JPH02144744A - 外部メモリ診断機能付lsi - Google Patents

外部メモリ診断機能付lsi

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Publication number
JPH02144744A
JPH02144744A JP63300031A JP30003188A JPH02144744A JP H02144744 A JPH02144744 A JP H02144744A JP 63300031 A JP63300031 A JP 63300031A JP 30003188 A JP30003188 A JP 30003188A JP H02144744 A JPH02144744 A JP H02144744A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
cpu
external memory
lsi
comparator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63300031A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirohisa Suzuki
鈴木 浩尚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63300031A priority Critical patent/JPH02144744A/ja
Publication of JPH02144744A publication Critical patent/JPH02144744A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の目的】 (産業上の利用分野) この発明は、外部メモリを有しメモリ診断を必要とする
コンピュータシステムに用いて好適な外部メモリ診断機
能付LSIに関する。 (従来の技術) 従来、外部メモリを有するシステムでは、メモリ診断は
行われていないか、又は、ソフトウェアによるアクセス
でメモリ診断を実施していた。 メモリ診断を行う事は有益であるが5、CPUを専有し
ては、システムの効果的な処理を望めない。 また、CPUを介したメモリ診断では、メモリのライト
/リードに最低でもそれぞれ数Tサイクルずつ必要とす
るので高速化を望めない。このことは、メモリが少ない
容量のうちは、それほど問題でなくても、大容量化に移
行しつつある現在ではシステム的にもネックとなりかね
ない。 (発明が解決しようとする課題) 上述したように従来例では、メモリ診断をCPUの直接
アクセスによって行うため、処理に時間がかかり、CP
Uを専有してしまう事jt3になり、効果的な運用がな
されない。また、CPUの直接アクセスでメモリ診断を
行う為には、追加の人出力ボートを必要とする等の欠点
があった。 この発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、CP
Uの介在なしに高速にメモリ診断を行う外部メモリ診断
機能付LSIを提1」(することを目的とする。 [発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の外部メモリ診断機能付LSIは、CPUとメモ
リの間に位置し、テストパターンをメモリへ書込む制御
回路と、CPUの介在なくメモリのアドレスカウンタを
提供できるアドレスカウンタと、上記メモリからのデー
タ読出し時テストパターンとの一致を検出するコンパレ
ータと、診断スティタスを保持するスティタスレジスタ
とを具備し、外部からのトリガによってソフトウェアに
依存せず外部接続されるメモリの診断を行うことを特徴
とするものである。上記テストノくデータとしては固定
値、アドレスカウンタの値、または他のカウンタによる
値を使用する。 (作用) 上記構成において、まず外部トリガにより、メモリ診断
がスタートし、アドレスカウンタのカウントアツプが開
始される。制御回路によるテストデータの書込みがなさ
れ、次いで行われる読出しによりコンパレータにて比較
チエツクがなされる。この結果はスティタスレジスタに
保持され、CPUにより何時でも参照することができる
。上記動作をCPUの介在なしに実現するものである。 このことにより、処理速度の高速化を実現でき、かつC
PUの負担が軽減されるため、システムのスルーブツト
が向上する。 (実施例) 以下、図面を使用して本発明実施例について詳細に説明
する。第1図は本発明の実施例を示すブロック囚である
。図において、1は外部メモリ診断機能付LSIであり
、アドレスカウンタ11、コンパレータ12、スティタ
スレジスタ13、制御回路14で構成される。本メモリ
診断機能付LSIIは図示せぬCPUと外部メモリ2間
に接続される。CPUとはCPUバス3を介して接続さ
れ、CPUは直接的にメモリ診断の機能をコントロール
しないものとする。外部メモリ2は5−RAM、D−R
AM素子等から成る。 アドレスカウンタ11は、メモリのアドレスとデータを
提(J(L 、コンパレータ12は制御回路14により
書込まれたテストデータと読み出しデータを比較する。 スティタスレジスタ13は、メモリ診断の実行中、終了
のスティタス及びコンパレータ12による比較の結果を
格納する。制御回路14は、アドレスカウンタ11のク
ロックを制御し、メモリ診断の開始、終了を制御する。 第2図は本発明実施例の動作を示すフローチャートであ
る。図において、21は外部メモリ2にデータをライト
するステップであり、アドレスカウンタ11のカウント
アツプが始まるとアドレスと同じ値を外部メモリ2に書
込むサイクルが開始される。22は外部メモリ2からデ
ータをリードするステップであり、ステップ21でのラ
イトが終わった後、外部メモリ2から、データを読出し
、読出しアドレスとテストデータの値を比較する。 23は異常終了するステップであり、ステップ22での
比較が等しくない時、エラーフラグを立てて、外部メモ
リリードサイクルを終了する。 24は外部メモリチエツクの終了を示すステップであり
、ステップ22での比較が終わるか、異常終了をする場
合に、割込みを発生する。25はCPUがステータスを
リードするステップであり、割込み発生時にステータス
をリードすることで正常終了/異常終了の判定を行う。 以下、本発明実施例の動作について詳細に説明スル。ま
ず、CPUバス3を介して制御回路14にメモリ診断の
スタート信号を入力する。このことにより、制御回路1
4はアドレスカウンタ11にクロックを供給し、“00
000”  (16進表現)からアドレスカウンタ11
のカウントアツプが始まる。外部メモリ2へのデータ書
込みには、このアドレスが使用され、データはアドレス
値の下8ビットを使用する。この際、スティタスレジス
タ13には、メモリ診断の実行中のフラグが立っている
。 次にデータの書込みが終了すると、読出しモードになり
、アドレスカウンタ11のカウントアツプとともに外部
メモリ2からデータを読出して、コンパレータ12でデ
ータとアドレスが一致しているかを比較する。等しくな
い場合は、スティタスレジスタ13にエラーのフラグを
立て、割込みを発生してリードサイクルが終了する。等
しい場合は、次のデータを読出す。 エラーが発生しないで、データ/アドレス比較が終了す
ると、スティタスレジスタ13に正常終了のフラグが立
ち、割込みを発生する。割込みを受けて、CPUがステ
ィタスレジスタ13を参照することで、外部メモリ2の
診断が正常終了したかあるいは異常終了したかの判別が
行える。また、割込みなしの時、スティタスレジスタ1
3をリードすることで、メモリ診断を実行中か判別でき
る。 [発明の効果] 以上説明のように本発明によれば以下に列挙する効果が
得られる。 (1)CPUが介在しない事で処理速度の高速化が行え
る。 (2)CPUとは独立の動作をするので、メモリ診断の
結果のみをリードする事でCPUは別の処理を実行でき
る。従ってシステムのスループットが向上する。 (3)メモリ診断用の入出力ボートは使用しないで済む
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すブロック図、第2図は本
発明実施例の動作を示すフローチャートである。 11・・・アドレスカウンタ、12・・・コンパレータ
、13・・・スティタスレジスタ、14・・・制御回路
。 出願人代理人  弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)CPUとメモリの間に位置し、テストパターンを
    メモリへ書込む制御回路と、CPUの介在なくメモリの
    アドレス・データを提供できるアドレスカウンタと、上
    記メモリからのデータ読出し時上記テストパターンとの
    一致を検出するコンパレータと、診断ステイタスを保持
    するステイタスレジスタとを具備し、外部からのトリガ
    によってソフトウェアに依存せず外部接続されるメモリ
    の診断を行うことを特徴とする外部メモリ診断機能付L
    SI。
  2. (2)上記テストパターンとして上記アドレスカウンタ
    の値を使用することを特徴とする請求項1記載の外部メ
    モリ診断機能付LSI。
JP63300031A 1988-11-28 1988-11-28 外部メモリ診断機能付lsi Pending JPH02144744A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63300031A JPH02144744A (ja) 1988-11-28 1988-11-28 外部メモリ診断機能付lsi

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JP63300031A JPH02144744A (ja) 1988-11-28 1988-11-28 外部メモリ診断機能付lsi

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JPH02144744A true JPH02144744A (ja) 1990-06-04

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