JPH0155403B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0155403B2 JPH0155403B2 JP54067761A JP6776179A JPH0155403B2 JP H0155403 B2 JPH0155403 B2 JP H0155403B2 JP 54067761 A JP54067761 A JP 54067761A JP 6776179 A JP6776179 A JP 6776179A JP H0155403 B2 JPH0155403 B2 JP H0155403B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- optical
- fiber
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 26
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000004927 fusion Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000007526 fusion splicing Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/35—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光通信などに使用される光フアイバに
おける接続損失の測定方法にかかり、特に、光フ
アイバの融着接続点に外部から散乱光を照射し、
その光フアイバの開放端に設置した光検出器の出
力レベルを基準信号レベルと比較することによつ
て、簡単且つ確実に接続損失を測定するものに関
する。
おける接続損失の測定方法にかかり、特に、光フ
アイバの融着接続点に外部から散乱光を照射し、
その光フアイバの開放端に設置した光検出器の出
力レベルを基準信号レベルと比較することによつ
て、簡単且つ確実に接続損失を測定するものに関
する。
一般に、二つの光フアイバを融着接続した場合
に、その接続によつて生じる光の接続損失は互に
衝き合せられるコア径の違い、屈折率の差、コア
どうしの軸ずれあるいは軸の角度ずれなどが原因
となつて生じる。したがつて、融着接続の際には
これらの点を注意して諸作業が行われる訳である
が、その作業時その接続状態が良好であるか否
か、換言すれば、その光フアイバが実用できるか
否かの判定をする必要がある。
に、その接続によつて生じる光の接続損失は互に
衝き合せられるコア径の違い、屈折率の差、コア
どうしの軸ずれあるいは軸の角度ずれなどが原因
となつて生じる。したがつて、融着接続の際には
これらの点を注意して諸作業が行われる訳である
が、その作業時その接続状態が良好であるか否
か、換言すれば、その光フアイバが実用できるか
否かの判定をする必要がある。
従来、かかるフアイバの融着接続状態の良否を
判定する方法として、第１図に示すような接続損
失を測定する手段が広く用いられている。
判定する方法として、第１図に示すような接続損
失を測定する手段が広く用いられている。
第１図は二本の光ケーブル１，２の光フアイバ
３，４どうしの接続を行う場合を示し、光ケーブ
ル１のフアイバ３の入力側には発光ダイオードな
どの光源５が設置され、その入力端面に適当な手
段例えば必要なレンズ系などを介して集光するよ
うになつている。
３，４どうしの接続を行う場合を示し、光ケーブ
ル１のフアイバ３の入力側には発光ダイオードな
どの光源５が設置され、その入力端面に適当な手
段例えば必要なレンズ系などを介して集光するよ
うになつている。
また、その光源５の入射パワーを予じめパワー
メータなどにより測定しておく。
メータなどにより測定しておく。
なお、上記集光操作は入射パワーが適当なレベ
ルであれば必ずしも必要ではない。また、フアイ
バ３，４の融着接続部にはパワーメータ６が設置
され、フアイバ４の出力端側にもパワーメータ７
が設置される。
ルであれば必ずしも必要ではない。また、フアイ
バ３，４の融着接続部にはパワーメータ６が設置
され、フアイバ４の出力端側にもパワーメータ７
が設置される。
また、これら二つのパワーメータ６，７の入出
力特性は同一に較正しておく。
力特性は同一に較正しておく。
次に、かかる構成になる測定システムによる接
続損失の測定方法について説明する。
続損失の測定方法について説明する。
先ず、融着接続部分における接続前のフアイバ
３からの出射パワーをパワーメータ６によつて測
定する。その測定値をPAとする。
３からの出射パワーをパワーメータ６によつて測
定する。その測定値をPAとする。
次に、上記フアイバ３の出力端とフアイバ４の
入力端を融着接続し、フアイバ４の出力端にパワ
ーメータ７を接続して、その出射パワーを測定す
る。この測定値をPBとする。そして上記フアイ
バ４の光損失Plを予じめ測定しておくと、PA、
PB、Plと接続損失PLとの間には次の式が成立す
る。
入力端を融着接続し、フアイバ４の出力端にパワ
ーメータ７を接続して、その出射パワーを測定す
る。この測定値をPBとする。そして上記フアイ
バ４の光損失Plを予じめ測定しておくと、PA、
PB、Plと接続損失PLとの間には次の式が成立す
る。
PL＝PA−PB−Pl
すなわち、上記測定方法によれば、二つのパワ
ーメータ６，７と光源５とによりPA、PBを別々
に測定し、フアイバ４自体の光損失Plを予じめ測
定し、上記の式を計算することによつて初めて接
続損失が求めらることとなる。
ーメータ６，７と光源５とによりPA、PBを別々
に測定し、フアイバ４自体の光損失Plを予じめ測
定し、上記の式を計算することによつて初めて接
続損失が求めらることとなる。
すなわち、測定器を測定箇所ごとに設ける必要
があり不経済であるばかりか、測定手順が面倒で
ある。
があり不経済であるばかりか、測定手順が面倒で
ある。
本発明はかかる従来の問題点を改善するもので
あり、その目的とするところは、光フアイバの融
着接続点に光フアイバの近軸方向の光を照射し、
それを光フアイバの端末部で検出し、その検出出
力レベルを基準レベルに対してどのような値であ
るかを検出することにより、迅速かつ確実に接続
損失を測定しうる方法を提供することにある。
あり、その目的とするところは、光フアイバの融
着接続点に光フアイバの近軸方向の光を照射し、
それを光フアイバの端末部で検出し、その検出出
力レベルを基準レベルに対してどのような値であ
るかを検出することにより、迅速かつ確実に接続
損失を測定しうる方法を提供することにある。
以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
第２図は本発明にかかる測定方法を示すシステ
ム図であり、８，９は互いに接続された二本の光
フアイバで、その接続部分Ｘは例えば第３図に示
すようにコア１０，１１の各出力端および入力端
が融着接続されている。
ム図であり、８，９は互いに接続された二本の光
フアイバで、その接続部分Ｘは例えば第３図に示
すようにコア１０，１１の各出力端および入力端
が融着接続されている。
なお、１０′，１１′は１０，１１をそれぞれお
おうジヤケツトである。また第４，５図に示すよ
うにこの接続部をはさんで一方に光散乱用のデフ
ユーザ１３が、他方にクセノンランプ等の強力な
光源１４が配置される。
おうジヤケツトである。また第４，５図に示すよ
うにこの接続部をはさんで一方に光散乱用のデフ
ユーザ１３が、他方にクセノンランプ等の強力な
光源１４が配置される。
なお、１５は上記光源１４の上記接続点Ｘとは
反対側に位置された放物線状の集光ミラーであ
る。かかる光学系では光源１４から投光された光
は集光されてデフユーザ１３に向つて反射し、デ
フユーザ１３で散乱して光フアイバの近軸方向の
光がつくりだされ、この近軸方向の光が上記の接
続点Ｘに放射される。なお、上記の光源１４はそ
れがクセノンランプである場合には放電回路１６
によつて駆動され、その放電回路の動作を安定化
するため、光源１４の近傍に設置した光検出素子
１７によつて光出力を制御回路１８にフイードバ
ツクして、放電特性の安定化を図るように制御動
作を行なわしめている。
反対側に位置された放物線状の集光ミラーであ
る。かかる光学系では光源１４から投光された光
は集光されてデフユーザ１３に向つて反射し、デ
フユーザ１３で散乱して光フアイバの近軸方向の
光がつくりだされ、この近軸方向の光が上記の接
続点Ｘに放射される。なお、上記の光源１４はそ
れがクセノンランプである場合には放電回路１６
によつて駆動され、その放電回路の動作を安定化
するため、光源１４の近傍に設置した光検出素子
１７によつて光出力を制御回路１８にフイードバ
ツクして、放電特性の安定化を図るように制御動
作を行なわしめている。
一方、上記光フアイバ９の出力端には光電変換
素子などの光検出素子２２が設置され、これにア
ンプ１９、ピークホールド回路２０および表示装
置２１が接続されている。ここでは光フアイバ９
のコアを通る光量が光検出素子２２で電気信号に
変換され、アンプ１９で増巾されてＡに示す波形
信号を得るとともに、ピークホールド回路２０で
その波形のピークレベルをＢに示すようにホール
ドして、そのホールドされたレベルを表示装置２
１にて表示する。この場合において、上記光源１
４の基準情報およびその光源１４の基準値に対す
る光フアイバ９の光損失性報が予じめ上記表示装
置２１内の比較回路（図示しない）の一方の入力
端子に供給されていて、他の入力端子に入力され
た上記ピークホールド信号と比較されて、その差
分に応じた接続損失を表示する。
素子などの光検出素子２２が設置され、これにア
ンプ１９、ピークホールド回路２０および表示装
置２１が接続されている。ここでは光フアイバ９
のコアを通る光量が光検出素子２２で電気信号に
変換され、アンプ１９で増巾されてＡに示す波形
信号を得るとともに、ピークホールド回路２０で
その波形のピークレベルをＢに示すようにホール
ドして、そのホールドされたレベルを表示装置２
１にて表示する。この場合において、上記光源１
４の基準情報およびその光源１４の基準値に対す
る光フアイバ９の光損失性報が予じめ上記表示装
置２１内の比較回路（図示しない）の一方の入力
端子に供給されていて、他の入力端子に入力され
た上記ピークホールド信号と比較されて、その差
分に応じた接続損失を表示する。
そこで、上記システムにより本発明の測定方法
について説明する。
について説明する。
先ず、上記光源１４を制御回路１８によつて安
定駆動し、デフユーザ１３を介して光フアイバ
８，９の接続点Ｘに光フアイバの近軸方向の光を
照射する。その照射光線は第３図矢印に示すよう
に一方の例えばコア１０の端面から進入する。
定駆動し、デフユーザ１３を介して光フアイバ
８，９の接続点Ｘに光フアイバの近軸方向の光を
照射する。その照射光線は第３図矢印に示すよう
に一方の例えばコア１０の端面から進入する。
ここで、各コア１０，１１の端面が完全に軸合
せ融着されている場合には、近軸方向の光がコア
１０，１１内に進入する光量は少ないが、上記の
ように軸ずれなどがあると、各コア１０，１１の
端面から光が多量に進入し、それが光検出器２２
で検出される。そしてその光量の大きさは軸ずれ
の大きさなどにほぼ比例する関係にあると見られ
るので、各コア１０，１１を通る光量が大きい場
合には接続損失が大きいということになる。
せ融着されている場合には、近軸方向の光がコア
１０，１１内に進入する光量は少ないが、上記の
ように軸ずれなどがあると、各コア１０，１１の
端面から光が多量に進入し、それが光検出器２２
で検出される。そしてその光量の大きさは軸ずれ
の大きさなどにほぼ比例する関係にあると見られ
るので、各コア１０，１１を通る光量が大きい場
合には接続損失が大きいということになる。
そして光検出器２２で得られた電気信号レベル
は光量に対応するものであり、その最大値を被検
出信号としてピークホールド回路２０でピークホ
ールドして、そのピークレベルを既述の基準レベ
ルの信号と比較し演算して表示装置２１に出力
し、ここで接続損失に換算された値として表示さ
れる。そして実用的には接続損失が0.3〜0.4dBを
上限として、これ以上ではその光フアイバを廃棄
するなど、適当な処置を採ることができる。
は光量に対応するものであり、その最大値を被検
出信号としてピークホールド回路２０でピークホ
ールドして、そのピークレベルを既述の基準レベ
ルの信号と比較し演算して表示装置２１に出力
し、ここで接続損失に換算された値として表示さ
れる。そして実用的には接続損失が0.3〜0.4dBを
上限として、これ以上ではその光フアイバを廃棄
するなど、適当な処置を採ることができる。
以上のように、本発明によれば、外部から光フ
アイバの融着接続点に光フアイバの近軸方向の光
を照射し、その光フアイバ端でその光量を検出す
ることにより、接続状態に対応する光量から容量
且つ確実に接続損失の測定ならびに処置を講ずる
ことができる。
アイバの融着接続点に光フアイバの近軸方向の光
を照射し、その光フアイバ端でその光量を検出す
ることにより、接続状態に対応する光量から容量
且つ確実に接続損失の測定ならびに処置を講ずる
ことができる。
そしてかかる方法によれば異つた測定器を二箇
所に設定するのみで各機器の特性を合せる必要が
なくなるとともに、その測定作業が自動化され極
めて実用性に富むなど実用上諸々の利点がある。
所に設定するのみで各機器の特性を合せる必要が
なくなるとともに、その測定作業が自動化され極
めて実用性に富むなど実用上諸々の利点がある。
第１図は従来から実施されている光ケーブルに
おける接続損失の測定方法のシステム図、第２図
は本発明にかかる接続損失の測定方法を示すシス
テム図、第３図は光フアイバの融着接続部の拡大
図、第４図および第５図は同じく光源付近の要部
の側面図および平面図である。 ８，９……光フアイバ、１４……光源、２２…
…光検出器、２１……表示装置、Ｘ……融着接続
部。
おける接続損失の測定方法のシステム図、第２図
は本発明にかかる接続損失の測定方法を示すシス
テム図、第３図は光フアイバの融着接続部の拡大
図、第４図および第５図は同じく光源付近の要部
の側面図および平面図である。 ８，９……光フアイバ、１４……光源、２２…
…光検出器、２１……表示装置、Ｘ……融着接続
部。
Claims (1)
- １ 外部光源からの光をデフユーザにより散乱さ
せて、融着接続された光フアイバの近軸方向の光
をつくりだし、その近軸方向の光を光フアイバの
接続点に照射して前記接続点から光フアイバ内に
進入する光量を光フアイバ端において検出し、そ
の光量の大きさを測定することによつて接続損失
量を得るようにした光フアイバにおける接続損失
の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6776179A JPS55159134A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Measuring method of connection loss in optical fiber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6776179A JPS55159134A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Measuring method of connection loss in optical fiber |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55159134A JPS55159134A (en) | 1980-12-11 |
| JPH0155403B2 true JPH0155403B2 (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=13354242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6776179A Granted JPS55159134A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Measuring method of connection loss in optical fiber |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55159134A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51107152A (en) * | 1975-03-18 | 1976-09-22 | Fujikura Ltd | Hikarifuaibano rokosokuteihoho |
-
1979
- 1979-05-31 JP JP6776179A patent/JPS55159134A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51107152A (en) * | 1975-03-18 | 1976-09-22 | Fujikura Ltd | Hikarifuaibano rokosokuteihoho |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55159134A (en) | 1980-12-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8988669B2 (en) | Power monitor for optical fiber using background scattering | |
| US10060826B2 (en) | Optical fiber mechanical splice termination and test apparatus and methods | |
| JPH0364812B2 (ja) | ||
| KR100763974B1 (ko) | 중적외선 파면센서의 광축정렬 장치 및 그 방법 | |
| US5980120A (en) | Fiber array test method and apparatus | |
| US5127724A (en) | Optical power meter | |
| JPH0155403B2 (ja) | ||
| JPH0357450B2 (ja) | ||
| EP1065489B1 (en) | Apparatus for optical time domain reflectometry on multi-mode optical fibers, a light source section thereof, and a process for producing the light source section | |
| JPH068724B2 (ja) | 光学的検出装置 | |
| JPH0131580B2 (ja) | ||
| JPH07104227B2 (ja) | 端面評定 | |
| JPH0658289B2 (ja) | 光フアイバの測定法 | |
| JPH05126677A (ja) | 光フアイバ接続損失の判定方法及び測定方法 | |
| JPH0363008B2 (ja) | ||
| JPS58120214A (ja) | 単一偏波光フアイバの接続方法 | |
| JPS61145513A (ja) | 光フアイバからの出射光の受光方法 | |
| JPS6147534A (ja) | 光フアイバの光損失特性測定方法および装置 | |
| JPS58139032A (ja) | レ−ザ光のビ−ム径測定装置 | |
| JPH0990140A (ja) | ２入力ファイバおよび２入力ファイバ型受光装置 | |
| JPH0362211B2 (ja) | ||
| JPH0354772B2 (ja) | ||
| JPS6058819B2 (ja) | 光学測定装置 | |
| Quoi et al. | Characterization of small-core diameter Er-doped fibers from far-field radiation measurements and analysis | |
| JPS5815052B2 (ja) | 光フアイバ接続損失測定法およびその測定装置 |