JPH0198916A

JPH0198916A - カメラの投光型測距装置

Info

Publication number: JPH0198916A
Application number: JP25693687A
Authority: JP
Inventors: Seiji Takada; 誠司高田; Takaaki Kotani; 高秋小谷
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1987-10-12
Filing date: 1987-10-12
Publication date: 1989-04-17

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は被写体に向けて測距用の光を投射する投光型測
距装置に関するものである。

〔従来の技術〕

最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームの投射による被写体からの反射
光を受光センサーで受けるようにしている。受光センサ
ーは複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したも
ので、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入
射したかを電気的に識別することによって、被写体距離
に対応した測距信号を得ることができる。

このような測距装置では、反射率の高い被写体や近距離
被写体等から強い反射光が特定の受光素子に入射したと
きに、これに隣接した受光素子にもクロストーク等の影
響によって一定の割合で光電出力が現れること力燻る。

このため、受光素子に光電出力が現れている場合でも、
この光電出力が被写体から受光素子に正規に入射した光
によるものであるか、あるいは前述したクロストーク等
の影響によるものかが識別できず、測距の精度を劣化さ
せることがある。

こうした点を考慮し、特開昭５６−２９１１２号公報記
載の測距装置では、複数”の受光素子から光電出力が現
れたときには、受光素子の各々に接続されたコンパレー
タの基準電圧を、光電出力の最大レベルのものを基準に
して変えることによってクロストーク等の影響による偽
信号の発生を回避するようにしている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら上記公報に記載の測距装置では、受光素子
以降の回路構成が複雑になりコスト的にも負担が大きい
ものになる。

［発明の目的］本発明はこのような従来技術の欠点を解決するためにな
されたもので、回路構成を複雑化させることなく、クロ
ストーク等の影響を受けずに受光素子から的確に光電出
力を検出することができるようにしたカメラの投光型測
距装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、被写体に向けて測
距用の光を投光する投光手段と、この投光手段からの光
の光量を可変する光量可変手段と、被写体から反射され
てきた光を受光するために基線長方向に配列された複数
の受光素子からなる受光手段と、前記複数個の受光素子
のそれぞれから出力される光電出力を基準電圧と比較し
て反転出力を供出する複数のコンパレータと、これらの
コンパレータから所定個数の反転出力が得られた以降は
他のコンパレータから出力される反転出力を無効化する
手段とを設けたものである。

〔作用〕

上記の手段によれば、投光手段から被写体に向けて投射
される測距用の光の光量が徐々に変化することに対応し
、受光素子からの光電出力も変化するようになる。受光
素子のそれぞれにはコンパレークが接続され光電出力は
各々の基準電圧と比較されるが、その一方の入力である
光電出力が変化するため、その変化の過程でコンパレー
タ出力は反転する。例えば、コンパレータのそれぞれに
共通の基準電圧を与え、測距用の光の光量を漸増させて
いったときには、被写体からの反射光を最も多く受光し
ている受光素子に接続されたコンパレータの出力が最初
に信号出力ｒＱＪからｒｌＪへと反転する。したがって
、コンパレータからの信号出力のサンプリングを中止す
れば、被写体からの反射光を最も強く受光している受光
素子の光電出力だけに基づいて測距信号を得ることがで
きるようになる。

なお、上記コンパレータからの信号出力から測距信号を
得るにあたっては、必ずしも１個のコンパレータ出力が
反転された時点に限定されるものではなく、例えば２つ
の信号出力が反転された時点でこれらの受光素子の位置
を勘案して測距信号を検出してもよい。

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

〔実施例〕

第２図は通常の被写体距離範囲、例えば０．　９ｍ〜無
限遠までの距離範囲を測距するアクティブタイプの測距
系の概略を示すもので、投光部２は、近赤外光を放射す
る放電管３．放電管３からの光をスリット状に整形する
スリット板４．投光レンズ５とからなる。また受光部７
は、受光レンズ８゜受光センサー９とから構成されてい
る。投光レンズ５と受光レンズ８の各々の光軸５ａ、８
ａは、撮影レンズ１０の光軸１０ａと平行となっており
、基線長しだけ隔てられている。受光センサー９は、詳
しくは後述するように、横長矩形の微少な受光素子８１
〜Ｓ６を基線長し方向に配列してなるものである。

投光部２から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体１２で反射されると、そ
の反射光１２ａは受光レンズ８を通して受光素子Ｓ３に
入射する。また、中距離被写体１３あるいは遠距離被写
体１４からスリット６一光の一部が反射されると、反射光１３ａ、１４ａのそれ
ぞれは受光素子Ｓ２．ＳＬに入射するようになる。した
がって受光センサー９のうちで、どの受光素子に被写体
からの反射光が入射したかを検出することによって被写
体距離を求めることができる。なお、このように測距用
の光ビームとしてスリット光を用いると、主要被写体を
撮影画面の中央部から外した状態でもこれに測距用の光
ビームが照射されるようになり、測距時における照準操
作や測距の後にフレーミングをし直すという面倒な操作
をしなくても済むようになるが、スリット光の代わりに
スポット光を投射して測距を行うこともできる。

第３図は上述した測距系に赤外発光ダイオード１５（以
下、Ｉ　ＲＥＤ　１５という）を用いた測距系を併設し
、同じ受光センサー９を利用しながら、さらに０．９ｍ
以内の近距離側での測距機能を向上させた測距系を示し
たものである。Ｉ　ＲＥＤ　１５０投光光軸１５ａは、
投光レンズ５の光軸５ａに対して角θだけ受光センサー
９側に傾けられ、被写体に向けてスポットパターンの光
ビームを照射する。これによれば、投光部２からのスリ
ット光によって検出できる至近距離よりもさらに近距離
側、すなわちマクロ範囲にある被写体からの反射光でも
受光センサー９で受光することができるようになる。

第４図は被写体距離範囲について撮影レンズ１０のセッ
ト位置を対応させたもので、Ｎ１〜Ｎｌ。

は投光部２からのスリット光で測距したときに決められ
る通常の被写体距離範囲でのレンズセット位置を表し、
ｎ、〜ｎ、はＩＲＥＤ１５からのスポット光で測距した
ときに決められるマクロ範囲でのレンズセット位置を表
している。これらのセット位置ｎｌ　〜ｎｓ　ｌ　Ｎ１
−Ｎ＋ｏは、被写体距離ｌ、〜ｌ、５を最適合焦距離と
しているものであるが、合焦と見做せる最小錯乱円径を
例えば０．０２５ｍｍとすると、撮影レンズ１０の被写
界深度を考慮したときには、略１１から無限遠までの被
写体距離範囲に対して連続的に合焦させることができる
。

上述した測距用の放電管３．受光センサー９゜Ｉ　ＲＥ
Ｄ　１５は、第５図に示した回路とともに用いられる。

測距用の放電管３は、撮影時の被写体照明用の放電管１
７とともにストロボ駆動回路１８によって作動制御され
、ＩＲＥＤ１５はＩＲＥＤ駆動回路１９によって制御さ
れる。受光センサー９を構成している受光素子３１〜Ｓ
６は信号処理回路２０に接続され、受光素子３１〜Ｓ６
の各々からの光電出力は信号処理回路２０によって信号
変換される。信号処理回路２０にはＡＦ制御回路２１が
接続され、ＡＦ制御回路２１は信号処理回路２０からの
信号出力を測距データに変換してマイクロコンピュータ
２２に入力する。なお、詳しくは後述するように、ＡＦ
制御回路２１がらは適宜のタイミングで放電管３．ＩＲ
ＥＤ１５を点灯させるための信号がそれぞれストロボ駆
動回路１Ｂ、ＩＲＥＤ駆動回路１９に出力される。

マイクロコンピュータ２２には、前記ストロボ駆動回路
１８．ＡＦ制御回路２１の他、プログラムシャッタ２３
の開閉を制御するためのシャッタ駆動回路２４．被写体
輝度を測定する測光回路２５、モータ２６を駆動するモ
ータ制御回路２７゜ＡＦ制御回路２１から入力された測
距データごとに撮影レンズ１０のセット位置を対応付け
たＡＦ子テーブル８が接続されている。

前記信号処理回路２０は第６図に示したような回路構成
となっており、受光素子Ｓ１〜Ｓ６からの各光電流信号
は、それぞれ基準電圧ＶＳＩが印加された初段のオペア
ンプによって電圧信号に変換される。この電圧信号には
直流成分、すなわち太陽光等の外光による光電信号も含
まれているが、初段のオペアンプの出力端にはそれぞれ
低周波成分カット用のコンデンサが接続されているから
、基準電圧■ｓ□の次段のオペアンプには直流成分を含
まない信号成分だけが入力される。次段のオペアンプに
よってそれぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力は、
受光素子８１〜Ｓ５のそれぞれに対応して設けられたコ
ンパレータ３０ａ、３０ｂ。

３０ｃ、３０ｄ、３０ｅに入力され、また受光素子Ｓ６
からの光電出力はコンパレータ３０ｆに入−１〇− 力される。

前記コンパレータ３０ａ〜３０ｆのそれぞれには、分圧
器３２によって各々基準電圧ｖ３〜■。

が与えられている。この基準電圧のレベルは■８〉■５
〉・・・〉■、に設定されており、したがって受光素子
の各々から出力され、初段及び第２段のオペアンプで一
定比率に増幅された光電出力は、これらの基準電圧■８
〜Ｖ、と比較される。

そして、各々の受光素子Ｓ１〜Ｓ６からの光電出力が、
基準電圧Ｖ８〜■、を越えたときには、コンパレータ３
０ａ〜３０ｆの出力端に現れている信号出力は「０」か
ら「１」に反転する。

なお、上述のように基準電圧Ｖ８〜■、を遠距離被写体
からの反射光を受光する受光素子Ｓｌ側はど低く、近距
離被写体からの反射光を受光する受光素子Ｓ６側はど高
くし、反射光強度が弱い遠距離被写体からの光について
は低いレベルで、また近距離被写体からの強い反射光に
ついては高いレベルで光電出力の有無を判定すれば、初
段及び第２段のオペアンプの増幅率を一定にしたままで
も、人間の肌などのような平均的な反射率をもった被写
体からの反射光について、被写体距離の影響をあまり受
けることのない良好な検出を行うことができる。

上記コンパレータ３０ａ〜３０ｆの出力端に現れた「０
」もしくは「１」の信号出力Ａ、〜Ａ６はＡ　Ｆ　！Ｉ
Ｊ御回路２１に入力される。ＡＦ制御回路２１は第１図
のように構成され、信号出力Ａ１〜Ａ６は各コンパレー
タごとに対応して設けられたＤ−フリップフロップ回路
ＦＦＩ〜ＦＦ６　（以下、単にＦＦＩ〜ＦＦ６という）
のクロック端子にアンドゲートＧ１〜Ｇ６を介して入力
される。ＡＦ制御回路２１は、上述したＦＦＩ〜ＦＦ６
の他、電源ＶＣＣを印加してから一定時間後にリセット
パルスを出力するリセットパルス発生回路３３．マイク
ロコンピュータ２２から供給されるクロックパルスを計
数するカウンタ３５．カウンタ３５の計数値に応じて測
距シーケンスを遂行するための制御パルスを出力するデ
コーダ３６．ＦＦＩ〜ＦＦ６のＱ端子出力を受け、これ
を測距データとして出力するシフトレジスタ３８等を備
えている。

ＦＦＩ〜ＦＦ６の各Ｑ端子出力は、シフトレジスタ３８
の他にノアゲート４０にも入力され、このノアゲート４
０の出力はオアゲート４１の一方の入力となる。オアゲ
ート４１の他方の入力端には、詳しくは後述するように
、測距がマクロ範囲のものであるか通常範囲のものであ
るかによって、デコーダ３６からＨ信号あるいはＬ信号
が供給される。そして、このオアゲート４１の出力はＦ
Ｆ１〜ＦＦ６に接続されているアンドゲートＧ１〜Ｇ６
の入力端にフィードバックされる。

第７図はＩＲＥＤ駆動回路１９の一例を示している。Ｉ
ＲＥＤ１５には直列に制御用のＦＥＴ４５が接続されて
おり、ＦＥＴ４５のベース電位に対応してＩＲＥＤ１５
の電流が制御される。ＦＥＴ４５のベース電位は、コン
デンサＣ１が充電されることにより漸増する。すなわち
、デコーダ３６からのＩＲＥＤ駆動信号によってトラン
ジスタ４３ａ、４３ｂが導通しコンデンサＣ１に充電が
開始されると、このコンデンサＣＩの充電電圧に比例し
て第８図に示したようにＩ　ＲＥＤ　１５の発光量は漸
増するようになる。なお、コンデンサＣ１に並列に接続
されたトランジスタ４４は、コンデンサＣ１の両端を短
絡してコンデンサＣＩをリセットするためのものである
。

第９図はストロボ駆動回路１８の回路構成を示している
。このストロボ駆動回路１８は、測距用の放電管３と、
撮影時に被写体に補助照明光を照射する撮影用の放電管
１７との両者の作動を制御する。コンデンサＣ−，Ｃｂ
は放電管１７．３のそれぞれに発光エネルギーを供給す
るためのもので昇圧回路４６を介して充電される。スト
ロボ駆動回路１８に設けられた各端子ＴＩ　、　Ｔ２　
、　Ｔｅｌ、Ｔ４　、Ｔｓは、それぞれ昇圧回路４６の
発振開始信号入力端子１発振禁止信号入力端子、コンデ
ンサＣ３の充電完了信号送出端子、測距用放電管３の発
光トリガ信号入力端子、撮影用放電管１７の発光トリガ
信号入力端子として用いられる。そして、測距用放電管
３の発光トリガ信号入力端子Ｔ、には、デコーダ３６か
ら出力されるＡＦ）リガパルスが入力される。

以上のように構成された測距装置の作用は次のとおりで
ある。例えばレンズカバーの開放操作等によって電源ス
ィッチが投入されると、第９図に示した昇圧回路４６が
作動してコンデンサＣよ。

Ｃｂが充電される。コンデンサＣ３の充電完了信号がマ
イクロコンピュータ２２に入力されることによって撮影
準備が完了する。

シャッタボタン（図示省略）の押圧操作の初期に、測距
装置の電源スィッチが投入されると、ＡＦ制御回路２１
に電源ＶＣＣが印加される。この電源ＶＣＣの安定を待
って、第１図に示したリセットパルス発生回路３３から
リセットパルスが出力され、これによりアンドゲートＧ
Ｏの開閉制御用のＦＦＯがリセットされ、まずマクロ範
囲の測距が開始される。ＦＦＯがリセットされるとＱ端
子にＨ信号が現れ、アンドゲートＧＯがオープンされる
。また、これと同時にカウンタ３５がリセットされる。

マイクロコンピュータ２２は、測距装置の電源スィッチ
の投入から１００ｍ５ｅｃの遅延の後、ＡＦ制御回路２
１にクロックパルスを出力する。

この１００ｍｓ　ｅ　ｃの遅延の間に、信号処理回路２
０の各コンパレータ３０ａ〜３０ｆに与えられる基準電
圧■８〜Ｖｆの安定化等が行われる。マイクロコンピュ
ータ２２からのクロックパルスは、アンドゲートＧＯを
通ってカウンタ３５に供給される。カウンタ３５にはデ
コーダ３６が接続され、デコーダ３６はカウンタ３５で
のクロックパルスの計数値に対応して測距シーケンスを
コントロールする。

デコーダ３６は、まず信号処理回路２０からの信号出力
Ａ１〜Ａ６をラッチするため０ＦＦＩ〜ＦＦ６にリセッ
トパルスを出力する。その後、デコーダ３６はアンドゲ
ートＧ１〜Ｇ６の７−入力端ニパルスＩ５５０ｍｓｅｃ
程度の読み込みパルスを出力する。なお、マクロ範囲で
の測距時には、デコーダ３６からオアゲート４１にはＬ
信号が入力されたままとなっているが、この時点ではＦ
Ｆ１〜ＦＦ６はリセット状態にあるから、ノアゲート４
０からはＨ信号が出力され、これがオアゲート４１を通
って各アンドゲートＧ１−Ｇ６に供給されることになる
。

前記読み込みパルスが出力された後、デコーダ３６は、
ＩＲＥＤ駆動回路１９にＩＲＥＤ駆動信号を出力する。

これによりＩ　ＲＥＤ　１５は、第８図に示したように
、読み込みパルスが供給されている期間中に、徐々に光
量を増加しながら被写体に近赤外光を投射する。そして
、被写体距離１３の近傍に被写体が存在している場合に
は、第１０図に示したように、ＩＲＥＤ１５の光量が増
加してゆくにつれて、受光素子Ｓ２．Ｓ３，３４に入射
してくる被写体からの反射光強度も徐々に上昇し光電出
力が漸増してくる。

これらの光電出力の増加はコンパレータ３０ｂ。

３０ｃ、３０ｄで各々の基準電圧Ｖ、、Ｖ、、Ｖ６で比
較される。この比較の結果、コンパレータ３０ｂ、３０
ｃ、３０ｄの各出力端には、それぞれ１２，１．．１．
の時点で信号出力「１」が現れるようになる。しかしな
がら、これらの信号出カの内、最も速いタイミングで「
１」になるコンパレータ３０ｃの信号出力がアンドゲー
トＧ３に入力されると、その瞬間にＦＦ３がセットされ
てＱ端子からＨ信号が出力されるようになる。また、こ
のＱ端子出力はノアゲート４０にも供給されるから、ノ
アゲート４０の出力端にはＬ信号が現れる。このＬ信号
は各アンドゲートＧ１〜Ｇ６の入力端に供給され、これ
によりアンドゲートＣ１〜Ｇ６は全てゲートオフ状態と
なる。したがって、ツレ以後の１２．１．の時点でコン
パレータ３０ｂ、３０ｄから信号出力「１」が得られて
も、・これによりＦＦ２あるいはＦＦ４がセットされる
ことはなく、受光素子Ｓ３に光入射があったものとして
以後のシーケンスが続行される。すなわち、マクロ範囲
での測距においては、Ｉ　ＲＥＤ　１５の光量を漸増さ
せながら測距してゆく過程で、ＦＦ１〜ＦＦ６の中で最
も速いタイミングでセットされたもののみが有効化され
、その状態でラッチされることになる。

こうしてマクロ範囲での測距を行いＦＦ３がセツトされ
ると、そのＱ端子出力によってシフトレジスタ３８の所
定ビット位置に「１」が書き込まれる。そして前記読み
込みパルスが出力された後一定時間経過すると、デコー
ダ３６からシフトレジスタ３８のｒ　０Ｎ１０ＦＦ　Ｊ
端子にＨ信号が出力されるようになる。シフトレジスタ
３８のｒ　０Ｎ１０ＦＦ　Ｊ端子にＨ信号が入力された
状態でｒｃＫＪ端子にクロックパルスが供給されると、
このクロックパルスはシフトレジスタ３８の各ビット位
置にメモリされたデータを次段のビット位置へ順次に移
動させるシフトパルスとして作用する。そしてＦＦ１〜
ＦＦ６からのＱ端子出力を各ビット位置ごとに格納して
いたシフトレジスタ３８からは、信号出力Ａ１〜Ａ６が
組み合わされた測距データがマイクロコンピュータ２２
に転送される。すなわち、上述のようにＦＦ３だけがセ
ットされた場合には、ＦＦ６．ＦＦ５．　　・・・、Ｆ
ＦＩの配列順に対応し、マイクロコンピュータ２２には
ｒｏｏｏｌｏｏ」の測距データが転送される。

このように、マクロ範囲での測距時に信号が検出される
と、オアゲート４１の出力端にはＬ信号が現れ、インバ
ータ、オアゲートを通してＦＦＯがセットされ、そのＱ
端子出力によりアンドゲートＧｏがゲートオフする。こ
れによりクロックパルスが遮断され、カウンタ３５の計
数も停止してマクロ範囲での測距シーケンスが完了する
。

上記のようにマクロ範囲で測距を行って測距データが得
られると、マイクロコンピュータ２２はその測距データ
に基づいて被写体距離がｊ２３であることを判定し、撮
影レンズ１０をレンズセット位置ｎ３に移動させるよう
にモータ駆動回路２７に駆動パルスを出力し、撮影レン
ズ１０が合焦位置にセットされるようになる。なお、受
光素子Ｓ６は近距離警告用に用いられるもので、被写体
が、撮影レンズ１０のセット可能な至近距離よりも接近
しているときには、この受光素子Ｓ６によって被写体か
らの反射光が受けられ、その光電出力によってファイン
ダに近距離警告が行われるようになる。

ところで、マクロ範囲での測距を行った結果、読み込み
パルスの出力期間中に信号出力Ａ１〜Ａ６のいずれにも
ｒｌＪが含まれておらず、ＦＦＩ〜ＦＦ６のいずれもが
セットされないときには、引続き通常範囲での測距が実
行される。この通常範囲での測距時には、マイクロコン
ピュータ２２からストロボ駆動回路１８の端子Ｔ２にＨ
信号が供給され、昇圧回路４６の作動が禁止される。そ
の後、デコーダ３６からのリセットパルスによって、Ｆ
ＦＩ〜ＦＦ６のそれぞれが再びリセットされ、さらにデ
コーダ３６からＡＦ）リガパルスがストロボ駆動回路１
８の端子Ｔ４に入力される。

これによりコンデンサＣ３に蓄えられた電荷によって放
電管３が発光する。

ＡＦ）リガパルスが出力された後、カウンタ３５によっ
て一定時間分のクロックパルスが計数されると、デコー
ダ３６からはマクロ範囲での測距時とは異なり、短いパ
ルス幅をもった読み込みパルスが出力される。また、こ
の通常範囲での測距時にはコーグ３６からオアゲート４
１の一方の入力端にはＨ信号が供給されるようになる。

−２１＝一２０＝読み込みパルス期間中に、放電管３の投光による反射光
が受光素子３１〜Ｓ６の中のいずれかに入射し、コンパ
レータ３０ａ〜３０ｆからの信号出力Ａ１〜Ａ６中に「
１」が含まれていると、これによりＦＦＩ〜ＦＦ６の対
応するものがセットされ、これがシストレジスタ３８の
対応ビット位置に書き込まれる。以後はマクロ範囲での
測距時と同様に、シフトレジスタ３８のｒ　０Ｎ１０Ｆ
Ｆ　Ｊ端子にＨ信号が出力され、測距データはクロック
パルスによってマイクロコンピュータ２２に転送される
。

ところで、上述の通常範囲での測距時には、デコーダ３
６からのＨ信号がオアゲート４１に与えられるため、ノ
アゲート４０の出力によってアンドゲートＧ１〜Ｇ６が
ゲートオフされることがない。したがって、短いパルス
幅の読み込みパルスの期間中に得られた信号出力は全て
有効化され、ＦＦＩ〜ＦＦ６の中の複数がセットされる
こともある。これは、通常範囲での測距時には被写体に
向けてスリット光が照射され、広い範囲を同時に測距し
てその受光パターンから主要被写体の距離を決定するた
めであり、このようにして得られた測距データによって
、以下のようにしてレンズセット位置が決定される。

例えば通常範囲での測距データとして「０００１１０Ｊ
　　（ＦＦ３．ＦＦ２がセットされた状態）が得られる
と、マイクロコンピュータ２２はＡＦ子テーブル８を対
照してレンズセット位置を決定する。ＡＦ子テーブル８
は第１１図に示したように、測距データと被写体輝度情
報（ＥＶ値）との組み合わせからレンズセット位置を対
応付けたものである。そして、測光回路２５によってｒ
ＥＶ１５」であることが検出されたときには、前記測距
データは受光素子Ｓ２．Ｓ３に反射光が入射したことを
意味するから、第１１図のＡＦ子テーブル８によりレン
ズセット位置として「Ｎ７」が得られることになる。な
お、このＡＦ子テーブル８は、隣接する２個の受光素子
までを対象としてレンズセット位置を対応させたもので
あるが、ＡＦ子テーブル８のデータを増やすことによっ
て、その他の受光素子からの出力をも考慮してレンズセ
ット位置を決めることもできる。

以上のようにして通常範囲でのレンズセット位置が決定
されると、このレンズセット位置に対応した個数の駆動
パルスがマイクロコンピュータ２２からモータ駆動回路
２７に出力され、撮影レンズ１０が移動される。なお、
通常範囲での測距を行った結果、測距データが「１００
０００」すなわちＦＦ６だけがセット状態であった場合
は、最終的なレンズセット位置は「ｎ、」として決定さ
れる。

マクロ範囲あるいは通常範囲での測距を行い、さらに撮
影レンズ１０の移動が完了すると、シャッタボタンのロ
ックが自動解除され撮影を行うことができるようになる
。そして、さらにシャッタボタンを押し込むことによっ
て、マイクロコンピュータ２２からシャッタ駆動回路２
４に作動信号が供出され、ＥＶ値に対応した開口径でプ
ログラムシャッタ２３が開閉して撮影が行われる。

ところで、前述したＡＦ子テーブル８には、破線で囲ん
だように被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ１７の
制御データ、すなわち内蔵ストロボ１７の発光タイミン
グデータもメモリされている。そして、レンズセット位
置がＡＦ子テーブル８の破線で囲んだデータによって決
定された場合には、プログラムシャッタ２３の開口径が
ＡＦ子テーブル８にメモリされた開口径に達するまでマ
イクロコンピュータ２２がシャッタ駆動回路２４に作動
パルスを出力すると、マイクロコンピュータ２２からス
トロボ駆動回路１８の端子Ｔ４にトリガパルスを出力す
る。これにより、プログラムシャッタ２３が被写体距離
に対応した開口径になったときに放電管１７が発光して
ストロボ撮影が行われることになる。

以上、図示した実施例について説明してきたが、もちろ
ん本発明はマクロ範囲の測距系に限らず通常範囲の測距
系にも用いることができる。また、ラッチする信号出力
の個数としても必ずしも１個に限定されない。例えば信
号出力Ａ１〜Ａ６の中で「１」の信号値をもつものを２
個サンプリングした時点でラッチしようとするときには
、ＦＦＩ〜ＦＦ６のＱ出力を別設のカウンタで計数し、
その計数値が「２」になったときにＦＦＩ〜ＦＦ６をラ
ッチすればよい。

また、ＩＲＥＤ１５の光量をコンデンサの放電特性等を
利用して漸減させていくことも可能である。この場合に
は、コンパレータの出力は「１」から「０」に順次に反
転してゆくようになるが、信号出力の反転個数、あるい
は「１」のままの信号出力の個数をカウンタ等により計
数し、これに基づいて信号出力のラッチを行えばよい。

〔発明の効果〕

上述のように、本発明の測距装置によれば、被写体に向
けて投光される測距用の光の光量を漸増させながら測距
し、コンパレータから所定個数の反転出力が得られた時
点で、他のコンパレータからの反転出力を無効化するよ
うにしている。したがって、被写体からの反射光が強す
ぎ、この反射光を受光する本来の受光素子の他に、ハロ
ー等の影響でその他の受光素子に光電出力が誘起される
ような場合であっても、こうしたノイズ成分は確実に除
去されることになり、コンパレータの基準電圧レベルを
変える従来装置のように回路構成を複雑化することなく
、ローコストで精度の高い測距を行うことができるよう
になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を用いたＡＦ制御回路の一例を示す回路
図である。第２図は通常範囲での測距系の一例を示す概略図である
。第３図はマクロ範囲を含む測距光学系の概略図である。第４図はレンズセット位置の説明図である。第５図は本発明を用いたカメラの回路構成を示すブロッ
ク図である。第６図は信号処理回路の一例を示す回路図である。第７図はＩＲＥＤ駆動回路の一例を示す回路図である。第８図はＩ　ＲＥＤの発光特性を示すグラフである。第９図はストロボ駆動回路の構成を示す回路図である。第１０図は光電出力レベルの変化を表すチャート図であ
る。第１１図はＡＦ子テーブル一例を示す概念図である。２・・・投光部３・・・放電管（測距用）７・・・受光部９・・・受光センサー８１〜Ｓ６・・受光素子１０・・撮影レンズ１５・・Ｉ　ＲＥＤ１７・・放電管（撮影用）３０ａ〜３０ｆ・・コンパレータ３２・・分圧器ＦＦＩ〜ＦＦ６・・Ｄ−フリップフロップ回路Ｇ１〜Ｇ
６・・アンドゲート。 −１’；）Ｒ− 捉架ＩＦ２−

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被写体に向けて測距用の光を投光する投光手段と
、この投光手段からの光の光量を可変する光量可変手段
と、被写体から反射されてきた光を受光するために基線
長方向に配列された複数の受光素子からなる受光手段と
、前記複数個の受光素子のそれぞれから出力される光電
出力を基準電圧と比較して反転出力を供出する複数のコ
ンパレータと、これらのコンパレータから所定個数の反
転出力が得られた以降は他のコンパレータから出力され
る反転出力を無効化する手段とを備えたことを特徴とす
るカメラの投光型測距装置。
（２）前記投光手段は発光ダイオードからなり、前記光
量可変手段は発光ダイオードに供給される電流をコンデ
ンサの充電もしくは放電の特性曲線にしたがって制御す
る手段であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載のカメラの投光型測距装置。