影されたフィ
ルム而での１！Ａを解析し、この解析がら眼屈折力を算
出しなくてはならず、精度の高い測定結果を瞬時に得ら
れないという欠点を有しているものである。又、被検者
の瞳孔径、眼底の反射率の差異等により受光量が変化し
た場合、正確な測定かできないという問題を有していた
。

本発明は、上記実情に鑑みなしなものであり、いかなる
ディオグター値でも測定が可能で且瞬時に測定結果を得
ることができ、而も被検眼の個体差を完全に消去し極め
て精度の高い測定結果の得られる眼屈折力測定装置を提
供しようとするものである。

［課題を解決する為の手Ｐｉ］ 本発明は、被検眼眼底に光源（象を投影する為の投影系
と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子上に前
記眼底からの光束を集光する為の受光系と、受光系の光
路内に配置され受光光束の一部を遮光する為の遮光部材
とを有し、前記受光素子上に投影された光束の少なくと
も２つの特定点を選びこれら特定点の光量より受光光量
の変動分を消去する比を求めてパラメータとし、該パラ
メータを基に被検眼の眼屈折力を測定し得る様に構成し
たことを特徴とするものである。

［作　　用〕 被検眼の眼屈折力の相違により、遮光部材による光束を
遮光する状態か異なってくる。この遮光の状態と眼屈折
力とは対応し、受光素子に投影された光束の状態から、
即ち受光光束の少なくとも２つの特定点を基に得られる
光量の比から眼屈折力に起因する光量分布を受光光束の
絶対量の変化の影響を受けることなく求められ、該光量
分布を基に眼屈折力が測定できる。

［実　施　例］ 以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。

１は光源像を被検眼３の眼底７に投影する為の投影系で
あり、２は眼底７により反射された光束１０を受光する
為の受光系であり、投影系１及び受光系２は被検眼３に
対向して配置される。

前記投影系１は、光源４及び光源４からの光束１１を被
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラ−５から成り
、該投影系１は光源４からの光束１１を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の像を形成する様に投影する。

前記受光系２は、対物レンズ８及び光電素子９から成り
、眼底７からの光束１０はハーフミラ−５を透過して光
電素子９上に導かれる。

該光電素子９は、エリアＣＯＤ、撮像管或は２以上の光
電素子の集合体であり、光電素子９の光電面９ａは対物
レンズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置さ
れる。

前記受光系２の光路内には、被検眼３の眼屈折力が基準
デイオプター値の場合に光源像が形成される位置に、対
物レンズ８の光軸Ｏを境界として光束１０の片側を遮光
する為のエッチ状の遮光部材１２を配置する。

又、前記光な素子９には演算器１３が接続され、該演算
器３は光電素子９からの信号に基づき受光光束の全体の
形状、大きさ、更に受光面上の特定の２点、又は３点の
検出光量に基づき受光光束の光量分布状態を求め、該光
量分布状態より眼圧折率演算の為のパラメータを求め、
更にこれら光電素子９からの信号で得られる情報に基づ
き眼屈折力を演算する。而して該演算器１３はその結果
を表示器１４に出力し、表示器１４は眼屈折力に関する
情報を表示する様になっている。

以下作用を説明する。

第１図（Ａ）に示す様に、被検眼３が遮光部材１２の後
方即ち光電素子９側に光源像が形成される様なデイオプ
ター値（被検眼のデイオプター値か基準デイオプター値
に比べて負のデイオプターｆｉｉＩ）の場合には、対物
レンズ８に入射する光束１０の下半分（斜線部分）が遮
光され、光電素子９の光電面９ａには第２図（Ａ）に示
す様な光軸Ｏを中心とした下半円形状の光束が形成され
る。

一方、第１図（Ｂ）に示す様に、被検眼３が遮光部材１
２上の光軸Ｏの点に光源像か形成される様なデイオプタ
ー値（被検眼のデイオプター値が基準デイオプター値）
の場合、光束１０は遮光部材１２によって遮られないの
で光電面９ａには第２図（８）に示す様な光軸０を中心
とした円形状の光束が形成される。

又、第１図（Ｃ）に示す様に、被検（１！３が遮光部材
１２の前方に光源像が形成される様なデイオプター値（
被検眼のデイオプター値が基準デイオプター値より正の
場合）には、光電面９ａには第２図（Ｃ）に示す様な光
軸Ｏを中心とした上半円形状の光束が形成される。又、
デイオプター値の大小により、光電面９ａに形成される
光束の径が変化する。

光電素子９はこの光電面９ａに形成される光束の形状及
び大きさを検出する為のものであり、前記演算器１３は
光電素子９からの信号を基に、光電面９ａ上に形成され
る光束の形状及び大きさを検出し、基準となるデイオプ
ター値に対し被検眼の眼屈折力が正か負かを判断すると
共にその絶対値を演算し、演算結果を表示器１４に出力
し、表示器１４は求められた結果を表示する。

尚、前述の説明は本発明の詳細な説明する為光源４が面
積を無視できる様な微小面積であるとしたが、一般には
光源４はある大きさを持った発光面積を有している。光
源か発光面積を有する場合について以下説明する。

光源４が発光面積を有する場合、−点に集束しない、従
って、遮光部材１２で、光束１０を遮った場合、第２図
（Ａ）（Ｃ）で示した様に完全に円を欠切した光束の形
状とならず、第２図（Ａ）（Ｃ）中２点鎖線で示す光束
を含んだものとなり、而もＸ軸方向に光量分布の変化す
るものとなる。

第３図（Ａ）は光源４がある発光面積を有し、遮光部材
１２の後方に光源像が形成される場合のＸ軸に沿った方
向での光束の光量分布を示すものであり、光量は下方か
ら上方に行くに従い漸次減少する。

第３図ｆＢ）は光ａ４がある発光面積を有し、遮光部材
１２上で光源像が形成される場合を示し、この場合の光
束の光量分布は均一となる。

第３図（Ｃ）は光源４がある発光面積を有し、遮光部材
１２の前方に光源像が形成される場合を示し、この場合
の光束の光量分布は下方から上方に行くに従い漸次光量
が増加する。

而して、眼屈折力絶対値が大になるに従い、光量分布の
傾きは大きくなる。

前記演算器１３はこの光量分布の傾きをパラメータとし
て、傾きの方向で、基準デイオプター値に対する被検眼
屈折力の方向を判断し、且傾きの絶対値の大小で眼屈折
力の絶対値を演算する。

次に、傾きの方向、傾きの大小についての演算方法につ
いて説明する。

光源から発する光束が常に一定であり、ハーフミラ−５
、遮光部材１２のエツジの状態等光学機器の機差、或は
光電素子９の感度等の差により、測定結果に影響が出な
い様にしても、被検眼３の各個体間での瞳孔径の差、眼
底の反射率の差、角膜、水晶体等透光体の透明度の差に
より受光光束の絶対量が変化する。従って、光量分布の
傾きを現すパラメータとしては、前記した被検眼の個体
差、更には光源から発する光量の変化等測定機自体のも
つ変動要因で受光光束の絶対量が変化しても、その変化
の影響を受けない様にしたものでなければならない、而
して、本発明では該パラメータを以下の如く求めている
。

第４図（Ａ）（８）（Ｃ）は第３図（Ａ）（８）（Ｃ）
に対応するもので、第４図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）により説
明する。

先ず第１のパラメータとしては受光光束中の２点、ａ、
ｂを特定点として選び該特定点ａ。

ｂの光量ａ、ｂ’の比率ｂ’／ａ’をパラメータとする
。絶対光量が増加すると受光状態は第４図（Ａ）（Ｂ）
（Ｃ）中２点か線の示す如く比例的に増加し、その結果
傾き角度の絶対値が増加する。然し、前記ｂ’／ａ’を
光量分布の傾き、即ち眼屈折力のパラメータとすると傾
き角度の絶対値が変化しても一定となる。従って、ｂ′
／　ａ　’は眼屈折力のみを現すもので、被検眼の個体
差、更には測定機自体の変動要因すら消去したものとな
る。

ここでｂ’／ａ’＜１のときは傾き角度が負の状態を示
しく第４図（Ａ）　）　、ｂ’　／ａ　　＝１のときは
傾き角度が０の状態を示しく第４図（Ｂ））　、ｂ’　
／ａ’　＞１のときは傾き角度が正の状態を示しく第４
図（Ｃ））　、ｂ’／ａ’そのものは眼屈折力と等価な
値を示すものである。

次に第２のパラメータとした受光中の３点ａ。

ｂ、ｃを特定点として選び、ａ、ｂ、ｃ点の光量をａ、
ｂ’、ｃ’とし、更にａ点と６点の光量の差をａ　　−
ｃ　　＝ａ”とし、又す点と６点の光量の差をｂ’　−
ｃ　　＝ｂ”として、（ａ”＋ｂ”）／ｃ’をパラメー
タとする。尚、６点はａ点とｂ点との間、或はａ点、ｂ
点との間以外の任意の点でよい。この場合も前記第１の
パラメータ同旦、絶対光量が増加して傾き角度の絶対値
が増加しても第２のパラメータの値に変化はなく、正確
に眼屈折力を現す。

第２のパラメータの場合その値は、第４図（Ａ）の状態
では負、第４図（Ｂ）の状態ではＯ５第４図（Ｃ）の状
態では正となる。

尚、絶対光量が減少した場合については特に説明しなか
ったが、第１、第２のパラメータの値は上記したと同様
に変化しないことは言うまでもない。

前記表示器１４は該パラメータに基づき演算した眼屈折
力の情報を表示する。

又、上記実施例の構成中ハーフミラ−をビームスプリッ
タ−１偏光プリズム等に変更してもよいことは勿論であ
る。

［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、受光系は受光素子を用
いているので測定結果は瞬時に得られる、而も被検眼の
個体差等を完全に消去し得極めて精度のよい測定が可能
となるという優れた効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ａ）（８）（Ｃ）は本発明の基本概略及び被検
眼のデイオプター値の相違による光束の状態の相違を示
す説明図、第２図（Ａ）（８１（Ｃ）は第１図（Ａ）　
（Ｂ）　（Ｃ）に対応する光電面の光束の状態を示す説
明図、第３図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）は光源がある発光面積
を有する場合の光電面の光束の光量分布を示す図、第４
図（＾）（Ｂ）（Ｃ）は眼屈折力のパラメータの求め方
を示す説明図である。 １は投影系、２は受光系、３は被検眼、４は光源、５は
ハーフミラ−５８は対物レンズ、９は光電素子を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
   眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子上に前記眼底か
   らの光束を集光する為の受光系と、受光系の光路内に配
   置され受光光束の一部を遮光する為の遮光部材とを有し
   、前記受光素子上に投影された光束の少なくとも２つの
   特定点を選び、このうち１つの特定点の光量で他の特定
   点の光量を除して比を求めてパラメータとし、該パラメ
   ータを基に被検眼の眼屈折力を測定し得る様に構成した
   ことを特徴とする眼屈折力測定装置。 ２）２つの特定点の光量の比をパラメータとした請求項
   第１項記載の眼屈折力測定装置。 ３）２つの特定点の光量と任意の点の光量との差をそれ
   ぞれ求め２つの光量差の和と任意の点の光量との比をパ
   ラメータとした請求項第１項記載の眼屈折力測定装置。