JPH01196162A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH01196162A
JPH01196162A JP63020717A JP2071788A JPH01196162A JP H01196162 A JPH01196162 A JP H01196162A JP 63020717 A JP63020717 A JP 63020717A JP 2071788 A JP2071788 A JP 2071788A JP H01196162 A JPH01196162 A JP H01196162A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
region
chip
memory array
bus line
Prior art date
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Pending
Application number
JP63020717A
Other languages
English (en)
Inventor
Takaaki Komatsu
小松 貴聡
Hiroyuki Suzuki
裕之 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP63020717A priority Critical patent/JPH01196162A/ja
Publication of JPH01196162A publication Critical patent/JPH01196162A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明はメモリ装置、その他信号処理装置等の半導体装
置に関し、特にチップ上に主要回路及びバスラインの他
、周辺回路及びボンディングパッド部が設けられる半導
体装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明は、1つのチップ上に主要回路及びハスラインの
他、周辺回路及びボンディングパッド部が設けられる半
導体装置において、ハスライン領域の外側にチップの辺
に沿った方向で、複数設けられてなるボンディングパッ
ド間に周辺回路を混在させることにより、チップ上の面
積の節約を実現するものである。
〔従来の技術] メモリ装置等の半導体装置においては、所定のサイズの
シリコンチップ上に、集積された回路をフォトリソグラ
フィー技術を応用して形成しており、その形成される回
路は、その機能に応して幾つかに区分されて配置されて
いる。
第3図は、−殻内な従来のメモリ装置の回路配置の模式
図である。例えばメモリ装置の場合、主要回路は、メモ
リセルアレイ、センスアンプ、Yデコーダー等の回路と
され、チップ31の略中央部に主要回路領域であるメモ
リアレイ領域32が形成される。このメモリアレイ領域
32の周囲には、信号等を伝達し、引き回すためのハス
ライン領域33が形成される。このハスライン領域33
の外側には、さらにプリデコーダ、入出力ハツファ、、
アドレスバッファ、制御回路等の周辺回路が形成される
周辺回路領域34が配される。そして、周辺回路領域3
4の外側であって、チップ31の端部に臨んだ領域には
、所要のポールボンディング等が行われるボンディング
パッド領域35が設りられる。
第4図はそのチップの辺付近(第3図中の点線内領域)
の部分拡大模式図であって、ハスライン領域33でのハ
スラインを構成する複数の直線状の配線41に対して、
周辺回路領域34に設けられた各周辺回路42〜46が
接続されるように設けられている。その周辺回路42〜
46のチップの端部47側にあたるボンディングパッド
領域35には、略正方形の金属電極からなるボンディン
グバンド48が複数設けられている。
[発明が解決しようとする課題] チップサイズに対するメモリアレイ領域の面積の割合を
大きくすることで、同しチップサイズとするならば、そ
の素子数は増大する。しかし、上述のようにメモリアレ
イ領域32.ハスライン領域333周辺回路領域34.
ボンディングバット領域35と区分してチップ31上に
配置しようとした場合には、ごれらハスライン領域33
.周辺回Fl@ %M域34.ポンディングパソト領域
35の領域では、それぞれ必要最小限の素子等が配列さ
れており、メモリアレイ領域32のライズを相対的に大
きくする制限が加わることになる。
そこで、本発明は、上述の技術的な課題に鑑み、チップ
上の面積を節約するような半導体装置を提供することを
目n勺とする。
〔課題を解決するための手段〕
」二連の課題を解決するために、本発明の半導体装置は
、その1つのチップ上に、主要回路領域と、その主要回
路領域を囲むハスライン領域が設りられる構成を有し、
そのバスライン領域を囲む領域には、上記チップの辺に
沿った方向で複数設けられたボンディングパッド間に周
辺回路が混在することを特徴としている。
上記主要回路領域は、その半導体装置の用途等に応して
主な信号処理、記憶等を行う回路が配置される領域を言
い、例えばメモリ装置におけるメモリアレイ領域を言い
、センスアンプ、各種デコーダー、冗長構成等を含ませ
ることができる。ここで、上記半導体装置は広くメモリ
装置、各種信号処理装置、マイクロコンピュータ、撮像
デバイス等の種々の装置を含む。上記ハスライン領域は
、所要の直線」二の配線が引き回される領域であり、完
全に主要回路領域を囲む領域でなくとも良い。
上記ボンディングバットは、複数設りられるものである
が、必ずしも一定間隔でチップの辺の方向に配置される
ことを要しない。また、」二記周辺回路ハ、入出力パッ
ファ、アドレスバッファ1 レジスタ、カウンタ、トラ
イバ、セレクタ等の種々の回路構成を言い、上記主要回
路とは別個の領域に同一チップ上に配設される回路を言
う。この周辺回路は、ボンディングパッド間に配設され
るが、そのサイズ、数等は任意であり、或いはボンディ
ングバンドが2つ以上、」−記チツブの辺に沿った方向
で並ふところが部分的にあっても良い。
[作用] 例えばメモリ装置においては、その高集積化が行われて
おり、256kSRAM(スタティックRAM)からI
MSRAM以上の規模のメモリ装置へ技術革新が進んだ
場合を考えてみると、集積度が増大してもそれだけビン
等の数が増大することはない。これは、256kSRA
Mクラスにおいてボンディングパッドでボンディングパ
ッド領域が満たされていたのに比較して、IMSRAM
以上の規模のメモリ装置ではボンディングバットの数が
それ程増大せず、ボンディングパッド領域には余白の領
域が現れてくることを意味する。
従って、その余白の領域に対して、周辺回路を配置させ
ることで、チップ上の面積の有効な活用を図れることに
なる。
〔実施例〕
本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。
本実施例は、メモリ装置に関する例であり、周辺回路と
ボンディングパッドがチップの端部に混在するために、
チップ上の面積を有効に活用することができるものであ
る。
第1図は、本実施例を適用したチップの一例を示す平面
図である。シリコンウェハをスクライブライン等に沿っ
て分割したチップ1は、略長方形の形状をしており、そ
の中央には、該チップ1と相似の長方形状の主要回路領
域であるメモリアレイ領域2が設けられている。このメ
モリアレイ領域2には、所要のメモリセル、センスアン
プ、デコーダー等の回路が含まれる。このメモリアレイ
領域2の外側には、該メモリアレイ領域2を帯状に囲む
ようにバスライン領域3が設けられおり、そして、この
バスライン領域3の外側には、チップ1の端部との間で
ポンディングバットと周辺回路が混在する混在領域4が
設けられている。
第2図は、その混在領域4の近傍の部分拡大模式図であ
り、第1図の点線内領域を拡大した領域に対応する。内
側のメモリアレイ領域2の外側には、複数本の直線状の
配線11が形成されており、これら配線11の所要のと
ころからは、さらに配線12等が引き出されている。そ
して、このような配線11等が形成されるバスライン領
域3の外側の混在領域4には、チップの辺に沿った方向
である図中X方向に沿って、複数のボンディングパッド
13,14.15が設けられている。このボンディング
パッド13.14.15は、リードワイヤ等がボールポ
ンディングされる電極であり、それぞれ互いにある程度
離間されて配置されている。そして、これらボンディン
グパッド13,14.15の間には、所要の分離領域だ
け離間されたところで複数の周辺回路が配されている。
すなわち、ホンディングパッド13とボンディングパッ
ド14の間には、周辺回路16.17が配設され、ボン
ディングパッド14とボンディングパッド15の間には
、周辺回路18.19が配設されている。
本実施例の半導体装置は、このように複数のボンディン
グパッド13〜15の間にそれぞれ周辺回路16〜19
が配設されるようなレイアウトを採る。このため、ハス
ライン領域3の外側からチップの端部までの距離は短く
なることになり、第1図中の混在領域4の面積は小さく
なることになる。このため、逆に主要回路領域であるメ
モリアレイ領域2の面積を増加させることが可能であり
、チップサイズの縮小化も可能である。さらにメモリ装
置の一例としては、約9%程度の面積の節約も可能であ
る。
なお、本実施例では、半導体装置をメモリ装置としたが
、これに限定されず種々の半導体装置に本発明を適用で
きる。
〔発明の効果〕 本発明の半導体装置は、チップの端部においてボンディ
ングパッドと周辺回路を混在させているために、その部
分の領域を節約して有効に他の利用を図ることができる
。従って、主要回路領域等を拡げて素子数1機能等を向
上させることもでき、チップ上の面積の有効利用を図る
ことができる。
また、換言すればチップサイズの縮小化も可能であり、
歩留り向上や収率アンプ等を回ることも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体装置の一例を示す模式平面図、
第2図はその一部を拡大して示す模式平面図、第3図は
従来の半導体装置の一例を示す模式平面図、第4図はそ
の従来の半導体装置の一例、の一部を拡大して示す模式
平面図である。 1・・・チップ 2・・・メモリアレイ領域 3・・・ハスライン領域 13〜15・・・ポンディングパット 16〜19・・・周辺回路 特許出願人   ソニー株式会社 代理人弁理士 小池 晃(他2名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  1つのチップ上に、主要回路領域と、その主要回路領
    域を囲むバスライン領域が設けられ、そのバスライン領
    域を囲む領域には、上記チップの辺に沿った方向で複数
    設けられたボンディングパッド間に周辺回路が混在する
    ことを特徴とする半導体装置。
JP63020717A 1988-01-30 1988-01-30 半導体装置 Pending JPH01196162A (ja)

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JP63020717A JPH01196162A (ja) 1988-01-30 1988-01-30 半導体装置

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JP63020717A JPH01196162A (ja) 1988-01-30 1988-01-30 半導体装置

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JPH01196162A true JPH01196162A (ja) 1989-08-07

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ID=12034914

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JP63020717A Pending JPH01196162A (ja) 1988-01-30 1988-01-30 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6108234A (en) * 1998-03-31 2000-08-22 Nec Corporation Semiconductor memory device capable of carrying out a read-out operation at a high speed

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6252943A (ja) * 1985-08-30 1987-03-07 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体装置
JPS63310134A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置

Patent Citations (2)

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