JPH0131978Y2 - - Google Patents
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- JPH0131978Y2 JPH0131978Y2 JP9198578U JP9198578U JPH0131978Y2 JP H0131978 Y2 JPH0131978 Y2 JP H0131978Y2 JP 9198578 U JP9198578 U JP 9198578U JP 9198578 U JP9198578 U JP 9198578U JP H0131978 Y2 JPH0131978 Y2 JP H0131978Y2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 62
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 7
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は目的とする物体の通過のみを適確に検
出し、目的とする物体以外の物体の通過には動作
しない即ち誤動作をなくした物体通過検出装置を
複数チヤンネル具備し、他チヤンネルの物体通過
検出装置との相互干渉をなくし、誤動作をしない
ようにした物体通過検出装置に関する。
出し、目的とする物体以外の物体の通過には動作
しない即ち誤動作をなくした物体通過検出装置を
複数チヤンネル具備し、他チヤンネルの物体通過
検出装置との相互干渉をなくし、誤動作をしない
ようにした物体通過検出装置に関する。
本考案は、連続したパルス光を投光する投光器
とこれに対向して配置した受光器とで光路を形成
し、受光器により連続したパルス光を受光して電
気信号に変換し、この受光器出力を波形整形した
後、そのレベルをクロツクパルスに同期して同期
検出し、この同期検出々力の継続期間中クロツク
パルスをカウントして、そのカウント出力により
物体通過検出々力を得るようにした物体通過検出
装置を複数チヤンネル具備し、各チヤンネルの物
体通過検出々力の論理出力を最終的な物体通過検
出々力とした構成である。
とこれに対向して配置した受光器とで光路を形成
し、受光器により連続したパルス光を受光して電
気信号に変換し、この受光器出力を波形整形した
後、そのレベルをクロツクパルスに同期して同期
検出し、この同期検出々力の継続期間中クロツク
パルスをカウントして、そのカウント出力により
物体通過検出々力を得るようにした物体通過検出
装置を複数チヤンネル具備し、各チヤンネルの物
体通過検出々力の論理出力を最終的な物体通過検
出々力とした構成である。
以下、本考案の実施例を図について説明する。
(投光系)
パルス発生回路1から出力される50KHzのクロ
ツクパルス(第2図a)を1/10分周した後デコー
ダ回路2を通して5相に分相して、第2図b〜f
に示すような各チヤンネルの位相が異なつたクロ
ツクパルスを形成し、この各クロツクパルスで赤
外線発光ダイオード等の投光器3をそれぞれ駆動
して、各投光器3から連続したパルス光を投光す
る。
ツクパルス(第2図a)を1/10分周した後デコー
ダ回路2を通して5相に分相して、第2図b〜f
に示すような各チヤンネルの位相が異なつたクロ
ツクパルスを形成し、この各クロツクパルスで赤
外線発光ダイオード等の投光器3をそれぞれ駆動
して、各投光器3から連続したパルス光を投光す
る。
(受光系)
各投光器3のそれぞれに対向して受光器4を配
置して、各チヤンネルの光路を形成する。以下の
各チヤンネルの構成は同一であるために、その中
の第1チヤンネルの構成について説明する。受光
器4はフオトトランジスタ等で構成され、投光器
3から投光される連続したパルス光は受光器4で
受光されて電気信号に変換された後、波形整形回
路(シユミツトインバータ回路)5を通して、波
形整形、位相反転される(第3図b)。ここで、
以下の回路は負論理で構成される。波形整形回路
5の出力は同期検出回路6に入力され、そのレベ
ルが上記クロツクパルスに同期して検出される。
この同期検出回路6は例えばD型フリツプフロツ
プ回路(以下、D−FF回路とする)(第4図に真
理値素を示す)で構成される。そして、この第1
のD−FF回路6のD入力端子Dには上記波形整
形回路5の出力が入力され、そのレベル(物体通
過時、即ち光路遮断時にハイレベル)がクロツク
入力端子CKに入力されるクロツクパルスに同期
して検出されて保持される。従つて、この第1の
D−FF回路6の同期検出々力Qは第3図cに示
されるような波形となる。この同期検出々力Qは
NAND回路10を介してカウンタ回路7の制御
端子Rにカウント動作開始制御信号として入力さ
れ、また、カウント入力端子Cには上記クロツク
パルスが入力される。このカウンタ回路7は5進
カウンタ回路で、制御端子Rに同期検出々力Qが
入力されるとカウント動作を開始し、クロツクパ
ルスを順次カウントし、5個のパルスをカウント
した時点でカウント出力QC(第3図e)が得ら
れ、このカウント出力QCはリセツト信号として
上記同期検出々力と共にNAND回路10を介し
て制御端子Rに入力される。このリセツト信号に
よりカウンタ回路7はリセツトされて、同期検
出々力の継続期間中同様の動作をくり返す。従つ
て、カウント動作開始制御信号は第3図dに示す
ような波形となる。このカウンタ回路7のカウン
ト出力QCはホールド回路、例えば第2のD−FF
回路8のクロツク入力端子CKに入力され、また
そのD入力端子Dには常時ハイレベルの信号が入
力される。この第2のD−FF回路8は、カウン
ト出力QCの立ち上がり部分でD入力端子Dに入
力されている信号のレベルを検出して、その否定
出力にローレベルの物体通過検出々力(第3図
g)を出力して保持するようにして、第1チヤン
ネルの物体通過検出装置を構成する。
置して、各チヤンネルの光路を形成する。以下の
各チヤンネルの構成は同一であるために、その中
の第1チヤンネルの構成について説明する。受光
器4はフオトトランジスタ等で構成され、投光器
3から投光される連続したパルス光は受光器4で
受光されて電気信号に変換された後、波形整形回
路(シユミツトインバータ回路)5を通して、波
形整形、位相反転される(第3図b)。ここで、
以下の回路は負論理で構成される。波形整形回路
5の出力は同期検出回路6に入力され、そのレベ
ルが上記クロツクパルスに同期して検出される。
この同期検出回路6は例えばD型フリツプフロツ
プ回路(以下、D−FF回路とする)(第4図に真
理値素を示す)で構成される。そして、この第1
のD−FF回路6のD入力端子Dには上記波形整
形回路5の出力が入力され、そのレベル(物体通
過時、即ち光路遮断時にハイレベル)がクロツク
入力端子CKに入力されるクロツクパルスに同期
して検出されて保持される。従つて、この第1の
D−FF回路6の同期検出々力Qは第3図cに示
されるような波形となる。この同期検出々力Qは
NAND回路10を介してカウンタ回路7の制御
端子Rにカウント動作開始制御信号として入力さ
れ、また、カウント入力端子Cには上記クロツク
パルスが入力される。このカウンタ回路7は5進
カウンタ回路で、制御端子Rに同期検出々力Qが
入力されるとカウント動作を開始し、クロツクパ
ルスを順次カウントし、5個のパルスをカウント
した時点でカウント出力QC(第3図e)が得ら
れ、このカウント出力QCはリセツト信号として
上記同期検出々力と共にNAND回路10を介し
て制御端子Rに入力される。このリセツト信号に
よりカウンタ回路7はリセツトされて、同期検
出々力の継続期間中同様の動作をくり返す。従つ
て、カウント動作開始制御信号は第3図dに示す
ような波形となる。このカウンタ回路7のカウン
ト出力QCはホールド回路、例えば第2のD−FF
回路8のクロツク入力端子CKに入力され、また
そのD入力端子Dには常時ハイレベルの信号が入
力される。この第2のD−FF回路8は、カウン
ト出力QCの立ち上がり部分でD入力端子Dに入
力されている信号のレベルを検出して、その否定
出力にローレベルの物体通過検出々力(第3図
g)を出力して保持するようにして、第1チヤン
ネルの物体通過検出装置を構成する。
そして、各チヤンネルの物体通過検出装置のそ
れぞれ第2のD−FF回路8のクリヤ端子CLRに
はクリヤ信号発生回路9から出力されるクリヤ信
号(第3図f)がそれぞれ入力されて、第2のD
−FF回路8は元の状態にクリヤされる。
れぞれ第2のD−FF回路8のクリヤ端子CLRに
はクリヤ信号発生回路9から出力されるクリヤ信
号(第3図f)がそれぞれ入力されて、第2のD
−FF回路8は元の状態にクリヤされる。
各チヤンネルの物体通過検出々力(ローレベル
の否定出力)をAND回路12、即ちNAND回
路13,14を介して、そのAND出力(負論理
でOR出力)を取出して、各チヤンネルの物体通
過検出々力のうちいずれか一つの物体通過検出々
力があつた場合、AND回路12のAND出力はロ
ーレベルとなり、これが物体通過検出々力として
得られる。
の否定出力)をAND回路12、即ちNAND回
路13,14を介して、そのAND出力(負論理
でOR出力)を取出して、各チヤンネルの物体通
過検出々力のうちいずれか一つの物体通過検出々
力があつた場合、AND回路12のAND出力はロ
ーレベルとなり、これが物体通過検出々力として
得られる。
次に動作について説明する。
投光器3、受光器4間を物体が通過すると、各
チヤンネルの光路が順次遮断されて、波形整形回
路5の出力は、第3図bに示すように物体通過期
間中のみハイレベルの出力となり、この出力が第
1のD−FF回路6のD入力端子Dに入力される。
それと同時に、第1のD−FF回路6のクロツク
入力端子CKに入力されるクロツクパルス(第3
図a)の立ち上がり部分によつて、そのときのハ
イレベルのD入力レベルが各クロツクパルス毎に
同期検出されて、保持され、第3図cに示すよう
な波形の同期検出々力Qが得られる。この出力Q
はカウンタ回路7の制御端子Rに入力され、カウ
ンタ回路7のカウント動作が開始されて、上記ク
ロツクパルスを順次カウントし、そのカウント数
がフルカウント“5”になつた時点でカウント出
力QC(第3図e)が得られ、このカウント出力
QCがリセツト信号として制御端子Rに入力され、
カウンタ回路7がリセツトされて再びカウント動
作を開始する。それと同時に、このカウント出力
QCは第2のD−FF回路8のクロツク入力端子
CKに入力され、このカウント出力QCの立ち上が
り部分によつてそのときのD入力端子Dのレベル
(ハイレベル)が検出されて、その出力Qはハイ
レベルとなり、従つて、否定出力はローレベル
となり、このローレベルの否定出力が物体通過
検出々力として出力される。D入力端子は常にハ
イレベルであり、従つて、このクロツク端子CK
に上記カウント出力QCが再び入力されても、第
2のD−FF回路8は前の状態を保持する。換言
すれば、第2のD−FF回路8は最初のカウント
出力QCによつてハイレベルのD入力レベルが検
出され、その出力Q及び否定出力を保持するホ
ールド回路としての機能を有する。その後、一定
期間経過後に、クリヤ信号発生回路9から出力さ
れるクリヤ信号(第3図f)がクリヤ入力端子
CLRに入力されて、第2のD−FF回路8は元の
状態にクリヤされる。
チヤンネルの光路が順次遮断されて、波形整形回
路5の出力は、第3図bに示すように物体通過期
間中のみハイレベルの出力となり、この出力が第
1のD−FF回路6のD入力端子Dに入力される。
それと同時に、第1のD−FF回路6のクロツク
入力端子CKに入力されるクロツクパルス(第3
図a)の立ち上がり部分によつて、そのときのハ
イレベルのD入力レベルが各クロツクパルス毎に
同期検出されて、保持され、第3図cに示すよう
な波形の同期検出々力Qが得られる。この出力Q
はカウンタ回路7の制御端子Rに入力され、カウ
ンタ回路7のカウント動作が開始されて、上記ク
ロツクパルスを順次カウントし、そのカウント数
がフルカウント“5”になつた時点でカウント出
力QC(第3図e)が得られ、このカウント出力
QCがリセツト信号として制御端子Rに入力され、
カウンタ回路7がリセツトされて再びカウント動
作を開始する。それと同時に、このカウント出力
QCは第2のD−FF回路8のクロツク入力端子
CKに入力され、このカウント出力QCの立ち上が
り部分によつてそのときのD入力端子Dのレベル
(ハイレベル)が検出されて、その出力Qはハイ
レベルとなり、従つて、否定出力はローレベル
となり、このローレベルの否定出力が物体通過
検出々力として出力される。D入力端子は常にハ
イレベルであり、従つて、このクロツク端子CK
に上記カウント出力QCが再び入力されても、第
2のD−FF回路8は前の状態を保持する。換言
すれば、第2のD−FF回路8は最初のカウント
出力QCによつてハイレベルのD入力レベルが検
出され、その出力Q及び否定出力を保持するホ
ールド回路としての機能を有する。その後、一定
期間経過後に、クリヤ信号発生回路9から出力さ
れるクリヤ信号(第3図f)がクリヤ入力端子
CLRに入力されて、第2のD−FF回路8は元の
状態にクリヤされる。
即ち、カウンタ回路7のカウント数が“5”以
上である場合、換言すれば、物体通過期間がカウ
ンタ回路7のカウント数“5”の時間より長い場
合にのみ、カウンタ回路7からカウント出力QC
が得られ、このカウント出力QCによつて第2の
D−FF回路8を動作させて、その否定出力に
物体通過検出々力を得るようにした構成である。
上である場合、換言すれば、物体通過期間がカウ
ンタ回路7のカウント数“5”の時間より長い場
合にのみ、カウンタ回路7からカウント出力QC
が得られ、このカウント出力QCによつて第2の
D−FF回路8を動作させて、その否定出力に
物体通過検出々力を得るようにした構成である。
このようにして検出された各チヤンネルの物体
通過検出々力はそれぞれAND回路12に入力さ
れて、その出力に最終的な物体通過検出々力を得
る。即ち、各チヤンネルの物体通過検出々力の
AND出力は、負論理でOR出力となり、従つて、
各チヤンネルのうち少なくともいずれか一つのチ
ヤンネルに物体通過検出々力が出力された場合、
上記AND出力に最終的なローレベルの物体通過
検出々力が得られる。
通過検出々力はそれぞれAND回路12に入力さ
れて、その出力に最終的な物体通過検出々力を得
る。即ち、各チヤンネルの物体通過検出々力の
AND出力は、負論理でOR出力となり、従つて、
各チヤンネルのうち少なくともいずれか一つのチ
ヤンネルに物体通過検出々力が出力された場合、
上記AND出力に最終的なローレベルの物体通過
検出々力が得られる。
また、上記の演算回路はAND回路12に限ら
れるものではなく、例えば被検出物体の大きさ等
に対応して、各チヤンネルのうち少なくとも2つ
のチヤンネルに物体通過検出々力が得られた場
合、つまり、2つのチヤンネルにまたがつて同時
に物体が通過して、光路遮断が行なわれた場合に
最終的な物体通過検出々力が得られるように、複
数チヤンネルを2チヤンネルを一組として分割
し、分割した2チヤンネルのAND出力(負論理)
を出力した後、この各組のOR出力(負論理)を
取り出して、最終的な物体通過検出々力としても
よい。
れるものではなく、例えば被検出物体の大きさ等
に対応して、各チヤンネルのうち少なくとも2つ
のチヤンネルに物体通過検出々力が得られた場
合、つまり、2つのチヤンネルにまたがつて同時
に物体が通過して、光路遮断が行なわれた場合に
最終的な物体通過検出々力が得られるように、複
数チヤンネルを2チヤンネルを一組として分割
し、分割した2チヤンネルのAND出力(負論理)
を出力した後、この各組のOR出力(負論理)を
取り出して、最終的な物体通過検出々力としても
よい。
以上のように、本考案は、各チヤンネルの物体
通過検出装置が物体の通過を第1のD−FF回路
6で同期検出した後、この同期検出々力Qによつ
てカウンタ回路7のカウント動作を制御して、同
期検出々力Qの継続期間中クロツクパルスをカウ
ントし、そのカウント数がフルカウント“5”に
なつた時点でカウント出力QCを出力し、このカ
ウント出力QCによつて第2のD−FF回路8を動
作させて、その否定出力に物体通過検出々力を
得るようにしたので、ゴミ等の小物が通過した場
合、第5図に示されるように第1のD−FF回路
6から出力される同期検出々力Qの継続期間が短
かく、従つてこの継続期間中にカウントされるク
ロツクパルスのカウント数がカウンタ回路7のフ
ルカウント“5”未満となり、カウント出力QC
が得られないので、第2のD−FF回路8は動作
せず、物体通過検出々力は得られない。従つて、
物体の通過期間がカウンタ回路7のフルカウント
“5”未満であるようなゴミ等の小物の通過やノ
イズは検出されず、誤動作のおそれがない。
通過検出装置が物体の通過を第1のD−FF回路
6で同期検出した後、この同期検出々力Qによつ
てカウンタ回路7のカウント動作を制御して、同
期検出々力Qの継続期間中クロツクパルスをカウ
ントし、そのカウント数がフルカウント“5”に
なつた時点でカウント出力QCを出力し、このカ
ウント出力QCによつて第2のD−FF回路8を動
作させて、その否定出力に物体通過検出々力を
得るようにしたので、ゴミ等の小物が通過した場
合、第5図に示されるように第1のD−FF回路
6から出力される同期検出々力Qの継続期間が短
かく、従つてこの継続期間中にカウントされるク
ロツクパルスのカウント数がカウンタ回路7のフ
ルカウント“5”未満となり、カウント出力QC
が得られないので、第2のD−FF回路8は動作
せず、物体通過検出々力は得られない。従つて、
物体の通過期間がカウンタ回路7のフルカウント
“5”未満であるようなゴミ等の小物の通過やノ
イズは検出されず、誤動作のおそれがない。
また、物体の大きさや通過速度に対応して、カ
ウンタ回路7のカウント数を適当に設定すること
により、検出応答速度を任意に設定できるととも
に、ゴミ等の小物の通過を検出しないようにする
ことができ、また、ノイズ等によつて誤動作をお
こすおそれがない。
ウンタ回路7のカウント数を適当に設定すること
により、検出応答速度を任意に設定できるととも
に、ゴミ等の小物の通過を検出しないようにする
ことができ、また、ノイズ等によつて誤動作をお
こすおそれがない。
更に、各チヤンネルの物体通過検出々力を適当
に組合わせて、それらの演算出力を最終的な物体
通過検出々力としたので、即ち、例えば、被検出
物体が比較的小さく、通過位置が一定していない
ような場合、各チヤンネルの物体通過検出々力の
OR出力を最終的な物体通過検出々力とすること
により、各チヤンネルのうち一つのチヤンネルに
物体通過検出々力が得られ、それによつて最終的
な物体通過検出々力が得られる。また、被検出物
体が比較的大きく、被検出物以外の寸法の小さい
小物の通過を検出したくないような場合には、各
チヤンネルを立体的に配置するとともに、2つ以
上のチヤンネルに物体通過検出々力が得られた場
合にのみ最終的な物体通過検出々力を出力するよ
うにして、小物が1つのチヤンネルを通過したよ
うな場合は物体通過検出々力が得られないように
することができ、このような諸々の態様で被検出
物体の通過検出をできる利点を有する。
に組合わせて、それらの演算出力を最終的な物体
通過検出々力としたので、即ち、例えば、被検出
物体が比較的小さく、通過位置が一定していない
ような場合、各チヤンネルの物体通過検出々力の
OR出力を最終的な物体通過検出々力とすること
により、各チヤンネルのうち一つのチヤンネルに
物体通過検出々力が得られ、それによつて最終的
な物体通過検出々力が得られる。また、被検出物
体が比較的大きく、被検出物以外の寸法の小さい
小物の通過を検出したくないような場合には、各
チヤンネルを立体的に配置するとともに、2つ以
上のチヤンネルに物体通過検出々力が得られた場
合にのみ最終的な物体通過検出々力を出力するよ
うにして、小物が1つのチヤンネルを通過したよ
うな場合は物体通過検出々力が得られないように
することができ、このような諸々の態様で被検出
物体の通過検出をできる利点を有する。
更にまた、各チヤンネルのクロツクパルスの位
相を相互に異ならせて、各チヤンネルの物体通過
検出装置を時分割駆動するので、チヤンネル間に
おいてパルス光が相互に交叉して、誤動作をおこ
すことがない利点も有する。
相を相互に異ならせて、各チヤンネルの物体通過
検出装置を時分割駆動するので、チヤンネル間に
おいてパルス光が相互に交叉して、誤動作をおこ
すことがない利点も有する。
第1図は本考案の物体通過検出装置の構成を示
す図、第2図及び第3図は同、動作を説明する
図、第4図は同、D型フリツプフロツプ回路の動
作を示す図、第5図は同、物体通過検出装置の動
作を説明する図である。 1はパルス発生回路、3は投光器、4は受光
器、5は波形整形回路、6は同期検出回路、7は
カウンタ回路、8はホールド回路である。
す図、第2図及び第3図は同、動作を説明する
図、第4図は同、D型フリツプフロツプ回路の動
作を示す図、第5図は同、物体通過検出装置の動
作を説明する図である。 1はパルス発生回路、3は投光器、4は受光
器、5は波形整形回路、6は同期検出回路、7は
カウンタ回路、8はホールド回路である。
Claims (1)
- パルス発生回路1、当該パルス発生回路1から
出力されるクロツクパルスによつて駆動され、連
続したパルス光を投光する投光器3、当該投光器
3から投光されるパルス光を受光して電気信号に
変換する受光器4、当該受光器4の出力信号の波
形を整形する波形整形回路5、当該波形整形回路
5の出力信号を受けて、当該出力信号のレベルを
上記クロツクパルスに同期して検出して保持する
同期検出回路5、当該同期検出回路6の検出出力
をカウント動作開始制御信号として、当該カウン
ト動作開始制御信号の継続中上記クロツクパルス
をカウントし、当該カウント数が所定値になつた
時点でカウント出力を出力し、上記カウント動作
開始制御信号の後縁でリセツトされるカウンタ回
路7、当該カウンタ回路7のカウント出力により
所定レベルの出力電圧を物体通過検出出力として
出力して保持するホールド回路8とからなる物体
通過検出装置を複数個具備し、各物体通過検出装
置のクロツクパルスの位相を相互に異ならせると
ともに、各物体通過検出装置それぞれの検出出力
の演算出力を最終的な物体通過検出出力とするこ
とを特徴とする物体通過検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9198578U JPH0131978Y2 (ja) | 1978-07-03 | 1978-07-03 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9198578U JPH0131978Y2 (ja) | 1978-07-03 | 1978-07-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS559453U JPS559453U (ja) | 1980-01-22 |
JPH0131978Y2 true JPH0131978Y2 (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=29021753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9198578U Expired JPH0131978Y2 (ja) | 1978-07-03 | 1978-07-03 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0131978Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59144865A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-20 | Kitamura Valve Kk | 水栓におけるこま型弁体の製造方法 |
JPS59144862A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-20 | Kitamura Valve Kk | 水栓用こま型弁体 |
JPS6089939U (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-20 | 日本電子機器株式会社 | かしめ装置 |
JPS61103093A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-21 | 東洋電機株式会社 | 光線式安全装置 |
JP6468722B2 (ja) * | 2014-04-30 | 2019-02-13 | 日本信号株式会社 | 物体検出装置 |
-
1978
- 1978-07-03 JP JP9198578U patent/JPH0131978Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS559453U (ja) | 1980-01-22 |
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