JPS6327940A - Storage controller - Google Patents
Storage controllerInfo
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- JPS6327940A JPS6327940A JP61172128A JP17212886A JPS6327940A JP S6327940 A JPS6327940 A JP S6327940A JP 61172128 A JP61172128 A JP 61172128A JP 17212886 A JP17212886 A JP 17212886A JP S6327940 A JPS6327940 A JP S6327940A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はデータ処理装置の記憶制御装置が記憶装置か
ら読出したデータ中1=符号誤り(以下エラーと言う)
があることを検出した場合の処理に関し、特に読出した
データには、1ビットのエラーを訂正することができ、
2ビット以上のエラーがあるときは、2ビット以上のエ
ラーがあるということを検出することができるECC(
errorcorrecting code 、誤り訂
正符号)が附加されている場合の処理(=関するもので
ある。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention detects a code error (hereinafter referred to as an error) of 1 in data read from a storage device by a storage control device of a data processing device.
Regarding processing when it is detected that there is a 1-bit error in the read data,
When there is an error of 2 bits or more, ECC (
This relates to processing when an error correcting code (error correcting code) is added.
第2図は従来の記憶制御装置の構成を示すブロック図で
ある。図において、(1)は記憶装置、(2)は記憶制
御装置、(3)は処理装置、(4)は制御回路、(5)
はアドレス生成回路、(6)はECC回路、(7)はア
ドレスレジスタ、(8)はデータレジスタ、(9)はシ
ンドロームレジスタ、(lO)はエラー検出信号である
。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a conventional storage control device. In the figure, (1) is a storage device, (2) is a storage control device, (3) is a processing device, (4) is a control circuit, and (5) is a storage device.
is an address generation circuit, (6) is an ECC circuit, (7) is an address register, (8) is a data register, (9) is a syndrome register, and (1O) is an error detection signal.
記憶装置(1)へデータ(この明細書でデータと言うと
きは命令をも含むものとする〕を書込む場合は、処理装
置(3)から、書込むべきデータがデータレジスタ(8
)にセットされ、そのデータを書込むべき記憶装置の論
理アドレスがアドレスレジスタ(7)にセットされる。When writing data (in this specification, data includes instructions) to the storage device (1), the data to be written is sent from the processing device (3) to the data register (8).
), and the logical address of the storage device to which the data is to be written is set in the address register (7).
データレジスタ(8)にセットされたデータはECC回
路(6)に入力されECCのビットが付加されて記憶装
置(1)に送られる。一方アドレスレジスタ(7)にセ
ットされた論理アドレスは、制御回路(4)とアドレス
生成回路(5)とによって記憶装置(1)の物理アドレ
スに変換されて、この物理アドレスで記憶装置(1)に
アクセスしてそのアドレス位置へECCの付加されたデ
ータを書込む。The data set in the data register (8) is input to the ECC circuit (6), an ECC bit is added thereto, and the data is sent to the storage device (1). On the other hand, the logical address set in the address register (7) is converted into a physical address of the storage device (1) by the control circuit (4) and the address generation circuit (5), and the physical address of the storage device (1) is converted to a physical address of the storage device (1). access and write the ECC-added data to that address location.
次に、記憶装置fi+からデータを読出すときは、アド
レス生成回路(5)の出力で記憶装置(1)にアクセス
し、記憶装置(1)から読出されたECCの附加された
データはECC回路(6)によってエラーの有無が検査
され、そのうちのデータ部がデータレジスタ(8)にセ
ットされる。書込みのときデータに付加されるECCは
1ビットのエラーは自動的に訂正することが可能であり
、2ビット以上のエラーであれば、2ビット以上のエラ
ーが存在することを検出することができるよう(=構成
されているとする。Next, when reading data from the storage device fi+, the storage device (1) is accessed using the output of the address generation circuit (5), and the ECC-added data read from the storage device (1) is processed through the ECC circuit. In step (6), the presence or absence of an error is checked, and the data portion thereof is set in the data register (8). The ECC added to data when writing can automatically correct a 1-bit error, and can detect the existence of a 2-bit or more error. Assume that it is configured as follows.
読出した信号に対するECC回路(6)の検査結果はイ
)エラーなし。(ロ))エラーは存在するが訂正可能で
ある。H訂正不可能なエラーが存在する。The test result of the ECC circuit (6) for the read signal is a) No error. (b)) Errors exist but can be corrected. H There is an uncorrectable error.
の3種類に分類される。イ)のエラーなしの場合はデー
タレジスタ(8)の内容がそのまま処理装置(3)に出
力され、(ハ)の訂正不可能なエラーが存在する場合は
訂正不可能なエラー発生に対する処理が実行されるが、
このイ)とHの場合は、従来の装置における動作とこの
発明の装置における動作との間に差異がなく、従ってこ
の発明には直接の関係はないのでその説明を省略する。It is classified into three types. If there is no error (b), the contents of the data register (8) are output as is to the processing device (3), and if there is an uncorrectable error (c), processing for the uncorrectable error is executed. However,
In the case of A) and H, there is no difference between the operation in the conventional device and the operation in the device of the present invention, and therefore, there is no direct relationship to the present invention, so the explanation thereof will be omitted.
(Olのエラーは存在するが訂正可能である、才なわち
上述の例では1ビットのエラーである場合、ECC回路
(6)はそのエラーがどのビットに存在するかを定め、
これをシンドロームレジスタ(9)に−時記憶し、かつ
、データレジスタ(8)中のエラービットを訂正し、エ
ラー検出信号(10)を出力する(すなわち信号(lO
〕の論理を有意にする)。(If the error exists but is correctable, i.e., it is a 1-bit error in the above example, the ECC circuit (6) determines in which bit the error exists,
This is stored in the syndrome register (9), the error bit in the data register (8) is corrected, and the error detection signal (10) is output (that is, the signal (lO
] makes the logic significant).
この場合、データレジスタ(8)の内容は既に訂正済で
あって、処理装置(3)ではこれをそのまま利用するこ
とができるが、従来の装置では、発生したエラーを分析
し、綜合的な信頼性を向上するため、発生したエラーの
記録を残していた。すなわち、エラー検出信号(lO)
が出力されると、処理装置(3)はエラー処理のプログ
ラムを起動し、そのときのアドレスの値及びシンドロー
ムレジスタ(9)の内容をエラーログとしてファイルに
蓄積した。In this case, the contents of the data register (8) have already been corrected and can be used as is in the processing device (3), but in conventional devices, the error that has occurred is analyzed and the overall reliability is determined. In order to improve performance, records of errors that occurred were kept. That is, the error detection signal (lO)
When this is output, the processing device (3) starts an error processing program, and stores the address value and the contents of the syndrome register (9) at that time in a file as an error log.
以上のように従来の装置では、データレジスタ(8)の
内容が既に訂正されていて正しくなっているにもかかわ
らず常にエラー処理プログラムが実行されるため、この
ことが処理装置(3)の効率を低下する原因となる。こ
れを避けるため、訂正可能なエラーの発生を示すエラー
検出信号に対してはエラー処理プログラムを実行しない
ようにしたのでは、訂正可能なエラーのうちエラーログ
に記録しておく必要のあるエラーまで逸してしまうとい
う問題点があった。As described above, in conventional devices, the error handling program is always executed even though the contents of the data register (8) have already been corrected and are correct, which reduces the efficiency of the processing device (3). This causes a decrease in In order to avoid this, the error processing program is not executed in response to an error detection signal that indicates the occurrence of a correctable error. There was a problem with it being missed.
この発明は上記のような問題点を解決するため1:なさ
れたもので、エラーログに記録しておく必要のあるエラ
ーは必ず記録することができると共に冗長な記録は自動
的に省略することができる記憶制御装置を得ることを目
的とする。This invention was made to solve the above-mentioned problems (1).Errors that need to be recorded in the error log can be recorded without fail, and redundant records can be automatically omitted. The purpose is to obtain a storage control device that can
記憶装置の構成から考えると、一定のアドレス範囲で発
生するエラーのシンドロームは一定のものとなる確率が
多いので、この発明の装置では一定のアドレス範囲内で
同一シンドロームの訂正可能なエラーが発生したときは
、最初に発生したエラーだけをエラーログに記録し、異
径(二発生する同一シンドロームのエラーは冗長な情報
として記録を省略した。Considering the configuration of the storage device, there is a high probability that the syndrome of errors that occur within a certain address range will be the same. Therefore, in the device of this invention, correctable errors of the same syndrome occur within a certain address range. In this case, only the first error that occurred was recorded in the error log, and errors with the same syndrome that occurred twice were omitted from being recorded as redundant information.
この発明では一回前のシンドロームレジスタの値を一時
記憶するシンドロームバックアップレジスタと、そのシ
ンドロームバックアップレジスタの内容のシンドローム
が発生したときのアドレスの上位ビットを一時記憶する
アドレスバックアップレジスタとを設け、シンドローム
バックアップレジスタの内容とアドレスバックアップレ
ジスタの内容とを連結した第1の信号と、シンドローム
レジスタの内容とアドレスレジスタの上位ビットとを連
結した第2の信号とのビットパタンを比較する比較回路
を設けて比較回路の出力が両入力のビットパタンの不一
致を示すときだけ、シンドロームレジスタの内容とアド
レスレジスタの上位ビットとを記録することにした。This invention provides a syndrome backup register that temporarily stores the value of the previous syndrome register, and an address backup register that temporarily stores the upper bits of the address when the syndrome of the contents of the syndrome backup register occurs. A comparison circuit is provided to compare the bit patterns of a first signal in which the contents of the register and the contents of the address backup register are concatenated, and a second signal in which the contents of the syndrome register and the upper bits of the address register are concatenated. We decided to record the contents of the syndrome register and the upper bits of the address register only when the output of the circuit indicates a mismatch between the bit patterns of both inputs.
以下この発明の実施例を図面について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図で、第1
図において第2図と同一符号は同−又は相当部分を示し
、(7a)は一回前に発生した訂正可能なエラーに対応
するアドレスレジスタの内容のうちの所定ビット数の上
位ビットを記憶するアドレスバックアップレジスタであ
る。たとえば、記憶装置(1)の記憶素子として256
にビット/チップの素子を使用したとして、この素子中
の任意のビットにアクセスするためには18ビット(2
=256x2 )のアドレス信号を必要とし、アドレ
ス信号全体のビット数が22ビットであるとすれば22
−18 = 4が上位ビットのビット数となる。従って
上位ビットのビット数が零の場合も存在する。この場合
はバックアップアドレスレジスタ(7a)の必要はない
が、この発明ではこのように上位ビットのビット数が零
である場合をも含んで便宜的にアドレスバックアップレ
ジスタ(7a)に記憶するということにする。(9a)
は一回前;二発生した訂正可能なエラーに関するシンド
ロームを記憶するシンドロームバックアップレジスタ、
(10a)はエラー処理信号、(11)は比較回路であ
る。比較回路(11)はエラー検出信号(lO)がセッ
トされた時点で、アドレスバックアップレジスタ(7a
)の内容とシンドロームバックアップレジスタ(9a)
の内容とを連結した第1の信号とアドレスレジスタ(7
)の上位ビットとシンドロームレジスタ(9)の内容と
を連結した第2の信号とのビットパタンを比較し両者の
ビットパタンか不一致のときだけエラー処理信号(10
a )を出力するよう動作する。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
In the figure, the same symbols as in Figure 2 indicate the same or equivalent parts, and (7a) stores the upper bits of a predetermined number of bits of the contents of the address register corresponding to the correctable error that occurred one time before. This is an address backup register. For example, as a memory element of the memory device (1), 256
If we use a bit/chip element for the
= 256x2), and if the total number of bits of the address signal is 22 bits, then 22
-18 = 4 is the number of upper bits. Therefore, there are cases where the number of upper bits is zero. In this case, there is no need for the backup address register (7a), but in this invention, even when the number of upper bits is zero, it is stored in the address backup register (7a) for convenience. do. (9a)
a syndrome backup register that stores syndromes related to correctable errors that have occurred;
(10a) is an error processing signal, and (11) is a comparison circuit. The comparison circuit (11) registers the address backup register (7a) when the error detection signal (lO) is set.
) contents and syndrome backup register (9a)
The first signal concatenated with the contents of address register (7
) is compared with a second signal which is a concatenation of the contents of the syndrome register (9), and only when the bit patterns of the two do not match, the error processing signal (10
a).
次に第1図に示す装置の動作について説明する。Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 1 will be explained.
記憶装置(1)にデータを書込むときの動作、記憶装置
(1)から読出されたデータがECC回路(6)の検査
によりエラーなしと判定されたときの動作、及び記憶装
置(1)から読出されたデータがECC回路(6)の検
査により訂正不能なエラーがあると判定されたときの動
作は、第1図に示す装置と第2図に示す装置とで同一で
あるのでその説明を省略する。The operation when writing data to the storage device (1), the operation when the data read from the storage device (1) is determined to be error-free by the inspection of the ECC circuit (6), and the operation from the storage device (1) The operation when it is determined that the read data has an uncorrectable error by checking the ECC circuit (6) is the same for the device shown in FIG. 1 and the device shown in FIG. 2, so a description thereof will be given below. Omitted.
次に、記憶装置(1)から読出されたデータに訂正可能
なエラーが存在した場合の処理のS備として、初期化の
段階でアドレスバックアップレジスタ(7a) とシ
ンドロームバックアップレジスタ(9a)の内容をリセ
ットしておく。Next, the contents of the address backup register (7a) and syndrome backup register (9a) are saved at the initialization stage as a precautionary measure in case a correctable error exists in the data read from the storage device (1). Reset it.
第2図について説明したと同様、ECC回路(6)で訂
正可能なエラーを検出したときは、エラー検出信号(1
0)を出力し、データレジスタ(8)のうちの誤りビッ
トを訂正し、かつ誤りビットの位置を示す情報をシンド
ロームレジスタ(9)にセットする。As explained with reference to FIG. 2, when the ECC circuit (6) detects a correctable error, the error detection signal (1
0), corrects the error bit in the data register (8), and sets information indicating the position of the error bit in the syndrome register (9).
エラー検出信号(10)が出力されると比較回路(11
)はアドレスバックアップレジスタ(7a)の内容とシ
ンドロームバックアップレジスタ(9a)の内容を連結
した第1の信号と、アドレスレジスタ(7)の上位ビッ
トとシンドロームレジスタ(9)の内容を連結した第2
の信号とのビットパタンを比較する。初期化の段階でレ
ジスタ(7,a)、(9a)はリセットされているので
、最初のエラー検出信号(10)が出力された時点では
比較回路(11)の比較結果は不一致となり、エラー処
理信号(10a)が出力される。When the error detection signal (10) is output, the comparison circuit (11)
) is a first signal in which the contents of the address backup register (7a) and syndrome backup register (9a) are concatenated, and a second signal in which the upper bits of the address register (7) and the contents of the syndrome register (9) are concatenated.
Compare the bit pattern with the signal. Since the registers (7, a) and (9a) are reset at the initialization stage, the comparison result of the comparator circuit (11) becomes inconsistent when the first error detection signal (10) is output, and error processing is performed. A signal (10a) is output.
エラー処理信号(10a)により処理装!(3)はエラ
ー処理のプログラムを起動する。エラー処理信号が発せ
られた後、アドレスレジスタ(7)の上位ビットがアド
レスバックアップレジスタ(7a)にセットされ、シン
ドロームレジスタ(9)の内容がシンドロームバックア
ップレジスタ(9a)にセットされる。Processing device by error processing signal (10a)! (3) starts an error handling program. After the error processing signal is issued, the upper bit of the address register (7) is set to the address backup register (7a), and the contents of the syndrome register (9) are set to the syndrome backup register (9a).
@2回目にエラー検出信号(10)が出力された場合、
比較回路(11)における比較の結果が一致を示したと
すれば、エラー処理信号(10a)は出力されず、処理
装置(3)はデータレジスタ(8)上の訂正されたデー
タを利用するだけで、エラー処理プログラムは起動しな
い。これは同一アドレス範囲内での同一シンドロームの
エラーは同一のメモリ素子の故障に原因するものと考え
られ一個のエラーデータについての配量を残せば足りる
からである。@If the error detection signal (10) is output for the second time,
If the comparison result in the comparison circuit (11) shows a match, the error processing signal (10a) is not output and the processing device (3) only uses the corrected data on the data register (8). , the error handling program does not start. This is because errors of the same syndrome within the same address range are considered to be caused by a failure of the same memory element, and it is sufficient to leave a quota for one piece of error data.
アドレス領域が異るか又はシンドロームが異なる新しい
種類のエラーが発生したときは比較回路(11)による
比較結果は不一致を示し、この新しい種類のエラーは記
録される。When a new type of error with a different address area or a different syndrome occurs, the comparison result by the comparator circuit (11) indicates a mismatch, and this new type of error is recorded.
以上のようにこの発明によれば、同一種類のエラーが頻
繁に発生する場合、そのうちの最初に発生したエラーの
記録だけを残すことができるので、冗長な情報を記録す
るために処理装置の効率を低下しなくてすむという効果
がある。As described above, according to the present invention, when the same type of error occurs frequently, it is possible to leave a record of only the error that occurs first, so that the processing device can be efficiently used to record redundant information. This has the effect that there is no need to reduce the
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は従来の装置を示すブロック図。
Filは記憶装置、(2)は記憶制御装置、(3)は処
理装置、(6)はECC回路、(7)はアドレスレジス
タ、(7a)はアドレスバックアップレジスタ、(8)
はデータレジスタ、(9)はシンドロームレジスタ、(
9a)はシンドロームバックアップレジスタ、(10)
はエラー検出信号、(10a)はエラー処理信号、(1
1)は比較回路。
尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional device. Fil is a storage device, (2) is a storage control device, (3) is a processing device, (6) is an ECC circuit, (7) is an address register, (7a) is an address backup register, (8)
is the data register, (9) is the syndrome register, (
9a) is the syndrome backup register, (10)
is an error detection signal, (10a) is an error processing signal, (1
1) is a comparison circuit. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
を検査し、そのエラーが1ビットのエラーであればこれ
を修正することができる誤り訂正符号(以下ECCとい
う)を付加して書込み、上記記憶装置からディジタル信
号を読出す場合、読出したディジタル信号のエラーの有
無を上記ECCにより検査し、そのエラーが1ビットの
エラーであればこれを修正して出力する機構を有する記
憶制御装置において、 上記記憶装置を読出すためのアドレス信号を一時記憶す
るアドレスレジスタ、 上記記憶装置から読出されたECCを含むディジタル信
号が入力されるECC回路、 このECC回路において訂正可能なエラーを検出したと
き出力されるエラー検出信号、 上記ECC回路において上記エラーを検出したときその
エラーのシンドロームが入力されて一時記憶されるシン
ドロームレジスタ、 一回前に発生した訂正可能なエラーに関するシンドロー
ムを記憶するシンドロームバックアップレジスタ、 上記一回前に発生した訂正可能なエラーに対応するアド
レスレジスタの内容のうちの所定ビット数の上位ビット
を記憶するアドレスバックアップレジスタ、 このアドレスバックアップレジスタと上記シンドローム
バックアップレジスタとの内容を初期化の時点でリセッ
トする手段、 上記エラー検出信号が出力された状態で上記アドレスレ
ジスタの上記上位ビットと上記シンドロームレジスタの
内容を連結した信号と上記アドレスバックアップレジス
タと上記シンドロームバックアップレジスタの内容を連
結した信号とを比較する比較回路、 この比較回路の出力が比較不一致を示すときにエラー処
理信号を出力し、かつ、上記アドレスバックアップレジ
スタに上記アドレスレジスタの内容の上記上位ビットを
入力し、上記シンドロームバックアップレジスタに上記
シンドロームレジスタの内容を入力する手段、 上記エラー処理信号によりエラー処理プログラムを発動
する手段、 を備えたことを特徴とする記憶制御装置。[Claims] When writing a digital signal to a storage device, an error correction code (hereinafter referred to as ECC) is added that can check for errors and correct them if the error is a 1-bit error. When a digital signal is read from the storage device, the read digital signal is checked for an error using the ECC, and if the error is a 1-bit error, it is corrected and output. In a storage control device, an address register temporarily stores an address signal for reading out the storage device, an ECC circuit to which a digital signal including ECC read from the storage device is input, and a correctable error in the ECC circuit. an error detection signal that is output when the error is detected; a syndrome register into which the syndrome of the error is input and temporarily stored when the ECC circuit detects the error; and a syndrome register that stores the syndrome related to the correctable error that occurred the previous time. a syndrome backup register; an address backup register that stores a predetermined number of high-order bits of the contents of the address register corresponding to the correctable error that occurred one time before; the contents of this address backup register and the syndrome backup register; means for resetting at the time of initialization, a signal which concatenates the upper bits of the address register and the contents of the syndrome register, and the contents of the address backup register and the syndrome backup register while the error detection signal is output. a comparison circuit that compares the connected signals; outputs an error processing signal when the output of this comparison circuit indicates a comparison mismatch; and inputs the upper bits of the contents of the address register to the address backup register; A storage control device comprising: means for inputting the contents of the syndrome register into a syndrome backup register; and means for activating an error processing program in response to the error processing signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61172128A JPS6327940A (en) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | Storage controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61172128A JPS6327940A (en) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | Storage controller |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6327940A true JPS6327940A (en) | 1988-02-05 |
Family
ID=15936081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61172128A Pending JPS6327940A (en) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | Storage controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6327940A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0648367U (en) * | 1992-11-27 | 1994-06-28 | 新東工業株式会社 | Electric cylinder device |
US7225368B2 (en) | 2004-04-15 | 2007-05-29 | International Business Machines Corporation | Efficient real-time analysis method of error logs for autonomous systems |
JP2023005919A (en) * | 2021-06-29 | 2023-01-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Semiconductor device and error detection method |
-
1986
- 1986-07-22 JP JP61172128A patent/JPS6327940A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0648367U (en) * | 1992-11-27 | 1994-06-28 | 新東工業株式会社 | Electric cylinder device |
US7225368B2 (en) | 2004-04-15 | 2007-05-29 | International Business Machines Corporation | Efficient real-time analysis method of error logs for autonomous systems |
JP2023005919A (en) * | 2021-06-29 | 2023-01-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Semiconductor device and error detection method |
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