JPH0159601B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0159601B2 JPH0159601B2 JP52098628A JP9862877A JPH0159601B2 JP H0159601 B2 JPH0159601 B2 JP H0159601B2 JP 52098628 A JP52098628 A JP 52098628A JP 9862877 A JP9862877 A JP 9862877A JP H0159601 B2 JPH0159601 B2 JP H0159601B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cycle
- signal
- input
- responsive
- counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 56
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 35
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 20
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 35
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 14
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 7
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000005461 lubrication Methods 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
- G05B19/058—Safety, monitoring
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/10—Plc systems
- G05B2219/14—Plc safety
- G05B2219/14112—Diagnostic, troubleshooting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、プログラム可能な機械機能コントロ
ーラに関し、特に信号故障の検出を行う機械機能
コントローラに関する。
ーラに関し、特に信号故障の検出を行う機械機能
コントローラに関する。
順次動作および周期的動作に対する診断装置に
ついては多年にわたり公知である。その典型的な
ものとしては、各動作サイクルが多くのシーケン
ス又はサイクル・ステツプに分割され、視覚的デ
イスプレーが各シーケンスの成功裡の完了と同時
に行われるものである。従つて、もしサイクルが
停止すると、オペレータは視覚デイスプレーを観
察して問題の診断を開始する事ができる。しかし
各装置は、装置内のどの信号が消失しそのため演
算サイクルの処理を阻害しているかの決定はでき
ない。
ついては多年にわたり公知である。その典型的な
ものとしては、各動作サイクルが多くのシーケン
ス又はサイクル・ステツプに分割され、視覚的デ
イスプレーが各シーケンスの成功裡の完了と同時
に行われるものである。従つて、もしサイクルが
停止すると、オペレータは視覚デイスプレーを観
察して問題の診断を開始する事ができる。しかし
各装置は、装置内のどの信号が消失しそのため演
算サイクルの処理を阻害しているかの決定はでき
ない。
多年にわたりこれ等制御部が多くの方法で開発
されてきた。この開発の典型としては、順次の機
械機能コントローラを開示する米国特許第
3719931号に示される装置である。電力の投入と
同時にこの制御部は第1のシーケンスに増分す
る。このため、1つ以上の出力信号が発生され
る。更に、所望の入力信号を表示する他の信号回
線がその適正な順序で付勢される。信号回線と関
連しているのは第1の組の視覚的インジケータで
ある。入力信号コンバータ回路は、実際の入力信
号を生じる機械装置に応答する。第2の組の視覚
インジケータはコンバータの出力に応答する。一
致回路は所望の入力信号を実際の入力信号の発生
にともなつてこれと比較し、もし完全な一致が見
られると、制御部は次のシーケンスに対し増分さ
れ、このシーケンスは所望の入力信号の対応する
新しい組に新しい組の出力信号を発生する。もし
制御部が停止すると、オペレータは2組の視覚イ
ンジケータを比較して、この視覚インジケータと
関連する各信号を識別する記号を用いて更に診断
動作を開始する。
されてきた。この開発の典型としては、順次の機
械機能コントローラを開示する米国特許第
3719931号に示される装置である。電力の投入と
同時にこの制御部は第1のシーケンスに増分す
る。このため、1つ以上の出力信号が発生され
る。更に、所望の入力信号を表示する他の信号回
線がその適正な順序で付勢される。信号回線と関
連しているのは第1の組の視覚的インジケータで
ある。入力信号コンバータ回路は、実際の入力信
号を生じる機械装置に応答する。第2の組の視覚
インジケータはコンバータの出力に応答する。一
致回路は所望の入力信号を実際の入力信号の発生
にともなつてこれと比較し、もし完全な一致が見
られると、制御部は次のシーケンスに対し増分さ
れ、このシーケンスは所望の入力信号の対応する
新しい組に新しい組の出力信号を発生する。もし
制御部が停止すると、オペレータは2組の視覚イ
ンジケータを比較して、この視覚インジケータと
関連する各信号を識別する記号を用いて更に診断
動作を開始する。
米国特許第3939453号は、いくつかの変更を有
する同様な装置を開示している。第1に、多重視
覚インジケータは、対応する実際の入力信号によ
り満足されなかつた所望の入力信号を識別するた
めに単一の数字デイスプレーにより置換される。
第2に、このデイスプレーは更に制御部の現時点
のシーケンスを数字的に識別する様に作用する。
する同様な装置を開示している。第1に、多重視
覚インジケータは、対応する実際の入力信号によ
り満足されなかつた所望の入力信号を識別するた
めに単一の数字デイスプレーにより置換される。
第2に、このデイスプレーは更に制御部の現時点
のシーケンスを数字的に識別する様に作用する。
前記特許に記述された各装置は、いくつかの制
約を有する。第1に、この制御部は固定された回
路要素により実施されるため、そのシーケンスの
サイクルの進行は、所望の入力信号が満たされる
速度により制御される。これは、一時に唯1つの
誤り条件しか表示できない事を意味する。更に、
このシステムは、1つの独立の動作サイクルしか
制御および診断できない。独立的かつ同時に生じ
る動作サイクルは、例示した要素の2重化を必要
とする。最後に、従来技術では、どの特定の動作
サイクルからも独立している異常の診断にどの様
に診断装置が用いられるかを示していない。
約を有する。第1に、この制御部は固定された回
路要素により実施されるため、そのシーケンスの
サイクルの進行は、所望の入力信号が満たされる
速度により制御される。これは、一時に唯1つの
誤り条件しか表示できない事を意味する。更に、
このシステムは、1つの独立の動作サイクルしか
制御および診断できない。独立的かつ同時に生じ
る動作サイクルは、例示した要素の2重化を必要
とする。最後に、従来技術では、どの特定の動作
サイクルからも独立している異常の診断にどの様
に診断装置が用いられるかを示していない。
更に最近の企業によるプログラム可能な機械機
能コントローラの検討によれば、従来技術による
装置の制約を何等持たない診断装置が可能であ
る。特に、機械機能コントローラは、コントロー
ラにより連続的に走査される機械機能プログラム
を含む記憶装置を有している。このプログラム
は、出力信号を発生するのにどの入力信号の組合
せが必要かを規定する。就中、入力信号のプログ
ラムされた組合せが同時に存在する時、コントロ
ーラは対応するプログラムされた出力信号を発生
する。
能コントローラの検討によれば、従来技術による
装置の制約を何等持たない診断装置が可能であ
る。特に、機械機能コントローラは、コントロー
ラにより連続的に走査される機械機能プログラム
を含む記憶装置を有している。このプログラム
は、出力信号を発生するのにどの入力信号の組合
せが必要かを規定する。就中、入力信号のプログ
ラムされた組合せが同時に存在する時、コントロ
ーラは対応するプログラムされた出力信号を発生
する。
本願発明の目的は、機械と関連する独立的では
あるが同時に生じる動作サイクルにおける異常を
検出する改良されたプログラム可能な機械機能コ
ントローラを提供することである。あるいは、も
しこのコントローラが複数個の同時に動作する機
械に接続されていると、診断装置は全ての機械の
動作と関連する誤り条件を連続的に表示する。更
に、この診断プログラムは、使用される各要素の
既知の信頼度の関数として選択できるある限られ
た入力、即ち動作サイクルのテストを行う多能性
をもたらす。更に、この診断がコントローラ内の
別個の診断プログラムにより規定されるため、診
断プログラムは機械制御プログラムにおける変更
に合致する様に容易に変更できる。この診断シス
テムは機械診断プログラムの実行と非同期的に動
作し、従つて、診断動作と機械制御機能との間に
は何の実時間的関連はない。このため、機械制御
部の設計上の問題を簡単にし、機械制御および診
断プログラムを別個に設計できる。最後に、診断
装置の非同期動作のため、同じ装置に特定の動作
サイクルに関連しない入力信号の異常をチエツク
させる事が可能となる。
あるが同時に生じる動作サイクルにおける異常を
検出する改良されたプログラム可能な機械機能コ
ントローラを提供することである。あるいは、も
しこのコントローラが複数個の同時に動作する機
械に接続されていると、診断装置は全ての機械の
動作と関連する誤り条件を連続的に表示する。更
に、この診断プログラムは、使用される各要素の
既知の信頼度の関数として選択できるある限られ
た入力、即ち動作サイクルのテストを行う多能性
をもたらす。更に、この診断がコントローラ内の
別個の診断プログラムにより規定されるため、診
断プログラムは機械制御プログラムにおける変更
に合致する様に容易に変更できる。この診断シス
テムは機械診断プログラムの実行と非同期的に動
作し、従つて、診断動作と機械制御機能との間に
は何の実時間的関連はない。このため、機械制御
部の設計上の問題を簡単にし、機械制御および診
断プログラムを別個に設計できる。最後に、診断
装置の非同期動作のため、同じ装置に特定の動作
サイクルに関連しない入力信号の異常をチエツク
させる事が可能となる。
本発明の一実施態様によれば、改良されたプロ
グラム可能な機械機能コントローラが提供され
る。このコントローラは、動作サイクルの実行に
必要な入出力信号の独特な組合せを規定する事に
より機械と関連する動作サイクルを表示する機械
制御プログラムを記憶する記憶装置からなる。こ
のコントローラは、更に、連続的に記憶を読出す
ためのタイミング回路と、プログラムにより規定
される所望の入力信号に対応する実際の入力信号
の発生に応答して出力信号を機械に対して発生す
るためのプロセツサ回路とを含むものである。こ
の改良には以下の如き診断プログラムと装置が含
まれている。診断プログラムは、記憶装置に記憶
され動作サイクルにより必要とされる如く実際の
各入力信号の条件をテストするためのプログラム
命令を有する。装置は、動作サイクルのテストを
示す第1の入力信号を生じるためプロセツサ回路
から非同期的に動作する第1の装置を含む。別の
装置はテスト中の動作サイクル内に1つのサイク
ル・ステツプを表示するコントローラからの第1
の出力信号を記憶する発生装置に応答する。本装
置は、診断プログラムにより規定される如き入力
信号の条件における誤りを表示する第2の出力信
号を検出するための別の装置を含んでいる。更
に、第1の入力信号と第1及び第2の出力信号と
の表示を行うための装置が設けられている。
グラム可能な機械機能コントローラが提供され
る。このコントローラは、動作サイクルの実行に
必要な入出力信号の独特な組合せを規定する事に
より機械と関連する動作サイクルを表示する機械
制御プログラムを記憶する記憶装置からなる。こ
のコントローラは、更に、連続的に記憶を読出す
ためのタイミング回路と、プログラムにより規定
される所望の入力信号に対応する実際の入力信号
の発生に応答して出力信号を機械に対して発生す
るためのプロセツサ回路とを含むものである。こ
の改良には以下の如き診断プログラムと装置が含
まれている。診断プログラムは、記憶装置に記憶
され動作サイクルにより必要とされる如く実際の
各入力信号の条件をテストするためのプログラム
命令を有する。装置は、動作サイクルのテストを
示す第1の入力信号を生じるためプロセツサ回路
から非同期的に動作する第1の装置を含む。別の
装置はテスト中の動作サイクル内に1つのサイク
ル・ステツプを表示するコントローラからの第1
の出力信号を記憶する発生装置に応答する。本装
置は、診断プログラムにより規定される如き入力
信号の条件における誤りを表示する第2の出力信
号を検出するための別の装置を含んでいる。更
に、第1の入力信号と第1及び第2の出力信号と
の表示を行うための装置が設けられている。
第1図は、プログラム可能な機械機能コントロ
ーラに対する診断装置の関係を示す全体ブロツク
図である。機械10の機能的動作は、論理処理装
置(プロセツサ)12と、任意データプロセツサ
14と、インターフエース回路20,22と、連
結用の1本のデータ・ビツト接続バス16とから
なる機械コントローラにより制御される。
ーラに対する診断装置の関係を示す全体ブロツク
図である。機械10の機能的動作は、論理処理装
置(プロセツサ)12と、任意データプロセツサ
14と、インターフエース回路20,22と、連
結用の1本のデータ・ビツト接続バス16とから
なる機械コントローラにより制御される。
機械の機能的動作は、ラダー即ちリレーダイヤ
グラムにより簡単に示す事ができる。プログラム
装置18に関連してこのプログラムを用いれば、
1つのプログラムが形成できる。このプログラム
における各ステツプは、主として装置アドレスと
これに関連する論理機能を含んでいる。この2つ
の情報の組合せは1つのメモリー・ワードと定義
される。望ましい実施態様においては、装置アド
レスのブロツクは、既存の諸素子、例えば外部の
コイル、外部の接点入力側、タイマー、データ・
プロセツサ機能、診断機能等に従つて割当てられ
予め割付けられている。プログラム装置18を用
いれば、プログラムは、始動する記憶場所を選択
し、ラダーダイヤグラムに従い各線に沿つて直列
に作業する。従つて、各メモリー・ワードは、要
素の定義、例えば、不動作、出力、入力、要素と
関連する予め割当てられたブロツク内の装置アド
レス(使用可能な場合)、およびアドレス指定さ
れた装置の条件に関する他の必要な機能的情報、
例えば常開又は常閉の接点状態を含んでいる。プ
ログラムが終了した後、プログラム装置18を用
いてこのプログラムをプログラム・バス26を介
して論理プロセツサ12のメモリー24に転送す
る事ができる。メモリー24は、機械制御プログ
ラム25と診断用プログラム27を記憶するため
の容量を有する。タイミング回路28はメモリー
24を連続的に走査する様作用する。
グラムにより簡単に示す事ができる。プログラム
装置18に関連してこのプログラムを用いれば、
1つのプログラムが形成できる。このプログラム
における各ステツプは、主として装置アドレスと
これに関連する論理機能を含んでいる。この2つ
の情報の組合せは1つのメモリー・ワードと定義
される。望ましい実施態様においては、装置アド
レスのブロツクは、既存の諸素子、例えば外部の
コイル、外部の接点入力側、タイマー、データ・
プロセツサ機能、診断機能等に従つて割当てられ
予め割付けられている。プログラム装置18を用
いれば、プログラムは、始動する記憶場所を選択
し、ラダーダイヤグラムに従い各線に沿つて直列
に作業する。従つて、各メモリー・ワードは、要
素の定義、例えば、不動作、出力、入力、要素と
関連する予め割当てられたブロツク内の装置アド
レス(使用可能な場合)、およびアドレス指定さ
れた装置の条件に関する他の必要な機能的情報、
例えば常開又は常閉の接点状態を含んでいる。プ
ログラムが終了した後、プログラム装置18を用
いてこのプログラムをプログラム・バス26を介
して論理プロセツサ12のメモリー24に転送す
る事ができる。メモリー24は、機械制御プログ
ラム25と診断用プログラム27を記憶するため
の容量を有する。タイミング回路28はメモリー
24を連続的に走査する様作用する。
各メモリー・ワードが読出されると、装置アド
レスは、接続アドレス・バス30を介して接続バ
ス16に伝送される。もし装置アドレスが入力要
素を表示すれば、入力インターフエース20はア
ドレス・バス30における装置アドレスに応答し
て、機械10に配置された対応する入力装置の状
態を受取る様に接続された内部の回路を付勢す
る。このアドレス指定された入力装置の状態は、
接続バス16を介して接続状態回線32に沿つて
論理プロセツサ12内の論理回路34に伝送され
る。論理回路34は、実際の接続状態がプログラ
ムされたた接続状態と一致するかどうかを決定す
る様に作用する。プログラムされた状態と実際の
状態とが一致する限り、論理回路はセツトされた
状態を維持する。もしプログラムされた条件と実
際の条件とが一致しない場合は、論理回路はリセ
ツトされる。
レスは、接続アドレス・バス30を介して接続バ
ス16に伝送される。もし装置アドレスが入力要
素を表示すれば、入力インターフエース20はア
ドレス・バス30における装置アドレスに応答し
て、機械10に配置された対応する入力装置の状
態を受取る様に接続された内部の回路を付勢す
る。このアドレス指定された入力装置の状態は、
接続バス16を介して接続状態回線32に沿つて
論理プロセツサ12内の論理回路34に伝送され
る。論理回路34は、実際の接続状態がプログラ
ムされたた接続状態と一致するかどうかを決定す
る様に作用する。プログラムされた状態と実際の
状態とが一致する限り、論理回路はセツトされた
状態を維持する。もしプログラムされた条件と実
際の条件とが一致しない場合は、論理回路はリセ
ツトされる。
装置アドレスが出力コイルに対応するメモリ
ー・ワードの走査と同時に、出力インターフエー
ス22は装置アドレスをデコードする。更に、論
理プロセツサがメモリー・ワード内の出力要素を
デコードする毎に、出力ストローブ信号が出力ス
トローブ回線36上に発生される。もし論理回路
が入力装置の実際の条件およびプログラムされた
条件間の連続的な一致を検出した場合は、出力要
素を含むメモリー・ワードがデコードされると、
論理回路34は出力状態回線38上でそのセツト
状態において出力信号を生じる。出力インターフ
エース22は、回線36上の出力ストローブ信号
に応答して出力状態回線38に出力信号を記憶す
る。出力信号は、出力インターフエース22によ
りデコードされた装置アドレスに対応する機械の
一素子を付勢する。この装置は、その出力要素と
関連する入力装置の条件がプログラムされた条件
と一致せず出力状態回線38のそのリセツト状態
において出力信号を生じる事を論理回路34が決
定する迄、付勢された状態を維持する。従つて、
機械10の各素子は、その他の素子の所望の条件
の関数として制御できる。論理プロセツサ12は
唯簡単な論理的決定を行う事ができるのみである
事に留意すべきである。
ー・ワードの走査と同時に、出力インターフエー
ス22は装置アドレスをデコードする。更に、論
理プロセツサがメモリー・ワード内の出力要素を
デコードする毎に、出力ストローブ信号が出力ス
トローブ回線36上に発生される。もし論理回路
が入力装置の実際の条件およびプログラムされた
条件間の連続的な一致を検出した場合は、出力要
素を含むメモリー・ワードがデコードされると、
論理回路34は出力状態回線38上でそのセツト
状態において出力信号を生じる。出力インターフ
エース22は、回線36上の出力ストローブ信号
に応答して出力状態回線38に出力信号を記憶す
る。出力信号は、出力インターフエース22によ
りデコードされた装置アドレスに対応する機械の
一素子を付勢する。この装置は、その出力要素と
関連する入力装置の条件がプログラムされた条件
と一致せず出力状態回線38のそのリセツト状態
において出力信号を生じる事を論理回路34が決
定する迄、付勢された状態を維持する。従つて、
機械10の各素子は、その他の素子の所望の条件
の関数として制御できる。論理プロセツサ12は
唯簡単な論理的決定を行う事ができるのみである
事に留意すべきである。
機械の出力装置が演算機能に従つて制御されね
ばならないならば、データ・プロセツサ14は接
続バス16に任意に接続する事ができる。デー
タ・プロセツサは、論理プロセツサと非同期的に
動作し、論理プロセツサからの出力信号により選
択される演算命令のプログラムを実行する。もし
このプログラムがその実行のため機械からのデー
タを必要とするならば、このデータはデータ・イ
ンターフエース40とデータ・バス44により機
械10から得られる。前述の如きプログラム可能
な機械機能コントローラについては更に、本願の
譲受入に譲渡された「非同期型2重機能マルチプ
ロセツサ機械制御」なる名称の係属中の米国特許
出願第677712号(米国特許4058711号)において
詳細に記述されている。更に、同じ機械コントロ
ーラは、シンシナチ・ミラクロン社(Cincinnati
Milacron Inc.)から市販されている。
ばならないならば、データ・プロセツサ14は接
続バス16に任意に接続する事ができる。デー
タ・プロセツサは、論理プロセツサと非同期的に
動作し、論理プロセツサからの出力信号により選
択される演算命令のプログラムを実行する。もし
このプログラムがその実行のため機械からのデー
タを必要とするならば、このデータはデータ・イ
ンターフエース40とデータ・バス44により機
械10から得られる。前述の如きプログラム可能
な機械機能コントローラについては更に、本願の
譲受入に譲渡された「非同期型2重機能マルチプ
ロセツサ機械制御」なる名称の係属中の米国特許
出願第677712号(米国特許4058711号)において
詳細に記述されている。更に、同じ機械コントロ
ーラは、シンシナチ・ミラクロン社(Cincinnati
Milacron Inc.)から市販されている。
もし異常が機械の動作中に生じるならば、論理
回路34は適当な出力状態信号は発生しない。し
かしながら、機械コントローラはその走査および
テスト動作を継続するが、オペレータは、機械の
動作が停止するため問題が生じた事を知る。当業
者には明らかな様に、診断手続きがなければ、異
常の位置決定は非常に時間を費す問題となる。こ
の状態を避けるため、診断装置が開示され、その
構成は、メモリー24に含まれる診断プログラム
27と、この診断プログラムに関連して動作する
診断用回路50とからなる。診断用回路は、機械
制御用プログラムにより必要とされる如き適正な
状態にない入力信号の表示を連続的に表示する様
作用する。
回路34は適当な出力状態信号は発生しない。し
かしながら、機械コントローラはその走査および
テスト動作を継続するが、オペレータは、機械の
動作が停止するため問題が生じた事を知る。当業
者には明らかな様に、診断手続きがなければ、異
常の位置決定は非常に時間を費す問題となる。こ
の状態を避けるため、診断装置が開示され、その
構成は、メモリー24に含まれる診断プログラム
27と、この診断プログラムに関連して動作する
診断用回路50とからなる。診断用回路は、機械
制御用プログラムにより必要とされる如き適正な
状態にない入力信号の表示を連続的に表示する様
作用する。
更に詳細に記述される様に、診断プログラム
は、予め定められた数、例えば64のサイクル・ス
テツプを診断する能力を有し、又このプログラム
は各サイクル・ステツプと関連する予め定められ
た数、例えば8つの入力信号をテストできる。更
にこのサイクル・ステツプは、動作サイクルのあ
る組合せに分類でき、このため1台の機械におい
て同時に生じる動作サイクルの診断、又は機械コ
ントローラにより同時に制御される異なる機械の
1つの動作サイクルの診断を可能にする。異なる
サイクルにおけるサイクル・ステツプの組合せの
唯1の制約はサイクル・ステツプの合計数が予め
定められた数を超えられない事であり、唯1つの
サイクル・ステツプが各動作ステツプにおける如
何なる時間においてもテストできるのである。
は、予め定められた数、例えば64のサイクル・ス
テツプを診断する能力を有し、又このプログラム
は各サイクル・ステツプと関連する予め定められ
た数、例えば8つの入力信号をテストできる。更
にこのサイクル・ステツプは、動作サイクルのあ
る組合せに分類でき、このため1台の機械におい
て同時に生じる動作サイクルの診断、又は機械コ
ントローラにより同時に制御される異なる機械の
1つの動作サイクルの診断を可能にする。異なる
サイクルにおけるサイクル・ステツプの組合せの
唯1の制約はサイクル・ステツプの合計数が予め
定められた数を超えられない事であり、唯1つの
サイクル・ステツプが各動作ステツプにおける如
何なる時間においてもテストできるのである。
診断プログラムと関連しているのは診断回路5
0である。この回路50内では、サイクル・テス
ト制御装置52が論理プロセツサ12と非同期的
に動作し、診断回路の動作を開始し制御する様に
作用する。サイクル・テスト制御装置52は、動
作サイクルを示す数を周期的かつ順次的に増分す
る。最初にこのサイクル・テスト制御装置52は
第1の動作サイクルを示す第1の入力信号を生
じ、この信号は論理プロセツサのメモリー24の
少くとも1回の完全走査の間保持される。メモリ
ー24内における診断プログラムの走査の間、論
理プロセツサは接続バスに質問を与えて第1の動
作サイクルを示す第1のプログラムされた接続状
態を決定する。これに応答して、サイクル・テス
ト制御装置は接続バスに対して第1の入力信号を
発生しこれにより第1の接続の閉路を表示する。
論理プロセツサは、診断プログラムのその走査を
続行し接続バスに質問を発して、第1の動作サイ
クルと関連するサイクル・ステツプを表示する第
2のプログラムされた接続の状態を決定する。も
し論理プロセツサがこの接続の閉路を検出するな
らば、回線38におけるそのセツト状態で第1の
出力信号を発生する。回線36上の出力ストロー
ブ信号に応答して、サイクル・ステツプ・デテク
タ54は、アドレス・バス30の第1の出力信号
アドレスから得られテスト中のサイクル・ステツ
プを表す数字を記憶する。診断プログラムのその
走査を継続しながら、論理プロセツサは接続バス
に質問を発してテスト中のサイクル・ステツプと
関連する特定の入力信号の状態を決定する。この
場合、接続の閉路は、入力信号の望ましからざる
状態、即ち入力信号の異常を表示するものであ
る。入力信号の異常を検出すると同時に、論理プ
ロセツサは、そのアドレスが異常を生じた入力信
号を数値的に識別する第2の出力信号のセツト状
態を生じる。入力信号デテクタ56は、読出し回
路58,60,62の動作を開始するための前記
第2の入力信号のセツト状態に応答して、それぞ
れ第1の動作サイクル、テスト中のサイクル・ス
テツプ、および異常を生じた入力信号を表示す
る。この表示は、入力信号がその望ましからざる
状態にある限り保持される。もしこの診断回路が
1つ以上の信号の異常を検出するならば、それと
関連する動作サイクルおよびサイクル・ステツプ
を有するこれ等の各信号は予め定められた持続時
間例えば1秒以上の間順次表示される。もし入力
信号の異常が検出されなければ、表示は零状態を
維持する。読出し回路の観察により、オペレータ
は数値表示のリストを用いて異常の点を識別し、
補正手段を開始する。
0である。この回路50内では、サイクル・テス
ト制御装置52が論理プロセツサ12と非同期的
に動作し、診断回路の動作を開始し制御する様に
作用する。サイクル・テスト制御装置52は、動
作サイクルを示す数を周期的かつ順次的に増分す
る。最初にこのサイクル・テスト制御装置52は
第1の動作サイクルを示す第1の入力信号を生
じ、この信号は論理プロセツサのメモリー24の
少くとも1回の完全走査の間保持される。メモリ
ー24内における診断プログラムの走査の間、論
理プロセツサは接続バスに質問を与えて第1の動
作サイクルを示す第1のプログラムされた接続状
態を決定する。これに応答して、サイクル・テス
ト制御装置は接続バスに対して第1の入力信号を
発生しこれにより第1の接続の閉路を表示する。
論理プロセツサは、診断プログラムのその走査を
続行し接続バスに質問を発して、第1の動作サイ
クルと関連するサイクル・ステツプを表示する第
2のプログラムされた接続の状態を決定する。も
し論理プロセツサがこの接続の閉路を検出するな
らば、回線38におけるそのセツト状態で第1の
出力信号を発生する。回線36上の出力ストロー
ブ信号に応答して、サイクル・ステツプ・デテク
タ54は、アドレス・バス30の第1の出力信号
アドレスから得られテスト中のサイクル・ステツ
プを表す数字を記憶する。診断プログラムのその
走査を継続しながら、論理プロセツサは接続バス
に質問を発してテスト中のサイクル・ステツプと
関連する特定の入力信号の状態を決定する。この
場合、接続の閉路は、入力信号の望ましからざる
状態、即ち入力信号の異常を表示するものであ
る。入力信号の異常を検出すると同時に、論理プ
ロセツサは、そのアドレスが異常を生じた入力信
号を数値的に識別する第2の出力信号のセツト状
態を生じる。入力信号デテクタ56は、読出し回
路58,60,62の動作を開始するための前記
第2の入力信号のセツト状態に応答して、それぞ
れ第1の動作サイクル、テスト中のサイクル・ス
テツプ、および異常を生じた入力信号を表示す
る。この表示は、入力信号がその望ましからざる
状態にある限り保持される。もしこの診断回路が
1つ以上の信号の異常を検出するならば、それと
関連する動作サイクルおよびサイクル・ステツプ
を有するこれ等の各信号は予め定められた持続時
間例えば1秒以上の間順次表示される。もし入力
信号の異常が検出されなければ、表示は零状態を
維持する。読出し回路の観察により、オペレータ
は数値表示のリストを用いて異常の点を識別し、
補正手段を開始する。
各機械の動作と関連しているのは多数の入力信
号で、これはどんな動作サイクル、例えば潤滑異
常、動作水圧、電気的過負荷、温度制限等から独
立している。診断回路50は、これらのノンサイ
クル入力信号をチエツクする様に作用する各要素
を含んでいる。ノンサイクル・テスト制御装置6
4は、テストされるべきノンサイクル入力信号の
グループを表示する数字を周期的かつ順次に増分
する。サイクル・テスト制御装置52により決定
される時点において、ノンサイクル・テスト制御
装置64は、テストすべきノンサイクル入力信号
の第1のグループと関連する第2の入力信号を生
じる。メモリー24における診断プログラム27
の別の部分の走査の間、論理プロセツサは、接続
バスに質問を発してノンサイクル入力信号の第1
のグループを表示するプログラムされた接続の状
態を決定する。これに応答して、ノンサイクル・
テスト制御装置64は、接続バス上に第2の入力
信号を発生して、これによりプログラムされた接
続の閉路状態を示す。メモリー24における診断
プログラムのその走査の継続中、論理プロセツサ
は接続バスに質問を発して第1のグループの信号
と関連する特定のノンサイクル入力信号の状態を
決定する。前の場合の様に、この場合も、接続の
閉路はノンサイクル入力信号の望ましからざる状
態を表示する。ノンサイクル信号の異常の検出と
同時に、論理プロセツサは、そのアドレスが異常
を生じたノンサイクル入力信号を識別する第3の
出力信号のセツト状態を生じる。ノンサイクル入
力信号デテクタ66は第3の出力信号のセツト状
態に応答して読出し回路58,60,62を作用
させる。この場合、MSD読出し回路58はノン
サイクル・テスト・モードの数字的表示であり、
2−LSD読出し回路60はテスト中のノンサイ
クル入力信号のグループの表示、およびLSD読
出し回路62は異常を生じた特定のノンサイクル
入力信号の表示である。前述の如く、オペレータ
は、表示された数字と特定のノンサイクル入力信
号を関連させるリストを用いて異常を識別して補
正措置を開始する。
号で、これはどんな動作サイクル、例えば潤滑異
常、動作水圧、電気的過負荷、温度制限等から独
立している。診断回路50は、これらのノンサイ
クル入力信号をチエツクする様に作用する各要素
を含んでいる。ノンサイクル・テスト制御装置6
4は、テストされるべきノンサイクル入力信号の
グループを表示する数字を周期的かつ順次に増分
する。サイクル・テスト制御装置52により決定
される時点において、ノンサイクル・テスト制御
装置64は、テストすべきノンサイクル入力信号
の第1のグループと関連する第2の入力信号を生
じる。メモリー24における診断プログラム27
の別の部分の走査の間、論理プロセツサは、接続
バスに質問を発してノンサイクル入力信号の第1
のグループを表示するプログラムされた接続の状
態を決定する。これに応答して、ノンサイクル・
テスト制御装置64は、接続バス上に第2の入力
信号を発生して、これによりプログラムされた接
続の閉路状態を示す。メモリー24における診断
プログラムのその走査の継続中、論理プロセツサ
は接続バスに質問を発して第1のグループの信号
と関連する特定のノンサイクル入力信号の状態を
決定する。前の場合の様に、この場合も、接続の
閉路はノンサイクル入力信号の望ましからざる状
態を表示する。ノンサイクル信号の異常の検出と
同時に、論理プロセツサは、そのアドレスが異常
を生じたノンサイクル入力信号を識別する第3の
出力信号のセツト状態を生じる。ノンサイクル入
力信号デテクタ66は第3の出力信号のセツト状
態に応答して読出し回路58,60,62を作用
させる。この場合、MSD読出し回路58はノン
サイクル・テスト・モードの数字的表示であり、
2−LSD読出し回路60はテスト中のノンサイ
クル入力信号のグループの表示、およびLSD読
出し回路62は異常を生じた特定のノンサイクル
入力信号の表示である。前述の如く、オペレータ
は、表示された数字と特定のノンサイクル入力信
号を関連させるリストを用いて異常を識別して補
正措置を開始する。
第2図は、診断装置が用いられる動作サイクル
の一例である。前述の如く、テストに使用できる
サイクル・ステツプは多数の動作サイクルに分割
できる。第2図の例においては、研摩盤の送りサ
イクルはサイクル−1と呼ぶ。サイクル−1にお
けるサイクル・ステツプ1は砥石車の静止位置と
定義される。サイクル・ステツプ2の間、砥石車
は液圧作動シリンダにより急速に前送りされる。
サイクル・ステツプ3の間、砥石車は急速な送り
運動を与えられて停止し、その後ゲージ装置が前
進させられて工作物寸法を測定する。サイクル・
ステツプ4において、砥石車は粗送り、中間送
り、精密送りを与えられ、その後定置サイクルと
して最終的な寸法におかれる。サイクル5は、砥
石車をその静止位置に引込めさせる。この運動
は、シリンダの逆方向運動に加えて後退方向の急
速な送りからなる。第2図の表において、各サイ
クル・ステツプと関連しているのは診断プログラ
ムによりテストされるべきサイクル入力信号であ
る。例えば、機械がサイクル・ステツプ1からサ
イクル・ステツプ2迄進行し得る前に、後方リミ
ツト・スイツチに当らねばならず、一部負荷を受
け、サイクル開始押しボタンが押されねばならな
い。同様に、サイクル・ステツプ2からサイク
ル・ステツプ3に進行するためには、液圧作動シ
リンダは前方向に作動されて前方リミツト・スイ
ツチに当り、同スイツチは前記シリンダの作用を
停止させる。従つて、第2図における表は、送り
の動作サイクル内のサイクル・ステツプについて
テストされるべきサイクル入力信号を表示する。
の一例である。前述の如く、テストに使用できる
サイクル・ステツプは多数の動作サイクルに分割
できる。第2図の例においては、研摩盤の送りサ
イクルはサイクル−1と呼ぶ。サイクル−1にお
けるサイクル・ステツプ1は砥石車の静止位置と
定義される。サイクル・ステツプ2の間、砥石車
は液圧作動シリンダにより急速に前送りされる。
サイクル・ステツプ3の間、砥石車は急速な送り
運動を与えられて停止し、その後ゲージ装置が前
進させられて工作物寸法を測定する。サイクル・
ステツプ4において、砥石車は粗送り、中間送
り、精密送りを与えられ、その後定置サイクルと
して最終的な寸法におかれる。サイクル5は、砥
石車をその静止位置に引込めさせる。この運動
は、シリンダの逆方向運動に加えて後退方向の急
速な送りからなる。第2図の表において、各サイ
クル・ステツプと関連しているのは診断プログラ
ムによりテストされるべきサイクル入力信号であ
る。例えば、機械がサイクル・ステツプ1からサ
イクル・ステツプ2迄進行し得る前に、後方リミ
ツト・スイツチに当らねばならず、一部負荷を受
け、サイクル開始押しボタンが押されねばならな
い。同様に、サイクル・ステツプ2からサイク
ル・ステツプ3に進行するためには、液圧作動シ
リンダは前方向に作動されて前方リミツト・スイ
ツチに当り、同スイツチは前記シリンダの作用を
停止させる。従つて、第2図における表は、送り
の動作サイクル内のサイクル・ステツプについて
テストされるべきサイクル入力信号を表示する。
第3図aおよび第3図bは継いだ状態でラダー
ダイヤグラムを示し、これから第2図に示された
事例の診断プログラムが判るであろう。このラダ
ーダイヤグラムは、各診断プログラムに対して基
本的に同じフオーマツトを有する3つの個別のラ
ダーダイヤグラムからなる。番号70で示される
第1のラダーダイヤグラムは、診断回路からの第
1の入力信号とサイクル・ステツプを示す第2の
同時に発生する入力信号とに応答して、テスト中
のサイクル・ステツプを示す診断回路への第1の
出力信号を発生する。72で示されるラダーダイ
ヤグラムの第2の部分は、テスト中のサイクル・
ステツプを規定する入力信号に応答するもので、
更にこのサイクル・ステツプ内でテストされるべ
き特定のサイクルの入力信号を表示する別の入力
信号に応答するものである。
ダイヤグラムを示し、これから第2図に示された
事例の診断プログラムが判るであろう。このラダ
ーダイヤグラムは、各診断プログラムに対して基
本的に同じフオーマツトを有する3つの個別のラ
ダーダイヤグラムからなる。番号70で示される
第1のラダーダイヤグラムは、診断回路からの第
1の入力信号とサイクル・ステツプを示す第2の
同時に発生する入力信号とに応答して、テスト中
のサイクル・ステツプを示す診断回路への第1の
出力信号を発生する。72で示されるラダーダイ
ヤグラムの第2の部分は、テスト中のサイクル・
ステツプを規定する入力信号に応答するもので、
更にこのサイクル・ステツプ内でテストされるべ
き特定のサイクルの入力信号を表示する別の入力
信号に応答するものである。
ここで留意すべき事は、このラダーダイヤグラ
ムは、テスト中の入力信号がその望ましからざる
即ち誤りの状態にある時第2の出力信号を生じる
様に描かれている事である。換言すれば、特定の
入力信号を規定する接続のテストにおいては、開
路状態の接続の論理プロセツサによる検出作用は
異常でない状態として解釈される。従つて、診断
プログラム内の使用されない回線即ち容量はプロ
グラムされずに残り、これはユーザにとつて非常
な便利となる。従つて、診断回路が第2の出力信
号を受取る時、第1の入力信号と第1と第2の出
力信号の表示を行い、これにより異常を生じたテ
スト中の入力信号を表示する。ラダーダイヤグラ
ムの第3の部分は番号74で示される。ダイヤグ
ラムのこの部分はノンサイクル入力信号のテスト
に使用される。
ムは、テスト中の入力信号がその望ましからざる
即ち誤りの状態にある時第2の出力信号を生じる
様に描かれている事である。換言すれば、特定の
入力信号を規定する接続のテストにおいては、開
路状態の接続の論理プロセツサによる検出作用は
異常でない状態として解釈される。従つて、診断
プログラム内の使用されない回線即ち容量はプロ
グラムされずに残り、これはユーザにとつて非常
な便利となる。従つて、診断回路が第2の出力信
号を受取る時、第1の入力信号と第1と第2の出
力信号の表示を行い、これにより異常を生じたテ
スト中の入力信号を表示する。ラダーダイヤグラ
ムの第3の部分は番号74で示される。ダイヤグ
ラムのこの部分はノンサイクル入力信号のテスト
に使用される。
再び番号70で示されるダイヤグラムの部分に
おいて、診断回路が、第2図の場合では送りサイ
クルである第1の動作サイクルを示す第1の入力
信号を生じたものとしよう。論理プロセツサ12
は、機械制御プログラムが行うと全く同じ方法で
診断プログラムを走査する。ラダーダイヤグラム
の第1の線72の走査においては、論理プロセツ
サは、これに対応する入力信号を求めて接続バス
に対するアドレス105−Bを生じる。前述の如
く、装置アドレスのあるブロツクはある機能を予
め割当てられている。診断作用の場合においては
24の数字アドレスがこれに予め割当てられてい
る。この24の中の8つが動作サイクルおよびサ
イクル・ステツプの識別のために割当てられてい
る。メモリー・ワードの別の桁は、このアドレス
がA又はBアドレスであるかどうかを決めるのに
用いられる。最初の8つの数字アドレスのAグル
ープはサイクル・ステツプを表すのに任意に割当
てられ、最初の8つの数字アドレスのBグループ
が動作サイクルを表すのに任意に割当てられてい
る。Aグループ内のみで規定される次の8つの数
字アドレスは、テストされるサイクル入力信号を
識別する。3番目の組の8つの数字アドレスのA
グループは任意にノンサイクル入力信号と関連し
8つの数字アドレスの最後のグループのBグルー
プは任意に前記信号のノンサイクル・グループを
表す様に割当てられている。第3図の事例におい
ては、診断プログラム例と関連する24のアドレ
スは104ないし127におよぶ数字のグループ
である。
おいて、診断回路が、第2図の場合では送りサイ
クルである第1の動作サイクルを示す第1の入力
信号を生じたものとしよう。論理プロセツサ12
は、機械制御プログラムが行うと全く同じ方法で
診断プログラムを走査する。ラダーダイヤグラム
の第1の線72の走査においては、論理プロセツ
サは、これに対応する入力信号を求めて接続バス
に対するアドレス105−Bを生じる。前述の如
く、装置アドレスのあるブロツクはある機能を予
め割当てられている。診断作用の場合においては
24の数字アドレスがこれに予め割当てられてい
る。この24の中の8つが動作サイクルおよびサ
イクル・ステツプの識別のために割当てられてい
る。メモリー・ワードの別の桁は、このアドレス
がA又はBアドレスであるかどうかを決めるのに
用いられる。最初の8つの数字アドレスのAグル
ープはサイクル・ステツプを表すのに任意に割当
てられ、最初の8つの数字アドレスのBグループ
が動作サイクルを表すのに任意に割当てられてい
る。Aグループ内のみで規定される次の8つの数
字アドレスは、テストされるサイクル入力信号を
識別する。3番目の組の8つの数字アドレスのA
グループは任意にノンサイクル入力信号と関連し
8つの数字アドレスの最後のグループのBグルー
プは任意に前記信号のノンサイクル・グループを
表す様に割当てられている。第3図の事例におい
ては、診断プログラム例と関連する24のアドレ
スは104ないし127におよぶ数字のグループ
である。
第3図aおよび第3図bのラダーダイヤグラム
は、各動作サイクルと関連する8つのサイクル・
ステツプを有する8つの潜在的動作サイクルを示
す様に描かれたものである。更に、8つの入力信
号を各サイクル・ステツプに関してテストでき
る。同様に、8つのノンサイクルグループが、各
ノンサイクル・グループについてテストされる8
つのノンサイクル入力信号の順位で示されてい
る。
は、各動作サイクルと関連する8つのサイクル・
ステツプを有する8つの潜在的動作サイクルを示
す様に描かれたものである。更に、8つの入力信
号を各サイクル・ステツプに関してテストでき
る。同様に、8つのノンサイクルグループが、各
ノンサイクル・グループについてテストされる8
つのノンサイクル入力信号の順位で示されてい
る。
前述の如く、この診断回路は動作サイクルを表
示する第1の入力信号を生じるものである。各々
の第1の入力信号は、少くともメモリー24を走
査するのに論理プロセツサに必要な時間と等しい
時間持続する。論理プロセツサがラダーダイヤグ
ラム70で示される診断プログラムを走査する時
接続バスに質問を発して動作サイクルを示す第1
の接続の状態を決定する。この論理プロセツサは
第1の入力信号の存在を接続の閉路として解釈し
現在テスト中の動作サイクルと関連するサイク
ル・ステツプを表示する直列の接続の状態を決定
する様進行する。もし接続の閉路が検出されてこ
のサイクル・ステツプが活動中である事を示せ
ば、論理プロセツサはラダーダイヤグラム70の
コイルにより表示される第1の出力信号のセツト
状態を発生する。このセツト状態は診断回路によ
り検出される。
示する第1の入力信号を生じるものである。各々
の第1の入力信号は、少くともメモリー24を走
査するのに論理プロセツサに必要な時間と等しい
時間持続する。論理プロセツサがラダーダイヤグ
ラム70で示される診断プログラムを走査する時
接続バスに質問を発して動作サイクルを示す第1
の接続の状態を決定する。この論理プロセツサは
第1の入力信号の存在を接続の閉路として解釈し
現在テスト中の動作サイクルと関連するサイク
ル・ステツプを表示する直列の接続の状態を決定
する様進行する。もし接続の閉路が検出されてこ
のサイクル・ステツプが活動中である事を示せ
ば、論理プロセツサはラダーダイヤグラム70の
コイルにより表示される第1の出力信号のセツト
状態を発生する。このセツト状態は診断回路によ
り検出される。
次いで論理プロセツサは、ラダーダイヤグラム
72により表示される動作サイクルを走査する様
に進行する。第1の2つの接続はテスト中の動作
サイクルおよびサイクル・ステツプを表示する。
この接続の閉路が依然として存続するものとすれ
ば、論理プロセツサは接続バスに質問を発して特
定のサイクル入力信号の状態を決定する。前述の
如く、この信号の誤りの状態がテストされる。も
し誤りの状態が存在するならば、ラダーダイヤグ
ラム72のコイルは第2の出力信号のセツト状態
を生成する。診断回路はこの第2の出力信号のセ
ツト状態を検出して読出しをして動作サイクル、
サイクル・ステツプ、および異常を生じたサイク
ル入力信号を識別する表示を発生させる。
72により表示される動作サイクルを走査する様
に進行する。第1の2つの接続はテスト中の動作
サイクルおよびサイクル・ステツプを表示する。
この接続の閉路が依然として存続するものとすれ
ば、論理プロセツサは接続バスに質問を発して特
定のサイクル入力信号の状態を決定する。前述の
如く、この信号の誤りの状態がテストされる。も
し誤りの状態が存在するならば、ラダーダイヤグ
ラム72のコイルは第2の出力信号のセツト状態
を生成する。診断回路はこの第2の出力信号のセ
ツト状態を検出して読出しをして動作サイクル、
サイクル・ステツプ、および異常を生じたサイク
ル入力信号を識別する表示を発生させる。
各動作サイクルにおけるいかなる時点において
も唯1つのサイクル・ステツプのみが活動可能で
ある事を想起すべきである。これを明らかにする
ためには第2図に示された表を再び照合され度
い。サイクル・ステツプ1においては、3つのサ
イクル入力信号を検討する事が望ましい。線76
のラダーダイヤグラム70においては、接点10
4−Bは送り動作サイクルを示す。線76の次の
接点はサイクル・ステツプ1即ち静止位置を示
す。従つて、もし論理プロセツサが診断回路がサ
イクル1を示す接続バスに対して第1の入力信号
を生じた事を検出するならば、又更に機械制御プ
ログラムが静止サイクル・ステツプを示す信号を
生じた事を検出するならば、コイル104−Aは
接続バスに対して第1の出力信号を生じ、送りサ
イクルにおける静止サイクル・ステツプが診断さ
れつつある事を示す。論理プロセツサ12は、線
78に達する迄ラダーダイヤグラムのその走査を
続行する。この時点において、論理プロセツサは
接点104−Bと静止接点を通る連続性を検出
し、第1のサイクル入力信号テストを表示する後
方のリミツト・スイツチの状態をチエツクする。
リミツト・スイツチの接点状態は常開であるが、
プログラムはスイツチに当つた状態についてテス
トしているため、診断プログラムは誤りの状態を
チエツクするため常閉接点を示す。従つて、もし
このリミツト・スイツチが接触すれば、診断プロ
グラム内の常閉接点は開路し、誤りの状態は発生
されない。もしリミツト・スイツチが当らなけれ
ば、診断プログラム内の常閉接点は、診断回路に
より検出される表示される接続バスに対する第2
の出力信号のセツト状態を生じる。
も唯1つのサイクル・ステツプのみが活動可能で
ある事を想起すべきである。これを明らかにする
ためには第2図に示された表を再び照合され度
い。サイクル・ステツプ1においては、3つのサ
イクル入力信号を検討する事が望ましい。線76
のラダーダイヤグラム70においては、接点10
4−Bは送り動作サイクルを示す。線76の次の
接点はサイクル・ステツプ1即ち静止位置を示
す。従つて、もし論理プロセツサが診断回路がサ
イクル1を示す接続バスに対して第1の入力信号
を生じた事を検出するならば、又更に機械制御プ
ログラムが静止サイクル・ステツプを示す信号を
生じた事を検出するならば、コイル104−Aは
接続バスに対して第1の出力信号を生じ、送りサ
イクルにおける静止サイクル・ステツプが診断さ
れつつある事を示す。論理プロセツサ12は、線
78に達する迄ラダーダイヤグラムのその走査を
続行する。この時点において、論理プロセツサは
接点104−Bと静止接点を通る連続性を検出
し、第1のサイクル入力信号テストを表示する後
方のリミツト・スイツチの状態をチエツクする。
リミツト・スイツチの接点状態は常開であるが、
プログラムはスイツチに当つた状態についてテス
トしているため、診断プログラムは誤りの状態を
チエツクするため常閉接点を示す。従つて、もし
このリミツト・スイツチが接触すれば、診断プロ
グラム内の常閉接点は開路し、誤りの状態は発生
されない。もしリミツト・スイツチが当らなけれ
ば、診断プログラム内の常閉接点は、診断回路に
より検出される表示される接続バスに対する第2
の出力信号のセツト状態を生じる。
論理プロセツサは、線80に達する迄診断プロ
グラムの走査を続行する。再び、線78における
様に、接点104−Bは送りサイクルを表示し、
静止接点はサイクル・ステツプ1を表示し、一部
負荷状態の接点はテストされるべき第2のサイク
ル入力信号となる。論理プロセツサは、サイクル
に開始押ボタンがテストされる点であるダイヤグ
ラムの線82(第3図b)に達する迄その走査状
態を継続する。送りサイクルおよび静止サイク
ル・ステツプの合成はこのラダーダイヤグラムの
以降の部分では生じない事に留意すべきである。
従つて、診断プログラムのみが実際に使用される
サイクル入力信号をチエツクする。全ての可能性
のある信号は走査しない。再び第3図aのラダー
ダイヤグラム70において、線84はサイクル−
2とサイクル・ステツプ−9が同時に存在するな
らば、第1の出力信号が発生される事を示す。従
つて、サイクル・ステツプ1のコイル104−A
が8つのどの状態においてもピツクアツプされ、
各状態は異なる動作サイクルに対して独特のもの
である事が容易に判るであろう。
グラムの走査を続行する。再び、線78における
様に、接点104−Bは送りサイクルを表示し、
静止接点はサイクル・ステツプ1を表示し、一部
負荷状態の接点はテストされるべき第2のサイク
ル入力信号となる。論理プロセツサは、サイクル
に開始押ボタンがテストされる点であるダイヤグ
ラムの線82(第3図b)に達する迄その走査状
態を継続する。送りサイクルおよび静止サイク
ル・ステツプの合成はこのラダーダイヤグラムの
以降の部分では生じない事に留意すべきである。
従つて、診断プログラムのみが実際に使用される
サイクル入力信号をチエツクする。全ての可能性
のある信号は走査しない。再び第3図aのラダー
ダイヤグラム70において、線84はサイクル−
2とサイクル・ステツプ−9が同時に存在するな
らば、第1の出力信号が発生される事を示す。従
つて、サイクル・ステツプ1のコイル104−A
が8つのどの状態においてもピツクアツプされ、
各状態は異なる動作サイクルに対して独特のもの
である事が容易に判るであろう。
診断プログラムの論理プロセツサ走査において
線86は、もし診断回路が送りサイクルを表示す
る第1の入力信号を生じ、機械制御プログラムが
前方シリンダ接点を作動させた場合は、サイク
ル・ステツプ2のコイル105−Aはピツクアツ
プされ、接続バスに対する出力信号のセツト状態
を生じる。サイクル・ステツプ2においてテスト
されるべきサイクル入力信号はラダーダイヤグラ
ム72の線88と90に示される。従つて、サイ
クル・ステツプに関連する動作サイクルおよび関
連するサイクル入力信号をリストする第2図に示
される如き表を与えれば、サイクル入力信号が、
動作サイクルの間特定のサイクル・ステツプによ
り必要とされる時点で各サイクル入力信号をテス
トする様に作用するラダーダイヤグラムが描け
る。このダイヤグラムのフオーマツトは、固定の
必要ある全てのものを接点およびコイルに対する
適正なアドレスを割当てる様に固定される。当該
技術において周知の方法において、第3図aおよ
び第3図bに示されるラダーダイヤグラムを与え
れば、プログラム装置18を用いて診断用プログ
ラム27を発生してこのプログラムを論理プロセ
ツサ12のメモリー24に転送する事ができる。
線86は、もし診断回路が送りサイクルを表示す
る第1の入力信号を生じ、機械制御プログラムが
前方シリンダ接点を作動させた場合は、サイク
ル・ステツプ2のコイル105−Aはピツクアツ
プされ、接続バスに対する出力信号のセツト状態
を生じる。サイクル・ステツプ2においてテスト
されるべきサイクル入力信号はラダーダイヤグラ
ム72の線88と90に示される。従つて、サイ
クル・ステツプに関連する動作サイクルおよび関
連するサイクル入力信号をリストする第2図に示
される如き表を与えれば、サイクル入力信号が、
動作サイクルの間特定のサイクル・ステツプによ
り必要とされる時点で各サイクル入力信号をテス
トする様に作用するラダーダイヤグラムが描け
る。このダイヤグラムのフオーマツトは、固定の
必要ある全てのものを接点およびコイルに対する
適正なアドレスを割当てる様に固定される。当該
技術において周知の方法において、第3図aおよ
び第3図bに示されるラダーダイヤグラムを与え
れば、プログラム装置18を用いて診断用プログ
ラム27を発生してこのプログラムを論理プロセ
ツサ12のメモリー24に転送する事ができる。
第4図aおよび第4図bは、一緒に継ぐと、第
1図に全体的に示された診断装置の詳細なブロツ
ク図を示す。サイクル開始フリツプフロツプ10
2はクロツク信号によりクロツクされて出力信号
を発生してサイクル・カウンタ100をクロツク
しこのクロツクはサイクル1を表示する第1のの
数を生じる。フリツプフロツプ102からの出力
は再びゲート105に与えられてサイクル開始フ
リツプフロツプがこれ以上のクロツクパルスでク
ロツクされない様にする。サイクル・カウンタ1
00からの第1の数は、デコード及びゲート回路
108からのバス106に応答する第2の入力を
有するコンパレータ104に対する1入力であ
る。デコード及びゲート回路108は、アドレ
ス・バス30と、回線36上の出力ストローブ信
号と、回線38上の出力状態信号に応答する。第
1の数はサイクル・カウンタ100により保持さ
れるが、論理プロセツサ12は診断プログラムを
保持するメモリー24を走査する。第1の数に相
当する動作サイクルの存在をテストするプログラ
ムにおける一地点に達する時、コンパレータ10
4は回線111上のサイクル信号に応答して第1
の数と、アドレス・バス30上のアドレスから得
たバス106上の数との間で等値を検出する。等
値の検出と同時に、コンパレータ104は、接続
状態回線32とバツフア110を経て再び接続バ
スへの第1の入力信号を発生する。第1の入力信
号を受取つた後論理プロセツサはラダーダイヤグ
ラムの線内の次の接点に移動してテスト中のサイ
クルと関連するサイクル・ステツプを表示する入
力信号をテストする。もしプロセツサがこのサイ
クル・ステツプが機械制御プログラムにおいて活
動状態である事を知れば、第1の出力信号はその
セツト状態で発生される。デコード及びゲート回
路108は回線112上にサイクル・ステツプ信
号を発生し、前記回線は出力状態と回線114上
のストローブ信号と一緒にゲート118を介して
サイクル入力信号(CIS)走査フリツプフロツプ
116をセツトする様作用する。
1図に全体的に示された診断装置の詳細なブロツ
ク図を示す。サイクル開始フリツプフロツプ10
2はクロツク信号によりクロツクされて出力信号
を発生してサイクル・カウンタ100をクロツク
しこのクロツクはサイクル1を表示する第1のの
数を生じる。フリツプフロツプ102からの出力
は再びゲート105に与えられてサイクル開始フ
リツプフロツプがこれ以上のクロツクパルスでク
ロツクされない様にする。サイクル・カウンタ1
00からの第1の数は、デコード及びゲート回路
108からのバス106に応答する第2の入力を
有するコンパレータ104に対する1入力であ
る。デコード及びゲート回路108は、アドレ
ス・バス30と、回線36上の出力ストローブ信
号と、回線38上の出力状態信号に応答する。第
1の数はサイクル・カウンタ100により保持さ
れるが、論理プロセツサ12は診断プログラムを
保持するメモリー24を走査する。第1の数に相
当する動作サイクルの存在をテストするプログラ
ムにおける一地点に達する時、コンパレータ10
4は回線111上のサイクル信号に応答して第1
の数と、アドレス・バス30上のアドレスから得
たバス106上の数との間で等値を検出する。等
値の検出と同時に、コンパレータ104は、接続
状態回線32とバツフア110を経て再び接続バ
スへの第1の入力信号を発生する。第1の入力信
号を受取つた後論理プロセツサはラダーダイヤグ
ラムの線内の次の接点に移動してテスト中のサイ
クルと関連するサイクル・ステツプを表示する入
力信号をテストする。もしプロセツサがこのサイ
クル・ステツプが機械制御プログラムにおいて活
動状態である事を知れば、第1の出力信号はその
セツト状態で発生される。デコード及びゲート回
路108は回線112上にサイクル・ステツプ信
号を発生し、前記回線は出力状態と回線114上
のストローブ信号と一緒にゲート118を介して
サイクル入力信号(CIS)走査フリツプフロツプ
116をセツトする様作用する。
回線117上のCIS走査信号は、フリツプフロ
ツプ102を保持し、第1の出力信号のアドレス
に相当する数をサイクル・ステツプ−バツフア1
20にクロツクする様作用する。コンパレータ1
22は、サイクル・ステツプ・バツフア120に
おける数をバス106上に存在する数と比較す
る。もしこの数が等しければ、回線117上で別
の入力信号が接点状態回線32とバツフア110
を介して接続バスに対して発生される。もし以降
のメモリー走査の間出力信号が状態を変更すれば
回線115上の非出力およびストローブ信号と回
線117上の入力信号はサイクル・ステツプの診
断回路をリセツトする。前記CIS走査信号も又フ
リツプフロツプ124をセツトする様に作用しこ
のフリツプフロツプは更にフリツプフロツプ12
6をセツトして、これにより、カウンタ136か
らリセツトを、ゲート128から禁止状態を除去
する。論理プロセツサがラダーダイヤグラムのそ
の走査を移動させる時、サイクル入力信号の1つ
に誤りの状態を表示するそのセツト状態に第2の
出力信号を生じる入力コイルをピツクアツプする
ものと仮定する。デコード及びゲート回路網10
8はこれに応答して回線130上でゲート132
に対する出力信号を生じる。回線114上の出力
状態およびストローブ信号の発生に応答して、コ
ンパレータ134は使用可能となり、第2の出力
信号のアドレスに対応する数をCISカウンタ13
6からの数と比較する。ゲート128の入力側の
クロツク信号はCISカウンタを連続的にクロツク
してその出力側に連続数を生じる。コンパレータ
160がその入力側の数に等値を検出すると、回
線138上にラツチ・クロツク信号を生じる。こ
のラツチ・クロツク信号はタイマー140を付勢
し、このタイマーは回線123上に信号を発生し
て予め定められた時間CISカウンタ136のこれ
以上のクロツク動作を禁止する。更に、ラツチ・
クロツク信号は、読出しラツチ142,144,
146をクロツクする。これらのラツチは、第1
の入力信号、第1の出力信号および第2の出力信
号が読出回路58,60,62によりデコードさ
れ表示される様にこれら信号を識別する数を保持
する。
ツプ102を保持し、第1の出力信号のアドレス
に相当する数をサイクル・ステツプ−バツフア1
20にクロツクする様作用する。コンパレータ1
22は、サイクル・ステツプ・バツフア120に
おける数をバス106上に存在する数と比較す
る。もしこの数が等しければ、回線117上で別
の入力信号が接点状態回線32とバツフア110
を介して接続バスに対して発生される。もし以降
のメモリー走査の間出力信号が状態を変更すれば
回線115上の非出力およびストローブ信号と回
線117上の入力信号はサイクル・ステツプの診
断回路をリセツトする。前記CIS走査信号も又フ
リツプフロツプ124をセツトする様に作用しこ
のフリツプフロツプは更にフリツプフロツプ12
6をセツトして、これにより、カウンタ136か
らリセツトを、ゲート128から禁止状態を除去
する。論理プロセツサがラダーダイヤグラムのそ
の走査を移動させる時、サイクル入力信号の1つ
に誤りの状態を表示するそのセツト状態に第2の
出力信号を生じる入力コイルをピツクアツプする
ものと仮定する。デコード及びゲート回路網10
8はこれに応答して回線130上でゲート132
に対する出力信号を生じる。回線114上の出力
状態およびストローブ信号の発生に応答して、コ
ンパレータ134は使用可能となり、第2の出力
信号のアドレスに対応する数をCISカウンタ13
6からの数と比較する。ゲート128の入力側の
クロツク信号はCISカウンタを連続的にクロツク
してその出力側に連続数を生じる。コンパレータ
160がその入力側の数に等値を検出すると、回
線138上にラツチ・クロツク信号を生じる。こ
のラツチ・クロツク信号はタイマー140を付勢
し、このタイマーは回線123上に信号を発生し
て予め定められた時間CISカウンタ136のこれ
以上のクロツク動作を禁止する。更に、ラツチ・
クロツク信号は、読出しラツチ142,144,
146をクロツクする。これらのラツチは、第1
の入力信号、第1の出力信号および第2の出力信
号が読出回路58,60,62によりデコードさ
れ表示される様にこれら信号を識別する数を保持
する。
CISカウンタはサイクル入力信号数の全域にわ
たりサイクルした後、回線48上にCISリセツト
信号を発生する。この信号は、ゲート150を介
して回線152上にリセツト信号を発生し、これ
によりフリツプフロツプ124,126をリセツ
トし、フリツプフロツプ102をセツトする。フ
リツプフロツプ102のセツテイングはサイクル
カウンタ100を次のサイクル数迄増進させる。
診断回路は、サイクル・カウンタが動作サイクル
の全てと関連する数の全域にわたつてカウントす
る迄、前述の如き周期的方法で作用を続行する。
たりサイクルした後、回線48上にCISリセツト
信号を発生する。この信号は、ゲート150を介
して回線152上にリセツト信号を発生し、これ
によりフリツプフロツプ124,126をリセツ
トし、フリツプフロツプ102をセツトする。フ
リツプフロツプ102のセツテイングはサイクル
カウンタ100を次のサイクル数迄増進させる。
診断回路は、サイクル・カウンタが動作サイクル
の全てと関連する数の全域にわたつてカウントす
る迄、前述の如き周期的方法で作用を続行する。
次のカウントにおいて、サイクル・カウンタ1
00は回線125にノンサイクル・テスト信号を
生じる。このため、ノンサイクル・カウンタ15
4からリセツト状態を解除し、更にフリツプフロ
ツプ156に出力を発生させてこれによりカウン
タ154をクロツクする。カウンタ154はテス
トされるべきノンサイクル入力信号の第1のグル
ープに対応する数を生じる。論理動作が診断プロ
グラムを進行して第1のノンサイクル・グループ
のテストの存在をチエツクする時、デコード及び
ゲート回路は、回線158にノンサイクル信号を
生じると共に回線106上にこれと関連する数を
生じる。コンパレータ160はノンサイクル信号
に応答してカウンタ154からの数をバス106
上の現存数と比較する。もし一致が生じると、第
2の入力信号は接続状態回線32とバツフア11
0を介して再び接続バスに対して回線162上に
発生される。
00は回線125にノンサイクル・テスト信号を
生じる。このため、ノンサイクル・カウンタ15
4からリセツト状態を解除し、更にフリツプフロ
ツプ156に出力を発生させてこれによりカウン
タ154をクロツクする。カウンタ154はテス
トされるべきノンサイクル入力信号の第1のグル
ープに対応する数を生じる。論理動作が診断プロ
グラムを進行して第1のノンサイクル・グループ
のテストの存在をチエツクする時、デコード及び
ゲート回路は、回線158にノンサイクル信号を
生じると共に回線106上にこれと関連する数を
生じる。コンパレータ160はノンサイクル信号
に応答してカウンタ154からの数をバス106
上の現存数と比較する。もし一致が生じると、第
2の入力信号は接続状態回線32とバツフア11
0を介して再び接続バスに対して回線162上に
発生される。
このため、論理プロセツサが、特定のノンサイ
クル入力信号を表示するラダーダイヤグラムの線
における次の接点をチエツクする事を可能にす
る。もしプロセツサがこの信号に異常を検出する
と、第3の出力信号が発生され、デコード及びゲ
ート回路108はこれに応答して回線164上に
ノンサイクル入力信号(NCIS)を又回線114
上に対応する出力状態およびストローブ信号を生
じる。これらの信号はフリツプフロツプ168を
セツトする様作用し、前記フリツプフロツプは更
にフリツプフロツプ170と172をセツトす
る。NCISカウンタ174のリセツト状態は除去
され、同カウンタはゲート176を介してクロツ
クされる。同カウンタは、ノンサイクル入力信号
に割当てられた数の範囲に対応する数を生じる。
コンパレータ178は、NCIS信号により使用可
能となり、カウンタ174からの数をNCIS信号
と関連するバス106の数と比較する。
クル入力信号を表示するラダーダイヤグラムの線
における次の接点をチエツクする事を可能にす
る。もしプロセツサがこの信号に異常を検出する
と、第3の出力信号が発生され、デコード及びゲ
ート回路108はこれに応答して回線164上に
ノンサイクル入力信号(NCIS)を又回線114
上に対応する出力状態およびストローブ信号を生
じる。これらの信号はフリツプフロツプ168を
セツトする様作用し、前記フリツプフロツプは更
にフリツプフロツプ170と172をセツトす
る。NCISカウンタ174のリセツト状態は除去
され、同カウンタはゲート176を介してクロツ
クされる。同カウンタは、ノンサイクル入力信号
に割当てられた数の範囲に対応する数を生じる。
コンパレータ178は、NCIS信号により使用可
能となり、カウンタ174からの数をNCIS信号
と関連するバス106の数と比較する。
一致する場合は、コンパレータは回線180上
にNCラツチ信号を生じる。この信号は、ゲート
176によりカウンタ174のこれ以上のクロツ
ク動作を禁止するタイマー182を付勢する様作
用する。更に、NCラツチ信号は、回線121上
に所望の信号を生じる使用禁止フリツプフロツプ
184をクロツクしてラツチ144と146の各
出力を使用禁止の状態にする。更に、NCラツチ
信号は、診断されるノンサイクル・グループと関
連する数、および異常を生じたノンサイクルに入
力信号を一時的に記憶する様に作用するラツチ1
86と188をクロツクする。これら信号は、読
出し60と62によりデコードされ表示される。
最後に、NCラツチ信号はORゲート181を介
してラツチ142をクロツクし、これにより読出
し回路58にノンサイクルテスト信号と独自に関
連するサイクル・カウンタ100からの数を表示
させる。
にNCラツチ信号を生じる。この信号は、ゲート
176によりカウンタ174のこれ以上のクロツ
ク動作を禁止するタイマー182を付勢する様作
用する。更に、NCラツチ信号は、回線121上
に所望の信号を生じる使用禁止フリツプフロツプ
184をクロツクしてラツチ144と146の各
出力を使用禁止の状態にする。更に、NCラツチ
信号は、診断されるノンサイクル・グループと関
連する数、および異常を生じたノンサイクルに入
力信号を一時的に記憶する様に作用するラツチ1
86と188をクロツクする。これら信号は、読
出し60と62によりデコードされ表示される。
最後に、NCラツチ信号はORゲート181を介
してラツチ142をクロツクし、これにより読出
し回路58にノンサイクルテスト信号と独自に関
連するサイクル・カウンタ100からの数を表示
させる。
タイマー182により規定される予め定められ
た時間の終りで、回線129上のノンサイクル−
タイマー信号はそのカウント−サイクルの間
NCISカウンタ174をクロツクする。このカウ
ント−サイクルの終りにこのカウンタは回線19
2上にノンサイクル・リセツト信号を生じる。こ
のノンサイクル・リセツト信号は、フリツプフロ
ツプ168,170と172をリセツトし、フリ
ツプフロツプ156をセツトする様作用する。フ
リツプフロツプ156のセツト動作はノンサイク
ル・テスト・カウンタを増分してテストされる入
力信号の次のノンサイクル・グループを表示する
別の数を生じる。診断回路は、ノンサイクル・テ
スト・カウンタが全てのノンサイクル・グループ
を増分する迄この様な方法で作用を続行し、その
後、全てのラツチ142,144,146,18
6および188をサイクル・カウンタ100をリ
セツトする様作用する回線194上にリセツト読
出信号を生じる。この時点で、診断回路は完全な
1サイクルを行いサイクル・カウンタ100はフ
リツプフロツプ102に対する次のクロツクパル
スに応答してこのフリツプフロツプにより再びク
ロツクされる用意ができる。
た時間の終りで、回線129上のノンサイクル−
タイマー信号はそのカウント−サイクルの間
NCISカウンタ174をクロツクする。このカウ
ント−サイクルの終りにこのカウンタは回線19
2上にノンサイクル・リセツト信号を生じる。こ
のノンサイクル・リセツト信号は、フリツプフロ
ツプ168,170と172をリセツトし、フリ
ツプフロツプ156をセツトする様作用する。フ
リツプフロツプ156のセツト動作はノンサイク
ル・テスト・カウンタを増分してテストされる入
力信号の次のノンサイクル・グループを表示する
別の数を生じる。診断回路は、ノンサイクル・テ
スト・カウンタが全てのノンサイクル・グループ
を増分する迄この様な方法で作用を続行し、その
後、全てのラツチ142,144,146,18
6および188をサイクル・カウンタ100をリ
セツトする様作用する回線194上にリセツト読
出信号を生じる。この時点で、診断回路は完全な
1サイクルを行いサイクル・カウンタ100はフ
リツプフロツプ102に対する次のクロツクパル
スに応答してこのフリツプフロツプにより再びク
ロツクされる用意ができる。
要約すれば、サイクル・カウンタ100は、論
理プロセツサ12と非同期的に動作する。このカ
ウンタは動作サイクルを表示する入力信号を順次
発生する。論理プロセツサが診断用プログラムを
走査する時、これら入力信号が検出され、論理プ
ロセツサにテストされる動作サイクル内の1サイ
クル・ステツプのテストを進行させる。このサイ
クル・ステツプが検出されると、論理プロセツサ
は、サイクル・ステツプを表示するセツト状態で
第1の出力信号を生じる。この信号と関連する数
は、サイクル・ステツプ・バツフア120内に記
憶される。次いで、論理プロセツサは、診断用プ
ログラムにより規定される如くにサイクル入力信
号のテストを進める。もし異常が検出されると、
第2の出力信号がセツト状態で発生される。この
出力信号は、カウンタ136およびコンパレータ
134の動作により検出される。診断回路は、サ
イクル・カウンタ100、サイクル・ステツプ・
バツフア120、およびCISカウンタ136から
の各数の表示を行う様作用する。
理プロセツサ12と非同期的に動作する。このカ
ウンタは動作サイクルを表示する入力信号を順次
発生する。論理プロセツサが診断用プログラムを
走査する時、これら入力信号が検出され、論理プ
ロセツサにテストされる動作サイクル内の1サイ
クル・ステツプのテストを進行させる。このサイ
クル・ステツプが検出されると、論理プロセツサ
は、サイクル・ステツプを表示するセツト状態で
第1の出力信号を生じる。この信号と関連する数
は、サイクル・ステツプ・バツフア120内に記
憶される。次いで、論理プロセツサは、診断用プ
ログラムにより規定される如くにサイクル入力信
号のテストを進める。もし異常が検出されると、
第2の出力信号がセツト状態で発生される。この
出力信号は、カウンタ136およびコンパレータ
134の動作により検出される。診断回路は、サ
イクル・カウンタ100、サイクル・ステツプ・
バツフア120、およびCISカウンタ136から
の各数の表示を行う様作用する。
診断回路は全ての動作サイクルを走査した後、
入力信号のノンサイクルグループの走査を開始す
る。同様に、ノンサイクル・テスト・カウンタ1
54は、診断用プログラムを走査しノンサイク
ル・グループをテストする時、論理プロセツサに
より検される第2の入力信号を生じる。次に、プ
ロセツサは、各グループと関連するノンサイクル
入力信号をチエツクする。もし異常が検出される
と、論理プロセツサは、NCISカウンタ174お
よびコンパレータ178の動作により検出される
そのセツト状態で第3の出力信号を生じる。その
後、診断回路は、ノンサイクル・グループおよび
異常を生じたノンサイクル入力信号を表す数を表
示する様作用する。
入力信号のノンサイクルグループの走査を開始す
る。同様に、ノンサイクル・テスト・カウンタ1
54は、診断用プログラムを走査しノンサイク
ル・グループをテストする時、論理プロセツサに
より検される第2の入力信号を生じる。次に、プ
ロセツサは、各グループと関連するノンサイクル
入力信号をチエツクする。もし異常が検出される
と、論理プロセツサは、NCISカウンタ174お
よびコンパレータ178の動作により検出される
そのセツト状態で第3の出力信号を生じる。その
後、診断回路は、ノンサイクル・グループおよび
異常を生じたノンサイクル入力信号を表す数を表
示する様作用する。
本発明については、添付図面に示される望まし
い実施態様により詳細に例示し、望ましい実施態
様についてある程度詳細に記述したが、本発明を
この様な細目に限定する意図はない。むしろ、特
許請求の範囲に該当する全ての変更内容を包括す
るものである。
い実施態様により詳細に例示し、望ましい実施態
様についてある程度詳細に記述したが、本発明を
この様な細目に限定する意図はない。むしろ、特
許請求の範囲に該当する全ての変更内容を包括す
るものである。
本発明の効果は次の通りである。つまり、全体
の制御プログラムの実行の一部分として診断テス
トを実行するので故障を検出するために機械の動
作の制御を停止する必要がないこと、望ましくな
い状態にある入力信号に対応した故障状態がこの
入力信号に割当てられた番号によつて特定されこ
の番号が表示されるので診断が直ちに行なえるこ
と、診断がプログラマブルコントローラ内の別個
の診断プログラムにより規定されているのでプロ
グラムが機械制御プログラムの変更に応じて容易
に変更でき、またそれぞれのプログラムを別個に
設計できること、診断装置がプログラマブルコン
トローラと非同期で動作するので診断装置が機械
の特定の動作サイクルに関連しない入力信号の異
常をチエツクできること、等が挙げられる。
の制御プログラムの実行の一部分として診断テス
トを実行するので故障を検出するために機械の動
作の制御を停止する必要がないこと、望ましくな
い状態にある入力信号に対応した故障状態がこの
入力信号に割当てられた番号によつて特定されこ
の番号が表示されるので診断が直ちに行なえるこ
と、診断がプログラマブルコントローラ内の別個
の診断プログラムにより規定されているのでプロ
グラムが機械制御プログラムの変更に応じて容易
に変更でき、またそれぞれのプログラムを別個に
設計できること、診断装置がプログラマブルコン
トローラと非同期で動作するので診断装置が機械
の特定の動作サイクルに関連しない入力信号の異
常をチエツクできること、等が挙げられる。
第1図はプログラム可能な機械機能コントロー
ラに対する診断装置の関係を示す全体ブロツク
図、第2図は診断装置が用いられる動作・サイク
ルの一例を示す図、第3図aおよび第3図bは診
断プログラムが第2図に示された事例から得られ
る線図、および第4図aおよび第4図bは第1図
に全体的に示された診断装置の詳細なブロツク図
である。 〔符号説明〕、10……機械、12……論理プ
ロセサ、14……任意データプロセサ、16……
接続バス、18……プログラム装置、20,22
……インターフエース、24……記憶装置、52
……サイクル・テスト制御装置、54……サイク
ル・ステツプ・デテクタ、56……サイクル入力
信号デテクタ、58,60,62……読出回路、
64……ノンサイクル・テスト・コントローラ、
66……ノンサイクル入力信号デテクタ、100
……サイクル・カウンタ、104……コンパレー
タ、120……バツフア記憶装置、122,13
4……コンパレータ、136……入力サイクル・
カウンタ、140……タイマー、142,14
4,146……ラツチ回路、154……ノンサイ
クル・カウンタ、160……コンパレータ。
ラに対する診断装置の関係を示す全体ブロツク
図、第2図は診断装置が用いられる動作・サイク
ルの一例を示す図、第3図aおよび第3図bは診
断プログラムが第2図に示された事例から得られ
る線図、および第4図aおよび第4図bは第1図
に全体的に示された診断装置の詳細なブロツク図
である。 〔符号説明〕、10……機械、12……論理プ
ロセサ、14……任意データプロセサ、16……
接続バス、18……プログラム装置、20,22
……インターフエース、24……記憶装置、52
……サイクル・テスト制御装置、54……サイク
ル・ステツプ・デテクタ、56……サイクル入力
信号デテクタ、58,60,62……読出回路、
64……ノンサイクル・テスト・コントローラ、
66……ノンサイクル入力信号デテクタ、100
……サイクル・カウンタ、104……コンパレー
タ、120……バツフア記憶装置、122,13
4……コンパレータ、136……入力サイクル・
カウンタ、140……タイマー、142,14
4,146……ラツチ回路、154……ノンサイ
クル・カウンタ、160……コンパレータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 機械の少なくとも1つの動作サイクルを表す
機械制御プログラムを含む第1の部分25を有す
るメモリー24を備える型式のプログラム可能な
機械の機能コントローラであり、前記のメモリー
を連続的に、反復的に読出し前記のメモリーに応
答して前記のプログラムにより規定される入力信
号の状態に対応する実際の入力信号の状態の関数
として出力信号の状態を制御する論理処理手段2
8,34を更に備え、前記の動作サイクルは多数
のサイクル・ステツプからなり、前記の各々のサ
イクル・ステツプは多数のサイクル入力信号によ
つて規定され、前記の機械制御プログラムは前記
の入力信号の所定の状態に応答して前記の機械に
電気的に連絡する接続バスに発生される出力信号
の状態を規定するプログラム可能な機械の機能コ
ントローラであつて、 (a) 選択されたサイクル入力信号の状態テスト動
作を制御するための、前記のメモリーに記憶さ
れている第1の診断用プログラムであつて、前
記の機械の動作サイクルを規定する特定のサイ
クル・ステツプに関連する前記の選択されたサ
イクル入力信号の誤り状態のテストを規定する
前記の第1の診断用プログラムを記憶する前記
のメモリーの第2の部分27と、 (b) 診断回路50とを備え、 この診断回路50は、 (ア) 第1の入力信号を発生して前記の機械の動
作サイクルの1つのテストを開始するために
前記の論理処理手段と非同期に動作するサイ
クル・テスト制御装置52と、 (イ) 前記の論理処理手段と前記のサイクル・テ
スト制御装置とに応答し、機械の動作サイク
ルの1つにおける特定のサイクルを表す第1
の出力信号を検出するサイクル・ステツプ・
デテクタ54と、 (ウ) 前記の論理処理手段と前記のサイクル・テ
スト制御装置とに応答し、前記の第1の診断
用プログラムによつて規定される如き前記の
選択されたサイクル入力信号の1つの誤り状
態を表す第2の出力信号を検出するサイクル
入力信号デテクタ56と、 (エ) 前記の第1の入力信号と前記の第1及び第
2の出力信号に応答する入力を有し、この入
力を表示する読出回路58,60,62 を備えることを特徴とするプログラム可能な機械
の機能コントローラ。 2 前記の診断用プログラムが機械のどの動作サ
イクルとも独立したノンサイクル入力信号の誤り
状態のテストを含み、 前記の診断回路が、 (a) 前記のサイクル・テスト制御装置に応答し、
前記の論理処理手段に接続された、第2の入力
信号を与えて前記のノンサイクル入力信号のテ
ストを開始するノンサイクル・テストコントロ
ーラ64と、 (b) 前記のノンサイクル・テストコントローラと
前記の論理処理手段とに応答し、前記の第2の
診断プログラムによつて規定される様なノンサ
イクル入力信号の1つの誤り状態を表示する第
3の出力信号を検出するノンサイクル入力信号
デテクタ66と、 (c) 前記の第2の入力信号と第3の出力信号とに
応答する入力側と、前記の読出回路に接続され
た出力側を有し、前記の読出回路に前記の第2
の入力信号と前記の第3の出力信号の表示を表
示するラツチ回路186,188と を含む特許請求の範囲第1項に記載のプログラム
可能な機械の機能コントローラ。 3 (a) 前記の論理処理手段と非同期的に動作
し、1組のサイクル数を連続的に逐次的に発生
するサイクル・カウンタ100と、 (b) 前記のサイクル・カウンタと前記の接続バス
とに応答して前記のサイクル数と前記の接続バ
ス上のアドレスに対応する数を比較し、その間
に一致を検出するとこれに応答して前記の第1
の入力信号を発生するコンパレータ104と、
を備え、 前記のサイクルの数の各々は前記の論理処理
手段が前記のメモリーを1回読出すのに必要な
時間に略々等しい持続時間を有し、前記のサイ
クル・カウンタは更に最後のサイクル数の信号
を生じることを特徴とする特許請求の範囲第2
項に記載のプログラム可能な機械の機能コント
ローラ。 4 前記のサイクル・ステツプ・デテクタが、 (a) 各サイクル数と第1の出力信号に応答し、第
1の出力信号に応答するサイクル・ステツプ数
を記憶するため接続バスに接続されるバツフア
ー記憶装置120と、 (b) 前記の接続バスに生じるアドレスに対応する
数と記憶されたサイクル・ステツプ数とを比較
し、その間の一致に応答して別の入力信号を前
記の論理処理手段に生成するため前記の接続バ
スと前記のバツフアー記憶装置に応答するコン
パレータ122と、 を備えることを特徴とする特許請求の範囲第3項
に記載のプログラム可能な機械の機能コントロー
ラ。 5 前記のサイクル入力信号デテクタが、 (a) 前記の第1の出力信号に応答しサイクル入力
数を順次生じる入力サイクル・カウンタ136
と、 (b) 前記の第2の出力信号に応答し、各サイクル
入力数を第2の出力信号のアドレスに対応する
数と比較してその間の一致に応答してラツチ信
号を生じるコンパレータ134と、 (c) 前記のラツチ信号に応答し、予め定められた
持続時間の第1のタイミング信号を生じる第1
のタイマー140と、 (d) 前記の第1のタイミング信号に応答し、入力
サイクル・カウンタに接続され、予め定められ
た持続時間は、前記の入力サイクル・カウンタ
の動作を禁止しこれにより前記の第2の出力信
号に応答するサイクル入力数を持続するゲート
128と、 を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第4項
に記載プログラム可能な機械の機能コントロー
ラ。 6 前記の入力サイクル・カウンタが、前記のサ
イクル・カウンタをその時点のカウント状態から
続くカウント状態に増進させる最終の数を生じる
ことを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の
プログラム可能な機械の機能コントローラ。 7 前記の読出回路が、その時点のサイクル数、
サイクル・ステツプ数およびサイクル入力数を記
憶するためラツチ信号に応答する第1のラツチ作
用回路142,144,146を備えることを特
徴とする特許請求の範囲第6項に記載のプログラ
ム可能な機械の機能コントローラ。 8 前記の第3の出力信号は、前記の第2の入力
信号と前記のノンサイクル・テスト命令によつて
規定される如き誤りの状態にあるノンサイクル入
力信号の1つとの同時の発生に応答して発生され
ることを特徴とする特許請求の範囲第7項に記載
のプログラム可能な機械の機能コントローラ。 9 前記のノンサイクル・テスト・コントローラ
が、 (a) 前記の最後のサイクル数の信号に応答し、1
組のノンサイクル数を順次生じるノンサイク
ル・カウンタ154と、 (b) 該ノンサイクル・カウンタと前記の論理処理
手段とに応答し、前記の接続バス上のアドレス
に対応する数とノンサイクル数とを比較してそ
の間に一致が見出されるとこれに対応して前記
の第2の入力信号を生じるコンパレータ160
と、 を備えることを特徴とする特許請求の範囲第8項
に記載のプログラム可能な機械の機能コントロー
ラ。 10 前記のノンサイクル入力信号デテクタが、 (a) 前記の第3の出力信号に応答し順次多数のノ
ンサイクル入力数を生じるノンサイクル入力カ
ウンタ174と、 (b) 前記の第3の出力信号に応答し各ノンサイク
ル入力数を前記の第3の出力信号のアドレスに
対応する数と比較してその間に一致が見出され
るとこれに応答してノンサイクル・ラツチ信号
を生じるコンパレータ178と、 (c) 前記のノンサイクル・ラツチ信号に応答し前
記の予め定められた持続時間の第2のタイミン
グ信号を生じる第2のタイマー182と、 (d) 前記の第2のタイミング信号に応答し前記の
ノンサイクル入力カウンタに接続され、予め定
められた持続時間は前記のノンサイクル入力カ
ウンタの動作を禁止してこれにより前記の第3
の出力信号に対応するノンサイクル入力数を維
持する様にされてなるゲート176と、 (e) 前記のノンサイクル・ラツチ信号に応答し前
記の第1のラツチ作用回路に接続され、該信号
の持続時間は前記の第1のラツチ作用回路の出
力を禁止する禁止回路184と、 を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第9項
に記載のプログラム可能な機械の機能コントロー
ラ。 11 前記のラツチ作用回路が、前記のノンサイ
クル入力カウンタと前記のノンサイクルカウンタ
に接続され、前記のノンサイクル・ラツチ信号の
時点で生じる前記のノンサイクル数とノンサイク
ル入力数を記憶するため前記のノンサイクル・ラ
ツチ信号に応答する第2のラツチ作用回路18
6,188を備えたことを特徴とする特許請求の
範囲第10項に記載のプログラム可能な機械の機
能コントローラ。 12 前記のノンサイクル・カウンタが前記の禁
止回路184と、前記の第1及び第2のラツチ作
用回路と、前記のサイクル・カウンタとをリセツ
トするためのリセツト信号を発生し以て前記のサ
イクル・カウンタはその最初の状態に増進でき、
その結果診断サイクルが反復されることを特徴と
する特許請求の範囲第11項に記載のプログラム
可能な機械の機能コントローラ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/715,133 US4063311A (en) | 1976-08-17 | 1976-08-17 | Asynchronously operating signal diagnostic system for a programmable machine function controller |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5324980A JPS5324980A (en) | 1978-03-08 |
JPH0159601B2 true JPH0159601B2 (ja) | 1989-12-19 |
Family
ID=24872792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9862877A Granted JPS5324980A (en) | 1976-08-17 | 1977-08-17 | Programable machine function controller |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4063311A (ja) |
JP (1) | JPS5324980A (ja) |
DE (1) | DE2735397C2 (ja) |
GB (1) | GB1544152A (ja) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4162396A (en) * | 1977-10-27 | 1979-07-24 | International Business Machines Corporation | Testing copy production machines |
US4174805A (en) * | 1978-04-13 | 1979-11-20 | Ncr Corporation | Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus |
US4298958A (en) * | 1978-09-13 | 1981-11-03 | Hitachi, Ltd. | Sequence control system |
DE2846925C2 (de) * | 1978-10-27 | 1982-09-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mikrocomputer-Netzwerk mit mehreren an mindestens einen Systembus angekoppelten Mikrocomputer-Moduln |
FR2444965A1 (fr) * | 1978-12-22 | 1980-07-18 | Armancourt Etud Const Meca | Automate programmable universel |
US4251883A (en) * | 1979-04-16 | 1981-02-17 | Allen-Bradley Company | Fault detection apparatus for a programmable controller |
US4459695A (en) * | 1979-11-07 | 1984-07-10 | Davy Mcgee (Sheffield) Limited | Fault finding in an industrial installation by means of a computer |
US4322846A (en) * | 1980-04-15 | 1982-03-30 | Honeywell Information Systems Inc. | Self-evaluation system for determining the operational integrity of a data processing system |
NL8003567A (nl) * | 1980-06-20 | 1982-01-18 | Philips Nv | Dienstverlenende inrichting met een digitale program- meerinrichting welke is beveiligd tegen storingen door een willekeurig aanschakelen van het apparaat. |
JPS5760411A (en) | 1980-09-29 | 1982-04-12 | Toyoda Mach Works Ltd | Status display device of sequence controller |
GB2104685B (en) * | 1981-08-24 | 1985-12-18 | Omron Tateisi Electronics Co | Programmable controller |
DE3206891A1 (de) * | 1982-02-26 | 1983-09-15 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zur fehlerdiagnose fuer speicherprogrammierbare steuerungen |
US4514846A (en) * | 1982-09-21 | 1985-04-30 | Xerox Corporation | Control fault detection for machine recovery and diagnostics prior to malfunction |
JPS59186007A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-22 | Fanuc Ltd | プログラマブルコントロ−ラのアラ−ム表示方式 |
JPS59205614A (ja) * | 1983-05-09 | 1984-11-21 | Fanuc Ltd | プログラマブルコントロ−ラにおけるシ−ケンス異常チエツク方式 |
JPS59216256A (ja) * | 1983-05-24 | 1984-12-06 | Iwatsu Electric Co Ltd | マイクロプロセツサの動作解析装置 |
DE3438007A1 (de) * | 1984-10-17 | 1986-04-17 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Einrichtung zur diagnose einer bahngesteuerten maschine |
US4851985A (en) * | 1985-04-15 | 1989-07-25 | Logitek, Inc. | Fault diagnosis system for comparing counts of commanded operating state changes to counts of actual resultant changes |
US4660170A (en) * | 1985-04-29 | 1987-04-21 | General Dynamics, Pomona Division | System for providing reprogramming data to an embedded processor |
JPS62243008A (ja) * | 1986-04-15 | 1987-10-23 | Fanuc Ltd | Pmcの信号トレ−ス制御方式 |
DE3883075T2 (de) * | 1987-05-25 | 1994-04-07 | Omron Tateisi Electronics Co | Fehlerdiagnosegerät für gesteuerte Einrichtung. |
US5121475A (en) * | 1988-04-08 | 1992-06-09 | International Business Machines Inc. | Methods of dynamically generating user messages utilizing error log data with a computer system |
DE69311099T2 (de) * | 1992-03-09 | 1998-02-19 | Electronic Data Systems Corp., Plano, Tex. | Verfahren und vorrichtung zur automatischen modifikation eines graphisches displays basierend auf einer steuerprogrammodifikation |
US5390324A (en) * | 1992-10-02 | 1995-02-14 | Compaq Computer Corporation | Computer failure recovery and alert system |
DE4340746C2 (de) * | 1992-11-30 | 2003-11-27 | Toyota Chuo Kenkyusho Aichi Kk | Diagnoseeinrichtung zum Diagnostizieren eines dynamischen Systems |
CA2327416C (en) | 1998-02-23 | 2007-05-15 | Monfort, Inc. | Method and system for dehairing animals |
US7484133B2 (en) * | 2003-11-07 | 2009-01-27 | Finisar Corporation | Watch-dog instruction embedded in microcode |
FR2914604B1 (fr) * | 2007-04-06 | 2009-05-22 | Renault Sas | Procede de diagnostic de contacteurs de pedale de frein |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50106085A (ja) * | 1974-01-15 | 1975-08-21 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1207478B (de) * | 1960-02-24 | 1965-12-23 | Genevoise Instr Physique | Anordnung zur Kontrolle einer Werkzeug-maschinen-Programmsteuerung |
US3719931A (en) * | 1971-04-29 | 1973-03-06 | Bryant Grinder Corp | Apparatus for controlling machine functions |
US3701113A (en) * | 1971-08-13 | 1972-10-24 | Digital Equipment Corp | Analyzer for sequencer controller |
US3849765A (en) * | 1971-11-30 | 1974-11-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Programmable logic controller |
US3829842A (en) * | 1973-02-22 | 1974-08-13 | Terry Controls Corp | Automatic self-testing programmable industrial controller |
US3939453A (en) * | 1974-04-29 | 1976-02-17 | Bryant Grinder Corporation | Diagnostic display for machine sequence controller |
-
1976
- 1976-08-17 US US05/715,133 patent/US4063311A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-08-01 GB GB32238/77A patent/GB1544152A/en not_active Expired
- 1977-08-05 DE DE2735397A patent/DE2735397C2/de not_active Expired
- 1977-08-17 JP JP9862877A patent/JPS5324980A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50106085A (ja) * | 1974-01-15 | 1975-08-21 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1544152A (en) | 1979-04-11 |
DE2735397C2 (de) | 1984-03-01 |
JPS5324980A (en) | 1978-03-08 |
DE2735397A1 (de) | 1978-02-23 |
US4063311A (en) | 1977-12-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0159601B2 (ja) | ||
US4312066A (en) | Diagnostic/debug machine architecture | |
US4414665A (en) | Semiconductor memory device test apparatus | |
US4023142A (en) | Common diagnostic bus for computer systems to enable testing concurrently with normal system operation | |
US4317200A (en) | Method and device for testing a sequential circuit divided into a plurality of partitions | |
US5265004A (en) | Sequence controller with combinatorial Boolean logic | |
JP4298960B2 (ja) | アルゴリズム的にプログラム可能なメモリテスタにおけるトリガ信号生成方法 | |
US5042002A (en) | Programmable controller with a directed sequencer | |
US5889669A (en) | Programmable controller allowing an external peripheral device to monitor an internal operation state of a CPU unit | |
US4355389A (en) | Microprogrammed information processing system having self-checking function | |
JPS5833576B2 (ja) | 計算機システムの故障診断装置 | |
US5271015A (en) | Self-diagnostic system for semiconductor memory | |
US5070476A (en) | Sequence controller | |
US5189675A (en) | Self-diagnostic circuit for logic circuit block | |
JP2554282B2 (ja) | シーケンスコントローラの故障診断装置 | |
JP2631651B2 (ja) | 自己診断機能を具備した記憶装置 | |
JPS6325708A (ja) | 実行履歴表示装置 | |
JPS6014376B2 (ja) | 試験装置 | |
JPS6232510A (ja) | シ−ケンサの異常診断装置 | |
JPH0119166B2 (ja) | ||
JPS5810853A (ja) | 集積回路 | |
JP2531139B2 (ja) | リモ−ト診断装置 | |
EP0434081B1 (en) | Monitor apparatus for selectively detecting signal conditions at points in an operating system | |
JP2737443B2 (ja) | 故障診断装置 | |
JPH0444770B2 (ja) |