JPH01256193A - 小径スルーホール基板の製造方法 - Google Patents
小径スルーホール基板の製造方法Info
- Publication number
- JPH01256193A JPH01256193A JP8444088A JP8444088A JPH01256193A JP H01256193 A JPH01256193 A JP H01256193A JP 8444088 A JP8444088 A JP 8444088A JP 8444088 A JP8444088 A JP 8444088A JP H01256193 A JPH01256193 A JP H01256193A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- small diameter
- copper plating
- electroless copper
- hole
- copper foil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title abstract description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 29
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 2
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 abstract description 10
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonia chloride Chemical compound [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 235000019270 ammonium chloride Nutrition 0.000 abstract description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 4
- 239000002585 base Substances 0.000 abstract description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 abstract description 2
- 239000003518 caustics Substances 0.000 abstract description 2
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 abstract 2
- XEMZLVDIUVCKGL-UHFFFAOYSA-N hydrogen peroxide;sulfuric acid Chemical compound OO.OS(O)(=O)=O XEMZLVDIUVCKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 9
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 201000004569 Blindness Diseases 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/425—Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern
- H05K3/428—Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern initial plating of through-holes in substrates having a metal pattern
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明の対象〉
本発明は、マイクロランド、ランドレス又は小径バイヤ
ーホール設計された両面及び多層基板の新規な製造方法
に関する。
ーホール設計された両面及び多層基板の新規な製造方法
に関する。
〈従来技術とその問題点〉
従来は、小径バイヤーホール(例えば板厚1.6tのガ
ラスエポキシ材0.5mmφ以下のバイヤーホール)の
形成においては制約条件があり、バイヤーボールに対し
少なくとも0.1 Il1以上のアニユラ−リング(環
状リング)となるランド全有し、導体パターン密度すな
わち導体中は0.15 ntpr以上、導体間隔は0.
1513以上必要であり、パターン密度バランスも0.
7以上必要であっ之。(パターン密度バランスとは、当
該プリント基板の両面を等面積に100等分し、その1
等分の占めるパターン面積の最小、最大の比をいう。)
この制約全骨けるのは、現在広く行なわれているサブト
ラクト・パネルパターンメツキ法の技術的限界からくる
ものである。もし、この制約を無視して製造すると著し
い歩留りの低下をきたしてしまうことになる。これは表
裏のパターン面積が異なるところへ同電流が流れる為、
表裏で電流密度の過多が発生し、不良メツキとなること
に起因している。
ラスエポキシ材0.5mmφ以下のバイヤーホール)の
形成においては制約条件があり、バイヤーボールに対し
少なくとも0.1 Il1以上のアニユラ−リング(環
状リング)となるランド全有し、導体パターン密度すな
わち導体中は0.15 ntpr以上、導体間隔は0.
1513以上必要であり、パターン密度バランスも0.
7以上必要であっ之。(パターン密度バランスとは、当
該プリント基板の両面を等面積に100等分し、その1
等分の占めるパターン面積の最小、最大の比をいう。)
この制約全骨けるのは、現在広く行なわれているサブト
ラクト・パネルパターンメツキ法の技術的限界からくる
ものである。もし、この制約を無視して製造すると著し
い歩留りの低下をきたしてしまうことになる。これは表
裏のパターン面積が異なるところへ同電流が流れる為、
表裏で電流密度の過多が発生し、不良メツキとなること
に起因している。
電流バランスを良くする為に、パネルメッキ法で行なう
方法もあるが.エッチング層が厚くなってしまい.エッ
チング精度が落ちるという欠点があるばかりでなく小径
スルーホール部のアニエラーリングが小さい場合にはス
ルーホールの断線カ生じてしまうという致命的欠陥もあ
った。こ扛ら全解決する為、・ンートアディティブ法が
開発さn実用に供さnてきているが、小径穴0.4md
以下のスルーホール形成に於いては工法上の泣きどころ
がある。すなわち、ドライフィルム感光膜を使用すると
、ラミネートした感光膜か・ぞターン形成時に露光さし
た時・ぐターンの状態によっては飛び散ってショートし
てしまうことがあった。
方法もあるが.エッチング層が厚くなってしまい.エッ
チング精度が落ちるという欠点があるばかりでなく小径
スルーホール部のアニエラーリングが小さい場合にはス
ルーホールの断線カ生じてしまうという致命的欠陥もあ
った。こ扛ら全解決する為、・ンートアディティブ法が
開発さn実用に供さnてきているが、小径穴0.4md
以下のスルーホール形成に於いては工法上の泣きどころ
がある。すなわち、ドライフィルム感光膜を使用すると
、ラミネートした感光膜か・ぞターン形成時に露光さし
た時・ぐターンの状態によっては飛び散ってショートし
てしまうことがあった。
又、液状ウェット感光膜を使用した場合は、小径孔に入
シ込んだレジストが取シきnず、この部分へのメツキ付
着が不完全になってしまうという致命的欠陥があった。
シ込んだレジストが取シきnず、この部分へのメツキ付
着が不完全になってしまうという致命的欠陥があった。
〈発明の目的〉
本発明は、こnらの・り一トアディティブ法の小径穴0
.4mmφ以下のスルーホール形成の欠点を解決する為
、小径スルーホール基板の提供を目的としてなさnたも
のである。
.4mmφ以下のスルーホール形成の欠点を解決する為
、小径スルーホール基板の提供を目的としてなさnたも
のである。
その要旨とするところは、
小径穴0.4朋φ以下のスルーホール基板において、A
、無電解銅メツキで触媒処理する第1工程と。
、無電解銅メツキで触媒処理する第1工程と。
B、電着感光膜を付着する第2工程と、C,フォトマス
クにより露光現像する第3工程と、D.エッチングする
第4工程と、 E、レジスト膜を除去する第5工程と、F、無電解銅メ
ツキを施す第6工程 からなることを特徴とする小径スルーホール基板の製造
方法で、パートアディティブの特徴を生かしつつ、高信
頼性の小径スルーホール基板を製造することを特徴とす
る。
クにより露光現像する第3工程と、D.エッチングする
第4工程と、 E、レジスト膜を除去する第5工程と、F、無電解銅メ
ツキを施す第6工程 からなることを特徴とする小径スルーホール基板の製造
方法で、パートアディティブの特徴を生かしつつ、高信
頼性の小径スルーホール基板を製造することを特徴とす
る。
〈実施例の構成〉
以下、本発明の製造方法の実施例を、添付図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第1図は本発明の小径スルーホール基板の製造工程の断
面を模式的に表わしている。
面を模式的に表わしている。
1−(1)工程は、ガラス基材入りエポキシ銅張板をド
リル穴あけし、無電解銅メツキで触媒化処理した状態を
示し、1は基材、2はラミネート接着された銅箔、3は
触媒粒子で4は小径穴壁である。
リル穴あけし、無電解銅メツキで触媒化処理した状態を
示し、1は基材、2はラミネート接着された銅箔、3は
触媒粒子で4は小径穴壁である。
z−(2)工程は、電着感光膜5を付着させた状態を示
す。感光膜は、電着性であるので銅箔2の上にのみ付着
し、特に重要なことは小径穴壁面4の鋼部5′へも付着
することである。その池の不導体部へは感光膜は付着し
ない。
す。感光膜は、電着性であるので銅箔2の上にのみ付着
し、特に重要なことは小径穴壁面4の鋼部5′へも付着
することである。その池の不導体部へは感光膜は付着し
ない。
1−(3)工程は、フォトマスクをあて露光現像した状
態を示す。感光膜の残存している個所は、最〜、 終段階で必要となる個所である。
態を示す。感光膜の残存している個所は、最〜、 終段階で必要となる個所である。
1−(4)工程は、塩化アンモニウム第二銅エッチ分の
銅箔をエッチアウトした状態を示す。
銅箔をエッチアウトした状態を示す。
1−(5)工程は、レジスト膜5を塩化メチレン又は苛
性アルカリで除去した状態を示す。
性アルカリで除去した状態を示す。
1−(6)工程は、銅箔2の上面及び触媒粒子3で処理
された小径穴壁4に無電解鋼メツキ全施した状態を示す
。
された小径穴壁4に無電解鋼メツキ全施した状態を示す
。
無電解銅メツキは銅箔2の上面に、自己触媒作用により
銅メツキ6が析出し、他方、小径穴壁4へは3の触媒に
より銅メツキ6が析出する。
銅メツキ6が析出し、他方、小径穴壁4へは3の触媒に
より銅メツキ6が析出する。
他の場所に就いては、触媒となる媒体がない為、銅メツ
キは析出せず、必要な個所のみ選択的に銅が析出する。
キは析出せず、必要な個所のみ選択的に銅が析出する。
以上説明の中で重要となる点は、1−(2)工程で、電
着感光膜付着の際銅箔2の表面のみに感光膜が付着して
、小径穴壁4には付着しないこと。3の触媒が各工程の
段階で脱落しない第2図は、本発明の小径スルーホール
基板に使用したテストA?ターンであり、80mzX1
80朋1.6tのガラスエポキシ銅張板に0.3朋φの
穴が4000穴あけられ、これがシリーズで接続されて
いるものである。
着感光膜付着の際銅箔2の表面のみに感光膜が付着して
、小径穴壁4には付着しないこと。3の触媒が各工程の
段階で脱落しない第2図は、本発明の小径スルーホール
基板に使用したテストA?ターンであり、80mzX1
80朋1.6tのガラスエポキシ銅張板に0.3朋φの
穴が4000穴あけられ、これがシリーズで接続されて
いるものである。
表1は、工程を変えた6種類に就いて各々5枚作成しシ
リーズ導通試験とホットオイル試験(260℃、10秒
、クロロセン、15秒)での導通不安定点迄のサイクル
数を調べたものである。
リーズ導通試験とホットオイル試験(260℃、10秒
、クロロセン、15秒)での導通不安定点迄のサイクル
数を調べたものである。
この表から明らかな様に、パートアディティブ法では電
着感光膜と塩化アンモニウム第二銅系エンチング又Vi
電着感光膜と硫酸過酸化水素系エツチングの組み合わせ
が特に良好な結果を示した。
着感光膜と塩化アンモニウム第二銅系エンチング又Vi
電着感光膜と硫酸過酸化水素系エツチングの組み合わせ
が特に良好な結果を示した。
又、パターンメツキエツチング法と比較して品質面(ス
ルーホールの信頼性)の差はみられずほぼ同等であった
。
ルーホールの信頼性)の差はみられずほぼ同等であった
。
くその池の変形例〉
今迄エツチング液として特に望ましい塩化アンモニウム
第二銅系と硫酸過酸化水素系の場合2例にとり説明して
きたが、これに限るものでないことはいうまでもなく本
発明の範囲内で各種の変形を含むものであることはいう
までもない。
第二銅系と硫酸過酸化水素系の場合2例にとり説明して
きたが、これに限るものでないことはいうまでもなく本
発明の範囲内で各種の変形を含むものであることはいう
までもない。
〈発明の効果〉
以上説明の様に、本発明の小径スルーホール基板の製造
方法によれば、ハートアディティブ法の特徴?生かしつ
つ、高信頼性の小径スルーホール基板を製造することが
出来るという優れた効果を奏することが出来るので、そ
の工業的価値は犬なるものがある。
方法によれば、ハートアディティブ法の特徴?生かしつ
つ、高信頼性の小径スルーホール基板を製造することが
出来るという優れた効果を奏することが出来るので、そ
の工業的価値は犬なるものがある。
第1図は本発明の小径スルーホール基板の灸製造工程の
断面図、第2図の上図は本発明の小径スルーホール基板
に使用したテストz9ターン全示し、下図はアニーラ−
リングの拡大図2示す。表1は工程2変えた6種類の試
験結果である。 1:基材、2:ラミネート接着された銅箔、3:触媒粒
子、4:小径穴壁、5 、5’ :電着感光膜、6:銅
メツキ。 第1図 丁続補正盲(自発) 1.9r *l:の表示 昭和63年特許願第84440号 2、発明の名称 小IYスルーホール基板の製造方法 3、?lll正をする者 事件との関係 特許出願人 5、補正の内容 (1)、明細占7頁5行目「ぼ同等であ−)た。」ど1
−<その他の変形例〉」の間に図面の簡()1な説明の
欄に記載されている表 1を押入する。 (2)、同書8頁3行目[表 1は工程を変、(た6種
類の試験結果である。」を削除する。 以」二
断面図、第2図の上図は本発明の小径スルーホール基板
に使用したテストz9ターン全示し、下図はアニーラ−
リングの拡大図2示す。表1は工程2変えた6種類の試
験結果である。 1:基材、2:ラミネート接着された銅箔、3:触媒粒
子、4:小径穴壁、5 、5’ :電着感光膜、6:銅
メツキ。 第1図 丁続補正盲(自発) 1.9r *l:の表示 昭和63年特許願第84440号 2、発明の名称 小IYスルーホール基板の製造方法 3、?lll正をする者 事件との関係 特許出願人 5、補正の内容 (1)、明細占7頁5行目「ぼ同等であ−)た。」ど1
−<その他の変形例〉」の間に図面の簡()1な説明の
欄に記載されている表 1を押入する。 (2)、同書8頁3行目[表 1は工程を変、(た6種
類の試験結果である。」を削除する。 以」二
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 小径穴0.4mmφ以下のスルーホール基板において
、A.無電解銅メッキで触媒処理する第1工程と、B.
電着感光膜を付着する第2工程と、 C.フォトマスクにより露光現像する第3工程と、D.
エッチングする第4工程と、 E.レジスト膜を除去する第5工程と、 F.無電解銅メッキを施す第6工程 からなることを特徴とする小径スルーホール基板の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8444088A JPH01256193A (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 小径スルーホール基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8444088A JPH01256193A (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 小径スルーホール基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01256193A true JPH01256193A (ja) | 1989-10-12 |
Family
ID=13830651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8444088A Pending JPH01256193A (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 小径スルーホール基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01256193A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55148491A (en) * | 1979-05-09 | 1980-11-19 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Method of fabricating printed circuit board |
JPS61176187A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-07 | エルナ−株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
JPS61247090A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 | 日本ペイント株式会社 | 半田スル−ホ−ルを有する回路板の製造方法 |
JPS624398A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-10 | ブラザー工業株式会社 | 両面スルホ−ル回路基板の製造方法 |
-
1988
- 1988-04-06 JP JP8444088A patent/JPH01256193A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55148491A (en) * | 1979-05-09 | 1980-11-19 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Method of fabricating printed circuit board |
JPS61176187A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-07 | エルナ−株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
JPS61247090A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 | 日本ペイント株式会社 | 半田スル−ホ−ルを有する回路板の製造方法 |
JPS624398A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-10 | ブラザー工業株式会社 | 両面スルホ−ル回路基板の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4099501B2 (ja) | プリント基板の製造方法 | |
US6043150A (en) | Method for uniform plating of dendrites | |
JPH01256193A (ja) | 小径スルーホール基板の製造方法 | |
JPH0243356B2 (ja) | ||
JPH036880A (ja) | ブリント配線板及びその製造方法 | |
JPH08186373A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH0373590A (ja) | プリント基板の製造方法 | |
JPS6141151A (ja) | レジストパタ−ンの形成法 | |
JPH077264A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPS5832798B2 (ja) | 印刷配線板の製造法 | |
JPS62156898A (ja) | スル−ホ−ルプリント配線板の製造方法 | |
JPH07115275A (ja) | 多層プリント配線板用基板の製造方法 | |
JPS59175797A (ja) | 多層プリント板の製造方法 | |
JPH01129494A (ja) | プリント回路板の製造方法 | |
JPH0760927B2 (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPH05308194A (ja) | 多層印刷配線板の製造方法 | |
JPS6159891A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPS5846698A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPS60208895A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH01243494A (ja) | プリント回路板の製造方法 | |
JPS5860596A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPH07235569A (ja) | 2層tabテープキャリアとその製造方法 | |
JPH0590736A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH02187094A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
JPH01302795A (ja) | プリント回路板の製造方法 |