JPH01315109A - 非晶質軟磁性膜および磁気ヘッド - Google Patents
非晶質軟磁性膜および磁気ヘッドInfo
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- JPH01315109A JPH01315109A JP14732588A JP14732588A JPH01315109A JP H01315109 A JPH01315109 A JP H01315109A JP 14732588 A JP14732588 A JP 14732588A JP 14732588 A JP14732588 A JP 14732588A JP H01315109 A JPH01315109 A JP H01315109A
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Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
この発明は、ビデオテープデツキなどの磁気記録装置に
用いられる磁気ヘッドに関する。
用いられる磁気ヘッドに関する。
[従来の技術]
この種の磁気ヘッドにおいては、磁気記録媒体の高密度
化に対応し得る磁気特性を有し、耐摩耗性あるいは成彩
性などの機械的性質の面においてら優れていることが要
求されている。そこでこれらの要求に答えることができ
る構造の磁気ヘッドとして、従来からヘッド材料として
多用されているフェライトの表面に、フェライトよりも
高い飽和磁束密度を有する軟磁性膜を形成した複合型磁
気ヘッド(通称MIGヘッド)が提供されるに至ってい
る。
化に対応し得る磁気特性を有し、耐摩耗性あるいは成彩
性などの機械的性質の面においてら優れていることが要
求されている。そこでこれらの要求に答えることができ
る構造の磁気ヘッドとして、従来からヘッド材料として
多用されているフェライトの表面に、フェライトよりも
高い飽和磁束密度を有する軟磁性膜を形成した複合型磁
気ヘッド(通称MIGヘッド)が提供されるに至ってい
る。
この複合型磁気ヘッドは、一般に、フェライトからなる
一対の磁気コア半休がそれらの間に軟磁性膜とギャップ
部を介在させてガラスボンディングにより接合された構
造となっている。
一対の磁気コア半休がそれらの間に軟磁性膜とギャップ
部を介在させてガラスボンディングにより接合された構
造となっている。
[発明が解決しようとする課題]
前記構造の磁気ヘッドを製造する場合、一対の磁気コア
半休をガラスボンディングによって接合する必要がある
ので、磁気コア半休はガラスボンディング時に、通常、
520℃以上の高温に加熱されるものである。
半休をガラスボンディングによって接合する必要がある
ので、磁気コア半休はガラスボンディング時に、通常、
520℃以上の高温に加熱されるものである。
そして、従来のGo系非晶質膜は、飽和磁束密度(Bs
)を向上させようとすると耐熱性(結晶化温度)が悪く
なる関係にあり、その上限は組成系で決まり、従来、C
o−T a−Hr系が比較的高い耐熱性の部類に属して
いたが、それでもB S”F 100OOGを得ようと
すると500℃程度の耐熱性が限界であり、耐熱性に不
満があった。
)を向上させようとすると耐熱性(結晶化温度)が悪く
なる関係にあり、その上限は組成系で決まり、従来、C
o−T a−Hr系が比較的高い耐熱性の部類に属して
いたが、それでもB S”F 100OOGを得ようと
すると500℃程度の耐熱性が限界であり、耐熱性に不
満があった。
更に、このような従来のCo系非晶質軟磁性膜を用いて
磁気ヘッドを製造しようとする場合、高温のガラスボン
ディングを行うと磁気コア半休と軟磁性膜との境界面で
酸素が関与する拡散反応が生じて境界部分の磁気特性が
劣化する問題がある。
磁気ヘッドを製造しようとする場合、高温のガラスボン
ディングを行うと磁気コア半休と軟磁性膜との境界面で
酸素が関与する拡散反応が生じて境界部分の磁気特性が
劣化する問題がある。
即ち、磁気コア半休を構成するフェライト中の酸素原子
が高温状態で軟磁性膜側に拡散し、フェライト中の酸素
原子が不足してフェライトの結晶構造に変質を来し、磁
気特性が劣化するのである。
が高温状態で軟磁性膜側に拡散し、フェライト中の酸素
原子が不足してフェライトの結晶構造に変質を来し、磁
気特性が劣化するのである。
また、このような磁気特性に劣る部分が軟磁性膜に沿っ
て形成された場合、この部分が疑似ギャップを形成して
しまう問題があり、疑似ギャップの形成によりノイズが
増えるなど、磁気ヘッドの性能が低下するおそれがある
。
て形成された場合、この部分が疑似ギャップを形成して
しまう問題があり、疑似ギャップの形成によりノイズが
増えるなど、磁気ヘッドの性能が低下するおそれがある
。
本発明は、前記課題を解決するためになされたもので、
高温でガラスボンディングを行っても疑似ギャップが拡
大することがなく、疑似ギャップに起因するノイズを低
減できるとともに、より高温のガラスボンディング材を
使用することができてガラスボンディング材の信頼性を
向上させることのできる非晶質軟磁性膜およびそれを用
いた磁気ヘッドを提供することを目的とする。
高温でガラスボンディングを行っても疑似ギャップが拡
大することがなく、疑似ギャップに起因するノイズを低
減できるとともに、より高温のガラスボンディング材を
使用することができてガラスボンディング材の信頼性を
向上させることのできる非晶質軟磁性膜およびそれを用
いた磁気ヘッドを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
請求項1に記載した発明は、前記課題を解決するために
、Co X Ta y Hf zで示される組成を有し
、組成比X、y、Zを原子%で 4%≦y≦ 15%、 1 %≦2≦ 14 % X+Y+Z= + 0 0%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料で非晶質軟磁性膜を構成した乙のである
。
、Co X Ta y Hf zで示される組成を有し
、組成比X、y、Zを原子%で 4%≦y≦ 15%、 1 %≦2≦ 14 % X+Y+Z= + 0 0%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料で非晶質軟磁性膜を構成した乙のである
。
また請求項2に記載した発明は、前記課題を解決するた
めに、請求項1記載の非晶質軟磁性膜と、窒素を含まな
い上記Co x Ta y Hf zの組成を有する軟
磁性材料からなる非晶質軟磁性膜とを積層して非晶質軟
磁性膜を構成したものである。
めに、請求項1記載の非晶質軟磁性膜と、窒素を含まな
い上記Co x Ta y Hf zの組成を有する軟
磁性材料からなる非晶質軟磁性膜とを積層して非晶質軟
磁性膜を構成したものである。
また請求項3に記載した発明は、請求項Iまたは請求項
2に記載した非晶質軟磁性膜を用いて磁気ヘッドを構成
したものである。
2に記載した非晶質軟磁性膜を用いて磁気ヘッドを構成
したものである。
また請求項4に記載の発明は、フェライトコアと窒素を
含まない上記CoxTayH「z非晶質軟磁性膜との間
に、請求項1記載の非晶質軟磁性膜を形成して磁気ヘッ
ドを構成したものである。
含まない上記CoxTayH「z非晶質軟磁性膜との間
に、請求項1記載の非晶質軟磁性膜を形成して磁気ヘッ
ドを構成したものである。
[作用 ]
請求項iに記載した発明においては、非晶質軟化磁性膜
に含有させた窒素の添加効果により、非晶質軟磁性膜の
結晶化温度を高めることができ、軟磁性膜の飽和磁束密
度などの磁気特性を良好に保ったままで耐熱性を向上さ
せることができる。
に含有させた窒素の添加効果により、非晶質軟磁性膜の
結晶化温度を高めることができ、軟磁性膜の飽和磁束密
度などの磁気特性を良好に保ったままで耐熱性を向上さ
せることができる。
請求項2に記載した発明においては、請求項Iに記載し
た非磁性膜と窒素を含まない非晶質軟磁性膜を積層する
ことにより、膜と垂直な磁気異方性の発生を抑制し、優
れた磁気特性が得られる。
た非磁性膜と窒素を含まない非晶質軟磁性膜を積層する
ことにより、膜と垂直な磁気異方性の発生を抑制し、優
れた磁気特性が得られる。
請求項3に記載した発明においては、請求項!および請
求項2に記載の非晶質軟磁性膜を用いて磁気ヘッドを構
成することにより、比較的高い温度でガラスボンディン
グを行っても、磁気コア半体側から非晶質軟化性膜側へ
の酸素拡散が抑制されて疑似ギャップの拡大が阻止され
る。
求項2に記載の非晶質軟磁性膜を用いて磁気ヘッドを構
成することにより、比較的高い温度でガラスボンディン
グを行っても、磁気コア半体側から非晶質軟化性膜側へ
の酸素拡散が抑制されて疑似ギャップの拡大が阻止され
る。
請求項4に記載した発明においては、フェライトコアと
窒素を含まない非晶質軟磁性膜との間に形成された請求
項1に記載の非晶質軟磁性膜が、ガラスボンディング時
に、フェライトコア側から非晶質軟磁性膜への酸素の拡
散を抑制して疑似ギャップの拡大を阻止する。また、窒
素を含まない非品質軟磁性膜の磁気特性を低下させるこ
となく疑似ギャップの拡大が阻止されるので優れた電磁
変換特性が維持される。
窒素を含まない非晶質軟磁性膜との間に形成された請求
項1に記載の非晶質軟磁性膜が、ガラスボンディング時
に、フェライトコア側から非晶質軟磁性膜への酸素の拡
散を抑制して疑似ギャップの拡大を阻止する。また、窒
素を含まない非品質軟磁性膜の磁気特性を低下させるこ
となく疑似ギャップの拡大が阻止されるので優れた電磁
変換特性が維持される。
[実施例]
第1図は、請求項1に記載した発明の一実施例を示すも
ので、この例の非晶質軟磁性膜Iは、基体2の表面にス
パッタリング等の薄膜形成手段によって成膜されている
。そしてこの非晶質軟磁性膜1は、Co x Ta y
Hr zで示される組成を有し、組成比x、y、zを
原子%で 4%≦y≦15%、 1%≦2≦目4% z+y+z= I O0%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重里%
含有させた材料からなるものである。
ので、この例の非晶質軟磁性膜Iは、基体2の表面にス
パッタリング等の薄膜形成手段によって成膜されている
。そしてこの非晶質軟磁性膜1は、Co x Ta y
Hr zで示される組成を有し、組成比x、y、zを
原子%で 4%≦y≦15%、 1%≦2≦目4% z+y+z= I O0%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重里%
含有させた材料からなるものである。
この例の非晶質軟磁性膜!の形成方法の一例を説明する
と、CoとTaとHfを上記組成範囲で混合されたG
o−T a−H1合金ターゲツトや、CO抜板上Taと
Hfのベレットを配した複合ターゲットを用い、高周波
2極スパツタ、マグネトロン(RF 。
と、CoとTaとHfを上記組成範囲で混合されたG
o−T a−H1合金ターゲツトや、CO抜板上Taと
Hfのベレットを配した複合ターゲットを用い、高周波
2極スパツタ、マグネトロン(RF 。
DC)スパッタ、3極スパツタ、対向ターゲットスパッ
タ、イオンビームスパッタ等を用い、かつスパッタガス
としてA「とN、の混合ガスを用いてスパッタリングを
行うことによって製造される。
タ、イオンビームスパッタ等を用い、かつスパッタガス
としてA「とN、の混合ガスを用いてスパッタリングを
行うことによって製造される。
なおこのスパッタガス中のN、の混合比率は2〜20体
積%の範囲とするのが好ましい。
積%の範囲とするのが好ましい。
この例の非晶質軟磁性膜Iは、Co−T a−Hr系軟
磁性材料に窒素を0.4〜4.00贋%含有させたこと
により、非晶質軟磁性膜の結晶化温度を高めることがで
き、飽和磁束密度などの磁気特性を良好に保ったままで
非晶質軟磁性膜の耐熱性を向上させることができる。
磁性材料に窒素を0.4〜4.00贋%含有させたこと
により、非晶質軟磁性膜の結晶化温度を高めることがで
き、飽和磁束密度などの磁気特性を良好に保ったままで
非晶質軟磁性膜の耐熱性を向上させることができる。
第2図は、請求項2に記載した発明の一実施例を示すも
ので、この例の非晶質軟磁性膜IIは、基体12の表面
に、先の一実施例のものと同様の組成、すなわちCo
x Ta y Hf zで示される組成を在し、組成比
x、y、zを原子%で、4%≦y≦15%、 1%≦2≦14% X+Y+Z=100%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料からなる非晶質軟磁性膜lと、上記Co
X Ta y Hf zで示される組成の窒素を含有
しない軟磁性材料からなる非晶質軟磁性膜13とを交互
に多数積層して構成されている。これら各々の非晶質軟
磁性膜1.13の膜厚は1層あたり100〜1000人
の範囲とするのが好ましい。
ので、この例の非晶質軟磁性膜IIは、基体12の表面
に、先の一実施例のものと同様の組成、すなわちCo
x Ta y Hf zで示される組成を在し、組成比
x、y、zを原子%で、4%≦y≦15%、 1%≦2≦14% X+Y+Z=100%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料からなる非晶質軟磁性膜lと、上記Co
X Ta y Hf zで示される組成の窒素を含有
しない軟磁性材料からなる非晶質軟磁性膜13とを交互
に多数積層して構成されている。これら各々の非晶質軟
磁性膜1.13の膜厚は1層あたり100〜1000人
の範囲とするのが好ましい。
この例の非晶質軟磁性膜11の製造方法の一例を説明す
ると、先の一実施例において使用されるG o−T a
−H1合金ターゲツトや複合ターゲットを用い、窒素を
含有する非晶質軟磁性膜1を成膜する場合にはArとN
、の混合ガスをスパッタガスとして用い、窒素を含有し
ない非晶質軟磁性膜13を成膜する場合には純Arをス
パッタガスとして用い、これらのスパッタガスを切り換
え使用してスパッタリングを行うことによって製造され
る。
ると、先の一実施例において使用されるG o−T a
−H1合金ターゲツトや複合ターゲットを用い、窒素を
含有する非晶質軟磁性膜1を成膜する場合にはArとN
、の混合ガスをスパッタガスとして用い、窒素を含有し
ない非晶質軟磁性膜13を成膜する場合には純Arをス
パッタガスとして用い、これらのスパッタガスを切り換
え使用してスパッタリングを行うことによって製造され
る。
このようにして製造された非晶質軟磁性膜11は、非晶
質軟磁性膜■1と垂直な磁気異方性の発生を抑制して優
れた軟磁気特性を得ることができる。
質軟磁性膜■1と垂直な磁気異方性の発生を抑制して優
れた軟磁気特性を得ることができる。
そして得られた非晶質軟磁性膜IIを400〜600℃
にて熱処理を施すことにより、軟磁気特性を向上させる
ことができる。また、この熱処理を静磁場中あるいは回
転磁場中で行−うことにより、更に優れた軟磁気特性が
得られろ。
にて熱処理を施すことにより、軟磁気特性を向上させる
ことができる。また、この熱処理を静磁場中あるいは回
転磁場中で行−うことにより、更に優れた軟磁気特性が
得られろ。
この例による非晶質軟磁性膜11は、窒素を含有する非
晶質軟磁性膜lと窒素を含有しない非晶質軟磁性膜13
とを交互に多数積層したので、非晶質軟磁性膜Itの膜
と垂直な磁気異方性の発生を抑制して、請求項1に記載
の非晶質軟磁性膜1よりも優れた軟磁気特性を得ること
かできる。
晶質軟磁性膜lと窒素を含有しない非晶質軟磁性膜13
とを交互に多数積層したので、非晶質軟磁性膜Itの膜
と垂直な磁気異方性の発生を抑制して、請求項1に記載
の非晶質軟磁性膜1よりも優れた軟磁気特性を得ること
かできる。
(製造例I )
高周波2極スパブタを用いてCo−T a−Hfを、1
0体積%のN1を含むAr中でスパッタした層の一層あ
たりの厚みを200人、純Ar中でスパッタした層(各
元素の組成比はCO54Tat+Hf5である)の厚み
を600人として、これらの層を交互に多数積層して全
体の膜厚を5.5μmとした。なお、窒素を含有する非
晶質軟磁性膜中の窒素含有量は2.5重量%であった。
0体積%のN1を含むAr中でスパッタした層の一層あ
たりの厚みを200人、純Ar中でスパッタした層(各
元素の組成比はCO54Tat+Hf5である)の厚み
を600人として、これらの層を交互に多数積層して全
体の膜厚を5.5μmとした。なお、窒素を含有する非
晶質軟磁性膜中の窒素含有量は2.5重量%であった。
次いでこれを480℃で1時間回転磁界中で焼鈍して非
晶質軟磁性膜を得た。得られた非晶質軟磁性膜の透磁率
を求め、第3図に示した。第3図からも明らかなように
、この非晶質軟磁性膜は実用上充分な高い透磁率が得ら
れることが確認された。なお、この膜の飽和磁束密度は
10500Gであり、純Arガス中でスパッタにより成
膜したCOs、Ta++Hfs単層膜より2〜3割高い
値を示した。
晶質軟磁性膜を得た。得られた非晶質軟磁性膜の透磁率
を求め、第3図に示した。第3図からも明らかなように
、この非晶質軟磁性膜は実用上充分な高い透磁率が得ら
れることが確認された。なお、この膜の飽和磁束密度は
10500Gであり、純Arガス中でスパッタにより成
膜したCOs、Ta++Hfs単層膜より2〜3割高い
値を示した。
更に、前記操作と同様の操作によって、窒素を10体積
%含むAr中でスパッタした層(厚さ200人、窒素含
有量2.5重量%)と純Ar中でスパッタした層を20
0層積層した後、550℃で焼鈍して非晶質軟磁性膜(
本発明例)を作製した。
%含むAr中でスパッタした層(厚さ200人、窒素含
有量2.5重量%)と純Ar中でスパッタした層を20
0層積層した後、550℃で焼鈍して非晶質軟磁性膜(
本発明例)を作製した。
一方、純Ar中でスパッタして窒素を含有しないCo−
T a−Hfからなる非晶質軟磁性膜(従来例)を作製
し、上記本発明例と従来例との飽和磁束密度(B s)
を求め、表1に示す。
T a−Hfからなる非晶質軟磁性膜(従来例)を作製
し、上記本発明例と従来例との飽和磁束密度(B s)
を求め、表1に示す。
表 1
次いで上記本発明例および従来例の各非晶質軟磁性膜を
600℃で熱処理し、熱処理後の各々の非晶質軟磁性膜
のX線回折を行った。これら各例のX線回折図形を第4
図に示した。第4図からも明らかなように、従来例にお
いては熱処理によって結晶相の存在を示す鋭い回折ピー
ク(図中矢印で示す部分)があるのに対し、本発明例に
はそれがなく、非晶質特有のブロードしたハローパター
ンのみ見られる。すなわち、本発明例の非晶質軟磁性膜
は高い飽和磁束密度を有しつつ、600℃でも結晶化せ
ず、極めて高い耐熱性を有していることが判明した。
600℃で熱処理し、熱処理後の各々の非晶質軟磁性膜
のX線回折を行った。これら各例のX線回折図形を第4
図に示した。第4図からも明らかなように、従来例にお
いては熱処理によって結晶相の存在を示す鋭い回折ピー
ク(図中矢印で示す部分)があるのに対し、本発明例に
はそれがなく、非晶質特有のブロードしたハローパター
ンのみ見られる。すなわち、本発明例の非晶質軟磁性膜
は高い飽和磁束密度を有しつつ、600℃でも結晶化せ
ず、極めて高い耐熱性を有していることが判明した。
以下に、請求項3に記載した発明について説明する。
第5図および第6図は請求項3に記載した発明の一実施
例を示すもので、この例の磁気ヘッドAは、Mn−Zn
フェライトなどの酸化物磁性体からなる一対の磁気コア
半休21,22をギャップ部23を介して突き合わせて
構成されている。これらの磁気コア半休21.22のギ
ヤツブ部23側には、前述の請求項1に記載した非晶質
軟磁性膜lあるいは請求項2に記載した非晶質軟磁性膜
11が被覆され、磁気コア半休21.22は、各非晶質
軟磁性l1l(あるいは2)の間にSin、などからな
るギャップスペーサ層を介在させてギャップ部23を形
成するとともに、この状態でギャップ部23を挾むよう
に磁気コア半休21.22に形成された溝24にガラス
などのボンディング材25を充填して接合されている。
例を示すもので、この例の磁気ヘッドAは、Mn−Zn
フェライトなどの酸化物磁性体からなる一対の磁気コア
半休21,22をギャップ部23を介して突き合わせて
構成されている。これらの磁気コア半休21.22のギ
ヤツブ部23側には、前述の請求項1に記載した非晶質
軟磁性膜lあるいは請求項2に記載した非晶質軟磁性膜
11が被覆され、磁気コア半休21.22は、各非晶質
軟磁性l1l(あるいは2)の間にSin、などからな
るギャップスペーサ層を介在させてギャップ部23を形
成するとともに、この状態でギャップ部23を挾むよう
に磁気コア半休21.22に形成された溝24にガラス
などのボンディング材25を充填して接合されている。
この例による磁気ヘッドAは、非晶質軟磁性膜として、
耐熱性の優れた前述の請求項1あるいは請求項2に記載
された非晶質軟磁性膜1.11を用いて構成し、高温で
ガラスボンディングを行っても疑似ギャップ部分が拡大
しないので、ガラスボンディングに信頼性の高い中〜高
融点ガラスを使用することができ、磁気ヘッド全体の信
頼性向上を図ることができる。また窒素を含有する非晶
質軟磁性膜lは、窒素を含有しない非晶質軟磁性膜13
に比べ軟磁性は若干劣るものの、飽和磁束密度(B s
)は高い値を維持しており、疑似ギャップとして作用す
る心配がなく、非磁性層(バリヤー)を介在させた場合
よりも、安定して疑似ギャップの拡大を抑制することが
できる。
耐熱性の優れた前述の請求項1あるいは請求項2に記載
された非晶質軟磁性膜1.11を用いて構成し、高温で
ガラスボンディングを行っても疑似ギャップ部分が拡大
しないので、ガラスボンディングに信頼性の高い中〜高
融点ガラスを使用することができ、磁気ヘッド全体の信
頼性向上を図ることができる。また窒素を含有する非晶
質軟磁性膜lは、窒素を含有しない非晶質軟磁性膜13
に比べ軟磁性は若干劣るものの、飽和磁束密度(B s
)は高い値を維持しており、疑似ギャップとして作用す
る心配がなく、非磁性層(バリヤー)を介在させた場合
よりも、安定して疑似ギャップの拡大を抑制することが
できる。
またこれらの非晶質軟磁性膜1.11を形成する場合に
は、スパッタガス中の窒素ガス濃度を調節するだけで容
易に形成することができるので、ガス導入系が2系統あ
るスパッタ装置であれば電極が1つだけの簡単な構造の
スパッタ装置でも容易に作製することができ、従来のM
IGヘッドと比較してスパッタでの工数増加もほとんど
なく比較的容易に製造することができる。
は、スパッタガス中の窒素ガス濃度を調節するだけで容
易に形成することができるので、ガス導入系が2系統あ
るスパッタ装置であれば電極が1つだけの簡単な構造の
スパッタ装置でも容易に作製することができ、従来のM
IGヘッドと比較してスパッタでの工数増加もほとんど
なく比較的容易に製造することができる。
以下に請求項4に記載した発明について説明する。
第7図は、請求項4に記載した発明の一実施例を示すも
ので、この例の磁気ヘッドBは、Mn−Znフェライト
などのフェライトからなる磁気コア半休31.32をギ
ャップ部33を介して突き合わせて構成されている。こ
れらの磁気コア半休31゜32のギヤツブ部33側には
Co x Ta y Hf zで示される組成を有し、
組成比X、Y、Zを原子%で、 4%≦y≦15%、 1%≦2≦14% x+y+z= 100%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料からなる非晶質軟磁性膜lと、上記’C
o X Ta y Hfzで示される組成の窒素を含有
しない軟磁性材料からなる非晶質軟磁性膜34が順次形
成され、磁気コア半休31.32は、各々の窒素を含有
しない非晶質軟磁性膜34の間に5iOyなどからなる
ギャップスペーサ層を介在させてギャップ部33を形成
するとともに、この状態でギャップ部33を挾むように
磁気コア半休31゜32に形成された溝35にガラスな
どのボンディング材36を充填して接合されている。
ので、この例の磁気ヘッドBは、Mn−Znフェライト
などのフェライトからなる磁気コア半休31.32をギ
ャップ部33を介して突き合わせて構成されている。こ
れらの磁気コア半休31゜32のギヤツブ部33側には
Co x Ta y Hf zで示される組成を有し、
組成比X、Y、Zを原子%で、 4%≦y≦15%、 1%≦2≦14% x+y+z= 100%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料からなる非晶質軟磁性膜lと、上記’C
o X Ta y Hfzで示される組成の窒素を含有
しない軟磁性材料からなる非晶質軟磁性膜34が順次形
成され、磁気コア半休31.32は、各々の窒素を含有
しない非晶質軟磁性膜34の間に5iOyなどからなる
ギャップスペーサ層を介在させてギャップ部33を形成
するとともに、この状態でギャップ部33を挾むように
磁気コア半休31゜32に形成された溝35にガラスな
どのボンディング材36を充填して接合されている。
フェライトからなるコア基体の表面に窒素を含有する非
晶質軟磁性膜1と窒素を含有しない非晶質軟磁性膜34
を積層形成して磁気コア半休31゜32を形成する方法
の一例を説明すると、ガスの導入系が2系統以上あり、
各々を独立に流量制御できるスパッタ装置により、初期
の100−1000人はN、を2〜20体積%含有する
Ar中でCo−T a−H1合金ターゲツトや複合ター
ゲットを用いてスパッタし、あとの厚み分は純Ar中で
スパッタを行う。スパッタ方式は先の各側において使用
されるものと同様に高周波2極スパツタ、マグネトロン
(nF、DC)スパッタ、3極スパツタ、対向ターゲッ
トスパッタ、イオンビームスパッタ等の方式が使用され
る。
晶質軟磁性膜1と窒素を含有しない非晶質軟磁性膜34
を積層形成して磁気コア半休31゜32を形成する方法
の一例を説明すると、ガスの導入系が2系統以上あり、
各々を独立に流量制御できるスパッタ装置により、初期
の100−1000人はN、を2〜20体積%含有する
Ar中でCo−T a−H1合金ターゲツトや複合ター
ゲットを用いてスパッタし、あとの厚み分は純Ar中で
スパッタを行う。スパッタ方式は先の各側において使用
されるものと同様に高周波2極スパツタ、マグネトロン
(nF、DC)スパッタ、3極スパツタ、対向ターゲッ
トスパッタ、イオンビームスパッタ等の方式が使用され
る。
この例の磁気ヘッドBは、高温でガラスボンディングを
行っても疑似ギャップの拡大を阻止することができるの
で、ガラスボンディングに信頼性の高い中〜高融点ガラ
スを使用することができ、磁気ヘッド全体の信頼性向上
を図ることができる。
行っても疑似ギャップの拡大を阻止することができるの
で、ガラスボンディングに信頼性の高い中〜高融点ガラ
スを使用することができ、磁気ヘッド全体の信頼性向上
を図ることができる。
また窒素を含有する非晶質軟磁性膜1は、窒素を含有し
ない非晶質軟磁性膜34に比べ軟磁性は若干劣るものの
、飽和磁束密度(B s)は高い値を維持しており、疑
似ギャップとして作用する心配がなく、非磁性層(バリ
ヤー)を介在させた場合よりも安定して疑似ギャップの
拡大を抑制することができる。
ない非晶質軟磁性膜34に比べ軟磁性は若干劣るものの
、飽和磁束密度(B s)は高い値を維持しており、疑
似ギャップとして作用する心配がなく、非磁性層(バリ
ヤー)を介在させた場合よりも安定して疑似ギャップの
拡大を抑制することができる。
また軟磁性の若干劣る窒素を含有する非晶質軟磁性膜1
を磁気コア半休31.32のコア基体側に形成したので
、非晶質軟磁性膜を存するMrGヘッドの特長である優
れた電磁変換特性を維持することができる。
を磁気コア半休31.32のコア基体側に形成したので
、非晶質軟磁性膜を存するMrGヘッドの特長である優
れた電磁変換特性を維持することができる。
また、この磁気ヘッドBの非晶質軟磁性膜l。
34を形成する場合には、スパッタガス中の窒素濃度を
調節するだけで容易に形成することができるので、ガス
導入系が2系統以上あるスパッタ装置であれば電極が1
つだけの簡単な構造のスパッタ装置でら容易に作製する
ことができ、従来のMIGヘッドと比較してスパッタで
の工数増加もほとんどなく比較的容易に製造することが
できる。
調節するだけで容易に形成することができるので、ガス
導入系が2系統以上あるスパッタ装置であれば電極が1
つだけの簡単な構造のスパッタ装置でら容易に作製する
ことができ、従来のMIGヘッドと比較してスパッタで
の工数増加もほとんどなく比較的容易に製造することが
できる。
(製造例2)
高周波2極スパツタによりMn−Znフェライトからな
るコア基体の表面にCo−T a−Hrを、N、を10
体積%含有するAr中でスパッタした層を厚さ300人
まで形成し、引き続いて残りの大半を純Ar中でスパッ
タして窒素を含まないCo−T a−Hf膜(C0sa
T a+ + lrl fs)を成膜した。次イテ、得
うした!対の磁気コア半休を突き合わせ、これを550
℃でガラスボンディングするとともに、ギャップ部を形
成して磁気ヘッドを製造した。この磁気ヘッドの再生出
力の周波数特性を第8図に示すとと乙に、第9図に従来
公知のCo−T a−Hr系の非晶質軟磁性膜を用いた
磁気ヘッドの再生出力の周波数特性を示す。
るコア基体の表面にCo−T a−Hrを、N、を10
体積%含有するAr中でスパッタした層を厚さ300人
まで形成し、引き続いて残りの大半を純Ar中でスパッ
タして窒素を含まないCo−T a−Hf膜(C0sa
T a+ + lrl fs)を成膜した。次イテ、得
うした!対の磁気コア半休を突き合わせ、これを550
℃でガラスボンディングするとともに、ギャップ部を形
成して磁気ヘッドを製造した。この磁気ヘッドの再生出
力の周波数特性を第8図に示すとと乙に、第9図に従来
公知のCo−T a−Hr系の非晶質軟磁性膜を用いた
磁気ヘッドの再生出力の周波数特性を示す。
第8図と第9図に示す結果から、従来の磁気ヘッドの疑
似ギャップノイズは5〜8dBであったのに比較して請
求項4に記載した発明の一例の磁気ヘッドのノイズは1
.5dB以内であり大幅に改善できたことが明らかとな
った。
似ギャップノイズは5〜8dBであったのに比較して請
求項4に記載した発明の一例の磁気ヘッドのノイズは1
.5dB以内であり大幅に改善できたことが明らかとな
った。
また請求項4に記載した発明の一例の磁気ヘッドをオー
ジェ電子分光により分析したところ、N。
ジェ電子分光により分析したところ、N。
を含有するAr中でスパッタして形成した部分は、熱処
理後にTaとHfが選択的に窒化していること、および
その窒化部分においては酸素の濃度が低いことが確認さ
れ、フェライトコアとの境界部での拡散層の厚みも薄く
なっていること、即ち窒化した部分が酸素の拡散を抑制
する効果があることが確認された。
理後にTaとHfが選択的に窒化していること、および
その窒化部分においては酸素の濃度が低いことが確認さ
れ、フェライトコアとの境界部での拡散層の厚みも薄く
なっていること、即ち窒化した部分が酸素の拡散を抑制
する効果があることが確認された。
[発明の効果]
本発明は、上述のとおり構成されているので、次に記載
する効果を奏する。
する効果を奏する。
請求項!に記載した非晶質軟磁性膜においては、窒素の
添加効果によって、高い飽和磁束密度(B s)を維持
しつつ、非晶質軟磁性膜としては極めて高い耐熱性を有
する。このためMIGヘッド等のガラスボンディングを
必要とする磁気ヘッドに好適であり、信頼性の高い中〜
高融点ガラスを使用することができる。またB s=
100OOG以上の高い飽和磁束密度を得ることが可能
となり高保磁力媒体への記録をより有利に行え、今後の
高密度記録の要求に対応させることが可能となる。
添加効果によって、高い飽和磁束密度(B s)を維持
しつつ、非晶質軟磁性膜としては極めて高い耐熱性を有
する。このためMIGヘッド等のガラスボンディングを
必要とする磁気ヘッドに好適であり、信頼性の高い中〜
高融点ガラスを使用することができる。またB s=
100OOG以上の高い飽和磁束密度を得ることが可能
となり高保磁力媒体への記録をより有利に行え、今後の
高密度記録の要求に対応させることが可能となる。
請求項2に記載した非晶質軟磁性膜においては、上記請
求項Iに記載したものと同等の効果が得られる他、窒素
を含有する膜と窒素を含有しない膜を交互に多数積層し
たことにより、膜と垂直な磁気異方性の発生を抑制し、
異方性の垂直成分をなくして優れた軟磁性を得ることが
できる。
求項Iに記載したものと同等の効果が得られる他、窒素
を含有する膜と窒素を含有しない膜を交互に多数積層し
たことにより、膜と垂直な磁気異方性の発生を抑制し、
異方性の垂直成分をなくして優れた軟磁性を得ることが
できる。
請求項3に記載した磁気ヘッドにおいては、耐熱性の優
れた請求項!および請求項2に記載した非晶質軟磁性膜
を用いて構成したので、ガラスボンディング時に高融点
ガラスを使用することができ、磁気ヘッドの全体の信頼
性を向上させることができる。
れた請求項!および請求項2に記載した非晶質軟磁性膜
を用いて構成したので、ガラスボンディング時に高融点
ガラスを使用することができ、磁気ヘッドの全体の信頼
性を向上させることができる。
請求項4に記載した磁気ヘッドにおいては、高温でガラ
スボンディングを行っても疑似ギャップの拡大を阻止す
ることができるので、ガラスボンディングに信頼性の高
い中〜高融点ガラスを使用することができ、磁気ヘッド
全体の信頼性向上を図ることができる。また窒素を含有
する非晶質軟磁性膜は、窒素を含有しない非晶質軟磁性
膜に比べ軟磁性は若干劣るらのの、飽和磁束密度(Bs
)は高い値を維持しており、疑似ギャップとして作用す
る心配がなく、非磁性層(バリヤー)を介在させた場合
よりも安定して疑似ギャップの拡大を抑制することがで
きる。
スボンディングを行っても疑似ギャップの拡大を阻止す
ることができるので、ガラスボンディングに信頼性の高
い中〜高融点ガラスを使用することができ、磁気ヘッド
全体の信頼性向上を図ることができる。また窒素を含有
する非晶質軟磁性膜は、窒素を含有しない非晶質軟磁性
膜に比べ軟磁性は若干劣るらのの、飽和磁束密度(Bs
)は高い値を維持しており、疑似ギャップとして作用す
る心配がなく、非磁性層(バリヤー)を介在させた場合
よりも安定して疑似ギャップの拡大を抑制することがで
きる。
また軟磁性の若干劣る窒素を含有する非晶質軟磁性膜を
磁気コア半休のコア基体側に形成したので、非晶質軟磁
性膜を有するMUGヘッドの特長である優れた電磁変換
特性を維持することができる。
磁気コア半休のコア基体側に形成したので、非晶質軟磁
性膜を有するMUGヘッドの特長である優れた電磁変換
特性を維持することができる。
また、この磁気ヘッドの非晶質軟磁性膜を形成する場合
には、スパッタガス中の窒素濃度を調節するだけで容易
に形成することができるので、ガス導入系が2系統以上
あるスパッタ装置であれば電極が■っだけの簡単な構造
のスパッタ装置で6容易に作製することができ、従来の
MrGヘッドと比較してスパッタでの工数増加もほとん
どなく比較的容易に製造することができる。
には、スパッタガス中の窒素濃度を調節するだけで容易
に形成することができるので、ガス導入系が2系統以上
あるスパッタ装置であれば電極が■っだけの簡単な構造
のスパッタ装置で6容易に作製することができ、従来の
MrGヘッドと比較してスパッタでの工数増加もほとん
どなく比較的容易に製造することができる。
第1図は請求項!に記載した発明の一実施例を示す非晶
質軟磁性膜の断面図、第2図は請求項2に記載した発明
の一実施例を示す非晶質軟磁性膜の断面図、第3図は請
求項2に記載した一実施例の透磁率を示す線図、第4図
は同X線回折線図、第5図および第6図は請求項3に記
載した発明の一実施例を示すもので、第5図は磁気ヘッ
ドの要部拡大断面図、第6図は磁気ヘッドの斜視図、第
7図は請求項4に記載した発明の一実施例を示す磁気ヘ
ッドの要部拡大断面図、第8図は請求項4に記載した一
実施例の再生出力を示す線図、第9図は従来の磁気ヘッ
ドの再生出力を示す線図である。 A、B・・・磁気ヘッド、 1.11・・・非晶質軟磁性膜 13.34・・・窒素を含有しない非晶質軟磁性膜23
.33・・・ギャップ部。
質軟磁性膜の断面図、第2図は請求項2に記載した発明
の一実施例を示す非晶質軟磁性膜の断面図、第3図は請
求項2に記載した一実施例の透磁率を示す線図、第4図
は同X線回折線図、第5図および第6図は請求項3に記
載した発明の一実施例を示すもので、第5図は磁気ヘッ
ドの要部拡大断面図、第6図は磁気ヘッドの斜視図、第
7図は請求項4に記載した発明の一実施例を示す磁気ヘ
ッドの要部拡大断面図、第8図は請求項4に記載した一
実施例の再生出力を示す線図、第9図は従来の磁気ヘッ
ドの再生出力を示す線図である。 A、B・・・磁気ヘッド、 1.11・・・非晶質軟磁性膜 13.34・・・窒素を含有しない非晶質軟磁性膜23
.33・・・ギャップ部。
Claims (4)
- (1)CoxTayHfzで示される組成を有し、組成
比x,y,zを原子%で 4%≦y≦15%、 1%≦z≦14% x+y+z=100%、 なる範囲の軟磁性材料に、窒素を0.4〜4.0重量%
含有させた材料よりなる非晶質軟磁性膜。 - (2)請求項1記載の非晶質軟磁性膜と、窒素を含まな
い上記CoxTayHfzの組成を有する軟磁性材料か
らなる非晶質軟磁性膜とを積層してなる非晶質軟磁性膜
。 - (3)請求項1または請求項2に記載した非晶質軟磁性
膜を用いた磁気ヘッド。 - (4)フェライトコアと窒素を含まない上記CoxTa
yHfz非晶質軟磁性膜との間に、請求項1記載の非晶
質軟磁性膜を形成してなる磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14732588A JPH01315109A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 非晶質軟磁性膜および磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14732588A JPH01315109A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 非晶質軟磁性膜および磁気ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01315109A true JPH01315109A (ja) | 1989-12-20 |
Family
ID=15427631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14732588A Pending JPH01315109A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 非晶質軟磁性膜および磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01315109A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04141809A (ja) * | 1990-10-02 | 1992-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 滋気ヘッド |
JPH04147408A (ja) * | 1990-10-11 | 1992-05-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04182907A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04195707A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
JPH04205804A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04252406A (ja) * | 1991-01-28 | 1992-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
WO2004068515A1 (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-12 | Tdk Corporation | 軟磁性部材およびそれを用いた磁気素子 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP14732588A patent/JPH01315109A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04141809A (ja) * | 1990-10-02 | 1992-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 滋気ヘッド |
JPH04147408A (ja) * | 1990-10-11 | 1992-05-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04182907A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04195707A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
JPH04205804A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
JPH04252406A (ja) * | 1991-01-28 | 1992-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘッド |
WO2004068515A1 (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-12 | Tdk Corporation | 軟磁性部材およびそれを用いた磁気素子 |
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