JPS62214172A - イオンビ−ムスパツタ装置 - Google Patents
イオンビ−ムスパツタ装置Info
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- JPS62214172A JPS62214172A JP5867986A JP5867986A JPS62214172A JP S62214172 A JPS62214172 A JP S62214172A JP 5867986 A JP5867986 A JP 5867986A JP 5867986 A JP5867986 A JP 5867986A JP S62214172 A JPS62214172 A JP S62214172A
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- ion
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- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 37
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 21
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 21
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 11
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 abstract description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract 2
- 239000013528 metallic particle Substances 0.000 abstract 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 18
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 17
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- -1 argon Chemical class 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、基板表面に所望の組成比の合金膜を形成す
ることができるように改良したイオンビームスパッタ装
置に関する。
ることができるように改良したイオンビームスパッタ装
置に関する。
第4図および第5図は、それぞれ、従来のイオンビーム
スパッタ装置の例を示す概略側面図である。図示しない
真空排気装置によって排気口2を介して所定の真空に排
気される真空容器l内に、ターゲットホルダ8に保持さ
れた複合ターゲット5が収納されており、当該複合ター
ゲット5に向けてイオン源3から、アルゴン等の不活性
ガスイオンから成るイオンビーム4が照射されるように
なっている。更に真空容器1には、基板ホルダ10に保
持された基板9が複合ターゲット5に対向するように設
けられており、イオンビーム4によって複合ターゲット
5からスパッタされた粒子は当該基板9の表面に付着し
、これによって基板9の表面に合金膜が形成される。
スパッタ装置の例を示す概略側面図である。図示しない
真空排気装置によって排気口2を介して所定の真空に排
気される真空容器l内に、ターゲットホルダ8に保持さ
れた複合ターゲット5が収納されており、当該複合ター
ゲット5に向けてイオン源3から、アルゴン等の不活性
ガスイオンから成るイオンビーム4が照射されるように
なっている。更に真空容器1には、基板ホルダ10に保
持された基板9が複合ターゲット5に対向するように設
けられており、イオンビーム4によって複合ターゲット
5からスパッタされた粒子は当該基板9の表面に付着し
、これによって基板9の表面に合金膜が形成される。
尚、第4図の装置は、イオン源3、基板9を水平に、複
合ターゲット5を傾斜させて配置した例であり、第5図
の装置は、複合ターゲット5を水平に、イオン源3、基
板9を傾斜させて配置した例である。
合ターゲット5を傾斜させて配置した例であり、第5図
の装置は、複合ターゲット5を水平に、イオン源3、基
板9を傾斜させて配置した例である。
上記複合ターゲット5としては、例えば第6図に示すよ
うに、金属板6の上に金属片7を複数個乗せて構成した
ようなもの、あるいは第7図に示すように金属板6に多
数の穴6aを開けてその中に金属片7を入れて構成した
ようなもの等がある。
うに、金属板6の上に金属片7を複数個乗せて構成した
ようなもの、あるいは第7図に示すように金属板6に多
数の穴6aを開けてその中に金属片7を入れて構成した
ようなもの等がある。
これらの複合ターゲット5は、第4図のような装置、あ
るいは第5図のような装置のいずれにも使用される。
るいは第5図のような装置のいずれにも使用される。
そして、基板9の表面に形成される合金膜の組成比は、
複合ターゲット5における金属板6と金属片7との表面
積比(より厳密にはイオンビーム4が照射される側の表
面積比)に依存する。
複合ターゲット5における金属板6と金属片7との表面
積比(より厳密にはイオンビーム4が照射される側の表
面積比)に依存する。
所がこのようなイオンビームスパッタ装置においては、
上記した複合ターゲット5を使用しているため、各ター
ゲット(6,7)のスパッタ率が異なり、しかも一つの
イオン源3でスパッタしているので、スパッタ中に複合
ターゲット5の各ターゲット(6,7)の構成比、即ち
スパッタされる表面積比が変化し、基板9上に形成され
る合金 膜の組成比が所望のものとならないとい
った不都合がある。
上記した複合ターゲット5を使用しているため、各ター
ゲット(6,7)のスパッタ率が異なり、しかも一つの
イオン源3でスパッタしているので、スパッタ中に複合
ターゲット5の各ターゲット(6,7)の構成比、即ち
スパッタされる表面積比が変化し、基板9上に形成され
る合金 膜の組成比が所望のものとならないとい
った不都合がある。
また、第6図に示すような複合ターゲット5を用いると
、水平配置としなければならず、この種の装置全体の設
計自由度が少な(なるし、第7図に示すような複合ター
ゲット5を用いると、金属板6に穴6aを形成しなけれ
ばならない他、その際の加工(例えば切削加工)によっ
て酸化され易く、特に金属片7が希土類金属から成る場
合は、酸化されて多量の酸化物を含み易くなる。ところ
が例えば非晶質垂直磁化膜を形成するような場合は、上
記のような酸化物を極力少なくしないと所定の特性が得
られなくなることがある。
、水平配置としなければならず、この種の装置全体の設
計自由度が少な(なるし、第7図に示すような複合ター
ゲット5を用いると、金属板6に穴6aを形成しなけれ
ばならない他、その際の加工(例えば切削加工)によっ
て酸化され易く、特に金属片7が希土類金属から成る場
合は、酸化されて多量の酸化物を含み易くなる。ところ
が例えば非晶質垂直磁化膜を形成するような場合は、上
記のような酸化物を極力少なくしないと所定の特性が得
られなくなることがある。
そこでこの発明は、上記のような問題の多い複合ターゲ
ットを使用することなく、基板表面に所望の組成比の合
金膜を形成することができるイオンビームスパッタ装置
を提供することを主たる目的とする。
ットを使用することなく、基板表面に所望の組成比の合
金膜を形成することができるイオンビームスパッタ装置
を提供することを主たる目的とする。
C問題点を解決するための手段〕
この発明のイオンビームスパッタ装置は、異種ターゲッ
トの少なくとも2種以上に複数のイオン源からそれぞれ
イオンビームを同時に照射し、回転する基板ホルダに保
持された基板に各ターゲットからスパッタされた粒子を
付着するようにしたものである。
トの少なくとも2種以上に複数のイオン源からそれぞれ
イオンビームを同時に照射し、回転する基板ホルダに保
持された基板に各ターゲットからスパッタされた粒子を
付着するようにしたものである。
各イオン源から異種のターゲットに向けてイオンビーム
がそれぞれ照射され、これによってスパッタされた粒子
は回転している基板表面に付着して所定の膜、例えば合
金膜を形成する。
がそれぞれ照射され、これによってスパッタされた粒子
は回転している基板表面に付着して所定の膜、例えば合
金膜を形成する。
第1図は、この発明の一実施例に係るイオンビームスパ
ッタ装置を示す側面図である。この実施例においては、
図示しない真空排気装置によって真空排気口22を介し
て所定の真空に排気される真空容器20内に、複数(図
示例では二つ)のターゲット固定面24a、24bを有
するターゲソ。
ッタ装置を示す側面図である。この実施例においては、
図示しない真空排気装置によって真空排気口22を介し
て所定の真空に排気される真空容器20内に、複数(図
示例では二つ)のターゲット固定面24a、24bを有
するターゲソ。
トホルダ24が設けられている。これら各ターゲット固
定面24a、24bには、異種の例えば板状のターゲッ
ト30a、30bをそれぞれ取り付けている。その取付
は手段としては種々のもの、例えばビス止め、あるいは
接着等が採り得る。
定面24a、24bには、異種の例えば板状のターゲッ
ト30a、30bをそれぞれ取り付けている。その取付
は手段としては種々のもの、例えばビス止め、あるいは
接着等が採り得る。
前記ターゲット30a、30bの組み合せは、形成する
合金膜によって決定されるもので、■単一合金同士、■
単一合金と合金、■合金量士の組み合せが採り得る。
合金膜によって決定されるもので、■単一合金同士、■
単一合金と合金、■合金量士の組み合せが採り得る。
一方、真空容器20には同時にイオンビーム36a、3
6bが照射されるターゲット30a、30bと同数の、
即ちこの例では二つのイオン源34a、34bが取り付
けられている。各イオン源34a、34bは、各ターゲ
ット30a、30bに例えばアルゴン等の不活性ガスイ
オンから成るイオンビーム36a、36bをそれぞれ照
射する。
6bが照射されるターゲット30a、30bと同数の、
即ちこの例では二つのイオン源34a、34bが取り付
けられている。各イオン源34a、34bは、各ターゲ
ット30a、30bに例えばアルゴン等の不活性ガスイ
オンから成るイオンビーム36a、36bをそれぞれ照
射する。
更にこの例では、ターゲットホルダ24の下側に、基板
38を保持する基板ホルダ40が設けられており、当該
基板ホルダ40は、軸42を介して、真空容器20の大
気側に取り付けられた回転機構44によってスパッタリ
ング中は所定方向、例えば矢印B方向に連続的に回転さ
せられる。
38を保持する基板ホルダ40が設けられており、当該
基板ホルダ40は、軸42を介して、真空容器20の大
気側に取り付けられた回転機構44によってスパッタリ
ング中は所定方向、例えば矢印B方向に連続的に回転さ
せられる。
上記装置の動作の一例を説明すると、ターゲットホルダ
24を例えば図示の位置に固定した状態で、基板ホルダ
40を回転させながら、イオン源34aからのイオンビ
ーム36aをターゲット30aに、またイオン源34b
からのイオンビーム36bをターゲット32bにそれぞ
れ同時に照射する。これによってターゲット30a、3
2bがそれぞれスパッタされて、そこから粒子46a、
46bがそれぞれ飛び出し、これらが回転中の基板38
の表面に付着し、これによって所定の膜が所望の組成比
で基板38の表面に形成される。その場合、基板38は
上述のようにして回転させられているため、その表面に
形成される膜質の面内の均一性は優れたものが得られる
。また、形成される膜の組成比は、イオンビーム36a
、36bのビーム電流あるいはターゲット30a、30
bのスパッタされる表面積を変えることにより、容易に
調整することができる。
24を例えば図示の位置に固定した状態で、基板ホルダ
40を回転させながら、イオン源34aからのイオンビ
ーム36aをターゲット30aに、またイオン源34b
からのイオンビーム36bをターゲット32bにそれぞ
れ同時に照射する。これによってターゲット30a、3
2bがそれぞれスパッタされて、そこから粒子46a、
46bがそれぞれ飛び出し、これらが回転中の基板38
の表面に付着し、これによって所定の膜が所望の組成比
で基板38の表面に形成される。その場合、基板38は
上述のようにして回転させられているため、その表面に
形成される膜質の面内の均一性は優れたものが得られる
。また、形成される膜の組成比は、イオンビーム36a
、36bのビーム電流あるいはターゲット30a、30
bのスパッタされる表面積を変えることにより、容易に
調整することができる。
以上の構成によれば、各ターゲラt−30a、30bは
それぞれが対応するイオン源34a、34bからのイオ
ンビーム36a、36bによってスパッタされるので、
これらのスパッタ率が仮に相違しても、スパッタ中に従
来の複合ターゲットのようにその表面積が変化すること
はなく、従って基板38の表面に形成される合金膜の組
成比は所望のものとなる。
それぞれが対応するイオン源34a、34bからのイオ
ンビーム36a、36bによってスパッタされるので、
これらのスパッタ率が仮に相違しても、スパッタ中に従
来の複合ターゲットのようにその表面積が変化すること
はなく、従って基板38の表面に形成される合金膜の組
成比は所望のものとなる。
また、各ターゲット30a、30bが単純な形状である
ため製作が容易で安価となる。また従来の複合ターゲッ
ト5のように金属片7を多数個加工したり、穴6aを多
数加工したりするような作業がないので、上記のような
ターゲット30a、30bにおいては、酸化される表面
積が少なく不純物の少ないターゲットが得られる。その
結果、高純度の合金膜の形成が可能となる。
ため製作が容易で安価となる。また従来の複合ターゲッ
ト5のように金属片7を多数個加工したり、穴6aを多
数加工したりするような作業がないので、上記のような
ターゲット30a、30bにおいては、酸化される表面
積が少なく不純物の少ないターゲットが得られる。その
結果、高純度の合金膜の形成が可能となる。
また、ターゲット30a、30bに合金ターゲットを用
いれば、3元以上の多元合金膜の形成が可能となる。
いれば、3元以上の多元合金膜の形成が可能となる。
第2図はこの発明の他の実施例に係るイオンビームスパ
ッタ装置を示す側面図であり、第3図はその平面図であ
る。尚、第1図と同じ符号を付した部分は、同一または
対応する部分を示す。この実施例においては、真空容器
20内に、多角柱状、例えば四角柱状をしたターゲット
ホルダ24が設けられている。当該ターゲットホルダ2
4は、軸26を介して、真空容器20の大気側に取り付
けられた回転機構28によって例えば矢印A方向に段階
的に、例えば90度毎に回転させられる。そのためこの
例では回転機構28に、ターゲットホルダ24を90度
毎に確実に位置決めできるラッチ機構を設けるのが好ま
しい。
ッタ装置を示す側面図であり、第3図はその平面図であ
る。尚、第1図と同じ符号を付した部分は、同一または
対応する部分を示す。この実施例においては、真空容器
20内に、多角柱状、例えば四角柱状をしたターゲット
ホルダ24が設けられている。当該ターゲットホルダ2
4は、軸26を介して、真空容器20の大気側に取り付
けられた回転機構28によって例えば矢印A方向に段階
的に、例えば90度毎に回転させられる。そのためこの
例では回転機構28に、ターゲットホルダ24を90度
毎に確実に位置決めできるラッチ機構を設けるのが好ま
しい。
ターゲットホルダ24は、その軸方向に区分された複数
の、この例では二つのターゲット固定領域25aおよび
25bを有している。そして、ターゲットホルダ24の
各ターゲット固定領域25a、25bにおける各側面、
この例では4側面の各ターゲット固定面51a〜54a
および51b〜54bに、例えば板状のターゲット61
a〜64aおよび61b〜64bをそれぞれ取り付けて
いる。この場合、同一のターゲット固定領域25a(2
5b)内のターゲット61a 〜64a (61b〜
64b)は、互いに同種であっても異種であっても良い
が、同時にイオンビーム36a、36bが照射される時
には異種となるようにその配置は考慮すべきであり、ま
たイオン源348%34bの制御も必要である。
の、この例では二つのターゲット固定領域25aおよび
25bを有している。そして、ターゲットホルダ24の
各ターゲット固定領域25a、25bにおける各側面、
この例では4側面の各ターゲット固定面51a〜54a
および51b〜54bに、例えば板状のターゲット61
a〜64aおよび61b〜64bをそれぞれ取り付けて
いる。この場合、同一のターゲット固定領域25a(2
5b)内のターゲット61a 〜64a (61b〜
64b)は、互いに同種であっても異種であっても良い
が、同時にイオンビーム36a、36bが照射される時
には異種となるようにその配置は考慮すべきであり、ま
たイオン源348%34bの制御も必要である。
また、この例では第3図から明らかなとおり、各ターゲ
ット固定領域25a、25bに対して専用のイオン源3
4a、34bが配置され、両イオン源34aと34bの
軸線が対向しないように考慮されている。そして、実施
例の状態では、イオンビーム36aはターゲット64a
に、イオンビーム36bはターゲット61b (これは
第2図ではターゲット61aの紙面裏側に位置している
)にそれぞれ照射される。
ット固定領域25a、25bに対して専用のイオン源3
4a、34bが配置され、両イオン源34aと34bの
軸線が対向しないように考慮されている。そして、実施
例の状態では、イオンビーム36aはターゲット64a
に、イオンビーム36bはターゲット61b (これは
第2図ではターゲット61aの紙面裏側に位置している
)にそれぞれ照射される。
上記装置の動作の一例を説明すると、ターゲットホルダ
24を例えば図示の位置に固定した状態で、基板ホルダ
40を回転させながら、イオン源34aからのイオンビ
ーム36aをターゲット64aに、またイオン源34b
からのイオンビーム36bをターゲラ)61bにそれぞ
れ同時に照射する。これによってターゲット64a、6
1bがそれぞれスパッタされて、そこから粒子46a、
46bがそれぞれ飛び出し、これらが回転中の基板38
の表面に付着し、これによって所定の膜が基板38の表
面に形成される。
24を例えば図示の位置に固定した状態で、基板ホルダ
40を回転させながら、イオン源34aからのイオンビ
ーム36aをターゲット64aに、またイオン源34b
からのイオンビーム36bをターゲラ)61bにそれぞ
れ同時に照射する。これによってターゲット64a、6
1bがそれぞれスパッタされて、そこから粒子46a、
46bがそれぞれ飛び出し、これらが回転中の基板38
の表面に付着し、これによって所定の膜が基板38の表
面に形成される。
ターゲット64a、61bがスパッタされて消耗した場
合は、ターゲットホルダ24を回転機構28によって一
段階、即ち90度例えば右回転させれば、次にターゲッ
ト61a、62bのスパッタリングがそれぞれ可能とな
り、以降同様にすることによって、順次新しいターゲッ
トを使用することができる。
合は、ターゲットホルダ24を回転機構28によって一
段階、即ち90度例えば右回転させれば、次にターゲッ
ト61a、62bのスパッタリングがそれぞれ可能とな
り、以降同様にすることによって、順次新しいターゲッ
トを使用することができる。
以上の構成によれば、ターゲットホルダ24を大気側か
ら段階的に回転させることによって順次新しいターゲッ
トを使用することができるため、ターゲットの取替えの
サイクルが長くなり、ターゲット交換に伴う時間的損失
を少なくして同種または異種合金を能率良く成膜するこ
とができる。
ら段階的に回転させることによって順次新しいターゲッ
トを使用することができるため、ターゲットの取替えの
サイクルが長くなり、ターゲット交換に伴う時間的損失
を少なくして同種または異種合金を能率良く成膜するこ
とができる。
尚、ターゲットホルダ24は必ずしも上記のような四角
柱状に限られるものではなく、使用条件等に応じて三角
柱状、五角柱状、六角柱状等としても良い。
柱状に限られるものではなく、使用条件等に応じて三角
柱状、五角柱状、六角柱状等としても良い。
また、ターゲットホルダ24のターゲット固定領域を3
以上としてそれと同数のイオン源を配置しても良く、そ
のようにしても3元以上の多元合金膜の形成が可能とな
る。しかも上記の両者を併用すれば、より多元の合金膜
の形成も可能となる。
以上としてそれと同数のイオン源を配置しても良く、そ
のようにしても3元以上の多元合金膜の形成が可能とな
る。しかも上記の両者を併用すれば、より多元の合金膜
の形成も可能となる。
以上のようにこの発明によれば、複合ターゲットを使用
することなく、基板表面に高品質の、しかも所望組成比
の合金膜を形成することができる。
することなく、基板表面に高品質の、しかも所望組成比
の合金膜を形成することができる。
第1図は、この発明の一実施例に係るイオンビームスパ
ッタ装置を示す側面図である。第2図はこの発明の他の
実施例に係るイオンビームスパッタ装置を示す側面図で
あり、第3図はその平面図である。第4図および第5図
は、それぞれ、従来のイオンビームスパッタ装置の例を
示す概略側面図である。第6図(A)は複合ターゲット
の一例を示す平面図であり、第6図(B)はその線■−
■に沿う断面図である。第7図(A)は複合ターゲット
の他の例を示す平面図であり、第7図(B)はその線■
−■に沿う断面図である。 20・・・真空容器、24・・・ターゲットホルダ、2
4a、24b、51a〜54a、51b 〜54b・・
・ターゲット固定面、28.44・・・回転機構、30
a、30b、61a 〜64a、61b 〜64b・・
・ターゲット、34a、34b・・・イオン源、36a
、36b・・・イオンビーム、38・・・基板、40・
・・基板ホルダ
ッタ装置を示す側面図である。第2図はこの発明の他の
実施例に係るイオンビームスパッタ装置を示す側面図で
あり、第3図はその平面図である。第4図および第5図
は、それぞれ、従来のイオンビームスパッタ装置の例を
示す概略側面図である。第6図(A)は複合ターゲット
の一例を示す平面図であり、第6図(B)はその線■−
■に沿う断面図である。第7図(A)は複合ターゲット
の他の例を示す平面図であり、第7図(B)はその線■
−■に沿う断面図である。 20・・・真空容器、24・・・ターゲットホルダ、2
4a、24b、51a〜54a、51b 〜54b・・
・ターゲット固定面、28.44・・・回転機構、30
a、30b、61a 〜64a、61b 〜64b・・
・ターゲット、34a、34b・・・イオン源、36a
、36b・・・イオンビーム、38・・・基板、40・
・・基板ホルダ
Claims (1)
- (1)真空容器と、この真空容器内に収納されかつ複数
のターゲット固定面を有するターゲットホルダと、この
ターゲットホルダの各ターゲット固定面に固着される複
数の異種ターゲットと、イオンビームを照射する複数の
イオン源と、基板を保持する回転式の基板ホルダとを備
え、前記異種ターゲットの少なくとも2種以上に、前記
複数のイオン源からそれぞれイオンビームを同時に照射
し、前記基板ホルダに保持された基板に各ターゲットか
らスパッタされた粒子を付着するように構成したことを
特徴とするイオンビームスパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61058679A JPH0774440B2 (ja) | 1986-03-17 | 1986-03-17 | イオンビ−ムスパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61058679A JPH0774440B2 (ja) | 1986-03-17 | 1986-03-17 | イオンビ−ムスパツタ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62214172A true JPS62214172A (ja) | 1987-09-19 |
JPH0774440B2 JPH0774440B2 (ja) | 1995-08-09 |
Family
ID=13091255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61058679A Expired - Lifetime JPH0774440B2 (ja) | 1986-03-17 | 1986-03-17 | イオンビ−ムスパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0774440B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04107257A (ja) * | 1990-08-29 | 1992-04-08 | Japan Steel Works Ltd:The | 多元系複合化合物膜の形成方法及び装置 |
US5296122A (en) * | 1989-03-29 | 1994-03-22 | Teruaki Katsube | Apparatus for forming thin film |
CN106939409A (zh) * | 2017-03-28 | 2017-07-11 | 中山市博顿光电科技有限公司 | 一种多离子源溅射生产薄膜的装置及方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6096761A (ja) * | 1983-10-31 | 1985-05-30 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | スパツタ蒸発装置 |
-
1986
- 1986-03-17 JP JP61058679A patent/JPH0774440B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6096761A (ja) * | 1983-10-31 | 1985-05-30 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | スパツタ蒸発装置 |
Cited By (3)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH0774440B2 (ja) | 1995-08-09 |
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