JPH02133071A - インバータのアーム短絡防止回路 - Google Patents
インバータのアーム短絡防止回路Info
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- JPH02133071A JPH02133071A JP63283677A JP28367788A JPH02133071A JP H02133071 A JPH02133071 A JP H02133071A JP 63283677 A JP63283677 A JP 63283677A JP 28367788 A JP28367788 A JP 28367788A JP H02133071 A JPH02133071 A JP H02133071A
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- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 title abstract 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Protection Of Static Devices (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、インバータの短絡保護に係り、特に多重イン
バータのアーム短絡防止に好適な回路に関する。
バータのアーム短絡防止に好適な回路に関する。
従来から、スイッチング素子のターンオフ遅れにより、
発生するインバータ正極アームと負極アームの短絡現象
を防止するにあたっては、1相手に正負極アームが同時
にオフしている時間を設けている。この時間設定に単安
定マルチバイブレータが一般に用いられている。
発生するインバータ正極アームと負極アームの短絡現象
を防止するにあたっては、1相手に正負極アームが同時
にオフしている時間を設けている。この時間設定に単安
定マルチバイブレータが一般に用いられている。
第3図はこのようなインバータアーム短絡防止回路に単
安定マルチバイブレータを用いた一列を示す補成説明図
である。
安定マルチバイブレータを用いた一列を示す補成説明図
である。
第3図において、記号P L Iは正側半導体スイッチ
Qp を駆動する信号、N L l は負側半導体スイ
ッチQN を駆動する信号を示す。また、破線で示すブ
ロック101は前記、インバータの正側と負側の対アー
ムの短絡防止回路構成を示す。さらに、記号S1は相信
号を示す。
Qp を駆動する信号、N L l は負側半導体スイ
ッチQN を駆動する信号を示す。また、破線で示すブ
ロック101は前記、インバータの正側と負側の対アー
ムの短絡防止回路構成を示す。さらに、記号S1は相信
号を示す。
アーム短絡防止回路は単安定マルチバイブレータ1,2
とAND論理素子3,NOR論理素子4から成り、単安
定マルチバイブレータ1は前記相信号Sの立上りで動作
し、動作時間は可変抵抗Rp と固定コンデンサCpの
積となり、負極性(Oレベル)信号Ppが出力され、こ
のPpとSとを入力信号として、AND素子3で信号P
L Iを得る。単安定マルチバイブレータ2は前記信
号Sの立下りで動作し、可変抵抗RNと固定コンデンサ
CNの積に相当した時間だけ遅延した信号PNが出力さ
れる。NOR素子4は前記信号PNと81を入力信号と
し、負論理和信号NLI が得られる。このインバータ
アーム短絡防止回路出力信号PL+ ,NLtで(a)
の対アームのスイッチQp ,QN を駆動することに
より、スイッチ素子Qpの信号P L t がOとなっ
て、Qpがオフする。次に、単安定マルチバイブレータ
2の動作時間だけ遅れて、NLIが1となりスイッチ素
子QNがオンするようになる。すなわち、単安定マルチ
バイブレータ2の動作時はQp ,QN をオフする対
アーム休止期間が出来、Qpのターンオフ動作遅れによ
るアーム短絡を防止できる。一方、同じ様にして、QN
のターンオフ動作遅れによるアーム短絡は単安定マルチ
バイブレータ1の動作によって出来る休止期間で防止す
る。
とAND論理素子3,NOR論理素子4から成り、単安
定マルチバイブレータ1は前記相信号Sの立上りで動作
し、動作時間は可変抵抗Rp と固定コンデンサCpの
積となり、負極性(Oレベル)信号Ppが出力され、こ
のPpとSとを入力信号として、AND素子3で信号P
L Iを得る。単安定マルチバイブレータ2は前記信
号Sの立下りで動作し、可変抵抗RNと固定コンデンサ
CNの積に相当した時間だけ遅延した信号PNが出力さ
れる。NOR素子4は前記信号PNと81を入力信号と
し、負論理和信号NLI が得られる。このインバータ
アーム短絡防止回路出力信号PL+ ,NLtで(a)
の対アームのスイッチQp ,QN を駆動することに
より、スイッチ素子Qpの信号P L t がOとなっ
て、Qpがオフする。次に、単安定マルチバイブレータ
2の動作時間だけ遅れて、NLIが1となりスイッチ素
子QNがオンするようになる。すなわち、単安定マルチ
バイブレータ2の動作時はQp ,QN をオフする対
アーム休止期間が出来、Qpのターンオフ動作遅れによ
るアーム短絡を防止できる。一方、同じ様にして、QN
のターンオフ動作遅れによるアーム短絡は単安定マルチ
バイブレータ1の動作によって出来る休止期間で防止す
る。
なお、この種のインバータアーム短絡防止回路として関
連するものには例えば、公開特許公報昭60−1347
75 ,同昭55− 120376等が挙げられる。
連するものには例えば、公開特許公報昭60−1347
75 ,同昭55− 120376等が挙げられる。
上記従来技術は並列信号処理の点について配慮がされて
いないため、半導体スイッチング素子数に対応した数の
単安定マルチバイブレータと短絡防止期間設定用抵抗,
コンデンサを設けなければならず、特にインバータが多
重になった場合、例えば4重化の場合、第3図(b)に
示すように、設定回路、24個の抵抗、コンデンサを各
々にκMl整する必要がある。また、使用するスイッチ
ング素子に応じて変更しなければならず、部品の標準化
が困難である。
いないため、半導体スイッチング素子数に対応した数の
単安定マルチバイブレータと短絡防止期間設定用抵抗,
コンデンサを設けなければならず、特にインバータが多
重になった場合、例えば4重化の場合、第3図(b)に
示すように、設定回路、24個の抵抗、コンデンサを各
々にκMl整する必要がある。また、使用するスイッチ
ング素子に応じて変更しなければならず、部品の標準化
が困難である。
本発明はこのような点に着目してなされたものであり、
その目的は比較的小規模の回路構成で所望の短絡防止期
間を精度よく設定できるインバータのアーム短絡防止回
路を提供することにある。
その目的は比較的小規模の回路構成で所望の短絡防止期
間を精度よく設定できるインバータのアーム短絡防止回
路を提供することにある。
上記目的は、短絡防止回路における遅延回路を、読み書
き可能なメモリと入カバッファ、出力ラッチ、及びn進
カウンタで構成し、nifflリングカウンタによりア
ドレスを周期的に変更しながらメモリに書かれているデ
ータを、まず読み出してから、次に新しいデータを書き
込み、読み出した信号と、もとの信号を合成することに
より達成される。
き可能なメモリと入カバッファ、出力ラッチ、及びn進
カウンタで構成し、nifflリングカウンタによりア
ドレスを周期的に変更しながらメモリに書かれているデ
ータを、まず読み出してから、次に新しいデータを書き
込み、読み出した信号と、もとの信号を合成することに
より達成される。
メモリから読み出された信号が出力ラッチで保持された
後、入カバッファからメモリのデータバスに信号を送り
、メモリに書き込む。この動作は、メモリの任意のアド
レスについて1回ずつ行われ、アドレスは順次更新され
、周期nでくり返す。
後、入カバッファからメモリのデータバスに信号を送り
、メモリに書き込む。この動作は、メモリの任意のアド
レスについて1回ずつ行われ、アドレスは順次更新され
、周期nでくり返す。
従って、入力された信号は、n回だけ遅れて、出力ラッ
チから出力され、この出力信号と全く遅れのない信号と
が合成回路において論理演算が施され、正極アームゲー
ト信号と負極アームゲ−1一信号には共通のオフ期間が
設けられる。
チから出力され、この出力信号と全く遅れのない信号と
が合成回路において論理演算が施され、正極アームゲー
ト信号と負極アームゲ−1一信号には共通のオフ期間が
設けられる。
これにより、インバータのアーム短絡を防止することが
できるようになる。
できるようになる。
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す構成説明図である。
第1図において、201は81〜S12から成る多相入
力信号が加えられる入力バッファ(I B)で、出力イ
ンピーダンスはイネーブル端子ENを選択的に負極性(
Oレベル)とすることによりハイインピーダンス出力モ
ードにできる。
力信号が加えられる入力バッファ(I B)で、出力イ
ンピーダンスはイネーブル端子ENを選択的に負極性(
Oレベル)とすることによりハイインピーダンス出力モ
ードにできる。
これの出力をデータバスDBとする。205はデータバ
スDBに接続されたメモリ(RAM)で、アドレスデー
タ端子A o − A +の2進データでアドレスを決
め、出力イネーブル端子○Eが正極性(1レベル)、書
込みイネーブル端子WEが負極性(0レベル)のとき前
記アドレスのデータをテータバスへ出力する。逆に、O
EがOレベル,WEが1レベルのとき前記アドレスへ新
しく入力バソファ201よりデータを受け取り保管する
。
スDBに接続されたメモリ(RAM)で、アドレスデー
タ端子A o − A +の2進データでアドレスを決
め、出力イネーブル端子○Eが正極性(1レベル)、書
込みイネーブル端子WEが負極性(0レベル)のとき前
記アドレスのデータをテータバスへ出力する。逆に、O
EがOレベル,WEが1レベルのとき前記アドレスへ新
しく入力バソファ201よりデータを受け取り保管する
。
しかも保管データ量はアドレスバスビット数(21=n
)に応じたものと成るように構成された、例えばスタツ
テイク・ランダムアクセスメモリ(SRAM)形のもの
を用いる。206はデータバスに接続されたラッチで、
前記,メモリからデータバスへ読み出されたデータ01
〜012をラッチクロツク端子CLが1レベルでラッチ
する系、202はクリスタル発振器である。203は発
振器202の出力信号CKによって動作するシーケンス
デコータDEである。前記、入カバッファ出力データI
+〜I12と前記メモリ読み出しデータ01〜012が
データバス上で競合しないよう、両データ間にデータバ
スがハイインピーダンスとなる期間を挿入し、まずメモ
リを読み出し,データを206でラッチし、次に入カバ
ッファ201からデータバスへデータを送出し、メモリ
への書込みを行う。そして、n進リングカウンタをカウ
ン1ヘアップさせ、次のメモリアドレスとする。シーケ
ンスデコーダ203では以上の順序シーケンス動作を行
うように構成する。204は前記メモリ205のアドレ
スを1ステップづつ進めnステップで一巡させるn進リ
ングカウンタで、前記発振器202の出力を一担前記シ
ーケンスデコーダ203で分周,例えば7分周した信号
パルスPCKを夕ロックとして動作するように構成する
系から成る。一方、207は論理回路で、前記、多相入
力信号81〜S12を直接一人力とし、遅延要素300
を介したし1〜L12を他入力とする論理、例えばSI
とLlの正極性(1レベル)ANDによりインバータ正
極アーム素子の駆動信号PLIを得、前記SLとLsの
正極性(1レベル)ORしたものを極性反転によって負
極アーム素子の駆動信号NLIを得る。
)に応じたものと成るように構成された、例えばスタツ
テイク・ランダムアクセスメモリ(SRAM)形のもの
を用いる。206はデータバスに接続されたラッチで、
前記,メモリからデータバスへ読み出されたデータ01
〜012をラッチクロツク端子CLが1レベルでラッチ
する系、202はクリスタル発振器である。203は発
振器202の出力信号CKによって動作するシーケンス
デコータDEである。前記、入カバッファ出力データI
+〜I12と前記メモリ読み出しデータ01〜012が
データバス上で競合しないよう、両データ間にデータバ
スがハイインピーダンスとなる期間を挿入し、まずメモ
リを読み出し,データを206でラッチし、次に入カバ
ッファ201からデータバスへデータを送出し、メモリ
への書込みを行う。そして、n進リングカウンタをカウ
ン1ヘアップさせ、次のメモリアドレスとする。シーケ
ンスデコーダ203では以上の順序シーケンス動作を行
うように構成する。204は前記メモリ205のアドレ
スを1ステップづつ進めnステップで一巡させるn進リ
ングカウンタで、前記発振器202の出力を一担前記シ
ーケンスデコーダ203で分周,例えば7分周した信号
パルスPCKを夕ロックとして動作するように構成する
系から成る。一方、207は論理回路で、前記、多相入
力信号81〜S12を直接一人力とし、遅延要素300
を介したし1〜L12を他入力とする論理、例えばSI
とLlの正極性(1レベル)ANDによりインバータ正
極アーム素子の駆動信号PLIを得、前記SLとLsの
正極性(1レベル)ORしたものを極性反転によって負
極アーム素子の駆動信号NLIを得る。
このように構成された装置の動作を第2図のタイミング
チャートを用いて説明する。
チャートを用いて説明する。
第2図において、記号Pcxは発振器出力、■はシーケ
ンスデコーダ出力、■はメモリのアドレス値をアナログ
化したもの、のは多相入力信号S1〜S12のうち任意
の1相信号s+.■はデータバス,■は多相ラッチ出力
し1〜L12のうち任意の1相ラツチ出力L+、 ■は
最終出力の任意の1対PLI , NLtである。また
、実線はメモリーの読み出し、書込み動作しこ相当した
時間スケールを、破線は時間軸を圧縮してn進カウンタ
によるメモリアドレス周期に相当した時間スケールを示
す。そして、t1〜し7はシーケンスデコーダの動作タ
イミング、記号Xは任意のメモリーアトレス番号、T.
はn進リングカウンタの任意の周期番号を示す。
ンスデコーダ出力、■はメモリのアドレス値をアナログ
化したもの、のは多相入力信号S1〜S12のうち任意
の1相信号s+.■はデータバス,■は多相ラッチ出力
し1〜L12のうち任意の1相ラツチ出力L+、 ■は
最終出力の任意の1対PLI , NLtである。また
、実線はメモリーの読み出し、書込み動作しこ相当した
時間スケールを、破線は時間軸を圧縮してn進カウンタ
によるメモリアドレス周期に相当した時間スケールを示
す。そして、t1〜し7はシーケンスデコーダの動作タ
イミング、記号Xは任意のメモリーアトレス番号、T.
はn進リングカウンタの任意の周期番号を示す。
以下に、タイミング順に述べる。まず、 ■時点で多相
入力信号Slに変化が生じる。
入力信号Slに変化が生じる。
この時点をn進リングカウンタ周期のT,番目のメモリ
アドレスXとする。シーケンデコーダ出カイ言号■のP
OEをし1,t.z,t3において、1レベルとし、メ
モリの読み出しを行い、データバスにoxを出力する。
アドレスXとする。シーケンデコーダ出カイ言号■のP
OEをし1,t.z,t3において、1レベルとし、メ
モリの読み出しを行い、データバスにoxを出力する。
この08は、n進リングカウンタの周期T.の1つ前の
T1−1でメモリアドレスXに書込まれたデータエ、を
出力することになる。この期間にシーケンスデコーダは
tzでPcLを1レベルとし、出力ラッチ206のラッ
チクロツク端子CLへ加え、Oxをラッチする。このと
き、ラッチ出力LLにはL1に相当する相信号S1の変
化前の1レベルがラッチされる。次に、シーケンスデコ
ーダ203はし4,t.5+j6+t7においてPEN
を1レベルとし、入力バッファ201のイネブル端子E
Nに加える。データバスのデータを■。とするとt5で
PWEを1レベルとし、これをメモリ205のライトイ
ネーブル端子へ加え、アドレスXへ新しく1xを書込む
。ここで、前名己S1に相当するメモリデータビットD
Iに変化後のOレベルを書込むことになる。そして、シ
ーケンスデコーダ203は自己リセットして、スタート
時のt1となる。このとき同時にn進リングカウンタを
カウントアップし、メモリアドレスをx+1とする。こ
のx+1番目でも前記したアドレスX番目と同じシーケ
ンスが繰返される。
T1−1でメモリアドレスXに書込まれたデータエ、を
出力することになる。この期間にシーケンスデコーダは
tzでPcLを1レベルとし、出力ラッチ206のラッ
チクロツク端子CLへ加え、Oxをラッチする。このと
き、ラッチ出力LLにはL1に相当する相信号S1の変
化前の1レベルがラッチされる。次に、シーケンスデコ
ーダ203はし4,t.5+j6+t7においてPEN
を1レベルとし、入力バッファ201のイネブル端子E
Nに加える。データバスのデータを■。とするとt5で
PWEを1レベルとし、これをメモリ205のライトイ
ネーブル端子へ加え、アドレスXへ新しく1xを書込む
。ここで、前名己S1に相当するメモリデータビットD
Iに変化後のOレベルを書込むことになる。そして、シ
ーケンスデコーダ203は自己リセットして、スタート
時のt1となる。このとき同時にn進リングカウンタを
カウントアップし、メモリアドレスをx+1とする。こ
のx+1番目でも前記したアドレスX番目と同じシーケ
ンスが繰返される。
そして,このシーケンスの繰返しはアドレスXmaxを
経過し、次のn進リングカウンタ周期T3+1番目のア
ドレスnまで行われ、ラッチ出力L+ にはS.の変化
前のレベル1がラッチされる。
経過し、次のn進リングカウンタ周期T3+1番目のア
ドレスnまで行われ、ラッチ出力L+ にはS.の変化
前のレベル1がラッチされる。
なお、n進カウンタ周期T,+1番目のメモリアドレス
X番目で読み出されるデータはSIの変化後の値となる
ため、ラッチ出力L+ が0レベルとなり、変化点 ■
が生じる。この■以後、多相入力信号Slが再び変化す
るまで同レベル状態となる。この一連のシーケンスデコ
ーダ203とn進リングカウンタ204の周期的な動作
により、入力信号S,の変化点のはメモリに書込れた後
、約n進リングカウンタ204の1周期T遅延されラッ
チ出力L+ の変化点■とすることが出来る。
X番目で読み出されるデータはSIの変化後の値となる
ため、ラッチ出力L+ が0レベルとなり、変化点 ■
が生じる。この■以後、多相入力信号Slが再び変化す
るまで同レベル状態となる。この一連のシーケンスデコ
ーダ203とn進リングカウンタ204の周期的な動作
により、入力信号S,の変化点のはメモリに書込れた後
、約n進リングカウンタ204の1周期T遅延されラッ
チ出力L+ の変化点■とすることが出来る。
最後に遅延しないS.と遅延したL+ の論理で合成す
るPLIとN L Iについて述べる。
るPLIとN L Iについて述べる。
PLIはPLl=Sl’Llの正論理ANDで得る。
このため、Slが1から0へ変化する ■点までS+,
L+ ともに1レベルであり、PLtも1レベルとなり
、■点後はSLがOレベル、Llが1レベルであるため
Pし,は0レベルとなる。一方、NLIはN t. t
= S I+ L + (7) N O R テ得る
ため、■点までは前記したようにSL,Llともに1レ
ベルであり、これらのOR論理後極性反転したNl、,
はOレベルである。■点後はSlがOレベルとなるがL
,は1レベルであるため、前記した論理によりN L
+はまだ0レベルである。そして、■点でS+,L+
ともに0レベルとなるので、SとL+のOR論理後極性
反転するN L Iが1レベルとなる。すなわち、 ■
一 ■の期間、PLI,N L Iが共にOレベルとな
る短絡動作防止期間が出来る。このときの短絡防止期間
Tは、例えば、発振器202の出力周波数fcy.、シ
ーケンスデコーダ203の分周比k.n進リングカウン
タ204の進数nとすれば となる。なお、fcx,kの値は使用するメモリのアク
セスタイムなどから決定する。さらにTが所望の短絡防
止期間になるようにnを決めることにより、多相入力信
号全ての短,絡防止期間を設けるk
k みで短絡防止期間を設定できる。
L+ ともに1レベルであり、PLtも1レベルとなり
、■点後はSLがOレベル、Llが1レベルであるため
Pし,は0レベルとなる。一方、NLIはN t. t
= S I+ L + (7) N O R テ得る
ため、■点までは前記したようにSL,Llともに1レ
ベルであり、これらのOR論理後極性反転したNl、,
はOレベルである。■点後はSlがOレベルとなるがL
,は1レベルであるため、前記した論理によりN L
+はまだ0レベルである。そして、■点でS+,L+
ともに0レベルとなるので、SとL+のOR論理後極性
反転するN L Iが1レベルとなる。すなわち、 ■
一 ■の期間、PLI,N L Iが共にOレベルとな
る短絡動作防止期間が出来る。このときの短絡防止期間
Tは、例えば、発振器202の出力周波数fcy.、シ
ーケンスデコーダ203の分周比k.n進リングカウン
タ204の進数nとすれば となる。なお、fcx,kの値は使用するメモリのアク
セスタイムなどから決定する。さらにTが所望の短絡防
止期間になるようにnを決めることにより、多相入力信
号全ての短,絡防止期間を設けるk
k みで短絡防止期間を設定できる。
ここで、fcxの分周比kはメモリ205のアクセスタ
イムなどにより制限され、nはメモリ205の記憶容量
に依存する。そこで、アクセスタイムが高速でかつメモ
リ容量の大きいものがあれば、アーム短絡防止期間の精
度が向上し、設定範囲も広くなる。
イムなどにより制限され、nはメモリ205の記憶容量
に依存する。そこで、アクセスタイムが高速でかつメモ
リ容量の大きいものがあれば、アーム短絡防止期間の精
度が向上し、設定範囲も広くなる。
本発明によれば、比較的小規模の回路構成で、多数台の
インバータの各相の短絡を防止することができ、その期
間も精度よく、しかも簡単に設定変更できるという効果
がある。
インバータの各相の短絡を防止することができ、その期
間も精度よく、しかも簡単に設定変更できるという効果
がある。
例えば、(1)式において、fcx= 1 2MH z
,k=7,n=27とすると、T= (74.66±
0.58)μSなる短絡防止期間を設けることができる
。設定精度としては±0.58μs となる。
,k=7,n=27とすると、T= (74.66±
0.58)μSなる短絡防止期間を設けることができる
。設定精度としては±0.58μs となる。
第1図は本発明の一実旅例を示す構成説明図,第2図は
第1図の動作説明するためのタイミングチャート、第3
図は従来の単安定マルチバイブレー夕を用いたインバー
タの短絡防止回路図である。 201・・・入カバッファ、202・・・発振器、20
3・・・シーケンスデコーダ、204・・n進リングカ
ウンタ、205・・・メモリ、206・・・ラッチ、2
07ト
第1図の動作説明するためのタイミングチャート、第3
図は従来の単安定マルチバイブレー夕を用いたインバー
タの短絡防止回路図である。 201・・・入カバッファ、202・・・発振器、20
3・・・シーケンスデコーダ、204・・n進リングカ
ウンタ、205・・・メモリ、206・・・ラッチ、2
07ト
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、インバータの制御装置において、原信号を遅延させ
る回路、前記回路の出力信号と原信号を合成する回路か
ら成り、前記遅延回路を、読み書き可能なメモリ回路と
、前記メモリ回路のアドレスを周期的に指定する回路と
、前記メモリ回路のデータバスに接続した原信号バッフ
ァ回路及び出力信号ラッチ回路と、前記メモリ回路、バ
ッファ回路及びラッチ回路のデータ入出力を制御する回
路で構成したことを特徴とするインバータのアーム短絡
防止回路。 2、特許請求の範囲第1項記載の回路において、メモリ
回路のアドレスを周期的に指定する回路をn進リングカ
ウンタで構成し、nを可変にできることを特徴とするイ
ンバータのアーム短絡防止回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63283677A JPH02133071A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | インバータのアーム短絡防止回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63283677A JPH02133071A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | インバータのアーム短絡防止回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02133071A true JPH02133071A (ja) | 1990-05-22 |
Family
ID=17668640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63283677A Pending JPH02133071A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | インバータのアーム短絡防止回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02133071A (ja) |
-
1988
- 1988-11-11 JP JP63283677A patent/JPH02133071A/ja active Pending
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