JPH01315051A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH01315051A JPH01315051A JP2453989A JP2453989A JPH01315051A JP H01315051 A JPH01315051 A JP H01315051A JP 2453989 A JP2453989 A JP 2453989A JP 2453989 A JP2453989 A JP 2453989A JP H01315051 A JPH01315051 A JP H01315051A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- recording layer
- recording
- magneto
- transition metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims abstract description 17
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 claims description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 16
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910000982 rare earth metal group alloy Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910000687 transition metal group alloy Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 57
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 23
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910017061 Fe Co Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005374 Kerr effect Effects 0.000 description 1
- 241001415801 Sulidae Species 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 but A u Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001017 electron-beam sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光磁気記録媒体に関する。詳しくは感度、信号
強度、低ノイズ性に優れた光磁気記録媒体に関する。
強度、低ノイズ性に優れた光磁気記録媒体に関する。
光記録媒体の中でも追加記録、消去が可能なイレーザブ
ル型メモリーとしては光磁気記録媒体が量も実用に近い
段階にある。
ル型メモリーとしては光磁気記録媒体が量も実用に近い
段階にある。
光磁気記録方式としては、再生にファラデー効果を利用
する方式とカー効果を利用する方式とがあり、現在の所
、後者の方が技術的完成度は高い。また、記録方式とし
ては所謂キュリー点記録方式と補償点記録方式とがあり
、前者の方が広(研究されている。
する方式とカー効果を利用する方式とがあり、現在の所
、後者の方が技術的完成度は高い。また、記録方式とし
ては所謂キュリー点記録方式と補償点記録方式とがあり
、前者の方が広(研究されている。
また、上記方式に照らして、記録層としては、現在、希
土類−遷移金属薄膜が最も広(用いられているが、この
記録層は、直接空気等と接していると酸化等によって、
光磁気記録媒体として利用し得る光学的特性を失う。こ
のため、記録層における酸化等の非可逆的反応の進行を
防止する目的で記録層の両側に保護層を設けた構成(以
後サンドイッチ構造と呼ぶ)が−殻内に用いられている
。
土類−遷移金属薄膜が最も広(用いられているが、この
記録層は、直接空気等と接していると酸化等によって、
光磁気記録媒体として利用し得る光学的特性を失う。こ
のため、記録層における酸化等の非可逆的反応の進行を
防止する目的で記録層の両側に保護層を設けた構成(以
後サンドイッチ構造と呼ぶ)が−殻内に用いられている
。
記録層の構成は、信号強度(以後キャリアレヘルド呼ぶ
)、ノイズ成分(以後ノイズレベルと呼ぶ)及び記録感
度等の特性に深く関連しているため、記録層の組成、膜
厚なとは、上記特性が総合的に良好となるように選択さ
れている。
)、ノイズ成分(以後ノイズレベルと呼ぶ)及び記録感
度等の特性に深く関連しているため、記録層の組成、膜
厚なとは、上記特性が総合的に良好となるように選択さ
れている。
−殻内に、キャリアレベルは記録層中の希土類成分が増
加するにつれ低下する。また、記録感度も記録層中の希
土類成分が増加するにつれ悪化する。然しなから、希土
類成分が少なく記録層の保磁力が低い組成では、記録後
にノイズレベルが上昇するため、C/Nの低下を招く。
加するにつれ低下する。また、記録感度も記録層中の希
土類成分が増加するにつれ悪化する。然しなから、希土
類成分が少なく記録層の保磁力が低い組成では、記録後
にノイズレベルが上昇するため、C/Nの低下を招く。
特に低印加磁場でのノイズの上昇が大きい。従って従来
は、この記録後のノイズを低減させる目的で、希土類−
遷移金属の組成は、互いに逆方向を向いている希土類金
属と、遷移金属の磁気モーメントがバランスする(磁気
モーメントが消失する)組成(以後、この組成を補償組
成と呼ぶ)に近い組成が好ましいとされてきた。(例え
ば、光メモリシンポジウム、’gt論文集、第9頁ン しかしながら補償組成近傍の組成を用いるのは以下のコ
点で問題があった。
は、この記録後のノイズを低減させる目的で、希土類−
遷移金属の組成は、互いに逆方向を向いている希土類金
属と、遷移金属の磁気モーメントがバランスする(磁気
モーメントが消失する)組成(以後、この組成を補償組
成と呼ぶ)に近い組成が好ましいとされてきた。(例え
ば、光メモリシンポジウム、’gt論文集、第9頁ン しかしながら補償組成近傍の組成を用いるのは以下のコ
点で問題があった。
(1)遷移金属リッチの場合と比較してキャリアが低く
、感度が若干劣る。
、感度が若干劣る。
(2)逆磁場(記録方向と逆向きの磁場)をかけた場合
磁場を強くしないと記録されてしまう(磁界変調記録の
場合は逆磁場では記録されないことが必要)。従って磁
界変調記録には適していない。
磁場を強くしないと記録されてしまう(磁界変調記録の
場合は逆磁場では記録されないことが必要)。従って磁
界変調記録には適していない。
本発明者等は上記の問題を解決すべく鋭意検討を行なっ
た結果、ある特定の層構成を用い、更に記録層の物性を
補償組成から大きく外れる組成とすることによりキャリ
アレベルが犬キ<、ノイズレベルが低(、感度が良好で
あり、かつ磁界変調記録に適した媒体が得られることを
見出し、本発明を完成した。
た結果、ある特定の層構成を用い、更に記録層の物性を
補償組成から大きく外れる組成とすることによりキャリ
アレベルが犬キ<、ノイズレベルが低(、感度が良好で
あり、かつ磁界変調記録に適した媒体が得られることを
見出し、本発明を完成した。
本発明の要旨は透明基板上に干渉層、希土類金属と遷移
金属の合金よりなる記録層、及びアルミニウム又はアル
ミニウム系合金からなる反射層を順次設けてなる光磁気
記録媒体において、上記記録層の単位体積あたりの磁気
モーメントの向きが、常温において記録層中の遷移金属
の磁気モーメントの向きと同方向であり、かつ記録層の
保磁力が常温においてq〜/ 夕KOeであることを特
徴とする光磁気記録媒体に存する。
金属の合金よりなる記録層、及びアルミニウム又はアル
ミニウム系合金からなる反射層を順次設けてなる光磁気
記録媒体において、上記記録層の単位体積あたりの磁気
モーメントの向きが、常温において記録層中の遷移金属
の磁気モーメントの向きと同方向であり、かつ記録層の
保磁力が常温においてq〜/ 夕KOeであることを特
徴とする光磁気記録媒体に存する。
本発明の光磁気記録媒体は、基板−干渉層一記録層一反
射層の層構成とされる。
射層の層構成とされる。
このような層構成とすることと記録層の物性を従来の物
性のものと異なるものを用いることの併用により、本発
明の光磁気記録媒体は特異の効果を奏するものとなって
いる。
性のものと異なるものを用いることの併用により、本発
明の光磁気記録媒体は特異の効果を奏するものとなって
いる。
まず、本発明において用いられる基板としては、ガラス
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属、ガラス上に溝つき樹脂
を形成した基板等が挙げられる。
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属、ガラス上に溝つき樹脂
を形成した基板等が挙げられる。
基板の厚みは/〜−朋程度が一般的である。
干渉層と1−ては金属酸化物や金属チン化物、無機炭化
物などが用いられる。金属酸化物としてはAl2O3、
Ta205.5iO1S i 02の金属酸化物単独あ
るいはこれらの混合物、あるいはAA−Ta−0の複合
酸化物等が挙げられる。また更にこれらに他の元素、例
えばT i 、 Zr 、 W、 MO1Y’b等が酸
化物の形で単独あるいはA#、Taと複合して酸化物を
形成していてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部
からの水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く光磁気記
録層との反応性も小であり、また、基板として樹脂基板
を使用する場合にも樹脂との密着性に優れる。
物などが用いられる。金属酸化物としてはAl2O3、
Ta205.5iO1S i 02の金属酸化物単独あ
るいはこれらの混合物、あるいはAA−Ta−0の複合
酸化物等が挙げられる。また更にこれらに他の元素、例
えばT i 、 Zr 、 W、 MO1Y’b等が酸
化物の形で単独あるいはA#、Taと複合して酸化物を
形成していてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部
からの水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く光磁気記
録層との反応性も小であり、また、基板として樹脂基板
を使用する場合にも樹脂との密着性に優れる。
金属チン化物としては、具体的にはSl、Al、Ge等
の金属のチン化物あるいはこれらのコ種以上の複合チン
化物又はこれらとNb、 Taとの複合チン化物(例え
ば、5iNbN、 5iTaN等)が挙げられる。なか
でもSlを含有するチン化物が良好な結果をもたらす。
の金属のチン化物あるいはこれらのコ種以上の複合チン
化物又はこれらとNb、 Taとの複合チン化物(例え
ば、5iNbN、 5iTaN等)が挙げられる。なか
でもSlを含有するチン化物が良好な結果をもたらす。
金属チン化物は緻密で外部からの水分や酸素の侵入を防
ぎ、それ自身の耐食性が高く、光磁気記録層との反応性
が小である。
ぎ、それ自身の耐食性が高く、光磁気記録層との反応性
が小である。
一方、無機炭化物としてはB4C,SiC等があげられ
る。
る。
特に、酸化タンタル(T a20s )は、内部応力が
小さく、クラックの発生が少ないので好適に用いられる
。
小さく、クラックの発生が少ないので好適に用いられる
。
この干渉層の膜厚は屈折率により最適膜厚が異なるが、
通常booby〜gooi程度が適当である。
通常booby〜gooi程度が適当である。
光磁気記録層としては希土類と遷移金属との合金が用い
られるが、従来用いられている補償組成の記録媒体とし
ない。
られるが、従来用いられている補償組成の記録媒体とし
ない。
具体的には記録層の単位体積当りの磁気モーメントの向
きが、記録層中の遷移金属の磁気モーメントの向きと同
じで、記録層の保持力がダ〜/&KOeである記録層と
する。
きが、記録層中の遷移金属の磁気モーメントの向きと同
じで、記録層の保持力がダ〜/&KOeである記録層と
する。
記録層としては、例えばT b F e Cl) 、
G d T b F e 。
G d T b F e 。
GdTbFeCo 、 GdDyFeCo 、 NdD
yFeCo等が用いられる。好ましくは、T b F
e CoでTbをTbFeCo全体量の1g−!/原子
%、CoをF e Co全体量の3〜30原子%含有し
ている記録層が好ましい。記録層の膜厚は200〜60
0人、さらにはコ5o−tiooi程度が好ましい。
yFeCo等が用いられる。好ましくは、T b F
e CoでTbをTbFeCo全体量の1g−!/原子
%、CoをF e Co全体量の3〜30原子%含有し
ている記録層が好ましい。記録層の膜厚は200〜60
0人、さらにはコ5o−tiooi程度が好ましい。
このような特性を有する記録層は、この記録層上に反射
層を設けた反射式記録媒体として構成することにより感
度、信号強度が太き(、印加磁場が弱くてもノイズの増
加しない記録媒体が得られる。その理由は完全に明確と
されていないが、上記のような層構成とすることにより
記録層中の反磁場の発生が抑えられ、磁気モーメントの
乱れが防止されるためと考えられる。
層を設けた反射式記録媒体として構成することにより感
度、信号強度が太き(、印加磁場が弱くてもノイズの増
加しない記録媒体が得られる。その理由は完全に明確と
されていないが、上記のような層構成とすることにより
記録層中の反磁場の発生が抑えられ、磁気モーメントの
乱れが防止されるためと考えられる。
本発明においては光磁気記録層上に反射層及び保護層を
設ける。反射層は高反射率の物質なら何でも良いが、A
u、Ag、Ptはコストが高(Cuは腐食を起こし易い
為、AAまたはA2合金の薄膜が望ましい。特にA I
K T a s T 1、Zr、V、Pt、Mo、C
r、Pd等を15at%以下添加した合金はC/N比、
感度共に良好な特性をもたらす。反射層の厚みは=50
〜SOO人が好ましい。反射層上に更に保護層を設けて
も良い。保護層としてはTaやその酸化物等が好適に用
いられる。この保護層の目的は反射層の酸化防止である
。保護層は30人〜3θθ人程度の厚さを設ければ充分
である。
設ける。反射層は高反射率の物質なら何でも良いが、A
u、Ag、Ptはコストが高(Cuは腐食を起こし易い
為、AAまたはA2合金の薄膜が望ましい。特にA I
K T a s T 1、Zr、V、Pt、Mo、C
r、Pd等を15at%以下添加した合金はC/N比、
感度共に良好な特性をもたらす。反射層の厚みは=50
〜SOO人が好ましい。反射層上に更に保護層を設けて
も良い。保護層としてはTaやその酸化物等が好適に用
いられる。この保護層の目的は反射層の酸化防止である
。保護層は30人〜3θθ人程度の厚さを設ければ充分
である。
上記干渉層、記録層および反射層の作成にはスパッタリ
ング等の物理蒸着法(PVD)、プラズマCVDのよう
な化学蒸着法(CVD)等が適用される。
ング等の物理蒸着法(PVD)、プラズマCVDのよう
な化学蒸着法(CVD)等が適用される。
PVDによって膜の作成を行なうには、所定の組成をも
ったターゲットを用いて電子ビーム蒸着またはスパッタ
リングにより基板上に各層を堆積するのが通常の方法で
ある。
ったターゲットを用いて電子ビーム蒸着またはスパッタ
リングにより基板上に各層を堆積するのが通常の方法で
ある。
また、イオンブレーティングを用いる方法も考えられる
。
。
膜の堆積速度は早すぎると膜応力を増加させ、遅すぎれ
ば生産性に影響するので通常0. / A 7sec〜
700人/sec程度とされる。
ば生産性に影響するので通常0. / A 7sec〜
700人/sec程度とされる。
以下に実施例をもって本発明を更に詳細に説明するが本
発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
実施例、比較例
ポリカーボネート基板をマグネトロンスパッタ装置に導
入し夕×/θ″″5Pa以下まで排気した後Arを30
sccm、 02をll sccm導入し、圧力を0.
!;Paに調整した。この状態でs o o wのパワ
ーでqインチダのTaターゲットをRFスパッタリング
し!A/secの速度で屈折率コ、/の酸化タンタルの
干渉層をtsoi形成した。
入し夕×/θ″″5Pa以下まで排気した後Arを30
sccm、 02をll sccm導入し、圧力を0.
!;Paに調整した。この状態でs o o wのパワ
ーでqインチダのTaターゲットをRFスパッタリング
し!A/secの速度で屈折率コ、/の酸化タンタルの
干渉層をtsoi形成した。
チャンバーを一度排気した後Arを、30 secm、
0.3Paの圧力に導入しTbとFe90 C010の
ターゲットを同時スパッタリングした。
0.3Paの圧力に導入しTbとFe90 C010の
ターゲットを同時スパッタリングした。
組成を変える時はスパッタ時のTbターゲットへの投入
電力及びF e90 Qoメタ−ットへの投入電力を変
える事によって、Tbの、TbFeCo全体量に占める
割合を変えた。記録層の膜厚は300Aとなるように作
製した。
電力及びF e90 Qoメタ−ットへの投入電力を変
える事によって、Tbの、TbFeCo全体量に占める
割合を変えた。記録層の膜厚は300Aとなるように作
製した。
次に、Alターゲット上にTaチップを配し、Agg7
Ta3の反射層を3ooi形成した。作製したディスク
は表/に示す。ディスク/f6/が本発明のものであり
、ディスク7162〜Sは比較例である。このディスク
を光磁気記録再生装置を用いて、以下の条件で記録再生
し、C/N、感度を測定した。
Ta3の反射層を3ooi形成した。作製したディスク
は表/に示す。ディスク/f6/が本発明のものであり
、ディスク7162〜Sは比較例である。このディスク
を光磁気記録再生装置を用いて、以下の条件で記録再生
し、C/N、感度を測定した。
(条件) r = 30 mx、CAV / g 0
0 rpm。
0 rpm。
f = o、! MH,、duty !r
O%、バイアス磁場200.AOOOe1 再生パワー0.gmW 第1図及び第2図に測定結果を示す。図中、白丸(○)
は、バイアス磁82θ00e、黒丸(・)はバイアス磁
場1,000eの場合における測定結果である。第7図
及び第一図から明らかなように、キャリアレベルのTb
量依存性は従来のサンドインチ構造を採用した場合と同
じ(、Tb量の増加に伴ない減少傾向にある。また、感
度もTb量の増加に伴なって悪化していく。
O%、バイアス磁場200.AOOOe1 再生パワー0.gmW 第1図及び第2図に測定結果を示す。図中、白丸(○)
は、バイアス磁82θ00e、黒丸(・)はバイアス磁
場1,000eの場合における測定結果である。第7図
及び第一図から明らかなように、キャリアレベルのTb
量依存性は従来のサンドインチ構造を採用した場合と同
じ(、Tb量の増加に伴ない減少傾向にある。また、感
度もTb量の増加に伴なって悪化していく。
一方、ノイズレベルは、従来より悪化すると言われてい
る、遷移金属リッチ領域で十分低い値になっている。デ
ィスク/I6)でC/N s q as。
る、遷移金属リッチ領域で十分低い値になっている。デ
ィスク/I6)でC/N s q as。
感度ダ、!rmWを得た。
さらにディスク魔/、3および/16Sについて印加磁
場への特性の依存性を測定した(第3図)。
場への特性の依存性を測定した(第3図)。
消去時の磁場方向を負にとっている。第3図から、遷移
金属リッチの組成はわずか200エルステツド(Oe
)正磁界でC/Nが完全に立ち上がり一2oo0eの負
磁界ではC/Nが完全に落ちていることがわかる。従っ
てディスク/16/は磁界変調記録には好適な媒体であ
る。
金属リッチの組成はわずか200エルステツド(Oe
)正磁界でC/Nが完全に立ち上がり一2oo0eの負
磁界ではC/Nが完全に落ちていることがわかる。従っ
てディスク/16/は磁界変調記録には好適な媒体であ
る。
比較例
実施例/との比較のため、サンドイッチ構造のディスク
(ディスク/166〜io)を作製した。
(ディスク/166〜io)を作製した。
実施例/と同じ方法で干渉層、記録層を作製した。この
場合、記録層は膜厚がqooiとなるように作製した。
場合、記録層は膜厚がqooiとなるように作製した。
次に、反射層の代わりに、再び酸化タンタルを、干渉層
の作製時と同一条件で作製した。作製したディスクは表
コに示す。
の作製時と同一条件で作製した。作製したディスクは表
コに示す。
このディスクを、実施例/と同一の条件バイアス磁場t
、ooOeで記録再生し、C/N、感度を測定した。測
定結果を第3図及び第9図に示す。サンドイッチ構造で
は、補償組成近傍でC/Nが極大となり、C/Nが極太
となる組成においてC/N 、3− g dB、感度!
r、!;mWを得た。
、ooOeで記録再生し、C/N、感度を測定した。測
定結果を第3図及び第9図に示す。サンドイッチ構造で
は、補償組成近傍でC/Nが極大となり、C/Nが極太
となる組成においてC/N 、3− g dB、感度!
r、!;mWを得た。
さらにディスク/16A、gおよび/1610につぃて
印加磁場への特性の依存性を測定した(第6図)。この
場合、どの組成でも負方向の磁場を印加したときC/N
がなかなか落ちきらない。
印加磁場への特性の依存性を測定した(第6図)。この
場合、どの組成でも負方向の磁場を印加したときC/N
がなかなか落ちきらない。
最もC/Nの出る補償組成近傍では一200エルステッ
ド(Oe)の印加磁場でも約、?、!idBのC/Nが
出てしまっており磁界変調には向かない。希土類リッチ
の組成の方が負磁場でのC/Nの低下は大きいが、正方
向の立ち上りが遅(やはり磁界変調には向かない。
ド(Oe)の印加磁場でも約、?、!idBのC/Nが
出てしまっており磁界変調には向かない。希土類リッチ
の組成の方が負磁場でのC/Nの低下は大きいが、正方
向の立ち上りが遅(やはり磁界変調には向かない。
表7
表−
〔発明の効果〕
本発明によれば、遷移金属リッチ領域の記録時のノイズ
の低減が可能となり、遷移金属リッチ領域の長所である
高いキャリアレベル、高い感度等の特性を有効に利用し
た光磁気記録媒体を得られる。
の低減が可能となり、遷移金属リッチ領域の長所である
高いキャリアレベル、高い感度等の特性を有効に利用し
た光磁気記録媒体を得られる。
さらに低い正磁場においてC/Nが立ち上がりまた低い
負磁場によってC/Nが落ち切るという磁界変調記録に
好適な媒体でもある。
負磁場によってC/Nが落ち切るという磁界変調記録に
好適な媒体でもある。
第1図及び第2図は本発明の実施例及び比較例による動
特性(キャリアレベル、ノイズレベル、C/N比及び感
度)の組成依存性を示したものである。 第3図は前記実施例及び比較例で得られたディスクのC
/Nの印加磁場依存性を示したものである。 第を図及び第5図は比較例(サンドインチ構造)による
動特性の組成依存性を示したものである。 第6図は前記比較例で得られたディスクのC/Nの印加
磁場依存性を示したものである。
特性(キャリアレベル、ノイズレベル、C/N比及び感
度)の組成依存性を示したものである。 第3図は前記実施例及び比較例で得られたディスクのC
/Nの印加磁場依存性を示したものである。 第を図及び第5図は比較例(サンドインチ構造)による
動特性の組成依存性を示したものである。 第6図は前記比較例で得られたディスクのC/Nの印加
磁場依存性を示したものである。
Claims (1)
- (1)透明基板上に干渉層、希土類金属と遷移金属の合
金よりなる記録層、及びアルミニウム又はアルミニウム
系合金からなる反射層を順次設けてなる光磁気記録媒体
において、上記記録層の単位体積あたりの磁気モーメン
トの向きが常温において記録層中の遷移金属の磁気モー
メントの向きと同方向であり、かつ記録層の保磁力が常
温において4〜15KOeであることを特徴とする光磁
気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1024539A JP2754658B2 (ja) | 1988-03-07 | 1989-02-02 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63-53166 | 1988-03-07 | ||
JP5316688 | 1988-03-07 | ||
JP1024539A JP2754658B2 (ja) | 1988-03-07 | 1989-02-02 | 光磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01315051A true JPH01315051A (ja) | 1989-12-20 |
JP2754658B2 JP2754658B2 (ja) | 1998-05-20 |
Family
ID=26362081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1024539A Expired - Lifetime JP2754658B2 (ja) | 1988-03-07 | 1989-02-02 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2754658B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5576102A (en) * | 1991-07-23 | 1996-11-19 | Mitsubishi Chemical Corporation | Magneto optical recording medium |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57169996A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-19 | Sharp Corp | Magnetooptic storage element |
JPS59201247A (ja) * | 1983-04-28 | 1984-11-14 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS6035354A (ja) * | 1983-10-26 | 1985-02-23 | Kyocera Corp | 光磁気記録媒体 |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP1024539A patent/JP2754658B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57169996A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-19 | Sharp Corp | Magnetooptic storage element |
JPS59201247A (ja) * | 1983-04-28 | 1984-11-14 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS6035354A (ja) * | 1983-10-26 | 1985-02-23 | Kyocera Corp | 光磁気記録媒体 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5576102A (en) * | 1991-07-23 | 1996-11-19 | Mitsubishi Chemical Corporation | Magneto optical recording medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2754658B2 (ja) | 1998-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5577020A (en) | Magneto-optical disc with intermediate film layer between a recording film and a dielectric film | |
JP3178025B2 (ja) | 光磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPH0325737A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH01315051A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JP2541677B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JP2507592B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JP2527762B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS62281139A (ja) | 光磁気デイスク | |
JP2629062B2 (ja) | 光磁気メモリ用媒体 | |
JP2737241B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JP2775853B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH03122845A (ja) | 光記録媒体 | |
JP2957425B2 (ja) | 光磁気ディスクおよびその製造方法 | |
JPS63155446A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS63291234A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH03142728A (ja) | 光記録媒体 | |
JPH02254647A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH02254646A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH02297739A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0464940A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0644624A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0325738A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH07244878A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS63173248A (ja) | 光磁気デイスク | |
JPH02308454A (ja) | 光磁気記録媒体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090306 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |