JPH0198915A - カメラの測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はカメラに用いられるアクティブタイプの測距装
置に関するものである。

〔従来の技術〕

最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームの投射による被写体からの反射
光を受光センサーで受けるようにしている。受光センサ
ーは複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したも
ので、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入
射したかを電気的に識別することによって、被写体距離
に対応した測距信号を得ることができる。

このような測距装置では、反射率の高い被写体や近距離
被写体等から強い反射光が特定の受光素子に入射したと
きに、これに隣接した受光素子にもクロストーク等の影
響によって一定の割合で光電出力が現れることがある。

このため、受光素子に光電出力が現れている場合でも、
この光電出力が被写体から受光素子に正規に入射した光
によるものであるか、あるいは前述したクロストーク等
の影響によるものかが識別できず、測距の精度を劣化さ
せることがある。

すなわち第１２図（Ａ）に示したように、基線長方向に
配列された受光素子８１〜Ｓ６の内、被写体から高輝度
の反射光パターン４０が受光素子Ｓ４に入射したときに
は、この本来の反射光パターン４０の回りに同心円状の
ハロー４１を伴うことが多く、隣接する受光素子Ｓ３．
Ｓ５にも同図（Ｂ）に示したように光電出力が現れるよ
うになる。また、ハロー４１が小さい場合であっても、
被写体からの強い反射光が受光素子Ｓ４に入射したとき
には、クロストークの影響で、隣接の受光素子Ｓ３．Ｓ
５からも一定の比率の光電出力が現れることが多い。こ
のような場合に、各々の受光素子８３〜Ｓ５に接続され
ているコンパレータが１個で、その基準電圧が■、であ
ったとすると、被写体からの反射光を受光したことを表
すハイレベル信号（Ｈ信号）が各々のコンパレータから
出力され、受光素子Ｓ３．Ｓ５にも被写体からの反射光
が入射したものとして誤検出される。

一方、コンパレータの基準電圧を■□に設定した場合に
は、被写体からの反射光強度が弱く、この反射光が入射
した受光素子Ｓ４から一点鎖線で示したようなレベルの
光電出力しか得られないときには、いずれのコンパレー
タからも反射光の入射を検出することができなくなる。

こうした点を考慮し、特開昭５６−２９１１２号公報記
載の測距装置では、複数の受光素子から光電出力が現れ
たときには、受光素子の各々に接続されたコンパレータ
の基準電圧を、光電出力の最大レベルのものを基準にし
て変えることによって、クロストーク等の影響による偽
信号の発生を回避するようにしている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら上記公報に記載の測距装置では、受光素子
以降の回路構成が複雑になりコスト的にも負担が大きい
ものになる。

〔発明の目的〕

本発明は以上のような従来技術の難点を解決するために
なされたもので、簡単な回路構成でクロストーク等の影
響を受けにくいカメラの測距装置を提供することを目的
とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、被写体からの反射
光を受光するために基線長方向に配列された受光素子の
それぞれに、異なった基準電圧が与えられた複数のコン
パレータを接続し、それぞれの受光素子から得られる光
電出力を基準電圧の異なる前記複数のコンパレータの各
々で比較して測距信号を検出するようにしたものである
。

〔作用〕

上記構成によれば、受光素子それぞれに接続された例え
ば２個のコンパレータの一方に高レベルの基準電圧、他
方に低レベルの基準電圧を与えておくことによって、１
つの光電出力を高低２種類の闇値をもとにレベル判定す
ることができるようになる。

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

〔実施例〕

第２図はアクティブタイプの測距系の概略を示すもので
、投光部２は、近赤外光を放射する放電管３．放電管３
からの光をスリット状に整形するスリット板４．投光レ
ンズ５とからなる。また受光部７は、受光レンズ８．受
光センサー９とから構成されている。投光レンズ５と受
光レンズ８の各々の光軸５ａ、８ａは、撮影レンズ１０
の光軸１０ａと平行となっており、基線長しだけ隔てら
れている。受光センサー９は、詳しくは後述するように
、横長矩形の微少な受光素子３１〜Ｓ６を基線長し方向
に配列してなるものである。

投光部２から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体１２で反射されると、そ
の反射光１２ａは受光レンズ８を通して受光素子Ｓ３に
入射する。また、中距離被写体１３あるいは遠距離被写
体１４がらスリット光の一部が反射されると、反射光１
３ａ、１４ａのそれぞれは受光素子Ｓ２，３１に入射す
るようになる。したがって受光センサー９のうちで、ど
の受光素子に被写体からの反射光が入射したかを検出す
ることによって被写体距離を求めることができる。なお
、このように測距用の光ビームとしてスリット光を用い
ると、主要被写体を撮影画面の中央部から外した状態で
もこれに測距用の光ビームが照射されるようになり、測
距時における照準操作や測距の後にフレーミングをし直
すという面倒な操作をしなくても済むようになるが、ス
リット光の代わりにスポット光を投射して測距を行うこ
ともできる。

第３図は上述した測距系に赤外発光ダイオード１５（以
下、Ｉ　ＲＥＤ　１５という）を併設し、同じ受光セン
サー９を利用しながら、さらに近距離側での測距機能を
向上させた光学系を示したものである。ＩＲＥＤ１５の
投光光軸１５ａは、投光レンズ５の光軸５ａに対して角
θだけ受光センサー９側に傾けられ、被写体に向けてス
ポットパターンの光ビームを照射する。これによれば、
投光部２からのスリット光によって検出できる至近距離
よりも、さらに近距離にある被写体からの反射光でも受
光センサー９で受光することができるようになる。

第４図は被写体距離範囲について撮影レンズ１０のセッ
ト位置を対応させたもので、Ｎ、〜ＮＩ０は投光部２か
らのスリット光で測距したときに決められる通常域のセ
ット位置を表し、ｎ１〜ｎ５はＩＲＥＤ１５からのスポ
ット光で測距したときに決められるマクロ域のセット位
置を表している。

これらのセット位置ｎ、　〜ｆｉｓ　、Ｎ、’％−Ｎ、
Ｏは、被写体距離ｌ、〜！１．を最適合焦距離としてい
るものであるが、合焦と見做せる最小錯乱円径を例えば
０．０２５ｍｍとすると、撮影レンズ１０の被写界深度
を考慮したときには、略ｌｌから無限遠までの被写体距
離範囲に対して連続的に合焦させることができる。

上述した測距用の放電管３．受光センサー９゜Ｉ　ＲＥ
Ｄ　１５は、第５図に示した回路とともに用いられる。

測距用の放電管３は、撮影時の被写体照明用の放電管１
７とともにストロボ駆動回路１８によって作動制御され
、Ｉ　ＲＥＤ　１５はＩＲＥＤ駆動回路１９によって駆
動制御される。受光センサー９を構成している受光素子
８１〜ｓ６は信号処理回路２０に接続され、受光素子３
１〜ｓ６の各々からの光電出力は信号処理回路２ｏによ
って信号変換される。信号処理回路２ｏにはＡＦ制御回
路２１が接続され、ＡＦ制御回路２１は信号処理回路２
０からの信号出力を測距データに変換してマイクロコン
ピュータ２２！こ入力する。なお、詳しくは後述するよ
うに、ＡＦ制御回路２１がらは適宜のタイミングで放電
管３．ＩＲＥＤ１５を点灯させるための信号が出力され
る。

マイクロコンピュータ２２には、前記ストロボ駆動回路
１Ｂ、ＡＦ制御回路２１の他、プログラムシャッタ２３
の開閉を制御するためのシャッタ駆動回路２４．被写体
輝度を測定する測光回路２５、モータ２６を駆動するモ
ータ制御回路２７゜ＡＦ制御回路２１から入力された測
距データごとに撮影レンズ１０のセット位置を対応付け
たＡＦ子テーブル８が接続されている。

前記信号処理回路２０は第１図に示したような回路構成
となっており、受光素子Ｓ１〜Ｓ６からの各光電流信号
は、それぞれ基準電圧Ｖ３１が印加された初段のオペア
ンプによって電圧信号に変換される。この電圧信号には
直流成分、すなわち太陽光等の外光による光電信号も含
まれているが、初段のオペアンプの出力端にはそれぞれ
低周波成分カット用のコンデンサが接続されているから
、基準電圧ＶＳ２の次段のオペアンプには直流成分を含
まない信号成分だけが入力される。次段のオペアンプに
よってそれぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力は、
受光素子３１〜Ｓ５の各１個ごとに２個ずつ設けられた
コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、−１３
５ａ、３５ｂに入力され、また受光素子Ｓ６からの光電
出力はコンパレータ３６ａに入力される。

同じ光電出力が入力されるコンパレータ３１ａ。

３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、　　・・・、３５ａ、３５ｂ
のそれぞれには、分圧器３８によって各々基準電圧ｙ　
ｎｉ＋　ｙ　ｎｂが与えられている。この基準電圧のレ
ベルはＶ、、＞Ｖ、、に設定されており、したがって受
光素子の各々から出力され、初段及び第２段のオペアン
プで一定比率に増幅された光電出力は、高低２種類の基
準電圧■アａ＋　Ｖｎｂと比較される。そして、光電出
力が基準電圧Ｖ　ｎａあるいは基準電圧Ｖｎｂ以上であ
るときにはハイレベル信号（Ｈ信号）、基準電圧■□あ
るいはＶｎｂ以下であるとローレベル信号（Ｌ信号）が
各コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、　　
・・・、３５ａ、３５ｂの出力端に現れる。このように
、各受光素子からの光電出力を高低２種類の基準電圧Ｖ
ｎａ、　　Ｖｎｂが与えられたコンパレータで比較する
ことによって、２値化された２系列の信号出力Ａ、、ａ
。

Ａ１１ｂを得ることができる。すなわち、第１２図で説
明した基準電圧ＶＨ，Ｖ、に対応した基準電圧をそれぞ
れのコンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、　
・−・、３５ａ、３５ｂにＶ、、、　Ｖ、、ｂとして供
給するものである。これにより、被写体からの反射光の
強度に応じ、信号出力Ａ、、、　Ａ１のいずれかを選択
して用いることができるようになる。

なお本実施例においては、この基準電圧Ｖ　ｌ’ｌ　ａ
　＋Ｖｎｂは遠距離被写体からの反射光を受光する受光
素子Ｓｌ側はど低く、近距離被写体からの反射光を受光
する受光素子Ｓ６側はど高くなるように、Ｖ６．＞ＶＳ
、＞Ｖ４．＞・・＞Ｖ、ａ、またＶＳｂ＞Ｖ４ｂ〉・・
〉■Ｉｂのように設定されている。これは、−船釣に遠
距離被写体の反射光強度が近距離被写体からのものより
も低くなることを考慮して決められたものである。これ
によれば、初段及び第２段のオペアンプの増幅率を一定
にしたままでも、人間の肌などのような平均的な反射率
をもった被写体からの反射光について良好な検出機能を
得ることができる。

上記コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、・
・・、３６ａの出力端に現れたＨ信号も＝１１− しくはＬ信号の信号出力Ａ　Ｉａ＋　Ａ　Ｉ　ｂＨＡ　
２ａ＋　　・・・Ａ２Ｂは、ＡＦ制御回路２１に入力さ
れる。ＡＦ制御回路２１は第６図のように構成され、信
号出力Ａ□　Ａ　ｎｂは各コンパレータごとに対応して
設けられたＤ−フリップフロップ回路ＦＦ、、、、ＦＦ
ｎｂ　（以下、単にＦＦ、、、、ＦＦｆｉｂという）の
クロック端子にアンドゲートを介して入力される。

このＡＦ制御回路２１は、上述したＦＦ、、、、ＦＦｎ
ｂの他、電源■。、を印加してから一定時間後にリセッ
トパルスを出力するリセットパルス発生回路４３．マイ
クロコンピュータ２２から供給されるクロックパルスを
計数するカウンタ４５．カウンタ４５の計数値に応じて
測距シーケンスを遂行するための制御パルスを出力する
デコーダ４６゜ＦＦ、、、ＦＦｆｉｂからの信号を受け
、これを測距データとして出力するシフトレジスタ４８
等を備えている。

第７図はストロボ駆動回路１８の回路構成を示している
。このストロボ駆動回路１８は、測距用の放電管３と、
撮影時に被写体に補助照明光を照射する撮影用の放電管
１７との両者の作動を制御する。コンデンサＣ，，Ｃ２
は放電管１７．３のそれぞれに発光エネルギーを供給す
るためのもので昇圧回路４９を介して充電される。一方
のコンデンサＣ１には直列にスイッチ装置５０が接続さ
れている。このスイッチ装置５０はマイクロコンピュー
タ２２から端子Ｔ６にＨ信号が入力されたときにオンし
、Ｌ信号が入力されたときにオフする。なお、このスイ
ッチ装置５０に第８図に示した半導体スイッチを用いる
と、コンデンサＣ１に充電を行うときに端子Ｔ６にＨ信
号を与え続けなくても済むようになる。また、ストロボ
駆動回路１８に設けられた各端子Ｔ＋　、Ｔ２　、Ｔ３
　、Ｔ４、Ｔ５は、それぞれ昇圧回路４６の発振開始信
号入力端子１発振禁止信号入力端子、コンデンサＣ２の
充電完了信号送出端子、撮影用放電管１７の発光トリガ
信号入力端子、測距用放電管３の発光トリガ信号入力端
子として用いられる。

以上のように構成された測距装置の作用は次のとおりで
ある。例えばレンズカバーの開放操作等によって電源ス
ィッチが投入されると、第７図に示した昇圧回路４９が
作動してコンデンサＣＩ。

Ｃ２が充電される。コンデンサＣ２の充電完了信号がマ
イクロコンピュータ２２に入力されることによって撮影
準備が完了する。

シャッタボタン（図示省略）の押圧操作の初期に、測距
装置の電源スィッチが投入されると、ＡＦ制御回路２１
に電源ＶＣＣが印加される。この電源ＶＣＣの安定を待
って、第６図に示したリセットパルス発生回路４３から
リセットパルスが出力され、これによりアンドゲート４
４の開閉制御用ＯＦＦ、かリセットされ、■端子にＨ信
号が現れ、アンドゲート４４がオープンされる。また、
これと同時にカウンタ４５がリセットされる。

マイクロコンピュータ２２は、測距装置の電源スィッチ
の投入から１００ｍ５ｅｃの遅延の後、ＡＦ制御回路２
１にクロックパルスを出力する。

この１００ｍｓ　ｅ　ｃの遅延の間に、信号処理回路２
０の各コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ。

３２ｂ、・・・、３５ａ、３５ｂ、３６ａに与えられる
基準電圧Ｖ　、、、　ｙｆｉｂの安定化等が行われる。

マイクロコンピュータ２２からのクロックパルスは、ア
ンドゲート４４を通ってカウンタ４５に供給される。カ
ウンタ４５にはデコーダ４６が接続され、デコーダ４６
はカウンタ４５でのクロックパルスの計数値に対応して
測距シーケンスをコントロールする。

デコーダ４６は、まず信号処理回路２０からの信号出力
Ａ□、Ａ、、ｂをラッチするためＯＦＦ□。

ＦＦ、ｂにリセットパルス５１ｇ４を出力する。その後
、デコーダ４６はＩＲＥＤ駆動回路１９に第１トリガ信
号を出力する。これによりＩＲＥＤ１５が所定時間点灯
して被写体に近赤外光を投射し、マクロ域での測距が開
始される。第１トリガ信号が出力されて一定時間後、デ
コーダ４６から章程時間のパルス幅をもった読み込みパ
ルス５１ｇ５が出力される。この読み込みパルスは、Ｆ
Ｆ、１．、ｌ”Ｆｌ、ｂの各クロック端子に接続された
アンドゲートの一方の端子に入力される。

前記アンドゲートの他方の端子には、信号処理回路１８
の各々のコンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ
、−−１３５ａ、３５ｂ、３６ａの出力端が接続されて
いるから、読み込みパルスがＨレベルの間に、Ｌ信号も
しくはＨ信号の２値化された信号出力Ａ□＋　Ａｎｂが
ＦＦ、、、ＦＦｆｉｂに供給される。そして、被写体が
マクロ域内に存在している場合には、低い基準電圧■ア
ゎが与えられている方のコンパレータ３１ｂ、３２ｂ・
・３５ｂの出力端のいずれかにＨ信号が現れることにな
るから、これに対応したＦＦｆｉｂがセットされる。

なお、被写体からの反射光が強い場合には、高い基準電
圧■□が与えられている方のコンパレータ３１ａ、３２
ａ、　　・・、３６ａの出力端にもＨ信号が含まれるよ
うになる。

前記読み込みパルスが出力された後一定時間経過すると
、デコーダ４６がらシフトレジスタ４８のｒ　０Ｎ１０
ＦＦ　Ｊ端子に５１ｇ２によりＨ信号が出力されるよう
になる。また、このＨ信号によりアンドゲート５５はオ
ープン状態となる。したがって、アンドゲート４４を介
してシフトレジスタ４８の＝１７− −１６−　　、 ｒＣＫ　（クロック）」端子に入力されるクロックパル
スは、このアンドゲート５５をも通過し、測距クロック
パルスとしてマイクロコンピュータ２２に供給される。

シフトレジスタ４８のｒ　０Ｎ１０ＦＦ　Ｊ端子にＨ信
号が入力された状態でｒｃＫＪ端子にクロックパルスが
供給されると、このクロックパルスはシフトレジスタ４
８の各ビット位置にメモリされたデータを次段のビット
位置へ順次に移動させるシフトパルスとして作用する。

そしてＦＦ、、、ＦＦ、、ｂからのＱ端子出力を各ビッ
ト位置ごとに格納していたシフトレジスタ４８からは、
信号出力Ａ、ｌ、及び信号出力Ａ、ｌｂのそれぞれが、
シフトレジスタ４８内のビット位置配列を保った測距デ
ータとしてマイクロコンピュータ２２に転送される。す
なわち、信号出力Ａ、、３のうちでＡ　４　ＢだけがＨ
信号でＦＦ、。

のみがセットされた場合には、マイクロコンピュータ２
２に「０００１００」の第１測距データが転送される。

なお、デコーダ４６からのＨ信号５１ｇ１がシフトレジ
スタ４８のＤ８端子に入力されると、シフトレジスタ４
８はコンパレータ３１ａ、３２ａ。

・・、３６ａからの信号出力Ａ７３すなわちＦＦ、、。

からのデータに代えて、コンパレータ３１ｂ、３２ｂ、
　　・・、３５ｂからの信号出力ＡＩ、ｂすなわちＦＦ
ｏからのデータを取り込む。そして、例えば信号出力Ａ
ｆｉｂのうちでＡ　４　ｂ　＋　Ａ　ｓ　ｂがＨ信号で
あって、ＦＦａｂ、ＦＦ５ｂがセットされたときには、
ｒｏｏｏｌｌＪの第２測距データが転送される。

こうして転送される第１及び第２測距データには、それ
がマクロ域の測距データであるか通常域の測距データで
あるかを識別するためのフラグＤ７と、信号出力Ａ　ｆ
ｌｌ＋　Ａｎｂのいずれに属するデータであるかを識別
するためのフラグＤ８も付加されている。

こうしてシフトレジスタ４８に所定個数のシフトパルス
が入力された後には、デコーダ４６からナントゲート５
６の入力端にマクロ域での測距完了を表すＨ信号５１ｇ
６が供給される。このナントゲート５６の他方にはオア
ゲート５２からのＨ信号が与えられているから、デコー
ダ４６からＨ信号が出力されるとナントゲート５６の出
力端にＬ信号が現れる。このＬ信号がアンドゲート５７
゜インバータ５８を介し、Ｈ信号としてＦＦ、のセット
端子に入力されると、ＦＦ、がセットされアンドゲート
４４がクローズする。これによりクロックパルスが遮断
され、カウンタ４５の計数も停止してマクロ域の測距シ
ーケンスが完了する。

マクロ域の測距により測距データが得られると、第９図
のフローチャートに示したように、マイクロコンピュー
タ２２は信号出力Ａア、によって得られた第１測距デー
タから第ルンズセット位置を決定し、また信号出力Ａｙ
１ｂによって得られた第２測距データから第２レンズセ
ット位置を決定する。

そして、例えば第１測距データがｒｏｏｏｌｏｏ」であ
ると、第４図のｎ２が第ルンズセット位置として決めら
れ、第２測距データが「０００１１」であると、近距離
側を優先させて「ｎＩ」が第２レンズセット位置として
決められる。なお、マクロ域での測距時においては、被
写体にはスボ−１９＝ ット状の光ビームが照射されるから、受光素子８１〜Ｓ
６のなかの３個に反射光が入射することはなく最大２個
までの受光素子に反射光が入射する。

したがって、近距離側の受光素子からの光電出力を優先
させることにより、第１．第２測距データから簡単に第
１．第２レンズセット位置を対応づけることができる。

こうして第１．第２レンズセット位置が求められると、
マイクロコンピュータ２２は第２レンズセット位置が第
ルンズセット位置から２ステップ以上近距離側でないと
きには、第ルンズセット位置を最終的なレンズセット位
置として決定する。また、２ステップ以上近距離側であ
るときには、第２レンズセット位置を最終的なレンズセ
ット位置として決定する。したがって、上述の例の場合
には、「ｎ２」がレンズセット位置として決められるこ
とになる。

ところで、マクロ域での測距を行った結果、信号出力Ａ
アｍ、　ＡｎｂのいずれにもＨ信号が含まれておらず、
ＦＦ、１．、ＦＦ、、ｂのいずれもがセットされないと
きには、オアゲート５２からＨ信号が出力されないから
、ナントゲート５６の出力はＨ信号となってＦ　Ｆ　ｏ
はセットされない。この場合には引続き通常域での測距
が実行される。

通常域での測距時には、マイクロコンピュータ２２から
ストロボ駆動回路１８の端子Ｔ２にＨ信号が供給され、
昇圧回路４９の作動が禁止される。

しかる後、デコーダ４６からのリセットパルス５１ｇ４
によって、ＦＦ、、、、ＦＦ、、ｂのそれぞれが再びリ
セットされ、さらにデコーダ４６から第２トリガ信号が
ストロボ駆動回路１８の端子Ｔ５に入力される。これに
よりコンデンサＣ２に蓄えられた電荷によって放電管３
が発光する。第２トリガ信号が出力された後、カウンタ
４５によっである一定時間分のクロックパルスが計数さ
れると、デコーダ４６から所定のパルス幅をもった読み
込みパルス５１ｇ５が出力され、信号出力Ａ　ｎｍｒ　
Ａ、、１．がＦＦ、、、、ＦＦ、、ｂにラッチされる。

こうして通常域の測距を行った後、デコーダ４６からシ
フトレジスタ４８のｒ　０Ｎ１０ＦＦ　Ｊ端子にＨ信号
５１ｇ２が出力される。このＨ信号によってクロックパ
ルスはアンドゲート５５を通り、測距クロックパルスと
してマイクロコンピュータ２２に供給されるようになる
。

マクロ域の測距時と同様に、シフトレジスタ４８１７）
　ｒＯＮ１０ＦＦＪ端子にＨ信号を入力しｒＣＫＪ端子
にクロックパルスを供給することによって、シフトレジ
スタ４８からは、信号出力Ａ　ｎａによる第１測距デー
タと、信号出力Ａ。、にょる第２測距データとがマイク
ロコンピュータ２２に転送される。

こうしてシフトレジスタ４８に所定個数のシフトパルス
が入力された後には、デコーダ４６がらアンドゲート５
７の入力端に測距シーケンスが完了したことを表すし信
号５１ｇ７が供給される。この結果アンドゲート５７の
出力端にＬ信号が現れ、これがインバータ５８を介して
Ｈ信号としてＦＦ。のセット端子に入力される。そして
、ＦＦｏのセットによりアンドゲート４４がクローズし
、測距シーケンスが完了する。

通常域の測距により、例えば第１測距データとしてｒｏ
ｌｌｏｏｏＪ　　（ＦＦｚａ、ＦＦ１ｍがセット状態）
、第２測距データとしてｒｏ　１１１０Ｊ（Ｆ　Ｆｚｂ
、　　Ｆ　Ｆ３ｂ、　Ｆ　Ｆ４ｂがセット状態）が得ら
れると、マイクロコンピュータ２２はＡＦ子テーブル８
を対照してそれぞれの測距データに基づく第１．第２レ
ンズセット位置を決定する。第１０図のＡＦ子テーブル
８に示したように、通常域におけるレンズセット位置を
決めるときには、測光回路２５で検出された被写体輝度
情報（ＥＶ値）も参照される。

今、仮にｒＥＶ１５Ｊであったとすると、前記第１測距
データは受光素子Ｓ２．Ｓ３に反射光が入射したことを
意味するから、第１０図のＡＦ子テーブル８により第２
レンズセット位置として「Ｎ７」が得られる。さらに、
第２測距データについては、３個以上の受光素子に光入
射があったときには近距離側の２個すなわち３３．Ｓ４
による信号が優先されるから、第２レンズセット位置と
して１Ｎ、」が得られる。そして、この場合には第２レ
ンズセット位置が第ルンズセット位置−２３＝ よりも２ステップ以上近距離側であるから、最終的なレ
ンズセット位置は「Ｎ、」として決定されることになる
。もちろん、ＡＦ子テーブル８のデータを増やすことに
よって、上記のように近距離側の受光素子２個だけを優
先させるだけでなく、他の受光素子からの出力をも考慮
してレンズセット位置を決めるようにすることもできる
。

なお、通常域での測距を行った結果、第１測距データが
「０００００１」すなわちＦＦ６．だけがセット状態で
あった場合は、最終的なレンズセット位置は「ｎ、」と
して決定される。というのは、通常域での第１測距デー
タが「０００００１」であるときには、本来マクロ域の
測距時にいずれかの受光素子で検出できるはずのもので
ある。このような状態は、マクロ域での測距時に反射光
強度が高くなることを想定してコンパレータ３１ｂ。

３２ｂ、・・、３６ｂの基準電圧Ｖｌ、ｂを高くしたと
きに生じやすい。すなわち、隣接した受光素子からの光
電出力を確実に弁別するために基準電圧Ｖｎｂを高く設
定すると、マクロ域での最遠検出端が近距離側に移動す
る傾向をもつからで、上述の処理はこのような不都合を
解消するのに有効である。

以上のようにしてマクロ域あるいは通常域でのレンズセ
ット位置が決定されると、このレンズセット位置に対応
した個数の駆動パルスがマイクロコンピュータ２２から
モータ駆動回路２７に出力され、撮影レンズ１０が移動
される。撮影レンズ１０の移動が完了すると、シャッタ
ボタンのロックが自動解除され撮影を行うことができる
ようになる。そして、さらにシャッタボタンを押し込む
ことによって、マイクロコンピュータ２２からシャッタ
駆動回路２４に作動信号が供出され、ＥＶ値に対応した
開口径でプログラムシャッタ２３が開閉して撮影が行わ
れる。

ところで、前述したＡＦ子テーブル８には、破線で囲ん
だように被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ１７の
制御データ、すなわち内蔵ストロボ１７の発光タイミン
グデータもメモリされている。そして、レンズセット位
置がＡＦテーブル２２６一 ８の破線で囲んだデータによって決定された場合には、
プログラムシャッタ２３の開口径がＡＦ子テーブル８に
メモリされた開口径に達するまでマイクロコンピュータ
２２がシャッタ駆動回路２４に（［パルスを出力すると
、マイクロコンピュータ２２からストロボ駆動回路１８
の端子Ｔ４にトリガパルスを出力する。これにより、プ
ログラムシャッタ２３が被写体距離に対応した開口径に
なったときに放電管１７が発光することになる。

また、マクロ域での測距を行うことによって測距データ
が得られた場合には、第１１図にフローチャートで示し
たように、Ｉ　ＲＥＤ　１５の発光だけで測距が完了し
、コンデンサＣ２に充電された電荷はそのまま保存され
ている。そして、この場合にはマイクロコンピュータ２
２がらストロボ駆動回路１８の端子Ｔ６にＬ信号が出力
されるため、コンデンサＣ１に直列接続されたスイッチ
装置５０がオフする。したがってマクロ域での撮影時に
被写体輝度が低くストロボ撮影が行われるときには、ス
トロボ駆動回路１８の端子Ｔ４に入力されるトリガ信号
によって、放電管１７はコンデンサＣ２の電荷によって
発光し、コンデンサＣ１に蓄えられた電荷はそのまま保
存される。

この場合、コンデンサＣ２の容量はコンデンサＣ，の容
量よりも小さく、放電管１７の発光量も小さくなるが、
これに対応してプログラムシャツタ２３０開口径を大き
くしてやることによって、放電管１７０発光タイミング
を正確に決めることができるようになる。もちろん、通
常域の測距によって測距データが得られると、端子Ｔ６
にはＨ信号が与えられスイッチ装置５０がオンするから
、放電管１７はコンデンサＣ８によって放電し通常のス
トロボ撮影が行われる。

上述してきた実施例においては、マクロ域での測距時に
はＩＲＥＤ１５によりスポット状の光ビームが投射され
ることから、受光素子ごとにレンズセット位置を対応さ
せているが、マクロ域では被写界深度が浅くなることを
考慮し、上述したＡＦ子テーブル８めように、被写体輝
度情報も加味して最終的なレンズセット位置を決めるよ
うにしでもよい。また、受光素子のそれぞれに接続され
るコンパレータも、各々基準電圧に差をつけて３個以上
に増設してもよい。

〔発明の効果〕

以上に説明したように、本発明の測距装置においては、
基線長方向に配列された複数の受光素子の各々に、異な
ったレベルの基準電圧が与えられた複数個のコンパレー
タを接続し、受光素子からの光電出力の有無を各々のコ
ンパレータを介して検出するようにしでいる。したがっ
て、被写体の種類によって受光素子に入射してくる反射
光の強度にレベル差が生じる場合でも、複数のコンパレ
ータのいずれかによって確実に光電出力を検出すること
ができるようになる。さらに、被写体からの反射光がハ
ローを伴うものであるとき、あるいは反射光強度が強く
て複数の受光素子にクロストークによる光電出力が現れ
るようなときでも、偽信号の発生を防いで正確な測距機
能を維持することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。 第２図は本発明に用いられる通常域での測距系の一例を
示す概略図である。 第３図はマクロ域も含む本発明の測距光学系の概略図で
ある。 第４図はレンズセット位置の説明図である。 第５図は本発明の測距装置の回路構成の概略を示すブロ
ック図である。 第６図はＡＦ制御回路の構成を示す回路図である。 第７図はストロボ駆動回路の構成を示す回路図である。 第８図はストロボ駆動回路に用いられるスイッチ装置の
一例を示す回路図である。 第９図は測距時の処理を示すフローチャートである。 第１０図はＡＰ子テーブル一例を示す概念図である。 第１１図はストロボ撮影時の処理を示すフローチャート
である。 第１２図（Ａ）、（Ｂ）は、それぞれ受光素子上の光入
射パターン及び受光素子からの光電出力を示す説明図で
ある。 ２・・・投光部 ３・・・放電管（測距用） ７・・・受光部 ９・・・受光センサー ３１〜Ｓ６・・受光素子 １０・・撮影レンズ １５・・Ｉ　ＲＥＤ １７・・放電管（撮影用） ３１ａ、３１ｂ、　　・・、３６ａ・−’：１ンパレー
タ３８・・分圧器 ＦＦ□、ＦＦＲｂ・・Ｄ−フリップフロップ回路。 （Ａ）５６　Ｓ５　Ｓ４５３５２５１ （Ｂ）　　　　　　　４０

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）投光手段から投射された光束のうち被写体によっ
   て反射されてきた光を基線長方向に配列された複数の受
   光素子で受光するカメラの測距装置において、前記複数
   の受光素子それぞれに、異なった基準電圧が与えられた
   複数のコンパレータを接続し、それぞれの受光素子から
   得られる光電出力を基準電圧の異なる前記複数のコンパ
   レータの各々で比較することを特徴とするカメラの測距
   装置。
2. （２）前記複数のコンパレータは、一方が高い基準電圧
   、他方が低い基準電圧が与えられた２個のコンパレータ
   であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のカ
   メラの測距装置。
3. （３）前記高い基準電圧が与えられたコンパレータから
   の出力信号により第１の測距信号を検出し、低い基準電
   圧が与えられたコンパレータからの出力信号によって第
   ２の測距信号を検出し、これらの測距信号のいずれかを
   用いて撮影レンズのセット位置を決めるようにしたこと
   を特徴とする特許請求の範囲第２項記載のカメラの測距
   装置。