JPH01309421A - Error correction system - Google Patents

Error correction system

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JPH01309421A
JPH01309421A JP63064505A JP6450588A JPH01309421A JP H01309421 A JPH01309421 A JP H01309421A JP 63064505 A JP63064505 A JP 63064505A JP 6450588 A JP6450588 A JP 6450588A JP H01309421 A JPH01309421 A JP H01309421A
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error
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Abstract

PURPOSE:To prevent mis-detection of a memory error by correcting a data if an error takes place in the data, storing the result in a data storage means and applying error detection again. CONSTITUTION:A microprogram and a corresponding ECC are stored in a control storage(CS) 211 and the data read from the CS 211 are stored in a read data latch 223. An error detection section 231 detects the data error and in the presence of 1-bit error in the readout data, an error correction section 241 corrects the data and writes it in the CS 211 and stored in the read data latch 223, an error is detected from the stored correction data and if any error takes place again, it is discriminated that the CS 211 is faulty and when no error exists, it is discriminated that logical elements other than the CS 211 have a fault.

Description

【発明の詳細な説明】 〔目 次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するだめの手段 作用 実施例 ■、実施例と第1図との対応関係 ■、実施例の構成 ■、実施例の動作 (i)正常動作時 (ii)2ビットエラー発生時 (iii)1回目の1ビツトエラー発生時(iv)再実
行時 ■、実施例のまとめ ■3発明の変形態様 発明の効果 〔概 要〕 誤り訂正符号を含むデータを読み出し、エラーが発生し
たときにエラー発生箇所を判別するようにした誤り訂正
方式に関し、 メモリエラーの誤検出を防止することを目的とし、 誤り訂正符号を含むデータを格納するメモリと、メモリ
から読基出したデータを格納するデータ保持手段と、デ
ータ保持手段に格納されたデータに基づいてエラー検出
を行なうエラー検出手段と、エラー検出手段でエラーを
検出したときに、データ保持手段に格納されたデータの
訂正を行ない、データ保持手段に訂正データを格納する
訂正手段と、エラー検出手段による検出結果に基づいて
エラー発生箇所の判別を行なう判別手段とを備え、エラ
ーが発生したときに、訂正手段でデータの訂正を行ない
、訂正データに関するエラーの有無によってエラー発生
箇所を判別するように構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Table of Contents] Overview Industrial Application Fields Conventional Technology Problems to be Solved by the Invention Means for Solving the Problems Working Examples ■, Correspondence between the Examples and FIG. 1 ■ , Structure of the embodiment ■, Operation of the embodiment (i) During normal operation (ii) When a 2-bit error occurs (iii) When a 1-bit error occurs for the first time (iv) When re-executing ■, Summary of the embodiment ■ 3 Inventions [Summary] The purpose of this invention is to prevent erroneous detection of memory errors with respect to an error correction method that reads data including an error correction code and determines the location of an error when an error occurs. a memory for storing data including an error correction code; a data holding means for storing data read from the memory; an error detecting means for detecting errors based on the data stored in the data holding means; A correction means for correcting the data stored in the data holding means when an error is detected by the detection means and storing the corrected data in the data holding means, and determining the location of the error based on the detection result by the error detection means. When an error occurs, the correcting means corrects the data, and the location where the error occurs is determined based on the presence or absence of an error in the corrected data.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、誤り訂正方式に関し、特に、誤り訂正符号を
含むデータを読み出し、エラーが発生したときにエラー
発生箇所を判別するようにした誤り訂正方式に関するも
のである。
The present invention relates to an error correction method, and more particularly to an error correction method that reads data including an error correction code and determines the location where an error occurs when an error occurs.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、半導体技術の発達に伴い、計算機に使用する論理
素子の集積度の向上及び演算サイクル時間の短縮がもた
らされている。また、論理素子の機能の向上に伴って、
素子の部留まりの悪化あるいは素子の不良率の増加等の
問題を引き起こしている。
In recent years, with the development of semiconductor technology, the degree of integration of logic elements used in computers has improved and the calculation cycle time has been shortened. Additionally, as the functionality of logic elements improves,
This causes problems such as a deterioration in the retention of elements and an increase in the defective rate of elements.

このような問題に対処するものとして、データに誤り訂
正符号(以後ECCと称する)を付加する方式がある。
To deal with such problems, there is a method of adding an error correction code (hereinafter referred to as ECC) to data.

例えば、メモリ等に格納するデータに誤り訂正符号(以
後ECCと称する)を付加しておいて、そのデータを読
み出したときにエラーの検証を行ない、エラーが発生し
たときにデータの訂正を行なう。
For example, an error correction code (hereinafter referred to as ECC) is added to data stored in a memory or the like, and errors are verified when the data is read out, and data is corrected when an error occurs.

第4図に、読み出したデータを訂正するだめの従来例の
構成を示す。
FIG. 4 shows the configuration of a conventional example for correcting read data.

回において、メモリ411から読み出したデータを訂正
するための訂正回路は、メモリ411に供給するデータ
を一時保持するライトデータランチ463と、メモリ4
11から読み出したデータを一時保持するり−ドブ−ク
ラッチ421と、メモリ411に供給するアドレスデー
タを一時保持するアドレスラッチ453.エラーアドレ
スラッチ455と、データのECC部分とそれ以外の部
分とを比較してエラー検出を行なうエラー検出部431
と、エラー検出部431の検出結果に応じた制御を行な
うエラー訂正制御部441と、データの訂正を行なうエ
ラー訂正部443と、2つのセレクタ45’l、461
とを備えている。
In this case, a correction circuit for correcting data read from the memory 411 includes a write data launch 463 that temporarily holds data to be supplied to the memory 411, and a correction circuit for correcting data read from the memory 411.
11 and an address latch 453 that temporarily holds address data supplied to the memory 411. An error detection unit 431 that performs error detection by comparing the error address latch 455 and the ECC portion of data with other portions.
, an error correction control section 441 that performs control according to the detection result of the error detection section 431, an error correction section 443 that performs data correction, and two selectors 45'l and 461.
It is equipped with

メモリ411にデータを格納する場合、先ず、セレクタ
461を介してライトデークラッチ463にECCを含
むデータを格納する。また、セレクタ451を介してア
ドレスラッチ453にアドレスデータを格納する。
When storing data in the memory 411, first, data including ECC is stored in the write day clutch 463 via the selector 461. Further, address data is stored in the address latch 453 via the selector 451.

次に、アドレスラッチ453に格納されたアドレスデー
タ及びライトデークラッチ463に格納されたデータが
メモリ411に供給され、メモリ411は、アドレスデ
ータで指定される格納場所にライトデークラッチ463
から供給されたデータを格納する。
Next, the address data stored in the address latch 453 and the data stored in the write day clutch 463 are supplied to the memory 411, and the memory 411 stores the write data clutch 463 in the storage location specified by the address data.
Stores data supplied from.

第5図に、読み出したデータに対して誤り訂正を行なう
場合の動作手順を示す。
FIG. 5 shows the operating procedure when error correction is performed on read data.

先ず、データを読み出してリードデークラッチ421に
格納する(ステップ511)。メモリ411へのデータ
格納動作と同様にして、アドレスラッチ453からメモ
リ411にアドレスデータを供給し、該当するデータを
読み出してリードデークラッチ421に格納する。
First, data is read and stored in the read day clutch 421 (step 511). In the same manner as the data storage operation to the memory 411, address data is supplied from the address latch 453 to the memory 411, and the corresponding data is read and stored in the read data latch 421.

次に、エラー検出部431は、リードデータラッチ42
1に格納されているリードデータ(ECC以外のデータ
)とECCとを比較してエラー検出を行ない、検出結果
をエラー訂正制御部441に送る(ステップ512)。
Next, the error detection unit 431 detects the read data latch 42
Error detection is performed by comparing the read data (data other than ECC) stored in 1 and the ECC, and the detection result is sent to the error correction control unit 441 (step 512).

エラー訂正制御部441ば、検出結果に応してリードデ
ータにエラーが有るか否かの判定を行なう(ステップ5
13)。否定判断(エラー無しの場合)すると、以後ス
テップ511に戻って処理を繰り返す。
The error correction control unit 441 determines whether or not there is an error in the read data according to the detection result (step 5).
13). If a negative determination is made (if there is no error), the process returns to step 511 and repeats the process.

ステップ513で肯定判断(エラー有りの場合)すると
、エラー訂正制御部441は、エラー訂正部443にエ
ラー信号を送る。エラー信号を受は取るとエラー訂正部
443は、リードデークラッチ421に格納されたリー
ドデータ及びECCに応じて、リードデータの訂正を行
なう(ステップ514)。
If an affirmative determination is made in step 513 (if there is an error), the error correction control section 441 sends an error signal to the error correction section 443. Upon receiving the error signal, the error correction unit 443 corrects the read data according to the read data and ECC stored in the read data clutch 421 (step 514).

次に、エラー訂正部443によって訂正したデータ(リ
ードデータ及びECC)をメモリ411に書き込む(ス
テップ515)。エラーが発生したデータに対応するア
ドレスデータはエラーアドレスラッチ455に保持され
ており、セレクタ451を介してア[レスランチ453
にそのアドレスデータを格納する。また、エラー訂正部
443から出力される訂正後のデータを、セレクタ46
1を介してライトデークラッチ463に格納する。
Next, the data (read data and ECC) corrected by the error correction unit 443 is written into the memory 411 (step 515). The address data corresponding to the data in which the error has occurred is held in the error address latch 455, and is sent to the address launch 453 via the selector 451.
Store the address data in . Further, the corrected data output from the error correction unit 443 is sent to the selector 46.
1 to the light day clutch 463.

以後、アドレスランチ453に格納されたアドレスデー
タで指定される格納場所に、ライトデータラッチ463
に格納された訂正後のデータを格納する。
Thereafter, the write data latch 463 is stored in the storage location specified by the address data stored in the address launch 453.
The corrected data stored in is stored.

(発明が解決しようとする課題〕 ところで、上述した従来方式にあっては、メモリ411
以外の論理素子(リードデークラッチ421、エラー検
出部431等)に生した障害が原因でエラーが発生した
場合に、メモリエラー(メモリ411のハードウェア障
害あるいは格納データのソフトウェア障害)を誤検出し
てしまうという問題点があった。
(Problem to be solved by the invention) By the way, in the above-mentioned conventional method, the memory 411
If an error occurs due to a failure in a logic element other than the above (read day clutch 421, error detection unit 431, etc.), a memory error (hardware failure in the memory 411 or software failure in stored data) is erroneously detected. There was a problem with this.

例えば、メモリ411から読み出したデータが正常であ
っても、エラー検出部431によってエラーを誤検出し
たときにエラー訂正部443でデータの訂正を行ない、
訂正されたデータ(誤ったデータ)をメモリ411に再
格納してしまう。特に、最近では論理素子の集積度が上
がるにつれて、メモリ411以外の論理素子において障
害が発生する頻度も増加しており、データのエラーを訂
正すると共に、メモリ411以外の素子の障害に対処す
ることのできる誤り訂正方式が望まれていた。
For example, even if the data read from the memory 411 is normal, when the error detection unit 431 erroneously detects an error, the error correction unit 443 corrects the data,
The corrected data (erroneous data) is stored again in the memory 411. In particular, recently, as the degree of integration of logic elements has increased, the frequency of failures occurring in logic elements other than the memory 411 has also increased, so it is necessary to correct data errors and deal with failures in elements other than the memory 411. There was a desire for an error correction method that could do this.

本発明は、このような点にがんかので創作されたちので
あり、メモリエラーの誤検出を防止することができる誤
り訂正方式を提供することを目的としている。
The present invention was created in consideration of these points, and an object of the present invention is to provide an error correction method that can prevent erroneous detection of memory errors.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は、本発明の誤り訂正方式の原理ブロック図であ
る。
FIG. 1 is a principle block diagram of the error correction method of the present invention.

図において、メモリー11は、誤り訂正符号を含むデー
タを格納する。
In the figure, memory 11 stores data including error correction codes.

データ保持手段121は、メモリー11から読み出した
データを格納する。
The data holding means 121 stores data read from the memory 11.

エラー検出手段131は、データ保持手段121に格納
されたデータに基づいてエラー検出を行なう。
The error detection means 131 performs error detection based on the data stored in the data holding means 121.

訂正手段141ば、エラー検出手段131でエラーを検
出したときに、データ保持手段121に格納されたデー
タの訂正を行ない、データ保持手段121に訂正データ
を格納する。
When the error detection means 131 detects an error, the correction means 141 corrects the data stored in the data holding means 121 and stores the corrected data in the data holding means 121.

判別手段151は、エラー検出手段131による検出結
果に基づいてエラー発生箇所の判別を行なう。
The determining means 151 determines the location where the error has occurred based on the detection result by the error detecting means 131.

従って、全体として、データにエラーが発生したときに
、訂正手段141でデータの訂正を行なってデータ保持
手段121に格納し、エラー検出手段131で再度エラ
ー検出を行なうように構成されている。
Therefore, as a whole, when an error occurs in data, the correction means 141 corrects the data and stores it in the data holding means 121, and the error detection means 131 performs error detection again.

〔作 用〕[For production]

メモリ111には誤り訂正符号を含むデータを格納する
。メモリ111からそのデータを読み出してデータ保持
手段121に格納し、エラー検出手段131はそのデー
タに基づいてエラー検出を行なう。
The memory 111 stores data including error correction codes. The data is read from the memory 111 and stored in the data holding means 121, and the error detection means 131 performs error detection based on the data.

エラー検出手段131でエラーを検出すると訂正手段1
41は、データ保持手段121に格納されているデータ
を訂正して、再度データ保持手段121に保持する。エ
ラー検出手段131ば、データ保持手段121に格繭さ
れた訂正データに基づいて再度エラー検出を行なう。
When the error detection means 131 detects an error, the correction means 1
41 corrects the data stored in the data holding means 121 and holds it in the data holding means 121 again. The error detection means 131 performs error detection again based on the corrected data stored in the data holding means 121.

判別手段151は、エラー検出手段131による検出結
果に応じて、エラー発生箇所の判別を行なう。
The determining means 151 determines the location where the error has occurred in accordance with the detection result by the error detecting means 131.

本発明にあっては、データにエラーが発生したときに訂
正手段141で訂正を行なってデータ保持手段121に
格納し、再度エラー検出を行なった結果に応じてエラー
発生箇所を判別することができるので、メモリエラーの
誤検出を防止することができる。
In the present invention, when an error occurs in data, the correction means 141 corrects the data, stores it in the data holding means 121, and detects the error again. Based on the result, the location where the error occurs can be determined. Therefore, erroneous detection of memory errors can be prevented.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings.

第2図は、本発明の誤り訂正方式を適用した一実施例の
構成を示す。
FIG. 2 shows the configuration of an embodiment to which the error correction method of the present invention is applied.

LUU’fUと直1゛′との・心苅保 ここて、本発明の実施例と第1図との対応関係を示して
おく。
Here, the correspondence between the embodiment of the present invention and FIG. 1 will be shown.

メモリ111は、制御記憶(以後C3と称する)211
に相当する。
The memory 111 includes a control memory (hereinafter referred to as C3) 211
corresponds to

データ保持手段121は、リートデークラッチ223に
相当する。
The data holding means 121 corresponds to the retard clutch 223.

エラー検出手段131は、エラー検出部231゜エラー
訂正制′41■部251に相当する。
The error detection means 131 corresponds to the error detection section 231° and error correction system'41-251.

訂正手段141は、エラー訂正部241に相当する。The correction means 141 corresponds to the error correction section 241.

判別手段151は、エラー訂正制御部251゜再実行フ
ラグ253に相当する。
The determining means 151 corresponds to the error correction control section 251 and the re-execution flag 253.

以上のような対応関係があるものとして、以下本発明の
実施例について説明する。
Examples of the present invention will be described below assuming that the correspondence relationship as described above exists.

1−」1齋別p」創に 第2図において、本発明の誤り訂正方式を適用したシス
テム(例えばコンピュータシステム)は、マイクロプロ
グラム及び対応するECCを格納するC3211と、読
み出したマイクロプログラムとECCとの比較を行なっ
てエラーを検出するエラー検出部231と、エラー検出
に伴う制御を行なうエラー訂正制御部251と、エラー
発生時にデータ(マイクロプログラム)の訂正を行なう
エラー訂正部241と、エラーの有無に応じたフラグを
格納する再実行フラグ253と、C3211に格納する
マイクロプログラム及びECCを保持するライトデーク
ラッチ263と、C3211から読み出したマイクロプ
ログラム及びECCを保持するり一ドデークラッチ22
3と、C3211に供給するアドレスデータを保持する
アドレスラッチ273と、エラー発生時のアドレスデー
タを保持するエラーアドレスラッチ275と、2人力の
一方を選択して出力する3つのセレクタ221゜261
.271とを備えでいる。
In FIG. 2, a system (for example, a computer system) to which the error correction method of the present invention is applied has a C3211 that stores a microprogram and a corresponding ECC, and a readout microprogram and ECC. an error detection section 231 that detects errors by comparing with the error detection section; an error correction control section 251 that performs control associated with error detection; an error correction section 241 that corrects data (microprogram) when an error occurs; A re-execution flag 253 that stores flags depending on the presence or absence, a write day clutch 263 that holds the microprogram and ECC stored in the C3211, and a write day clutch 22 that holds the microprogram and ECC read from the C3211.
3, an address latch 273 that holds address data to be supplied to the C3211, an error address latch 275 that holds address data when an error occurs, and three selectors 221 and 261 that select and output one of the two.
.. We are equipped with 271.

セレクタ271の第1入力端子にはC3211のアドレ
ス端子を行なうためのアドレスデータが導入される。セ
レクタ271の出力端はアドレスラッチ273の入力端
に接続されており、アドレスラッチ273の出力端はC
3211のアドレス端子及びエラーアドレスラッチ27
5の入力端に接続されている。エラーアドレスラッチ2
75の出力端はセレクタ271の第2入力端子に接続さ
れている。
Address data for performing the address terminal of C3211 is introduced into the first input terminal of the selector 271. The output terminal of the selector 271 is connected to the input terminal of the address latch 273, and the output terminal of the address latch 273 is connected to the C
3211 address terminal and error address latch 27
It is connected to the input terminal of 5. Error address latch 2
The output terminal of 75 is connected to the second input terminal of selector 271.

また、セレクタ261の第1入力端子にはC3211に
格納するライトデータ(マイクロプログラム及び対応し
たECC)が導入される。セレクタ261の出力端はラ
イトデークラッチ263の入力端に接続されており、ラ
イトデークラッチ263の出力端はC3211のデータ
端子(入力側)に接続されている。
Further, write data (microprogram and corresponding ECC) to be stored in the C3211 is introduced into the first input terminal of the selector 261. The output end of the selector 261 is connected to the input end of the light day clutch 263, and the output end of the light day clutch 263 is connected to the data terminal (input side) of the C3211.

C3211のデータ端子(出力側)から出力されるデー
タ(マイクロプログラム、ECC)は、セレクタ221
の第1入力端子に供給される。セレクタ221の出力端
はリートデークラッチ223の入力端に接続されており
、ソー1−データラッチ223の出力端はエラー検出部
231の入力端及びエラー訂正部241に接続されてい
る。
The data (microprogram, ECC) output from the data terminal (output side) of the C3211 is sent to the selector 221.
is supplied to the first input terminal of. The output end of the selector 221 is connected to the input end of the read-date clutch 223, and the output end of the saw 1-data latch 223 is connected to the input end of the error detection section 231 and the error correction section 241.

エラー検出部231は、リートデークラッチ223から
供給されるデータに基づいてエラー検出を行なう。検出
結果はエラー訂正制御部251に供給される。
The error detection unit 231 performs error detection based on data supplied from the retard clutch 223. The detection result is supplied to the error correction control section 251.

エラー訂正制御部251は、再実行フラグ253及びエ
ラー訂正部241に接続されており、エラー検出部23
]からの検出結果に応じて、再実行フラグ253のセッ
ト、リセットを行なうと共に、エラー訂正部241に指
示を送る。
The error correction control unit 251 is connected to the re-execution flag 253 and the error correction unit 241, and is connected to the error detection unit 23.
] In accordance with the detection result from the error correction unit 241, the re-execution flag 253 is set or reset, and an instruction is sent to the error correction unit 241.

尚、各ラッチ及び各セレクタにおいては、エラー訂正制
御部′251から送られてくる指示信号に応じて動作を
行なうものとし、図におけるエラー訂正制御部251と
の接続線は省略した。
It is assumed that each latch and each selector operate in response to an instruction signal sent from the error correction control section 251, and the connection line with the error correction control section 251 is omitted in the figure.

C3211にライトデータ(マイクロプログラム、EC
C)の書込みを行なう場合、先ずライトデータラッチ2
63は、セレクタ261を介して導入されたライトデー
タを保持し、それらはC3211のデータ端子(入力側
)に供給される。
Write data to C3211 (micro program, EC
When writing in C), first write data latch 2
63 holds the write data introduced via the selector 261, and these are supplied to the data terminal (input side) of C3211.

また、アドレスラッチ273は、セレクタ271を介し
て導入されたアドレスデータを保持し、そのアドレスデ
ータばC3211のアドレス端子に供給される。
Further, the address latch 273 holds address data introduced via the selector 271, and the address data is supplied to the address terminal of the C3211.

C3211は、アドレス端子に供給されたアドレスデー
タで指定される格納場所に、データ端子に供給されたラ
イトデータを格納する。
The C3211 stores the write data supplied to the data terminal in the storage location specified by the address data supplied to the address terminal.

C3211に格納されたマイクロプログラムを読み出す
場合、先ずアドレスランチ273は、セレクタ271を
介して導入されたアドレスデータを保持し、そのアドレ
スデータはC3211のアドレス端子に供給される。
When reading the microprogram stored in the C3211, the address launch 273 first holds the address data introduced via the selector 271, and the address data is supplied to the address terminal of the C3211.

C3211は、供給されたアドレスデータによって指定
される場所に格納されているマイクロプログラム及びE
CCを出力する。それらのデータはセレクタ221を介
してリードデータラッチ223に保持される。リードデ
ークラッチ223に保持されたマイクロプログラムは、
処理装置等(図示せず)に取り込まれて実行される。
C3211 executes the microprogram and E stored in the location specified by the supplied address data.
Output CC. These data are held in read data latch 223 via selector 221. The microprogram held in the read day clutch 223 is
The data is loaded into a processing device (not shown) and executed.

皿−二り洛倒II加備 次に、上述した本発明実施例の動作を説明する。Plate - Two Rakutō II additions Next, the operation of the embodiment of the present invention described above will be explained.

いま、マイクロプログラムに対応するECCとしては、
1ビットエラー訂正、2ビットエラー検出用の符号を考
えるものとし、実施例で検出するエラーは、1ビツトエ
ラーあるいは2ピツI・エラーの何れかであるものとす
る。
Currently, as an ECC that supports microprograms,
Let us consider a code for 1-bit error correction and 2-bit error detection, and assume that the error detected in the embodiment is either a 1-bit error or a 2-bit error.

第3図に、実施例における動作手順を示す。FIG. 3 shows the operating procedure in the embodiment.

」±1正正常化苛 先ず、C3211からマイクロプログラム及びFCCの
読出しを行なう(ステップ311)。読み出したこれら
のデータはり−ドブ−クラッチ223に保持する。
''±1 Normalization First, the microprogram and FCC are read from the C3211 (step 311). These read data are held in the beam-dove-clutch 223.

次に、エラー検出部231ば、読み出したデータのエラ
ー検出を行なう(ステップ312)。検出結果として、
エラー検出の有無、1ビツトエラーか2ビツトエラーか
等の情報がエラー訂正制御部251に送られる。
Next, the error detection unit 231 performs error detection on the read data (step 312). As a detection result,
Information such as whether an error has been detected and whether it is a 1-bit error or a 2-bit error is sent to the error correction control section 251.

次に、エラー訂正制御部251は、再実行処理であるか
否かの判定を行なう(ステップ313)。
Next, the error correction control unit 251 determines whether or not it is a re-execution process (step 313).

C3211から読み出したデータに対する1回目のエラ
ー検出処理のとき(再実行フラグ253がリセットされ
た状態のとき)は否定判断し、エラーが発生したか否か
の判定を行なう(ステップ314)。エラーを検出しな
かったときは否定判断する。
During the first error detection process for data read from the C3211 (when the re-execution flag 253 is in a reset state), a negative determination is made and it is determined whether an error has occurred (step 314). If no error is detected, a negative determination is made.

以後、ステップ311に戻って処理を繰り返す。Thereafter, the process returns to step 311 and repeats the process.

エラー訂正制御部251からアドレスラッチ273に指
示を送り、次のマイクロプログラムの読出しを行なう。
The error correction control unit 251 sends an instruction to the address latch 273 to read the next microprogram.

(ii 2ヒツトエラー 生■ ステップ314の判定で肯定判断(エラー発生の場合)
すると、次にエラー訂正制御部251は、発生したエラ
ーは2ピツ1〜エラーであるか否かの判定を行なう(ス
テップ315)。2ビツトエラーが発生したときは肯定
判断を行なう。
(ii 2-hit error raw ■ Affirmative judgment in step 314 (if an error occurs)
Then, the error correction control unit 251 determines whether the error that has occurred is a 2-pits-1 error (step 315). If a 2-bit error occurs, an affirmative determination is made.

次に、エラー訂正制御部251はマイクロプログラムの
読出し処理を停止する(ステップ316)と共に、障害
発生の通知を行なって(ステップ317)、処理を終了
する。例えば、外部の処理装置8 置に2ビツトエラー発生を示すためのエラー信号を送っ
たり、2ビツトエラー用の警告ランプを点灯させたりす
る。
Next, the error correction control unit 251 stops the microprogram reading process (step 316), notifies the user of the occurrence of a failure (step 317), and ends the process. For example, it sends an error signal to the external processing device 8 to indicate the occurrence of a 2-bit error, or lights up a 2-bit error warning lamp.

1i110 の1ヒツトエラー 生■、ステップ315
の判定で否定判断(2ピツI・エラーでない場合、つま
り1ビットエラーの場合)すると、次にエラー訂正制御
部251は、再実行フラグ253のセット(データ″1
”″の格納)を行なう(ステップ318)。
1i110 1 hit error raw■, step 315
If the determination is negative (if it is not a 2-bit error, that is, if it is a 1-bit error), then the error correction control unit 251 sets the re-execution flag 253 (data "1").
"" is stored) (step 318).

また、エラー訂正制御部251は、エラー訂正部241
に訂正指示を送り、エラー訂正部241はその指示に応
してマイクロプログラムの訂正を行なう(ステップ31
9)。エラー訂正部241は、リードデークラッチ22
3に保持されたマイクロプログラム及びECCを読み出
して、マイクロプログラムの中のエラーピットの訂正を
行なう。
The error correction control unit 251 also controls the error correction unit 241.
The error correction unit 241 corrects the microprogram according to the instruction (step 31).
9). The error correction unit 241
The microprogram and ECC held in 3 are read out, and error pits in the microprogram are corrected.

次に、その訂正されたマイクロプログラム及び対応する
ECCをC3211に格納する(ステップ320)。セ
レクタ271を切り替えて、エラーアドレスラッチ27
5に保持されたエラー発生時のアドレスデータをアドレ
スラッチ273に保持する。アドレスラッチ273に保
持されたアドレスデータはC3211のアドレス端子に
供給される。また、セレクタ261を切り替えて、訂正
後のマイクロプログラム及びECCをライトデータラッ
ヂ263に保lへする。ライ1−データラッチ263に
保持されたそれらのデータはC3211のデータ端子に
供給される。
Next, the corrected microprogram and the corresponding ECC are stored in the C3211 (step 320). By switching the selector 271, the error address latch 27
The address data at the time of error occurrence, which is held in 5, is held in the address latch 273. The address data held in the address latch 273 is supplied to the address terminal of the C3211. Also, the selector 261 is switched to hold the corrected microprogram and ECC in the write data latch 263. Those data held in the write 1-data latch 263 are supplied to the data terminal of the C3211.

また、セレクタ221を切り替えて、訂正後のマイクロ
プロクラム及びECCをリードデークラッチ223に保
持する(ステップ321)。
Further, the selector 221 is switched to hold the corrected microprogram and ECC in the read day clutch 223 (step 321).

以後、ステップ312(エラー検出)に戻って処理を繰
り返す。
Thereafter, the process returns to step 312 (error detection) and repeats the process.

」立升再尖往時 ステップ313の判定で肯定判断(ステップ318にお
いて再実行フラグ253がセットされた場合)すると、
次にエラー訂正制御部251は、マイクロプログラムの
読出し処理を停止する(ステップ322)と共に、エラ
ーが発生したか否かの判定を行なう(ステップ323)
” If the determination in step 313 is affirmative (if the re-execution flag 253 is set in step 318),
Next, the error correction control unit 251 stops the microprogram reading process (step 322) and determines whether an error has occurred (step 323).
.

肯定判断するとエラー訂正制御部251は、C8211
に障害が発生したことを示すエラー信号を出力して(ス
テップ324)、処理を終了する。
If an affirmative determination is made, the error correction control unit 251 performs C8211
An error signal indicating that a failure has occurred is output (step 324), and the process ends.

また、ステップ324で否定判断すると、C8211以
外のセレクタ221.リードデークラッチ223.エラ
ー検出部231.エラー訂正部241の何れかに障害が
発生したことを示すエラー信号を出力して(ステップ3
25)、処理を終了する。
Further, if a negative determination is made in step 324, the selector 221 other than C8211. Lead day clutch 223. Error detection unit 231. An error signal indicating that a failure has occurred in any of the error correction units 241 is output (step 3).
25), the process ends.

■、 −乍Iのまとめ このように、C3211にマイクロプログラムと対応す
るECC&を格納しておき、C3211から読め出した
それらのデータをリートデータラッチ223に格納する
。エラー検出部231はそのデータのエラーを検出し、
データにエラーがないときは、C3211からのデータ
の読出しを絹ユ続する。
(2) - Summary of I In this way, the microprogram and the corresponding ECC & are stored in the C3211, and the data read from the C3211 is stored in the read data latch 223. The error detection unit 231 detects an error in the data,
If there is no error in the data, data reading from C3211 is continued.

また、C3211から読み出したデータ(C8211か
らリードデークラッチ223に供給されたデータ)に1
ヒツトエラーがあったときは、エラー訂正部241でデ
ータの訂正を行ない、訂正データをC3211に書き込
むと共にリードデークラッチ223に保持する。
Also, 1 is added to the data read from C3211 (data supplied from C8211 to read day clutch 223).
When there is a hit error, the error correction section 241 corrects the data, writes the corrected data to the C3211, and holds it in the read data clutch 223.

次に、リードデークラッチ223に保持された訂正デー
タに対してエラー検出を行ない、再度のエラーが発生し
た場合はC3211に障害があるものと判定し、再度の
エラーが発生しなかった場合はC3211以外の論理素
子に障害があるものと判定する。
Next, error detection is performed on the corrected data held in the read day clutch 223, and if another error occurs, it is determined that there is a failure in C3211, and if no error occurs again, C3211 It is determined that there is a fault in a logic element other than the above.

尚、エラー検出部231で2ビツトエラーを検出した場
合は、データの訂正が不可能であり、上述の障害箇所判
別も不可能であるので、2ビツトエラーを外部に通知し
て処理を終了する。
If the error detection unit 231 detects a 2-bit error, it is impossible to correct the data and it is also impossible to determine the location of the fault as described above, so the 2-bit error is notified to the outside and the process is terminated.

従って、C3211から読み出したデータにエラーが発
生したときに、そのデータを訂正すると共に、再度その
訂正データに対してエラー検出を行なうことにより、エ
ラー発生の障害箇所を判定(C321]かそれ以外の論
理素子かの判定)できるので、メモリエラーの誤検出を
防止することがてきる。
Therefore, when an error occurs in the data read from C3211, by correcting the data and performing error detection again on the corrected data, you can determine the fault location where the error occurred (C321) or (Whether it is a logic element or not) can prevent erroneous detection of memory errors.

]四【診態■ なお、上述した本発明の実施例にあっては、C8211
としてマイクロプログラムを格納する制御記憶を考えた
が、他のメモリ(ROM、RAM等)についても本発明
を適用することができる。
]4 [Diagnosis ■] In addition, in the embodiment of the present invention described above, C8211
Although a control memory for storing microprograms has been considered, the present invention can also be applied to other memories (ROM, RAM, etc.).

メモリとしてROM等の読出し専用の素子を考えた場合
には、第3図におけるステップ320の処理(メモリの
書替え)を省略する。
When a read-only element such as a ROM is considered as the memory, the process of step 320 (memory rewriting) in FIG. 3 is omitted.

また、実施例のECCとしては、1ビットエラー訂正、
2ビツトエラー検出のものを考えたが、対応するデータ
を訂正することができるものであれば何でもよい。
In addition, the ECC of the embodiment includes 1-bit error correction,
Although we have considered a method that detects 2-bit errors, any method that can correct the corresponding data may be used.

更に、「1.実施例と第1図との対応関係」において、
本発明と実施例との対応関係を説明しておいたが、これ
に限られることはなく、本発明には各種の変形態様があ
ることは当業者であれば容易に推考できるであろう。
Furthermore, in "1. Correspondence between Examples and FIG. 1",
Although the correspondence between the present invention and the embodiments has been described, those skilled in the art will easily assume that the present invention is not limited to this and that there are various modifications.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述したように、本発明によれば、データにエラーが発
生したときに訂正手段で訂正を行なってデータ保持手段
に格納し、再度エラー検出を行なった結果に応してエラ
ー発生個所を判別することができるので、メモリエラー
の誤検出を防止することができるので、実用的には極め
て有用である。
As described above, according to the present invention, when an error occurs in data, the correction means corrects the data and stores the corrected data in the data holding means, and the location where the error occurs is determined based on the result of error detection again. Therefore, it is possible to prevent erroneous detection of memory errors, which is extremely useful in practice.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の誤り訂正方式の原理ブロック図、第2
図は本発明の誤り訂正方式を適用した一実施例の構成図
、 第3図は実施例の動作説明図、 第4図は従来例の構成図、 第5図は従来例の動作説明図である。 図において、 111はメモリ、 121はデータ保持手段、 131はエラー検出手段、 141は訂正手段、 151は判別手段、 211はC3, 221,261,271はセレクタ、 223はリードデークラッチ、 231はエラー検出部、 241はエラー訂正部、 251はエラー訂正制御部、 253は再実行フラグ、 263はライトデークラッチ、 273はアドレスラッチ、 275はエラーアドレスラッチである。 本を叩0I(fi理フパDワク恥 第1図 了P土ス       遺買入み、 を才象)のb作浣6日図 第5図 を牟創Q構吸図 第4図
Fig. 1 is a principle block diagram of the error correction method of the present invention, Fig. 2
The figure is a block diagram of an embodiment to which the error correction method of the present invention is applied, Figure 3 is an explanatory diagram of the operation of the embodiment, Figure 4 is a diagram of the configuration of a conventional example, and Figure 5 is an explanatory diagram of the operation of the conventional example. be. In the figure, 111 is a memory, 121 is a data holding means, 131 is an error detection means, 141 is a correction means, 151 is a discrimination means, 211 is a C3, 221, 261, 271 are selectors, 223 is a read day clutch, 231 is an error 241 is an error correction unit, 251 is an error correction control unit, 253 is a re-execution flag, 263 is a write day clutch, 273 is an address latch, and 275 is an error address latch. I hit the book 0I (Fi Ri Fu Pa D Waku Shame 1st Figure ryo P soil purchase, I was talented) B's work 6 days Figure 5 Mu So Q composition diagram Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)誤り訂正符号を含むデータを格納するメモリ(1
11)と、 前記メモリ(111)から読み出したデータを格納する
データ保持手段(121)と、 前記データ保持手段(121)に格納されたデータに基
づいてエラー検出を行なうエラー検出手段(131)と
、 前記エラー検出手段(131)でエラーを検出したとき
に、前記データ保持手段(121)に格納されたデータ
の訂正を行ない、前記データ保持手段(121)に訂正
データを格納する訂正手段(141)と、 前記エラー検出手段(131)による検出結果に基づい
てエラー発生箇所の判別を行なう判別手段(151)と
、 を備え、エラーが発生したときに、前記訂正手段(14
1)でデータの訂正を行ない、訂正データに関するエラ
ーの有無によってエラー発生箇所を判別するように構成
したことを特徴とする誤り訂正方式。
(1) Memory (1
11), a data holding means (121) for storing data read from the memory (111), and an error detecting means (131) for detecting errors based on the data stored in the data holding means (121). , correction means (141) for correcting the data stored in the data holding means (121) and storing the corrected data in the data holding means (121) when the error detecting means (131) detects an error; ), and determining means (151) for determining the location of the error occurrence based on the detection result by the error detecting means (131), and when an error occurs, the correcting means (14)
An error correction system characterized in that the data is corrected in step 1) and the location where the error occurs is determined based on the presence or absence of an error in the corrected data.
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