JPH01289661A - 研削方法および研削装置 - Google Patents
研削方法および研削装置Info
- Publication number
- JPH01289661A JPH01289661A JP63119102A JP11910288A JPH01289661A JP H01289661 A JPH01289661 A JP H01289661A JP 63119102 A JP63119102 A JP 63119102A JP 11910288 A JP11910288 A JP 11910288A JP H01289661 A JPH01289661 A JP H01289661A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grinding
- spindle head
- vacuum chuck
- workpiece
- grindstone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000227 grinding Methods 0.000 title claims abstract description 122
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 34
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 12
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 10
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 abstract description 4
- 239000004575 stone Substances 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、真空チャックに保持された被加工物を超砥粒
砥石で研削する研削方法および研削装置に関するもので
ある。
砥石で研削する研削方法および研削装置に関するもので
ある。
たとえば、シリコンウェハ(以下単にウェハという)の
研削を行なう場合、A系あるいはC系の気孔を有する普
通砥石を真空チャックとしてウェハを吸着保持させ、超
砥粒砥石で研削することが知られている。
研削を行なう場合、A系あるいはC系の気孔を有する普
通砥石を真空チャックとしてウェハを吸着保持させ、超
砥粒砥石で研削することが知られている。
そして、真空チャックのウェハ載置面と、超砥粒砥石の
作業面の平行度を高めるために、ウェハの加工前に、超
砥粒砥石で真空チャックの表面を研削するセルフグライ
ンディングが行なわれる。
作業面の平行度を高めるために、ウェハの加工前に、超
砥粒砥石で真空チャックの表面を研削するセルフグライ
ンディングが行なわれる。
このとき、超砥粒砥石も、ツルーイングおよびドレッシ
ングが行なわれる。
ングが行なわれる。
したがって、ウェハの研削によシ、超砥粒砥石が目詰り
したり、摩耗による変形が発生した場合真空チャックの
セルフグラインディングを行なうことによシ、超砥粒砥
石の切れ味の回復、変形の修正を行なうことができる。
したり、摩耗による変形が発生した場合真空チャックの
セルフグラインディングを行なうことによシ、超砥粒砥
石の切れ味の回復、変形の修正を行なうことができる。
し7かし、超砥粒砥石も研削による砥粒の摩耗や脱落、
ツルーイングやドレッシングによる砥粒の脱落や摩耗に
よシ、作業面の位置が変動して、被加工物の仕上シ寸法
が変動する。
ツルーイングやドレッシングによる砥粒の脱落や摩耗に
よシ、作業面の位置が変動して、被加工物の仕上シ寸法
が変動する。
このため、ツルーイングやドレッシングを行なうたびに
、被加工物の仕上り寸法を計測し、超砥粒砥石の切込み
位置を設定すると共に、加工中も適宜被加工物の仕上シ
寸法を計測して、切込み位置の端正する必要があり、作
業性が悪い問題点があった。
、被加工物の仕上り寸法を計測し、超砥粒砥石の切込み
位置を設定すると共に、加工中も適宜被加工物の仕上シ
寸法を計測して、切込み位置の端正する必要があり、作
業性が悪い問題点があった。
本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、超砥粒砥石の切
込み位置を自動的に設定し、作業性を向上させ得るよう
にした研削方法および研削装置を提供するにある。
込み位置を自動的に設定し、作業性を向上させ得るよう
にした研削方法および研削装置を提供するにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するための本発明の手段を、実施例に
対応する第1図および第2図に基づいて説明する。
対応する第1図および第2図に基づいて説明する。
同図において、】は真空チャックで、気孔を有する普通
砥石で形成されたチャックプレート2を備えている。6
はウェハで、チャックプレート2上に載置され吸着保持
される。7は超砥粒砥石で、主軸8に重付られている。
砥石で形成されたチャックプレート2を備えている。6
はウェハで、チャックプレート2上に載置され吸着保持
される。7は超砥粒砥石で、主軸8に重付られている。
なお、主軸8け図示しない主軸頭に回転可能に支持され
ている。
ている。
10け検出手段で、真空チャック1の上方から超砥粒砥
石7を下降させ、超砥粒砥石7が、そのツルーイングあ
るいはドレッシングに必要な量だけ真空チャック1に切
込んだときの超砥粒砥石7(すなわち主軸頭)の位置を
検出する。
石7を下降させ、超砥粒砥石7が、そのツルーイングあ
るいはドレッシングに必要な量だけ真空チャック1に切
込んだときの超砥粒砥石7(すなわち主軸頭)の位置を
検出する。
20は設定手段で、検出手段10で検出された超砥粒砥
石7の位置と、予じめ設定されたウエノ・6の仕上り寸
法から、研削時の超砥粒砥石7の切込み位置を算出し、
設定する。
石7の位置と、予じめ設定されたウエノ・6の仕上り寸
法から、研削時の超砥粒砥石7の切込み位置を算出し、
設定する。
30は表示手段で、予じめ設定された加工数と、超砥粒
砥石7の切込み位置への到達回数(すなわち加工数)を
比較して、セルフグラインディングのタイミングを表示
する。
砥石7の切込み位置への到達回数(すなわち加工数)を
比較して、セルフグラインディングのタイミングを表示
する。
40は加工数算出手段で、前回のセルフグラインディン
グから今回のセルフグラインディングまでの間の超砥粒
砥石7の犀耗量と、その間の加工数および、ウェハ6の
仕上り寸法の公差から、次のセルフグラインディングま
でに加工可能なウェハ6の数を算出し、表示手段30に
設定する。
グから今回のセルフグラインディングまでの間の超砥粒
砥石7の犀耗量と、その間の加工数および、ウェハ6の
仕上り寸法の公差から、次のセルフグラインディングま
でに加工可能なウェハ6の数を算出し、表示手段30に
設定する。
そして、真空チャック1の軸心を横切るように、超砥粒
砥石7を真空チャック1の上方に位置嘔せで、主軸8を
回転させながら切込み方向にsil!!21させる。そ
して、超砥粒砥石7が真空チャック1に切込み、主軸8
を駆動するモータに流れる電流値が増加し、検出手段1
0に予じめ設定された閾値を越えたとき、検出手段10
は超砥粒砥石7の位置を検出する。
砥石7を真空チャック1の上方に位置嘔せで、主軸8を
回転させながら切込み方向にsil!!21させる。そ
して、超砥粒砥石7が真空チャック1に切込み、主軸8
を駆動するモータに流れる電流値が増加し、検出手段1
0に予じめ設定された閾値を越えたとき、検出手段10
は超砥粒砥石7の位置を検出する。
すると、設定手段20は、超砥粒砥石7の位置および、
予じめ設定されたウエノ・6の仕上り寸法から、研削時
における超砥粒砥石7の切込み位置を設定する。
予じめ設定されたウエノ・6の仕上り寸法から、研削時
における超砥粒砥石7の切込み位置を設定する。
一方、加工数算出手段40V′i、前回のセルフグライ
ンディングと、今回のセルフグラインディング時の超砥
粒砥石7の到達位置の差から超砥粒砥石7の磨耗量を求
め、その間の加工数および、ウェハ6の寸法公差から、
次のセルフグラインディングまでに加工可能々ウェハ6
の数を算出し、表示手段30に設定する1、 表示手段30は、研削時に超砥粒砥石7が何回切込み位
置に到達したかによって加工数を数え、加工数が予じめ
設定された数に達したとき、設定された数の加工が終了
した旨の表示を行なう。
ンディングと、今回のセルフグラインディング時の超砥
粒砥石7の到達位置の差から超砥粒砥石7の磨耗量を求
め、その間の加工数および、ウェハ6の寸法公差から、
次のセルフグラインディングまでに加工可能々ウェハ6
の数を算出し、表示手段30に設定する1、 表示手段30は、研削時に超砥粒砥石7が何回切込み位
置に到達したかによって加工数を数え、加工数が予じめ
設定された数に達したとき、設定された数の加工が終了
した旨の表示を行なう。
なお、1回の加工数が少なく、加工中のセルフグライン
ディングが不要の場合には、表示手段30と、加工数算
出手段40を設ける必要はない。
ディングが不要の場合には、表示手段30と、加工数算
出手段40を設ける必要はない。
ま九、一定間隔でセルフグラインディングを行なう場合
には、加工数算出手段40を設ける必要はない。
には、加工数算出手段40を設ける必要はない。
と述のように、セルフグラインデ・rフグ時の超砥粒砥
石7の位置と、ウェハ6の仕上り寸法から研削時の超砥
粒砥石7の切込み位置を設定するようにしたので、切込
み位置を自動的に設定することができ、作業性を向上さ
せることができる。
石7の位置と、ウェハ6の仕上り寸法から研削時の超砥
粒砥石7の切込み位置を設定するようにしたので、切込
み位置を自動的に設定することができ、作業性を向上さ
せることができる。
以下、本発明の実施例は第1図ないし第3図に基づいて
説明する。
説明する。
同図において、1け真空チャックで、気孔を有する普通
砥石で形成されたチャックプレート2と、気孔のないセ
ラミックで形成されたリング3で構成され、リング4を
介してベース5F固定されている。6はウェハで、真空
チャック1に保持されている。7は超砥粒砥石(以下庫
に砥石という)で、主軸8に固定されている。この主軸
8は、図示しない主軸頭に回転可能に支持され、主軸頭
の本 動きにより、Y方向およびZ方に移動する。
砥石で形成されたチャックプレート2と、気孔のないセ
ラミックで形成されたリング3で構成され、リング4を
介してベース5F固定されている。6はウェハで、真空
チャック1に保持されている。7は超砥粒砥石(以下庫
に砥石という)で、主軸8に固定されている。この主軸
8は、図示しない主軸頭に回転可能に支持され、主軸頭
の本 動きにより、Y方向およびZ方に移動する。
10は検出手段で、主軸頭を271i向に移動させるモ
ータ(図示せず)に付設されたパルスエンコーダ11と
、前記モータに供給される電流の大きさを検出する電流
検出回路12と、閾値設定回路13と、電流検出回路1
2で検出された電流値が閾値設定回路13に設定された
閾値を越えたとき砥石7が何かに接触したことを検出す
る接触検出回路14と、接触検出回路14の出力を反転
するインバータ15と、インバータ15とパルスエンコ
ーダ11に接続されたアンドゲート回路16とアンドゲ
ート回路15を通過したパルスの数を計数して、主軸頭
(すなわち砥石7の研削面)の2方向の移動位置を検出
する位置検出回路17によって構成されている。
ータ(図示せず)に付設されたパルスエンコーダ11と
、前記モータに供給される電流の大きさを検出する電流
検出回路12と、閾値設定回路13と、電流検出回路1
2で検出された電流値が閾値設定回路13に設定された
閾値を越えたとき砥石7が何かに接触したことを検出す
る接触検出回路14と、接触検出回路14の出力を反転
するインバータ15と、インバータ15とパルスエンコ
ーダ11に接続されたアンドゲート回路16とアンドゲ
ート回路15を通過したパルスの数を計数して、主軸頭
(すなわち砥石7の研削面)の2方向の移動位置を検出
する位置検出回路17によって構成されている。
20は設定手段で、ウェハ6の仕上シ寸法を設定する仕
上り寸法設定回路21と、前記位置換出回617で検出
された主軸頭のZ方向の位置と、仕上り寸法設定回路2
1から、研削時の主軸頭の2方向の移動位!(すなわち
、主軸頭の切込み位it )を算出する切込み位置算出
回路22と、その算出結果を設定する切込み位置設定回
路23とによって構成されている。
上り寸法設定回路21と、前記位置換出回617で検出
された主軸頭のZ方向の位置と、仕上り寸法設定回路2
1から、研削時の主軸頭の2方向の移動位!(すなわち
、主軸頭の切込み位it )を算出する切込み位置算出
回路22と、その算出結果を設定する切込み位置設定回
路23とによって構成されている。
30は表示手段で、前記パルスエンコーダ11から印加
されるパルスを計数すると共に、切込み位置設定回路2
3に設定された切込み位置を比較し、両刀の値が一致し
たとき、信号を発振する比較回路31と、この比較回路
31から発振される信号の数を加工数として引数する加
工数カウンタ32と、セルフグラインディングから次の
セルフグラインディングまで9間に加工すべきウェハ6
の数を設定する加工数設定回路33と、加工数設定回路
33に設定された加工数と、加工数カウンタに計数され
次加工数を比較し、両方の値が一致したとき、信号を発
振する比較回路34と、比較回路34からの信号を受け
、加工数設定回路33に設定された数の加工が終了した
ことを表示する表示回路35とによって構成されている
。
されるパルスを計数すると共に、切込み位置設定回路2
3に設定された切込み位置を比較し、両刀の値が一致し
たとき、信号を発振する比較回路31と、この比較回路
31から発振される信号の数を加工数として引数する加
工数カウンタ32と、セルフグラインディングから次の
セルフグラインディングまで9間に加工すべきウェハ6
の数を設定する加工数設定回路33と、加工数設定回路
33に設定された加工数と、加工数カウンタに計数され
次加工数を比較し、両方の値が一致したとき、信号を発
振する比較回路34と、比較回路34からの信号を受け
、加工数設定回路33に設定された数の加工が終了した
ことを表示する表示回路35とによって構成されている
。
40は加工数算出手段で、セルフグラインディング毎の
主軸頭の位置を記憶する記憶回路41と、前回のセルフ
グラインディングと今回のセルフグラインディングの間
の砥石7の摩耗1tt−求める摩耗量算出回路42と、
その間に加工数カウンタ32に計数された加工数と砥石
7の摩耗量から、1枚のウェハ6を研削したときの砥石
7の摩耗量を算出する単位摩耗量算出回路43と、ウエ
ノ・6に許容される寸法公差を設定する寸法公差設定回
路44と、寸法公差と砥石7の摩耗量から、次のセルフ
グラインディングまでに加工可能な数を算出し・前記加
工数設定回路33に設定する加工可能数算出回路45と
によって構成されている。
主軸頭の位置を記憶する記憶回路41と、前回のセルフ
グラインディングと今回のセルフグラインディングの間
の砥石7の摩耗1tt−求める摩耗量算出回路42と、
その間に加工数カウンタ32に計数された加工数と砥石
7の摩耗量から、1枚のウェハ6を研削したときの砥石
7の摩耗量を算出する単位摩耗量算出回路43と、ウエ
ノ・6に許容される寸法公差を設定する寸法公差設定回
路44と、寸法公差と砥石7の摩耗量から、次のセルフ
グラインディングまでに加工可能な数を算出し・前記加
工数設定回路33に設定する加工可能数算出回路45と
によって構成されている。
このような構成で、仕上り寸法設定回路21に、図面で
指示されたウェハ6の仕上シ寸法の一側の公差と、研削
装置の位置決め精度を考慮して、仕上9寸法を設定する
。また、寸法公差設定回路44に、ウェハ6に許容され
る寸法公差と研削装置の位置決め精度を考慮して、加工
時に許容される寸法公差を設定する。さらに、加工数設
定回路33に、実験あるいは過去の経験に基づき、加工
数を設定する。
指示されたウェハ6の仕上シ寸法の一側の公差と、研削
装置の位置決め精度を考慮して、仕上9寸法を設定する
。また、寸法公差設定回路44に、ウェハ6に許容され
る寸法公差と研削装置の位置決め精度を考慮して、加工
時に許容される寸法公差を設定する。さらに、加工数設
定回路33に、実験あるいは過去の経験に基づき、加工
数を設定する。
また、閾値設定回路13には、真空チャック1のセルフ
グラインディング時に、砥石7のツルーイングあるいは
ドレッシングに必要な切込みを与えたとき、玉軸8を駆
動するモータに流れる電流値より若干小さな値を設定す
る。
グラインディング時に、砥石7のツルーイングあるいは
ドレッシングに必要な切込みを与えたとき、玉軸8を駆
動するモータに流れる電流値より若干小さな値を設定す
る。
そして、砥石7の研削面が、真空チャック1の軸心を横
切るように位置決めしたのち、砥石7を回転させると共
に、主軸頭をその原点から真空チャック1に向けて下降
させる。
切るように位置決めしたのち、砥石7を回転させると共
に、主軸頭をその原点から真空チャック1に向けて下降
させる。
すると、主軸頭を移動させるモータの回転に比例t、l
aのパルスが、パルスエンコーダ11から発振される。
aのパルスが、パルスエンコーダ11から発振される。
このパルスは、アンドゲート回路16を通り、位置検出
回路17に印加され、主軸頭の位置としてカウントされ
る。
回路17に印加され、主軸頭の位置としてカウントされ
る。
そして、砥石7が真空チャック1に接触し、切込みが始
まると、砥石7に研削負荷が加わるため、前記モータに
流れる電流が、切込み深さに比例して増加する。この電
流の変化は、電流検出回路12によって検出され、接触
検出回路14でIA値と比較され、電流が閾値を越える
。と、接触検出回路14から接触信号が発振される。す
ると、インバータ15を介・してアンドゲート回路16
が閉じられると同時に、位置検出回路17は、それまで
にカウントしたパルスの敷金、主軸頭の位置として保持
する。
まると、砥石7に研削負荷が加わるため、前記モータに
流れる電流が、切込み深さに比例して増加する。この電
流の変化は、電流検出回路12によって検出され、接触
検出回路14でIA値と比較され、電流が閾値を越える
。と、接触検出回路14から接触信号が発振される。す
ると、インバータ15を介・してアンドゲート回路16
が閉じられると同時に、位置検出回路17は、それまで
にカウントしたパルスの敷金、主軸頭の位置として保持
する。
ついで、主軸頭が一担上昇し、砥石7を真空チャック1
から離したのち、砥石7と真空チャック1を加工開始位
置へ移動させる。そして、王軸頭を、位置検出回路17
で検出された位置まで移動させたのち、水平方向に移動
させ、真空チャック1のセルフグラインディングを行な
う。
から離したのち、砥石7と真空チャック1を加工開始位
置へ移動させる。そして、王軸頭を、位置検出回路17
で検出された位置まで移動させたのち、水平方向に移動
させ、真空チャック1のセルフグラインディングを行な
う。
一方、設定手段20は、位置検出回路17に保持された
セルフグラインディング時の位置(第3図(A)におけ
る原点からの移動量X1)と、仕上り寸法設定回路21
に設定されたウエノ・6の仕上り寸法(第3図(B)に
おけるW)から、ウニ・・6の研削時における主軸頭の
切込み位置(第3図(B)におけるXIW)を求め、切
込み位置設定回路23に設定する。
セルフグラインディング時の位置(第3図(A)におけ
る原点からの移動量X1)と、仕上り寸法設定回路21
に設定されたウエノ・6の仕上り寸法(第3図(B)に
おけるW)から、ウニ・・6の研削時における主軸頭の
切込み位置(第3図(B)におけるXIW)を求め、切
込み位置設定回路23に設定する。
また、位置検出回路17に保持された主軸頭の位置は、
記憶回路41に記憶される。
記憶回路41に記憶される。
真空チャック1のセルフグラインディングが終ると、真
空チャック1上にウエノ16を載せ、梼吸引保持させる
。
空チャック1上にウエノ16を載せ、梼吸引保持させる
。
主軸頭を切込み位置設定回路23に設定された位置まで
移動させたのち、水平方向に移動させ、いわゆるクリー
プフィード研削方式でウエノ・6の研削する。
移動させたのち、水平方向に移動させ、いわゆるクリー
プフィード研削方式でウエノ・6の研削する。
このとき、主軸頭の切込み位置は、パルスエンコーダ1
1から発振されたパルスの数が、切込み位置設定回路2
3に設定された値と一致した所になる。同時に、比較回
路31から発掘される一致信号が加工数カウンタ32に
よってカウントされる。
1から発振されたパルスの数が、切込み位置設定回路2
3に設定された値と一致した所になる。同時に、比較回
路31から発掘される一致信号が加工数カウンタ32に
よってカウントされる。
このようにして、主軸頭−を切込み位置へ移動させた回
数を力ロエ数として数え、加工数設定回路33に設定さ
れた数まで加工を行なう。そして、加工数設定回路33
に設定された数と、加工数カウンタ32で数えた加工数
が一致すると、比較回路34から信号が発振され、表示
回路35 Vi、加工数設定回路33に設定された数の
加工が終ったことを表示する。
数を力ロエ数として数え、加工数設定回路33に設定さ
れた数まで加工を行なう。そして、加工数設定回路33
に設定された数と、加工数カウンタ32で数えた加工数
が一致すると、比較回路34から信号が発振され、表示
回路35 Vi、加工数設定回路33に設定された数の
加工が終ったことを表示する。
表示回路35で、設定数の加工終了が表示されると、再
び真空チャック1のセルフグラインディングが行なわれ
、前述と同様に、主軸頭の位置(第3図(C)における
原点からの移動量、X2)が検出される。
び真空チャック1のセルフグラインディングが行なわれ
、前述と同様に、主軸頭の位置(第3図(C)における
原点からの移動量、X2)が検出される。
そして、主軸頭の位置から、約述と同様に主軸頭の切込
み位置(第3図(D)におけるXz−W)が算出され、
切込み位置設定回路23に設定される。
み位置(第3図(D)におけるXz−W)が算出され、
切込み位置設定回路23に設定される。
一方、位置検出手段17から記憶回路41に主軸頭の位
置が印力pされると、摩耗量算出回路42は、今回のセ
ルフグラインディング時の主軸頭の位置と、前回のセル
フグラインディング時の主軸頭の位置の差(X! −X
+、 )を砥石7の摩耗量として算出する。ついで、単
位摩耗t″N、出回路43が、砥石7の摩耗量と、その
間の加工数に基づいてウェハ6の1枚当りの砥石7の摩
耗量を算出する。
置が印力pされると、摩耗量算出回路42は、今回のセ
ルフグラインディング時の主軸頭の位置と、前回のセル
フグラインディング時の主軸頭の位置の差(X! −X
+、 )を砥石7の摩耗量として算出する。ついで、単
位摩耗t″N、出回路43が、砥石7の摩耗量と、その
間の加工数に基づいてウェハ6の1枚当りの砥石7の摩
耗量を算出する。
そして、加工可能数算出回路45は、寸法公差設定回路
44に設定された寸法公差を、ウェハ6の1枚当シの砥
石7の摩耗量で割って、次のセルフグラインディングま
でに加工可能なウェハ6の数を求め、カロエ数設定回路
33に設定する。
44に設定された寸法公差を、ウェハ6の1枚当シの砥
石7の摩耗量で割って、次のセルフグラインディングま
でに加工可能なウェハ6の数を求め、カロエ数設定回路
33に設定する。
以下、前述と同様にして、ウェハ6の研削を行なう。
このように、セルフグラインディング前の加工実績に基
づいて、セルフグラインディング後の加工数を設定する
ことにより、適正な加工数の設定を行なうことができる
。
づいて、セルフグラインディング後の加工数を設定する
ことにより、適正な加工数の設定を行なうことができる
。
なお、1度に研削するウニ・・6の数が少く、1回のセ
ルフグラインディングだけで済む場合には切込み位置を
設定するだけでよいから、検出手段10と、設定手段2
0を設けるだけでよい。
ルフグラインディングだけで済む場合には切込み位置を
設定するだけでよいから、検出手段10と、設定手段2
0を設けるだけでよい。
また、一定の間隔でセルフグラインディングを行なう場
合には、検出手段10、設定手段20および表示手段3
0を設ければよい。
合には、検出手段10、設定手段20および表示手段3
0を設ければよい。
以上述べた如く、本発明によれば、研削砥石(すなわち
主軸頭)の切込み位置を、セルフグラインディング時に
自動的に設定することができ作業性を向上させることが
できる。また、表示手段を設けることによシ、セルフグ
ラインディングを行なう時期を正確に知ることができる
。さらに、加工数設定手段を設けることにより、セルフ
グラインディング間の適正な加工数を求めることができ
るなどの効果がある。
主軸頭)の切込み位置を、セルフグラインディング時に
自動的に設定することができ作業性を向上させることが
できる。また、表示手段を設けることによシ、セルフグ
ラインディングを行なう時期を正確に知ることができる
。さらに、加工数設定手段を設けることにより、セルフ
グラインディング間の適正な加工数を求めることができ
るなどの効果がある。
第1図は、本発明による研削方法の一例を示す構成図、
第2図は、本発明の研削方法を実施するだめの制御回路
の要部を示すブロック線図、第3図は、切込み位置の設
定方法を説明するための工程図である。 1・・・真空チャック、 2・・・普通砥石、 6
゛?エバ、 7・・・超砥粒砥石、 10・・・
検出手段、20・・・設定手段、 30・・・表示手
段、 40・・・加工数算出手段。 第1区 第3図
第2図は、本発明の研削方法を実施するだめの制御回路
の要部を示すブロック線図、第3図は、切込み位置の設
定方法を説明するための工程図である。 1・・・真空チャック、 2・・・普通砥石、 6
゛?エバ、 7・・・超砥粒砥石、 10・・・
検出手段、20・・・設定手段、 30・・・表示手
段、 40・・・加工数算出手段。 第1区 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削する研削方法に
おいて、前記真空チャックのセルフグラインディング時
の主軸頭の位置と、被加工物の仕上り寸法から、被加工
物を研削する時の主軸頭の切込み位置を設定し、主軸頭
を、その原点位置と切込み位置の間で往復移動させて研
削することを特徴とする研削方法。 2、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削する研削方法に
おいて、1つの被加工物の研削により発生する超砥粒砥
石の摩耗量と、被加工物に許容される寸法公差から、連
続加工可能な数を求め、その数以内で前記真空チャック
のセルフグラインディングを行ない、セルフグラインデ
ィング時の主軸頭の位置と、被加工物の仕上り寸法位置
から、被加工物を研削する時の主軸頭の切込み位置を設
定し、主軸頭を、その原点位置と切込み位置の間で往復
移動させて研削することを特徴とする研削方法。 3、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削する研削方法に
おいて、真空チャックのセルフグラインディングを行な
う毎に、前回のセルフグラインディングからの被加工物
の研削数と超砥粒砥石の摩耗量を記憶させ、前記研削数
と超砥粒砥石の摩耗量の相関関係を求め、次のセルフグ
ラインディングまでの加工数を設定すると共に、セルフ
グラインディング時の主軸頭の位置と、被加工物の仕上
り寸法位置から、被加工物を研削する時の主軸頭の切込
み位置を設定し、主軸頭を、その原点位置と切込み位置
の間で往復移動させて研削することを特徴とする研削方
法。 4、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削するようにした
研削装置において、真空チャックのセルフグラインディ
ング時に、真空チャックと超砥粒砥石の接触を検出し、
その時の主軸頭の位置を検出する検出手段と、この主軸
頭の位置と、予じめ設定された被加工物の仕上り寸法か
ら、研削時の主軸頭の切込み位置を設定する設定手段と
を設けたことを特徴とする研削装置。 5、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削するようにした
研削装置において、真空チャックのセルフグラインディ
ング時に、真空チャックと超砥粒砥石の接触を検出し、
その時の主軸頭の位置を検出する検出手段と、この主軸
頭の位置と、予じめ設定された被加工物の仕上り寸法か
ら、研削時の主軸頭の切込み位置を設定する設定手段と
、加工時に主軸頭の切込み位置への到達回数を検出して
被加工物の加工数を数え、予じめ設定された加工数と一
致したとき、設定された数の加工が終つたことを表示す
る表示手段とを設けたことを特徴とする研削装置。 6、気孔を有する普通砥石で形成された真空チャックに
保持された被加工物を超砥粒砥石で研削するようにした
研削装置において、真空チャックのセルフグラインディ
ング時に、真空チャックと超砥粒砥石の接触を検出し、
その時の主軸頭の位置を検出する検出手段と、この主軸
頭の位置と、予じめ設定された被加工物の仕上り寸法か
ら、研削時の主軸頭の切込み位置を設定する設定手段と
、加工時に主軸頭の切込み位置への到達回数を検出して
被加工物の加工数を数え、予じめ設定された加工数と一
致したとき、設定された数の加工が終つたことを表示す
る表示手段と、真空チャックのセルフグラインディング
時の主軸頭の位置を記憶し、今回の位置と前回の位置お
よびその間の加工数と予じめ設定された被加工物の寸法
公差から、次のセルフグラインディングまでに加工可能
な被加工物の数を算出し、前記表示手段に加工数を設定
する加工数算出手段とを設けたことを特徴とする研削装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63119102A JPH01289661A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 研削方法および研削装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63119102A JPH01289661A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 研削方法および研削装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01289661A true JPH01289661A (ja) | 1989-11-21 |
Family
ID=14752957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63119102A Pending JPH01289661A (ja) | 1988-05-18 | 1988-05-18 | 研削方法および研削装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01289661A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003117815A (ja) * | 2001-10-16 | 2003-04-23 | Central Glass Co Ltd | ガラス板周縁部の研磨異常の検出方法 |
WO2013187164A1 (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-19 | コマツNtc株式会社 | 研削加工装置および研削加工装置の制御方法 |
JP2016112632A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 株式会社ディスコ | 研削方法 |
-
1988
- 1988-05-18 JP JP63119102A patent/JPH01289661A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003117815A (ja) * | 2001-10-16 | 2003-04-23 | Central Glass Co Ltd | ガラス板周縁部の研磨異常の検出方法 |
WO2013187164A1 (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-19 | コマツNtc株式会社 | 研削加工装置および研削加工装置の制御方法 |
JP2013255964A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Komatsu Ntc Ltd | 研削加工装置および研削加工装置の制御方法 |
JP2016112632A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 株式会社ディスコ | 研削方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4053289A (en) | Grinding method and apparatus with metal removal rate control | |
JPH0241872A (ja) | 数値制御研削盤 | |
CN106378668B (zh) | 一种五轴双端面磨床的控制方法 | |
JP2020069600A (ja) | 工作機械 | |
US3964210A (en) | Grinding apparatus | |
US3862517A (en) | Method and apparatus for machining a workpiece to a selected dimension | |
JP2009078326A (ja) | ウェーハ面取り装置、及びウェーハ面取り方法 | |
JP7172636B2 (ja) | 工作機械のメンテナンス支援装置および工作機械システム | |
JPH01289661A (ja) | 研削方法および研削装置 | |
CN113492360A (zh) | 砂轮修整装置、控制系统及控制方法 | |
JP3305732B2 (ja) | 平面研削盤の制御方法 | |
JP2011245592A (ja) | 研削方法および研削盤 | |
JPH06169013A (ja) | ダイシング装置及びダイシング装置における切削制御方法 | |
JPS639945B2 (ja) | ||
JP2940073B2 (ja) | 研削盤の制御方法 | |
JP2003053664A (ja) | 工作機械及び加工方法 | |
JPH0773824B2 (ja) | 研削砥石の研削面修正方法 | |
JP3413938B2 (ja) | 研削装置 | |
JP2002018712A (ja) | ツルーイング装置及び回転砥石の偏磨耗計測方法 | |
JPS5926431B2 (ja) | 砥石のドレツシング時期検出装置 | |
JPH04193474A (ja) | 研削盤の砥石修正方法および同装置 | |
JPH05277934A (ja) | 研削砥石のドレッシング制御装置 | |
JPH05154515A (ja) | 圧延ロール研磨方法 | |
JPS62203759A (ja) | 超砥粒砥石車のツル−イング方法 | |
JPH01271172A (ja) | Nc平面研削盤 |