JPS61840A

JPS61840A - 携帯用デ−タ端末の自己診断装置

Info

Publication number: JPS61840A
Application number: JP12116384A
Authority: JP
Inventors: Masamichi Haruna; 春名　正道
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1984-06-12
Filing date: 1984-06-12
Publication date: 1986-01-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、マイクロコンビーータを利用したデ、−夕収
集端末のランダムアクセスメモリ（Ｒ，Ａ、Ｍ　）の診
断を行なう、携帯用データ端末の自己診断装置に関する
ものである。

従来例の構成とその問題点携帯用データ端末の゛異常動作、誤動作の原因として、
半導体メモリや周辺配線の不良が考えられる。ところで
、これらは工場出荷時には異常なく、携帯用として使用
時に起る場合が多い。しかし、携帯用端末では、実装さ
れているメモリに限りがあるなどの理由で、これらに関
する自己診断機能が省略されたり、簡略化されたりして
おり、その診断が不可能であったり、不正確であったり
することが多い。

一方、特別の自己診断機能を有するプログラムを入力し
たリードオンリーメモリー（ＲＯＭ）を装着したものも
あるが、との場合でも、単一の電源で動作させる携帯用
端末では、プログラムやデータの入っているランダムア
クセスメモリ（ＲＡＭ）の内容ガ必ずしも保証できない
ため、異常動作、誤動作の原因が半導体メモリやその周
辺配線の不良でない場合には、それ以前にメモリ内に格
納されたデータに信頼性が無くなってし甘うことになり
、必ずしも充分な診断が出来ないという問題があった。

発明の目的本発明は、上記の従来の欠点を除去するものであり、少
ないメモリの使用で、ランダムアクセスメモＩＪ（ＲＡ
Ｍ）やその周辺配線の自己診断を正確に行なう機能を実
現し、さらに既にそこに格納されているデータを充分保
証できる優れた携帯用データ端末の自己診断装置を提供
することを目的とするものである。

発明の構成本発明は、上記目的を達成するために、マイクロコンビ
ーータが制御するリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）の一
部を使用して、上記マイクロコンビーータにより制御さ
れるランダムアクセスメモＩＪ（ＲＡＭ）やその周辺の
データバス、アドレスバスを自己診断するように構成し
たものである。

実施例の説明第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。１は診断されるランダムアクセスメモＩＪ（ＲＡＭ
）部、２は診断を行なうデータの入出力制御手段であり
、アドレスの選択、データの書き込み、読み出しを行な
うものである。３は判定手段であり、データ入出力制御
手段２より得られたデータの比較判定を行ない、診断の
正否を決定するものである。４はデータ退避手段であり
、診断時に以前のデータを保証するだめに、そのデータ
を退避させておくものである。５は診断の手順が記憶さ
れている記憶手段であり、これに基づいて判定手段３．
データ入出力制御手段２等を動作させるものである。６
は状態表示手段であり、正常時、異常時の状態を表示す
るためのものである。

第２図は上記実施例の具体的な構成を示す回路図である
。７はマイクロコンビーータであり、診断されるＲＡＭ
（１〜ｎ）１０と、その中のアドレスを選択するアドレ
ス選択部９．ＲＡＭｌ０とデータの入出力を行なう入出
力部１１．入出力データの比較を行なう演算部１２及び
上記診断対象ＲＡＭｌ０の選択アドレスの内容を一時的
に退避させてお（’ＲＡＭ１３から等制約に構成されて
いる。６は状態表示手段であり、Ｒ，ＡＭＩＯの診断中
、正常終了時、異常終了及び異常箇所等を表示器（ＬＣ
Ｄ表示器等）１４に表示させるものである。８はＲＯＭ
であり、マイクロコンビーータから参照される手順（プ
ログラム）が格納されている。１０は前述した診断され
るＲＡＭであり、１〜ｎ箇実装され、アドレスバス９ａ
、データバス１１ａによりマイクロコンピュータ７に接
続されている。

第３図は診断されるＲＡ、Ｍｌｏの詳細図であり、ｍ本
のアドレスバスが１つのＲＡＭに接続されているものと
する。

次に上記実施例の動作について詳しく説明する。

ＲＡＭｌ０の異常として考えられる原因は３つある。１
つ目はＲＡＭｌ０の内部に異常がある場合、２つ目は各
ＲＡＭｌ０に接続されているデータバスに接続不良があ
る場合、３つ目は各Ｒ，ＡＭＩＯに接続されているアド
レスバスに接続不良がある場合である。

１つ目と２つ目の異常は、マイクロコンピ−タ７のアド
レス選択部９によって１つずつアドレスを選択し、それ
ぞれのアドレスに入出力部１１から一定のデータを書き
込み、すぐに読み出し、演算部でもとのデータと比較し
て不一致の場合に発見される。

３つ目の異常は、上記方法では誤ったアドレスに書一定
のデータを書き込むことになり、そのア・ドレスから読
み出すことになるため発見不可能である。

以上を含めて、第４図にフローチャートを示す。

まず、３つ目の異常を診断しないで、１つ目の異常と、
２つ目の異常の診断を行なうとすると、予想しないアド
レスの内容が破壊される可能性がある。そのため、最初
にアドレスピン周辺の診断１７を行ない、正常に終了し
た場合のみデータビンの診断１８を行なうようにする。

両方の診断が正常に終了した場合のみ状態表示手段６１
表示器１４によって、正常終了表示１９を表示し、端末
使用者にＲＡＭｌ０に異常のないことを知らせる。

第５図は、アドレスピン周辺の診断１７を行なう場合の
詳細なフローチャート図である。以下、このフローチャ
ート図と、第３図を用いて上記診断の手順を説明する。

ＲＡ、Ｍ］０のアドレスピンが製造時の不良等によって
周辺回路との接触が正しく行なわれていない場合には、
電気的信号としては’Ｉ”（ＨＩＧ）（）の状態か、”
０”　（Ｌ　ＯＷ　）の状態に固定されてしまう。従っ
て、ＲＡ、ＭＩＯを制御する側がいくらそのアドレスピ
ンに信号を加えても、全く無意味である。今、アドレス
ピンが１０本出ているＲＡＭがあったとして、一番下の
ピンがＨＩＧＨに固定されていたとすると、制御側が０
番地を選択しても、１番地を選択しても、共に１番地が
選択されることになる。それらを診断するための手順が
第５図に示されている。

まず、ＲＡＭｌ０の先頭アドレス（全アドレスピンが０
の状態）をアドレス選択部９に記憶し、乙とする（第５
図に示すステップ２０）。そして、その時乙に入ってい
るデータを保証するため、その内容を入出力部１１を通
して、ＲＡＭ１３に退避させる（第５図に示すステップ
２１）。そしてその後アドレス選択部９にある図示され
ていないアドレスピン位置ポインタノをＯに初期化する
（第５図に示すステップ２２）。

壕ず、アドレスビンＯだけを°゛１″とし、残りのｍ−
１本を“ｏｌ＋とするアドレスをアドレス選択部９に記
憶させ、これをｋとする（第５図に示すステップ２３）
。そして、その時点でｋに入っている内容を保証するだ
めＬと同様に退避させる（第５図に示すステップ２４）
。そして、乙のアドレスに指定データ■即ち１６進数の
５５（データの偶数ビットが′１″′のデータ）を書き
込み（第５図に示すステップ２５）、次にｋに指定デー
タ■即ち１６進数のＡＡ（データの奇数ビットが°゛１
”のデータ）を書き込む（第５図に示すステップ２６）
。

そして、先に乙に書き込んだデータを読み出し指定デー
タ■と比較する（第５図に示すステップ２７）。もし一
致した場合はｋのデータを読み出し指定データ■と比較
する（第５図に示すステ。

プ２９）。ここでも一致した場合は、ｋにもともとあっ
た内容を退避Ｒ，Ａ、Ｍ１３から入出力部】１を通して
復帰させる（第５図に示すステップ３１）。

そして、ノを１つ増加させ、今度はアドレスビン１だけ
を１としてステップ２４から３２を繰り返す。このよう
にしてｍ本のアドレスビンに対してそれぞれ診断を行な
い終了すれば（第５図のステップ３３）、正常終了とし
、ｔにもともとあったデータをｋと同様に復帰させ（第
５図に示すステップ３４）上記診断を終了する。

ただし、ステップ２８及びステップ３０で不一致となっ
た場合には、アドレスピアノが０か１かに固定されてい
るのが原因であるから、ステップ３６で、アドレスピン
診断エラーの表示及び先頭アドレスｔ、アトレスピン番
号ノを状態表示手段６及び表示器１４で使用者に通知す
る。

以上の診断を行なえば、アドレスピン周辺の診断Ｊ７が
終了する。次にデータピン周辺の診断１８を行なう場合
をその詳細なフローチャート図すなわち第６図を用いて
説明する。

データピン及びその周辺又はＲ，Ａ、Ｍ１０１００診断
を行なう場合、原則としては一定データを書き込み比較
すれば確認できる。しかし、アドレスピンと同様、０ま
だは１に固定される可能性があるため、２２種類のデー
タで診断を行なう。

まず、アドレスピンと同様ＲＡＭｌ０の先頭アドレス（
ｔとする）をアドレス制御部９に記憶させる（第６図に
示すステップ３７）。そして、その時２の示すアドレス
の内容を保証するため、退避ＲＡＭ１３へ入出力部１１
を通してその内容を退避させる（第６図に示すステップ
３８）。その後アドレス乙に指定データ■（偶数ビット
が１のデータ）を書き込み（第６図に示すステップ３９
）アドレスｔの内容を入出力部１１を通して演算部へ読
み込む（第６図に示すステップ４０）。そして、これを
指定データ■と比較する（第６図に示すステップ４］）
。ここで不一致の場合は、データピンのショート、ＲＡ
ＭＩ　Ｏのアドレスセルの不良、データピン（偶数ピン
）の０固定又はデータビ／（奇数ピン）の１固定と考え
られ、これをエラーとして出力させる（第６図に示すス
テ、ブ゛４２）。そして、次にデータを指定データ１１
に変えて同じことを行なう（第６図に示すステップ４３
〜４５）。ステップ４６で不一致の場合は、データピン
（偶数ピン）の１固定又はデータピン（奇数ピン）０固
定が考えられる。ステップ４２゜４６でエラーとなった
場合は、データピン診断時のエラーであることの表示、
その時の指定データと読、み取りデータを状態表示手段
６及び表示器１４を使って表示する（ステップ５０）。

したがって、このようにすれば修理の効率化を図ること
ができる。ステップ４２．４６において、共に正常であ
る場合は退避データを元に戻しくステップ４７）、次の
アドレスの診断を行ない、最終アドレスまで繰り返す（
ステップ４９）。

以上、２つの診断を行なうことにより、携帯用データ端
末が必ず必要とするプログラムやデータを入れるＲ、Ａ
ＭＩＯの自己診断が、元のデータを破壊せず行なうこと
ができる。特にマイクロコンピー−りによって、第５図
、第６図に示すようなフローチャートを実現すれば、そ
の繰り返し動作及びその中の条件判定のみ行なえば良い
ことになり、非常に容易にかつ高速に、しかも少ない容
量のメモリで充分に診断することができるようになる。

以上のことから、上記実施例によれば携帯用データ端末
を構成するメモリの一部をそのまま使用して、端末操作
中の異常時にも、すばやく応答し、かつＲ，ＡＭの診断
を元の内容を保証した形で確実に実現することのできる
優れた診断装置を提供することができるようになる。

発明の効果本発明は、上記実施例より明らかなように、ＲＯＭの使
用量を極めて少なくすることができ、メモリ量が重視さ
れる携帯用端末にも充分に活用でき、実用上きわめて有
利である。特にアドレスピン周辺の診断などは、ピンの
数に相当する同じ繰返し処理で充分に行なうことができ
、全体として著しく高速に診断可能であるという利点を
有する。

また、別にデータを退避させる退避手段を設け、アドレ
スピン周辺の診断時ことにデータを退避させるようにし
ているため、格納済データを完全に保護しながら診断す
ることができるという利点を有する。

【図面の簡単な説明】

ミ兆第１図は本発明の携帯用データの自己診断装置は被診断
ＲＡＭの周辺を示す詳細図、第４図は診断の手順を示す
概略フローチャート図、第５図はアドレスピン周辺の診
断を行なう際の詳細なフローチャート図、第６図はデー
タピン周辺の診断を行なう際の詳細なフローチャート図
である。１・・・被診断ＲＡＭ部、２・・データ入出力制御手段
、３・・・判定手段、４　・データ退避手段、５・・記
憶手段、６・・状態表示手段、７−　マイクロコンピー
ータ、８・・・リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、９・
アドレス選択部、１０・・被診断Ｒ，ＡＭ、ＩＩ　・入
出力部、　　Ｉ　２・・・演算部、１３・・ランダムア
ク七スメモリ（ＲＡＭ）、ｌ　４−表示器、１５．９ａ
−アドレスバス、１．６．ｌｌｓ・・データバス。代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図第２図第３図第４図第５図吊６図

Claims

【特許請求の範囲】

状態や手順を記憶するリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）
と、手順やデータを格納できるランダムアクセスメモリ
（ＲＡＭ）と、これらのメモリとデータの入出力を行な
うデータ入出力制御手段と、データを保証するためのデ
ータ退避手段と、現在の状態を知らせる状態表示手段を
備え、上記ＲＡＭの診断時に上記ＲＡＭに格納されたデ
ータを一時上記データ退避手段に退避させるように構成
した携帯用データ端末の自己診断装置。