JPS5810853A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
- Publication number
- JPS5810853A JPS5810853A JP56108951A JP10895181A JPS5810853A JP S5810853 A JPS5810853 A JP S5810853A JP 56108951 A JP56108951 A JP 56108951A JP 10895181 A JP10895181 A JP 10895181A JP S5810853 A JPS5810853 A JP S5810853A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- integrated circuit
- processing
- storage
- fault
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路、特に故障診断機能を有する集積回路
に関する。
に関する。
従来の集積回路の故障の診断線、外部よル試験データを
与えて診断動作を行わせ、その試験結果を外部へ送出し
て外部において前記試験結果と正解値とを比較して故障
の有無の判定を行っているが、複数個の集積回路を一枚
の配線板上に搭載した場合、配線板上の配線により情報
線が相互に連結されることがあるため、集積回路の動作
＋Ｒ能のすべてを試験出来ない欠点があった。
与えて診断動作を行わせ、その試験結果を外部へ送出し
て外部において前記試験結果と正解値とを比較して故障
の有無の判定を行っているが、複数個の集積回路を一枚
の配線板上に搭載した場合、配線板上の配線により情報
線が相互に連結されることがあるため、集積回路の動作
＋Ｒ能のすべてを試験出来ない欠点があった。
本発明の目的は上記欠点を除去し、配線板に搭載後もそ
のすべての動作機能を試験できる集積回路を提供するこ
とにある〇 本発明の集積回路は、電気的機能動作を行う機能回路と
、前記機能回路の故障の有無を診断するための試験デー
タ及び試験結果を比較判定するための正解値情報を記憶
する記憶回路と、前記試験結果と前記正解値情報とを比
ＩＩＲ＋ｌｌ定する比較判定回路と、故障診断プログラ
ム及び比較判定結果を記憶する記憶部と前記記憶回路、
前記比較判定回路および前記記憶部の動作を制御し且つ
前記故障診断プログラムにより前記機能回路に試験動作
を指令する処理部とを有する処理回路とを備えて構成さ
れている。
のすべての動作機能を試験できる集積回路を提供するこ
とにある〇 本発明の集積回路は、電気的機能動作を行う機能回路と
、前記機能回路の故障の有無を診断するための試験デー
タ及び試験結果を比較判定するための正解値情報を記憶
する記憶回路と、前記試験結果と前記正解値情報とを比
ＩＩＲ＋ｌｌ定する比較判定回路と、故障診断プログラ
ム及び比較判定結果を記憶する記憶部と前記記憶回路、
前記比較判定回路および前記記憶部の動作を制御し且つ
前記故障診断プログラムにより前記機能回路に試験動作
を指令する処理部とを有する処理回路とを備えて構成さ
れている。
以下、本発明の実施例について図面１！−」いて説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図のＡ部の詳細ブロック図である。
図のＡ部の詳細ブロック図である。
図に示すように集積回路１は電気的機能動作を行う機能
回路２と、機能回路２の故障の有無を診断するための試
験データ及び試験結果を比較判足するための正解値１Ｎ
報ｔ−記憶する記憶回路３と、前記試験結果と前記正解
値情報とを比較判足する比較判定回路４と、故障診断プ
ログラム及び比較判定結果を記憶する記憶部６と記憶回
路３．比較判定回路４および記憶部６の動作を制御し且
つ前記故障診断プログラムにより４ｆｉ能回絡２に試験
動作を指令する処理部７とを有する処理回路５とを備え
ている。
回路２と、機能回路２の故障の有無を診断するための試
験データ及び試験結果を比較判足するための正解値１Ｎ
報ｔ−記憶する記憶回路３と、前記試験結果と前記正解
値情報とを比較判足する比較判定回路４と、故障診断プ
ログラム及び比較判定結果を記憶する記憶部６と記憶回
路３．比較判定回路４および記憶部６の動作を制御し且
つ前記故障診断プログラムにより４ｆｉ能回絡２に試験
動作を指令する処理部７とを有する処理回路５とを備え
ている。
次に本発明の集積回路の動作について説明する。
本集積回路の電気的機能動作を行う機能回路２の故障の
有無を診断するための試験データおよびドレス情報によ
り記憶回路３に格納される。一方、故障診断のための故
障診断プログラムは、端子】７を通して処理回路５の記
憶部６に送られると、端子１１全通して送られるアドレ
ス情報により記憶部６に格納される。次に、端子１２に
一通して起動信号が処理回路５の処理部７に送られると
共に、端子１３Ｙｔ通して刻時パルスが処理部７に送ら
れると、処理ｔｇｓ７は記憶回路３に対して前記刻時パ
ルスと共に前記試験データ′ｔ−機能回路２に送出する
指令金山すと同時に記憶部６に格納されている前記故障
診断プログラムを刻時パルスと共に機能回路２に送る。
有無を診断するための試験データおよびドレス情報によ
り記憶回路３に格納される。一方、故障診断のための故
障診断プログラムは、端子】７を通して処理回路５の記
憶部６に送られると、端子１１全通して送られるアドレ
ス情報により記憶部６に格納される。次に、端子１２に
一通して起動信号が処理回路５の処理部７に送られると
共に、端子１３Ｙｔ通して刻時パルスが処理部７に送ら
れると、処理ｔｇｓ７は記憶回路３に対して前記刻時パ
ルスと共に前記試験データ′ｔ−機能回路２に送出する
指令金山すと同時に記憶部６に格納されている前記故障
診断プログラムを刻時パルスと共に機能回路２に送る。
［ヒ回路２は処理部７から送られて来る故障診断プログ
ラムと、記憶回路３から送られて来る試験データにより
診断動作を実行し、その結果を比−判定回路４に送る。
ラムと、記憶回路３から送られて来る試験データにより
診断動作を実行し、その結果を比−判定回路４に送る。
一方、処理部７は記憶回路３に対して、機能回路２の前
ｍ１診診断性と同期させて先に格納した正解値情報を比
較判定回路４に送出するように指令する。比較判定回路
４は処理部７から刻時パルスと共に動作指令を受けて前
記診断動作の結果と前記正解値情報とを比較判定し、そ
の結果を処理回路５の鳶憶部６に送シ％記憶部６はこれ
を格納する０ 診断プログラムによる一連の診断動作が終了し、その比
較判定結果がすべて記憶部６に格納されると、処理部７
は診断終了信号１ｒ端子１４に送出すると共に、比較判
定結果情報の送出を記憶部６に指令し、記憶部６は、こ
の指令を受けて前記比較判定結果情報を端子１５へ送出
する０従って、端子１５の出力を判断することにより集
積回路１の故障の有無を診断することができる。
ｍ１診診断性と同期させて先に格納した正解値情報を比
較判定回路４に送出するように指令する。比較判定回路
４は処理部７から刻時パルスと共に動作指令を受けて前
記診断動作の結果と前記正解値情報とを比較判定し、そ
の結果を処理回路５の鳶憶部６に送シ％記憶部６はこれ
を格納する０ 診断プログラムによる一連の診断動作が終了し、その比
較判定結果がすべて記憶部６に格納されると、処理部７
は診断終了信号１ｒ端子１４に送出すると共に、比較判
定結果情報の送出を記憶部６に指令し、記憶部６は、こ
の指令を受けて前記比較判定結果情報を端子１５へ送出
する０従って、端子１５の出力を判断することにより集
積回路１の故障の有無を診断することができる。
以上詳細に説明したように１本発明は、集積回無を診断
することができるので、集積回路が多数搭載され九配−
板が客先で使用中に枚数を生じた場合、この配線板上の
どの集積回路の枚数によるものかを迅速且つ的確に診断
でき、故障の修復を迅速に行うことができるという効果
がある。
することができるので、集積回路が多数搭載され九配−
板が客先で使用中に枚数を生じた場合、この配線板上の
どの集積回路の枚数によるものかを迅速且つ的確に診断
でき、故障の修復を迅速に行うことができるという効果
がある。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図のＡ部の詳細ブロック図である。
図のＡ部の詳細ブロック図である。
Claims (1)
- 電気的機能動作を行う機能回路と、前記機能回路の故障
の有無を診断する丸めの試験デ７夕及び試験結果を比較
判定するための正解値情報を記憶する記憶回路と、前記
試験結果とＭ紀正解値情報とを比較判定する比較判定回
路と、故障診断プログラム及び比較判定結果を記憶する
記憶部と前記記憶回路、前記比較判定回路および前記記
憶部の動作を制御し且つ前記故障診断プログラムによシ
前記機能回路に試験動作を指令する処理部とを有する処
理回路とを備えることを特徴とした集積回路０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56108951A JPS5810853A (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | 集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56108951A JPS5810853A (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | 集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5810853A true JPS5810853A (ja) | 1983-01-21 |
Family
ID=14497777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56108951A Pending JPS5810853A (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | 集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5810853A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5885545A (ja) * | 1981-11-17 | 1983-05-21 | Toshiba Corp | 集積回路装置 |
| JPS6276756A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Toshiba Corp | 自己検査回路を備えた半導体装置 |
| JPS63105341U (ja) * | 1986-12-24 | 1988-07-08 | ||
| JPH01193942A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-03 | Hitachi Ltd | 信号処理回路の自己診断方式 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5676854A (en) * | 1979-11-28 | 1981-06-24 | Nec Corp | Integrated circuit device |
| JPS57207347A (en) * | 1981-06-16 | 1982-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
-
1981
- 1981-07-13 JP JP56108951A patent/JPS5810853A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5676854A (en) * | 1979-11-28 | 1981-06-24 | Nec Corp | Integrated circuit device |
| JPS57207347A (en) * | 1981-06-16 | 1982-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5885545A (ja) * | 1981-11-17 | 1983-05-21 | Toshiba Corp | 集積回路装置 |
| JPS6276756A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Toshiba Corp | 自己検査回路を備えた半導体装置 |
| JPS63105341U (ja) * | 1986-12-24 | 1988-07-08 | ||
| JPH0534104Y2 (ja) * | 1986-12-24 | 1993-08-30 | ||
| JPH01193942A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-03 | Hitachi Ltd | 信号処理回路の自己診断方式 |
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