JPH01218718A - リードの曲げ修整方法及び曲げ修整型 - Google Patents
リードの曲げ修整方法及び曲げ修整型Info
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- JPH01218718A JPH01218718A JP4478988A JP4478988A JPH01218718A JP H01218718 A JPH01218718 A JP H01218718A JP 4478988 A JP4478988 A JP 4478988A JP 4478988 A JP4478988 A JP 4478988A JP H01218718 A JPH01218718 A JP H01218718A
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- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 10
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- Straightening Metal Sheet-Like Bodies (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
封止体の側面から突出し曲げ加工が施されたリードを有
する電子部品例えばFPT半導体装置などを対象に、上
記曲げの寸法ずれを曲げ修整型で修整する曲げ修整方法
及びその曲げ修整型に関し、修整精度を向上させること
を目的とし、方法にあっては、リードの位置を下型の修
整用曲げダイに合わせて封止体を下型上に固定し、該曲
げダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが上方に
なるようにした後に、上型の修整用曲げパンチでリード
を押圧するように構成し、型にあっては、上型の下降ス
トロークによりそのストロークの間に下型の修整用曲げ
ダイを一時上方に押し上げるリンク機構を具えるように
構成する。
する電子部品例えばFPT半導体装置などを対象に、上
記曲げの寸法ずれを曲げ修整型で修整する曲げ修整方法
及びその曲げ修整型に関し、修整精度を向上させること
を目的とし、方法にあっては、リードの位置を下型の修
整用曲げダイに合わせて封止体を下型上に固定し、該曲
げダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが上方に
なるようにした後に、上型の修整用曲げパンチでリード
を押圧するように構成し、型にあっては、上型の下降ス
トロークによりそのストロークの間に下型の修整用曲げ
ダイを一時上方に押し上げるリンク機構を具えるように
構成する。
本発明は、封止体の側面から突出し曲げ加工が施された
リードを有する電子部品を対象に、上記曲げの寸法ずれ
を曲げ修整型で修整する曲げ修整方法及びその曲げ修整
型に関す。
リードを有する電子部品を対象に、上記曲げの寸法ずれ
を曲げ修整型で修整する曲げ修整方法及びその曲げ修整
型に関す。
上記リードを有する電子部品には、例えばFPT(フラ
ット・パッケージ・タイプ)半導体装置のように、リー
ドの曲げ寸法に精度を要求されるものがある。そのよう
な電子部品では、リードに曲げ加工を施した後に、曲げ
修整型を用いて曲げの寸法ずれを修整することが多い。
ット・パッケージ・タイプ)半導体装置のように、リー
ドの曲げ寸法に精度を要求されるものがある。そのよう
な電子部品では、リードに曲げ加工を施した後に、曲げ
修整型を用いて曲げの寸法ずれを修整することが多い。
そして、要求される精度が高い場合には修整精度を高く
する必要がある。
する必要がある。
リードの曲げ修整を行う電子部品としてFPT半導体装
置を例に取り説明する。
置を例に取り説明する。
FPT半導体装置は、第3図側面図の1に示すように、
方形平板状のパッケージ(封止体)2の側面から突出し
曲げ加工が施された複数のリード3を有している。リー
ド3の曲げは、実装に適するようにするためのもので、
全ての先端部が所定の寸法公差に納まって1平面上に揃
う必要がある。
方形平板状のパッケージ(封止体)2の側面から突出し
曲げ加工が施された複数のリード3を有している。リー
ド3の曲げは、実装に適するようにするためのもので、
全ての先端部が所定の寸法公差に納まって1平面上に揃
う必要がある。
そして、最初の曲げ加工で公差に納めることが困難であ
ることから、その寸法ずれを修整する曲げ修整が必要と
なっている。
ることから、その寸法ずれを修整する曲げ修整が必要と
なっている。
この曲げ修整は曲げ修整型を用いて行い、その従来方法
は第4図の側面図(la) (Ib) 〜(4a) (
4b)に示される。ここで、図(la) (Ib)〜の
数字は作業の手順を、aは曲げ修整型の動作を、bはリ
ード3の挙動を示すように割り振っである。
は第4図の側面図(la) (Ib) 〜(4a) (
4b)に示される。ここで、図(la) (Ib)〜の
数字は作業の手順を、aは曲げ修整型の動作を、bはリ
ード3の挙動を示すように割り振っである。
第4図において、曲げ修整型の下型には、パッケージ2
を載せるパンケージガイド部11を一体にした修整用曲
げダイ12が固定され、上型には、パッケージ2を押さ
えるノックアウト13が圧縮ばね14を介して支持され
、また修整用曲げパンチ15が固定されている。
を載せるパンケージガイド部11を一体にした修整用曲
げダイ12が固定され、上型には、パッケージ2を押さ
えるノックアウト13が圧縮ばね14を介して支持され
、また修整用曲げパンチ15が固定されている。
曲げ修整の手順は以下のようである。即ち先ず〔図(l
a) (lb)参照〕、リード3の位置を曲げダイ12
に合わせてパッケージ2をパッケージガイド部11に載
せる。次いで〔図(2a) (2b)参照〕、上型が下
降しノックアウト13がパンケージ2を押えて固定する
。次いで〔図(3a) (3b)参照〕、上型が更に下
降して曲げパンチ15が曲げダイ12上でリード3を押
圧する。この押圧によりリード3は、曲げパンチ15及
び曲げダイ12の形状に倣って曲げが修整される。次い
で〔図(4a) (4b)参照〕、上型が上昇して作業
を完了する。
a) (lb)参照〕、リード3の位置を曲げダイ12
に合わせてパッケージ2をパッケージガイド部11に載
せる。次いで〔図(2a) (2b)参照〕、上型が下
降しノックアウト13がパンケージ2を押えて固定する
。次いで〔図(3a) (3b)参照〕、上型が更に下
降して曲げパンチ15が曲げダイ12上でリード3を押
圧する。この押圧によりリード3は、曲げパンチ15及
び曲げダイ12の形状に倣って曲げが修整される。次い
で〔図(4a) (4b)参照〕、上型が上昇して作業
を完了する。
ここで、リード3は、弾性を有するために上記修整の曲
げに対してスプリングバンクを起こす。
げに対してスプリングバンクを起こす。
即ち、第5図の側面図に示すように、修整前は上方にず
れて■の状態であるリード3は、曲げパンチ15により
■の状態に押圧された後に曲げパンチ15の拘束が解放
されて■の状態になる。
れて■の状態であるリード3は、曲げパンチ15により
■の状態に押圧された後に曲げパンチ15の拘束が解放
されて■の状態になる。
この■→■のスプリングバンクによる寸法ずれは、曲げ
パンチ15及び曲げダイ12の形状にこの寸法ずれを見
込むことによって解決することができる。
パンチ15及び曲げダイ12の形状にこの寸法ずれを見
込むことによって解決することができる。
しかしながら、修整前のり−ド3が■と反対な下方の■
の状態にずれていると、■の状態からのスプリングバッ
クの方向が上記と反対になって修整後のリード3が■め
状態になる。
の状態にずれていると、■の状態からのスプリングバッ
クの方向が上記と反対になって修整後のリード3が■め
状態になる。
このため上述した従来方法は、修整後のり一ド3が■〜
■にばらつき精度の高い曲げ修整が困難である。
■にばらつき精度の高い曲げ修整が困難である。
そこで本発明は、上記■〜■のばらつきを除去し得るリ
ードの曲げ修整方法とその曲げ修整型の提供を目的とす
る。
ードの曲げ修整方法とその曲げ修整型の提供を目的とす
る。
上記目的は、封止体の側面から突出し曲げ加工が施され
たリードを有する電子部品を対象に、上記曲げの寸法ず
れを曲げ修整型で修整するに際して、リードの位置を下
型の修整用曲げダイに合わせて封止体を下型上に固定し
、該曲げダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが
上方になるようにした後に、上型の修整用曲げパンチで
リードを押圧する本発明の曲げ修整方法によって達成さ
れる。
たリードを有する電子部品を対象に、上記曲げの寸法ず
れを曲げ修整型で修整するに際して、リードの位置を下
型の修整用曲げダイに合わせて封止体を下型上に固定し
、該曲げダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが
上方になるようにした後に、上型の修整用曲げパンチで
リードを押圧する本発明の曲げ修整方法によって達成さ
れる。
また、この曲げ修整方法の実施は、上型の下降ストロー
クによりそのストロークの間に下型の修整用曲げダイを
一時上方に押し上げるリンク機構を具える本発明の曲げ
修整型によって達成される。
クによりそのストロークの間に下型の修整用曲げダイを
一時上方に押し上げるリンク機構を具える本発明の曲げ
修整型によって達成される。
曲げダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが上方
になるようにすることにより、先に述べたスプリングバ
ンクは、■−〇がなくなり■−■のみとなる。このこと
により修整後のリードの状態は、■〜■のばらつきが皐
除去されて■のばらつきのみとなり、修整の精度が向上
する。
になるようにすることにより、先に述べたスプリングバ
ンクは、■−〇がなくなり■−■のみとなる。このこと
により修整後のリードの状態は、■〜■のばらつきが皐
除去されて■のばらつきのみとなり、修整の精度が向上
する。
また曲げ修整型においては、上記リンク機構が上型の下
降ストロークの間に修整用曲げダイを一時上方に移動さ
せて本発明の修整方法を可能にし、然もそれを1ス1−
ローラで完了させる。
降ストロークの間に修整用曲げダイを一時上方に移動さ
せて本発明の修整方法を可能にし、然もそれを1ス1−
ローラで完了させる。
以下従来方法の説明と同様にFPT半導体装置1を例に
取り、本発明の実施例について第1図及び第2図を用い
て説明する。第1図は曲げ修整方法の実施例を示す側面
図(la) (lb) 〜(6a) (6b)、第2図
は第1図に示す方法を実施する曲げ修整型の実施例とそ
の動作を示す側面図(11〜(4)、である。
取り、本発明の実施例について第1図及び第2図を用い
て説明する。第1図は曲げ修整方法の実施例を示す側面
図(la) (lb) 〜(6a) (6b)、第2図
は第1図に示す方法を実施する曲げ修整型の実施例とそ
の動作を示す側面図(11〜(4)、である。
ここで、第1図における図(la> (lb)〜の数字
は作業の手順を、aは曲げ修整型の動作を、bはリード
3の挙動を示すように割り振っである。
は作業の手順を、aは曲げ修整型の動作を、bはリード
3の挙動を示すように割り振っである。
第1図において、曲げ修整型の上型には、パンケージ2
を載せるパッケージガイド21が固定されて、その側面
に接して定位置から上方に可動な修整用曲げダイ22が
配設され、上型には、パッケージ2を押さえるノックア
ウト23が圧縮ばね24を介して支持され、また修整用
曲げパンチ25が固定されている。この修整型は、従来
方法の修整型と対比すると、パッケージガイド部11を
一体にした曲げダイ12が、パッケージガイド21と曲
げダイ22に分割された形態である。
を載せるパッケージガイド21が固定されて、その側面
に接して定位置から上方に可動な修整用曲げダイ22が
配設され、上型には、パッケージ2を押さえるノックア
ウト23が圧縮ばね24を介して支持され、また修整用
曲げパンチ25が固定されている。この修整型は、従来
方法の修整型と対比すると、パッケージガイド部11を
一体にした曲げダイ12が、パッケージガイド21と曲
げダイ22に分割された形態である。
曲げ修整の手順は以下のようである。即ち先ず〔図(l
a) (lb)参照〕、リード3の位置を曲げダイ22
に合わゼでパッケージ2をパッケージガイド21に載せ
る。次いで〔図(2a) (2b)参照〕、上型が下降
しノックアウト23がパンケージ2を押えて固定する。
a) (lb)参照〕、リード3の位置を曲げダイ22
に合わゼでパッケージ2をパッケージガイド21に載せ
る。次いで〔図(2a) (2b)参照〕、上型が下降
しノックアウト23がパンケージ2を押えて固定する。
次いで〔図(3a) (3b)及び図(4a) (4b
)参照〕、曲げダイ22を一時上方に移動してリード3
を突き上げリード3の寸法ずれが上方になるようにする
。
)参照〕、曲げダイ22を一時上方に移動してリード3
を突き上げリード3の寸法ずれが上方になるようにする
。
曲げダイ22は定位置に復帰する。次いで〔図(5a)
(5b)参照〕、上型が更に下降して曲げパンチ25が
曲げダイ22上でリード3を押圧する。この押圧により
リード3は、曲げパンチ25及び曲げダイ22の形状に
倣って曲げが修整される。次いで〔図(6a)(6b)
参照〕、上型が上昇して作業を完了する。
(5b)参照〕、上型が更に下降して曲げパンチ25が
曲げダイ22上でリード3を押圧する。この押圧により
リード3は、曲げパンチ25及び曲げダイ22の形状に
倣って曲げが修整される。次いで〔図(6a)(6b)
参照〕、上型が上昇して作業を完了する。
このようにすれば、修整前のり一ド3のずれ方向が上下
の何れであっても、先に述べたスプリングバンクは第5
図で述べた■−■のみとなるので、このスプリングバン
クによる寸法ずれを曲げパンチ25及び曲げダイ22の
形状に見込むことにより、修整の精度が向上する。
の何れであっても、先に述べたスプリングバンクは第5
図で述べた■−■のみとなるので、このスプリングバン
クによる寸法ずれを曲げパンチ25及び曲げダイ22の
形状に見込むことにより、修整の精度が向上する。
第2図において、示される曲げ修整型は、上記のパッケ
ージガイド21、曲げダイ22、ノックアウト23、圧
縮ばね24及び曲げパンチ25を具え、更に、ローラパ
ンチ31、一端にローラ32を付したアーム33、アー
ム34及び引張ばね35などからなるリンク機構30を
具えている。そして図示は省略されるが、パッケージ2
の4側面から突出するリード3の全てに対して同時に機
能するようになっている。
ージガイド21、曲げダイ22、ノックアウト23、圧
縮ばね24及び曲げパンチ25を具え、更に、ローラパ
ンチ31、一端にローラ32を付したアーム33、アー
ム34及び引張ばね35などからなるリンク機構30を
具えている。そして図示は省略されるが、パッケージ2
の4側面から突出するリード3の全てに対して同時に機
能するようになっている。
曲げダイ22は、圧縮ばね26により下方に引っ張られ
て、下型の定位置に支持されている(図(11参照)。
て、下型の定位置に支持されている(図(11参照)。
アーム34は、支点36で下型に軸支され、一端が曲げ
ダイ22に係合して揺動により圧縮ばね26に抗して曲
げダイ22を図(2)に示すように上方に押し上げる。
ダイ22に係合して揺動により圧縮ばね26に抗して曲
げダイ22を図(2)に示すように上方に押し上げる。
アーム33ハ、ローラ32と反対側の端がアーム34の
反対端に支点37で軸支され、中間点が引張ばね35に
より下方に引っ張られるも、アーム34に設けたストッ
パ34aに支えられてほぼ水平に支持されている。
反対端に支点37で軸支され、中間点が引張ばね35に
より下方に引っ張られるも、アーム34に設けたストッ
パ34aに支えられてほぼ水平に支持されている。
ローラパンチ31は、上型に固定されており、図+11
の状態からスタートする上型の下降ストロークにおける
ノックアウト23がパッケージ2を押さえた後の途」二
で、図(2)及び図(3)に示すように、ローラ32を
介しアーム33を一時的に横方向に移動させ、アーム3
4を揺動させて、曲げダイ22を一時上方に移動させる
。この移動が第1図の図(3a) (4a)に示す曲げ
ダイ22の移動に該当する。
の状態からスタートする上型の下降ストロークにおける
ノックアウト23がパッケージ2を押さえた後の途」二
で、図(2)及び図(3)に示すように、ローラ32を
介しアーム33を一時的に横方向に移動させ、アーム3
4を揺動させて、曲げダイ22を一時上方に移動させる
。この移動が第1図の図(3a) (4a)に示す曲げ
ダイ22の移動に該当する。
−ラ32の保合は、図(4)に示すように引張ばね35
に抗してローラ32が上方に逃げるので、曲げダイ22
を移動させることがない。
に抗してローラ32が上方に逃げるので、曲げダイ22
を移動させることがない。
かくして第2図に示す曲げ修整型は、第1図で述べた曲
げ修整方法を実行し、然もそれを1ストロークで完了さ
せる。
げ修整方法を実行し、然もそれを1ストロークで完了さ
せる。
ここで、圧縮ばね24の力は、曲げダイ22が上方に移
動した際にパッケージ2がパッケージガイド2Iから浮
くことのない大きさにする必要があるが、その範囲で小
さく設定することにより、例えばパンケージ2の歪など
によりパッケージ2とパッケージガイド21との接触に
不整合があっても、パッケージ2を押さえた際のパッケ
ージ2の変形を少量に止めることができる。このことは
、上記不整合が整合するまで押えられることに起因する
修整精度の低下を低減させるように作用する。
動した際にパッケージ2がパッケージガイド2Iから浮
くことのない大きさにする必要があるが、その範囲で小
さく設定することにより、例えばパンケージ2の歪など
によりパッケージ2とパッケージガイド21との接触に
不整合があっても、パッケージ2を押さえた際のパッケ
ージ2の変形を少量に止めることができる。このことは
、上記不整合が整合するまで押えられることに起因する
修整精度の低下を低減させるように作用する。
なお、上記実施例はFPT半導体装置の場合を例に取っ
て説明したが、本発明の曲げ修整方法及び曲げ修整型が
、封止体の側面から突出し曲げ加工が施されたリードを
有するFPT半導体装置以外の電子部品をも対象にする
ことができることは、上述の説明から理解されよう。
て説明したが、本発明の曲げ修整方法及び曲げ修整型が
、封止体の側面から突出し曲げ加工が施されたリードを
有するFPT半導体装置以外の電子部品をも対象にする
ことができることは、上述の説明から理解されよう。
以上説明したように本発明の構成によれば、封止体の側
面から突出し曲げ加工が施されたリードを有する電子部
品例えばFPT半導体装置などを対象に、上記曲げの寸
法ずれを曲げ修整型で修整する曲げ修整方法及びその曲
げ修整型において、修整精度を向上させ、然も曲げ修整
型の1ストロークで実謄させる効果がある。
面から突出し曲げ加工が施されたリードを有する電子部
品例えばFPT半導体装置などを対象に、上記曲げの寸
法ずれを曲げ修整型で修整する曲げ修整方法及びその曲
げ修整型において、修整精度を向上させ、然も曲げ修整
型の1ストロークで実謄させる効果がある。
第1図は曲げ修整方法の実施例を示す側面図、第2図は
曲げ修整型の実施例とその動作を示す側面図、 第3図はFPT半導体装置の側面図、 第4図は従来の曲げ修整方法を示す側面図、第5図は従
来方法の問題点を示す側面図、である。 図において、 1はFPT半導体装置(電子部品)、 2はパッケージ(封止体)、 3はリード、 11はパッケージガイド部、 21はパッケージガイド、 12.22は修整用曲げダイ、 13.23はノックアウト、 14.24.26は圧縮ばね、 15.25は修整用曲げパンチ、 30はリンク機構、 31はローラパンチ、 32はローラ、 33.34はアーム、 34aはストッパ、 35は引張ばね、 36.37は支点、 である。
曲げ修整型の実施例とその動作を示す側面図、 第3図はFPT半導体装置の側面図、 第4図は従来の曲げ修整方法を示す側面図、第5図は従
来方法の問題点を示す側面図、である。 図において、 1はFPT半導体装置(電子部品)、 2はパッケージ(封止体)、 3はリード、 11はパッケージガイド部、 21はパッケージガイド、 12.22は修整用曲げダイ、 13.23はノックアウト、 14.24.26は圧縮ばね、 15.25は修整用曲げパンチ、 30はリンク機構、 31はローラパンチ、 32はローラ、 33.34はアーム、 34aはストッパ、 35は引張ばね、 36.37は支点、 である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)封止体の側面から突出し曲げ加工が施されたリード
を有する電子部品を対象に、上記曲げの寸法ずれを曲げ
修整型で修整するに際して、リードの位置を下型の修整
用曲げダイに合わせて封止体を下型上に固定し、該曲げ
ダイを一時上方に移動してリードの寸法ずれが上方にな
るようにした後に、上型の修整用曲げパンチでリードを
押圧することを特徴とするリードの曲げ修整方法。 2)請求項1記載の曲げ修整方法を実施する型であって
、上型の下降ストロークによりそのストロークの間に下
型の修整用曲げダイを一時上方に押し上げるリンク機構
を具えることを特徴とする曲げ修整型。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63044789A JP2595286B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | リードの曲げ修整方法及び曲げ修整型 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63044789A JP2595286B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | リードの曲げ修整方法及び曲げ修整型 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01218718A true JPH01218718A (ja) | 1989-08-31 |
JP2595286B2 JP2595286B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=12701175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63044789A Expired - Lifetime JP2595286B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | リードの曲げ修整方法及び曲げ修整型 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2595286B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01302755A (ja) * | 1988-01-25 | 1989-12-06 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 半導体チップのリード部修正方法及び装置 |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP63044789A patent/JP2595286B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01302755A (ja) * | 1988-01-25 | 1989-12-06 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 半導体チップのリード部修正方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2595286B2 (ja) | 1997-04-02 |
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