JPH01245531A - 半導体装置のパッケージ構造およびその製造方法 - Google Patents
半導体装置のパッケージ構造およびその製造方法Info
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- JPH01245531A JPH01245531A JP7399788A JP7399788A JPH01245531A JP H01245531 A JPH01245531 A JP H01245531A JP 7399788 A JP7399788 A JP 7399788A JP 7399788 A JP7399788 A JP 7399788A JP H01245531 A JPH01245531 A JP H01245531A
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Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はエアブリッジ内部配線構造を有する半導体装置
を樹脂モールドによりパッケージする方法に関する。
を樹脂モールドによりパッケージする方法に関する。
〈従来の技術〉
半導体装置を超高速で動作させるためには、その内部配
線間の寄生容量を小さくする必要がある。
線間の寄生容量を小さくする必要がある。
そこで従来より、交差する内部配線間に空間をもたせた
エアブリッジ配線構造が採用されており、これによって
内部配線間の寄生容量を小さくしている。
エアブリッジ配線構造が採用されており、これによって
内部配線間の寄生容量を小さくしている。
一方、半導体装置はパラメータのドリフト等を防止する
ために外部からの汚れに対して不活性化する必要がある
。このため、半導体装置は樹脂によりモールドしてパッ
ケージされたり、或は、セラミックケース内にパッケー
ジされたりする。
ために外部からの汚れに対して不活性化する必要がある
。このため、半導体装置は樹脂によりモールドしてパッ
ケージされたり、或は、セラミックケース内にパッケー
ジされたりする。
〈発明が解決しようとする課題〉
第5図に示すように、基板1上のトランジスタ2a、2
b、2c、・・・間をつなぐ配線3a。
b、2c、・・・間をつなぐ配線3a。
3b、・・・間に空間を設けたエアブリッジ内部配線構
造の半導体装置にあっては、樹脂6によってモールドし
てパッケージを施すと、内部配線3a、3b間に形成し
た空間内に樹脂6が侵入してしまって空間が潰れ、寄生
容量が増大してエアブリッジ構造とした意味が失われて
しまう。
造の半導体装置にあっては、樹脂6によってモールドし
てパッケージを施すと、内部配線3a、3b間に形成し
た空間内に樹脂6が侵入してしまって空間が潰れ、寄生
容量が増大してエアブリッジ構造とした意味が失われて
しまう。
このため従来では、エアブリッジ内部配線構造を備えた
半導体装置は、樹脂モールドに較べて大幅にコストが高
いセラミックケースを用いてパッケージせざるを得ず、
半導体装置の製造原価低減の大きな障害となっていた。
半導体装置は、樹脂モールドに較べて大幅にコストが高
いセラミックケースを用いてパッケージせざるを得ず、
半導体装置の製造原価低減の大きな障害となっていた。
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたもので、エアブ
リッジ内部配線構造を備えた半導体装置を樹脂モールド
によりパッケージすることができる半導体装置のパッケ
ージ方法を提供することを目的とする。
リッジ内部配線構造を備えた半導体装置を樹脂モールド
によりパッケージすることができる半導体装置のパッケ
ージ方法を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成する本発明のパッケージ方法は、エアブ
リッジ内部配線構造を有する半導体装置において、該内
部配線部に発泡性樹脂を付着させた後、当該半導体装置
を樹脂によりモールドしてパッケージすることを特徴と
する。
リッジ内部配線構造を有する半導体装置において、該内
部配線部に発泡性樹脂を付着させた後、当該半導体装置
を樹脂によりモールドしてパッケージすることを特徴と
する。
〈発明の作用及び効果〉
本発明のパッケージ方法によれば、先ず、発泡樹脂を付
着させてエアブリッジ内部配線構造部をこの発泡樹脂で
覆い、交差した内部配線間の空間内に発泡樹脂の泡を入
り込ませる。そしてこの後、この半導体装置を樹脂モー
ルドによりパッケージする。
着させてエアブリッジ内部配線構造部をこの発泡樹脂で
覆い、交差した内部配線間の空間内に発泡樹脂の泡を入
り込ませる。そしてこの後、この半導体装置を樹脂モー
ルドによりパッケージする。
本発明によれば、樹脂モールドに先立って内部配線の交
差部の空間に発泡樹脂の泡を入り込ませるようにしてい
るため、これに続く樹脂モールドによっても発泡樹脂の
泡により当該空間内へのモールド樹脂の侵入が防止され
る。従って、樹脂モールドした後も内部配線間の空間に
は発泡樹脂の気泡によってかなりの空気層が確保される
ため、エアブリッジ内部配線構造を備えた半導体装置に
あっても、その寄生容量をあまり大きくすることなく樹
脂モールドによりパッケージすることができ、セラミッ
クケースの使用を廃止して半導体装置の製造原価を大幅
に低減することができる。
差部の空間に発泡樹脂の泡を入り込ませるようにしてい
るため、これに続く樹脂モールドによっても発泡樹脂の
泡により当該空間内へのモールド樹脂の侵入が防止され
る。従って、樹脂モールドした後も内部配線間の空間に
は発泡樹脂の気泡によってかなりの空気層が確保される
ため、エアブリッジ内部配線構造を備えた半導体装置に
あっても、その寄生容量をあまり大きくすることなく樹
脂モールドによりパッケージすることができ、セラミッ
クケースの使用を廃止して半導体装置の製造原価を大幅
に低減することができる。
〈実施例〉
本発明を実施例に基づいて具体的に説明する。
第1図〜第4図は本実施例のパッケージ方法を順次示す
半導体装置の断面図である。
半導体装置の断面図である。
エアブリッジ内部配線構造を有した半導体装置にあって
は、第1図に示すように、Si基板lに形成された複数
のトランジスタ2a、 2b、 2c。
は、第1図に示すように、Si基板lに形成された複数
のトランジスタ2a、 2b、 2c。
・・・、間を接続する内部配線3a、3b、 ・・・
、を上下にオフセットさせ、これら内部配線3a、3b
、・・・、の交差部に空間4が形成されている。尚、配
線の幅d=2μmに対して空間4の高さh=5000人
〜1μm人殺1μmている。
、を上下にオフセットさせ、これら内部配線3a、3b
、・・・、の交差部に空間4が形成されている。尚、配
線の幅d=2μmに対して空間4の高さh=5000人
〜1μm人殺1μmている。
このような半導体装置をリードフレーム7にダイボンド
し更にワイヤボンドした後パッケージするのであるが、
このパッケージに際し、先ず第2図及び第3図に示すよ
うに、内部配線部全面を発泡樹脂5で覆う。
し更にワイヤボンドした後パッケージするのであるが、
このパッケージに際し、先ず第2図及び第3図に示すよ
うに、内部配線部全面を発泡樹脂5で覆う。
この発泡樹脂5はポリオレフィン、エポキシ等に発泡剤
を添加して発泡させたものであり、これを内部配線全面
に付着させて泡状のまま固化させるである。
を添加して発泡させたものであり、これを内部配線全面
に付着させて泡状のまま固化させるである。
このため、各配線3a、3b、 ・・・の下部にも泡
状の発泡樹脂5が侵入し、上部の配線3bと下部の配線
3aとの交差部の空間4には大部分が気泡5aから成る
発泡樹脂5で充填されることとなる。従って、上部の配
線3bと下部の配線3aとの交差部の空間4に気泡5a
によフて空気層が確保される。尚、不活性膜5は5i3
NJ、SiO2,5iON等から形成されている。
状の発泡樹脂5が侵入し、上部の配線3bと下部の配線
3aとの交差部の空間4には大部分が気泡5aから成る
発泡樹脂5で充填されることとなる。従って、上部の配
線3bと下部の配線3aとの交差部の空間4に気泡5a
によフて空気層が確保される。尚、不活性膜5は5i3
NJ、SiO2,5iON等から形成されている。
そして、第4図に示すように、発泡樹脂5を付着固化さ
せた半導体装置を樹脂6によりモールドし、半導体装置
のパッケージを終了する。この樹脂モールドにおいて、
上部の配線3bと下部の配線3aとの交差部の空間4は
気泡5aが既に充填。
せた半導体装置を樹脂6によりモールドし、半導体装置
のパッケージを終了する。この樹脂モールドにおいて、
上部の配線3bと下部の配線3aとの交差部の空間4は
気泡5aが既に充填。
されているため、樹脂6がこの空間4内に侵入すること
はない。
はない。
このため、樹脂モールドにおいても内部配線間の空間4
に気泡5aによって空気層を確保することができ、内部
配線間の寄生容量をあまり大きくすることなく低コスト
なパッケージを実現することができる。
に気泡5aによって空気層を確保することができ、内部
配線間の寄生容量をあまり大きくすることなく低コスト
なパッケージを実現することができる。
第1図〜第4図は本発明の一実施例に係り、第1図はパ
ッケージ前の半導体装置の断面図、第2図は発泡樹脂を
付着させた導体装置の断面図、第3図は第2図中の部分
拡大図、第4図は樹脂モールディング後の半導体装置の
断面図、第5図は直接樹脂モールディングを施した半導
体装置の断面図である。 lは基板、 3a、3bは内部配線、 4は空間、 5は発泡樹脂、 5aは気泡、 6は樹脂である。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 安 倍 逸 朗 第1図 第2図 h 第3図 第5図
ッケージ前の半導体装置の断面図、第2図は発泡樹脂を
付着させた導体装置の断面図、第3図は第2図中の部分
拡大図、第4図は樹脂モールディング後の半導体装置の
断面図、第5図は直接樹脂モールディングを施した半導
体装置の断面図である。 lは基板、 3a、3bは内部配線、 4は空間、 5は発泡樹脂、 5aは気泡、 6は樹脂である。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 安 倍 逸 朗 第1図 第2図 h 第3図 第5図
Claims (1)
- エアブリッジ内部配線構造を有する半導体装置におい
て、該内部配線部に発泡性樹脂を付着させた後、当該半
導体装置を樹脂によりモールドしてパッケージすること
を特徴とする半導体装置のパッケージ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63073997A JP2603507B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置のパッケージ構造およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63073997A JP2603507B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置のパッケージ構造およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01245531A true JPH01245531A (ja) | 1989-09-29 |
JP2603507B2 JP2603507B2 (ja) | 1997-04-23 |
Family
ID=13534279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63073997A Expired - Fee Related JP2603507B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 半導体装置のパッケージ構造およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2603507B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0807971A3 (en) * | 1996-05-14 | 1999-07-28 | Nec Corporation | Ultrahigh-frequency electronic component and method of manufacturing the same |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4944072A (ja) * | 1972-07-14 | 1974-04-25 | ||
JPS62183533A (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の樹脂封止方法 |
-
1988
- 1988-03-28 JP JP63073997A patent/JP2603507B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4944072A (ja) * | 1972-07-14 | 1974-04-25 | ||
JPS62183533A (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の樹脂封止方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0807971A3 (en) * | 1996-05-14 | 1999-07-28 | Nec Corporation | Ultrahigh-frequency electronic component and method of manufacturing the same |
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---|---|
JP2603507B2 (ja) | 1997-04-23 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |