JPH02141573A - イオンビームスパツタリング法及びその装置 - Google Patents
イオンビームスパツタリング法及びその装置Info
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- JPH02141573A JPH02141573A JP29655288A JP29655288A JPH02141573A JP H02141573 A JPH02141573 A JP H02141573A JP 29655288 A JP29655288 A JP 29655288A JP 29655288 A JP29655288 A JP 29655288A JP H02141573 A JPH02141573 A JP H02141573A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、傾斜薄膜を形成するイオンビームスパッタリ
ング法及びその装置に関するものである。
ング法及びその装置に関するものである。
近年、新規材料、デバイス等の研究開発により、多種多
様の薄膜が提案されている。この代表的なものとして、
複数の膜材を交互に堆積させた積層膜と複数の膜材を任
意の組成比で混晶させた合金膜とがある。
様の薄膜が提案されている。この代表的なものとして、
複数の膜材を交互に堆積させた積層膜と複数の膜材を任
意の組成比で混晶させた合金膜とがある。
しかし、積層膜は堆積させた各層の界面が存在するため
、その堆積させる膜材の性質により、層間の付着力が低
下する場合がある。このため、各層の界面に層間の付着
力を向上させるため、バッファ層を形成していた。従っ
て、成膜にあたりこのバッファ層を形成しなくてはなら
ず、1工程増える結果となった。
、その堆積させる膜材の性質により、層間の付着力が低
下する場合がある。このため、各層の界面に層間の付着
力を向上させるため、バッファ層を形成していた。従っ
て、成膜にあたりこのバッファ層を形成しなくてはなら
ず、1工程増える結果となった。
また、積層膜は上記の様に各層の界面が存在するため、
この界面に各層の残留応力が生じ、膜の一部にクランク
や変形が発生する欠点があった。
この界面に各層の残留応力が生じ、膜の一部にクランク
や変形が発生する欠点があった。
このため、この残留応力を解消する方法として熱処理(
アニール)を行なう必要があり、工程を複雑にする結果
となっていた。
アニール)を行なう必要があり、工程を複雑にする結果
となっていた。
一方、合金膜は複数の膜材を混晶させるため、積層膜の
ような欠点はないが、膜材の種類が限られてしまい、用
途が限定されていた。
ような欠点はないが、膜材の種類が限られてしまい、用
途が限定されていた。
このような不具合を解消するため、傾斜膜が注目されて
いる。傾斜膜とは、例えば膜材Aと膜材Bとが膜厚方向
に組成比が滑らかに変化する薄膜のことである。そして
、この傾斜膜は、膜厚方向に組成比が変化するが、膜材
Aと膜材Bとの明確な界面が存在しないため、積層膜の
ような欠点が無い。また、膜材を使用目的により選択で
きるため、合金膜よりも用途が広いなどの利点がある。
いる。傾斜膜とは、例えば膜材Aと膜材Bとが膜厚方向
に組成比が滑らかに変化する薄膜のことである。そして
、この傾斜膜は、膜厚方向に組成比が変化するが、膜材
Aと膜材Bとの明確な界面が存在しないため、積層膜の
ような欠点が無い。また、膜材を使用目的により選択で
きるため、合金膜よりも用途が広いなどの利点がある。
次に、この傾斜膜の成膜方法について説明する。
傾斜膜の製法は、その成膜する装置により2つの方法が
提案されている。
提案されている。
まず、第1の方法は、マグネトロンスパッタ法で行なう
ものである。即ち、周知の真空室内に2つのプラズマ発
生源とこれに対応した2つの異なるターゲットA、Bを
設け、この2つのプラズマ発生源のプラズマ出力を交互
に連続的に変化させるものである。従って、2つのター
ゲソ)A、 Bから放出されるスパッタ粒子が変化す
るため、膜材の組成比を徐々に変えて傾斜膜を形成する
ことができる。
ものである。即ち、周知の真空室内に2つのプラズマ発
生源とこれに対応した2つの異なるターゲットA、Bを
設け、この2つのプラズマ発生源のプラズマ出力を交互
に連続的に変化させるものである。従って、2つのター
ゲソ)A、 Bから放出されるスパッタ粒子が変化す
るため、膜材の組成比を徐々に変えて傾斜膜を形成する
ことができる。
第2の方法は、イオンビームスパッタリング法によるも
のである。即ち、2つのイオンビーム源とそれに対応す
る2つの異なるターゲットA、 Bを設け、この2つ
のイオンビーム源の出力を交互に連続的に変化させるも
のである。従って、第1の方法と同じようにターゲット
A; Bから放出される膜材の組成比を徐々に変えて傾
斜膜を形成することができる。
のである。即ち、2つのイオンビーム源とそれに対応す
る2つの異なるターゲットA、 Bを設け、この2つ
のイオンビーム源の出力を交互に連続的に変化させるも
のである。従って、第1の方法と同じようにターゲット
A; Bから放出される膜材の組成比を徐々に変えて傾
斜膜を形成することができる。
しかしながら従来の傾斜膜の成膜法は、次のような欠点
があった。
があった。
まず、第1の方法は、真空室内で異なる2つのターゲソ
)A、Bを隣接し、且つ連続してスパッタしているので
、この異なる膜材がお互いのプラズマ中に混在して汚し
合う相互コンタミネーションが生じる欠点があった。こ
のため、所望の組成比の傾斜膜が得られない結果となっ
た。
)A、Bを隣接し、且つ連続してスパッタしているので
、この異なる膜材がお互いのプラズマ中に混在して汚し
合う相互コンタミネーションが生じる欠点があった。こ
のため、所望の組成比の傾斜膜が得られない結果となっ
た。
また、スパッタされるターゲットと膜材を堆積する基板
との距離が長いと、ターゲットから放出された膜材が基
板に到達しないという欠点があった。
との距離が長いと、ターゲットから放出された膜材が基
板に到達しないという欠点があった。
次に、第2の方法は第1の方法よりスパッタされるター
ゲットと膜材を堆積する基板との距離を長くすることが
できるが、2つのターゲットA。
ゲットと膜材を堆積する基板との距離を長くすることが
できるが、2つのターゲットA。
Bを同一真空室内でスパッタしているため、第1の方法
と同一の相互コンタミネーションが生じる欠点があった
。
と同一の相互コンタミネーションが生じる欠点があった
。
さらに、第1及び第2の方法は、2つのプラズマ源また
はイオンビーム源を備える必要があり、各装置が大型化
すると共に高価になるという欠点があった。
はイオンビーム源を備える必要があり、各装置が大型化
すると共に高価になるという欠点があった。
本発明に係るイオンビームスパッタリングWZは、異な
る膜材からなる複数のターゲットを配置したターゲット
ホルダと、このターゲットホルダを移動してイオンビー
ムをそれぞれ配置したタゲットに照射する駆動装置と、
この駆動装置を制御してイオンビームを所定時間それぞ
れのターゲットに照射する制御装置とを備えている。
る膜材からなる複数のターゲットを配置したターゲット
ホルダと、このターゲットホルダを移動してイオンビー
ムをそれぞれ配置したタゲットに照射する駆動装置と、
この駆動装置を制御してイオンビームを所定時間それぞ
れのターゲットに照射する制御装置とを備えている。
また、本発明に係るイオンビームスパッタリング方法は
、異なる膜材からなる複数のターゲットをそれぞれ交互
にイオンビームを照射させることにより、スパッタ堆積
膜の成分組成を膜厚方向に変化させている。
、異なる膜材からなる複数のターゲットをそれぞれ交互
にイオンビームを照射させることにより、スパッタ堆積
膜の成分組成を膜厚方向に変化させている。
異なる膜材からなる複数のターゲットをそれぞれ交互に
イオンビームを照射させることにより、スパッタ堆積膜
の成分組成を膜厚方向に変化さる。
イオンビームを照射させることにより、スパッタ堆積膜
の成分組成を膜厚方向に変化さる。
(実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すイオンビームスパッタ
リング装置の構成図である。図において、1は真空室、
2はイオンビーム源、4a、4bはそれぞれ異なる膜材
からなるターゲット(例えば、4aはSt、4bはTa
) 、5は基板ホルダ、6はスパッタ堆積膜を形成する
基板、7はシャッタ、8はイオンビーム9のスポットサ
イズに見合った開孔8aを持つシャッターでターケン1
−4a或いは4bから放出したスパッタ粒子がそれぞれ
対面のターゲット表面に堆積するクロスコンタミネーシ
ョンを防止するためのシャッター、9はイオンビーム源
2から生成されたイオンビーム、10はイオンビーム9
によってターゲット4a、4bから放出されたスパッタ
粒子、11は矢印A方向に回転する駆動装置にあたるス
テッピングモータ、11aはステッピングモータ11の
回転シャフト、12は回転シャフトllaに連結された
ターゲットホルダ、13はステッピングモータ11を制
御する制御装置である。なお、14は図示していない排
気ポンプ等により、真空室lを減圧するための排気口で
ある。
リング装置の構成図である。図において、1は真空室、
2はイオンビーム源、4a、4bはそれぞれ異なる膜材
からなるターゲット(例えば、4aはSt、4bはTa
) 、5は基板ホルダ、6はスパッタ堆積膜を形成する
基板、7はシャッタ、8はイオンビーム9のスポットサ
イズに見合った開孔8aを持つシャッターでターケン1
−4a或いは4bから放出したスパッタ粒子がそれぞれ
対面のターゲット表面に堆積するクロスコンタミネーシ
ョンを防止するためのシャッター、9はイオンビーム源
2から生成されたイオンビーム、10はイオンビーム9
によってターゲット4a、4bから放出されたスパッタ
粒子、11は矢印A方向に回転する駆動装置にあたるス
テッピングモータ、11aはステッピングモータ11の
回転シャフト、12は回転シャフトllaに連結された
ターゲットホルダ、13はステッピングモータ11を制
御する制御装置である。なお、14は図示していない排
気ポンプ等により、真空室lを減圧するための排気口で
ある。
また、第2図は第1図におけるターゲットホルダ12の
周辺水した構成図である。ここで、ターゲットホルダ1
2は円板状をしており、ステッピングモータ11のシャ
フトllaを介して矢印六方向に回転する構造となって
いる。そして、このターゲットホルダ12上に半円状の
ターゲット4a、4bが円形を成すように配置されてお
り、イオンビーム9はこのターゲットの一部に集束する
ように調整しである。従って、イオンビーム9は、ステ
ッピングモータ11の回転により、ターゲソ)4aまた
はターゲット4bのいずれか一方に照射することになる
。このため、スパッタ粒子10はイオンビーム9が照射
されたターゲットの膜材となる。また、ステッピングモ
ータ11の回転軸にあたるシャフトllaは、イオンビ
ームの照射方向に対して角度θ(例えば、45度)とな
るように配置されている。そして、ステッピングモータ
11は、制御装置13により1回転(360度)を36
000パルスで回転するように制御されている。従って
、1パルス当たり0.01度の分解能を有する。
周辺水した構成図である。ここで、ターゲットホルダ1
2は円板状をしており、ステッピングモータ11のシャ
フトllaを介して矢印六方向に回転する構造となって
いる。そして、このターゲットホルダ12上に半円状の
ターゲット4a、4bが円形を成すように配置されてお
り、イオンビーム9はこのターゲットの一部に集束する
ように調整しである。従って、イオンビーム9は、ステ
ッピングモータ11の回転により、ターゲソ)4aまた
はターゲット4bのいずれか一方に照射することになる
。このため、スパッタ粒子10はイオンビーム9が照射
されたターゲットの膜材となる。また、ステッピングモ
ータ11の回転軸にあたるシャフトllaは、イオンビ
ームの照射方向に対して角度θ(例えば、45度)とな
るように配置されている。そして、ステッピングモータ
11は、制御装置13により1回転(360度)を36
000パルスで回転するように制御されている。従って
、1パルス当たり0.01度の分解能を有する。
なお、第2図ではターゲットならびに基板の加熱冷却機
構については、本発明の意図とは直接係りがないので図
面を省略した。
構については、本発明の意図とは直接係りがないので図
面を省略した。
次に、傾斜膜の成膜方法について説明する。まず、周知
のように真空室1を排気口14より減圧して、5X10
−5Torr程度の圧力とする。そして、例えばArを
イオン源として100eV程度のエネルギーを与え、タ
ーゲソ1−4a、4bに照射する。
のように真空室1を排気口14より減圧して、5X10
−5Torr程度の圧力とする。そして、例えばArを
イオン源として100eV程度のエネルギーを与え、タ
ーゲソ1−4a、4bに照射する。
このとき、制御装置13は、ステッピングモータ11に
よりターゲット4a、4bを備えたターゲットホルダ1
2を駆動する。
よりターゲット4a、4bを備えたターゲットホルダ1
2を駆動する。
第3図はこのステッピングモータ11の動作を示したタ
イムチャートである。ここで、最初にターゲソ)42領
域にイオンビームが照射する時間t1 とし、次にター
ゲット4b領域にイオンビームが照射する時間をt2と
すると、時間t1に対して時間t2を短く設定する。そ
して、この時間1、.12の割合を徐々に変えて行くよ
うに制御装置13で制御する。即ち、第4図に示す特性
図のようにターゲットホルダ12の1回転する時間(j
+ +Lz)に対するターゲット4a領域にイオンビー
ムが照射する時間t1の割合(以下、デユーティ−比と
いう)をスパッタ堆積時間に対して直線的に変化させる
。なお、このときのターゲットホルダ12の回転速度は
、一定角度(180度)を時間tI+tZ内に回転する
ため、第3図に示すようにイオンビームの照射時間が短
くなるほど速度が高くなる。
イムチャートである。ここで、最初にターゲソ)42領
域にイオンビームが照射する時間t1 とし、次にター
ゲット4b領域にイオンビームが照射する時間をt2と
すると、時間t1に対して時間t2を短く設定する。そ
して、この時間1、.12の割合を徐々に変えて行くよ
うに制御装置13で制御する。即ち、第4図に示す特性
図のようにターゲットホルダ12の1回転する時間(j
+ +Lz)に対するターゲット4a領域にイオンビー
ムが照射する時間t1の割合(以下、デユーティ−比と
いう)をスパッタ堆積時間に対して直線的に変化させる
。なお、このときのターゲットホルダ12の回転速度は
、一定角度(180度)を時間tI+tZ内に回転する
ため、第3図に示すようにイオンビームの照射時間が短
くなるほど速度が高くなる。
このような制御装置13の制御により、第5図(a)に
示す組成特性図のような薄膜を形成することができる。
示す組成特性図のような薄膜を形成することができる。
ここで、4a、4bはそれぞれのターゲットの膜材の割
合を示している。
合を示している。
また、近年、マイクロコンピュータの発達がめざましく
、このマイクロコンピュータをII 御V装置13に用
いれば、同図(b)に示すような膜厚に対して2つの膜
材の組成比が曲線的に変化している組成制御が難しい薄
膜を容易に形成することができる。さらに、上記に示し
た組成特性図の他に膜材の組成比を任意に構成した薄膜
を容易に、且つ自在に形成することが可能となる。
、このマイクロコンピュータをII 御V装置13に用
いれば、同図(b)に示すような膜厚に対して2つの膜
材の組成比が曲線的に変化している組成制御が難しい薄
膜を容易に形成することができる。さらに、上記に示し
た組成特性図の他に膜材の組成比を任意に構成した薄膜
を容易に、且つ自在に形成することが可能となる。
また、第6図は第2図におけるターゲット4a。
4bの形状が異なる場合を示した構成図である。
ここでは、クーゲット4a、4bが円形をなしており、
ターゲットホルダ12上に並べて配置しである。このよ
うな配置の場合、第2図のようにイオンビーム9の照射
に対して、ターゲット4a。
ターゲットホルダ12上に並べて配置しである。このよ
うな配置の場合、第2図のようにイオンビーム9の照射
に対して、ターゲット4a。
4bが連続して配置されていないため、ステ・7ピング
モータ11の動作を変える必要がある。
モータ11の動作を変える必要がある。
第7図は第6図の場合のステッピングモータの動作を示
すタイムチャートである。第6図のようにターゲットの
配置がイオンビームの照射に対して断続している場合、
ターゲットホルダ12にイオンビームを照射させないた
め、時間t3においてイオンビーム照射を休止しこの間
にターゲットホルダ12を180度回軸回転る。ここで
、最初にターゲット4a領域にイオンビームが照射する
時間をt4とし、次にターゲット4b領域にイオンビー
ムが照射する時間をt、とすると、時間t4に対して時
間t、を短く設定し、徐々にその割合を変えていくよう
に制御袋N13で制御する。
すタイムチャートである。第6図のようにターゲットの
配置がイオンビームの照射に対して断続している場合、
ターゲットホルダ12にイオンビームを照射させないた
め、時間t3においてイオンビーム照射を休止しこの間
にターゲットホルダ12を180度回軸回転る。ここで
、最初にターゲット4a領域にイオンビームが照射する
時間をt4とし、次にターゲット4b領域にイオンビー
ムが照射する時間をt、とすると、時間t4に対して時
間t、を短く設定し、徐々にその割合を変えていくよう
に制御袋N13で制御する。
即ち、第4図で説明したように、デユーティ−比−ta
/ (j4 + ts )をスパッタ堆積時間に対し
て直線または任意の特性に変化する。
/ (j4 + ts )をスパッタ堆積時間に対し
て直線または任意の特性に変化する。
これにより、第1図のイオンビームスパッタリング装置
と同様に第5図(a)、 (b)に示す組成特性を有
する薄膜を形成することができる。
と同様に第5図(a)、 (b)に示す組成特性を有
する薄膜を形成することができる。
次に、第8図は本発明に係る別の実施例を示した構成図
である。図において、第1図と同一部分には同一符号を
付する。3は角柱の形状を有するターゲットホルダであ
る。また、この図では示していないがターゲットホルダ
3に連結したシャフト11を介してステッピングモータ
11が図面の垂直方向に配置されている。そして、その
ステッピングモータ11には制御装置13が設けられて
いる。
である。図において、第1図と同一部分には同一符号を
付する。3は角柱の形状を有するターゲットホルダであ
る。また、この図では示していないがターゲットホルダ
3に連結したシャフト11を介してステッピングモータ
11が図面の垂直方向に配置されている。そして、その
ステッピングモータ11には制御装置13が設けられて
いる。
また、第9図は第8図におけるターゲットホルダ3の周
辺を示した構成図である。図において、4a、4bは角
柱のターゲットホルダの4辺に設けられた四角形のター
ゲットである。また、このターゲットホルダ3はシャフ
トllaを介してステッピングモータ11によって矢印
B方向に回転する構造になっている。
辺を示した構成図である。図において、4a、4bは角
柱のターゲットホルダの4辺に設けられた四角形のター
ゲットである。また、このターゲットホルダ3はシャフ
トllaを介してステッピングモータ11によって矢印
B方向に回転する構造になっている。
次に、薄膜の形成方法について説明する。真空室を減圧
し、イオンビーム9を生成するまでは、第1図と同一で
ある。本実施例では、角柱状の4辺に配置したターゲッ
トをイオンビーム9に対して回転されているので、イオ
ンビーム9がターゲットに照射する入射角θを変化させ
ることができる。即ち、制御装置13により、スパッタ
粒子の放出に最適な角度に設定することができる。
し、イオンビーム9を生成するまでは、第1図と同一で
ある。本実施例では、角柱状の4辺に配置したターゲッ
トをイオンビーム9に対して回転されているので、イオ
ンビーム9がターゲットに照射する入射角θを変化させ
ることができる。即ち、制御装置13により、スパッタ
粒子の放出に最適な角度に設定することができる。
第10図は第9図におけるステッピングモータ11の動
作を示すタイムチャートである。ここで、記号a 時点
においてターゲット4bにイオンビームが照射している
場合、その後、時間t6においてステッピングモータ1
1を1回転(180度)する。これにより、最初のター
ゲソ1−4bの対辺に位置するターゲット4aに移動す
る。従って、ターゲット4aは時間t7だけイオンビー
ム9が照射される。そして、次の時間tIlにはターゲ
ソ)4bにイオンビーム9が照射されることになる。
作を示すタイムチャートである。ここで、記号a 時点
においてターゲット4bにイオンビームが照射している
場合、その後、時間t6においてステッピングモータ1
1を1回転(180度)する。これにより、最初のター
ゲソ1−4bの対辺に位置するターゲット4aに移動す
る。従って、ターゲット4aは時間t7だけイオンビー
ム9が照射される。そして、次の時間tIlにはターゲ
ソ)4bにイオンビーム9が照射されることになる。
このように、第4図で説明したように、デユーティ−比
=t、/ (tv +tB)をスパッタ堆積時間に対し
て直線または任意の特性に変化する。これにより、第1
図のイオンビームスパッタリング装置と同様に第5図(
a)、 (b)に示す組成特性を有する薄膜を形成す
ることができる。
=t、/ (tv +tB)をスパッタ堆積時間に対し
て直線または任意の特性に変化する。これにより、第1
図のイオンビームスパッタリング装置と同様に第5図(
a)、 (b)に示す組成特性を有する薄膜を形成す
ることができる。
なお、上記実施例では、ステッピングモータ11を一方
方向に回転させてターゲソ)4a、4bの位置を移動さ
せたが、制御装置13の制御によりステッピングモータ
11を正逆方向に回転させてもよい。
方向に回転させてターゲソ)4a、4bの位置を移動さ
せたが、制御装置13の制御によりステッピングモータ
11を正逆方向に回転させてもよい。
また、第1図及び第8図の実施例に示したイオンビーム
源は、カウフマン形イオン源を図示したが、イオン源と
してはデュオプラズマトロン型イオン源、ホローカソー
ド型イオン源、ECRイオン源等他のイオン源を用いて
もよい。これらの総称をイオンビーム源と呼ぶことにす
る。
源は、カウフマン形イオン源を図示したが、イオン源と
してはデュオプラズマトロン型イオン源、ホローカソー
ド型イオン源、ECRイオン源等他のイオン源を用いて
もよい。これらの総称をイオンビーム源と呼ぶことにす
る。
また、第8図の実施例では、回転するターゲットの構成
を角柱状としたが、これを円筒形にしてもよい。
を角柱状としたが、これを円筒形にしてもよい。
以上説明のように本発明は、異なる膜材からなる複数の
ターゲットをそれぞれ交互にイオンビームを照射させる
ことにより、スパッタ堆積膜の成分組成を膜厚方向に変
化する傾斜膜を容易に精度良く形成することができる。
ターゲットをそれぞれ交互にイオンビームを照射させる
ことにより、スパッタ堆積膜の成分組成を膜厚方向に変
化する傾斜膜を容易に精度良く形成することができる。
第1図は本発明に係るイオンビームスパッタリング装置
の構成図、第2図は第1図におけるターゲットホルダ1
2の周辺を示す構成図、第3図はステッピングモータ1
2の動作を示すタイムチャート、第4図はデユーティ−
比を示す特性図、第5図(a)、 (b)は膜厚方向
の組成比を示す特性図、第6図はターゲットの形状が異
なる場合の構成図、第7図は第6図におけるステッピン
グモータ11の動作を示すタイムチャート、第8図は別
の実施例を示すイオンビームスパッタリング装置の構成
図、第9図は第8図におけるターゲットホルダ3周辺を
示す構成図、第1θ図は第9図におけるステッピングモ
ータ11の動作を示すタイムチャートである。 ■・・・真空室、2・・・イオンビーム源、3゜12・
・・ターゲットホルダ、4a、4b・・・ターゲット、
11・・・ステッピングモータ、13・・・制御装置。
の構成図、第2図は第1図におけるターゲットホルダ1
2の周辺を示す構成図、第3図はステッピングモータ1
2の動作を示すタイムチャート、第4図はデユーティ−
比を示す特性図、第5図(a)、 (b)は膜厚方向
の組成比を示す特性図、第6図はターゲットの形状が異
なる場合の構成図、第7図は第6図におけるステッピン
グモータ11の動作を示すタイムチャート、第8図は別
の実施例を示すイオンビームスパッタリング装置の構成
図、第9図は第8図におけるターゲットホルダ3周辺を
示す構成図、第1θ図は第9図におけるステッピングモ
ータ11の動作を示すタイムチャートである。 ■・・・真空室、2・・・イオンビーム源、3゜12・
・・ターゲットホルダ、4a、4b・・・ターゲット、
11・・・ステッピングモータ、13・・・制御装置。
Claims (2)
- (1)イオンビームスパッタリング法において、異なる
膜材からなる複数のターゲットをそれぞれ交互にイオン
ビームを照射させることにより、スパッタ堆積膜の成分
組成を膜厚方向に変化させることを特徴とするイオンビ
ームスパッタリング法。 - (2)真空室に隣接して設けられたイオンビーム源と、
前記真空室内に設けられイオンビーム源からのイオンビ
ームを照射するターゲットとを備えたイオンビームスパ
ッタ装置において、 異なる膜材からなる複数のターゲットを配置したターゲ
ットホルダと、 このターゲットホルダを移動してイオンビームをそれぞ
れ配置したターゲットに照射する駆動装置と、 この駆動装置を制御してイオンビームを所定時間それぞ
れのターゲットに照射する制御装置とを備えたことを特
徴とするイオンビームスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29655288A JPH02141573A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | イオンビームスパツタリング法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29655288A JPH02141573A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | イオンビームスパツタリング法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02141573A true JPH02141573A (ja) | 1990-05-30 |
Family
ID=17835015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29655288A Pending JPH02141573A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | イオンビームスパツタリング法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02141573A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0711436A (ja) * | 1993-06-25 | 1995-01-13 | Ebara Corp | 高速原子ビームスパッタ成膜装置及び傾斜機能薄膜の製造方法 |
EP1239306A3 (en) * | 2001-03-05 | 2004-02-25 | Alps Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing an optical filter having laminate film |
-
1988
- 1988-11-24 JP JP29655288A patent/JPH02141573A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0711436A (ja) * | 1993-06-25 | 1995-01-13 | Ebara Corp | 高速原子ビームスパッタ成膜装置及び傾斜機能薄膜の製造方法 |
EP1239306A3 (en) * | 2001-03-05 | 2004-02-25 | Alps Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing an optical filter having laminate film |
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