JPH1060639A - 積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法 - Google Patents
積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法Info
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- JPH1060639A JPH1060639A JP21731396A JP21731396A JPH1060639A JP H1060639 A JPH1060639 A JP H1060639A JP 21731396 A JP21731396 A JP 21731396A JP 21731396 A JP21731396 A JP 21731396A JP H1060639 A JPH1060639 A JP H1060639A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明の課題は、基板の移動速度を任意に制御
し得、短時間で成膜し得る積層薄膜製造装置及び積層薄
膜製造方法を提供することにある。 【解決手段】本発明は、基板29が蒸着源23,26に
近づくまでは基板29の回転速度を早めとし、基板29
の最前部が蒸着源23,26にさしかかった場合、蒸着
源23,26の上部に設けられたシャッター24,27
を開けると共に基板29の回転速度を蒸着源23,26
に適した速度に切り替え、基板29の最後部が蒸着源2
3,26を通過した場合、蒸着源23の上部に設けられ
たシャッター24,27を閉じると共に基板29の回転
速度を増速させる一連の工程を、所望の積層薄膜となる
まで各蒸着源23,26ごとに繰り返すことを特徴とす
る。
し得、短時間で成膜し得る積層薄膜製造装置及び積層薄
膜製造方法を提供することにある。 【解決手段】本発明は、基板29が蒸着源23,26に
近づくまでは基板29の回転速度を早めとし、基板29
の最前部が蒸着源23,26にさしかかった場合、蒸着
源23,26の上部に設けられたシャッター24,27
を開けると共に基板29の回転速度を蒸着源23,26
に適した速度に切り替え、基板29の最後部が蒸着源2
3,26を通過した場合、蒸着源23の上部に設けられ
たシャッター24,27を閉じると共に基板29の回転
速度を増速させる一連の工程を、所望の積層薄膜となる
まで各蒸着源23,26ごとに繰り返すことを特徴とす
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に2層以上
の積層膜を形成するための成膜装置であって、各蒸着源
材料が均一に消費され、かつ短時間での成膜を実現し得
る積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法に関する。
の積層膜を形成するための成膜装置であって、各蒸着源
材料が均一に消費され、かつ短時間での成膜を実現し得
る積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】蒸着法、スパッター法などの各種成膜法
において、基板上に複数の物質層を連続して積層させる
方法としては、蒸着源群と対向する位置に複数の基板を
取り付けた基板ホルダーを配置し、基板ホルダーを回転
して基板を公転運動させることにより各基板を複数の蒸
着源上に順次通過させ、各基板上に複数物質層からなる
積層膜を形成させる回転駆動方式や、蒸着源群と対向す
る位置に複数の基板を取り付けた基板ホルダーを配置
し、基板ホルダーを往復運動して複数の基板を並進往復
運動させることにより各基板を複数の蒸着源上に順次通
過させ、各基板上に複数物質層からなる積層膜を形成さ
せる並進駆動方式が知られている。
において、基板上に複数の物質層を連続して積層させる
方法としては、蒸着源群と対向する位置に複数の基板を
取り付けた基板ホルダーを配置し、基板ホルダーを回転
して基板を公転運動させることにより各基板を複数の蒸
着源上に順次通過させ、各基板上に複数物質層からなる
積層膜を形成させる回転駆動方式や、蒸着源群と対向す
る位置に複数の基板を取り付けた基板ホルダーを配置
し、基板ホルダーを往復運動して複数の基板を並進往復
運動させることにより各基板を複数の蒸着源上に順次通
過させ、各基板上に複数物質層からなる積層膜を形成さ
せる並進駆動方式が知られている。
【0003】図7は、従来のスパッターを利用した回転
駆動方式による積層薄膜製造装置を模式的に示した図で
あり、1は真空室、2はガス導入系、3は排気系、4は
複数のスパッター蒸着源、5は各スパッター蒸着源に対
応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャッタ
ー、6は各シャッター5の開閉を行うための駆動源、7
はスパッター蒸着源4に対向して配置されたスパッター
蒸着用の基板、8は基板7を搭載するための円形状の基
板ホルダー、9は基板ホルダー8に取り付けられた回転
駆動軸、10は回転駆動軸9を駆動させるため真空室外
に設けられた回転駆動モーター、11は回転駆動モータ
ー10を制御するための制御部、12は制御部11から
の電気信号を回転駆動モーター10に伝達するための信
号伝達経路、400はスパッター蒸着源4から発生する
蒸着粒子である。
駆動方式による積層薄膜製造装置を模式的に示した図で
あり、1は真空室、2はガス導入系、3は排気系、4は
複数のスパッター蒸着源、5は各スパッター蒸着源に対
応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャッタ
ー、6は各シャッター5の開閉を行うための駆動源、7
はスパッター蒸着源4に対向して配置されたスパッター
蒸着用の基板、8は基板7を搭載するための円形状の基
板ホルダー、9は基板ホルダー8に取り付けられた回転
駆動軸、10は回転駆動軸9を駆動させるため真空室外
に設けられた回転駆動モーター、11は回転駆動モータ
ー10を制御するための制御部、12は制御部11から
の電気信号を回転駆動モーター10に伝達するための信
号伝達経路、400はスパッター蒸着源4から発生する
蒸着粒子である。
【0004】このような従来のスパッターを利用した回
転駆動方式による積層薄膜製造装置において、基板ホル
ダー8に取り付けられた基板7は、回転駆動モーター1
0の回転に伴って一定の速度で公転運動しながら複数の
スパッター蒸着源4上を順次通過し、その面上に異なっ
た物質層からなる積層薄膜を形成する。
転駆動方式による積層薄膜製造装置において、基板ホル
ダー8に取り付けられた基板7は、回転駆動モーター1
0の回転に伴って一定の速度で公転運動しながら複数の
スパッター蒸着源4上を順次通過し、その面上に異なっ
た物質層からなる積層薄膜を形成する。
【0005】図8は、従来のスパッターを利用した並進
駆動方式による積層薄膜製造装置を模式的に示した図で
あり、1は真空室、2はガス導入系、3は排気系、4は
複数のスパッター蒸着源、5は各スパッター蒸着源に対
応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャッタ
ー、6は各シャッター5の開閉を行うための駆動源、7
はスパッター蒸着源4に対向して配置されたスパッター
蒸着用の基板、13は基板7を搭載するための矩形状の
基板ホルダー、14は並進駆動軸、15は真空室1の外
部に設けられた並進駆動モーター、16は並進駆動軸1
4の移動速度を制御するための制御部、17は制御部1
6からの電気信号を並進駆動モーター15に伝達するた
めの信号伝達経路、400はスパッター蒸着源4から発
生する蒸着粒子である。
駆動方式による積層薄膜製造装置を模式的に示した図で
あり、1は真空室、2はガス導入系、3は排気系、4は
複数のスパッター蒸着源、5は各スパッター蒸着源に対
応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャッタ
ー、6は各シャッター5の開閉を行うための駆動源、7
はスパッター蒸着源4に対向して配置されたスパッター
蒸着用の基板、13は基板7を搭載するための矩形状の
基板ホルダー、14は並進駆動軸、15は真空室1の外
部に設けられた並進駆動モーター、16は並進駆動軸1
4の移動速度を制御するための制御部、17は制御部1
6からの電気信号を並進駆動モーター15に伝達するた
めの信号伝達経路、400はスパッター蒸着源4から発
生する蒸着粒子である。
【0006】このような従来のスパッターを利用した並
進駆動方式による積層薄膜製造装置において、基板ホル
ダー13に取り付けられた基板7は、並進駆動モーター
15により一定の速度で直進的に並進運動しながら複数
のスパッター蒸着源4上を順次通過し、その面上に異な
った物質層からなる積層薄膜を形成する。
進駆動方式による積層薄膜製造装置において、基板ホル
ダー13に取り付けられた基板7は、並進駆動モーター
15により一定の速度で直進的に並進運動しながら複数
のスパッター蒸着源4上を順次通過し、その面上に異な
った物質層からなる積層薄膜を形成する。
【0007】上記、いずれの従来方式においても、スパ
ッター蒸着源4上あるいはその近傍を通過しているとき
のみ、スパッター蒸着源4から飛来する蒸着粒子400
が基板7に付着し成膜される。
ッター蒸着源4上あるいはその近傍を通過しているとき
のみ、スパッター蒸着源4から飛来する蒸着粒子400
が基板7に付着し成膜される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来技術において積層薄膜を形成する場合、以下の
ような問題点があった。 (1)図7に示す回転駆動方式の場合、基板が定常速度
で公転しだすと、基板が一つの蒸着源上を通過して次の
蒸着源上にいたるまでの間も基板は同じ速度で動いてい
る。そのため、蒸着源間では基板に蒸着粒子が堆積しな
いにもかかわらず、蒸着源からは蒸着粒子が常に飛び出
し続けることになり、蒸着源材料は消耗し続ける。
うな従来技術において積層薄膜を形成する場合、以下の
ような問題点があった。 (1)図7に示す回転駆動方式の場合、基板が定常速度
で公転しだすと、基板が一つの蒸着源上を通過して次の
蒸着源上にいたるまでの間も基板は同じ速度で動いてい
る。そのため、蒸着源間では基板に蒸着粒子が堆積しな
いにもかかわらず、蒸着源からは蒸着粒子が常に飛び出
し続けることになり、蒸着源材料は消耗し続ける。
【0009】(2)図8に示す並進駆動方式の場合、基
板は、方向転換する時以外、蒸着源間を同じ速度で動い
ているため、回転駆動方式と同様、蒸着源間では蒸着粒
子は基板に堆積することなく無駄となり、蒸着源材料は
消耗し続ける。
板は、方向転換する時以外、蒸着源間を同じ速度で動い
ているため、回転駆動方式と同様、蒸着源間では蒸着粒
子は基板に堆積することなく無駄となり、蒸着源材料は
消耗し続ける。
【0010】(3)積層薄膜の成膜に要する時間は、両
方式共、基板が蒸着源上を通過する時間、すなわち蒸着
粒子が基板に堆積する時間と、基板が蒸着源間を移動す
る成膜と直接関係のない無駄な時間を加えたものとなる
ため、成膜が終了するまでに長い時間を要する。
方式共、基板が蒸着源上を通過する時間、すなわち蒸着
粒子が基板に堆積する時間と、基板が蒸着源間を移動す
る成膜と直接関係のない無駄な時間を加えたものとなる
ため、成膜が終了するまでに長い時間を要する。
【0011】(4)複数個の蒸着源からの物質層の厚み
を任意の一定値にコントロールするため、両方式とも、
各蒸着源のパワーを調整して蒸着粒子の堆積速度を調整
する方法や、成膜している物質の蒸着源上で基板を複数
回通過させる方法をとっていた。しかしながら、前者で
は、蒸着源が金属やその酸化物からなる場合、これらの
間の堆積速度に大きな差があるため、蒸着源に投入する
パワー調整のみで所望の層厚にすることは諸々の弊害を
生じていた。すなわち、堆積速度を大きくするために堆
積速度の小さな蒸着物質の蒸着源のパワーを大きくする
と、膜の結晶性が変化して膜が基板から剥離し易くなっ
たり、堆積粒子としてサイズの大きなものが混入し堆積
膜中に大きなパーティクルが含まれて平滑な膜が得られ
なくなる。また、後者では、1つの蒸着源上で基板を成
膜処理している間、他の蒸着源における成膜は待たねば
ならない。そのため、全体の成膜が終了するのに時間が
かかったり、他の蒸着源からの蒸着粒子が無駄に消耗さ
れる。
を任意の一定値にコントロールするため、両方式とも、
各蒸着源のパワーを調整して蒸着粒子の堆積速度を調整
する方法や、成膜している物質の蒸着源上で基板を複数
回通過させる方法をとっていた。しかしながら、前者で
は、蒸着源が金属やその酸化物からなる場合、これらの
間の堆積速度に大きな差があるため、蒸着源に投入する
パワー調整のみで所望の層厚にすることは諸々の弊害を
生じていた。すなわち、堆積速度を大きくするために堆
積速度の小さな蒸着物質の蒸着源のパワーを大きくする
と、膜の結晶性が変化して膜が基板から剥離し易くなっ
たり、堆積粒子としてサイズの大きなものが混入し堆積
膜中に大きなパーティクルが含まれて平滑な膜が得られ
なくなる。また、後者では、1つの蒸着源上で基板を成
膜処理している間、他の蒸着源における成膜は待たねば
ならない。そのため、全体の成膜が終了するのに時間が
かかったり、他の蒸着源からの蒸着粒子が無駄に消耗さ
れる。
【0012】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、回転駆動方式及び並進駆動方式において積層薄膜を
製造する場合、パワーコントロール無しに物質層の厚み
を任意の一定値にコントロールでき、各蒸着源材料が無
駄なく均一に消費され、かつ短時間で成膜し得る積層薄
膜製造装置及び積層薄膜製造方法を提供することを目的
とする。
で、回転駆動方式及び並進駆動方式において積層薄膜を
製造する場合、パワーコントロール無しに物質層の厚み
を任意の一定値にコントロールでき、各蒸着源材料が無
駄なく均一に消費され、かつ短時間で成膜し得る積層薄
膜製造装置及び積層薄膜製造方法を提供することを目的
とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、発明者らは、積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方
法について鋭意検討努力を重ねた結果、以下に示すよう
な手段を講じ、基板の移動速度を任意に制御し得る積層
薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法を実現した。
め、発明者らは、積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方
法について鋭意検討努力を重ねた結果、以下に示すよう
な手段を講じ、基板の移動速度を任意に制御し得る積層
薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法を実現した。
【0014】(1) 本発明の積層薄膜製造装置は、ガ
ス導入系及び排気系を有する真空室、この真空室内に設
けられた複数の蒸着源、この各蒸着源に対応しその概略
上部に併設して設けられた複数のシャッター、この各シ
ャッターの開閉を行うための複数のシャッター駆動源、
前記蒸着源に対向して配置された複数の基板、この各基
板を搭載するための基板ホルダー、この基板ホルダーに
取り付けられた回転駆動軸、この回転駆動軸を駆動させ
るため前記真空室外に設けられた回転駆動モーター、こ
の回転駆動モーターを制御するための制御部とから成る
回転駆動型の積層薄膜製造装置において、前記回転駆動
軸に取り付けられた検出部と、この検出部の回転位置を
検出するための光検出センサーと、この光検出センサー
からの信号を前記制御部に伝達するための伝達経路とを
設けたことを特徴とするものである。
ス導入系及び排気系を有する真空室、この真空室内に設
けられた複数の蒸着源、この各蒸着源に対応しその概略
上部に併設して設けられた複数のシャッター、この各シ
ャッターの開閉を行うための複数のシャッター駆動源、
前記蒸着源に対向して配置された複数の基板、この各基
板を搭載するための基板ホルダー、この基板ホルダーに
取り付けられた回転駆動軸、この回転駆動軸を駆動させ
るため前記真空室外に設けられた回転駆動モーター、こ
の回転駆動モーターを制御するための制御部とから成る
回転駆動型の積層薄膜製造装置において、前記回転駆動
軸に取り付けられた検出部と、この検出部の回転位置を
検出するための光検出センサーと、この光検出センサー
からの信号を前記制御部に伝達するための伝達経路とを
設けたことを特徴とするものである。
【0015】(2) また本発明の積層薄膜製造装置
は、ガス導入系及び排気系を有する真空室、この真空室
内に設けられた複数の蒸着源、この各蒸着源に対応しそ
の概略上部に併設して設けられた複数のシャッター、こ
の各シャッターの開閉を行うための複数のシャッター駆
動源、前記蒸着源に対向して配置された複数の基板、こ
の各基板を搭載するための基板ホルダー、この基板ホル
ダーに取り付けられた並進駆動軸、この並進駆動軸を駆
動させるため前記真空室外に設けられた並進駆動モータ
ー、この並進駆動モーターを制御するための制御部とか
ら成る並進駆動型の積層薄膜製造装置において、前記並
進駆動軸に取り付けられた検出部と、この検出部の移動
位置を検出するための光検出センサーと、この光検出セ
ンサーからの信号を前記制御部に伝達するための伝達経
路とを設けたことを特徴とするものである。
は、ガス導入系及び排気系を有する真空室、この真空室
内に設けられた複数の蒸着源、この各蒸着源に対応しそ
の概略上部に併設して設けられた複数のシャッター、こ
の各シャッターの開閉を行うための複数のシャッター駆
動源、前記蒸着源に対向して配置された複数の基板、こ
の各基板を搭載するための基板ホルダー、この基板ホル
ダーに取り付けられた並進駆動軸、この並進駆動軸を駆
動させるため前記真空室外に設けられた並進駆動モータ
ー、この並進駆動モーターを制御するための制御部とか
ら成る並進駆動型の積層薄膜製造装置において、前記並
進駆動軸に取り付けられた検出部と、この検出部の移動
位置を検出するための光検出センサーと、この光検出セ
ンサーからの信号を前記制御部に伝達するための伝達経
路とを設けたことを特徴とするものである。
【0016】(3) また本発明の積層薄膜製造方法
は、上記(1)記載の積層薄膜製造装置を用いた積層薄
膜製造方法において、基板が蒸着源に近づくまでは基板
の回転速度を早めとし、基板の最前部が蒸着源にさしか
かった場合、蒸着源の上部に設けられたシャッターを開
けると共に基板の回転速度を蒸着源に適した速度に切り
替え、基板の最後部が蒸着源を通過した場合、蒸着源の
上部に設けられたシャッターを閉じると共に基板の回転
速度を増速させる一連の工程を、所望の積層薄膜となる
まで各蒸着源ごとに繰り返すことを特徴とする。
は、上記(1)記載の積層薄膜製造装置を用いた積層薄
膜製造方法において、基板が蒸着源に近づくまでは基板
の回転速度を早めとし、基板の最前部が蒸着源にさしか
かった場合、蒸着源の上部に設けられたシャッターを開
けると共に基板の回転速度を蒸着源に適した速度に切り
替え、基板の最後部が蒸着源を通過した場合、蒸着源の
上部に設けられたシャッターを閉じると共に基板の回転
速度を増速させる一連の工程を、所望の積層薄膜となる
まで各蒸着源ごとに繰り返すことを特徴とする。
【0017】(4) また本発明の積層薄膜製造方法
は、上記(2)記載の積層薄膜製造装置を用いた積層薄
膜製造方法において、基板が蒸着源に近づくまでは基板
の並進速度を早めとし、基板の最前部が蒸着源にさしか
かった場合、蒸着源の上部に設けられたシャッターを開
けると共に基板の並進速度を蒸着源に適した速度に切り
替え、基板の最後部が蒸着源を通過した場合、蒸着源の
上部に設けられたシャッターを閉じると共に基板の並進
速度を増速させ、最後の蒸着源を基板の最後部が通過し
た場合、基板の並進移動方向を逆転させて基板が最初の
位置に戻るまで基板の移動速度を増速させ、最初の蒸着
源を基板の最後部が通過した場合、基板の並進移動方向
を正転させて基板の移動速度を増速させるという一連の
工程を、所望の積層薄膜となるまで繰り返すことを特徴
とする。
は、上記(2)記載の積層薄膜製造装置を用いた積層薄
膜製造方法において、基板が蒸着源に近づくまでは基板
の並進速度を早めとし、基板の最前部が蒸着源にさしか
かった場合、蒸着源の上部に設けられたシャッターを開
けると共に基板の並進速度を蒸着源に適した速度に切り
替え、基板の最後部が蒸着源を通過した場合、蒸着源の
上部に設けられたシャッターを閉じると共に基板の並進
速度を増速させ、最後の蒸着源を基板の最後部が通過し
た場合、基板の並進移動方向を逆転させて基板が最初の
位置に戻るまで基板の移動速度を増速させ、最初の蒸着
源を基板の最後部が通過した場合、基板の並進移動方向
を正転させて基板の移動速度を増速させるという一連の
工程を、所望の積層薄膜となるまで繰り返すことを特徴
とする。
【0018】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態例を詳細に説明する。図1は、スパッターを利用
した本発明による回転駆動型の積層薄膜製造装置の構成
説明図で、蒸着源が2つで基板が1枚の場合について示
してある。
の形態例を詳細に説明する。図1は、スパッターを利用
した本発明による回転駆動型の積層薄膜製造装置の構成
説明図で、蒸着源が2つで基板が1枚の場合について示
してある。
【0019】同図において、20は真空室、21はガス
導入系、22は排気系、23は第1の蒸着源、24は第
1の蒸着源に対応しその概略上部に併設して設けられた
第1のシャッター、25は第1のシャッター24の開閉
を行うための第1のシャッター駆動源、26は第2の蒸
着源、27は第2の蒸着源に対応しその概略上部に併設
して設けられた第2のシャッター、28は第2のシャッ
ター27の開閉を行うための第2のシャッター駆動源、
29は蒸着源群に対向して配置された基板、30は基板
29を搭載するための円形の基板ホルダー、31は基板
ホルダー30に取り付けられた回転駆動軸、32は回転
駆動軸31を駆動させるため真空室外に設けられた回転
駆動モーター、33は回転駆動モーター32を制御する
ための制御部、34は回転駆動軸31に取り付けられた
第1の検出部、35は第1の検出部34の回転位置を検
出するための第1の光検出センサー、36は第1の光検
出センサー35からの電気信号を制御部33に伝達する
ための信号伝達経路、37は回転駆動軸31に取り付け
られた第2の検出部、38は第2の検出部37の回転位
置を検出するための第2の光検出センサー、39は第2
の光検出センサー38からの電気信号を制御部33に伝
達するための信号伝達経路、40は制御部33からの電
気信号を回転駆動モーター32に伝達するための信号伝
達経路、41は制御部33からの電気信号を第1のシャ
ッター駆動源25に伝達するための信号伝達経路、42
は制御部33からの電気信号を第2のシャッター駆動源
28に伝達するための信号伝達経路、230は第1の蒸
着源23から発生する蒸着粒子、260は第2の蒸着源
26から発生する蒸着粒子である。
導入系、22は排気系、23は第1の蒸着源、24は第
1の蒸着源に対応しその概略上部に併設して設けられた
第1のシャッター、25は第1のシャッター24の開閉
を行うための第1のシャッター駆動源、26は第2の蒸
着源、27は第2の蒸着源に対応しその概略上部に併設
して設けられた第2のシャッター、28は第2のシャッ
ター27の開閉を行うための第2のシャッター駆動源、
29は蒸着源群に対向して配置された基板、30は基板
29を搭載するための円形の基板ホルダー、31は基板
ホルダー30に取り付けられた回転駆動軸、32は回転
駆動軸31を駆動させるため真空室外に設けられた回転
駆動モーター、33は回転駆動モーター32を制御する
ための制御部、34は回転駆動軸31に取り付けられた
第1の検出部、35は第1の検出部34の回転位置を検
出するための第1の光検出センサー、36は第1の光検
出センサー35からの電気信号を制御部33に伝達する
ための信号伝達経路、37は回転駆動軸31に取り付け
られた第2の検出部、38は第2の検出部37の回転位
置を検出するための第2の光検出センサー、39は第2
の光検出センサー38からの電気信号を制御部33に伝
達するための信号伝達経路、40は制御部33からの電
気信号を回転駆動モーター32に伝達するための信号伝
達経路、41は制御部33からの電気信号を第1のシャ
ッター駆動源25に伝達するための信号伝達経路、42
は制御部33からの電気信号を第2のシャッター駆動源
28に伝達するための信号伝達経路、230は第1の蒸
着源23から発生する蒸着粒子、260は第2の蒸着源
26から発生する蒸着粒子である。
【0020】このような構成となっているため、基板2
9は第1の検出部34及び第2の検出部37と連動して
回転することになり、各検出部34,37の回転位置を
第1の光検出センサー35及び第2の光検出センサー3
8で検出することにより基板29の位置を判定すること
ができる。
9は第1の検出部34及び第2の検出部37と連動して
回転することになり、各検出部34,37の回転位置を
第1の光検出センサー35及び第2の光検出センサー3
8で検出することにより基板29の位置を判定すること
ができる。
【0021】光検出センサー35,38からの信号は信
号伝達経路36及び39により制御部33に伝達され、
制御部33からの制御信号は、信号伝達経路40により
回転駆動モーター32へ、信号伝達経路41及び42に
より第1のシャッター駆動源25及び第2のシャッター
駆動源28へ各々伝達される。
号伝達経路36及び39により制御部33に伝達され、
制御部33からの制御信号は、信号伝達経路40により
回転駆動モーター32へ、信号伝達経路41及び42に
より第1のシャッター駆動源25及び第2のシャッター
駆動源28へ各々伝達される。
【0022】検出部の構成は、例えば第1の検出部34
について示す、図2のように回転駆動軸31に直接第1
〜第4の検出部43から46を取り付けることができ
る。ここで、43は基板29が第1の蒸着源23の手前
のある一定距離に近づいたことを示す第1の検出部、4
4は基板29の最前部が第1の蒸着源23にさしかかっ
たことを示す第2の検出部、45は基板29の最後部が
第1の蒸着源23から離れ始めることを示す第3の検出
部、46は基板29が第1の蒸着源23から一定の距離
離れたことを示す第4の検出部である。
について示す、図2のように回転駆動軸31に直接第1
〜第4の検出部43から46を取り付けることができ
る。ここで、43は基板29が第1の蒸着源23の手前
のある一定距離に近づいたことを示す第1の検出部、4
4は基板29の最前部が第1の蒸着源23にさしかかっ
たことを示す第2の検出部、45は基板29の最後部が
第1の蒸着源23から離れ始めることを示す第3の検出
部、46は基板29が第1の蒸着源23から一定の距離
離れたことを示す第4の検出部である。
【0023】基板が複数枚あるときは、各基板位置に対
応して回転駆動軸31に検出部を取り付けておけばよ
い。また、検出部の構成は、図3のように回転駆動軸3
1に一本のロッド状検出部を取り付け、その先端に第1
〜第4の検出部43〜46を取り付けてもよい。
応して回転駆動軸31に検出部を取り付けておけばよ
い。また、検出部の構成は、図3のように回転駆動軸3
1に一本のロッド状検出部を取り付け、その先端に第1
〜第4の検出部43〜46を取り付けてもよい。
【0024】このように構成された回転駆動型の積層薄
膜製造装置の動作を説明する。まず、光検出センサー3
5により第1の検出部43が検出され、その検出信号が
信号伝達経路36により制御部33に伝達される。
膜製造装置の動作を説明する。まず、光検出センサー3
5により第1の検出部43が検出され、その検出信号が
信号伝達経路36により制御部33に伝達される。
【0025】制御部33では伝達された検出信号に基づ
いて回転駆動モーター32に回転速度を減少させるため
の制御信号を信号伝達経路40を用いて伝達する。回転
駆動モーター32はその制御信号に基づいて回転速度を
減速し始める。
いて回転駆動モーター32に回転速度を減少させるため
の制御信号を信号伝達経路40を用いて伝達する。回転
駆動モーター32はその制御信号に基づいて回転速度を
減速し始める。
【0026】次いで、光検出センサー35により第2の
検出部44が検出され、その検出信号が信号伝達経路3
6により制御部33に伝達される。制御部33では、伝
達された検出信号に基づいて、回転駆動モーター32の
回転速度、すなわち基板29の回転速度が第1の蒸着源
23を構成する蒸着材料に見合う適切な速度となるよう
な制御信号を信号伝達経路40を用いて回転駆動モータ
ー32に伝達する。
検出部44が検出され、その検出信号が信号伝達経路3
6により制御部33に伝達される。制御部33では、伝
達された検出信号に基づいて、回転駆動モーター32の
回転速度、すなわち基板29の回転速度が第1の蒸着源
23を構成する蒸着材料に見合う適切な速度となるよう
な制御信号を信号伝達経路40を用いて回転駆動モータ
ー32に伝達する。
【0027】同時に、制御部33は、第1のシャッター
24を開かせるための制御信号を信号伝達経路41を用
いて第1のシャッター駆動源25に伝達する。回転駆動
モーター32は、伝達された制御信号に基づいた回転速
度で回転し、第1のシャッター駆動源25は、伝達され
た制御信号に基づいて第1のシャッター24を開く。
24を開かせるための制御信号を信号伝達経路41を用
いて第1のシャッター駆動源25に伝達する。回転駆動
モーター32は、伝達された制御信号に基づいた回転速
度で回転し、第1のシャッター駆動源25は、伝達され
た制御信号に基づいて第1のシャッター24を開く。
【0028】このようにして、基板29上には、第1の
蒸着源23を構成する蒸着材料の薄膜が形成される。次
いで、光検出センサー35により第3の検出部45が検
出され、その検出信号が信号伝達経路36により制御部
33に伝達される。
蒸着源23を構成する蒸着材料の薄膜が形成される。次
いで、光検出センサー35により第3の検出部45が検
出され、その検出信号が信号伝達経路36により制御部
33に伝達される。
【0029】制御部33では伝達された検出信号に基づ
いて、回転駆動モーター32に回転速度を増加させるた
めの制御信号を信号伝達経路40を用いて伝達する。回
転駆動モーター32は、その制御信号に基づいて回転速
度を増加し始める。
いて、回転駆動モーター32に回転速度を増加させるた
めの制御信号を信号伝達経路40を用いて伝達する。回
転駆動モーター32は、その制御信号に基づいて回転速
度を増加し始める。
【0030】次いで、第1の光検出センサー35により
第4の検出部46が検出され、その検出信号が信号伝達
経路36により制御部33に伝達される。制御部33で
は、伝達された検出信号に基づいて回転駆動モーター3
2に回転速度を更に増加させるための制御信号を信号伝
達経路40を用いて伝達する。
第4の検出部46が検出され、その検出信号が信号伝達
経路36により制御部33に伝達される。制御部33で
は、伝達された検出信号に基づいて回転駆動モーター3
2に回転速度を更に増加させるための制御信号を信号伝
達経路40を用いて伝達する。
【0031】同時に、制御部33は、第1のシャッター
24を閉じさせるための制御信号を信号伝達経路41を
用いて第1のシャッター駆動源25に伝達する。回転駆
動モーター32は、伝達された制御信号に基づいて回転
速度を更に増加し、第1のシャッター駆動源25は、伝
達された制御信号に基づいて第1のシャッター24を閉
じる。
24を閉じさせるための制御信号を信号伝達経路41を
用いて第1のシャッター駆動源25に伝達する。回転駆
動モーター32は、伝達された制御信号に基づいて回転
速度を更に増加し、第1のシャッター駆動源25は、伝
達された制御信号に基づいて第1のシャッター24を閉
じる。
【0032】すなわち、基板29に第1の蒸着源23の
蒸着物質を積層している間は、蒸着源材料に見合った適
切な速度で回転するが、第1の蒸着源23を過ぎると速
度が上昇してすばやく第2の蒸着源26まで移動するこ
とができる。
蒸着物質を積層している間は、蒸着源材料に見合った適
切な速度で回転するが、第1の蒸着源23を過ぎると速
度が上昇してすばやく第2の蒸着源26まで移動するこ
とができる。
【0033】従って、このような一連の動作を第2の蒸
着源26に対しても行い、更に全体の積層数が所望の値
になるまで繰り返し行うことにより、全体の積層時間を
大幅に短縮することができ、蒸着源材料を無駄にするこ
とがないという効果を発揮することができる。
着源26に対しても行い、更に全体の積層数が所望の値
になるまで繰り返し行うことにより、全体の積層時間を
大幅に短縮することができ、蒸着源材料を無駄にするこ
とがないという効果を発揮することができる。
【0034】このような効果は蒸着源の数や積層数が増
すほど更に大きくなることは言うまでもない。図9
(a)、(b)は本発明と従来の回転駆動型の積層薄膜
製造方法を示すフローチャートである。
すほど更に大きくなることは言うまでもない。図9
(a)、(b)は本発明と従来の回転駆動型の積層薄膜
製造方法を示すフローチャートである。
【0035】図9(a)は従来の回転駆動型の積層薄膜
製造方法を示し、基板が公転速度一定で各ターゲット上
を通過していき成膜されることを示す。すなわち、基板
を一定速度で回転させると、先ず基板がターゲット1
(第1のスパッター蒸着源)上を通過していき成膜さ
れ、次に基板がターゲット2(第2のスパッター蒸着
源)上を通過していき成膜される。基板が所定回数回転
すると、基板の回転を止め、各スパッター蒸着源の放電
を止める。このようにして、基板に異なった物質層から
なる積層薄膜を形成する。
製造方法を示し、基板が公転速度一定で各ターゲット上
を通過していき成膜されることを示す。すなわち、基板
を一定速度で回転させると、先ず基板がターゲット1
(第1のスパッター蒸着源)上を通過していき成膜さ
れ、次に基板がターゲット2(第2のスパッター蒸着
源)上を通過していき成膜される。基板が所定回数回転
すると、基板の回転を止め、各スパッター蒸着源の放電
を止める。このようにして、基板に異なった物質層から
なる積層薄膜を形成する。
【0036】図9(b)は本発明の回転駆動型の積層薄
膜製造方法を示し、基板上にターゲットからの粒子が堆
積する部分以外は高速で回転移動する事および各ターゲ
ット上でそれぞれ所望の回転速度にすることができるこ
とを示す。すなわち、基板を回転させ、基板を所定の速
度でターゲット1(第1のスパッター蒸着源)上を通過
させて成膜する。そして、基板がターゲット1(第1の
スパッター蒸着源)上を離れると回転速度を高速にし、
基板がターゲット2(第2のスパッター蒸着源)上に近
ずくと回転速度を減速し、基板が所定の速度でターゲッ
ト2(第2のスパッター蒸着源)上を通過するようにし
て成膜する。そして、基板がターゲット2(第2のスパ
ッター蒸着源)上を離れると回転速度を高速にし、基板
がターゲット1(第1のスパッター蒸着源)上に近ずく
と回転速度を減速する。基板が所定回数回転すると、基
板の回転を止め、各スパッター蒸着源の放電を止める。
このようにして、基板に異なった物質層からなる積層薄
膜を形成する。これにより本発明では上述したように、
成膜時間が短縮できること、また、蒸着源材料の無駄が
少ないこと、複数のターゲット上でそれぞれ異なる回転
スピードとすることができることから、それぞれのター
ゲットから作製される薄膜をそれぞれ最適な結晶性とす
る放電パワーに制御できるなどのメリットが生じてく
る。
膜製造方法を示し、基板上にターゲットからの粒子が堆
積する部分以外は高速で回転移動する事および各ターゲ
ット上でそれぞれ所望の回転速度にすることができるこ
とを示す。すなわち、基板を回転させ、基板を所定の速
度でターゲット1(第1のスパッター蒸着源)上を通過
させて成膜する。そして、基板がターゲット1(第1の
スパッター蒸着源)上を離れると回転速度を高速にし、
基板がターゲット2(第2のスパッター蒸着源)上に近
ずくと回転速度を減速し、基板が所定の速度でターゲッ
ト2(第2のスパッター蒸着源)上を通過するようにし
て成膜する。そして、基板がターゲット2(第2のスパ
ッター蒸着源)上を離れると回転速度を高速にし、基板
がターゲット1(第1のスパッター蒸着源)上に近ずく
と回転速度を減速する。基板が所定回数回転すると、基
板の回転を止め、各スパッター蒸着源の放電を止める。
このようにして、基板に異なった物質層からなる積層薄
膜を形成する。これにより本発明では上述したように、
成膜時間が短縮できること、また、蒸着源材料の無駄が
少ないこと、複数のターゲット上でそれぞれ異なる回転
スピードとすることができることから、それぞれのター
ゲットから作製される薄膜をそれぞれ最適な結晶性とす
る放電パワーに制御できるなどのメリットが生じてく
る。
【0037】図4は、スパッターを利用した本発明によ
る並進駆動型の積層薄膜製造装置の構成説明図で、蒸着
源が2つで基板が1枚の場合について示してある。同図
において、50は真空室、51はガス導入系、52は排
気系、53は第1の蒸着源、54は第1の蒸着源53に
対応しその概略上部に設けられた第1のシャッター、5
5は第1のシャッターの開閉を行うための第1のシャッ
ター駆動源、56は第2の蒸着源、57は第2の蒸着源
56に対応しその概略上部に設けられた第2のシャッタ
ー、58は第2のシャッターの開閉を行うための第2の
シャッター駆動源、59は蒸着源群に対向し配置された
基板、60は基板59を搭載するための基板ホルダー、
61は基板ホルダー60に取り付けられた並進駆動軸、
62は並進駆動軸61を駆動させるため真空室外に設け
られた並進駆動モーター、63は並進駆動モーター62
を制御するための制御部、64は並進駆動軸61に取り
付けられた第1の検出部、65は第1の検出部64を検
出するための第1の光検出センサー、66は第1の光検
出センサー65からの電気信号を制御部63に伝達する
ための信号伝達経路、67は並進駆動軸61に取り付け
られた第2の検出部、68は第2の検出部67を検出す
るための第2の光検出センサー、69は第2の光検出セ
ンサー68からの電気信号を制御部63に伝達するため
の信号伝達経路、70は制御部63からの電気信号を並
進駆動モーター62に伝達するための信号伝達経路、7
1は制御部63からの電気信号を第1のシャッター駆動
源55に伝達するための信号伝達経路、72は制御部6
3からの電気信号を第2のシャッター駆動源58に伝達
するための信号伝達経路、530は第1の蒸着源53か
ら発生する蒸着粒子、560は第2の蒸着源56から発
生する蒸着粒子である。
る並進駆動型の積層薄膜製造装置の構成説明図で、蒸着
源が2つで基板が1枚の場合について示してある。同図
において、50は真空室、51はガス導入系、52は排
気系、53は第1の蒸着源、54は第1の蒸着源53に
対応しその概略上部に設けられた第1のシャッター、5
5は第1のシャッターの開閉を行うための第1のシャッ
ター駆動源、56は第2の蒸着源、57は第2の蒸着源
56に対応しその概略上部に設けられた第2のシャッタ
ー、58は第2のシャッターの開閉を行うための第2の
シャッター駆動源、59は蒸着源群に対向し配置された
基板、60は基板59を搭載するための基板ホルダー、
61は基板ホルダー60に取り付けられた並進駆動軸、
62は並進駆動軸61を駆動させるため真空室外に設け
られた並進駆動モーター、63は並進駆動モーター62
を制御するための制御部、64は並進駆動軸61に取り
付けられた第1の検出部、65は第1の検出部64を検
出するための第1の光検出センサー、66は第1の光検
出センサー65からの電気信号を制御部63に伝達する
ための信号伝達経路、67は並進駆動軸61に取り付け
られた第2の検出部、68は第2の検出部67を検出す
るための第2の光検出センサー、69は第2の光検出セ
ンサー68からの電気信号を制御部63に伝達するため
の信号伝達経路、70は制御部63からの電気信号を並
進駆動モーター62に伝達するための信号伝達経路、7
1は制御部63からの電気信号を第1のシャッター駆動
源55に伝達するための信号伝達経路、72は制御部6
3からの電気信号を第2のシャッター駆動源58に伝達
するための信号伝達経路、530は第1の蒸着源53か
ら発生する蒸着粒子、560は第2の蒸着源56から発
生する蒸着粒子である。
【0038】このような構成となっているため、基板5
9は第1の検出部64及び第2の検出部67と連動して
並進移動することになり、各検出部64,67の位置を
第1の光検出センサー65及び第2の光検出センサー6
8で検出することにより基板59の位置を判定すること
ができる。
9は第1の検出部64及び第2の検出部67と連動して
並進移動することになり、各検出部64,67の位置を
第1の光検出センサー65及び第2の光検出センサー6
8で検出することにより基板59の位置を判定すること
ができる。
【0039】光検出センサー65,68からの信号は制
御部63に伝達され、制御部63からの制御信号は、信
号伝達経路70により並進駆動モーター62へ、信号伝
達経路71及び72により第1のシャッター駆動源55
及び第2のシャッター駆動源58へ伝達される。
御部63に伝達され、制御部63からの制御信号は、信
号伝達経路70により並進駆動モーター62へ、信号伝
達経路71及び72により第1のシャッター駆動源55
及び第2のシャッター駆動源58へ伝達される。
【0040】検出部の構成は、例えば第1の検出部64
について示すと、図5のように並進駆動軸61に直接第
1〜第4の検出部73〜76を取り付けることができ
る。ここで、73は基板59が第1の蒸着源53の手前
のある一定距離に近づいたことを示す第1の検出部、7
4は基板59の最前部が第1の蒸着源53にさしかかっ
たことを示す第2の検出部、75は基板59の最後部が
第1の蒸着源53から離れ始めたことを示す第3の検出
部、76は基板59が第1の蒸着源53から一定の距離
離れたことを示す第4の検出部である。
について示すと、図5のように並進駆動軸61に直接第
1〜第4の検出部73〜76を取り付けることができ
る。ここで、73は基板59が第1の蒸着源53の手前
のある一定距離に近づいたことを示す第1の検出部、7
4は基板59の最前部が第1の蒸着源53にさしかかっ
たことを示す第2の検出部、75は基板59の最後部が
第1の蒸着源53から離れ始めたことを示す第3の検出
部、76は基板59が第1の蒸着源53から一定の距離
離れたことを示す第4の検出部である。
【0041】基板が複数枚あるときには、各基板位置に
対応して並進駆動軸61に検出部を取り付けておけばよ
い。又、検出部の構成は、図6のように、並進駆動軸6
1に一本のロッド状検出部を取り付け、その先端に第1
〜第4の検出部73〜76を取り付けてもよい。
対応して並進駆動軸61に検出部を取り付けておけばよ
い。又、検出部の構成は、図6のように、並進駆動軸6
1に一本のロッド状検出部を取り付け、その先端に第1
〜第4の検出部73〜76を取り付けてもよい。
【0042】このように構成された並進駆動型の積層薄
膜製造装置の動作を説明する。まず、第1の光検出セン
サー65により第1の検出部73が検出され、その検出
信号が信号伝達経路66により制御部63に伝達され
る。
膜製造装置の動作を説明する。まず、第1の光検出セン
サー65により第1の検出部73が検出され、その検出
信号が信号伝達経路66により制御部63に伝達され
る。
【0043】制御部63では伝達された検出信号に基づ
いて並進駆動モーター62に移動速度を減速させるため
の制御信号を信号伝達経路70を用いて伝達する。並進
駆動モーター62はその制御信号に基づいて移動速度を
減速し始める。
いて並進駆動モーター62に移動速度を減速させるため
の制御信号を信号伝達経路70を用いて伝達する。並進
駆動モーター62はその制御信号に基づいて移動速度を
減速し始める。
【0044】次いで、第1の光検出センサー65により
第2の検出部74が検出され、その検出信号が信号伝達
経路66により制御部63に伝達される。制御部63で
は、伝達された検出信号に基づいて、並進駆動軸61の
移動速度、すなわち基板59の移動速度が第1の蒸着源
53を構成する蒸着材料に見合う適切な速度となるよう
な制御信号を信号伝達経路70を用いて並進駆動モータ
ー62に伝達する。
第2の検出部74が検出され、その検出信号が信号伝達
経路66により制御部63に伝達される。制御部63で
は、伝達された検出信号に基づいて、並進駆動軸61の
移動速度、すなわち基板59の移動速度が第1の蒸着源
53を構成する蒸着材料に見合う適切な速度となるよう
な制御信号を信号伝達経路70を用いて並進駆動モータ
ー62に伝達する。
【0045】同時に、制御部63は、第1のシャッター
54を開かせるための制御信号を信号伝達経路71を用
いて第1のシャッター駆動源55に伝達する。並進駆動
モーター62は、伝達された制御信号に基づいた速度で
基板59を移動し、第1のシャッター駆動源55は、伝
達された制御信号に基づいて第1のシャッター54を開
く。
54を開かせるための制御信号を信号伝達経路71を用
いて第1のシャッター駆動源55に伝達する。並進駆動
モーター62は、伝達された制御信号に基づいた速度で
基板59を移動し、第1のシャッター駆動源55は、伝
達された制御信号に基づいて第1のシャッター54を開
く。
【0046】このようにして、基板59上には第1の蒸
着源53を構成する蒸着材料の薄膜が形成される。次い
で、第1の光検出センサー65により第3の検出部75
が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により制
御部63に伝達される。
着源53を構成する蒸着材料の薄膜が形成される。次い
で、第1の光検出センサー65により第3の検出部75
が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により制
御部63に伝達される。
【0047】制御部63では伝達された検出信号に基づ
いて、並進駆動モーター62に基板59の移動速度を増
速させるための制御信号を信号伝達経路70を用いて伝
達する。
いて、並進駆動モーター62に基板59の移動速度を増
速させるための制御信号を信号伝達経路70を用いて伝
達する。
【0048】並進駆動モーター62は、伝達された制御
信号に基づいて基板59の移動速度を増速し始める。次
いで、第1の光検出センサー65により第4の検出部7
6が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により
制御部63に伝達される。
信号に基づいて基板59の移動速度を増速し始める。次
いで、第1の光検出センサー65により第4の検出部7
6が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により
制御部63に伝達される。
【0049】制御部63では、伝達された検出信号に基
づいて並進駆動モーター61に移動速度を更に増速させ
るための制御信号を信号伝達経路70を用いて伝達す
る。同時に、制御部63は、第1のシャッター54を閉
じさせるための制御信号を信号伝達経路71を用いて第
1のシャッター駆動源55に伝達する。
づいて並進駆動モーター61に移動速度を更に増速させ
るための制御信号を信号伝達経路70を用いて伝達す
る。同時に、制御部63は、第1のシャッター54を閉
じさせるための制御信号を信号伝達経路71を用いて第
1のシャッター駆動源55に伝達する。
【0050】並進駆動モーター62は、伝達された制御
信号に基づいて基板59の移動速度を更に増加し、第1
のシャッター駆動源55は、伝達された制御信号に基づ
いて第1のシャッター54を閉じる。
信号に基づいて基板59の移動速度を更に増加し、第1
のシャッター駆動源55は、伝達された制御信号に基づ
いて第1のシャッター54を閉じる。
【0051】すなわち、基板59に第1の蒸着源53の
蒸着物質を積層している間は、蒸着源材料に見合った適
切な速度で基板59が移動するが、第1の蒸着源53を
過ぎると基板59の速度が上昇してすばやく第2の蒸着
源56まで移動することができる。
蒸着物質を積層している間は、蒸着源材料に見合った適
切な速度で基板59が移動するが、第1の蒸着源53を
過ぎると基板59の速度が上昇してすばやく第2の蒸着
源56まで移動することができる。
【0052】このような動作を第2の蒸着源56に対し
ても行い、第1の蒸着源53を構成する蒸着材料の薄膜
を形成させた基板59上に第2の蒸着源56を構成する
蒸着材料の薄膜が形成される。
ても行い、第1の蒸着源53を構成する蒸着材料の薄膜
を形成させた基板59上に第2の蒸着源56を構成する
蒸着材料の薄膜が形成される。
【0053】第2の光検出センサー68により第4の検
出部76が検出され、その検出信号が信号伝達経路69
により制御部63に伝達される。制御部63では、伝達
された検出信号に基づいて並進駆動モーター62に、並
進移動方向を逆転させ、速度を増加させるための制御信
号を信号伝達経路70を用いて伝達する。
出部76が検出され、その検出信号が信号伝達経路69
により制御部63に伝達される。制御部63では、伝達
された検出信号に基づいて並進駆動モーター62に、並
進移動方向を逆転させ、速度を増加させるための制御信
号を信号伝達経路70を用いて伝達する。
【0054】並進駆動モーター62は、伝達された制御
信号に基づいて並進移動方向を逆転させ、速度を増加さ
せる。基板59が最初の位置に戻るまで、光検出センサ
ー65,68からの電気信号は制御部63においてカッ
トされる。
信号に基づいて並進移動方向を逆転させ、速度を増加さ
せる。基板59が最初の位置に戻るまで、光検出センサ
ー65,68からの電気信号は制御部63においてカッ
トされる。
【0055】この後、基板59が第1の蒸着源53を通
過し、第1の光検出センサー65により第1の検出部7
3が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により
制御部63に伝達される。
過し、第1の光検出センサー65により第1の検出部7
3が検出され、その検出信号が信号伝達経路66により
制御部63に伝達される。
【0056】制御部63では、伝達された検出信号に基
づいて並進駆動モーター62に、並進移動方向を正転さ
せ、速度を増加させるための制御信号を信号伝達経路7
0を用いて伝達する。
づいて並進駆動モーター62に、並進移動方向を正転さ
せ、速度を増加させるための制御信号を信号伝達経路7
0を用いて伝達する。
【0057】このような一連の動作を全体の積層数が所
望の値になるまで繰り返し行うことにより、全体の積層
時間を大幅に短縮することができ、蒸着源材料を無駄に
することがないという効果を発揮することができる。
望の値になるまで繰り返し行うことにより、全体の積層
時間を大幅に短縮することができ、蒸着源材料を無駄に
することがないという効果を発揮することができる。
【0058】このような効果は蒸着源の数や積層数が増
すほど更に大きくなることは言うまでもない。 [実施例1]図1に示す回転駆動型の積層薄膜製造装置
により多層膜の製造を行った。
すほど更に大きくなることは言うまでもない。 [実施例1]図1に示す回転駆動型の積層薄膜製造装置
により多層膜の製造を行った。
【0059】第1のスパッタ−蒸着源23にW(タング
ステン)を、第2のスパッタ−蒸着源26にC(カーボ
ン)を設置し、基板29としてのSiウエハを基板ホル
ダー30に設置後、スパッター用真空室20内を2×1
0-7Torr台に排気した。次いで、ガス導入系21か
らArガスを導入して所定のArガス圧にした。
ステン)を、第2のスパッタ−蒸着源26にC(カーボ
ン)を設置し、基板29としてのSiウエハを基板ホル
ダー30に設置後、スパッター用真空室20内を2×1
0-7Torr台に排気した。次いで、ガス導入系21か
らArガスを導入して所定のArガス圧にした。
【0060】次に、スパッター材料が装着してあるスパ
ッタ−蒸着源23,26に成膜に適したパワーを供給
し、スパッターを開始した。第1のスパッター蒸着源2
3のWには300Wのパワーを、第2のスパッター蒸着
源26のCには600Wを供給した。
ッタ−蒸着源23,26に成膜に適したパワーを供給
し、スパッターを開始した。第1のスパッター蒸着源2
3のWには300Wのパワーを、第2のスパッター蒸着
源26のCには600Wを供給した。
【0061】また、基板29の回転は、蒸着源23,2
6間において20rpmの速度となるように設定した。
光検出センサー38により第1の検出部43の位置を検
出して基板29の回転速度を20rpmから低下させ
た。
6間において20rpmの速度となるように設定した。
光検出センサー38により第1の検出部43の位置を検
出して基板29の回転速度を20rpmから低下させ
た。
【0062】次いで、第2の検出部44の位置を検出
し、基板29の回転速度を最初のスパッター蒸着源26
であるCに適した速度、即ち、0.1rpmとした。こ
の速度を第3の検出部45の位置を検出するまで保つこ
とにより、本放電パワーでの基板29へのCの堆積厚を
18オングストロ−ムとすることができた。
し、基板29の回転速度を最初のスパッター蒸着源26
であるCに適した速度、即ち、0.1rpmとした。こ
の速度を第3の検出部45の位置を検出するまで保つこ
とにより、本放電パワーでの基板29へのCの堆積厚を
18オングストロ−ムとすることができた。
【0063】第3の検出部45の位置を検出した後、基
板29の回転速度は高速になりだし、第4の検出部46
の位置を検出することにより基板29の回転速度を20
rpmとした。
板29の回転速度は高速になりだし、第4の検出部46
の位置を検出することにより基板29の回転速度を20
rpmとした。
【0064】同様の操作をもう一方の蒸着源であるW蒸
着源23上でも繰り返した。この場合、W蒸着源23上
でも基板29の回転速度は0.5rpmとした。このと
き本放電パワーでの基板29へのWの堆積厚は14オン
グストロ−ムとなった。このような条件で、基板29を
一回転させるとW一層の厚みが14オングストロ−ムで
C一層の厚みが18オングストロ−ムの2層の積層膜を
基板29上に形成することができる。本実施例で使用し
た装置では、Cターゲット上を基板が0.1rpmの速
度で回転している角度が60度であり、回転速度が20
rpmから0.1rpmに減速する角度が20度、逆に
0.1rpmから20rpmに加速する角度も20度で
あった。
着源23上でも繰り返した。この場合、W蒸着源23上
でも基板29の回転速度は0.5rpmとした。このと
き本放電パワーでの基板29へのWの堆積厚は14オン
グストロ−ムとなった。このような条件で、基板29を
一回転させるとW一層の厚みが14オングストロ−ムで
C一層の厚みが18オングストロ−ムの2層の積層膜を
基板29上に形成することができる。本実施例で使用し
た装置では、Cターゲット上を基板が0.1rpmの速
度で回転している角度が60度であり、回転速度が20
rpmから0.1rpmに減速する角度が20度、逆に
0.1rpmから20rpmに加速する角度も20度で
あった。
【0065】このため、本装置ではW一層の厚みが14
オングストロ−ムでC一層の厚みが18オングストロ−
ムの2層の積層膜を100回積層したW/C多層膜の形
成には約200分の時間を要した。
オングストロ−ムでC一層の厚みが18オングストロ−
ムの2層の積層膜を100回積層したW/C多層膜の形
成には約200分の時間を要した。
【0066】[比較例1]一方、図7に示す従来の回転
速度が一定の回転駆動型の積層薄膜製造装置により多層
膜の製造をも行った。
速度が一定の回転駆動型の積層薄膜製造装置により多層
膜の製造をも行った。
【0067】第1のスパッター蒸着源4にW(タングス
テン)を、第2のスパッター蒸着源4にC(カーボン)
を設置し、基板7としてのSiウエハを基板ホルダー8
に設置後、スパッター用真空室1内を2×10-7Tor
r台に排気した。続いて真空室1内のガス導入系2よ
り、Arガスを5×10-3Torr導入し、この状態で
Wのスパッター蒸着源4に放電パワーを300Wかけ、
基板7を1rpmの速度で公転させてWのスパッター蒸
着源4上を通過させたところ実施例と同じく堆積レート
が28オングストロ−ム/回であった。また、Cのスパ
ッタ蒸着源4に放電パワーを600Wかけ、基板7を1
rpmの速度で公転させてCのスパッター蒸着源4上を
通過させたところ堆積レートが1.8オングストロ−ム
/回であった。つまり、これらは2rpmで回転させる
とW1層の厚みが14オングストロ−ム/回、C1層の
厚みが0.9オングストロ−ム/回と同等であった。こ
の条件で、Wのスパッター蒸着源4上を基板7が1回通
過すると、この蒸着源4上のシャッター5が閉じると共
にCのスパッター蒸着源4上のシャッター5が開き、C
のスパッター蒸着源4上を基板7が40回通過すると、
このC蒸着源4上のシャッター5が閉じ、Wのスパッタ
ー蒸着源4上のシャッター5が開くことを連続的に行わ
せた。この設定でW1層の厚みが14オングストロ−ム
でC1層の厚みが36オングストロ−ムの繰り返し多層
膜が形成されたが、このとき、スパッタ成膜に要した時
間は約2050分を要した。
テン)を、第2のスパッター蒸着源4にC(カーボン)
を設置し、基板7としてのSiウエハを基板ホルダー8
に設置後、スパッター用真空室1内を2×10-7Tor
r台に排気した。続いて真空室1内のガス導入系2よ
り、Arガスを5×10-3Torr導入し、この状態で
Wのスパッター蒸着源4に放電パワーを300Wかけ、
基板7を1rpmの速度で公転させてWのスパッター蒸
着源4上を通過させたところ実施例と同じく堆積レート
が28オングストロ−ム/回であった。また、Cのスパ
ッタ蒸着源4に放電パワーを600Wかけ、基板7を1
rpmの速度で公転させてCのスパッター蒸着源4上を
通過させたところ堆積レートが1.8オングストロ−ム
/回であった。つまり、これらは2rpmで回転させる
とW1層の厚みが14オングストロ−ム/回、C1層の
厚みが0.9オングストロ−ム/回と同等であった。こ
の条件で、Wのスパッター蒸着源4上を基板7が1回通
過すると、この蒸着源4上のシャッター5が閉じると共
にCのスパッター蒸着源4上のシャッター5が開き、C
のスパッター蒸着源4上を基板7が40回通過すると、
このC蒸着源4上のシャッター5が閉じ、Wのスパッタ
ー蒸着源4上のシャッター5が開くことを連続的に行わ
せた。この設定でW1層の厚みが14オングストロ−ム
でC1層の厚みが36オングストロ−ムの繰り返し多層
膜が形成されたが、このとき、スパッタ成膜に要した時
間は約2050分を要した。
【0068】即ち、回転速度を変化させる本実施例では
CとWの100回繰り返し積層膜を作製するに要した時
間は約200分であり、回転速度一定の比較例1で要し
た時間は約2050分、つまり、本実施例の方法では従
来法の約1/10となり、成膜時間を大幅に短縮させ、
かつ、蒸着用材料の消耗を低減させることができた。
CとWの100回繰り返し積層膜を作製するに要した時
間は約200分であり、回転速度一定の比較例1で要し
た時間は約2050分、つまり、本実施例の方法では従
来法の約1/10となり、成膜時間を大幅に短縮させ、
かつ、蒸着用材料の消耗を低減させることができた。
【0069】[実施例2]図4に示す並進駆動型の積層
薄膜製造装置により多層膜の製造を行った。第1のスパ
ッター蒸着源53にMoを、第2のスパッター蒸着源5
6にSiCを設置し、Siウエハを基板59として基板
ホルダー60に設置後、真空室50内を2×10-7To
rr台に排気した。
薄膜製造装置により多層膜の製造を行った。第1のスパ
ッター蒸着源53にMoを、第2のスパッター蒸着源5
6にSiCを設置し、Siウエハを基板59として基板
ホルダー60に設置後、真空室50内を2×10-7To
rr台に排気した。
【0070】続いてArガスを5×10-3Torr導入
した。この状態でMoのスパッター蒸着源53に放電パ
ワーを300Wかけたときに基板59を600mm/分
で通過させたときの堆積レートが14.6オングストロ
−ム/回であった。
した。この状態でMoのスパッター蒸着源53に放電パ
ワーを300Wかけたときに基板59を600mm/分
で通過させたときの堆積レートが14.6オングストロ
−ム/回であった。
【0071】また、SiCのスパッター蒸着源56に放
電パワーを600Wかけたときに基板59を600mm
/分で通過させたときの堆積レートが3.8オングスト
ロ−ム/回であった。
電パワーを600Wかけたときに基板59を600mm
/分で通過させたときの堆積レートが3.8オングスト
ロ−ム/回であった。
【0072】また、蒸着源53,56間の距離は30c
mで、基板59が第2の蒸着源56を通過し、反転して
第2の蒸着源56に戻ってくるには1分を要した。基板
59が第1の蒸着源53を通過し、反転して第1の蒸着
源53に戻ってくる場合も同じであった。
mで、基板59が第2の蒸着源56を通過し、反転して
第2の蒸着源56に戻ってくるには1分を要した。基板
59が第1の蒸着源53を通過し、反転して第1の蒸着
源53に戻ってくる場合も同じであった。
【0073】Moのスパッター蒸着源53上を基板59
が通過する際は600mm/分の速度にし、この蒸着源
53からSiCのスパッター蒸着源56へは300mm
/分で移動し、SiCの蒸着源56上では120mm/
分で通過させた。
が通過する際は600mm/分の速度にし、この蒸着源
53からSiCのスパッター蒸着源56へは300mm
/分で移動し、SiCの蒸着源56上では120mm/
分で通過させた。
【0074】基板59が第2の蒸着源56を通過し、反
転して第2の蒸着源56に戻ってくる時間、および、基
板59が第1の蒸着源53を通過し、反転して第1の蒸
着源53に戻ってくる時間は1分とした。
転して第2の蒸着源56に戻ってくる時間、および、基
板59が第1の蒸着源53を通過し、反転して第1の蒸
着源53に戻ってくる時間は1分とした。
【0075】[比較例2]図8に示す従来の並進駆動型
の積層薄膜製造装置により多層膜の製造を行った。
の積層薄膜製造装置により多層膜の製造を行った。
【0076】第1のスパッター蒸着源4にMoを、第2
のスパッター蒸着源4にSiCを設置し、Siウエハを
基板7として基板ホルダー13に設置後、真空室1内を
2×10-7Torr台に排気した。
のスパッター蒸着源4にSiCを設置し、Siウエハを
基板7として基板ホルダー13に設置後、真空室1内を
2×10-7Torr台に排気した。
【0077】続いてArガスを5×10-3Torr導入
した。この状態でMoのスパッター蒸着源4に放電パワ
ーを300Wかけ、基板7を600mm/分で通過させ
たところ堆積レートが14.6オングストロ−ム/回で
あった。
した。この状態でMoのスパッター蒸着源4に放電パワ
ーを300Wかけ、基板7を600mm/分で通過させ
たところ堆積レートが14.6オングストロ−ム/回で
あった。
【0078】また、SiCのスパッター蒸着源4に放電
パワーを600Wかけ、基板7を600mm/分で通過
させたところ堆積レートが3.8オングストロ−ム/回
であった。
パワーを600Wかけ、基板7を600mm/分で通過
させたところ堆積レートが3.8オングストロ−ム/回
であった。
【0079】また、蒸着源4,4間の距離は30cm
で、基板7が第2の蒸着源4を通過し、反転して第2の
蒸着源4に戻ってくるには実施例2と同じく1分とし
た。基板7が第1の蒸着源4を通過し、反転して第1の
蒸着源4に戻ってくる場合も同じであった。
で、基板7が第2の蒸着源4を通過し、反転して第2の
蒸着源4に戻ってくるには実施例2と同じく1分とし
た。基板7が第1の蒸着源4を通過し、反転して第1の
蒸着源4に戻ってくる場合も同じであった。
【0080】Moのスパッタ蒸着源4上を基板7が1回
往復することで蒸着源4上を2回通過すると、この蒸着
源4上のシャッター5が閉じ、SiCのスパッタ蒸着源
4上のシャッター5が開き、SiCのスパッター蒸着源
4上を基板7が5回往復動すると、このSiC蒸着源4
上のシャッター5が閉じ、Moのスパッタ蒸着源4上の
シャッター5が開くことを繰り返し、かつこの繰り返し
を30回行うことを制御部16で設定した後、Moのス
パッター蒸着源4に放電パワーを300Wかけ、SiC
のスパッター蒸着源4に放電パワーを600Wかけて成
膜を実施した。このとき積層膜形成に要したスパッター
時間は約540分であった。
往復することで蒸着源4上を2回通過すると、この蒸着
源4上のシャッター5が閉じ、SiCのスパッタ蒸着源
4上のシャッター5が開き、SiCのスパッター蒸着源
4上を基板7が5回往復動すると、このSiC蒸着源4
上のシャッター5が閉じ、Moのスパッタ蒸着源4上の
シャッター5が開くことを繰り返し、かつこの繰り返し
を30回行うことを制御部16で設定した後、Moのス
パッター蒸着源4に放電パワーを300Wかけ、SiC
のスパッター蒸着源4に放電パワーを600Wかけて成
膜を実施した。このとき積層膜形成に要したスパッター
時間は約540分であった。
【0081】即ち、移動速度を変化させる本実施例では
従来の並進駆動型の成膜方法を使用した場合に比べ多層
膜形成に要した時間は約1/8となり、成膜時間を大幅
に短縮させ、かつ、蒸着用材料の消耗を低減させること
ができた。
従来の並進駆動型の成膜方法を使用した場合に比べ多層
膜形成に要した時間は約1/8となり、成膜時間を大幅
に短縮させ、かつ、蒸着用材料の消耗を低減させること
ができた。
【0082】次に、本発明の作用効果を2種類の蒸着源
を備えた回転駆動型の積層薄膜製造装置について考え
る。これらの蒸着源からの粒子堆積レートが1:10と
いう条件の場合、基板上に良好な膜質を有する積層膜が
得られるものとする。このような場合、2層の繰り返し
積層構造を有する膜中の2種類の層の層厚の比を1:1
にするには、堆積レートが遅い粒子を成膜するとき、こ
の粒子の蒸着源上のシャッターのみ開口し、この蒸着源
上を10回基板を通過させることになる。
を備えた回転駆動型の積層薄膜製造装置について考え
る。これらの蒸着源からの粒子堆積レートが1:10と
いう条件の場合、基板上に良好な膜質を有する積層膜が
得られるものとする。このような場合、2層の繰り返し
積層構造を有する膜中の2種類の層の層厚の比を1:1
にするには、堆積レートが遅い粒子を成膜するとき、こ
の粒子の蒸着源上のシャッターのみ開口し、この蒸着源
上を10回基板を通過させることになる。
【0083】次いで、この蒸着源上のシャッターを閉じ
た後、堆積レートが早い粒子の蒸着源上のシャッターを
開け、この蒸着源上で基板を1回通過させることにより
層厚比が1:1の積層膜を得ることができる。
た後、堆積レートが早い粒子の蒸着源上のシャッターを
開け、この蒸着源上で基板を1回通過させることにより
層厚比が1:1の積層膜を得ることができる。
【0084】しかしながら、この場合には、当然のこと
ながら、基板が一度蒸着源上を通過すると、この速度の
ままもう1周してくるまでの間の時間分だけ基板上に粒
子が堆積しないのにもかかわらず成膜に時間がかかるこ
とになる。
ながら、基板が一度蒸着源上を通過すると、この速度の
ままもう1周してくるまでの間の時間分だけ基板上に粒
子が堆積しないのにもかかわらず成膜に時間がかかるこ
とになる。
【0085】しかも蒸着源では粒子が無駄に消費されて
いく。並進駆動型においても同様の問題が生じている。
しかしながら、基板が蒸着源を通過し終わったことを位
置検出センサーで検出し、この信号を基板移動のための
制御部に送り、制御部から基板を移動させるための駆動
部へ高速移動の信号を送り、この信号に基づいて駆動部
は基板を制御部から指示された高速度で基板を移動さ
せ、次の蒸着源近傍になったことを基板位置センサーが
検出すると再びこの信号を基板移動のための制御部に送
り、制御部から基板速度を低下させるための信号を駆動
部へ送り、この信号に基づいて駆動部は基板を制御部か
ら指示された速度で基板の速度を低下させ、基板を所定
の速度にしたのち、蒸着源上を通過させて必要な層厚を
成膜するということを繰り返すことで、従来方法で成膜
に要していた時間を短縮することができ、かつ、蒸着源
の材料の消耗を防ぐことが可能になる。
いく。並進駆動型においても同様の問題が生じている。
しかしながら、基板が蒸着源を通過し終わったことを位
置検出センサーで検出し、この信号を基板移動のための
制御部に送り、制御部から基板を移動させるための駆動
部へ高速移動の信号を送り、この信号に基づいて駆動部
は基板を制御部から指示された高速度で基板を移動さ
せ、次の蒸着源近傍になったことを基板位置センサーが
検出すると再びこの信号を基板移動のための制御部に送
り、制御部から基板速度を低下させるための信号を駆動
部へ送り、この信号に基づいて駆動部は基板を制御部か
ら指示された速度で基板の速度を低下させ、基板を所定
の速度にしたのち、蒸着源上を通過させて必要な層厚を
成膜するということを繰り返すことで、従来方法で成膜
に要していた時間を短縮することができ、かつ、蒸着源
の材料の消耗を防ぐことが可能になる。
【0086】尚、上記実施形態例ではあらかじめ成膜速
度を求めておき、基板の蒸着源通過回数との積で膜厚を
求める例を示したが、膜厚測定に膜厚モニターを用いて
も良いことはいうまでもないことである。
度を求めておき、基板の蒸着源通過回数との積で膜厚を
求める例を示したが、膜厚測定に膜厚モニターを用いて
も良いことはいうまでもないことである。
【0087】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、1層
の厚みがいくら厚くなっても放電パワー等の蒸着に要す
るパワーを大幅に変化させなくてよいため、対象とする
薄膜物質に適したパワーがかけられるため、高品質な積
層膜が得られるという効果がある。更に、成膜に要する
時間を大幅に短縮することができる、また、このため、
ターゲット材料を無駄に消耗することが少なくなるとい
う効果がある。
の厚みがいくら厚くなっても放電パワー等の蒸着に要す
るパワーを大幅に変化させなくてよいため、対象とする
薄膜物質に適したパワーがかけられるため、高品質な積
層膜が得られるという効果がある。更に、成膜に要する
時間を大幅に短縮することができる、また、このため、
ターゲット材料を無駄に消耗することが少なくなるとい
う効果がある。
【図1】本発明の一実施形態例を示す構成説明図であ
る。
る。
【図2】図1の検出部の一例を示す構成説明図である。
【図3】図1の検出部の他の例を示す構成説明図であ
る。
る。
【図4】本発明の他の実施形態例を示す構成説明図であ
る。
る。
【図5】図4の検出部の一例を示す構成説明図である。
【図6】図4の検出部の他の例を示す構成説明図であ
る。
る。
【図7】従来の積層薄膜製造装置の一例を示す構成説明
図である。
図である。
【図8】従来の積層薄膜製造装置の他の例を示す構成説
明図である。
明図である。
【図9】(a)は従来の積層薄膜製造方法の一例を示す
フローチャートであり、(b)は本発明の積層薄膜製造
方法の一例を示すフローチャートである。
フローチャートであり、(b)は本発明の積層薄膜製造
方法の一例を示すフローチャートである。
20,50…真空室、21,51…ガス導入系、22,
52…排気系、23,26,53,56…蒸着源、2
4,27,54,57…シャッター、25,28,5
5,58…シャッター駆動源、29,59…基板、3
0,60…基板ホルダー、31…回転駆動軸、32…回
転駆動モーター、33,63…制御部、34,37,6
4,67…検出部、35,38,65,68…光検出セ
ンサー、61…並進駆動軸、62…並進駆動モーター。
52…排気系、23,26,53,56…蒸着源、2
4,27,54,57…シャッター、25,28,5
5,58…シャッター駆動源、29,59…基板、3
0,60…基板ホルダー、31…回転駆動軸、32…回
転駆動モーター、33,63…制御部、34,37,6
4,67…検出部、35,38,65,68…光検出セ
ンサー、61…並進駆動軸、62…並進駆動モーター。
Claims (4)
- 【請求項1】 ガス導入系及び排気系を有する真空室、
この真空室内に設けられた複数の蒸着源、この各蒸着源
に対応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャ
ッター、この各シャッターの開閉を行うための複数のシ
ャッター駆動源、前記蒸着源に対向して配置された複数
の基板、この各基板を搭載するための基板ホルダー、こ
の基板ホルダーに取り付けられた回転駆動軸、この回転
駆動軸を駆動させるため前記真空室外に設けられた回転
駆動モーター、この回転駆動モーターを制御するための
制御部とから成る回転駆動型の積層薄膜製造装置におい
て、 前記回転駆動軸に取り付けられた検出部と、この検出部
の回転位置を検出するための光検出センサーと、この光
検出センサーからの信号を前記制御部に伝達するための
伝達経路とを設けたことを特徴とする積層薄膜製造装
置。 - 【請求項2】 ガス導入系及び排気系を有する真空室、
この真空室内に設けられた複数の蒸着源、この各蒸着源
に対応しその概略上部に併設して設けられた複数のシャ
ッター、この各シャッターの開閉を行うための複数のシ
ャッター駆動源、前記蒸着源に対向して配置された複数
の基板、この各基板を搭載するための基板ホルダー、こ
の基板ホルダーに取り付けられた並進駆動軸、この並進
駆動軸を駆動させるため前記真空室外に設けられた並進
駆動モーター、この並進駆動モーターを制御するための
制御部とから成る並進駆動型の積層薄膜製造装置におい
て、 前記並進駆動軸に取り付けられた検出部と、この検出部
の移動位置を検出するための光検出センサーと、この光
検出センサーからの信号を前記制御部に伝達するための
伝達経路とを設けたことを特徴とする積層薄膜製造装
置。 - 【請求項3】 請求項1記載の積層薄膜製造装置を用い
た積層薄膜製造方法において、 基板が蒸着源に近づくまでは基板の回転速度を早めと
し、基板の最前部が蒸着源にさしかかった場合、蒸着源
の上部に設けられたシャッターを開けると共に基板の回
転速度を蒸着源に適した速度に切り替え、基板の最後部
が蒸着源を通過した場合、蒸着源の上部に設けられたシ
ャッターを閉じると共に基板の回転速度を増速させる一
連の工程を、所望の積層薄膜となるまで各蒸着源ごとに
繰り返すことを特徴とする積層薄膜製造方法。 - 【請求項4】 請求項2記載の積層薄膜製造装置を用い
た積層薄膜製造方法において、 基板が蒸着源に近づくまでは基板の並進速度を早めと
し、基板の最前部が蒸着源にさしかかった場合、蒸着源
の上部に設けられたシャッターを開けると共に基板の並
進速度を蒸着源に適した速度に切り替え、基板の最後部
が蒸着源を通過した場合、蒸着源の上部に設けられたシ
ャッターを閉じると共に基板の並進速度を増速させ、最
後の蒸着源を基板の最後部が通過した場合、基板の並進
移動方向を逆転させて基板が最初の位置に戻るまで基板
の移動速度を増速させ、最初の蒸着源を基板の最後部が
通過した場合、基板の並進移動方向を正転させて基板の
移動速度を増速させるという一連の工程を、所望の積層
薄膜となるまで繰り返すことを特徴とする積層薄膜製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21731396A JPH1060639A (ja) | 1996-08-19 | 1996-08-19 | 積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21731396A JPH1060639A (ja) | 1996-08-19 | 1996-08-19 | 積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1060639A true JPH1060639A (ja) | 1998-03-03 |
Family
ID=16702211
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21731396A Pending JPH1060639A (ja) | 1996-08-19 | 1996-08-19 | 積層薄膜製造装置及び積層薄膜製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1060639A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006332031A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-12-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
US8415878B2 (en) | 2005-07-06 | 2013-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device |
KR101380957B1 (ko) * | 2012-06-19 | 2014-04-04 | (주)다다코리아 | 패턴 셔터식 증착장치 |
JP5728119B1 (ja) * | 2014-09-30 | 2015-06-03 | 株式会社ジーエル・マテリアルズホールディングス | 異種ナノ粒子の同時製造方法 |
WO2024101167A1 (ja) * | 2022-11-08 | 2024-05-16 | キヤノントッキ株式会社 | 成膜装置、成膜方法及び電子デバイスの製造方法 |
-
1996
- 1996-08-19 JP JP21731396A patent/JPH1060639A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8901814B2 (en) | 2005-07-06 | 2014-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device |
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