JPH01193944A - テスト項目自動選択システム - Google Patents
テスト項目自動選択システムInfo
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- JPH01193944A JPH01193944A JP63018706A JP1870688A JPH01193944A JP H01193944 A JPH01193944 A JP H01193944A JP 63018706 A JP63018706 A JP 63018706A JP 1870688 A JP1870688 A JP 1870688A JP H01193944 A JPH01193944 A JP H01193944A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- module
- test
- test item
- list
- source program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 22
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000013518 transcription Methods 0.000 description 2
- 230000035897 transcription Effects 0.000 description 2
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プログラムのエラー修正後の復帰テストにお
けるテスト項目を自動的に選択するテスト項目自動選択
システムに関する。
けるテスト項目を自動的に選択するテスト項目自動選択
システムに関する。
プログラムのエラーを修正したあとで、エラー状況をテ
ストすると共に、新しいエラーが生まれていないかどう
かをテストすることを復帰テストというが、そのテスト
項目を選択するには、従来は修正仕様書等のドキュメン
トとテスト項目一覧とを対比することにより、人手で行
っていた。
ストすると共に、新しいエラーが生まれていないかどう
かをテストすることを復帰テストというが、そのテスト
項目を選択するには、従来は修正仕様書等のドキュメン
トとテスト項目一覧とを対比することにより、人手で行
っていた。
しかし、上述の様な作業を人間が行うことは、比較・照
合するのに多くの時間が必要であり、転記ミスなどによ
るテスト項目の選択漏れが生じることが多い。また、原
始プログラムの修正に伴う修正仕様書などのドキュメン
トが作成されていない場合は、修正されたことが分から
ずテストすべきテスト項目が欠落することもあった。さ
らに、構造化プログラミング技法によるプログラムにお
いては多数のモジュールから構成される可能性が高く、
その関係が複雑になる。このため、あるモジュールの修
正したことによる関連するモジュールのテスト項目、つ
まりインタフェースに関するテスト項目を見落としがち
であった。
合するのに多くの時間が必要であり、転記ミスなどによ
るテスト項目の選択漏れが生じることが多い。また、原
始プログラムの修正に伴う修正仕様書などのドキュメン
トが作成されていない場合は、修正されたことが分から
ずテストすべきテスト項目が欠落することもあった。さ
らに、構造化プログラミング技法によるプログラムにお
いては多数のモジュールから構成される可能性が高く、
その関係が複雑になる。このため、あるモジュールの修
正したことによる関連するモジュールのテスト項目、つ
まりインタフェースに関するテスト項目を見落としがち
であった。
本発明のテスト項目自動選択システムは、原始プログラ
ムを格納する外部記憶装置と、前記原始プログラムの修
正データを入力する入力装置と、前記原始プログラムの
各モジュール毎に修正されたことを記憶する原始プログ
ラム修正管理テーブルと、前記原始プログラムの構造化
プログラミングにおけるモジュール間のインタフェース
の有無を記憶するモジュール関連情報テーブルと、モジ
ュール毎のテスト項目番号を記憶するモジュール毎テス
ト項目管理テーブルと、実行結果を出力する出力装置と
を含み、前記原始プログラム修正管理テーブルを検索し
て修正モジュール一覧を作成し、この修正モジュール一
覧と前記モジュール関連情報テーブルとからテスト対象
モジュール一覧を作成し、このテスト対象モジュール一
覧と前記モジュール毎テスト項目管理テーブルとから前
記原始プログラムの修正に伴うテストのテスト項目を選
択し、前記出力装置により出力することを特徴とする。
ムを格納する外部記憶装置と、前記原始プログラムの修
正データを入力する入力装置と、前記原始プログラムの
各モジュール毎に修正されたことを記憶する原始プログ
ラム修正管理テーブルと、前記原始プログラムの構造化
プログラミングにおけるモジュール間のインタフェース
の有無を記憶するモジュール関連情報テーブルと、モジ
ュール毎のテスト項目番号を記憶するモジュール毎テス
ト項目管理テーブルと、実行結果を出力する出力装置と
を含み、前記原始プログラム修正管理テーブルを検索し
て修正モジュール一覧を作成し、この修正モジュール一
覧と前記モジュール関連情報テーブルとからテスト対象
モジュール一覧を作成し、このテスト対象モジュール一
覧と前記モジュール毎テスト項目管理テーブルとから前
記原始プログラムの修正に伴うテストのテスト項目を選
択し、前記出力装置により出力することを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の基本的な考え方を説明する
もので、原始プログラム修正管理テーブル13には、予
め管理対象とする総てのモジュール名を登録しておく。
もので、原始プログラム修正管理テーブル13には、予
め管理対象とする総てのモジュール名を登録しておく。
一方、モジュール関連情報テーブル15は、プログラム
の構造設計が終了した後、それぞれのモジュールの関係
を、また、モジュール毎テスト項目管理テーブル17は
、モジュール毎のテスト・ケースを設計した後にそのテ
スト項目番号を、各々登録しておく。外部記憶装置12
に存在するプログラムの一部を修正する時、入力装置1
1より修正データを入力した更新する。また、その更新
作業が終了した時点で、原始プログラム修正管理テーブ
ル13に修正日付の登録を行う。なお、修正日付の初期
化は以後の原始プログラムの修正をする必要がなくなっ
た時点で、且つ、総ての復帰テストが終了した時点で行
う。
の構造設計が終了した後、それぞれのモジュールの関係
を、また、モジュール毎テスト項目管理テーブル17は
、モジュール毎のテスト・ケースを設計した後にそのテ
スト項目番号を、各々登録しておく。外部記憶装置12
に存在するプログラムの一部を修正する時、入力装置1
1より修正データを入力した更新する。また、その更新
作業が終了した時点で、原始プログラム修正管理テーブ
ル13に修正日付の登録を行う。なお、修正日付の初期
化は以後の原始プログラムの修正をする必要がなくなっ
た時点で、且つ、総ての復帰テストが終了した時点で行
う。
復帰テストを行う場合、まず原始プログラム修正管理テ
ーブル13を検索することにより、修正モジュール一覧
14を作成し、これを−時確保する。つぎに、この修正
モジュール一覧14にあるプログラム名でモジュール関
連情報テーブル15を参照し、テスト対象モジュール一
覧16を作成する。これも−時的に確保するが、修正モ
ジュール一覧14はこの時点で不用となるので開放する
。そして、このテスト対象モジュール一覧16のモジュ
ール名でモジュール毎テスト項目管理テーブル17を検
索することにより、テスト対象モジュールのテスト項目
番号を求める。このようにして得られた結果を、出力装
置18により出力する。また、この時点でテスト対象モ
ジュール一覧16も不用となるので解放し、処理を終え
る。
ーブル13を検索することにより、修正モジュール一覧
14を作成し、これを−時確保する。つぎに、この修正
モジュール一覧14にあるプログラム名でモジュール関
連情報テーブル15を参照し、テスト対象モジュール一
覧16を作成する。これも−時的に確保するが、修正モ
ジュール一覧14はこの時点で不用となるので開放する
。そして、このテスト対象モジュール一覧16のモジュ
ール名でモジュール毎テスト項目管理テーブル17を検
索することにより、テスト対象モジュールのテスト項目
番号を求める。このようにして得られた結果を、出力装
置18により出力する。また、この時点でテスト対象モ
ジュール一覧16も不用となるので解放し、処理を終え
る。
第2図以降は、各テーブルの作成を詳細に説明するもの
であるが、まず、修正モジュール一覧14の作成につい
て説明する。とたえば、修正があった総てのモジュール
に関連した復帰テストを行いたい場合、“修正日付が空
白でない°゛という条件で、第2図に示す原始プログラ
ム修正管理テーブル13を検索するとモジュール“PR
Gl 1 ” 、 “PRG30”、“P RG 9
2 ”が条件に合致し、第3図に示すものが修正モジュ
ール一覧14となる。また、ある日付けくたとえば86
年3月)以降に修正があったモジュールに関連した復帰
テストを、再度行いたい場合“修正日付が86年3月以
降″という条件で同様に検索すると、モジュール゛’P
RGII”、P RG 30 ”が選択される。
であるが、まず、修正モジュール一覧14の作成につい
て説明する。とたえば、修正があった総てのモジュール
に関連した復帰テストを行いたい場合、“修正日付が空
白でない°゛という条件で、第2図に示す原始プログラ
ム修正管理テーブル13を検索するとモジュール“PR
Gl 1 ” 、 “PRG30”、“P RG 9
2 ”が条件に合致し、第3図に示すものが修正モジュ
ール一覧14となる。また、ある日付けくたとえば86
年3月)以降に修正があったモジュールに関連した復帰
テストを、再度行いたい場合“修正日付が86年3月以
降″という条件で同様に検索すると、モジュール゛’P
RGII”、P RG 30 ”が選択される。
モジュール関連情報テーブル15の作成について説明す
ると、いまプログラム“’PROGI’”が′“PRG
OO’”〜“PRG92’“の複数のモジュールて構成
され、それが第4図に示す階層構造であるとき、呼ぶ/
呼ばれる関係を表であられすと、第5図のようになる。
ると、いまプログラム“’PROGI’”が′“PRG
OO’”〜“PRG92’“の複数のモジュールて構成
され、それが第4図に示す階層構造であるとき、呼ぶ/
呼ばれる関係を表であられすと、第5図のようになる。
たとえば、モジュール°“PRGII”はモジュール“
PRGIO”から呼ばれており、モジュール“PRG9
2”はモジュール“PRG30’“、“PRG40“′
から呼ばれている。
PRGIO”から呼ばれており、モジュール“PRG9
2”はモジュール“PRG30’“、“PRG40“′
から呼ばれている。
このようにプログラムが階層構造であるとき、復帰テス
トの対象は、修正したモジュールと、そのモジュールの
直前の上位モジュールとする。この前提でテスト対象モ
ジュール一覧16を作成すると、修正モジュール一覧1
4のプログラム名によりモジュール関連情報テーブル1
5を検索して、その修正したモジュールを呼ぶモジュー
ルを求める。修正モジュール一覧14が第3図に示す状
態でプログラムの階層構造が第4図に示すものであると
き、テスト対象モジュール一覧16は第6図に示すもの
となる。ただし、このままでは重複するモジュールがあ
る(この例ではモジュール“PRG30°゛が2回出現
している)ので整理して、第7図のように状態で確保し
ておく。
トの対象は、修正したモジュールと、そのモジュールの
直前の上位モジュールとする。この前提でテスト対象モ
ジュール一覧16を作成すると、修正モジュール一覧1
4のプログラム名によりモジュール関連情報テーブル1
5を検索して、その修正したモジュールを呼ぶモジュー
ルを求める。修正モジュール一覧14が第3図に示す状
態でプログラムの階層構造が第4図に示すものであると
き、テスト対象モジュール一覧16は第6図に示すもの
となる。ただし、このままでは重複するモジュールがあ
る(この例ではモジュール“PRG30°゛が2回出現
している)ので整理して、第7図のように状態で確保し
ておく。
そして、最終目的であるテスト項目番号を得るために、
テスト対象モジュール一覧16のモジュール名で、モジ
ュール毎テスト項目管理テーブル17を、参照すること
により求める。テスト対象モジュール一覧16および、
モジュール毎テスト項目管理テーブル17がそれぞれ第
7図、第8図に示す状態のとき、たとえば、モジュール
゛’PRG OO”によりモジュール毎テスト項目管理
テーブル17を検索すると、テスト項目番号“1゜1.
1“”、”1.1.2“、“1.1.3”が得られる。
テスト対象モジュール一覧16のモジュール名で、モジ
ュール毎テスト項目管理テーブル17を、参照すること
により求める。テスト対象モジュール一覧16および、
モジュール毎テスト項目管理テーブル17がそれぞれ第
7図、第8図に示す状態のとき、たとえば、モジュール
゛’PRG OO”によりモジュール毎テスト項目管理
テーブル17を検索すると、テスト項目番号“1゜1.
1“”、”1.1.2“、“1.1.3”が得られる。
同様にしてテスト対象モジュール一覧16のすべてのモ
ジュールのテスト項目番号を求めると、第9図に示す結
果となる。
ジュールのテスト項目番号を求めると、第9図に示す結
果となる。
以上に説明したように本発明は テスト項目の選択を人
手に依らず計算機が行うので短時間で行え、単純な転記
ミス等がなくなる。また、原始プログラムが修正された
ことの検索は、原始プログラム修正管理テーブルを元に
行うのでドキュメント不備によるテスト項目の選択漏れ
もない。さらに、モジュール関連情報を参照するので、
インタフェースに関するテスト項目の見落としもなくな
る。
手に依らず計算機が行うので短時間で行え、単純な転記
ミス等がなくなる。また、原始プログラムが修正された
ことの検索は、原始プログラム修正管理テーブルを元に
行うのでドキュメント不備によるテスト項目の選択漏れ
もない。さらに、モジュール関連情報を参照するので、
インタフェースに関するテスト項目の見落としもなくな
る。
第1図は本発明の一実施例の概要を示すブロック図、第
2図は第1図に示す原始プログラム修正管理テーブル1
3の登録例を示す図、第3図は第1図に示す修正プログ
ラム一覧14の作成例を示す図、第4図はプログラムの
構造の例を示す図、第5図は第4図の構造図をもとにし
た第1図に示すモジュール関連情報テーブル15の登録
例を示す図、第6図および第7図は第1図に示すテスト
対象モジュール一覧16の作成例を示す図、第8図は第
1図に示すモジュール毎テスト項目管理テ−プル17の
登録例を示す図、第9図は第1図に示す実施例のテスト
項目一覧の出力例を示す図である。 11・・入力装置、12・・・外部記憶装置、13・・
・原始プログラム修正管理テーブル、14・・・修正モ
ジュール一覧、15・・・モジュール関連情報テーブル
、16・・・テスト対象モジュール一覧、17・・モジ
ュール毎テスト項目管理テーブル、18・・・出力装置
。
2図は第1図に示す原始プログラム修正管理テーブル1
3の登録例を示す図、第3図は第1図に示す修正プログ
ラム一覧14の作成例を示す図、第4図はプログラムの
構造の例を示す図、第5図は第4図の構造図をもとにし
た第1図に示すモジュール関連情報テーブル15の登録
例を示す図、第6図および第7図は第1図に示すテスト
対象モジュール一覧16の作成例を示す図、第8図は第
1図に示すモジュール毎テスト項目管理テ−プル17の
登録例を示す図、第9図は第1図に示す実施例のテスト
項目一覧の出力例を示す図である。 11・・入力装置、12・・・外部記憶装置、13・・
・原始プログラム修正管理テーブル、14・・・修正モ
ジュール一覧、15・・・モジュール関連情報テーブル
、16・・・テスト対象モジュール一覧、17・・モジ
ュール毎テスト項目管理テーブル、18・・・出力装置
。
Claims (1)
- 原始プログラムを格納する外部記憶装置と、前記原始
プログラムの修正データを入力する入力装置と、前記原
始プログラムの各モジュール毎に修正されたことを記憶
する原始プログラム修正管理テーブルと、前記原始プロ
グラムの構造化プログラミングにおけるモジュール間の
インタフェースの有無を記憶するモジュール関連情報テ
ーブルと、モジュール毎のテスト項目番号を記憶するモ
ジュール毎テスト項目管理テーブルと、実行結果を出力
する出力装置とを含み、前記原始プログラム修正管理テ
ーブルを検索して修正モジュール一覧を作成し、この修
正モジュール一覧と前記モジュール関連情報テーブルと
からテスト対象モジュール一覧を作成し、このテスト対
象モジュール一覧と前記モジュール毎テスト項目管理テ
ーブルとから前記原始プログラムの修正に伴うテストの
テスト項目を選択し、前記出力装置により出力すること
を特徴とするテスト項目自動選択システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63018706A JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63018706A JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01193944A true JPH01193944A (ja) | 1989-08-03 |
JP2538630B2 JP2538630B2 (ja) | 1996-09-25 |
Family
ID=11979091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63018706A Expired - Fee Related JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2538630B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03291733A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-20 | Fujitsu Ten Ltd | 試験用データフアイルの作成方法 |
JPH04176681A (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-24 | Brother Ind Ltd | ハードウェア動作チェック装置 |
JPH07210424A (ja) * | 1994-01-14 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | ソフトウェアテスト支援システム |
JPH08328843A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Nec Corp | 再リンクチェック方法 |
JP2001022574A (ja) * | 1999-07-05 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | モジュール保守管理システム |
JP2006031121A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Nissan Motor Co Ltd | システム検査方法およびシステム検査装置 |
JP2018156164A (ja) * | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 富士通株式会社 | テスト範囲出力プログラム、テスト範囲出力装置及びテスト範囲出力方法 |
-
1988
- 1988-01-28 JP JP63018706A patent/JP2538630B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03291733A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-20 | Fujitsu Ten Ltd | 試験用データフアイルの作成方法 |
JPH04176681A (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-24 | Brother Ind Ltd | ハードウェア動作チェック装置 |
JPH07210424A (ja) * | 1994-01-14 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | ソフトウェアテスト支援システム |
JPH08328843A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Nec Corp | 再リンクチェック方法 |
JP2001022574A (ja) * | 1999-07-05 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | モジュール保守管理システム |
JP2006031121A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Nissan Motor Co Ltd | システム検査方法およびシステム検査装置 |
JP2018156164A (ja) * | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 富士通株式会社 | テスト範囲出力プログラム、テスト範囲出力装置及びテスト範囲出力方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2538630B2 (ja) | 1996-09-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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