JP2939984B2 - 眼屈折力測定装置 - Google Patents
眼屈折力測定装置Info
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- JP2939984B2 JP2939984B2 JP1074184A JP7418489A JP2939984B2 JP 2939984 B2 JP2939984 B2 JP 2939984B2 JP 1074184 A JP1074184 A JP 1074184A JP 7418489 A JP7418489 A JP 7418489A JP 2939984 B2 JP2939984 B2 JP 2939984B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対
しても有用である眼屈折力測定装置に関するものであ
る。
しても有用である眼屈折力測定装置に関するものであ
る。
［従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基
に眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚
的に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知
られている。
に眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚
的に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知
られている。
然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場
合、乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定
ができず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼
の位置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検
眼の位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるとい
う欠点を有していた。
合、乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定
ができず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼
の位置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検
眼の位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるとい
う欠点を有していた。
これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底
を照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影
し、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆる
フォトレフラクション方式の測定方法が提案されてい
る。
を照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影
し、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆる
フォトレフラクション方式の測定方法が提案されてい
る。
このフォトレフラクション方式の測定に於いては、被
検眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることがで
き、被検眼を固定することが困難である乳幼児の眼屈折
力の測定には有用であるとされているものである。
検眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることがで
き、被検眼を固定することが困難である乳幼児の眼屈折
力の測定には有用であるとされているものである。
［発明が解決しようとする課題］ 然し乍ら、斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折
力測定装置では、カメラの光軸に対し、斜め方向からス
トロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影す
るだけであり、光源の位置により測定できないディオプ
ター値があり、又測定可能な範囲が狭いという問題を有
している。
力測定装置では、カメラの光軸に対し、斜め方向からス
トロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影す
るだけであり、光源の位置により測定できないディオプ
ター値があり、又測定可能な範囲が狭いという問題を有
している。
更に、フォトレフラクション方式の眼屈折力測定装置
では、カメラの光軸と被検者の視線の方向が合致してい
ることを要するが、従来のこの種の眼屈折力測定装置で
は、検者が被検者の視線の方向を読取り、正面を向いて
いるかどうかを判断し、正面を向いていると判断した場
合に測定用に撮影していた。
では、カメラの光軸と被検者の視線の方向が合致してい
ることを要するが、従来のこの種の眼屈折力測定装置で
は、検者が被検者の視線の方向を読取り、正面を向いて
いるかどうかを判断し、正面を向いていると判断した場
合に測定用に撮影していた。
従って、その判断は検者の経験や勘に頼るもので、判
断の結果は検者の熟練度に大きく左右されており、又判
断の結果については曖昧さが残ることはやむを得なかっ
た。更に、判断した時点と撮影の時点（測定の時点）と
はずれがあり、判断した時点から測定の時点迄に被検者
の視線が動いてしまう虞れがあった。この為、従来の眼
屈折力測定装置では、操作性が悪いと共に測定結果には
問題があった。
断の結果は検者の熟練度に大きく左右されており、又判
断の結果については曖昧さが残ることはやむを得なかっ
た。更に、判断した時点と撮影の時点（測定の時点）と
はずれがあり、判断した時点から測定の時点迄に被検者
の視線が動いてしまう虞れがあった。この為、従来の眼
屈折力測定装置では、操作性が悪いと共に測定結果には
問題があった。
そこで、本出願人は、先の出願、特願昭63−238505号
に於いて、被検眼眼底に光源像を投影し、眼底で反射さ
れる光源からの光束をエッヂ状の遮光部材で遮ぎり、遮
ぎった光束を受光素子で受け、その光束の光量分布状態
を基に眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置を提案し、
如何なるディオプター値でも測定を可能とし、前述した
問題点のうち前者を解決した。本発明は該眼屈折力測定
装置を基本として、該装置で得られる光量分布状態から
被検者の視線方向を判断し、検者の人為的測定誤差をな
くそうとするものである。
に於いて、被検眼眼底に光源像を投影し、眼底で反射さ
れる光源からの光束をエッヂ状の遮光部材で遮ぎり、遮
ぎった光束を受光素子で受け、その光束の光量分布状態
を基に眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置を提案し、
如何なるディオプター値でも測定を可能とし、前述した
問題点のうち前者を解決した。本発明は該眼屈折力測定
装置を基本として、該装置で得られる光量分布状態から
被検者の視線方向を判断し、検者の人為的測定誤差をな
くそうとするものである。
［課題を解決するための手段］ 本発明は、被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系
と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子と、該
受光素子上に眼底からの光束を受光する受光系と、前記
眼底からの光束の一部を遮光する様に該受光系の光路内
に配置されるエッヂ状の遮光部材と、前記受光素子に投
影される光束の光量分布状態に基づき被検眼の眼屈折力
を演算する演算部とを備えた眼屈折力測定装置に於い
て、前記受光素子の映像から被検眼の角膜反射により形
成される輝点像位置を求めると共に、該映像から被検眼
の中心を求め、該被検眼中心と該輝点像位置との比較に
より被検眼の視線方向を検出する様構成したことを特徴
としたものである。
と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子と、該
受光素子上に眼底からの光束を受光する受光系と、前記
眼底からの光束の一部を遮光する様に該受光系の光路内
に配置されるエッヂ状の遮光部材と、前記受光素子に投
影される光束の光量分布状態に基づき被検眼の眼屈折力
を演算する演算部とを備えた眼屈折力測定装置に於い
て、前記受光素子の映像から被検眼の角膜反射により形
成される輝点像位置を求めると共に、該映像から被検眼
の中心を求め、該被検眼中心と該輝点像位置との比較に
より被検眼の視線方向を検出する様構成したことを特徴
としたものである。
［作用］ 被検眼の中心は受光素子の光量分布により求めること
ができる。即ち、瞳孔の境界位置、虹彩の境界位置で著
しい光量変化があるのでその境界位置より被検眼の中震
を求めることができる。又、被検眼の角膜反射により形
成される輝点像の位置は視線の移動に伴って被検眼中心
よりずれるので被検眼の中心と輝点の位置とを比較すれ
ば、被検眼の視線方向を検出できる。
ができる。即ち、瞳孔の境界位置、虹彩の境界位置で著
しい光量変化があるのでその境界位置より被検眼の中震
を求めることができる。又、被検眼の角膜反射により形
成される輝点像の位置は視線の移動に伴って被検眼中心
よりずれるので被検眼の中心と輝点の位置とを比較すれ
ば、被検眼の視線方向を検出できる。
［実 施 例］ 以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。
先ず、先の出願に於いて提案した眼屈折装置について
説明する。
説明する。
第１図に於いて、１は光源像を被検眼３の眼底７に投
影する為の投影系であり、２は眼底７により反射された
光束10を受光する為の受光系であり、投影系１及び受光
系２は被検眼３に対向して配置される。
影する為の投影系であり、２は眼底７により反射された
光束10を受光する為の受光系であり、投影系１及び受光
系２は被検眼３に対向して配置される。
前記投影系１は、光源４及び光源４からの光束11を被
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラー５から成
り、該投影系１は光源４からの光束11を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の像を形成する様に投影するもので、
被検眼３の眼屈折力が基準ディオプター値（基準屈折
力）の場合に眼底７上に光源４の像が合焦されるように
光源４と被検眼３との距離が設定されている。
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラー５から成
り、該投影系１は光源４からの光束11を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の像を形成する様に投影するもので、
被検眼３の眼屈折力が基準ディオプター値（基準屈折
力）の場合に眼底７上に光源４の像が合焦されるように
光源４と被検眼３との距離が設定されている。
前記受光系２は、対物レンズ８及び受光素子９から成
り、眼底７からの光束10はハーフミラー５を透過して受
光素子９上に導かれる。
り、眼底７からの光束10はハーフミラー５を透過して受
光素子９上に導かれる。
該受光素子９は、エリアCCD、撮像管或はこれらの２
以上の集合体であり、受光素子９の受光面9aは対物レン
ズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置され
る。
以上の集合体であり、受光素子９の受光面9aは対物レン
ズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置され
る。
前記受光系２の光路内には、ハーフミラー５に関して
光源４と共役な位置に対物レンズ８の光軸Ｏを境界とし
て光束10の片側を遮光する為のエッヂ状の遮光部材12を
配置する。
光源４と共役な位置に対物レンズ８の光軸Ｏを境界とし
て光束10の片側を遮光する為のエッヂ状の遮光部材12を
配置する。
又、前記受光素子９には演算器13が接続され、該演算
器13は受光素子９の受光状態、光量分布よりディオプタ
ー値を演算し、その結果を表示器14に出力する様になっ
ている。
器13は受光素子９の受光状態、光量分布よりディオプタ
ー値を演算し、その結果を表示器14に出力する様になっ
ている。
次に上記構成の眼屈折力測定装置に於ける眼屈折力測
定は下記の如く行われる。
定は下記の如く行われる。
第２図（Ａ）に示す様に、被検眼３のディオプター値
が基準ディオプター値に比べて負のディオプター値の場
合には、光源４の像は眼底７の前方で結像され、この光
束により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反射
された光束10を考えると、この光束10は遮光部材12の前
方、即ち被検眼３側で集光され、対物レンズ８により受
光素子９上に投影される光束の上半分（斜線部分）が遮
光される。一方、第２図（Ｂ）に示す様に、被検眼のデ
ィオプター値が基準ディオプター値の場合には、光束10
は遮光部材12上に集光されるもので、光束10は遮光部材
12によって遮られない。
が基準ディオプター値に比べて負のディオプター値の場
合には、光源４の像は眼底７の前方で結像され、この光
束により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反射
された光束10を考えると、この光束10は遮光部材12の前
方、即ち被検眼３側で集光され、対物レンズ８により受
光素子９上に投影される光束の上半分（斜線部分）が遮
光される。一方、第２図（Ｂ）に示す様に、被検眼のデ
ィオプター値が基準ディオプター値の場合には、光束10
は遮光部材12上に集光されるもので、光束10は遮光部材
12によって遮られない。
又、第２図（Ｃ）に示す様に、被検眼３のディオプタ
ー値が基準ディオプター値より正の場合には、光源４の
像は眼底７の後方で結像するように投影され、前述と同
様に眼底７で反射された光束10は遮光部材12の後方、即
ち受光素子９側で集光され、受光素子９上に投影される
光束10は第２図（Ａ）とは逆の部分の光束（図中では上
半分）が遮光される。
ー値が基準ディオプター値より正の場合には、光源４の
像は眼底７の後方で結像するように投影され、前述と同
様に眼底７で反射された光束10は遮光部材12の後方、即
ち受光素子９側で集光され、受光素子９上に投影される
光束10は第２図（Ａ）とは逆の部分の光束（図中では上
半分）が遮光される。
而して、受光面9aに投影される光束は基準ディオプタ
ー値に対して被検眼３のディオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
ディオプター値が求められる。
ー値に対して被検眼３のディオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
ディオプター値が求められる。
受光素子９はこの受光面9aに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器13は受光素子
９からの信号を基に、受光面9a上に形成される光束の光
量分布を検出し、基準となるディオプター値に対し被検
眼の眼屈折力が正か負かを判断すると共にその絶対値を
演算し、演算結果を表示器14に出力し、表示器14は求め
られた結果を表示する。
布を検出する為のものであり、前記演算器13は受光素子
９からの信号を基に、受光面9a上に形成される光束の光
量分布を検出し、基準となるディオプター値に対し被検
眼の眼屈折力が正か負かを判断すると共にその絶対値を
演算し、演算結果を表示器14に出力し、表示器14は求め
られた結果を表示する。
尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラー
を使用したが、ビームスプリッター、偏向プリズム等種
々の光束分離手段を用いることは勿論である。
を使用したが、ビームスプリッター、偏向プリズム等種
々の光束分離手段を用いることは勿論である。
又、第３図（Ａ）〜（Ｅ）に於いて、受光面9aに形成
される光束の光量分布状態を説明する。
される光束の光量分布状態を説明する。
尚、第３図（Ａ）〜（Ｅ）に於いて説明を簡略化する
為、光源４の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部
材12と対物レンズ８とを一致させている。この為、光源
４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材12は省略して示している。
為、光源４の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部
材12と対物レンズ８とを一致させている。この為、光源
４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材12は省略して示している。
第３図（Ａ）〜（Ｅ）は被検眼の屈折力Ｄが基準屈折
力D0に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面9a上に
投影されるものとする。
力D0に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面9a上に
投影されるものとする。
光源４と被検眼瞳孔６との距離をに設定しこの光源
の像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力D0と
すると である。
の像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力D0と
すると である。
第３図（Ａ）は被検眼の屈折力がＤ（＜D0）の場合
の、光軸に対し直角方向にＬの長さを有するスリット状
の光源４の軸上の一点S0からの投影光束を示すもので、
点S0の像は一旦、S0′に結像され、被検眼眼底７には、
ぼけた像として投影される。D0−Ｄが大きくなるに従い
投影される領域7aは広くなる。
の、光軸に対し直角方向にＬの長さを有するスリット状
の光源４の軸上の一点S0からの投影光束を示すもので、
点S0の像は一旦、S0′に結像され、被検眼眼底７には、
ぼけた像として投影される。D0−Ｄが大きくなるに従い
投影される領域7aは広くなる。
第３図（Ｂ）は受光系２、及び、被検眼眼底７からの
反射光束の状態を示すものである。
反射光束の状態を示すものである。
第３図（Ｂ）に示す様に、被検眼眼底７上の投影領域
の端部の点I-nからの光束を考えると、この点の像I-n′
は被検眼瞳孔から′の距離の位置に結像され、この光
束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位置に配
置した受光素子９上に投影される。尚、この′と被検
眼の屈折力Ｄの関係式は下記の通りである。
の端部の点I-nからの光束を考えると、この点の像I-n′
は被検眼瞳孔から′の距離の位置に結像され、この光
束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位置に配
置した受光素子９上に投影される。尚、この′と被検
眼の屈折力Ｄの関係式は下記の通りである。
一方、この眼底上の一点から発した光束のエッヂ上で
の広がり幅Δは被検眼の瞳径をｕとすると、第３図
（Ｂ）から明らかな様に、 であり、第（１）式、第（２）式より となり、被検眼３の屈折力Ｄと基準屈折力D0との差が大
になるに従い遮光部材12上の広がりは大きくなる。
の広がり幅Δは被検眼の瞳径をｕとすると、第３図
（Ｂ）から明らかな様に、 であり、第（１）式、第（２）式より となり、被検眼３の屈折力Ｄと基準屈折力D0との差が大
になるに従い遮光部材12上の広がりは大きくなる。
次に、受光素子９上での光束の広がりについて述べ
る。受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、
対物レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されてお
り、被検眼瞳孔６の径をｕ、対物レンズ８の倍率をβと
すると、受光素子９上ではβｕの径の領域（被検眼の屈
折力に影響を受けない）に光束が投影される。
る。受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、
対物レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されてお
り、被検眼瞳孔６の径をｕ、対物レンズ８の倍率をβと
すると、受光素子９上ではβｕの径の領域（被検眼の屈
折力に影響を受けない）に光束が投影される。
又、光軸に対して前記I-nと対称な点Inからの光束も
同様に被検眼瞳孔６から′の位置に像In′を結像した
後、受光素子９上の同じ領域βｕに投影される。光源４
を点光源として、遮光部材12が無いものとした時、これ
ら眼底７からの各点I-n、…I0、…In、からの光束の積
分が受光素子９上の光量分布を決めるものである。
同様に被検眼瞳孔６から′の位置に像In′を結像した
後、受光素子９上の同じ領域βｕに投影される。光源４
を点光源として、遮光部材12が無いものとした時、これ
ら眼底７からの各点I-n、…I0、…In、からの光束の積
分が受光素子９上の光量分布を決めるものである。
ここで、受光素子９上での光量分布について考察する
ため、受光素子９上の光束投影位置の端部位置P-n、す
なわち、光軸を中心とした座標位置 に入射する光束を考えると、この位置に入射する光束は
第３図（Ｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることと
なる。又、同様に、光軸に対して、前記のP-n位置と対
称な位置Pnに入射する光束を考えると斜線Ａ′範囲の光
束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔６か
らの距離（光源４と共役位置）の位置に光軸の一方の
光束Ａ′を遮断するエッヂ状の遮光部材12を配置すると
受光素子９上のP-nの位置に入射する光束は遮光部材12
により遮断されず、このP-nの位置から上方の位置にい
くに従って光束は徐々に遮光され、中心P0位置で光束の
半分が遮光され、Pnの位置になると全ての光束が遮断さ
れることとなるものである。従って、エッヂ状の遮光部
材12により受光素子９上には上方に行くにしたがって暗
くなり、Pnの点で光量が０となる一定傾斜の光量分布と
なるものである。
ため、受光素子９上の光束投影位置の端部位置P-n、す
なわち、光軸を中心とした座標位置 に入射する光束を考えると、この位置に入射する光束は
第３図（Ｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることと
なる。又、同様に、光軸に対して、前記のP-n位置と対
称な位置Pnに入射する光束を考えると斜線Ａ′範囲の光
束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔６か
らの距離（光源４と共役位置）の位置に光軸の一方の
光束Ａ′を遮断するエッヂ状の遮光部材12を配置すると
受光素子９上のP-nの位置に入射する光束は遮光部材12
により遮断されず、このP-nの位置から上方の位置にい
くに従って光束は徐々に遮光され、中心P0位置で光束の
半分が遮光され、Pnの位置になると全ての光束が遮断さ
れることとなるものである。従って、エッヂ状の遮光部
材12により受光素子９上には上方に行くにしたがって暗
くなり、Pnの点で光量が０となる一定傾斜の光量分布と
なるものである。
以上の第３図（Ａ）〜（Ｃ）では、光源４の光軸上の
一点から発する光束のみを示したが、光源４の端部の一
点S-n（光源の大きさをＬとすると の座標位置の点）からの光束を考えると第３図（Ｄ）に
示すようになる。この点S-nからの光束は、第３図
（Ｄ）に示す被検眼眼底７上のI-n点からIn点の領域に
投影され、このI-n点、In点からの反射光は、前述と同
様に被検眼瞳孔６から′の距離の位置でIn′、In′の
像を結像した後、受光素子９上のβｕの径の領域に投影
されるものである。ここで、光源４の端部の点S-nから
発する光束のうち、受光素子９上の光束投影の端部位置
P-nに入射する光束は第３図（Ｄ）のＢの斜線領域の光
束となるものである。
一点から発する光束のみを示したが、光源４の端部の一
点S-n（光源の大きさをＬとすると の座標位置の点）からの光束を考えると第３図（Ｄ）に
示すようになる。この点S-nからの光束は、第３図
（Ｄ）に示す被検眼眼底７上のI-n点からIn点の領域に
投影され、このI-n点、In点からの反射光は、前述と同
様に被検眼瞳孔６から′の距離の位置でIn′、In′の
像を結像した後、受光素子９上のβｕの径の領域に投影
されるものである。ここで、光源４の端部の点S-nから
発する光束のうち、受光素子９上の光束投影の端部位置
P-nに入射する光束は第３図（Ｄ）のＢの斜線領域の光
束となるものである。
又、前記S-nの点と対称な光源４の一点Snからの光束
を考え、そのうち受光素子９上のP-nの点に入射する光
束を考えると第３図（Ｅ）のＣの斜線領域の光束とな
る。この様に、光源４がある大きさを有するものとして
考えた場合、受光素子９上の一点の光量は、光源４の各
点からの光束の総和として考えなければならない。
を考え、そのうち受光素子９上のP-nの点に入射する光
束を考えると第３図（Ｅ）のＣの斜線領域の光束とな
る。この様に、光源４がある大きさを有するものとして
考えた場合、受光素子９上の一点の光量は、光源４の各
点からの光束の総和として考えなければならない。
第４図（Ａ）は、この考え方に基づき、受光素子９上
のP-nの位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のS-nの位置から発する光束のうちP-n
の位置に入射する光束はＢの領域であり（第３図（Ｄ）
参照）、光源上での位置が上方に行くにしたがってその
光束も上方に移動し、軸上の光源位置S0ではＡの領域の
光束となり（第３図（Ｃ）参照）、光源上でのSnの位置
ではＣの領域の光束となる（第３図（Ｅ）参照）。従っ
て、受光素子９上のP-nの点での光量は、これらの光束
の総和として考えられる。
のP-nの位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のS-nの位置から発する光束のうちP-n
の位置に入射する光束はＢの領域であり（第３図（Ｄ）
参照）、光源上での位置が上方に行くにしたがってその
光束も上方に移動し、軸上の光源位置S0ではＡの領域の
光束となり（第３図（Ｃ）参照）、光源上でのSnの位置
ではＣの領域の光束となる（第３図（Ｅ）参照）。従っ
て、受光素子９上のP-nの点での光量は、これらの光束
の総和として考えられる。
ここで、被検眼瞳孔６からの距離の位置に遮光部材
12を配置した時の受光素子９上の点P-nの光量を示す模
式図を第４図（Ｂ）に示す。第４図（Ｂ）は光源上の位
置が変化するにしたがって遮光部材12により光束がどの
様に遮光されるかを示すものである。第４図（Ｂ）の横
軸は光源上の座標位置、縦軸は光量を示すものであり、
光源上での各点からの光束を考えると、座標位置の （Ｌは光源の大きさ）点から０までの光束は遮光部材12
により遮光されず、座標位置の０点を過ぎると徐々に遮
光され、Δ（前述の光束の広がり）の位置で全ての光束
が遮断される事になるものである。ここで遮光されない
場合の光源上の各点からの光量をｋとして光源上での各
点からの光量の寄与を示したものが第４図（Ｂ）であ
り、斜線部の面積が受光素子上のP-nの点の光量値に対
応するものである。この面積値Ｔは下記のようになる。
12を配置した時の受光素子９上の点P-nの光量を示す模
式図を第４図（Ｂ）に示す。第４図（Ｂ）は光源上の位
置が変化するにしたがって遮光部材12により光束がどの
様に遮光されるかを示すものである。第４図（Ｂ）の横
軸は光源上の座標位置、縦軸は光量を示すものであり、
光源上での各点からの光束を考えると、座標位置の （Ｌは光源の大きさ）点から０までの光束は遮光部材12
により遮光されず、座標位置の０点を過ぎると徐々に遮
光され、Δ（前述の光束の広がり）の位置で全ての光束
が遮断される事になるものである。ここで遮光されない
場合の光源上の各点からの光量をｋとして光源上での各
点からの光量の寄与を示したものが第４図（Ｂ）であ
り、斜線部の面積が受光素子上のP-nの点の光量値に対
応するものである。この面積値Ｔは下記のようになる。
同様にして、受光素子上での他の点についても考察す
る。第５図（Ａ）は受光素子上での中心点P0に入射する
光束を第４図（Ａ）と同様に示したものであり、光源上
のS-nの点からの光束の内P0の点に入射する光束はB0の
斜線領域、光源上の中心S0の点からはA0の斜線領域、光
源上のSnの点からの光束はC0の斜線領域の光束となるも
のであり、受光素子９の中心に入射する光量は第５図
（Ｂ）の斜線領域の面積T0に対応することになる。すな
わち、光源の各点からの受光素子の中心点に入射する光
束を考えると、光源上の座標位置 の位置から の位置までは光束は遮光されず、 位置を過ぎると徐々に光束が遮られ の位置で全ての光束が遮断されることになり、この面積
値を前述と同様に計算すると下記値になる。
る。第５図（Ａ）は受光素子上での中心点P0に入射する
光束を第４図（Ａ）と同様に示したものであり、光源上
のS-nの点からの光束の内P0の点に入射する光束はB0の
斜線領域、光源上の中心S0の点からはA0の斜線領域、光
源上のSnの点からの光束はC0の斜線領域の光束となるも
のであり、受光素子９の中心に入射する光量は第５図
（Ｂ）の斜線領域の面積T0に対応することになる。すな
わち、光源の各点からの受光素子の中心点に入射する光
束を考えると、光源上の座標位置 の位置から の位置までは光束は遮光されず、 位置を過ぎると徐々に光束が遮られ の位置で全ての光束が遮断されることになり、この面積
値を前述と同様に計算すると下記値になる。
同様にして、受光素子上での点Pnに入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第６図（Ａ）、第６図
（Ｂ）に示す。第６図（Ａ）において、光源上のS-nの
点からの光束の内Pnの点に入射する光束はＢ′の斜線領
域、光源上の中心S0の点からはＡ″の斜線領域、光源上
のP-nの点からの光束はＣ″の斜線領域の光束として示
す。この場合には、第６図（Ｂ）に示すように、光束の
各点から受光素子のPnの点に入射する光束を考えると、
光源上の の位置から−Δの位置までは光束は遮光されず、−Δ位
置を過ぎると徐々に光束が遮られ、０の位置で全ての光
束が遮断されることになり、この面積値を計算すると下
記値になる。
態、及びこの点での光量値を第６図（Ａ）、第６図
（Ｂ）に示す。第６図（Ａ）において、光源上のS-nの
点からの光束の内Pnの点に入射する光束はＢ′の斜線領
域、光源上の中心S0の点からはＡ″の斜線領域、光源上
のP-nの点からの光束はＣ″の斜線領域の光束として示
す。この場合には、第６図（Ｂ）に示すように、光束の
各点から受光素子のPnの点に入射する光束を考えると、
光源上の の位置から−Δの位置までは光束は遮光されず、−Δ位
置を過ぎると徐々に光束が遮られ、０の位置で全ての光
束が遮断されることになり、この面積値を計算すると下
記値になる。
これらの式（４）、（５）、（６）の結果からわかる
ように、受光素子９上の光量値は下方から上方にいくに
したがって、光量値は徐々に低くなるものであり、その
受光素子上での光量分布を図示すると第７図に示すよう
に直線的に変化する。
ように、受光素子９上の光量値は下方から上方にいくに
したがって、光量値は徐々に低くなるものであり、その
受光素子上での光量分布を図示すると第７図に示すよう
に直線的に変化する。
前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を
考えた場合の遮光部材12上での広がり幅Δが光源の大き
さＬの より小さな場合を想定して説明を行ったものである。
考えた場合の遮光部材12上での広がり幅Δが光源の大き
さＬの より小さな場合を想定して説明を行ったものである。
然し乍ら の場合、即ち基準ディオプター値D0に対する被検眼のデ
ィオプター値の偏差ΔＤが所定量以上の場合には、第10
図に示すような直線変化は示さない。これを第４図ない
し第６図にしたがって説明を行う。前述のように の場合には、第４図（Ｂ）、第５図（Ｂ）、第６図
（Ｂ）はそれぞれ第11図、第12図、第13図、に示す様に
なり、この光量変化は第７図に示す様な直線変化を示さ
ないことになる。
ィオプター値の偏差ΔＤが所定量以上の場合には、第10
図に示すような直線変化は示さない。これを第４図ない
し第６図にしたがって説明を行う。前述のように の場合には、第４図（Ｂ）、第５図（Ｂ）、第６図
（Ｂ）はそれぞれ第11図、第12図、第13図、に示す様に
なり、この光量変化は第７図に示す様な直線変化を示さ
ないことになる。
次に、第２図（Ｂ）で示す被検眼の屈折力が基準値で
ある場合、第２図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基準値
より正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量
分布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が
基準値である場合は、第８図に示す如く、均一分布、被
検眼の屈折力が正の場合は第９図で示す様に第７図で示
したものと逆な分布状態となる。
ある場合、第２図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基準値
より正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量
分布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が
基準値である場合は、第８図に示す如く、均一分布、被
検眼の屈折力が正の場合は第９図で示す様に第７図で示
したものと逆な分布状態となる。
上記した光量分布の傾斜がディオプター値（屈折力）
をそして、傾斜の方向がディオプター値の正負を表わ
す。以下第10図を参照して説明する。
をそして、傾斜の方向がディオプター値の正負を表わ
す。以下第10図を参照して説明する。
光量分布の傾きを と定義すると、 前記した光束の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記（４）
式より、 よって（７）式より 而して、（９）式は基準ディオプター値D0に対する被検
眼のディオプター値の偏差ΔＤと が比例していることを示している。従って、瞳孔径ｕが
分れば、この瞳孔径ｕと光量分布より求められる とで被検眼のディオプター値を求めることが可能とな
る。
式より、 よって（７）式より 而して、（９）式は基準ディオプター値D0に対する被検
眼のディオプター値の偏差ΔＤと が比例していることを示している。従って、瞳孔径ｕが
分れば、この瞳孔径ｕと光量分布より求められる とで被検眼のディオプター値を求めることが可能とな
る。
上述の如く、眼底から反射される光束の光量分布から
被検眼のディオプター値を求めることができる。
被検眼のディオプター値を求めることができる。
尚、上述した光量分布は模式的に表わしており、実際
には第14図（Ａ）で示す眼球の各部分に対応した光量の
分布の変化（第14図（Ｂ）参照、第14図（Ｂ）で示す光
量分布は基準ディオプター値での光量分布を示してい
る）、即ち角膜の反射により形成される輝点19での光量
の突出ρであるとか、瞳孔６を外れた虹彩20部分での光
量の落込みσ等がある。
には第14図（Ａ）で示す眼球の各部分に対応した光量の
分布の変化（第14図（Ｂ）参照、第14図（Ｂ）で示す光
量分布は基準ディオプター値での光量分布を示してい
る）、即ち角膜の反射により形成される輝点19での光量
の突出ρであるとか、瞳孔６を外れた虹彩20部分での光
量の落込みσ等がある。
本実施例では前記光量分布の状態から、具体的には第
14図（ｃ）で示す光量の変化率より輝点19及び瞳孔６の
境界点ｍ、ｎを求め、この輝点19及び境界点ｍ、ｎの位
置より瞳孔径ｕを求め、ついで被検者の視線方向を求め
ようとするものである。
14図（ｃ）で示す光量の変化率より輝点19及び瞳孔６の
境界点ｍ、ｎを求め、この輝点19及び境界点ｍ、ｎの位
置より瞳孔径ｕを求め、ついで被検者の視線方向を求め
ようとするものである。
被検者の視線が正面を向いている時は、輝点19は瞳孔
６の中心にあり、輝点19と境界点ｍ、ｎとの位置関係を
みることで視線方向と特定できる。
６の中心にあり、輝点19と境界点ｍ、ｎとの位置関係を
みることで視線方向と特定できる。
ここで、第15図（Ａ）、（Ｂ）により、視線方向と輝
点19との関係を説明する。
点19との関係を説明する。
第15図（Ａ）（Ｂ）中、Ｖは眼球の旋回点を示す。
第15図（Ａ）は被検眼３の視線方向と光軸Ｏの方向と
が合致している状態を示しており、光束11が角膜21で反
射することにより光源の虚像19が光軸Ｏ上に結ばれ、こ
れが前記した輝点である。次に、第15図（Ｂ）の如く被
検眼３が旋回点Ｖを中心にθだけ旋回すると、被検眼３
の視線Ｏ′と光軸Ｏとはやはりθの角度だけずれること
になる。この時、角膜21で反射する光束によって結ばれ
る虚像19′は光軸Ｏに対してｅ、瞳孔６の中心に対して
ｅ′ずれる。
が合致している状態を示しており、光束11が角膜21で反
射することにより光源の虚像19が光軸Ｏ上に結ばれ、こ
れが前記した輝点である。次に、第15図（Ｂ）の如く被
検眼３が旋回点Ｖを中心にθだけ旋回すると、被検眼３
の視線Ｏ′と光軸Ｏとはやはりθの角度だけずれること
になる。この時、角膜21で反射する光束によって結ばれ
る虚像19′は光軸Ｏに対してｅ、瞳孔６の中心に対して
ｅ′ずれる。
従って、輝点（虚像）19が瞳孔６の中心にあるか否か
を検出すれば、被検眼の視線Ｏ′の方向と光学系の光軸
Ｏの方向とが合致しているか否かを検出することができ
る。
を検出すれば、被検眼の視線Ｏ′の方向と光学系の光軸
Ｏの方向とが合致しているか否かを検出することができ
る。
以下、具体的に説明する。
第16図は本発明の一実施例の概略を示すブロック図で
ある。図中、15は前記した眼屈折力測定装置の光学系、
９は受光素子、13は演算器、14は表示器、16は受光素子
９の映像及び演算処理部の結果を記憶するフレームメモ
リ、17は演算処理部、18はフレームメモリ16、演算処理
部17の同期指令、シーケンス指令を行う制御部である。
ある。図中、15は前記した眼屈折力測定装置の光学系、
９は受光素子、13は演算器、14は表示器、16は受光素子
９の映像及び演算処理部の結果を記憶するフレームメモ
リ、17は演算処理部、18はフレームメモリ16、演算処理
部17の同期指令、シーケンス指令を行う制御部である。
以下、第17図〜第21図を参照して該実施例を説明す
る。
る。
尚、前記第10図の光量分布よりディオプター値の偏差
ΔＤを求める場合に、輝点の影響がないものとしてい
る。輝点は、測定結果に影響を及ぼすので、測定に際し
ては輝点の影響を除去するのが好ましい。
ΔＤを求める場合に、輝点の影響がないものとしてい
る。輝点は、測定結果に影響を及ぼすので、測定に際し
ては輝点の影響を除去するのが好ましい。
以下は、機転の影響を除去することも併せて説明す
る。
る。
先ず被検眼者の、両眼を含む範囲を受光素子９によっ
て撮像し、この映像をフレームメモリ16に取込み記憶す
る。又、この映像は両眼がそれぞれ所定のエリア例えば
右眼が（X1;Y1）に含まれる様に撮像されている。第18
図（Ｂ）は（X1;Y1）のエリアを拡大したものである。
て撮像し、この映像をフレームメモリ16に取込み記憶す
る。又、この映像は両眼がそれぞれ所定のエリア例えば
右眼が（X1;Y1）に含まれる様に撮像されている。第18
図（Ｂ）は（X1;Y1）のエリアを拡大したものである。
前記フレームメモリ16のエリア（X1;Y1）部分の光量
最大な点即ち電位が最大な点を調べる。
最大な点即ち電位が最大な点を調べる。
エリア（X1;Y1）での電位最大な点が求められれば、
これが輝点19であり、該輝点のフレームメモリ16中のビ
ットの位置から輝点19の位置が求められる。
これが輝点19であり、該輝点のフレームメモリ16中のビ
ットの位置から輝点19の位置が求められる。
輝点19が求められると、第19図（Ｂ）の如く該輝点を
中心とする輝点近傍の検知エリア（XS;YS）が設定され
る。エッヂと平行なＸ方向の走査線で検知エリア（XS;Y
S）の境界線と交差する点ａ点、ｂ点の光量を求め、こ
のａ点、ｂ点を直線で近似する。このａ点、ｂ点を結ん
だ直線が前記検知エリア（XS;YS）でのＸ方向の走査線
に於ける輝点19の影響を除去した光量分布を示すもので
ある（第19図（Ｃ）参照、尚図中δで示す光量分布は瞳
孔部分をＸ方向に走査して得られる光量分布曲線を示
す）。
中心とする輝点近傍の検知エリア（XS;YS）が設定され
る。エッヂと平行なＸ方向の走査線で検知エリア（XS;Y
S）の境界線と交差する点ａ点、ｂ点の光量を求め、こ
のａ点、ｂ点を直線で近似する。このａ点、ｂ点を結ん
だ直線が前記検知エリア（XS;YS）でのＸ方向の走査線
に於ける輝点19の影響を除去した光量分布を示すもので
ある（第19図（Ｃ）参照、尚図中δで示す光量分布は瞳
孔部分をＸ方向に走査して得られる光量分布曲線を示
す）。
而してａ点,b点間の近似直線の式は Ｌ＝｛（Lb−La）/Xs｝×Ｘ＋La …（10）となる。
ここで、エッヂと平行な方向に走査することとしたの
は、エッヂと平行な方向では光束の状態が対称であり、
理想的には輝点部分を除き光量分布は均一と考えられる
ので、直線で近似した場合の誤差も少ないからである。
は、エッヂと平行な方向では光束の状態が対称であり、
理想的には輝点部分を除き光量分布は均一と考えられる
ので、直線で近似した場合の誤差も少ないからである。
斯かる走査を検知エリア（XS;YS）全域に亘って行
い、検知エリア（XS;YS）について輝点19の影響を除去
した修正値を求める。前記フレームメモリ16の検知エリ
ア（XS;YS）部分についての記憶部を前記修正値に置換
し、この修正値に置換したものを新たに修正映像として
フレームメモリ16に記憶する。
い、検知エリア（XS;YS）について輝点19の影響を除去
した修正値を求める。前記フレームメモリ16の検知エリ
ア（XS;YS）部分についての記憶部を前記修正値に置換
し、この修正値に置換したものを新たに修正映像として
フレームメモリ16に記憶する。
次に、検知エリアを瞳を充分に含む（X2;Y2）に拡大
し（第20図（Ｂ））、前記修正映像について該検知エリ
ア（X2;Y2）をＹ方向（前記エッヂと直角な方向）に走
査して、走査した線上での光量分布を求める。このＹ方
向の走査線、特に輝点19を通る走査線での光量分布γ
（第20図（ｃ））が前記第10図で示した光量分布に相当
し、ディオプター値算出の基となるものである。
し（第20図（Ｂ））、前記修正映像について該検知エリ
ア（X2;Y2）をＹ方向（前記エッヂと直角な方向）に走
査して、走査した線上での光量分布を求める。このＹ方
向の走査線、特に輝点19を通る走査線での光量分布γ
（第20図（ｃ））が前記第10図で示した光量分布に相当
し、ディオプター値算出の基となるものである。
尚、光量分布γより傾斜を求めるについては、種々考
えられるが、例えば第21図に示す如く、最小二乗近似に
より直線を求め、この直線の傾きを求める等が挙げられ
る。
えられるが、例えば第21図に示す如く、最小二乗近似に
より直線を求め、この直線の傾きを求める等が挙げられ
る。
次に瞳孔径ｕ及びその中心位置を求める。
第14図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）にも示した様に、瞳孔部分
を外れ虹彩部分になると光量が急激に低下する（第20図
（Ｃ））。従って、光量分布γの変化率を求めると瞳孔
６と虹彩部分20の境界点ｍ、ｎで値が突出する。この境
界点ｍ、ｎの座標位置を前記フレームメモリから読みと
り、演算処理部17で演算すれば瞳孔径ｕ及び瞳孔の中心
位置を求めることができる。
を外れ虹彩部分になると光量が急激に低下する（第20図
（Ｃ））。従って、光量分布γの変化率を求めると瞳孔
６と虹彩部分20の境界点ｍ、ｎで値が突出する。この境
界点ｍ、ｎの座標位置を前記フレームメモリから読みと
り、演算処理部17で演算すれば瞳孔径ｕ及び瞳孔の中心
位置を求めることができる。
尚、瞳孔の境界点ｍ、ｎを求める場合、前記遮光部材
12のエッヂの位置如何に拘らず求めることができるが、
エッヂと平行な方向の走査線での光量分布より境界点
ｍ、ｎを求める様にすれば、エッヂ或は瞼の影響がない
ので、好都合である。
12のエッヂの位置如何に拘らず求めることができるが、
エッヂと平行な方向の走査線での光量分布より境界点
ｍ、ｎを求める様にすれば、エッヂ或は瞼の影響がない
ので、好都合である。
次に、演算で得られた瞳孔の中心位置と前に求めた輝
点19の位置とを演算処理部17で比較し、両位置が合致若
しくは設定した範囲に入っていれば、被検眼３が正面を
向いていると判定する。この判定結果は表示部14で表示
する。従って、検者は、表示部14の表示を確認しつつ測
定を行うことで、測定時期を的確に把握できると共に測
定した時期が適正であったかどうかも直に判断できる。
点19の位置とを演算処理部17で比較し、両位置が合致若
しくは設定した範囲に入っていれば、被検眼３が正面を
向いていると判定する。この判定結果は表示部14で表示
する。従って、検者は、表示部14の表示を確認しつつ測
定を行うことで、測定時期を的確に把握できると共に測
定した時期が適正であったかどうかも直に判断できる。
更に、判定結果を制御部18へフィードバックし、該制
御部18が適正時期に眼屈折力測定用の画像をフレームメ
モリ16に取込んで光両分布より眼屈折力の測定を行う様
にしてもよい。斯くの如くすれば、眼屈折力の自動測定
が可能となる。
御部18が適正時期に眼屈折力測定用の画像をフレームメ
モリ16に取込んで光両分布より眼屈折力の測定を行う様
にしてもよい。斯くの如くすれば、眼屈折力の自動測定
が可能となる。
上記実施例は輝点19が瞳孔６の中心にあるかないかを
判断したが、輝点19が虹彩の中心にあるかないかを判断
することによっても同様に視線方向と光軸とが合致して
いるか否かを判別できる。第14図（Ｂ）に見られる様に
虹彩20の境界部でも著しい光量変化があり、この光量変
化の位置を求めることで、虹彩20の径、中心位置が求め
られ、虹彩20の中心位置と輝点19の位置との比較で視線
方向を判別できる。
判断したが、輝点19が虹彩の中心にあるかないかを判断
することによっても同様に視線方向と光軸とが合致して
いるか否かを判別できる。第14図（Ｂ）に見られる様に
虹彩20の境界部でも著しい光量変化があり、この光量変
化の位置を求めることで、虹彩20の径、中心位置が求め
られ、虹彩20の中心位置と輝点19の位置との比較で視線
方向を判別できる。
尚、瞼が虹彩20、或は瞳孔６にかかっている場合、瞼
の影響を受けにくいＸ方向の複数の走査線上の光量分布
から虹彩20、瞳孔６の境界位置を求め、求められた点よ
り円（楕円）を演算し、演算により虹彩、瞳孔の径、中
心位置を求める様にしてもよい。
の影響を受けにくいＸ方向の複数の走査線上の光量分布
から虹彩20、瞳孔６の境界位置を求め、求められた点よ
り円（楕円）を演算し、演算により虹彩、瞳孔の径、中
心位置を求める様にしてもよい。
［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、被検者の視線方向を
検者の判断によらず的確迅速に判別することができ、測
定時間を短縮にし得ると共に検者の人為的誤差をなくし
得、測定精度を向上させ得、更に操作性も大幅に向上さ
せることができる。
検者の判断によらず的確迅速に判別することができ、測
定時間を短縮にし得ると共に検者の人為的誤差をなくし
得、測定精度を向上させ得、更に操作性も大幅に向上さ
せることができる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明が実施される眼屈折力測定装置の基本概
略図、第２図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）は被検眼のディオプタ
ー値の相違による光束の状態の相違を示す説明図、第３
図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）は受光及び被検眼眼
底からの反射光束の状態を示す説明図、第４図（Ａ）、
第５図（Ａ）、第６図（Ａ）は受光素子に到達する光源
各点の反射光束の状態を示す説明図、第４図（Ｂ）、第
５図（Ｂ）、第６図（Ｂ）は遮光部材によって遮られた
場合の各光束の光量変化を示す説明図、第７図、第８
図、第９図はディオプター値に対応した受光面での光量
分布状態を示す説明図、第10図は光量分布状態よりディ
オプター値を求める場合の説明図、第11図、第12図、第
13図は遮光部材上での広がり幅Δが光源の1/2の大きさ
より大きな場合の遮光部材によって遮光された場合の各
光束の光量変化を示す説明図、第14図（Ａ）は被検眼の
説明図、第14図（Ｂ）被検眼に対応する光量分布を示す
線図、第14図（ｃ）は光量分布の変化率を示す線図、第
15図（Ａ）（Ｂ）は光軸と視線及び輝点の関係を示す説
明図、第16図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
17図は該実施例に於けるフローチャート、第18図（Ａ）
は前記眼屈折力測定装置の撮像画面の図、第18図（Ｂ）
は被検眼部分を拡大した図、第19図（Ａ）は第18図
（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、第19図（Ｂ）は輝点
を含む範囲を示す図、第19図（Ｃ）は輝点を通過するエ
ッヂに対して平行な走査線の光量分布図、第20図（Ａ）
は第18図（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、第20図
（Ｂ）は瞳孔を含む走査領域を示す図、第20図（Ｃ）は
エッヂに対して直角方向の走査線の光量分布を示す図、
第21図は光量分布より傾斜を近似により求める場合を示
す説明図である。 １は投影系、２は受光系、３は被検眼、４は光源、５は
ハーフミラー、８は対物レンズ、９は受光素子、13は演
算器、14は表示器、16はフレームメモリ、17は演算処理
部、18は制御部を示す。
略図、第２図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）は被検眼のディオプタ
ー値の相違による光束の状態の相違を示す説明図、第３
図（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）は受光及び被検眼眼
底からの反射光束の状態を示す説明図、第４図（Ａ）、
第５図（Ａ）、第６図（Ａ）は受光素子に到達する光源
各点の反射光束の状態を示す説明図、第４図（Ｂ）、第
５図（Ｂ）、第６図（Ｂ）は遮光部材によって遮られた
場合の各光束の光量変化を示す説明図、第７図、第８
図、第９図はディオプター値に対応した受光面での光量
分布状態を示す説明図、第10図は光量分布状態よりディ
オプター値を求める場合の説明図、第11図、第12図、第
13図は遮光部材上での広がり幅Δが光源の1/2の大きさ
より大きな場合の遮光部材によって遮光された場合の各
光束の光量変化を示す説明図、第14図（Ａ）は被検眼の
説明図、第14図（Ｂ）被検眼に対応する光量分布を示す
線図、第14図（ｃ）は光量分布の変化率を示す線図、第
15図（Ａ）（Ｂ）は光軸と視線及び輝点の関係を示す説
明図、第16図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
17図は該実施例に於けるフローチャート、第18図（Ａ）
は前記眼屈折力測定装置の撮像画面の図、第18図（Ｂ）
は被検眼部分を拡大した図、第19図（Ａ）は第18図
（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、第19図（Ｂ）は輝点
を含む範囲を示す図、第19図（Ｃ）は輝点を通過するエ
ッヂに対して平行な走査線の光量分布図、第20図（Ａ）
は第18図（Ｂ）と同様被検眼部分の拡大図、第20図
（Ｂ）は瞳孔を含む走査領域を示す図、第20図（Ｃ）は
エッヂに対して直角方向の走査線の光量分布を示す図、
第21図は光量分布より傾斜を近似により求める場合を示
す説明図である。 １は投影系、２は受光系、３は被検眼、４は光源、５は
ハーフミラー、８は対物レンズ、９は受光素子、13は演
算器、14は表示器、16はフレームメモリ、17は演算処理
部、18は制御部を示す。
フロントページの続き (72)発明者 永井 憲行 東京都板橋区蓮沼町75番１号 東京光学 機械株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−172552（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−81324（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) A61B 3/103 A61B 3/113
Claims (1)
- 【請求項１】被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系
と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子と、該
受光素子上に眼底からの光束を受光する受光系と、前記
眼底からの光束の一部を遮光する様に該受光系の光路内
に配置されるエッヂ状の遮光部材と、前記受光素子に投
影される光束の光量分布状態に基づき被検眼の眼屈折力
を演算する演算部とを備えた眼屈折力測定装置に於い
て、前記受光素子の映像から被検眼の角膜反射により形
成される輝点像位置を求めると共に、該映像から被検眼
の中心を求め、該被検眼中心と該輝点像位置との比較に
より被検眼の視線方向を検出する様構成したことを特徴
とする眼屈折力測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1074184A JP2939984B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 眼屈折力測定装置 |
| US07/443,111 US5071245A (en) | 1988-12-06 | 1989-11-29 | Ocular refracting power measuring system |
| EP89312398A EP0373788B1 (en) | 1988-12-06 | 1989-11-29 | Ocular refracting power measuring system |
| DE68922973T DE68922973T2 (de) | 1988-12-06 | 1989-11-29 | Anordnung zur Bestimmung der Augenbrechkraft. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1074184A JP2939984B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 眼屈折力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02252432A JPH02252432A (ja) | 1990-10-11 |
| JP2939984B2 true JP2939984B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=13539831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1074184A Expired - Fee Related JP2939984B2 (ja) | 1988-12-06 | 1989-03-27 | 眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2939984B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110811537A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-21 | 赵成玉 | 一种功能眼镜系统 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP3140284B2 (ja) * | 1993-12-24 | 2001-03-05 | キヤノン株式会社 | ファインダー光学系を有する光学機器 |
| FR2952517B1 (fr) * | 2009-11-13 | 2012-07-20 | Essilor Int | Procede et dispositif de mesure automatique d'au moins une caracteristique de refraction des deux yeux d'un individu |
-
1989
- 1989-03-27 JP JP1074184A patent/JP2939984B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110811537A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-21 | 赵成玉 | 一种功能眼镜系统 |
| CN110811537B (zh) * | 2019-11-12 | 2020-10-13 | 赵成玉 | 一种功能眼镜系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02252432A (ja) | 1990-10-11 |
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