JPH01295123A - 分光測定装置のレスポンス機構 - Google Patents

分光測定装置のレスポンス機構

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Publication number
JPH01295123A
JPH01295123A JP12473088A JP12473088A JPH01295123A JP H01295123 A JPH01295123 A JP H01295123A JP 12473088 A JP12473088 A JP 12473088A JP 12473088 A JP12473088 A JP 12473088A JP H01295123 A JPH01295123 A JP H01295123A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
response
time
spectrometer
measurement time
measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP12473088A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Hayashi
努 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH01295123A publication Critical patent/JPH01295123A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えば分光蛍光光度計において分光器の波長
を2波長間で交互に切り替えながら測定を行なうタイム
コース測定のように分光器を複数波長に切り替えながら
測定を行なう分光測定装置におけるオートレスポンス機
構に関するものである。
(従来の技術) タイムコース測定の概略を第4図に示す。
λa及びλbはそれぞれデータのサンプリングを行なお
うとする分光器波長である。分光器波長をλaにして計
測時間taの間サンプリングを行ない、分光器を駆動し
て波長をλbに切り替える。
波長λbにおいても計測時間taだけデータのサンプリ
ングを行ない、再び分光器を駆動して波長をλaに切り
替える。時刻nTと(n+1)Tの間でサンプリングさ
れた波長λaでのデータと波長λbでのデータを時刻n
Tでのデータとし、比較をするなどのデータ処理を行な
う。
データサンプリングを行なう際、S/N比を大きくする
ためにレスポンスがかけられる。レスポンスはサンプリ
ング間隔Tに従って設定される。
サンプリング間隔Tが変えられるとそれに応じてレスポ
ンスも自動的に変化させられるようになっている。
(発明が解決しようとする課題) 例えば2波長交互切替えタイムコース測定の場合は、2
波長間の間隔によって分光器を切り替える移動時間tm
が変化する。サンプリング間隔Tが設定されていると、
移動時間tmの変化に伴なって計測時間taも変化する
。そのため、同じサンプリング間隔Tに設定したタイム
コース測定でも波長条件によって計測時間taが変化す
るため、レスポンスが最適値ではなくなってくる。
本発明はタイムコース測定を行なう分光測定装置におい
て、最適なレスポンスを自動的に設定することのできる
オートレスポンス機構を提供することを目的とするもの
である。
(課題を解決するための手段) 第1図に本発明を示す。
1は分光器の波長切替えに要する時間をタイマ2から入
力して分光器の移動時間tmを計測する移動時間計測手
段である。3は予め設定されたサンプリング間隔Tと移
動時間計測手段1で計測された移動時間tmとから計測
時間taを算出する計測時間算出手段である。4は計測
時間taに対するレスポンス情報を記憶している記憶手
段である。5は計測時間算出手段3により算出された計
測時間taをもとにして記憶手段4からレスポンス情報
を選んでフィルタ6にレスポンスを設定するレスポンス
設定手段5である。
(作用) 第2図及び第4図を参照して作用を説明する。
分光器の波長をλa→λb→λaの順に変化させると、
移動時間計測手段1はタイマ2によって移動時間tmを
計測する(ステップSL)。計測時間算出手段3は計測
された移動時間tmと設定されたサンプリング間隔Tか
ら計測時間taをt a = (T −2t m) /
 2によって算出する(ステップS2)。レスポンス設
定手段5は算出された計測時間taをもとにしてそれに
最適なレスポンス情報を記憶手段4から選んでフィルタ
6にレスポンスを設定する(ステツブS3)。その設定
されたレスポンスに基づいてデータのサンプリングが行
なわれる(ステップS4)。
(実施例) 第3図は一実施例を表わす。
10は分光蛍光光度計の光源、11はその光を分光して
サンプル12を照射する励起分光器である。励起光光路
にはハーフミラ−13が設けられ、励起光強度をモニタ
する光電子増倍管14によって励起光の一部が受光され
る。
サンプル12から発生した蛍光は蛍光分光器15で分光
され、光電子増倍管16によって検出される。検出され
た蛍光はA/D変換器17でデジタル信号に変換された
後、デジタルフィルタ18でレスポンスがかけられ、デ
ータとしてCPU7に取り込まれる。
励起分光器11と蛍光分光器15は設定されたタイムコ
ース測定のプログラムに従い、CPU7によって波長が
切り替えられる。
CPU7には分光器11.15の波長切替えの移動時間
tmを計測するためにタイマ2が接続され、さらに、取
り込んだデータを記憶するRAM19と、タイムコース
測定のプログラムや計測時間taに対して事前に求めら
れた最適なレスポンス値のテーブルを記憶しているRO
M4が接続されている。CPU7はタイムコース測定を
制御するとともに、第1図に示された移動時間計測手段
1、計測時間算出3、レスポンス設定手段5の機能も実
現している。
デジタルフィルタ18でレスポンスを設定するために、
デジタルフィルタには y (t)= a (0) μ(t)十a (1) t
t (t−1)十・−□十a (N() μ(t−N+
1)のような式で表されるフィルタをプログラムしてお
く。ここで、y(t)は時刻tにおける出力、μ(t−
n)はそれよりn点前の入力である。計数a(n)を変
えることにより、レスポンスを変化させることができる
。上記の式の計数a(n)を計測時間taに対応して事
前に求め、ROM4にレスポンス情報として記憶してお
けばよい。
(発明の効果) 本発明では計測時間taを算出し、計測時間taに応じ
て最適なレスポンスを設定するようにしたので、最適な
状態で分光測定装置のデータサンプリングを行なうこと
ができる。
従来のように、データサンプリング間隔に応じてレスポ
ンスが定められる装置では、測定波長条件が異なると最
適なレスポンスを求めるために事前の実験が必要であっ
たが、本発明によればそのような実験が不要となり、操
作が容易となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を示すブロック図、第2図は作用を示す
フローチャート図、第3図は一実施倒を示すブロック図
、第4図はタイムコース測定を示す波形図である。 1 ・・・移動時間計測手段、2・・・・・・タイマ、
3・・・・・計測時間算出手段、4・・・・・・記憶手
段、5・・・・・・レスポンス設定手段、6 ・・・フ
ィルタ。 特許出願人 株式会社島津製作所

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)分光器を複数波長に切り替えながら測定を行なう
    分光測定装置において、波長切替えに要する分光器移動
    時間を計測する移動時間計測手段と、予め設定されたデ
    ータサンプリング間隔と前記移動時間計測手段で計測さ
    れた分光器移動時間とから計測時間を算出する計測時間
    算出手段と、計測時間に対するレスポンス情報を記憶し
    ている記憶手段と、計測時間算出手段により算出された
    計測時間をもとにして前記記憶手段からレスポンス情報
    を選んでレスポンスを設定するレスポンス設定手段とを
    備えたことを特徴とする分光測定装置のレスポンス機構
JP12473088A 1988-05-20 1988-05-20 分光測定装置のレスポンス機構 Pending JPH01295123A (ja)

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JP12473088A JPH01295123A (ja) 1988-05-20 1988-05-20 分光測定装置のレスポンス機構

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JPH01295123A true JPH01295123A (ja) 1989-11-28

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JP12473088A Pending JPH01295123A (ja) 1988-05-20 1988-05-20 分光測定装置のレスポンス機構

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JP (1) JPH01295123A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012018011A (ja) * 2010-07-06 2012-01-26 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2012220472A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Shimadzu Corp 分光測定装置及びプログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012018011A (ja) * 2010-07-06 2012-01-26 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2012220472A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Shimadzu Corp 分光測定装置及びプログラム

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