JPH01268863A - 蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法 - Google Patents
蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法Info
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- JPH01268863A JPH01268863A JP9355588A JP9355588A JPH01268863A JP H01268863 A JPH01268863 A JP H01268863A JP 9355588 A JP9355588 A JP 9355588A JP 9355588 A JP9355588 A JP 9355588A JP H01268863 A JPH01268863 A JP H01268863A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、いわゆるHCD (Hollow Cat
hodeDischarge)法によるイオンプレーテ
ィング処理を用いて、例えば、鋼板、ガラス、その地帯
状基板等に均一性および密着性に優れた被膜を高い蒸着
効率の下で形成する方法に関する。
hodeDischarge)法によるイオンプレーテ
ィング処理を用いて、例えば、鋼板、ガラス、その地帯
状基板等に均一性および密着性に優れた被膜を高い蒸着
効率の下で形成する方法に関する。
(従来の技術)
プラズマを利用したイオンプレーティング法がTiN、
Tic、 Ti(CN)等のセラミックコーティング
に適用されている。イオンプレーティング法としては、
HCD法、EB(Electron Beast) +
RP(Radi。
Tic、 Ti(CN)等のセラミックコーティング
に適用されている。イオンプレーティング法としては、
HCD法、EB(Electron Beast) +
RP(Radi。
Frequency)法、マルティ・アーク法およびア
ーク放電法等の手法が実施されている。
ーク放電法等の手法が実施されている。
これらの手法の中でHCD法はイオン化率が20〜40
%と高く、また成膜速度も0.05〜0.5 a m/
lll1nと比較的速いため、TiN、 TiC,Ti
(CN)あるいはCrNなとのセラミックコーティング
に広く利用されている。特にHCD法はNtガス流量、
真空度、バイアス電圧、基板温度、基板の前処理などの
要件が少々変化しても容易かつスムーズにセラミックコ
ーティングを行うことができる利点がある。
%と高く、また成膜速度も0.05〜0.5 a m/
lll1nと比較的速いため、TiN、 TiC,Ti
(CN)あるいはCrNなとのセラミックコーティング
に広く利用されている。特にHCD法はNtガス流量、
真空度、バイアス電圧、基板温度、基板の前処理などの
要件が少々変化しても容易かつスムーズにセラミックコ
ーティングを行うことができる利点がある。
すなわち、HCD法によるイオンプレーティングに関し
ては、金属表面技術35 (1) P、16〜24(1
984)、粉末および粉末冶金32 (1985) P
、55〜60に解説されている。
ては、金属表面技術35 (1) P、16〜24(1
984)、粉末および粉末冶金32 (1985) P
、55〜60に解説されている。
(発明が解決しようとする課題)
現行のHCD法イオンプレーティングにおいては、蒸発
物質の大半が真空槽の内壁、カソードまたはるつぼ等に
付着するため蒸着効率が10〜15%程度と低く、また
真空槽内の清掃を高い頻度で行わなければならない。さ
らに蒸着効率が悪いと基板と蒸発物質との密着性が問題
となり、したがって蒸着効率を高めて被膜の密着性を向
上することがイオンプレーティング処理における重要な
課題となっている。
物質の大半が真空槽の内壁、カソードまたはるつぼ等に
付着するため蒸着効率が10〜15%程度と低く、また
真空槽内の清掃を高い頻度で行わなければならない。さ
らに蒸着効率が悪いと基板と蒸発物質との密着性が問題
となり、したがって蒸着効率を高めて被膜の密着性を向
上することがイオンプレーティング処理における重要な
課題となっている。
そこでこの発明は、高い蒸着効率のイオンプレーティン
グ処理方法について提案することを目的とする。
グ処理方法について提案することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
この発明は、反応ガスを導入した真空槽内において、る
つぼに収容した蒸発用物質をホローカソードガンによっ
て溶解、蒸発させると同時にイオン化させ、基板に被膜
を形成するに当り、るつぼから基板の直近にわたって配
設した集束コイルの内側を蒸発物質の移動径路とし、さ
らにこの集束コイルに正電圧を印加することを特徴とす
る蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法である
。
つぼに収容した蒸発用物質をホローカソードガンによっ
て溶解、蒸発させると同時にイオン化させ、基板に被膜
を形成するに当り、るつぼから基板の直近にわたって配
設した集束コイルの内側を蒸発物質の移動径路とし、さ
らにこの集束コイルに正電圧を印加することを特徴とす
る蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法である
。
(作 用)
次にこの発明の基礎となった実験結果について説明する
。
。
低炭素冷延鋼板(0,3tm厚)の表面を脱脂後、電解
研磨により中心線平均粗さで0.05μmの鏡面状態に
仕上げ、ついで第1図の装置を用いてTiN膜(1,5
μ層厚)を、加速電圧:50V、加速電流:500^、
バイアス電圧:40vおよび集束コイル電圧=60Vに
て形成した。なお図中1は基板、2は反応ガス導入口、
3はるつぼ、4は蒸発用物質、5は排気口、6は真空槽
、7はHCDガン、8はるつぼ3から基板1直近にわた
る蒸発物質の移動径路を囲むように配設した集束コイル
で、集束コイル8は電圧付加導線9を介して正電圧が印
加されている。
研磨により中心線平均粗さで0.05μmの鏡面状態に
仕上げ、ついで第1図の装置を用いてTiN膜(1,5
μ層厚)を、加速電圧:50V、加速電流:500^、
バイアス電圧:40vおよび集束コイル電圧=60Vに
て形成した。なお図中1は基板、2は反応ガス導入口、
3はるつぼ、4は蒸発用物質、5は排気口、6は真空槽
、7はHCDガン、8はるつぼ3から基板1直近にわた
る蒸発物質の移動径路を囲むように配設した集束コイル
で、集束コイル8は電圧付加導線9を介して正電圧が印
加されている。
また同様の実験を、第2図に示す従来のHCD法イオン
プレーティング装置を用いて上記と同様の条件(ただし
集束コイルには電圧を印加せず)にて行った。
プレーティング装置を用いて上記と同様の条件(ただし
集束コイルには電圧を印加せず)にて行った。
表1に、イオンプレーティング処理中の蒸着効率および
得られたTiN膜の密着性について調べた結果をそれぞ
れ示す。
得られたTiN膜の密着性について調べた結果をそれぞ
れ示す。
表 1
本90°曲げを2回繰り返し行ったときのはく離の有無
本本(被着量/蒸発量)X100 同表から、この発明に従う方法(A)の蒸着効率は現行
の方法(B)に比べ著しく高く、また得られた製品の被
膜密着性も良好であることがわかる。
本本(被着量/蒸発量)X100 同表から、この発明に従う方法(A)の蒸着効率は現行
の方法(B)に比べ著しく高く、また得られた製品の被
膜密着性も良好であることがわかる。
蒸着効率および被膜密着性の向上した理由は、集束コイ
ルの内側を蒸発物質の移動径路とし、さらにこの集束コ
イルに正電圧を印加することによって集束コイルの内側
、すなわち蒸発物質の移動径路内を良好なプラズマ状態
とし、基板に蒸発物質を優先的に付着させ得る環境を実
現したことにある。
ルの内側を蒸発物質の移動径路とし、さらにこの集束コ
イルに正電圧を印加することによって集束コイルの内側
、すなわち蒸発物質の移動径路内を良好なプラズマ状態
とし、基板に蒸発物質を優先的に付着させ得る環境を実
現したことにある。
なお集束コイルに印加する電圧は、10〜100v程度
が好適である。
が好適である。
また第3図にこの発明の実施に直接使用するイオンプレ
ーティング装置を模式図で示す。この装置はHCDガン
からの電子ビームをほぼ直角に曲げるようにしたもので
、図示のHCDガン7はグラファイトの外側層7−1と
この例でTaを用いた内側層7−2の組合せになり外側
−内側の眉間は一定の空隙を設けて、隔絶する。また層
間の放電も防ぐため図示を省略したが内側層7−2とる
つぼ3の溶解物質とが通電できるようにしである。これ
によってこのHCDガンの異常放電が少なくなり、かつ
ガンの長寿命化が達成される。
ーティング装置を模式図で示す。この装置はHCDガン
からの電子ビームをほぼ直角に曲げるようにしたもので
、図示のHCDガン7はグラファイトの外側層7−1と
この例でTaを用いた内側層7−2の組合せになり外側
−内側の眉間は一定の空隙を設けて、隔絶する。また層
間の放電も防ぐため図示を省略したが内側層7−2とる
つぼ3の溶解物質とが通電できるようにしである。これ
によってこのHCDガンの異常放電が少なくなり、かつ
ガンの長寿命化が達成される。
またHCDガン7は送り機構7−3により常にるつぼ3
との距離を一定に保つことによって長時間安定したプラ
ズマビームの供給が確保できる。なお図中7−4はHC
Dガンの電源、7−5はArガスの供給口を示す。
との距離を一定に保つことによって長時間安定したプラ
ズマビームの供給が確保できる。なお図中7−4はHC
Dガンの電源、7−5はArガスの供給口を示す。
10はHCDガン7のまわりの集束コイルで、この集束
コイル10により発生プラズマを細いプラズマビーム1
1に集束させる。次に細いビームに集束されたプラズマ
ビーム11はるつぼ3のまわりの集束コイル8により磁
場を上から下の方向に作用させ、図に点線で示すように
溶融物に向かって直角方向に曲げて照射に供するのであ
る。このよ・うな直角方向に照射されたプラズマビーム
は蒸発物質を真上に向かって蒸発させ、蒸発物質は集束
コイル8内を移動径路とし基板1に至り基板1に均一に
蒸着される。
コイル10により発生プラズマを細いプラズマビーム1
1に集束させる。次に細いビームに集束されたプラズマ
ビーム11はるつぼ3のまわりの集束コイル8により磁
場を上から下の方向に作用させ、図に点線で示すように
溶融物に向かって直角方向に曲げて照射に供するのであ
る。このよ・うな直角方向に照射されたプラズマビーム
は蒸発物質を真上に向かって蒸発させ、蒸発物質は集束
コイル8内を移動径路とし基板1に至り基板1に均一に
蒸着される。
さらに図中12は反応ガスに対する電圧印加装置で、冷
却管13およびTa製の導入管14をそなえ、導入管1
4に電圧を印加することによって反応ガスのイオン化を
促進し得る。
却管13およびTa製の導入管14をそなえ、導入管1
4に電圧を印加することによって反応ガスのイオン化を
促進し得る。
(実施例)
、支族籠上
C: 0.039%、St : 3.36%、Mn :
0.066%、MO:0.013%、Se : 0.
025%およびSb : 0.026%を含有する珪素
鋼熱延板(2,2mg厚)を950°Cでの中間焼鈍を
はさむ2回の冷間圧延を施して0.20m++厚の最終
冷延板とした。ついで820″Cの湿水素中で脱炭を兼
ねる1次再結晶焼鈍を施した後、鋼板表面上にApzo
s(6s%)およびMgO(35%)を主成分とする焼
鈍分離剤を塗布し、その後850 ”Cで50時間の2
次再結晶焼鈍を施した後、1200°Cの乾水素中で工
0時間の純化焼鈍を施し、ついで鋼板表面上の酸化物を
酸洗により除去し電解研磨により中心線平均粗さで0.
04μ■の鏡面状態に仕上げた。
0.066%、MO:0.013%、Se : 0.
025%およびSb : 0.026%を含有する珪素
鋼熱延板(2,2mg厚)を950°Cでの中間焼鈍を
はさむ2回の冷間圧延を施して0.20m++厚の最終
冷延板とした。ついで820″Cの湿水素中で脱炭を兼
ねる1次再結晶焼鈍を施した後、鋼板表面上にApzo
s(6s%)およびMgO(35%)を主成分とする焼
鈍分離剤を塗布し、その後850 ”Cで50時間の2
次再結晶焼鈍を施した後、1200°Cの乾水素中で工
0時間の純化焼鈍を施し、ついで鋼板表面上の酸化物を
酸洗により除去し電解研磨により中心線平均粗さで0.
04μ■の鏡面状態に仕上げた。
そして第1図の装置(HCD条件:加速電圧50V、加
速電流500A、集束コイルへの正電圧ニア0V、真空
度: 7 Xl0−’torr)を用いてTiNを1.
Oatm厚で形成した。
速電流500A、集束コイルへの正電圧ニア0V、真空
度: 7 Xl0−’torr)を用いてTiNを1.
Oatm厚で形成した。
そのときの蒸着効率は40%で、得られた製品に20m
5+φでの180°曲げを行っても被膜のはく離は全く
なく、また製品の磁気特性はB、。=1.927゜1、
/、。=0.68N/kgであった。
5+φでの180°曲げを行っても被膜のはく離は全く
なく、また製品の磁気特性はB、。=1.927゜1、
/、。=0.68N/kgであった。
実m側
C: 0.035%、Mn : 0.36%、P :
0.009%およびS : 0.011%を含有する低
炭素冷延鋼板(0,5mm厚)の表面を脱脂した後、電
解研磨により中心線平均粗さで0.06μmの鏡面状態
に仕上げ、ついで第3図の装置(HCD条件:加速電圧
80V、加速電流1000A、集束コイルへの正電圧:
60V、真空度=5×111’torr)を用いて鋼板
表面に5isNa被膜(1,5μm厚)を形成した。こ
のときの蒸着効率は60%で、得られた製品は、90°
曲げを2回繰り返して行ってもはく離はなかった。
0.009%およびS : 0.011%を含有する低
炭素冷延鋼板(0,5mm厚)の表面を脱脂した後、電
解研磨により中心線平均粗さで0.06μmの鏡面状態
に仕上げ、ついで第3図の装置(HCD条件:加速電圧
80V、加速電流1000A、集束コイルへの正電圧:
60V、真空度=5×111’torr)を用いて鋼板
表面に5isNa被膜(1,5μm厚)を形成した。こ
のときの蒸着効率は60%で、得られた製品は、90°
曲げを2回繰り返して行ってもはく離はなかった。
(発明の効果)
この発明によれば、蒸発物質の移動径路を良好なプラズ
マ状態とすることによって蒸着効率を高め、よって被膜
の密着性を向上させることができる。
マ状態とすることによって蒸着効率を高め、よって被膜
の密着性を向上させることができる。
第1図はこの発明に適用するイオンプレーティング装置
の模式図、 第2図は従来のイオンプレーティング装置の模式図、 第3図はこの発明に適用する別のイオンプレーティング
装置の模式図である。 1・・・基板 2・・・反応ガス導入口3
・・・るつぼ 4・・・蒸着用物質5・・・
排気口 6・・・真空槽7・・・HCDガン
8,10・・・集束コイル11・・・プラズ
マビーム 12・・・電圧印加装置13・・・冷却管
14・・・導入管特許出願人 川崎製鉄
株式会社 @1図
の模式図、 第2図は従来のイオンプレーティング装置の模式図、 第3図はこの発明に適用する別のイオンプレーティング
装置の模式図である。 1・・・基板 2・・・反応ガス導入口3
・・・るつぼ 4・・・蒸着用物質5・・・
排気口 6・・・真空槽7・・・HCDガン
8,10・・・集束コイル11・・・プラズ
マビーム 12・・・電圧印加装置13・・・冷却管
14・・・導入管特許出願人 川崎製鉄
株式会社 @1図
Claims (1)
- 1、反応ガスを導入した真空槽内において、るつぼに収
容した蒸発用物質をホローカソードガンによって溶解、
蒸発させると同時にイオン化させ、基板に被膜を形成す
るに当り、るつぼから基板の直近にわたって配設した集
束コイルの内側を蒸発物質の移動径路とし、さらにこの
集束コイルに正電圧を印加することを特徴とする蒸着効
率の高いイオンプレーティング処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9355588A JPH01268863A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | 蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9355588A JPH01268863A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | 蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01268863A true JPH01268863A (ja) | 1989-10-26 |
Family
ID=14085499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9355588A Pending JPH01268863A (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 | 蒸着効率の高いイオンプレーティング処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01268863A (ja) |
-
1988
- 1988-04-18 JP JP9355588A patent/JPH01268863A/ja active Pending
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