JPH02144951A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH02144951A
JPH02144951A JP29873288A JP29873288A JPH02144951A JP H02144951 A JPH02144951 A JP H02144951A JP 29873288 A JP29873288 A JP 29873288A JP 29873288 A JP29873288 A JP 29873288A JP H02144951 A JPH02144951 A JP H02144951A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
leads
semiconductor device
lead frame
bent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29873288A
Other languages
English (en)
Inventor
Namiki Moriga
森賀 南木
Masao Kobayashi
正夫 小林
Eizo Ito
伊藤 栄三
Tatsuya Hirai
達也 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH02144951A publication Critical patent/JPH02144951A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、樹脂でシールする中空型半導体装置に関す
るものである。
(従来の技術〕 第2図は従来のこの棚の中空型半導体装置の断面図であ
り、図において、1け下蓋、2は上蓋、3は下蓋lと上
蓋2とで形成された空間に置かれた半導体素子、4は半
導体素子3を塔載したIJ−ドフレーム、5は下蓋1と
上蓋2とリードフレーム4を固定する樹脂である。
第8図は従来の樹脂シール中空型半導体装置用リードフ
レーム4の内部リード拡大図であり、内部リードはほぼ
直線的に形成されており、屈曲点は少なく、また分岐点
は全くない。
次に動作について説明する。半導体素子3を搭載したリ
ードフレーム4を、予め樹脂5aを固定した下蓋1上に
搭載し、その上に、予め樹脂5bを固定した上蓋2を、
第2図に示すような構造に構成する。ここで、樹脂5&
、5bは熱硬化性樹脂である。
そして、樹脂の熱硬化で、下蓋1と樹脂に5bとリード
フレーム4と上蓋2を接着固化させる己とにより封止を
行っている。
この加熱工程で、装置内気体が膨張したり、樹脂生成分
が気化するため、装置内圧力が高まる。
その時、装置内気体は、はぼ直線的に構成した、隣接す
る内部リードで形成される空間及びその空間を埋める部
側中2移動し、装置外部に排出される。そして、樹脂中
に貫通穴を形成する。
〔発明が解決しようとする課醜〕
従来の樹脂シール中空型半導体装置は以上のように構成
されるので、容器内外をつなぐ貫通穴が形成されやT<
、装置の気密性を損ない、信相性が低下するという問題
があった。
この発明は上記のような間N点を解消するためになされ
たもので、樹脂シール部に貫通穴の生じにくい樹脂シー
ル中空型半導体装置を得ることを目的とする。
CI!l!題を解決するための手段〕 この発明に係る半導体装置は、樹脂シール部にある内部
リードが多数の屈曲点や分岐点を有するとともに、瞬接
する内部リードと相互に対向するように配置したリード
フレームを搭載したものである〇 (作用〕 この発明における半導体装I11は、上記のリードフレ
ームを搭載Tることにより、気体の排出径路か長くなる
とと5に・排出気体圧力の曲り損失が発生するため、樹
脂シール内外な通じる[m穴が生じにくい。
(実施例〕 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
1i4は本発明に搭載されたリードフレーム4の内部リ
ード拡大図で、リード4aは多段階に屈曲し、さらに複
数の分岐点を有する。そして、隣接するリードと相互に
平行対向する構成になっている。つまり、隣接するリー
ド4a間のスペース4bがジグザグ状に屈曲する形状と
なる。
そして、上記リードフレーム4を使用し、従来技術で説
明したように、樹脂シール中空型半導体装置を構成する
このようなリードフレームを用いたものでは、樹脂5a
、5b % リードフレーム4、下蓋11上訛2を加熱
により接着固化する工程において、半導体装置内気体膨
張や樹脂成分気化により内圧が高まり、隣接する内部リ
ード4aで形成されるスペース4b及びこのスペースを
埋める樹脂中を移動し、装置外部!1:装置内気体が排
出されようとする。しかし、排出径路が屈曲する毎に、
排出気体の圧力は低下することに加え、排出径路が長く
なったことで、排出に対する抵抗は増大するので、装置
内気体は排出されなくなる。そのため、樹脂中に貫通穴
ができない。
なお、上記実施例で示した内部リードは、丁ぺて隣接す
るものと非接続であったが、電気的に不要な内部リード
が2本以上連紗する場合に、それらを接続して排出径路
を閉じてもJ−い。
〔発明の効果〕
取上のようにこの発明によれば、樹脂シール中空型半導
体装置に多段階に屈曲し、さらに複数の分岐点を有し、
隣接した内部リードが相互に対向する内部リードを構成
したので、樹脂シールgに貫通穴の生じにくい、気密性
のよい装置が得られるため、高信頼性を有する半導体装
置が得られる。
!!た、特にリードフレームと樹脂の界面が著しく延長
される結果、耐湿信細性(湿気の侵入防止)にも大幅な
向上効果がある。
4、  rI!J面の簡単な説明 第1図はこの発明の一実施例による樹脂シール中空型半
導体装置用り〜ドフレームの内部リードの拡大平面図、
第2図は従来の樹脂シール中空を半導体装置の断面図、
第8寵は従来の樹脂シール中空型半導体装置用リードフ
レームの内部リードの拡大平面図である。
図中、lは下蓋、2は上蓋、3け半導体素子、4はリー
ドフレーム、4aはリード、4bはスペース、5転51
)Gゴ樹脂である。
なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 下蓋と上蓋とにより構成される容器内に収納された半導
    体素子の内部リードが、上記下蓋と上蓋間より樹脂封止
    により外部に引き出されるようなされた樹脂シール中空
    型半導体装置において、隣接するリード間のスペースが
    ジグザグ状に屈曲する形状となるような内部リードを使
    用したことを特徴とする半導体装置。
JP29873288A 1988-11-26 1988-11-26 半導体装置 Pending JPH02144951A (ja)

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JPH02144951A true JPH02144951A (ja) 1990-06-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0786489A (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 Nec Corp 樹脂モールド型半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0786489A (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 Nec Corp 樹脂モールド型半導体装置

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