JPH0198917A - カメラの測距装置 - Google Patents

カメラの測距装置

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JPH0198917A
JPH0198917A JP25693787A JP25693787A JPH0198917A JP H0198917 A JPH0198917 A JP H0198917A JP 25693787 A JP25693787 A JP 25693787A JP 25693787 A JP25693787 A JP 25693787A JP H0198917 A JPH0198917 A JP H0198917A
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JP
Japan
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light
distance measurement
distance
signal
range
Prior art date
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Pending
Application number
JP25693787A
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English (en)
Inventor
Seiji Takada
誠司 高田
Takaaki Kotani
高秋 小谷
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPH0198917A publication Critical patent/JPH0198917A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はカメラに用いられるアクティブタイプの測距装
置に関するものである。
〔従来の技術〕
最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームの投射による被写体からの反射
光を受光センサーで受けるようにしている。受光センサ
ーは複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したも
ので、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入
射したかを電気的に識別することによって、被写体距離
に対応した測距信号を得ることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、上述したような従来の測距装置においては、
至近距離から無限遠に至る測距距離範囲の全体を1つの
測距系、すなわち前記光ビーム投射用の単一の投光器と
、被写体からの反射光を受けるための単一の受光センサ
ーからなる測距系でカバーするようにしている。したが
って、例えば測距距離範囲を近距離側に広げて、マクロ
撮影距離域までカバーしようとするときには、受光セン
サーを基線長方向に延長しなくてはならず、受光センサ
ーの大型化が避けられない。また、測距精度の向上を図
ろうとするときには、受光センサーを構成する受光素子
の数を増やしたり、あるいは受光効率を上げるために受
光素子の幅を広げたりしなくてはならず、やはり受光セ
ンサーが大きくなるという問題が出てくる。
〔発明の目的〕
本発明はこのような従来技術に鑑みてなされたもので、
受光センサーを大きくすることなく、広い測距範囲で精
度のよい測距を行うことができるようにしたカメラの測
距装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、測距対象となる距
離範囲を複数の測距ゾーンに分割し、この測距ゾーンご
とに測距用の光束を投射するように複数の投光手段を設
けている。そして、制御手段により前記各々の投光手段
を作動させたときに、被写体から反射されてきた光を共
通の受光センサーで受けるとともに、受光センサーから
出力されてくる測距信号を、測距ゾーンごとに分離して
検出するようにしたものである。
(作用〕 上記の構成によれば、受光センサーは分割された測距ゾ
ーンごとに選択的に用いられ、選択された測距ゾーンの
範囲内での被写体からの反射光を検出すればよい。投光
手段は制御手段によって選択的に作動され、また受光セ
ンサーから出力される測距信号は作動された投光手段に
対応して各々分離して検出されるようになるから、受光
センサーから測距信号が得られた場合には、作動された
投光手段、すなわちいずれの測距ゾーンが選択されたと
きに、受光センサーからどのような測距信号が得られた
かによって、被写体距離を識別することが可能となるも
のである。
以下、図面にしたがって本発明の一実施例について説明
する。
〔実施例〕
第2図はアクティブタイプの測距系の概略を示すもので
、投光部2は、近赤外光を放射する放電管3.放電管3
からの光をスリット状に整形するスリット板4.投光レ
ンズ5とからなる。また受光部7は、受光レンズ8.受
光センサー9とから構成されている。投光レンズ5と受
光レンズ8の各々の光軸5a、8aは、撮影レンズ10
の光軸10aと平行となっており、基線長しだけ隔てら
れている。受光センサー9は、詳しくは後述するように
、横長矩形の微少な受光素子81〜S6を基線長し方向
に配列してなるものである。
投光部2から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体12で反射されると、そ
の反射光12aは受光レンズ8を通して受光素子S3に
入射する。また、中距離被写体13あるいは遠距離被写
体14からスリット光の一部が反射されると、反射光1
3a、14aのそれぞれは受光素子S2.Slに入射す
るようになる。したがって受光センサー9のうちで、ど
の受光素子に被写体からの反射光が入射したかを検出す
ることによって被写体距離を求めることができる。なお
、このように測距用の光ビームとしてスリット光を用い
ると、主要被写体を撮影画面の中央部から外した状態で
もこれに測距用の光ビームが照射されるようになり、測
距時における照準操作や測距の後にフレーミングをし直
すという面倒な操作をしなくても済むようになるが、ス
リット光の代わりにスポット光を投射して測距を行うこ
ともできる。
第3図は上述した測距系に赤外発光ダイオード15(以
下、IREDl5という)を併設し、同じ受光センサー
9を利用しながら、さらに近距離側での測距機能を向上
させた本発明の測距光学系の一例を示したものである。
この測距光学系は、前記投光部2によって通常の被写体
距離範囲にスリット光を投射し、I RED 15によ
って通常の被写体距離よりも近距離側、すなわちマクロ
撮影距離範囲にスポットパターンの光ビームを照射する
。すなわち、測距対象となる被写体距離範囲を2つの測
距ゾーンに分割し、分割された測距ゾーンごとに個別に
測距できる構成となっている。IREDl 5の投光光
軸15aは、投光レンズ5の光軸5aに対して角θだけ
受光センサー9側に傾けられている。この結果、投光部
2からのスリット光によって検出できる通常の被写体距
離範囲よりもさらに近距離側のマクロ範囲に存在する被
写体からの反射光でも受光センサー9で受光することが
できるようになる。
第4図は被写体距離範囲について撮影レンズ10のセッ
ト位置を対応させたもので、N、−N、。
は投光部2からのスリット光で測距したときに決められ
る通常の被写体距離範囲でのレンズセット位置を表し、
nI”−”nsはIREDl5からのスポット光で測距
したときに決められるマクロ範囲でのレンズセット位置
を表している。これらのセット位置n、〜ns、N+〜
N10は、被写体距離AI””j!Isを最適合焦距離
としているものであるが、合焦と見做せる最小錯乱円径
を例えば0.025mmとすると、撮影レンズ10の被
写界深度を考慮したときには、略lIから無限遠までの
被写体距離範囲に対して連続的に合焦させることができ
る。
上述した測距用の放電管3.受光センサー9゜I RE
D 15は、第1図に示した回路とともに用いられる。
測距用の放電管3は、撮影時の被写体照明用の放電管1
7とともにストロボ駆動回路18によって作動制御され
、I RED 15はIRED駆動回路19によって制
御される。受光センサ−9を構成している受光素子31
〜S6は信号処理回路20に接続され、受光素子81〜
S6の各々からの光電出力は信号処理回路20によって
信号変換される。信号処理回路20にはAF¥A御回路
21が接続され、AF制御回路21は信号処理回路20
からの信号出力を測距データに変換してマイクロコンピ
ュータ22に人力する。なお、詳しくは後述するように
、AF制御回路21からは適宜のタイミングで放電管3
.IREDl5を点灯させるための信号が出力される。
マイクロコンピュータ22には、前記ストロボ駆動回路
1B、AF制御回路21の他、プログラムシャッタ23
の開閉を制御するためのシャッタ駆動回路24.被写体
輝度を測定する測光回路25、モータ26を駆動するモ
ータ制御回路27゜AF制御回路21から入力された測
距データごとに撮影レンズ10のセット位置を対応付け
たAF子テーブル8が接続されている。
゛ 前記信号処理回路20は第5図に示したような回路
構成となっており、受光素子31〜S6からの各光電流
信号は、それぞれ基準電圧VSIが印加された初段のオ
ペアンプによって電圧信号に変換される。この電圧信号
には直流成分、すなわち太陽光等の外光による光電信号
も含まれているが、初段のオペアンプの出力端にはそれ
ぞれ低周波成分カット用のコンデンサが接続されている
から、基準電圧■、2の次段のオペアンプには直流成分
を含まない信号成分だけが入力される。次段のオペアン
プによってそれぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力
は、受光素子81〜S5の各1個ごとに2個ずつ設けら
れたコンパレータ31a、31b、32a、32b1・
・・、35a、35bに入力され、また受光素子S6か
らの光電出力はコンパレータ36aに入力される。
同じ光電出力が入力されるコンパレータ31a。
31b、32a、32b、−・・、35a、35bのそ
れぞれには、分圧器38によって各々基準電圧V、、V
nbが与えられている。この基準電圧のレベルは■、、
3〉■、、bに設定されており、したがって受光素子の
各々から出力され、初段及び第2段のオペアンプで一定
比率に増幅された光量出力は、高低2種類の基準電圧V
。i+ Vnbと比較される。そして、光電出力が基準
電圧y naあるいは基準電圧v、、b以上であるとき
にはハイレベル信号(H信号)、基準電圧V Ilmあ
るいはVnb以下であるとローレベル信号(L信号)が
各コンパレータ31a、31b、32a、32b、・・
・、35a、35bの出力端に現れる。このように、各
受光素子からの光電出力を高低2種類の基準電圧V11
11+  Vnbが与えられたコンパレータで比較する
ことによって、2(li化された2系列の信号出力A 
n a rA、、bを得ることができる。
このようにして2系列の信号出力A IIa+ Anb
が得られれば、被写体からの反射光強度に応じて信号出
力A lll+ Anbのいずれかを選択して用いるこ
とができる。すなわち、被写体からの反射光が強いとき
には信号出力A、、、を用い、被写体からの反射光が弱
いときには信号出力Afibを用いるようにする。この
結果、被写体からの反射光がハローを伴うようなもので
あったり、あるいは隣接する受光素子にクロストークを
引き起こすような強い光であったとしても、基準電圧■
、が与えられているコンパレータ31a、32a、  
・・・、35aの出力端からノイズの少ない信号出力A
。aを得ることができる。また、被写体からの反射光が
弱い場合でも、基準電圧V nbが与えられたコンパレ
ータ31b、32b、  ・・、35bの出力端から信
号出力A、、bを得ることができる。
なお本実施例においては、この基準電圧■78゜vfi
bは遠距離被写体からの反射光を受光する受光素子Sl
側はど低く、近距離被写体からの反射光を受光する受光
素子S6側はど高くなるように、V b−> V sa
 > V as >・・〉■0、またVsb>V4b〉
・・> V + bのように設定されている。これは、
−船釣に遠距離被写体の反射光強度が近距離被写体から
のものよりも低くなることを考慮して決められたもので
ある。これによれば、初段及び第2段のオペアンプの増
幅率を一定にしたままでも、人間の肌などのような平均
的な反射率をもった被写体からの反射光について良好な
検出機能を得ることができる。
上記コンパレータ31a、31b、32a、32b、・
・・、36aの出力端に現れたH信号もしくはL信号の
信号出力A lll+ AIb+ A2.、  ・・・
A6fiは、AF制御回路21に入力される。AF制御
回路21は第6図のように構成され、信号出力A□+A
l1bは各コンパレータごとに対応して設けられたD−
フリップフロップ回路FF、、、FF7、(以下、単に
FF、−、FFfibという)のクロック端子にアンド
ゲートを介して入力される。
このAF!111111回路21は、上述したFF、、
、FFnbの他、電源VCCを印加してから一定時間後
にリセットパルスを出力するリセットパルス発生回路4
3.マイクロコンピュータ22から供給されるクロック
パルスを計数するカウンタ45.カウンタ45の計数値
に応じて測距シーケンスを遂行するための制御パルスを
出力するデコーダ46゜FF□、FF、、bからの信号
を受け、これを測距データとして出力するシフトレジス
タ48等を備えている。
一13= −12= 第7図はストロボ駆動回路18の回路構成を示している
。このストロボ駆動回路18は、測距用の放電管3と、
撮影時に被写体に補助照明光を照射する撮影用の放電管
17との両者の作動を制御する。コンデンサC,,C2
は放電管17.3のそれぞれに発光エネルギーを供給す
るためのもので昇圧回路49を介して充電される。一方
のコンデンサC5には直列にスイッチ装置50が接続さ
     ′れている。このスイッチ装置50はマイク
ロコンピュータ22から端子T6にH信号が入力された
ときにオンし、L信号が入力されたときにオフする。な
お、このスイッチ装置50に第8図に示した半導体スイ
ッチを用いると、コンデンサC1に充電を行うときに端
子T6にH信号を与え続けなくても済むようになる。ま
た、ストロボ駆動回路18に設けられた各端子T’+ 
、Tz 、 Ts 、 T−1T5は、それぞれ昇圧回
路46の発振開始信号入力端子2発振禁止信号入力端子
、コンデンサC2の充電完了信号送出端子、撮影用放電
管17の発光トリガ信号入力端子、測距用放電管3の発
光トリガ信号入力端子として用いられる。
以上のように構成された測距装置の作用は次のとおりで
ある。例えばレンズカバーの開放操作等によって電源ス
ィッチが投入されると、第7図に示した昇圧回路49が
作動してコンデンサCI。
C2が充電される。コンデンサC2の充電完了信号がマ
イクロコンピュータ22に入力されることによって撮影
準備が完了する。
シャッタボタン(図示省略)の押圧操作の初期に、測距
装置の電源スィッチが投入されると、AF制御回路21
に電源VCCが印加される。この電源VCCの安定を待
って、第6図に示したリセットパルス発生回路43から
リセットパルスが出力され、これによりアンドゲート4
4の開閉制御用のRSフリップフロップ回路FF、かり
セットされ、Q端子にH信号が現れてアンドゲート44
がオープンされる。また、これと同時にカウンタ45が
リセットされる。
マイクロコンピュータ22は、測距装置の電源スィッチ
の投入から100ms e cの遅延の後、AF制御回
路21にクロックパルスを出力する。
この100m5ecの遅延の間に、信号処理回路20の
各コンパレータ31a、31b、32a。
32b1 ・・・、35 a、  35 b、 36 
aに与えられる基準電圧V lla+ Vnbの安定化
等が行われる。
マイクロコンピュータ22からのクロックパルスは、ア
ンドゲート44を通ってカウンタ45に供給される。カ
ウンタ45にはデコーダ46が接続され、デコーダ46
はカウンタ45でのクロックパルスの計数値に対応して
測距シーケンスをコントロールする。
デコーダ46は、まず信号処理回路20からの信号出力
A n 11 r A n bをラッチするためOFF
、、、。
FF、lbにリセットパルス51g4を出力する。その
後、デコーダ46はIRED駆動回路19に第1トリガ
信号を出力する。これによりIRED15が所定時間点
灯して被写体に近赤外光を投射し、マクロ範囲での測距
が開始される。第1トリガ信号が出力された後、一定時
間経過した後にデコーダ46から所定時間のパルス幅を
もった読み込みパルス51g5が出力される。この読み
込みパルスは、FF、、、、FFnbの各クロック端子
に接続されたアンドゲートの一方の端子に入力される。
前記アンドゲートの他方の端子には、信号処理回路18
の各々のコンパレータ31a、31b。
32a、32b、  ・・、35a、35b、36aの
出力端が接続されているから、読み込みパルスがHレベ
ルの間に、L信号もしくはH信号の2値化された信号出
力A l1at AnbがFF、、、、FF、、bに供
給される。そして、被写体がマクロ域内に存在している
場合には、低い基準電圧Vnbが与えられている方のコ
ンパレータ31b、32b・・35bの出力端のいずれ
かにH信号が現れることになるから、これに対応したF
F、、bがセットされる。
なお、被写体からの反射光が強い場合には、高い基準電
圧■、、8が与えられている方のコンパレータ31a、
32a、  ・・、36aの出力端にもH信号が含まれ
るようになる。
前記読み込みパルスが出力された後一定時間経過すると
、デコーダ46からシフトレジスタ4Bのr□N10F
FJ端子にH信号51g2が出力されるようになる。ま
た、このH信号によりアンドゲート55はオープン状態
となる。したがって、アンドゲート44を介してシフト
レジスタ48のrCK(クロック)」端子に入力される
クロックパルスは、このアンドゲート55をも通過し、
測距クロックパルスとしてマイクロコンピュータ22に
供給される。
シフトレジスタ48のrON10FFJ端子にH信号が
入力された状態でrCK、端子にクロックパルスが供給
されると、このクロックパルスはシフトレジスタ48の
各ビット位置にメモリされたデータを次段のビット位置
へ順次に移動させるシフトパルスとして作用する。そし
てFF、、、、FF、、bからのQ端子出力を各ビット
位置ごとに格納していたシフトレジスタ48からは、信
号出力A、、8及び信号出力A、、1.のそれぞれが、
シフトレジスタ48内のビット位置配列を保った測距デ
ータとしてマイクロコンピュータ22に転送される。す
なわち。
信号出力A p BのうちでA4aだけがH信号でFF
、。
のみがセットされた場合には、マイクロコンピュータ2
2にroooloo」の第1測距データが転送される。
なお、デコーダ46からのH信号51g1がシフトレジ
スタ48のD8端子に入力されると、シフトレジスタ4
8はコンパレータ31a、32a。
・・、36aからの信号出力A nilすなわちFF0
からのデータに代えて、コンパレータ31b、32b、
  ・・、35bからの信号出力A、、bすなわちFF
、、bからのデータを取り込む。そして、例えば信号出
力A、、bのうちでA 4b+ A5bがH信号であっ
て、F F 4b、  F F sbがセットされたと
きには、roooll、の第2測距データが転送される
こうして転送される第1及び第2測距データには、これ
がマクロ域の測距データであるか通常域の測距データで
あるのかを識別するためのフラグD7と、信号出力A 
、、ay Al1bのいずれに属するデータであるかを
識別するためのフラグD8も付加されている。
こうしてシフトレジスタ4日に所定個数のシフトパルス
が入力された後には、デコーダ46からナントゲート5
6の入力端にマクロ範囲での測距完了を表すH信号51
g6が供給される。このナントゲート56の他方にはオ
アゲート52からの■]倍信号与えられているから、デ
コーダ46から11信号が出力されると、ナントゲート
56の出力端にL信号が現れる。このL信号がアンドゲ
ート57、インバータ58を介し、H信号としてFF。
のセット端子に入力されると、FF、がセットされアン
ドゲート44がクローズする。これによりクロックパル
スが遮断され、カウンタ45の計数も停止してマクロ域
の測距シーケンスが完了する。
マクロ範囲での測距により測距データが得られると、第
9図のフローチャートに示したように、マイクロコンピ
ュータ22は信号出力A□によって得られた第1測距デ
ータから第ルンズセット位置を決定し、また信号出力A
fibによって得られた第2測距データから第2レンズ
セット位置を決定する。そして、例えば第1測距データ
が「000100」であると、第4図のn2が第ルンズ
セット位置として決められ、第2測距データがrooo
ll」であると、近距離側を優先させて「n、」が第2
レンズセット位置として決められる。なお、マクロ範囲
での測距時においては、被写体にはスポット状の光ビー
ムが照射されるから、受光素子31〜S6のなかの3個
に反射光が入射することはなく最大2個までの受光素子
に反射光が入射する。したがって、近距離側の受光素子
からの光電出力を優先させることにより、第1.第2測
距データから簡単に第1.第2レンズセット位置を対応
づけることができる。
こうして第1.第2レンズセット位置が求められると、
マイクロコンピュータ22は第2レンズセット位置が第
ルンズセット位置から2ステップ以上近距離側でないと
きには、第ルンズセット位置を最終的なレンズセット位
置として決定する。また、2ステップ以上近距離側であ
るときには、第2レンズセット位置を最終的なレンズセ
ット位置として決定する。したがって、上述の例の場合
には、「n2」がレンズセット位置として決2l− =20− められることになる。
ところで、マクロ範囲での測距を行った結果、信号出力
A na、 AylbのいずれにもH信号が含まれてお
らず、FF、、、FFnbのいずれもがセットされない
ときには、オアゲート52からH信号が出力されないか
ら、ナントゲート56からはH信号が出力されF F 
oはセットされない。この場合には、引続き通常の距離
範囲での測距が実行される。
通常範囲での測距時には、マイクロコンピュータ22か
らストロボ駆動回路18の端子T2にH信号が供給され
、昇圧回路49の作動が禁止される。しかる後、デコー
ダ46からのリセットパルス51g4によって、FF、
1.、  F−Fllbのそれぞれが再びリセットされ
、さらにデコーダ46から第2トリガ信号がストロボ駆
動回路18の端子T、に入力される。これによりコンデ
ンサC2に蓄えられた電荷によって放電管3が発光する
。第2トリガ信号が出力された後、カウンタ45によっ
て一定時間分のクロックパルスが計数されると、デコー
ダ46から所定のパルス幅をもった読み込みパルス51
g5が出力され、信号出力A 、、a+ Al11.が
FF、、、FF、lbにラッチされる。
こうして通常範囲での測距を行った後、デコーダ46か
らシフトレジスタ48のr 0N10FF J端子にH
信号が出力される。このH信号によってクロックパルス
はアンドゲート55を通り、測距クロックパルスとして
マイクロコンピュータ22に供給されるようになる。
マクロ範囲での測距時と同様に、シフトレジスタ48の
r 0N10FF J端子にH信号を入力し「CK」端
子にクロックパルスを供給することによって、シフトレ
ジスタ48からは、信号出力A0による第1測距データ
と、信号出力A、、bによる第2測距データとがマイク
ロコンピュータ22に転送される。こうしてシフトレジ
スタ48に所定個数のシフトパルスが入力された後には
、デコーダ46からアンドゲート57の入力端に測距シ
ーケンスが完了したことを表すし信号51g7が供給さ
れる。この結果アンドゲート57の出力端にL信号が現
れ、これがインバータ58を介してH信号としてFF、
のセット端子に入力される。そして、FF、のセットに
よりアンドゲート44がクローズし、測距シーケンスが
完了する。
通常範囲の測距により、例えば第1測距データとして’
011000 J  (F F2a、  F F3aが
セット状態)、第2測距データとしてrolllo」(
F Fzb、  F F:+b、  F Fabがセッ
ト状態)が得られると、マイクロコンピュータ22はA
F子テーブル8を対照してそれぞれの測距データに基づ
く第1.第2レンズセット位置を決定する。第10図の
AF子テーブル8に示したように、通常範囲におけるレ
ンズセット位置を決めるときには、測光回路25で検出
された被写体輝度情報(EV値)も参照される。
今、仮にrEV15Jであったとすると、前記第1測距
データは受光素子32.S3に反射光が入射したことを
意味するから、第10図のAF子テーブル8により第ル
ンズセット位置として「N7」が得られる。さらに、第
2測距データについては、3個以上の受光素子に光入射
があった一23= ときには近距離側の2個すなわちS3.S4による信号
が優先されるから、第2レンズセット位置として「N、
」が得られる。そして、この場合には第2レンズセット
位置が第ルンズセット位置よりも2ステップ以上近距離
側であるから、最終的なレンズセット位置は「N5」と
して決定されることになる。もちろん、AF子テーブル
8のデータを増やすことによって、上記のように近距離
側の受光素子2個だけを優先させるだけでなく、他の受
光素子からの出力をも考慮してレンズセット位置を決め
るようにすることもできる。
なお、通常範囲での測距を行った結果、第1測距データ
がroooool」すなわちFF6.だけがセット状態
であった場合は、最終的なレンズセット位置は「n5」
として決定される。というのは、通常範囲での第1測距
データがroooo。
1」であるときには、本来マクロ範囲での測距時にいず
れかの受光素子で検出できるはずのものである。このよ
うな状態は、マクロ範囲での測距時に反射光強度が高く
なることを想定してコンパレ−タ31b、32b、  
・・、35bの基準電圧V7、を高くしたときに生じや
すい。すなわち、隣接した受光素子からの光電出力を確
実に弁別するために基準電圧Vnbを高く設定すると、
マクロ範囲での最遠検出端が近距離側に移動する傾向を
もつからで、上述の処理はこのような不都合を解消する
のに有効である。
以上のようにしてマクロ範囲あるいは通常範囲でのレン
ズセット位置が決定されると、このレンズセット位置に
対応した個数の駆動パルスがマイクロコンピュータ22
からモータ駆動回路27に出力され、撮影レンズ10が
移動される。撮影レンズ10の移動が完了すると、シャ
ッタボタンのロックが自動解除され撮影を行うことがで
きるようになる。そして、さらにシャッタボタンを押し
込むことによって、マイクロコンピュータ22からシャ
ッタ駆動回路24に作動信号が供出され、EV値に対応
した開口径でプログラムシャッタ23が開閉して撮影が
行われる。
ところで、前述したAF子テーブル8には、破線で囲ん
だように被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ17の
制御データ、すなわち内蔵ストロボ17の発光タイミン
グデータもメモリされている。そして、レンズセット位
置がAF子テーブル8の破線で囲んだデータによって決
定された場合には、プログラムシャッタ23の開口径が
AF子テーブル8にメモリされた開口径に達するまでマ
イクロコンピュータ22がシセッタ駆動回路24に作動
パルスを出力すると、マイクロコンピュータ22からス
トロボ駆動回路18の端子T4にトリガパルスを出力す
る。これにより、プログラムシャック23が被写体距離
に対応した開口径になったときに放電管エフが発光する
ことになる。
また、マクロ域での測距を行うことによって測距データ
が得られた場合には、第11図にフローチャートで示し
たように、I RED 150発光だけで測距が完了し
、コンデンサC2に充電された電荷はそのまま保存され
ている。そして、この場合にはマイクロコンピュータ2
2からストロボ駆動回路18の端子T6にL信号が出力
されるため、コンデンサCIに直列接続されたスイッチ
装置50がオフする。したがってマクロ範囲での撮影時
に被写体輝度が低くストロボ撮影が行われるときには、
ストロボ駆動回路18の端子T4に入力されるトリガ信
号によって、放電管17はコンデンサC2の電荷によっ
て発光し、コンデンサc1に蓄えられた電荷はそのまま
保存される。
この場合、コンデンサC2の容量はコンデンサCIの容
量よりも小さく、放電管17の発光量も小さくなるが、
これに対応してプログラムシャッタ23の開口径を大き
くしてやることによって、放電管エフの発光タイミング
を正確に決めることができるようになる。もちろん、通
常範囲での測距によって測距データが得られると、端子
T6にはH信号が与えられスイッチ装置5oがオンする
から、放電管17はコンデンサc1によって放電し通常
のストロボ撮影が行われる。
以上のように、マクロ範囲で測距を実行した結果測距信
号が得られたときには、次の通常範囲での測距を禁止す
ることによって、むだな測距を省略するとともに、コン
デンサC2に蓄えられた電荷を保存してこれをマクロ範
囲でのストロボ撮影に流用でき非常に好都合である。
上述してきた実施例においては、マクロ範囲での測距時
にはI RED 15によりスポット状の光ビームが投
射されることから、受光素子ごとにレンズセット位置を
対応させているが、マクロ範囲では被写界深度が浅くな
ることを考慮し、上述したAF子テーブル8のように、
被写体輝度情報も加味して最終的なレンズセット位置を
決めるようにしてもよい。また、上述した通常範囲をさ
らに近距離ゾーンと遠距離ゾーンとに分割するとともに
、これに対応して被写体に向けてスリット光を照射する
投光部を増設し、測距距離範囲を3ゾーンに分割して順
次に測距を行うようにしてもよい。
もちろん、この場合の近距離ゾーンに対応して増設され
る投光部は、マクロ範囲での測距に用いられるIRED
15の投光光軸15aの傾きθよりも、小さい傾きの投
光光軸に設定されることになる。
=28− 〔発明の効果〕 以上に説明したように、本発明の測距装置においては、
測距距離範囲を複数の測距ゾーンに分割し、これらの測
距ゾーンに対応して設けられた投光手段を順次に作動さ
せることによって、共通の受光センサーを用いながら、
測距ゾーンごとに独立して測距信号を得るようにしてい
る。したがって、受光センサーを大型化させずに測距範
囲が広く、しかも精度の高い測距を行うことができるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を用いた回路構成の一例を示すブロック
図である。 第2図は本発明に用いられる通常域での測距系の一例を
示す概略図である。 第3図はマクロ域も含む本発明の測距光学系の概略図で
ある。 第4図はレンズセット位置の説明図である。 第5図は信号処理回路の一例を示す回路図である。 第6図はAF@IJ御回路の構成を示す回路図である。 第7図はストロボ駆動回路の構成を示す回路図である。 第8図はストロボ駆動回路に用いられるスイッチ装置の
一例を示す回路図である。 第9図は測距時の処理を示すフローチャートである。 第10図はAF子テーブル一例を示す概念図である。 第11図はストロボ撮影時の処理を示すフローチャート
である。 2・・・投光部 3・・・放電管(測距用) 7・・・受光部 9・・・受光センサー 31〜S6・・受光素子 10・・撮影レンズ 15・・TRED 17・・放電管(撮影用) 31a、31b、  ・+、36a−・コンパレータ3
8・・分圧器 FF、1.、FF1lb・・D−フリップフロップ回路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測距距離範囲を複数に分割して得られた各々の測
    距ゾーンごとに、被写体に向けて測距用の光束を投射す
    る複数の投光手段と、これらの投光手段から投射された
    光束のうち被写体で反射されてきた光を測距ゾーンに係
    わらず受光する共通の受光手段と、前記複数の投光手段
    を選択して作動させる制御手段と、これらの投光手段の
    作動に対応して受光手段から出力される測距信号を各々
    独立して検出する検出手段とを備えたことを特徴とする
    カメラの測距装置。
  2. (2)前記制御手段は、前記複数の投光手段を時系列的
    に作動させることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のカメラの測距装置。
  3. (3)前記制御手段は、近距離側の測距ゾーンに対応し
    た投光手段から順次に作動させることを特徴とする特許
    請求の範囲第2項記載のカメラの測距装置。
  4. (4)前記制御手段は、受光手段から測距信号が出力さ
    れたときにはそれ以降の投光手段の作動を禁止すること
    を特徴とする特許請求の範囲第3項記載のカメラの測距
    装置。
  5. (5)前記複数の投光手段は、近距離測距ゾーンに対応
    して設けられた第1投光手段と、遠距離測距ゾーンに対
    応して設けられた第2投光手段との2つからなることを
    特徴とする特許請求の範囲第4項記載のカメラの測距装
    置。
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